JPH04194905A - Microscopic image mapping device and method - Google Patents
Microscopic image mapping device and methodInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野]
本発明は顕微鏡イメージマツピング装置及び方法、特に
広視野の顕微鏡画像」二でマツピング状態を確認できる
顕微鏡イメージマッピング装置及び方法に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention relates to a microscopic image mapping device and method, and more particularly to a microscopic image mapping device and method that can confirm the mapping state using a wide-field microscopic image.
[従来の技術]
例えば固体表面に付着した金属被膜の分子構造等を調べ
るため、あるいはIC基板上の異物検査のため各種顕微
赤外スペクトル測定装置が用いられている。[Prior Art] Various types of microinfrared spectrometers are used, for example, to investigate the molecular structure of a metal film attached to a solid surface or to inspect foreign substances on an IC substrate.
そして、通常これらの顕微赤外スペクトル測定装置は、
顕微鏡を兼ねており、目視観察により赤外スペクトル測
定部位を確認し、その」二で赤外スベクトルを採取する
こととしている。These micro infrared spectrum measurement devices usually
It also serves as a microscope, and the infrared spectrum measurement site is confirmed by visual observation, and the infrared spectrum is collected in the second step.
[発明が解決しようとする課題]
ところで、例えばIC基板」二の異物あるいは汚れ検査
を行なう場合、あまりに高倍率で観察したのでは視野が
限られてしまい迅速な検査か行ない得ない。また、視野
か限られてしまう結果、llJ′れ等の境界でのコント
ラストが不明確となってしまい、むしろ異物、汚れ等の
発見に支障を来してしまう場合もある。[Problems to be Solved by the Invention] By the way, when inspecting for foreign matter or dirt on, for example, an IC board, if the inspection is performed at too high a magnification, the field of view will be limited and a rapid inspection will not be possible. Furthermore, as a result of the limited field of view, the contrast at boundaries such as llJ' becomes unclear, which may actually hinder the detection of foreign objects, dirt, etc.
一方、低倍率で観察した場合、異物あるいは汚れ等の発
見は容易であるが、そのまま低倍率で赤外スペクトルを
採取したのでは正常部位及び異物等の赤外スペクトルの
両者とも拾ってしまうことが考えられる。On the other hand, when observing at low magnification, it is easy to find foreign objects or dirt, but if you collect infrared spectra at low magnification, you may pick up both the infrared spectra of normal parts and foreign objects. Conceivable.
そこで、低倍率で観察し、赤外スペクトル採取部位を確
定した後、高倍率の光学系に切換え赤外スペクトル採取
を行なう方法が採られている。Therefore, a method is adopted in which the infrared spectrum is collected by observing at a low magnification and after determining the infrared spectrum collection site, the optical system is switched to a high magnification optical system and the infrared spectrum is collected.
しかし、光学系の切換えにより焦点位置がずれてしまう
ことがあり、IC基板等の異物あるいは汚れの赤外スペ
クトル等の採取は極めて困難であった。However, the focal position may shift due to switching of the optical system, making it extremely difficult to collect infrared spectra of foreign objects or dirt on IC boards and the like.
特に基板−にの異物、汚れ等の大きさ、形状等を解析す
るためには、その異物等の周囲を取囲むような状態で多
数の赤外スペクトルを得なければならず、多大の労力、
時間を要するものであった。In particular, in order to analyze the size, shape, etc. of foreign matter, dirt, etc. on a substrate, it is necessary to obtain a large number of infrared spectra surrounding the foreign matter, which requires a great deal of labor and effort.
It was time consuming.
しかも、測定位置とd1]1定点数の設定を、X−Yス
テージでの1+標値を読取りi;1算して設定しなけれ
ばならす、サンプル面と測定位置の関係が不明確である
と共に、測定後のデータと測定試料面との対応がつかな
いため確認操作も困芹であった。Moreover, the measurement position and the number of fixed points must be set by reading 1 + standard value on the X-Y stage and adding i;1, and the relationship between the sample surface and the measurement position is unclear. The confirmation operation was also difficult because there was no correspondence between the data after measurement and the surface of the sample to be measured.
本発明は前記従来技術の課題に鑑みなされたものであり
、その1」的は広視野の顕微鏡画像」二でマツピング状
態を確認できる顕微鏡イメージマツピング装置を提供す
ることにある。The present invention has been made in view of the above-mentioned problems of the prior art, and its first object is to provide a microscope image mapping device that can confirm the mapping state using a wide-field microscope image.
[課題を解決するための手段]
前記目的を達成するために本発明にかかる顕微鏡イメー
ジマツピング装置は、画像読み込み手段と、広視野画像
作成手段と、イメージマツピング手段とを備える。[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, a microscope image mapping device according to the present invention includes an image reading means, a wide-field image creating means, and an image mapping means.
そして、画像読み込み手段は、顕微鏡より画像データを
読み込む。Then, the image reading means reads image data from the microscope.
広視野画像作成手段は、所望により前記画像データを複
数組合せ、広視野画像を作成可能とする。The wide-field image creation means can combine a plurality of the image data as desired to create a wide-field image.
イメージマツピング手段は、表示装置に表示された前記
広視野画像に対し、所望のマツピング画像を重ね表示可
能とする。The image mapping means can display a desired mapping image superimposed on the wide-field image displayed on the display device.
又、本発明にかかる方法は、前記画像データの周域部分
を切取る切取り工程を備えることを特徴とする。Furthermore, the method according to the present invention is characterized by comprising a cutting step of cutting out a peripheral portion of the image data.
[作用]
本発明にかかる顕微鏡イメージマツピング装置は前述し
た手段を有するので、まず例えば試料をX−Yステージ
により順次移動させ、それぞれの位置で画像読み込み手
段により高倍率の顕微鏡画像を読み込む。[Function] Since the microscope image mapping apparatus according to the present invention has the above-described means, first, for example, a sample is sequentially moved by an X-Y stage, and a high-magnification microscope image is read at each position by an image reading means.
そして、広視野画像作成手段により前記高倍率の顕微鏡
画像を組合せ、広視野画像を作成する。Then, the high-magnification microscope images are combined by a wide-field image creating means to create a wide-field image.
この広視野画像」二にマツピング画像を重ね表示させる
ことでマッピングイメージを確認し、必要によりそのマ
ツピングポイント毎に例えば赤外スペクトルの採取を行
なうことができる。By superimposing a mapping image on this wide-field image, the mapping image can be confirmed, and if necessary, for example, an infrared spectrum can be collected at each mapping point.
又、本発明にかかる方法によれば、切取り工程を備える
ので、画像の不鮮明な部分を除いた状態で広視野画像を
作成することができる。Further, according to the method according to the present invention, since a cutting step is provided, a wide-field image can be created with blurred portions of the image removed.
[実施例] 以下、図面に基づき本発明の好適な実施例を説明する。[Example] Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described based on the drawings.
第1図には本発明にかかる顕微鏡イメージマツピング装
置10が示されている。FIG. 1 shows a microscope image mapping apparatus 10 according to the present invention.
同図において、イメージマツピング装置10は、画像読
込手段12と、広視野画像作成手段14と、イメージマ
ツピング手段16とを含む。In the figure, an image mapping device 10 includes an image reading means 12, a wide-field image creating means 14, and an image mapping means 16.
前記画像読み込み手段12はTV右カメラントローラ1
8及びx−yステージコントローラ20゜ミクロスキャ
ナ22を介して顕微鏡24に接続されている。The image reading means 12 is the TV right camera controller 1.
8 and an xy stage controller 20° connected to a microscope 24 via a microscanner 22.
=6−
又、広視野画像作成手段14は、フレームメモリ30.
画像圧縮ボード32、ハードディスク34を含み、フレ
ームメモリ30はイメージマツピング手段16及CRT
38とビデオインターフェイス36に接続されている
。=6- Also, the wide-field image creation means 14 has a frame memory 30.
It includes an image compression board 32 and a hard disk 34, and a frame memory 30 includes an image mapping means 16 and a CRT.
38 and a video interface 36.
又、画像取り込み手段12もビデオインターフェイス3
6を介してマルチスキャンCRTモニタ38に接続され
ている。Further, the image capturing means 12 also has a video interface 3.
6 to a multi-scan CRT monitor 38.
なお、本実施例において顕微鏡イメージマツピング装置
はパーソナルコンピュータよりなり、キーボード40を
介して各種の操作指令を与えることができる。In this embodiment, the microscope image mapping apparatus is a personal computer, and various operation commands can be given via the keyboard 40.
又、顕微鏡24の光学系の切換え等は顕微鏡コントロー
ラ42を介して行なわれる。Further, switching of the optical system of the microscope 24, etc. is performed via the microscope controller 42.
一方、顕微鏡24により得られた赤外スペクトルは、ス
ペクトル分析手段44、スペクトルデータ解析手段46
によりデータ解析され、CRT30」−に表示される。On the other hand, the infrared spectrum obtained by the microscope 24 is analyzed by the spectrum analysis means 44 and the spectrum data analysis means 46.
The data is analyzed and displayed on the CRT 30.
本実施例にかかる顕微鏡イメージマツピング装置は概略
以上のように構成され、次にその作用について第2図〜
第7図を参照しつつ説明する。The microscope image mapping device according to this embodiment is roughly constructed as described above, and its operation will be explained below with reference to FIGS.
This will be explained with reference to FIG.
第2図には本実施例にかかる顕微鏡イメージマツピング
装置の作用のフローチャート図が示されている。FIG. 2 shows a flow chart of the operation of the microscope image mapping apparatus according to this embodiment.
本実施例にかかる装置は、まず画像読込手段12が、t
” vコントローラ18を介して顕微鏡24より所望位
置の顕微鏡画像データを読み込む(ステップ100)。In the apparatus according to this embodiment, the image reading means 12 first
” Microscope image data at a desired position is read from the microscope 24 via the vcontroller 18 (step 100).
一般にカセグレン鏡を用いた顕微鏡(顕微赤外スペクト
ル測定装置)では、顕微鏡画像50は第3図に示すよう
に中央部52は明瞭な画像を得ることができるか、その
周囲54は暗く歪が生じる。In general, with a microscope (microscopic infrared spectrum measuring device) using a Cassegrain mirror, the microscope image 50 is either a clear image at the center 52 or a dark and distorted image at the periphery 54, as shown in FIG. .
そこで、本実施例にかかる画像読込手段12は画像の周
域部54を削除しく第4図参照)、中央部52のみを採
取する(ステップ102)とともに、x−Yステージコ
ントローラ20より該画像データの試料上の位置を取込
む(ステップ104)。Therefore, the image reading means 12 according to the present embodiment deletes the peripheral area 54 of the image (see FIG. 4), collects only the central area 52 (step 102), and sends the image data from the x-y stage controller 20. The position on the sample is captured (step 104).
そして、この画像データは位置情報と共にフレームメモ
リ3oに記憶される(ステップ106)。This image data is then stored in the frame memory 3o together with position information (step 106).
次に、フレームメモリ30に記憶された前記画像データ
が最終位置の画像でなければ、x−Yステージコントロ
ーラ20により顕微鏡22のサンプルステージを操作し
、隣接する次の画像を読み込み、同様の操作を行なう(
ステップ108)。Next, if the image data stored in the frame memory 30 is not an image at the final position, the sample stage of the microscope 22 is operated by the x-Y stage controller 20, the next adjacent image is read, and the same operation is performed. do it (
Step 108).
このようにして、順次隣接する顕微鏡画像データが11
.1られ、それをそれぞれの位置情報によりつなぎあわ
せていく (第5図参照)。In this way, sequentially adjacent microscopic image data are
.. 1, and then piece them together using their respective location information (see Figure 5).
ステップ108において全部の画像が採取されたと判断
された場合には、次にフレームメモリ30」二の広視野
画像データが画像圧縮ボード32によりデータ圧縮され
(ステップ110)、ハードディスク34上に記憶され
る(ステップ112)。If it is determined in step 108 that all images have been captured, then the wide-field image data in the frame memory 30' is compressed by the image compression board 32 (step 110) and stored on the hard disk 34. (Step 112).
一方、このフレームメモリ30」二の広視野画像データ
はビデオインターフェイス36を介してマルチスキャン
CRT38上に表示される(第6図参照)。On the other hand, the wide-field image data stored in the frame memory 30'' is displayed on a multi-scan CRT 38 via a video interface 36 (see FIG. 6).
第6図に示した例においては、第4図で中央部52に相
当するデータを縦横4列4段を繋ぎ合わせた16画像で
構成している。In the example shown in FIG. 6, the data corresponding to the center portion 52 in FIG. 4 is composed of 16 images in which four columns and four rows are connected.
この結果、CRT38J−には例えばIC基板60とそ
の汚れ62が広視野で明瞭に捉らえられる。As a result, for example, the IC board 60 and its dirt 62 can be clearly seen in a wide field of view on the CRT 38J-.
なお、図中−点鎖線は、便宜」二個々の画像データを区
別するために引いたものであり、実際には表示されない
。Note that the dashed-dotted lines in the figure are drawn for convenience and to distinguish between individual image data, and are not actually displayed.
次に、イメージマツピング手段16により、ビデオイン
ターフェイス36を介してCRT381:。Next, the image mapping means 16 sends the image to the CRT 381 via the video interface 36.
にマツピングイメージを重ね表示する(ステップ116
、第7図参照)。(step 116)
, see Figure 7).
第7図中点線で示した小四角形1(工がマツピングイメ
ージであり、各四角形毎に例えば赤外スペクトルデータ
の測定を行なうこととなる。The small rectangle 1 shown by the dotted line in FIG. 7 is a mapping image, and infrared spectrum data, for example, is measured for each rectangle.
ここで、もし赤外スペクトルデータの測定間隔が大きす
ぎ、あるいは小さすぎた場合には、測定間隔の変更を行
なえば、再設定された測定間隔でのマツピングイメージ
が再表示される(ステップ118)。Here, if the measurement interval of the infrared spectrum data is too large or too small, if the measurement interval is changed, the mapping image at the reset measurement interval is redisplayed (step 118). ).
このようにして表示されたマツピングイメージか妥当で
あると判断した場合には、実際の赤外スペクトル測定等
が開始される(ステップ120)。If it is determined that the mapping image displayed in this way is appropriate, actual infrared spectrum measurement etc. are started (step 120).
この際の測定は、前記小四角形毎に行なわれるこ−l〇
−
ととなる。The measurement at this time is carried out for each of the small squares.
以」二説明したように本実施例にかかる顕微鏡イメージ
マツピング装置によれば、高倍率の画像情報を集めて広
視野の観察画像をCRT381に表示させることができ
、単に低倍率で画像を得た場合に比較し鮮明度の高い観
察画像を得ることができる。As described above, according to the microscope image mapping device according to this embodiment, it is possible to collect high-magnification image information and display a wide-field observation image on the CRT 381, and it is possible to simply obtain an image at a low magnification. Observation images with higher clarity can be obtained than in the case of
また、この広視野観察画像」−にマツピングイメージ画
像を重ね表示することで、赤外スベクi・ル採取位置等
を極めて明瞭に表示、認識することかできる。Furthermore, by superimposing a mapping image on this wide-field observation image, it is possible to display and recognize the infrared spectrum sampling position very clearly.
従って、測定位置と測定点数の設定が容易で、しかもサ
ンプルデータと測定サンプル面のイメージ対応がつきや
すい。Therefore, it is easy to set the measurement position and the number of measurement points, and it is also easy to associate the image of the sample data with the measurement sample surface.
さらに光学系を変更することなくそのまま赤外スペクト
ル測定を開始することができるため、光学系の切換え操
作、焦点ずれの補正等が不要となり、精度の高い測定を
行なうことができる。Furthermore, since infrared spectrum measurement can be started without changing the optical system, there is no need to switch the optical system, correct for defocus, etc., and it is possible to perform highly accurate measurements.
なお、本実施例において、ステップ102で行なう周域
部の切取りは、まず予備画像採取を行ない、その結果に
基づいて適当な範囲を設定することが好適である。In this embodiment, it is preferable to first collect a preliminary image and set an appropriate range based on the result of the cutting of the peripheral area in step 102.
又、本実施例においては赤外スペクトルを測定する例に
ついて説明したか、これに限られるものではなく、例え
ばレーザーラマン顕微測定等に適用することも可能であ
る。Further, in this embodiment, an example of measuring an infrared spectrum has been described, but the present invention is not limited to this, and can also be applied to, for example, laser Raman microscopic measurement.
[発明の効果]
以」二説明したように本発明にかかる顕微鏡イメージマ
ッピング装置は、顕微鏡画像データを繋ぎ合わせて広視
野顕微鏡画像を構成し、その」二でマツピング状態を確
認できるので、観察時及び測定時の光学系切換えが不要
となり、しかもマツピングの設定を適切に行なうことが
可能となる。[Effects of the Invention] As explained below, the microscope image mapping device according to the present invention connects the microscope image data to form a wide-field microscope image, and the mapping state can be confirmed in the second step, so that it is possible to Also, there is no need to switch the optical system during measurement, and mapping settings can be made appropriately.
又、本発明にかかる方法によれば、切取り工程により不
鮮明な画像部分を除去して広視野顕微鏡画像を構成する
ことができる。Furthermore, according to the method of the present invention, a wide-field microscope image can be constructed by removing unclear image portions through the cutting process.
第1図は本発明の一実施例にかかる顕微鏡イメージマツ
ピング装置の概略構成図、
第2図は第1図に示した装置の作用のフローチャー1・
図、
第3図〜第7図は第1図に示した装置の画像処理の状態
を示す説明図である。
10・・・顕微鏡イメージマツピング装置12・・・画
像読込手段
14・・・広視野画像作成手段
16・・・イメージマツピング手段FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a microscope image mapping device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a flowchart of the operation of the device shown in FIG. 1.
3 to 7 are explanatory diagrams showing the image processing state of the apparatus shown in FIG. 1. 10...Microscope image mapping device 12...Image reading means 14...Wide field image creation means 16...Image mapping means
Claims (2)
段と、 所望により前記画像データを複数組合せ、広視野画像を
作成可能な広視野画像作成手段と、表示装置に表示され
た前記広視野画像に対し、所望のマッピング画像を重ね
表示可能なイメージマッピング手段と、 を備えたことを特徴とする顕微鏡イメージマッピング装
置。(1) an image reading means for reading image data from a microscope; a wide-field image creation means capable of creating a wide-field image by combining a plurality of the image data as desired; and for the wide-field image displayed on a display device, A microscope image mapping device comprising: image mapping means capable of superimposing and displaying desired mapping images;
程と、 前記画像データの周域部分を切取る切取り工程と、 前記画像データを複数組合せ、広視野画像を作成可能な
広視野画像作成工程と、 表示器上に表示された広視野画像に対し、所望のマッピ
ング画像を重ね表示するイメージマッピング工程と、を
備えたことを特徴とする顕微鏡イメージマッピング方法
。(2) an image reading step of reading image data from a microscope; a cutting step of cutting out a peripheral portion of the image data; a wide-field image creation step capable of creating a wide-field image by combining a plurality of the image data; and display. A microscope image mapping method comprising: an image mapping step of superimposing and displaying a desired mapping image on a wide-field image displayed on a device.
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