JPH0419482B2 - - Google Patents

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JPH0419482B2
JPH0419482B2 JP61161395A JP16139586A JPH0419482B2 JP H0419482 B2 JPH0419482 B2 JP H0419482B2 JP 61161395 A JP61161395 A JP 61161395A JP 16139586 A JP16139586 A JP 16139586A JP H0419482 B2 JPH0419482 B2 JP H0419482B2
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JP
Japan
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signal
outputs
light receiving
output
light
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JP61161395A
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JPS6324111A (en
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Isamu Takemura
Hiromasa Doi
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Mitutoyo Corp
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Mitutoyo Corp
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Publication date
Application filed by Mitutoyo Corp filed Critical Mitutoyo Corp
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Publication of JPH0419482B2 publication Critical patent/JPH0419482B2/ja
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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention] 【産業上の利用分野】[Industrial application field]

この発明は、物体の寸法、変位量等を測定する
ための投影画像のエツジ検出装置に係り、特に、
測定対象物に、測定用の光線を照照し、これによ
り生じる透過光又は反射光による測定対象物の投
影像を、受光素子からなるセンサーで走査して電
気信号を取り出し、この信号に基づき該測定物の
寸法測定、位置判別、形状判断等を行うための光
学式測定機器における投影画像のエツジ検出装置
に関する。
The present invention relates to an edge detection device for a projected image for measuring the dimensions, displacement, etc. of an object, and in particular,
The object to be measured is illuminated with a measuring light beam, and the projected image of the object by transmitted light or reflected light is scanned by a sensor consisting of a light-receiving element to extract an electrical signal. The present invention relates to an edge detection device for a projected image in an optical measuring instrument for measuring dimensions, determining position, determining shape, etc. of a measured object.

【従来の技術】[Conventional technology]

従来この種光学式測定機器、例えば、投影機
は、載物台上の測定対象物を平行な光線により照
射して、その透過光又は反射光に基づきスクリー
ン上に該測定対象物の投影像を結像させ、この結
像から測定対象物の寸法形状等を測定するもので
あるが、スクリーンに投影された測定対象物の像
のエツジ(端部)は一般的にいわゆるにじみがあ
り、従つて、載物台上の測定対象物を移動させ、
そのスクリーン上の結像とヘアラインとの一致か
ら測定値を正確に読み込むことは困難である。 かかる問題点を解消するために、従来は、結像
のエツジを光電素子を相対移動させることによ
り、光電素子の受光面に投影された像の明部と暗
部との面積の割合の変化から光電素子から出力す
る電気信号の大きさの変化を、参照電圧と比較し
て、投影画像の端部を検出するものがある。 しかしながら、この方法は、外乱光等のノイズ
の影響が大きいと共に、光電素子から得られる信
号又は参照電圧の変動による測定精度の低下が大
きいという問題点がある。 更に、スクリーン上の投影画像の境界(エツ
ジ)に対して光電素子を相対移動させ、その時の
出力信号を2階微分して波形信号を得、これと参
照電圧との比較によつてエツジを検出するものが
あるが、光電素子と投影画像との相対移動速度の
大小によつて、検出されるエツジの位置が異なる
ことがあり、更に、前記と同様に参照電圧の変動
による測定精度の低下が大きいという問題点があ
る。 更に、光電素子を2個配置して、これを投影画
像のエツジに対して相対移動させ、これにより得
られた複数の出力信号から波形の信号を得、これ
と参照電圧との比較によつてエツジを検出するも
のがあるが、前記と同様に光電素子から得られた
出力信号と参照電圧との相対変化、レベル変動等
から測定が非常に不安定となり、更に、照射光線
の照度に対する適用範囲が狭く、又、測定態様が
限定され且つ、センサー部あるいは回路部分が複
雑になるという問題点がある。 特に、投影機においては、照射用の光源ランプ
の疲労、投影系のレンズ特性、外乱光によりスク
リーン上の投影画像の明るさが変化し、また、投
影倍率の切替により投影画像の明るさが変化した
り、更には測定者側の条件として、例えば測定者
の瞳の色(人種により異なる)により作業が好適
な明るさが異なるため、これを適宜に選択しなけ
ればならないが、前記のように照射光線の照度に
対する適用範囲が狭いと、結果として投影機の能
力を低下させてしまうことになる。 又、従来のエツジ検出方法では、投影画像のフ
オーカスがずれていた場合は、光電素子による出
力波形がなだらかになつてしまうので、正確なエ
ツジ検出ができないという問題点があつた。 この問題点は、投影機のみならず、一般的に透
過光又は反射光を検出して、直接的又は間接的に
測定対象物の寸法測定等をするための光学式測定
機器におけるエツジ検出に共通の問題である。 これに対して例えば特開昭58−173408号に開示
されるように、透過光又は反射光を検出して、直
接的又は間接的に測定対象物の寸法測定をするた
めの光学式測定機器におけるエツジ検出装置にお
いて、前記測定対象物との相対移動時に生ずる明
暗に基づき、少なくとも2組の位相ずれ信号を発
生するよう移動面と略平行な面内に配設された4
個の受光素子からなるセンサーと、前記各組の位
相ずれ信号の差を演算する第1及び第2の演算手
段と、これら第1及び第2の演算手段の出力信号
の差を演算する第3の演算手段及び和を演算する
第4の演算手段と、この第4の演算手段の出力信
号が所定レベルにある間に生じる、前記第3の演
算手段の出力信号と基準レベルのクロス信号を出
力する検知手段を設けたものが提案されている。 このエツジ検出装置は、測定対象物を照射する
光強度、測定中の外乱光等のノイズ、光電素子の
出力信号あるいは参照電圧の変動による影響を伴
なうことなく、しかも簡単な構成で、測定対象物
のエツジを検出することができ、又投影機におい
て、投影画像の焦点ずれがあつても、正確にエツ
ジを検出することができ、更に、光電素子からの
アナログ信号を直接処理することにより、測定対
象物のエツジを検出することができるという利点
がある。 しかしながら、上記特開昭58−173408号公報に
開示されるエツジ検出装置は、センサからの出力
信号が基準信号とクロスする点、即ち、測定対象
物のエツジ位置を含む特定領域を、判別するため
の手段として、第4の演算手段の出力信号が所定
レベルにある間に領域信号を出力するようにされ
ているが、前記第4の演算手段の出力信号のレベ
ルが低い場合は、実際のエツジ位置で、領域信号
を発生することができない場合があるという問題
点を有する。 即ち、測定対象物が、例えば半透明硝子製品等
の、光を完全に遮断することができない材料で形
成されている場合は、測定対照物を照明すること
によつて得られた投影画像の明部と暗部の比が小
さくなり、明部を「1」、完全暗部を「0」とし
た場合、半透明硝子製品の投影画像における暗部
は1よりも小さく、且つ「0」よりも大きい範囲
となり、明部と暗部の差が小さいために、所定レ
ベル以上の信号を得ることができず、従つて、領
域信号を発生することができないことがある。 更に、前記エツジ検出装置は、そのセンサーが
田型に配置された4個の受光素子から形成されて
いるために、例えば投影機におけるスクリーン上
の投影画像に対する相対移動時に、受光素子の境
界線と移動方向が一致したとき、投影画像のエツ
ジを検出できない場合があり、従つて、投影画像
に対するセンサーの移動方向の制限が生じるとい
う問題点がある。 これに対して、本出願人は特願昭59−249278号
により測定対象物が例えば半透明硝子製品等の、
光を完全に遮断することができない材質の場合で
あつても、そのエツジを確実に検出することがで
きるようにした光学式測定機器におけるエツジ検
出装置を提案している。 上記のようなエツジ検出装置における領域信号
発生器は、アナログのサンプル・ホールド回路を
用いて領域信号を発生するようにされているの
で、領域信号が励起されずに、誤計測をする恐れ
があつた。 即ち、アナログのサンプル・ホールド回路は、
一般的にトランスミツシヨンゲート、コンデン
サ、アンプ等を備え、これらにおいて電流がリー
クするため、ホールド信号が一定の減衰率で変化
することになる。 特に、測定対象物を載置する載物台の送り速度
が非常に遅い場合や、アナログ信号たるホールド
信号のホールド後に暫く測定を行わないで載物台
を停止した後、再び測定を始める場合等には、ハ
イホールド信号が減衰してセンサー出力信号より
も小さくなるときがあり、このような場合は、領
域信号がローレベルとなつて、本来出力されるは
ずのエツジ信号が出力されることなく、誤計測が
生じる。 又、サンプル・ホールド回路で基準値を設定す
る方式は、エツジ検出装置の電源投入時には基準
値がなく、スクリーン上の投影画像における明部
又は暗部でも領域信号が励起されてしまい、この
対策のために、別途の初期セツト回路を設けなけ
ればならないという問題点がある。
Conventionally, this type of optical measuring instrument, for example, a projector, irradiates an object to be measured on a stage with parallel light beams and projects a projected image of the object on a screen based on the transmitted or reflected light. This method uses the formed image to measure the dimensions and shape of the object to be measured, but the edges of the image of the object to be measured that are projected onto the screen generally have so-called smudges, and therefore , move the object to be measured on the stage,
It is difficult to accurately read measurement values from the coincidence of the image formed on the screen and the hairline. In order to solve this problem, conventionally, by moving the edge of the image formation relative to the photoelectric element, the photoelectric element can be detected from the change in the area ratio between the bright and dark areas of the image projected on the light receiving surface of the photoelectric element. There is a device that detects the edge of a projected image by comparing a change in the magnitude of an electric signal output from an element with a reference voltage. However, this method has problems in that it is greatly affected by noise such as ambient light, and the measurement accuracy is greatly reduced due to fluctuations in the signal or reference voltage obtained from the photoelectric element. Furthermore, the photoelectric element is moved relative to the boundary (edge) of the projected image on the screen, the output signal at that time is second-order differentiated to obtain a waveform signal, and edges are detected by comparing this with a reference voltage. However, depending on the speed of relative movement between the photoelectric element and the projected image, the position of the detected edge may differ, and as mentioned above, measurement accuracy may decrease due to fluctuations in the reference voltage. The problem is that it is large. Furthermore, two photoelectric elements are arranged and moved relative to the edges of the projected image, a waveform signal is obtained from the multiple output signals obtained by this, and by comparing this with a reference voltage, There are devices that detect edges, but as mentioned above, the measurement becomes extremely unstable due to relative changes between the output signal obtained from the photoelectric element and the reference voltage, level fluctuations, etc. There are problems in that the area is narrow, measurement modes are limited, and the sensor section or circuit section is complicated. In particular, in projectors, the brightness of the projected image on the screen changes due to fatigue of the irradiation light source lamp, lens characteristics of the projection system, and ambient light, and the brightness of the projected image changes due to switching of the projection magnification. Furthermore, as a condition on the measurer's side, for example, the optimum brightness for the work differs depending on the color of the measurer's eyes (which differs depending on the race), so this must be selected appropriately. If the range of application to the illuminance of the irradiated light is narrow, the performance of the projector will be reduced as a result. Furthermore, in the conventional edge detection method, if the projected image is out of focus, the output waveform of the photoelectric element becomes gentle, so that accurate edge detection cannot be performed. This problem is common not only to projectors but also to edge detection in optical measuring instruments that detect transmitted light or reflected light to directly or indirectly measure the dimensions of objects to be measured. This is a problem. On the other hand, as disclosed in JP-A No. 58-173408, for example, there is an optical measuring instrument for directly or indirectly measuring the dimensions of an object by detecting transmitted light or reflected light. In the edge detection device, the four edge detectors are arranged in a plane substantially parallel to the plane of movement so as to generate at least two sets of phase shift signals based on the brightness and darkness that occurs when moving relative to the object to be measured.
a sensor consisting of two light receiving elements, first and second calculation means for calculating the difference between the phase shift signals of each set, and a third calculation means for calculating the difference between the output signals of the first and second calculation means. and a fourth calculating means for calculating the sum, and outputting a cross signal between the output signal of the third calculating means and a reference level, which occurs while the output signal of the fourth calculating means is at a predetermined level. A device equipped with a detection means has been proposed. This edge detection device has a simple configuration and is capable of measuring without being affected by the light intensity irradiating the measurement target, noise such as disturbance light during measurement, and fluctuations in the output signal of the photoelectric element or the reference voltage. The edges of the object can be detected, and even if the projected image is out of focus in the projector, the edges can be detected accurately.Furthermore, by directly processing the analog signal from the photoelectric element, , it has the advantage of being able to detect edges of the object to be measured. However, the edge detection device disclosed in the above-mentioned Japanese Patent Application Laid-open No. 58-173408 is designed to determine the point where the output signal from the sensor crosses the reference signal, that is, a specific area including the edge position of the object to be measured. As means for this, the area signal is output while the output signal of the fourth calculation means is at a predetermined level, but when the level of the output signal of the fourth calculation means is low, the actual edge signal is output. There is a problem in that it may not be possible to generate an area signal depending on the location. That is, if the object to be measured is made of a material that cannot completely block light, such as a translucent glass product, the brightness of the projected image obtained by illuminating the object to be measured is When the ratio of dark to bright areas becomes small, and the bright area is set to ``1'' and the completely dark area to ``0'', the dark area in the projected image of the semi-transparent glass product will be smaller than 1 and larger than 0. , because the difference between the bright and dark areas is small, it may not be possible to obtain a signal of a predetermined level or higher, and therefore it may not be possible to generate a region signal. Furthermore, since the sensor of the edge detection device is formed of four light-receiving elements arranged in a square shape, for example, when moving relative to the projected image on the screen of a projector, the border line of the light-receiving elements and When the directions of movement match, the edges of the projected image may not be detected, which poses a problem in that the direction of movement of the sensor with respect to the projected image is restricted. On the other hand, the present applicant has proposed, in Japanese Patent Application No. 59-249278, that the object to be measured is, for example, a translucent glass product, etc.
We have proposed an edge detection device for an optical measuring instrument that can reliably detect edges even in the case of materials that cannot completely block light. The area signal generator in the edge detection device described above uses an analog sample-and-hold circuit to generate the area signal, so there is a risk that the area signal will not be excited, resulting in erroneous measurements. Ta. In other words, the analog sample-and-hold circuit is
Generally, it includes a transmission gate, a capacitor, an amplifier, etc., and because current leaks through these, the hold signal changes at a constant attenuation rate. In particular, when the feed speed of the stage on which the object to be measured is placed is very slow, or when the stage is stopped without measuring for a while after holding the hold signal (an analog signal) and then starts measurement again. In some cases, the high hold signal is attenuated and becomes smaller than the sensor output signal, and in such cases, the area signal becomes low level and the edge signal that should be output is not output. , erroneous measurements occur. Furthermore, with the method of setting the reference value using a sample-and-hold circuit, there is no reference value when the edge detection device is powered on, and area signals are excited even in bright or dark areas of the projected image on the screen. Another problem is that a separate initial set circuit must be provided.

【発明の目的】[Purpose of the invention]

この発明は、上記問題点に鑑みてなされたもの
であつて、投影画像に対するセンサーの相対的移
動速度が遅い場合や、センサーの受光部近傍に投
影画像のエツジがあり、且つ測定を休止した後で
測定を再開する場合であつても、領域信号が確実
に励起されるようにして誤計測を防止した投影画
像のエツジ検出装置を提供することを目的とす
る。 又、初期セツト回路を設ける必要がない投影画
像のエツジ検出装置を提供することを目的とす
る。
This invention has been made in view of the above-mentioned problems, and is applicable when the relative moving speed of the sensor with respect to the projected image is slow, or when there is an edge of the projected image near the light-receiving part of the sensor, and when the measurement is stopped. An object of the present invention is to provide an edge detection device for a projected image that prevents erroneous measurements by reliably exciting a region signal even when restarting measurement. Another object of the present invention is to provide a projection image edge detection device that does not require an initial set circuit.

【問題点を解決するための手段】[Means to solve the problem]

この発明は、透過光又は反射光による測定対象
物の投影画像によつて寸法測定をするための光学
式測定機器における投影画像のエツジ検出装置に
おいて、外周が円形の内側受光素子、及び、この
内側受光素子を囲んでこれと同心で面積の実質的
に等しい輪帯状に配置されてなる外側受光素子を
備え、且つ、これら内側受光素子及び外側受光素
子の一方が、円周方向に少なくとも4個の偶数に
等区画された分割受光素子から構成され、前記測
定対象物との相対移動時に生ずる明暗に基づき、
位相ずれ信号を発生するセンサーと、前記分割受
光素子のうちの1つの直径方向に対向する分割受
光素子の出力の差が所定値を越えるときに領域信
号を出力する領域信号発生回路と、この領域信号
発生回路から領域信号が出力されている間であつ
て、前記複数の分割受光素子の出力の総和と他方
の受光素子の出力の値が一致するときに、エツジ
信号を出力する検知回路と、を設けることにより
上記目的を達成するものである。 又、前記一方の受光素子を、4区画されて、円
周方向に第1乃至第4の分割受光素子から構成す
ることにより上記目的を達成するものである。 又、前記領域信号発生回路を、前記第1及び第
3の分割受光素子の出力の差を演算する第1の差
演算器と、前記第2及び第4の分割受光素子の出
力を差を演算する第2の差演算器と、前記第1の
差演算器の出力信号とプラス側参照信号及びマイ
ナス側参照信号と比較し、該出力信号がこれらの
参照信号の値の間にないとき信号を出力する第1
のウインドコンパレータと、前記第2の差演算器
の出力信号とプラス側参照信号及びマイナス側参
照信号と比較し、該出力信号がこれらの合照信号
の値の間にないとき信号を出力する第2のウイン
ドコンパレータと、前記第1及び第2のウインド
コンパレータの少なくとも一方が信号を出力する
とき領域信号を出力するORゲートと、を有する
ようにして上記目的を達成するものである。
The present invention provides an edge detection device for a projected image in an optical measuring instrument for measuring dimensions using a projected image of a measurement target using transmitted light or reflected light, which includes an inner light-receiving element having a circular outer periphery; an outer light-receiving element arranged in an annular shape surrounding the light-receiving element, concentrically with the light-receiving element, and having a substantially equal area; It is composed of divided light-receiving elements divided into even numbers, and based on the brightness and darkness that occurs when moving relative to the object to be measured,
a sensor that generates a phase shift signal; and an area signal generation circuit that outputs an area signal when a difference between the outputs of one of the divided light receiving elements diametrically opposed to each other exceeds a predetermined value; a detection circuit that outputs an edge signal when the sum of the outputs of the plurality of divided light receiving elements matches the value of the output of the other light receiving element while the area signal is being output from the signal generating circuit; The above objective is achieved by providing the following. Further, the above object is achieved by dividing the one light receiving element into four sections and comprising first to fourth divided light receiving elements in the circumferential direction. Further, the area signal generation circuit includes a first difference calculator that calculates the difference between the outputs of the first and third divided light receiving elements, and a first difference calculator that calculates the difference between the outputs of the second and fourth divided light receiving elements. A second difference calculator compares the output signal of the first difference calculator with a plus side reference signal and a minus side reference signal, and when the output signal is not between the values of these reference signals, the signal is The first output
a window comparator, and a second difference calculator that compares the output signal of the second difference calculator with the plus side reference signal and the minus side reference signal, and outputs a signal when the output signal is not between the values of these comparison signals. The above object is achieved by comprising a window comparator, and an OR gate that outputs a region signal when at least one of the first and second window comparators outputs a signal.

【作用】[Effect]

この発明においては、領域信号発生回路におけ
るウインドコンパレータに入力される信号が、分
割受光素子の出力信号の差であつて、且つ、これ
らの信号と比較されるべき信号は予め設定された
プラス側及びマイナス側の参照信号Vref+
Vref-であるので、センサーの投影画像に対する
相対速度が遅い場合、あるいは、センサーが投影
画像のエツジ近傍で測定を一時休止した後再開す
る場合等であつても、確実に領域信号を発生する
ことができる。 又、初期セツト回路等を設けることなく、領域
信号が電源投入時に誤つて励起されるようなこと
を防止できる。
In this invention, the signal input to the window comparator in the area signal generation circuit is the difference between the output signals of the divided light receiving elements, and the signals to be compared with these signals are preset plus side and With the reference signal Vref + on the negative side
Vref - , it is possible to reliably generate an area signal even when the relative speed of the sensor to the projected image is slow, or when the sensor resumes measurement after a temporary pause near the edge of the projected image. I can do it. Further, without providing an initial set circuit or the like, it is possible to prevent the area signal from being erroneously excited when the power is turned on.

【実施例】【Example】

以下本発明の実施例を図面を参照して説明す
る。 この実施例は、本発明を、投影機に適用したも
のであり、第1図及び第2図に示されるように、
光源ランプ1からの光をコンデンサレンズ2を介
して載物台3の下方から、あるいは他の光路を介
して載物台3の上方から、該載物台3上の測定対
象物4を照射して、その透過光又は反射光に基づ
き、投影レンズ5を介してスクリーン6上に、測
定対象物4の投影画像4Aを結像させ、この投影
画像4Aにより、間接的に測定対象物4の寸法測
定等をするための投影機10における投影画像の
エツジ検出装置において、円形の内側受光素子1
2、及び、この内側受光素子12を囲んでこれと
同心で面積の等しい輪帯状に配置されてなる外側
受光素子14を備え、且つ、この外側受光素子1
4が、円周方向に等しく区画された第1〜第4の
分割受光素子14A〜14Dからなり、前記測定
対象物4との相対移動時に生ずる明暗に基づき、
位相ずれ信号を発生するセンサー16と、前記分
割受光素子14A〜14Dのうちの直径方向に対
向する第1、第3の分割受光素子14A,14C
又は第2、第4の分割受光素子14B,14Dの
出力の差が所定値を越えるときに領域信号を出力
する領域信号発生回路18と、この領域信号発生
回路18から領域信号が出力されている間であつ
て、前記複数の分割受光素子14A〜14Dの出
力の総和と内側受光素子12の出力の値が一致す
るときに、エツジ信号を出力する検知回路20と
を設けたものである。 前記領域信号発生回路18は、前記第1及び第
3の分割受光素子14A,14Cの出力の差を演
算する第1の差演算器22と、前記第2及び第4
の分割受光素子14B,14Dの出力の差を演算
する第2の差演算器24と、前記第1の差演算器
22の出力信号とプラス側参照信号Vref+及びマ
イナス側参照信号Vref-とを比較し、該出力信号
がこれらの参照信号Vref+とVref-の値の間にな
いとき信号を出力する第1のウインドコンパレー
タ26と、前記第2の差演算器24の出力信号と
プラス側参照信号Vref+及びマイナス側参照信号
Vref-と比較し、該出力信号がこれらの参照信号
Vref+とVref-の値の間にないとき信号を出力す
る第2のウインドコンパレータ28と、前記第1
及び第2のウインドコンパレータ26,28の少
なくとも一方が信号を出力するとき領域信号を出
力するORゲート30とを備えている。 前記センサー16は、第1図に示されるよう
に、投影機10のスクリーン6の上面にこれと平
行に且つ摺動可能に載置された透明板7と一体的
に設けられ、前記透明板7と共に、移動できるよ
うにされている。 前記センサー16の外側受光素子14は、内側
受光素子12の周囲に、半径方向の間隔をおいて
同心の輪状に形成されている。ここで外側受光素
子14の総和面積は内側受光素子12の面積と必
ずしも一致する必要はない。その場合にはプリア
ンプ12A及び15A〜15Dのゲイン調整によ
つて、例えば全体が明部にあるときに和演算器3
2の出力bとプリアンプ12Aの出力aとが一致
するようになればよい。プリアンプのゲイン調整
によつて出力が一致する場合に、両受光素子の面
積は実質的に等しいと考える。 又、前記検知回路20は、プリアンプ15A〜
15Dを介して入力される前記4個の分割受光素
子14A〜14Dの出力信号の和を演算する和演
算器32と、この和演算器32の出力信号とプリ
アンプ12Aにより増幅された内側受光素子12
の出力信号との差を演算する差演算器34と、こ
の差演算器34の出力信号と基準レベルの信号と
を比較して、両者が一致するとき、即ちクロスポ
イントにおいて信号を出力する比較器36と、こ
の比較器36から信号が出力されたとき、これに
基づいてエツジパルス信号を発生するパルス信号
発生器38と、このパルス信号発生器38及び前
記領域信号発生回路18の両者から信号が出力さ
れているときのみエツジ検出信号を出力する
ANDゲート40と、を備えている。 このANDゲート40からの出力信号は、載物
台3に連動する変位検出装置42のカウンタ44
にエツジ検出信号を出力するようにされている。 この変位検出装置42は、前記載物台3に連動
してその移動量に応じてパルス信号を発生するエ
ンコーダ46と、このエンコーダ46から出力さ
れるパルス信号を読取る前記カウンタ44とから
構成されている。 このカウンタ44は、前記ANDゲート40か
らエツジ検出信号が入力されるときに、その読取
り値を記憶装置48に出力するようにされてい
る。 次に上記実施例の作用を説明する。 スクリーン6上に結像された測定対象物4の投
影画像4Aを、載物台3を移動させることによ
り、センサー16に対して第2図のX方向に相対
的に移動させ、投影画像4Aのエツジがセンサー
16を横切るようにする。 投影画像4Aが、センサー16に相対的に接近
し且つこれを通過した場合は、内側受光素子12
により得られ、プリアンプ12Aにより調整され
て、検知回路20に入力される信号、及び受光素
子14により得られ、プリアンプ15A〜15D
により調整されて、検知回路20における和演算
器32を経た信号は、第3図Aに符号a及びbに
よつて示されるように、振幅の等しい位相ずれ信
号となる。これらの出力信号は、第3図Bに示さ
れるように、差演算器34によりc=b−aに演
算され、出力される。 前記外側受光素子14における第1及び第3の
分割受光素子14A,14Cによつて得られた信
号はプリアンプ15A,15Cを経て、信号A,
Cとして第1の差演算器22に入力される。 この第1の差演算器は入力された2つの信号
A,Cの差を演算して、その結果の信号f=A−
Cを第1のウインドコンパレータ26に出力す
る。 又、前記外側受光素子14における第2及び第
4の分割受光素子14B,14Dによつて得られ
た信号がプリアンプ15B,15Dによつて調整
された後、信号B,Dとして第2の差演算器24
に出力される。 この第2の差演算器24は入力された2つの信
号B,Dの差を演算してその信号g=B−Dを第
2のウインドコンパレータ28に出力する。 ここで、前記センサー16が、投影画像4Aに
対して、第2図に示されるように、第1及び第3
の分割受光素子14A,14Cの中心を通る直径
の方向に、第1の分割受光素子14A側から相対
的に接近した場合、第1の差演算器22の出力信
号fは第3図Dで示されるようになる。 これに対して、第2及び第4の分割受光素子1
4B,14Dは投影画像4Aのエツジに対して常
に等距離となるように相対的に移動されるので、
両者の出力信号の差、即ち第2の差演算器24の
出力信号g=0となる。 前記第1のウインドコンパレータ26は、第1
の差演算器22からの入賄信号fの値が予め設定
されたプラス側参照信号Vref+及びマイナス側参
照信号Vref-と比較して、出力信号gがこれら参
照信号の値の間にないときにその出力信号hがハ
イレベルとなる。 即ち、第3図Eに示されるような信号hがOR
ゲート32に対して出力されることになる。 一方、第2の差演算器24の出力信号はg=0
となり、プラス及びマイナス側参照信号Vref+
Vref-との間にあるので、第2のウインドコンパ
レータ28は信号を出力しない。 従つて、ORゲート30に対しては第1のウイ
ンドコンパレータ26の出力信号hのみが入力さ
れ、このため、該ORゲート30は第3図Fに示
されるような領域信号jを検知回路20のAND
ゲート40に対して出力することになる。 一方、前記差演算器34によつて出力される差
動出力信号cは比較器36に入力され、この比較
器36は、差動出力信号cが0の基準レベル信号
とクロスする時に信号kを出力する。比較器36
の出力信号kに基づき、パルス信号発生器38
は、第3図Cに示されるようなパルス信号lを
ANDゲート40に出力する。 前記パルス信号発生器38からのパルス信号l
と、ORゲート30からのデジタル信号jは、
ANDゲート40に入力され、このANDゲート
は、該入力信号が共にハイレベルの時に、第3図
Gで示されるように、例えば、10μSecのパルス
信号mを出力し、この時点で、投影画像4Aのエ
ツジを検出する。 ここで、前記比較器36は、入力信号cが零レ
ベルを横切る際に信号kを出力する。 従つて、比較器36は、センサー16が投影画
像4Aのエツジの外側あるいは内側、即ち、明部
や暗部であつても不要な信号kを出力し、その都
度、パルス信号発生器38は第3図Cにおいて示
されるような不要なパルス信号L1あるいはL2
出力してしまうことになるが、これは、領域信号
発生回路18からの領域信号jとパルス信号発生
器38からのパルス信号lの両者がANDゲート
40に入力されたときのみエツジ信号が出力され
るので、不要なパルス信号L1及びL2に基づくエ
ツジ信号が出力されることはない。 この実施例においては、領域信号発生回路18
における第1及び第2のウインドコンパレータ2
6,28に入力される信号が、分割受光素子14
A,14C及び14B,14Dの出力信号の差で
あつて、且つ、これらの信号と比較されるべき信
号は予め設定されたプラス側及びマイナス側の参
照信号Vref+とVref-であるので、センサー16
の投影画像4Aに対する相対速度が遅い場合、あ
るいは、センサー16が投影画像4Aのエツジ近
傍で測定を一時休止した後再開する場合等であつ
ても、確実に領域信号を発生することができる。 又、初期セツト回路等を設けることなく、領域
信号が電源投入時に誤つて励起されるようなこと
を防止できる。 なお上記実施例の作用は、第2図に示されるよ
うに、第1及び第3の分割受光素子14A,14
Cの中心を通る直径方向に、センサー16が投影
画像4Aのエツジに対してこれを横切るようにし
た場合のものであるが、センサー16が上記と直
交する方向(Y方向)に移動する場合あるいは斜
めに移動する場合であつても、前記と同様にエツ
ジ信号mを得ることができる。 更に、上記実施例において、センサー16を構
成する内側受光素子12が円形であつて、且つ外
側受光素子14が円周方向に4等分された分割受
光素子14A〜14Dから構成されているが、本
発明はこれに限定されるものでなく、内側受光素
子12が分割されるものであつてもよい。 又、内側受光素子12及び外側受光素子14が
共に輪状であつてもよい。 更に、内側又は外側受光素子12,14の分割
区画の数は、4個以上の偶数であればよい。 従つて、内側受光素子12又は外側受光素子1
4を6個あるいは8個に等分割するようにしても
よい。 更に前記実施例は、載物台3を移動させること
により投影画像4Aをセンサー16に対して移動
させるものであるが、これは、投影画像4Aに対
してセンサー16を移動させるようにしてもよ
い。 又、上記実施例は、投影機においてそのスクリ
ーン上の投影画像のエツジを測定する場合のもの
であるが、本発明はこれに限定されるものでな
く、光学式測定機器等における投影画像のエツジ
検出装置に一般的に適用されるものである。 従つて、例えば、光学格子を形成したメインス
ケール及びインデツクススケールの相対移動か
ら、光電的に寸法等を測定するための光電式測長
器、あるいはレーザー光等により測定対象物を平
行走査して、その明部と暗部から該測定対象物の
寸法等を測定する測定機器等におけるエツジ検出
装置にも適用されるものである。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. In this embodiment, the present invention is applied to a projector, and as shown in FIGS. 1 and 2,
The light from the light source lamp 1 is irradiated onto the measuring object 4 on the stage 3 from below the stage 3 through the condenser lens 2 or from above the stage 3 through another optical path. Then, based on the transmitted light or reflected light, a projected image 4A of the measurement object 4 is formed on the screen 6 via the projection lens 5, and the dimensions of the measurement object 4 are indirectly determined by this projection image 4A. In an edge detection device for a projected image in a projector 10 for measuring, etc., a circular inner light receiving element 1 is used.
2, and an outer light-receiving element 14 which is arranged in an annular shape surrounding the inner light-receiving element 12, concentrically with the inner light-receiving element 12, and having an equal area;
4 consists of first to fourth divided light receiving elements 14A to 14D equally divided in the circumferential direction, and based on the brightness and darkness that occurs when moving relative to the measurement object 4,
A sensor 16 that generates a phase shift signal, and first and third divided light receiving elements 14A and 14C that face each other in the diametrical direction among the divided light receiving elements 14A to 14D.
Alternatively, a region signal generation circuit 18 outputs a region signal when the difference between the outputs of the second and fourth divided light receiving elements 14B and 14D exceeds a predetermined value, and a region signal is output from the region signal generation circuit 18. In between, a detection circuit 20 is provided which outputs an edge signal when the sum of the outputs of the plurality of divided light receiving elements 14A to 14D matches the value of the output of the inner light receiving element 12. The area signal generation circuit 18 includes a first difference calculator 22 that calculates the difference between the outputs of the first and third divided light receiving elements 14A and 14C, and a first difference calculator 22 that calculates the difference between the outputs of the first and third divided light receiving elements 14A and 14C;
A second difference calculator 24 calculates the difference between the outputs of the divided light receiving elements 14B and 14D, and the output signal of the first difference calculator 22 and the positive side reference signal Vref + and the negative side reference signal Vref - . a first window comparator 26 that compares and outputs a signal when the output signal is not between the values of these reference signals Vref + and Vref - , and the output signal of the second difference calculator 24 and the positive side reference. Signal Vref + and minus side reference signal
Vref - and the output signal is compared to these reference signals
a second window comparator 28 that outputs a signal when the value is not between Vref + and Vref - ;
and an OR gate 30 that outputs a region signal when at least one of the second window comparators 26 and 28 outputs a signal. As shown in FIG. 1, the sensor 16 is provided integrally with a transparent plate 7 that is slidably placed on the upper surface of the screen 6 of the projector 10 in parallel thereto. It is also movable. The outer light receiving element 14 of the sensor 16 is formed in a concentric ring shape around the inner light receiving element 12 at intervals in the radial direction. Here, the total area of the outer light receiving elements 14 does not necessarily have to match the area of the inner light receiving elements 12. In that case, by adjusting the gain of the preamplifiers 12A and 15A to 15D, for example, when the whole is in a bright area, the summation unit 3
It is only necessary that the output b of the preamplifier 2 and the output a of the preamplifier 12A match. When the outputs match by adjusting the gain of the preamplifier, the areas of both light receiving elements are considered to be substantially equal. Further, the detection circuit 20 includes preamplifiers 15A to 15A.
a summation unit 32 that calculates the sum of the output signals of the four divided light-receiving elements 14A to 14D that are inputted via the light-receiving element 15D;
and a comparator that compares the output signal of the difference calculator 34 with a reference level signal and outputs a signal when they match, that is, at a cross point. 36, a pulse signal generator 38 that generates an edge pulse signal based on the signal output from the comparator 36, and a signal output from both this pulse signal generator 38 and the area signal generation circuit 18. Output edge detection signal only when
It is equipped with an AND gate 40. The output signal from this AND gate 40 is sent to a counter 44 of a displacement detection device 42 linked to the stage 3.
The edge detection signal is output to the This displacement detection device 42 is composed of an encoder 46 that is linked to the document stage 3 and generates a pulse signal according to the amount of movement thereof, and the counter 44 that reads the pulse signal output from the encoder 46. There is. This counter 44 is configured to output its read value to a storage device 48 when an edge detection signal is input from the AND gate 40. Next, the operation of the above embodiment will be explained. By moving the stage 3, the projected image 4A of the measurement object 4 formed on the screen 6 is moved relative to the sensor 16 in the X direction in FIG. The edge should cross the sensor 16. When the projected image 4A approaches the sensor 16 and passes through it, the inner light receiving element 12
A signal obtained by the light receiving element 14 and adjusted by the preamplifier 12A and input to the detection circuit 20, and a signal obtained by the light receiving element 14 and adjusted by the preamplifier 15A to 15D.
The signal that has been adjusted by the summing unit 32 in the detection circuit 20 becomes a phase-shifted signal with equal amplitude, as shown by symbols a and b in FIG. 3A. As shown in FIG. 3B, these output signals are calculated by the difference calculator 34 to give c=ba-a and are output. The signals obtained by the first and third divided light receiving elements 14A and 14C in the outer light receiving element 14 pass through preamplifiers 15A and 15C, and are converted into signals A,
It is input as C to the first difference calculator 22. This first difference calculator calculates the difference between the two input signals A and C, and the resulting signal f=A-
C is output to the first window comparator 26. Further, after the signals obtained by the second and fourth divided light receiving elements 14B and 14D in the outer light receiving element 14 are adjusted by preamplifiers 15B and 15D, a second difference calculation is performed as signals B and D. vessel 24
is output to. This second difference calculator 24 calculates the difference between the two input signals B and D and outputs the signal g=B−D to the second window comparator 28 . Here, the sensor 16 detects the first and third images with respect to the projected image 4A, as shown in FIG.
When approaching relatively from the first divided light receiving element 14A side in the direction of the diameter passing through the center of the divided light receiving elements 14A, 14C, the output signal f of the first difference calculator 22 is shown in FIG. 3D. You will be able to do it. On the other hand, the second and fourth divided light receiving elements 1
4B and 14D are moved relative to the edge of the projected image 4A so that they are always at the same distance,
The difference between the two output signals, that is, the output signal g of the second difference calculator 24 becomes g=0. The first window comparator 26
When the value of the input signal f from the difference calculator 22 is compared with the preset positive reference signal Vref + and negative reference signal Vref - , and the output signal g is not between the values of these reference signals. The output signal h becomes high level. That is, the signal h as shown in FIG. 3E is OR
It will be output to the gate 32. On the other hand, the output signal of the second difference calculator 24 is g=0
Then, the positive and negative side reference signals Vref +
Vref - , the second window comparator 28 does not output a signal. Therefore, only the output signal h of the first window comparator 26 is input to the OR gate 30, and therefore, the OR gate 30 receives the area signal j as shown in FIG. 3F from the detection circuit 20. AND
It will be output to the gate 40. On the other hand, the differential output signal c output by the difference calculator 34 is input to a comparator 36, and this comparator 36 receives the signal k when the differential output signal c crosses the reference level signal of 0. Output. Comparator 36
Based on the output signal k of the pulse signal generator 38
is a pulse signal l as shown in Fig. 3C.
Output to AND gate 40. Pulse signal l from the pulse signal generator 38
And the digital signal j from the OR gate 30 is
When both input signals are at high level, the AND gate outputs a pulse signal m of, for example, 10 μSec, as shown in FIG. 3G, and at this point, the projected image 4A Detect edges. Here, the comparator 36 outputs a signal k when the input signal c crosses the zero level. Therefore, the comparator 36 outputs an unnecessary signal k even if the sensor 16 is outside or inside the edge of the projected image 4A, that is, in a bright area or a dark area, and each time the pulse signal generator 38 outputs an unnecessary signal k. This results in the output of an unnecessary pulse signal L1 or L2 as shown in FIG. Since an edge signal is output only when both are input to the AND gate 40, an edge signal based on unnecessary pulse signals L1 and L2 will not be output. In this embodiment, the area signal generation circuit 18
The first and second window comparators 2 in
The signals inputted to 6 and 28 are transmitted to the divided light receiving element 14.
The sensor is 16
Even when the relative speed of the sensor 16 to the projected image 4A is slow, or when the sensor 16 temporarily pauses and then resumes measurement near the edge of the projected image 4A, the area signal can be reliably generated. Further, without providing an initial set circuit or the like, it is possible to prevent the area signal from being erroneously excited when the power is turned on. The operation of the above embodiment is as shown in FIG.
This is a case where the sensor 16 is set to cross the edge of the projected image 4A in the diametric direction passing through the center of C, but when the sensor 16 is moved in a direction perpendicular to the above (Y direction) or Even when moving diagonally, the edge signal m can be obtained in the same way as described above. Further, in the above embodiment, the inner light receiving element 12 constituting the sensor 16 is circular, and the outer light receiving element 14 is composed of divided light receiving elements 14A to 14D divided into four equal parts in the circumferential direction. The present invention is not limited to this, but the inner light receiving element 12 may be divided. Further, both the inner light receiving element 12 and the outer light receiving element 14 may be ring-shaped. Furthermore, the number of divided sections of the inner or outer light receiving elements 12, 14 may be an even number of four or more. Therefore, the inner light receiving element 12 or the outer light receiving element 1
4 may be equally divided into 6 or 8 pieces. Further, in the above embodiment, the projection image 4A is moved relative to the sensor 16 by moving the stage 3, but this may be done by moving the sensor 16 relative to the projection image 4A. . Further, although the above embodiment is for measuring the edge of a projected image on a screen of a projector, the present invention is not limited to this, and can be used to measure the edge of a projected image on an optical measuring device or the like. This is generally applied to detection devices. Therefore, for example, from the relative movement of the main scale and index scale that form an optical grating, the object to be measured can be scanned in parallel using a photoelectric length measuring device for photoelectrically measuring dimensions, etc., or a laser beam or the like. The present invention is also applied to an edge detection device in a measuring instrument, etc., which measures the dimensions of an object to be measured from its bright and dark areas.

【発明の効果】【Effect of the invention】

本発明は上記のように構成したので、投影画像
に対するセンサーの移動速度が遅い場合、あるい
は投影画像のエツジ近傍においてセンサーを一時
停止させ、再度移動させた場合であつても、確実
に領域信号を励起させて、投影画像のエツジを検
出することができるという優れた効果を有する。
Since the present invention is configured as described above, even if the moving speed of the sensor with respect to the projected image is slow, or even if the sensor is temporarily stopped near the edge of the projected image and then moved again, the area signal can be reliably detected. It has the excellent effect of being able to detect the edges of a projected image by excitation.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明に係る投影画像のエツジ検出装
置を投影機に実施した場合の実施例を示す光学系
統図、第2図は同実施例の構成を示すブロツク
図、第3図は同実施例における信号処理の過程を
示す線図である。 4……測定対象物、4A……投影画像、12…
…内側受光素子、14……外側受光素子、14A
〜14D……分割受光素子、16……センサー、
18……領域信号発生回路、20……検知手段、
22……第1の差演算器、24……第2の差演算
器、26……第1のウインドコンパレータ、28
……第2のウインドコンパレータ、30……OR
ゲート、32……和演算器、38……パルス信号
発生器、40……ANDゲート。
Fig. 1 is an optical system diagram showing an embodiment in which the projection image edge detection device according to the present invention is implemented in a projector, Fig. 2 is a block diagram showing the configuration of the embodiment, and Fig. 3 is the same implementation. It is a diagram showing the process of signal processing in an example. 4...Measurement object, 4A...Projected image, 12...
...Inner light receiving element, 14...Outer light receiving element, 14A
~14D...divided light receiving element, 16...sensor,
18... area signal generation circuit, 20... detection means,
22...First difference calculator, 24...Second difference calculator, 26...First window comparator, 28
...Second window comparator, 30...OR
Gate, 32...Summing unit, 38...Pulse signal generator, 40...AND gate.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 透過光又は反射光による測定対象物の投影画
像によつて寸法測定をするための光学式測定機器
における投影画像のエツジ検出装置において、外
周が円形の内側受光素子、及び、この内側受光素
子を囲んでこれと同心で面積の実質的に等しい輪
帯状に配置されてなる外側受光素子を備え、且
つ、これら内側受光素子及び外側受光素子の一方
が、円周方向に少なくとも4個の偶数に等区画さ
れた分割受光素子から構成され、前記測定対象物
との相対移動時に生ずる明暗に基づき、位相ずれ
信号を発生するセンサーと、前記分割受光素子の
うちの1つの直径方向に対向する分割受光素子の
出力の差が所定値を越えるときに領域信号を出力
する領域信号発生回路と、この領域信号発生回路
から領域信号が出力されている間であつて、前記
複数の分割受光素子の出力の総和と他方の受光素
子の出力の値が一致するときに、エツジ信号を出
力する検知回路と、を設けてなる投影画像のエツ
ジ検出装置。 2 前記一方の受光素子は、4区画されて、円周
方向に第1乃至第4の分割受光素子から構成され
てなる特許請求の範囲第1項記載の投影画像のエ
ツジ検出装置。 3 前記領域信号発生回路は、前記第1及び第3
の分割受光素子の出力の差を演算する第1の差演
算器と、前記第2及び第4の分割受光素子の出力
の差を演算する第2の差演算器と、前記第1の差
演算器の出力信号とプラス側参照信号及びマイナ
ス側参照信号と比較し、該出力信号がこれらの参
照信号の値の間にないとき信号を出力する第1の
ウインドコンパレータと、前記第2の差演算器の
出力信号とプラス側参照信号及びマイナス側参照
信号と比較し、該出力信号がこれらの参照信号の
値の間にないとき信号を出力する第2のウインド
コンパレータと、前記第1及び第2のウインドコ
ンパレータの少なくとも一方が信号を出力すると
き領域信号を出力するORゲートと、を有してな
る特許請求の範囲第2項記載の投影画像のエツジ
検出装置。
[Scope of Claims] 1. An edge detection device for a projected image in an optical measuring instrument for measuring dimensions using a projected image of an object to be measured using transmitted light or reflected light, comprising: an inner light-receiving element having a circular outer periphery; , an outer light-receiving element is arranged surrounding the inner light-receiving element, concentrically with the inner light-receiving element, and having a substantially equal area; a sensor that is composed of four evenly divided light receiving elements and generates a phase shift signal based on the brightness and darkness that occurs when moving relative to the object to be measured; and a sensor that generates a phase shift signal in the diametrical direction of one of the divided light receiving elements. an area signal generation circuit that outputs an area signal when the difference in output between the divided light receiving elements facing each other exceeds a predetermined value; 1. A projection image edge detection device comprising: a detection circuit that outputs an edge signal when the sum of the outputs of one light-receiving element matches the value of the output of the other light-receiving element. 2. The projection image edge detection device according to claim 1, wherein the one light receiving element is divided into four sections and is composed of first to fourth divided light receiving elements in the circumferential direction. 3. The area signal generation circuit includes the first and third area signal generation circuits.
a first difference calculator that calculates the difference between the outputs of the divided light receiving elements; a second difference calculator that calculates the difference between the outputs of the second and fourth divided light receiving elements; and the first difference calculator. a first window comparator that compares the output signal of the device with a positive reference signal and a negative reference signal and outputs a signal when the output signal is not between the values of these reference signals; and the second difference calculation. a second window comparator that compares the output signal of the device with a positive reference signal and a negative reference signal and outputs a signal when the output signal is not between the values of these reference signals; 3. The projection image edge detection device according to claim 2, further comprising an OR gate that outputs an area signal when at least one of the window comparators outputs a signal.
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