JPH04177118A - 実体写真測量における相互標定法 - Google Patents

実体写真測量における相互標定法

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JPH04177118A
JPH04177118A JP30465590A JP30465590A JPH04177118A JP H04177118 A JPH04177118 A JP H04177118A JP 30465590 A JP30465590 A JP 30465590A JP 30465590 A JP30465590 A JP 30465590A JP H04177118 A JPH04177118 A JP H04177118A
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JP
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orientation
point
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photographs
points
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JP30465590A
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English (en)
Inventor
Yukio Ozaki
尾崎 幸男
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TAMANO SOGO CONSULTANT KK
Original Assignee
TAMANO SOGO CONSULTANT KK
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は2枚の実体写真から解析的方法によって三次元
モデルを再現するための実体写真測量における相互標定
法に係り、特に射影幾何学の定理を厳格に守ることによ
り誤差を最小になし得るようにしたものに関する。
(従来の技術) 実体写真測量の応用分野の一つに航空写真がら地図作成
のための三次元座標を得る空中写真測量技術がある。こ
の空中写真測量技術によって地図を作成するためのデー
タを得るには、次のようにする。まず、第3図に示すよ
うに航空機に測量用カメラを搭載して直線飛行させ、位
置Al、A2において地上を多数枚の写真に分けて順次
撮影する。この場合、連続する2枚の写真には地上の同
一領域が50%以上重複して写し込む。現像された写真
像は二次元情報しか含まないから、これから三次元モデ
ル形成のための情報を得るには同一領域が移し込まれた
2枚の写真を利用する。その原理は、第4図に示すよう
に写真撮影時の幾何学的関係を第3図の場合と同様に再
現することにより地上の標定点P、Q等の三次元座標を
特定するところにある。即ち、連続する写真撮影時点に
おけるカメラの各レンズ中心をそれぞれ01.02とす
ると、地上の標定点P、Q等からの光線は各レンズ中心
01.02を通って各フィルムに到達しているから、標
定点Pは2枚の写真Al、A2にそれぞれ画像点p1.
p2として写し込まれ、標定点Qは2枚の写真AI、A
2にそれぞれ画像点q1.q2として写し込まれている
。従って、幾何学的に、何等の誤差もなければ、直線p
l−01の延長線と直線p2−02の延長線との交点に
標定点Pがあり、直線ql−01の延長線と直線q2−
02の延長線との交点に標定点Qがあるはずである。従
って、2枚の写真Al、A2の空間的相互関係(位置の
ずれ、傾き等)が第3図に示した撮影時の状態と同一で
あれば、標定点P。
Qの三次元座標は一義的に決定されるはずである。
このような三次元モデルを形成する方法として、従来よ
り、光線に相当する各直線をロッドに置き換えてその交
点の座標を測定する実体図化機を利用した機械的方法、
或いは、各写真AI、A2上における各画像点pt、p
2.qi、q2等の二次元座標を測定してその座標値に
基づき各標定点P、Q等の三次元座標を解析幾何学的に
計算する解析法とがある。ここでは、本発明に直接関係
する解析法についての従来技術を述べる。
まず、例えばコンパレータと称する測定器によって、5
点以上の標定点(パスポイントともいう)に対応する2
枚の写真中の各平面座標値を測定する。ところが、これ
だけのデータでは三次元モデルは再現できない。2枚の
写真を撮影した各時点での航空機の空間位置や両写真の
空間的相互関係が未だ特定されていないからである。こ
のため、三次元モデルの形成に先立ち、2枚の写真の相
互関係を特定するための各種のパラメータを決定してお
かなければならない。この操作を相互標定と呼び、決定
されるべきパラメータを標定要素という。例えば一方の
カメラのレンズ中心o1に三次元座標の原点をとり、こ
の座標系を基準として考える場合について述べれば、こ
の場合における標定要素は、他方のカメラのレンズ中心
o2のY軸、Z軸方向の微小移動量by、bz及びx、
y、zの各軸を基準とした回転角に、φ、ωとなる(第
5図参照)。これらの標定要素を考慮した相互標定を行
えば、両者の写真座標系は同一の三次元空間座標に統合
されることになる。なお、この座標変換の数学的取扱い
については、例えば社団法人日本写真測量学会発行の「
解析写真測量」等の刊行物により当業者間に周知されて
いるから、詳述しない。
この場合、具体的には、両カメラのレンズ中心o1.o
2と、各写真における標定点画像pt。
p2とを通る2本の直線が三次元空間内の一点にて交会
するための条件式(縦視差方程式)を立て、この条件式
に前述したバスポイント毎の写真座標の測定値を代入し
て標定要素の値を導き出すようにする。
この相互標定が完了すれば、理論的には上述したように
、第4図に示す直線pi−01の延長線と直線p2−0
2の延長線とは1点Pで交会し、直線qt−oiの延長
線と直線q2−02の延長線も1点Qで交会する筈であ
る。ところが、実際の写真測量に際しては様々な誤差が
入り込むから、現実には第6図に示すように両直線は三
次元空間内で交会せずにすれ違う。そこで、その近傍に
仮想的な交会点AOを取り、この点と実際の直線との最
短距離を縦視差pyという。従来の相互標定法では、第
7図に示すように、一般的な間接最小二乗法を適用して
近似的な標定要素を算出し、その値に基づき縦視差py
を計算し、その縦視差pyが所定の許容範囲内に収まる
まで第7図の繰返し計算の過程に示すように何度も標定
要素を繰り返し補正しながら逐次近似計算を行って最終
的に標定要素の値を決定していたのである。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、最小二乗法を適用して近似値を求める場
合には、両直線が最も接近した近傍に点AO(第6図参
照)を仮想してこれを交点とみなすことを意味する。こ
れでは同図に示した縦視差pyが誤差の限界となること
を避は得ない。
ところで、写真測量の基礎的理論として従来採用されて
いる前提では、写真上の全ての点に至る入射光線群はレ
ンズ中心を頂点とする光錐を作る。
この先錐は写真測量ではホトグラムと呼ばれているが、
これは空間中のある1点を共有する直線群によって構成
された射影幾何学でいう三次元線束空間に他ならない。
相互標定において、全ての光線群が1個の頂点(射影中
心)に収束する射影幾何学的線束空間を厳密に実現し、
このような2個の三次元線束空間を組み合わせて三次元
線束空間を構成すれば、この三次元線束空間内では2本
の直線が必ず交会し、誤差は観測誤差等のみの最小限に
抑えることができる筈である。
しかるに、従来の、いわば射影幾何学の定理を無視した
相互標定法によれば、射影幾何学的な三次元線束空間の
構成には全く考慮を払わず、第4図に示す直線pi−O
fや直線p2−02等の直線群のカメラ外部への延長上
でそれらが最も接近する近傍を探し、その点AOを求め
る標定点の近似的な位置としていたのである。このよう
な取扱いをしていた従来でも、レンズ中心は一点に収束
しているとされていたが、実際には各光線の収束点は各
標定点毎に第8図に示すようにばらついていたことにな
る。これでは、測定精度の向上には自ずと限界があるこ
とは明らかで、相互標定作業が試行錯誤的になって多大
の作業時間を要することの原因となっていたのである。
そこで、本発明の目的は、射影幾何学における三次元線
束の定理に従って、射影中心が一点に固定された三次元
線束空間を厳密に成立させることにより、作業時間を短
縮しながら、誤差を極小になし得る実体写真測量におけ
る相互標定法を提供するにある。
[発明の構成] (課題を解決するための手段及びその作用)本発明に係
る相互標定法は、写真上の一対の対応点を通る光束が交
会するための条件式及び写真中における標定点の写真座
標に基づき標定要素の概略値を算出する概略的相互標定
処理と、この写真中における標定点の写真座標及び標定
要素の概略値に基づき、レンズ中心と写真中の標定点の
画像とを結ぶ直線群により構成される光錐を一点に収束
させる射影幾何学的条件を満足させるための縦視差補正
値を算出する縦視差解析演算処理と、求められた縦視差
補正値に基づき標定要素の補正量を演算する補正量演算
処理と、求められた標定要素の補正量に基づき標定要素
を演算する標定要素演算処理とを実行するところに特徴
を有する(第1図参照)。
上記手段における概略的相互標定処理は、一対の写真を
通る光束が交会するための条件式から導出される視差方
程式に写真座標及び標定要素の初期値を代入して縦視差
を算出し、この値がある程度小さく収束するまで標定要
素の初期値を繰り返し補正して行けばよい。ここまでは
、従来の相互標定と同一であるが、標定要素の値は概略
値でよいから、従来の解析相互標定のための計算に比べ
れば繰り返し回数は十分に少なくて済む。
上記手段における縦視差解析演算処理以下の処理の数学
的手順を、一方(例えば左側)の写真の座標系を固定し
、他方(右側)の写真の相対的位置及び傾斜・回転を修
正して相互標定を行う場合について示すと次のようにな
る。この場合には、第5図から明らかなように、標定要
素は右側のカメラのY軸、Z軸方向の微小移動量by、
bz及びx、y、zの各軸を中心とした回転角に、φ。
ωの5つとなる。なお、X軸方向の移動はいわゆる縮尺
の大小のみに影響し、相互標定には無関係であるので考
慮しない。
まず、左右一対の写真上にあるN個の標定点の画像を通
るN対の光線(直線)対を考え、左の写真における標定
点の写真座標は固定して右の写真上における標定点の写
真座標を(xn、yn)とする。ここで、■は標定点の
番号である(n−1〜N)。
N対の光線対の各々について、一般的には三次元空間内
では必ずしも交会せずにすれ違うが、その場合、空間内
で最も接近する点でのY軸方向の最短距離(縦視差)p
ynを求めると次式(1)に示すようになる。この式は
各光線対について存在し、従って合計N個成立する(n
−1〜N)。
この式(1)は縦視差方程式として知られているもので
、fはカメラの焦点距離、Xn、ynの値は写真から測
定値として与えられる。この(1)式における係数を簡
略化して記述すると、次式(2)に示すように表される
Pyn=Anl ・Δl(+An2”Δφ+An3・Δ
ω+An4”Δbz+An5・Δby・・・・・・(2
) 一対の光線が空間内で交会するにはこの式(2)の左辺
が零にならなければならないから、この各式に=pyn
という補正値を加えればよい。そのため、式(2)の左
辺を−pynと置き、それらの式を標定要素の補正量で
あるΔby、ΔbZ、 Δに。
Δφ、Δωを未知数としたN個の連立方程式と考えてそ
れを解けばよい。しかし、実体写真測量における相互標
定を行うには、その正確性を期するために標定点の数は
6点以上取る必要があるから、未知数の数(5)に比べ
て条件式の数(6以上)が多すぎるため、これらに普通
の代数的解法を適用することはできない。そこで、従来
の相互標定法では、(1)式の誤差pynを全部厳密に
0にすることができないため、それらの二乗和を最小に
する一般的な間接最小二乗法を適用していたのである。
これに対し、本発明の方法では、まず、N個の式(2)
の中から任意の6個を選んで1組とする。
そのような組の独立したものの個数MはM−N−5で、
結局、6個の式からなる弐群がM組できる。
このM組の各大群をそれぞれΔby、Δbz。
Δに、Δφ、Δωという5個の未知数についての連立方
程式と考えると、各組では5個の未知数に対して6個の
式が存在することになるため一義的な解は存在しないが
、これらの弐群から5個の未知数(標定要素の補正量)
を消去すると、M組の大群の各組について次のような条
件式が得られる。
aml” pYnl + 1m2” E)yn2 +a
a3’ pyna” a ’:’a’ pyn4+ a
ツs” pyn5 + a :6・pyn6+0+・・
・・・・+0−8m        (3)ここで、例
えばaTlは係数マトリックスにおけるn1行、m列の
要素を示す。nl、n2・・・・・・はN個のpynの
中から選んだ6個の点の番号を示し、lは1〜Mの整数
を示す。また、右辺のε■は閉合差と呼ばれるものであ
る。
なお、上式(3)左辺の項数はpynの数、即ちN個で
あるが、その中で0でないpynの数は合計6に過ぎな
いから、合計(N−6)個の項が欠けていることになり
、それを式(3)の左辺にまとめて+0と表しである。
さて、レンズ中心と写真中の前記標定点の画像とを結ぶ
直線群により構成される光錐を一点に収束させる射影幾
何学的条件を満足させるためには、式(3)の右辺の閉
会差ε−が全て0でなければならない。これを代数学の
方程式論でいえば、式(2)の形のN個の弐群から選ん
だ任意の6個の式で作った連立方程式のランクが5でな
ければならないことになる。そこで、このように全ての
ε−を0にするため、最初の測定値に補正値−pynを
加えて、 yn −yn −pyn      (4)とおき、さ
らにM個の未知数kl、に2.・・・。
klを次式(5)のようにおく。このkl、に2゜・・
・、klは未定係数と呼ばれるものである。
pyn−a、aml +111 *に2 +aa  @
に3+all−に4+all 令に5    (5)代
数学或いは行列式論によれば、上の式(3)と式(5)
とでは係数は同じもので、マトリックス表示すると反転
マトリックスになっている。即ち(3)式の係数マトリ
ックスは8行M列、(5)式の係数マトリックスはM行
N列で、それぞれm行n列と0行m列の項の数値は等し
い。
この式(5)の形の条件式はN個あるが、この−pyn
を式(3)の左辺の各項の−pynに代入すると未定係
数kl、に2.・・・、に■に関するM個の連立方程式
が得られる。これを解いてkl、に2、・・・、  l
c++の値を求め、さらにその値をN個の式(5)に代
入すれば、pynの値が得られるから、式(4)に基づ
いて補正された値Iが算出できる。
そこで、このIの値を式(1)のynとして使って(1
)の形の式を5個作り、標定要素の補正量Δby、Δb
z、 Δに、Δφ、Δωに関する連立方程式として解け
ば、今度は未知数の数と式の数とが一致するから一般的
な代数的解法が適用できて容易に解が求まり、Δby、
Δbz、Δに。
Δφ、Δωの値が一義的に定まる。このようにして求め
た値が、射影幾何学的に各光線を一点の投影中心に収束
させた状態、即ち完全な三次元線束空間を成立させた状
態での標定要素の補正量に相当する。
そして、これらの補正量に基づき標定要素by。
bz、  に、φ、ωが確定されるから、この標定要素
を使って各標定点の三次元座標を算出する演算処理を実
行することができる。
(実施例) 以下本発明を航空写真による地図作成のための測量技術
に適用した一実施例について第2図のフローチャートを
参照して具体的に説明する。
測量用に連続撮影された航空写真のうち連続する2枚の
写真をとり、例えば左の写真を基準として右の写真の中
から例えば10個の標定点(パスポイント)の写真座標
(xn 、  yn )  (n−1〜10)を測定す
る(ステップSl)。この測定には一般的なコンパレー
タが使用できる。
(1)概略的相互標定処理 2枚の写真を通る光線の交会条件式から、各標定要素の
近似値のまわりにテーラ−展開して得られる線形式は前
述の式(1)に示されている。この式に、10点の写真
座標の測定値(xn 、  Vn )を代入して一般的
な間接最小二乗法を適用し、標定要素の近似的初期値に
対する補正量を求めて初期値を補正し、縦視差pyn(
n−1〜10)が所定の範囲に入るような標定要素by
、bz、  に。
φ、ωの概略値を求める(ステップS2)。なお、ここ
までの操作は、従来の相互標定と同じであるが、従来は
縦視差pynがミクロン単位の一定の制限値に収束する
まで何回も繰り返して最終的な標定要素の値を求める必
要があった。しかし、本発明方法のこのステップでは、
必要な標定要素は例えば1 mm程度に収束した概略値
でよく、従って例えば2・3回の繰り返し計算で済む。
(2)縦視差演算処理 ■再び式(1)に写真座標の測定値(xn 。
yn)(n−1〜10)を代入する。パスポイントはこ
の場合、10個だから、この形の式は合計10個できる
010個のパスポイントに対応して作られる計10個の
式のうち任意の6個の式を選んで相互に独立な大群を5
組作る(ステップS3)。これらの5組の大群を構成す
る式の組合わせは任意であるが、例えば次表のように選
ぶことができる。
パスポイントの番号 第1組   12345  6 第2組   12345  7 第3組   5 6 7 8 9 10   ′第4組
   12345  9 第5組   1 2 3 4 5 10このように構成
した各組の式群から未知数であるΔby、ΔbZ、Δに
、Δφ、Δω(標定要素の補正量)を消去する演算処理
を行う(ステップS4)。これにより、p )’nlを
含んだ前記(3)の形の5個の式が導かれる。ここで、
nは1〜10の整数、lは1〜5の整数である。
その例えば第1組ないし第3組を構成する各5個の大群
は、前述した式(2)のような簡略表現を使って書くと
、次の通りとなる。
〈第1組〉 pyl” A 11・Δに+AI2・Δφ+A13・Δ
ω+Al4−Δbz+A15・Δby p y2− A Ll−Δに+A22−Δφ+A 23
−Δω+A24’Δbz十A25φΔby p y3− A 31−Δに+A32・Δφ+A 33
−Δω十A34”ΔbZ+A35−Δby py4陶A41・Δに+A42・Δ陶土413・Δω+
A44・Δbz+A45争Δby py5−A51−Δに十A52ψΔφ+A5g−Δω十
A54’Δbz+A55・Δby py6−A81−Δに+A62・Δφ十A 63− Δ
ω+A64’ΔbZ+A65−Δby ・・・・・・(2,1) く第2組〉 p yl −A 11争Δに+A12φΔφ+A13・
Δω+A14・Δt)Z+A15−Δby p y2− A 21・Δに+A22#Δφ+A23・
Δω+A24−Δbz+A25◆Δby pya−A 81・Δに+A32・Δφ+A33・Δω
+A3411Δbz+A35φΔby p y4− A 41・Δに+A42・Δφ+A 43
−Δω+ A 44−  Δbz +A45・ Δby
py5− A 51−  Δに +A52”  Δφ+
A 53−  Δω+A34−  Δbz +A55#
 Δbypy7−A71−Δに十A72・Δφ十A73
拳Δω+A74’  Δbz+A75−  Δby・・
・・・・ (2,2) ここで、第1組の弐群(2,1)と第2組の弐群(2,
2)との相違は、第6番目の式においてpy6とpY7
とが入れ代わっているだけである。
く第3組〉 py5− A 51・Δに+A52・Δφ+A53φΔ
ω+A34−Δbz+A55・Δby pye−Aet・Δに+A82φΔφ+A63・Δω+
 A 64−Δbz十A65・Δbypy7−A71−
Δに十A?2・Δφ十A73・Δω+A74−Δbz十
A75・Δby pyg細A81・Δに十A 82−Δφ+A83・Δω
十A34−Δbz+A85’Δby p y9− A 91や Δに +A92・ Δ φ 
+A93・ Δω+A94・ Δ bz+A95・ Δ
byp ylO−A 10.1φΔに+A 10.2・
Δφ+A 10.3ψ Δω+ A Io、4− Δ 
b z  + A Io、5 ・  Δ by・・・・
・・ (2,3) 第4組及び第5組の他の弐群についても同様に考えるこ
とができる。
また、上記した第1ないし第5組の各大群において補正
量Δby、ΔbZ、Δに、Δφ。
Δωを消去した式をやはり第1組ないし第3組について
示せば、次の通りとなる。
(第1組について) a7、・p yl+ a 2 φpy2+ a 3 ・
py3十a4 争1) Y4+ a s  Φp y5
+a 6  争pylli+o+o+o+o−ε1  
  ・・・・・・(5,1)(第2組について) aキ ・py1+a2 ・p y2+ a 3  °p
ya”a4 ’ py4+as ・p y5+ 0十a
、 −py7+0+0+0−ε2 − (5,2)(第
3組について) 0 + 0 + 0 + Q + a 5 φpy5+
 a 6 ・py6+a、@ py7+a8 ・pyg
+ a 9  °py9+ a ro” pylo−ε
3     ・・・・・・(5,3)他の組の弐群につ
いても同様に考えることができる。
これらのマトリックス形式で表すと次のようになる。
・・・・・・(6) このマトリックスは実質的には式(3)の左辺と同じも
のである。なお、この場合、マトリックスの縦の各列に
ついてその全ての要素が0にならないように選ぶ必要が
ある。
0次に、上記マトリックス表示の式(6)がら、式(3
)の各式の係数を用いて未定係数kl、に2.・・・、
に5に関する式を立てると、次のようになる。
pyl−a:  kl +ai k2 +a;  k4
 +a7  k5py2−δ4 kl +aj k2 
+a3 k4 +a; k5py3−δ4  kl +
aj  k2 +a3  k4 +ai  k5py4
−aj  kl +aj  k2 +a:  k4 +
a:  k5py5−δ4  kl  +a4  k2
 +a4  k3  +aシ k4+ a s  k 
5 py6−aj  kl  +aj  k3py7−δ4
  k2 +a;  k3py8−a晶 k3 py9=aj  k3  +a8 k4pylO−a、
ろに3+a1:に5 ・・・・・・(7) この未定係数の導入の根拠については最小二乗法のうち
の条件付調整法として周知である。そして、前述した式
(5,1)〜(5,5)のpynに上記(7)の式を代
入すると、5個の未定係数kl−に5を未知数とした次
の5個の式からなる連立方程式(8)が得られる。
C11−kl +C12争に2+c13・k3十C14
・に4+c15・に5−δ1 C21−kl +C22・k2+C23・k3+C24
拳に4+C25・に5−δ2 C31・kl +C32−k2 +C33φに3+C3
4・に4+C35・に5−M−δ3C41−k l +
 C42・k2+C43・k3+C44−k4  +C
45−k5 −  δ 4C51争kl+C52・に2
+C53・k3+C54拳に4+C55・k5讃δ5 ・・・・・・(8) ここで、上記式(8)のC11,CI2・・・は、式(
7)を式(5,1)、(5,2)、・・・に代入して得
られ、例えば第1式の係数は次の通りに表される。
Cllwa  l   e   a  1  + δ3
   ’1   a  2  +a、   e   a
十a4 al14+g5Φas +a6・atC12m
a、m at +az @a2 +a3  m a。
+a4 *J14+a5  *fi。
C13−a 6 e a。
C14−a、  a  a、  +a 2 ・ a 2
 +a、  a  a。
+a4 ・δ4 +a、  ・aう C15−a、    eJl、   +a2   o 
  a 2  +a3   e   a 。
十a4’ δ4 +85・a’ C1B−a・ ・at ■そして、未知数kl−に5に関する連立方程式(8)
を解いて、kl−に5の値を求める(ステップS5)。
■求められたkl−に5の値を式(7)に代入して10
個の縦視差の補正値−py1〜−pylOを求める(ス
テップS6)。
(3)補正量演算処理 0式(4)に基づき、観測値yl −ylOに求めた補
正値−py1〜−pylOを加え、補正された値y1〜
y10の値を求める(ステップS7)。
■この補正された値yl−ylOを使い、式(1)の形
の10個の式のうち任意の5個の式を連立させ、これを
解いて標定要素の補正量Δby、Δb2、Δに、Δφ、
Δωの値を導く (ステップS8)。なお、この場合、
独立な式のランクの数は既に5に下がっているから、ど
の5個の式を使うかは問題ではなく、最小二乗法を使う
必要もない。
(4)標定要素演算処理 前述の概略的相互標定処理により求めた標定要素by、
bz、  に、φ、ωの概略値にそれぞれ補正量Δby
、ΔbZ、Δに、Δφ、Δωの値を加えれば、最終的な
標定要素の値が得られる(ステップS9)。
本実施例の相互標定法では、その誤差が十分に小さくな
り、実験結果によれば、従来方法に比べて約2/3に減
少し、正確な三次元モデルを作成できるようになった。
ところで、多数のパスポイントのうちには、例エバコン
パレータによる測定誤差やフィルムの局部的な伸縮のた
め、−大きい誤差を持つ不良点が含まれることが一般的
である。そこで、例えば10点のパスポイントのうちの
1点に100μの測定誤差があり、残りの9点は誤差が
0であるという単純化した例を考えてみる。最小二乗法
を使って標定要素の近似値を求める従来の方法によれば
、この例では不良点の100μの誤差が全体の10点に
分散されるに過ぎず、いずれが不良点かを具体的に指摘
することができなかった。不良点を特定するには、従来
、採用するバスポイントの組合せを変えながら何度も第
7図のような標定計算を繰り返すことにより、不良点を
推測して、その点を捨てるという操作が必要であった。
この標定計算自体が長い時間を要する上、この不良点の
推測・判定を何度も繰り返す必要があったため、従来の
工程は総じて多大な手間と熟練を要するものであった。
これに対し、上記実施例の方法によれば、上述の(7)
式によって全てのパスポイントについての縦視差補正値
の数値−pynを直接計算することができる。従って、
不良点を簡単に特定することができ、この結果、近似計
算を繰り返するまでなく、不良点を直ちに見付は出して
これに対処することができ、相互標定作業に要する全体
の作業時間を著しく短縮化することができる。
なお、上記実施例では、地図作成用の写真測量を例にし
て述べたが、本発明はこれに限らず、医学のためのレン
トゲン写真測量、顕微鏡写真測量或いは動物や建築物の
写真測量等にも応用できる。
被写体までの撮影距離が短い場合、従来の方法では誤差
が一層大きくなる傾向を示していたが、本発明方法によ
れば誤差が軽減され、特に奥行きが深い被写体の場合に
誤差軽減の著効が得られる。
[発明の効果] 以上述べたように、本発明の相互標定法によれば、射影
中心が一点に収束した射影幾何学的三次元線束空間を厳
密に成立させることになるから、得られた成果の誤差を
極小になし得ると共に、相互標定の作業時間を大幅に短
縮できるという優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の相互標定法の手順を示すフローチャー
ト、第2図は本実施例の相互標定法の手順を示すフロー
チャート、第3図は空中写真測量における写真撮影の状
態を示す図、第4図は実体写真測量の原理を示す図、第
5図は標定要素を説明する図、第6図は交会点が存在し
ない様子を示す図、第7図は従来の相互標定法を示すフ
ローチャート、第8図は従来の相互標定法における投影
中心の変動を示す図である。 代理人  弁理士 佐 藤  強 第1図 AI              A2Al     
           A2第 4 図 第5図 第6図 第7図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、測量対象物を複数枚の写真に撮影し、一対の写真に
    写されている測量対象物中の同一標定点の写真座標を測
    定してこれらに基づき演算して前記両写真の撮影時にお
    ける相互関係を特定するための標定要素を算出する相互
    標定法において、前記実体測量用写真上の一対の対応点
    を通る光束が交会するための条件式及び写真中における
    前記標定点の写真座標に基づき前記標定要素の概略値を
    算出する概略的相互標定処理と、 前記写真中における前記標定点の写真座標及び前記標定
    要素の概略値に基づき、レンズ中心と写真中の前記標定
    点の画像とを結ぶ直線群により構成される光錐を一点に
    収束させる射影幾何学的条件を満足させるための縦視差
    補正値を算出する縦視差解析演算処理と、 求められた縦視差補正値に基づき前記標定要素の補正量
    を演算する補正量演算処理と、 求められた標定要素の補正量及び前記概略的相互標定処
    理により演算された標定要素の概略値に基づき前記標定
    要素を算出する標定要素演算処理とを実行することを特
    徴とする実体写真測量における相互標定法。
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5029057A (ja) * 1973-07-12 1975-03-24
JPS60168270A (ja) * 1984-02-13 1985-08-31 Shinwa:Kk 計算装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5029057A (ja) * 1973-07-12 1975-03-24
JPS60168270A (ja) * 1984-02-13 1985-08-31 Shinwa:Kk 計算装置

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