JPH04176115A - 排気装置及び処理装置 - Google Patents

排気装置及び処理装置

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JPH04176115A
JPH04176115A JP30302990A JP30302990A JPH04176115A JP H04176115 A JPH04176115 A JP H04176115A JP 30302990 A JP30302990 A JP 30302990A JP 30302990 A JP30302990 A JP 30302990A JP H04176115 A JPH04176115 A JP H04176115A
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JP
Japan
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exhaust
flow rate
exhaust flow
air
factory
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JP30302990A
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Kouji Matsutaka
松高 幸二
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Tokyo Electron Ltd
Tokyo Electron Kyushu Ltd
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Tokyo Electron Ltd
Tokyo Electron Kyushu Ltd
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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Coating Apparatus (AREA)
  • Feeding, Discharge, Calcimining, Fusing, And Gas-Generation Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野コ 本発明は半導体製造工程に用いられる排気装置に関する
[従来の技術] 従来から、半導体製造に係るパターン形成工程では、ウ
ェハ上にレジストを塗布し、レジストにパターンを露光
し、現像後エツチングして薄膜にパターンを形成してい
る。このような工程におけるレジスト塗布装置や現像装
置はウェハ上にレジス1−あるいは現像液を滴下し、ウ
ェハを載置したチャックを高速回転させてウェハ全面に
塗布を行うスピンコータ、スピンデベロッパがある。ス
ピンコータあるいはスピンデベロッパは第3図に示すよ
うに、ウェハ1を載置し、モータ2に接続されたチャッ
クを備え、レジストあるいは現像液の供給体に接続され
たノズル4から滴下されるレジストあるいは現像液をウ
ェハ1全面に塗布する際、ウェハ1の周縁から周囲に液
が飛散するのを防止するためカップ5が設けられる。カ
ップ5の下部には飛散したレジスト液あるいは現像液が
カップ5の壁にはね返って再びウェハ1に付着するのを
防止するため、飛散した液を吸収する排気系6に接続さ
れた排気ロア及び洗浄液等の排液処理装置8に接続され
た排水口9が設けられている。
このような排気系6は工場排気に接続されて排気される
ようになっている。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、最近省エネ対策の一貫として工場排気を
節減しており、必要な減圧か得られなかったり、あるい
は各ラインに必要に応じたレキュレータを設けなければ
ならなかった。しかるにコ−夕では5 mm H20%
デヘロノパでは1− Omm1−120の減圧か必要で
あり、必要とする排気量が得られないことがしばしばて
あった。
そのため、ヘンチュリ管、エジェクタあるいはコアンダ
効果を利用した機器等を設置したものもあった。しかし
、ヘンチュリ管は第4図に示すように太いバイブ10に
バイブ10内を流通する気体流の方向に吹出口11を備
えた細いバイブ12(断面積が太いバイブ10の1/3
)を挿入し、細いバイブ12から気体を送風して排気を
行うものであって、瞬時の排気にはよいが長時間の排気
には適応できす、エジェクタは低流量の排気には適用で
きるが、排気量の多いものには適さなかった。またコア
ンダ効果を利用した装置は、第5図に示すように太いバ
イブ13の外周に細いバイブ14の吹出口15を設けた
ものであって、隣接するノズルの気流がぶつかり合って
排気効率の点て十分ではなかった。
本発明は」−記の欠点を解消するためになされたもので
あって、工場排気量が少くても十分な排気量が得られ、
そのため製造効率の向上を図ることができる排気装置を
提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段] 上記の目的を達成するため、発明の排気装置は、排気流
路に設けられた流量計と、前記流量計の検知値により外
部から気体を流入させ所望値に排気流量を設定する排気
流量増幅器とを設けたものである。
[作用] 工場排気に接続される排気装置に、流量計の検知値によ
り流量を調整するためにダンパを開閉する制御装置を設
ける。そしてダンパにより排気量を調整し、排気量増幅
器により僅かな排気量であっても排気量を増量し十分な
排気量を得る。
[実施例] 本発明の排気装置を半導体製造のレジスト塗布装置に適
用した一実施例を図面を参照して説明する。
第1図に示すように、レジスト塗布装置Sは、真空吸着
等によって半導体ウェハ1を載置固定し、モータ2の回
転軸に固定される上面円板状のチャック3を備える。チ
ャック3の」重力には吐出ノズル4が図示しない水平移
動機構に接続されて設けられ、チャック3の上方から半
導体ウェハ1の外側位置に退避できるようになっている
。吐出ノズル4は一定量のレンス)・を供給するための
ベローズポンプやその他フィルタ、バルブを備えたレン
スト供給系16に接続される。チャック3の周囲にはレ
ジスト塗布時に回転する半導体ウェハ1の周縁から余剰
のレジスト液が周囲に飛散しないようにカップ5が設け
られる。カップ5は上下動可能であって、半導体ウェハ
1の搬入小時に図示の位置より下降してチャック3が露
出し、搬入出を容易にする。さらにカップ5の下部には
洗浄液の廃液処理装置8に接続された排水口9及び回転
する半導体ウェハ1の周縁から飛散するレジストがカッ
プにはね返って再び半導体ウェハ1上に付着しないよう
にカップ5の下部に向って気体流を生しるよう工場tl
/l気系17に連結された排気装置18に接続されるU
l−気口7を備える。
排気装置18はマノメータ等の流量計19を備え、工場
排気系17の排気量を電気信号に変換して検知する。排
気流路には開閉度を調整することによって排気流量を調
整するためのダンパ20及び余剰のレジストが半導体ウ
ェハ」二に飛散しない排気量に制御する排気流量増幅器
21が設けられる。排気流量増幅器21は第2図に示す
ように排気管22−1及び排気管22−2間に設けられ
ている。この排気管22−2の外周には外部から流入さ
せる気体であるエアEを吸入する開口即ちエア流入口2
3に接続されたリング状の外周路24が設けられている
。この外周路24に連通された排気管22−1及び22
−2の連結部間隙には吐出口25が形成されている。排
気管22−1の排気下流端及び排気管22−2の排気上
流端にはそれぞれ排気流の下流方向に上り勾配の斜面2
7−1及び27−2を設ける。斜面27−1の方が斜面
27−1より大きな傾斜角を有して空間26を作る。こ
の空間26において、吐出口25から排気管22−2内
に流入される空気は矢印すで示すように、一端吐出口2
5方向に曲げられ減速された後、排気管22−2内に管
壁に沿って流入されるようになっている。このような排
気流量増幅器21のエア流入口23は圧力調整器28及
びソレノイド29に接続された空気弁30が設けられ、
圧力調整されて自動開閉される空気弁30によりエア流
入口23に供給されるエア量の調整を行うようになって
いる。さらにソレノイド29は流量計19の出力を入力
し、ダンパ20の開閉を調整する信号を送出する制御装
置31に接続されて工場排気系17の排気流量と調整さ
れ過不足ない排気量となるようになっている。
以上のような構成のレジスト塗布装置を用いて半導体ウ
ェハにレジストを塗布する方法を説明する。
半導体ウェハ1が図示しない搬送機構によりチャック3
」−に吸着されて支持されると、カップ5は第1図に図
示のように」型外し、レジスト供給系16から所定量の
レジストが吐出ロノスル4を通って半導体ウェハ1」二
に滴下される。そしてモータ2が高速回転例えば300
0回/分し、半導体ウェハ1の全面に亘って塗布される
。そして余剰のレジストは半導体ウェハ1の周縁から飛
散される。この時排気装置18を作動させる。排気装置
18の流量・計19により工場排気系17の排気流量を
測定し、測定値が制御装置31に入力される。
制御装置31は予め人力されている値と比較して、タン
パ20及び排気流量増幅器21のソレノイド29に出力
し、ダンパ20及び空気弁30の開閉を調整して排気流
量増幅器2]、に供給する空気量の調整を行い、排気流
量を増幅させ工場排気系17の不足分が排気流量増幅器
21から供給されるようにする。排気流量増幅器21に
送られる空気はエア流入口23から外周路24、吐出口
25を通って空間26に送出される。この時、工場排気
系17に接続される排気管22−1及び22−2には点
線aに示す空気流があるため、空気弁30からの空気流
すは一端吐出口25の方向に押戻され減速される。減速
された空気流すは空気流aとの空気抵抗が低下され、空
気抵抗によるエネルギ一消費は著しく減量される。その
ため、空気消費伍当りの推力が大きく増幅され、大量の
排気が行える。従って僅かなエネルギーで大量の排気量
が得られる。この排気流量増幅器によれば例えば工場排
気系の20倍までの排気量を得ることができる。この排
気流量は余剰のレジストが半導体ウェハ上に将士がらな
いような排気流量に自動的に制御、設定される。
」―記の説明は本発明の−★施例の説明であって、本発
明はこれに限定されず、現像装置の排気系、クリーンル
ームの排気系等の他の装置に好適に用いることかできる
[発明の効果] 以上の説明からも明らかなように、本発明の排気装置は
、排気系に排気流量増幅器を設けたため、僅かな排気量
の存在で大量の排気量を得ることができる。しかも流量
計からの検知値により外部から供給する空気量を調整で
きるようにしたため、工場排気系の排気量が少なくとも
過不足ない排気量が得られる。製造効率も向」二でき、
歩留りのよい製造を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の排気装置を適用した一実施例の構成図
、第2図は第1図に示ず一実施例の要部を示す図、第3
図、第4図及び第5図は従来例を示す図である。 19・・・・・・流量計 20・・・・・・ダンパ 21・・・・・・排気流量増幅器 31・・・・・・制御装置 E・・・・・・・・エア(気体) 代理人 弁理士  守 谷 −雄

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 排気流路に設けられた流量計と、前記流量計の検知値に
    より外部から気体を流入させ所望値に排気流量を設定す
    る排気流量増幅器とを設けたことを特徴とする排気装置
JP2303029A 1990-11-08 1990-11-08 排気装置 Expired - Fee Related JP2982290B2 (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010013671A1 (ja) * 2008-08-01 2010-02-04 株式会社ニコン 露光方法及び装置、並びにデバイス製造方法
JP2011155081A (ja) * 2010-01-26 2011-08-11 Tokyo Electron Ltd 流量測定装置及び流量測定方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2010013671A1 (ja) * 2008-08-01 2010-02-04 株式会社ニコン 露光方法及び装置、並びにデバイス製造方法
JP2011155081A (ja) * 2010-01-26 2011-08-11 Tokyo Electron Ltd 流量測定装置及び流量測定方法

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