JPH0416999B2 - - Google Patents
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- JPH0416999B2 JPH0416999B2 JP59016443A JP1644384A JPH0416999B2 JP H0416999 B2 JPH0416999 B2 JP H0416999B2 JP 59016443 A JP59016443 A JP 59016443A JP 1644384 A JP1644384 A JP 1644384A JP H0416999 B2 JPH0416999 B2 JP H0416999B2
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- JP
- Japan
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- switch
- input signal
- closing
- voltage
- opening
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Links
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Programme-control systems
- G05B19/02—Programme-control systems electric
- G05B19/04—Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers
- G05B19/05—Programmable logic controllers, e.g. simulating logic interconnections of signals according to ladder diagrams or function charts
- G05B19/054—Input/output
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/10—Plc systems
- G05B2219/11—Plc I-O input output
- G05B2219/1181—Detection of I-O faults, shut down of I-O
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Dc Digital Transmission (AREA)
- Small-Scale Networks (AREA)
- Selective Calling Equipment (AREA)
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
イ 産業上の利用分野
この発明はスイツチの開閉による信号に基づき
負荷の動作を制御する装置に関し、特に前記スイ
ツチを含む入力信号ラインの状態を自己診断し得
るようにした制御装置に関する。
負荷の動作を制御する装置に関し、特に前記スイ
ツチを含む入力信号ラインの状態を自己診断し得
るようにした制御装置に関する。
ロ 従来技術
各種製造装置における制御装置の一例を第１図
から説明すると、１は複数の入力ポートＩ１，Ｉ
２，……と出力ポートＯ１，Ｏ２，……を有する
制御部、２，２，……は各入力ポートＩ１，Ｉ
２，……に負荷制御用入力信号を入力する入力信
号ライン、３，３，……は各出力ポートＯ１，Ｏ
２，……に発生した制御信号でもつて対応する負
荷４，４，……の動作を制御する駆動回路であ
る。１つの入力信号ライン２は例えば全ライン共
通の直流電源５とスイツチSW１、複数のコネク
タ６，６，……フオトカプラ７の直列回路で構成
され、スイツチSW１を閉じるとコネクタ６，
６，……を介しフオトカプラ７の発光ダイオード
７′が発光してフオトトランジスタ７″が導通し、
制御部１の対応する入力ポートＩ１に入力信号が
入力される。
から説明すると、１は複数の入力ポートＩ１，Ｉ
２，……と出力ポートＯ１，Ｏ２，……を有する
制御部、２，２，……は各入力ポートＩ１，Ｉ
２，……に負荷制御用入力信号を入力する入力信
号ライン、３，３，……は各出力ポートＯ１，Ｏ
２，……に発生した制御信号でもつて対応する負
荷４，４，……の動作を制御する駆動回路であ
る。１つの入力信号ライン２は例えば全ライン共
通の直流電源５とスイツチSW１、複数のコネク
タ６，６，……フオトカプラ７の直列回路で構成
され、スイツチSW１を閉じるとコネクタ６，
６，……を介しフオトカプラ７の発光ダイオード
７′が発光してフオトトランジスタ７″が導通し、
制御部１の対応する入力ポートＩ１に入力信号が
入力される。
各入力信号ライン２，２，……のスイツチSW
１，SW２，……は製造装置の可動部に設置され
たリミツトスイツチや危険防止スイツチなどであ
り、各負荷４，４，……は製造装置の可動部の駆
動源であるシリンダの制御用電磁弁やモータなど
である。制御部１は各スイツチSW１，SW２，
……の選択的開閉に基づく入力信号を演算等して
出力ポートＯ１，Ｏ２，……に選択的に制御信号
を出力して駆動回路３，３，……の例えばトラン
ジスタ３′，３′，……を選択的に導通させて対応
する負荷４，４，……を動作させる。
１，SW２，……は製造装置の可動部に設置され
たリミツトスイツチや危険防止スイツチなどであ
り、各負荷４，４，……は製造装置の可動部の駆
動源であるシリンダの制御用電磁弁やモータなど
である。制御部１は各スイツチSW１，SW２，
……の選択的開閉に基づく入力信号を演算等して
出力ポートＯ１，Ｏ２，……に選択的に制御信号
を出力して駆動回路３，３，……の例えばトラン
ジスタ３′，３′，……を選択的に導通させて対応
する負荷４，４，……を動作させる。
ところで、上記制御装置において、入力信号ラ
イン２，２，……にコネクタ６，６，……やフオ
トカプラ７，７，……の不良発生や入力線の断線
などの故障が発生するとスイツチSW１，SW２，
……を選択的に閉じても対応する負荷４，４，…
…が動作せず危険を招くことがある。そこでこの
ような入力信号ライン２，２，……の故障診断を
従来はスイツチSW１，SW２，……を選択的に
閉じて対応する負荷４，４，……が動作するか否
かを確認することで行つていた。ところが、上記
制御装置は制御部１のある制御室から負荷４，
４，……やスイツチSW１，SW２，……が遠く
離れた部所にある大型装置に多用されるため、ス
イツチSW１，SW２，……の開閉の確認と対応
する負荷４，４，……の動作の確認が非常に煩わ
しくて誤診断することがあり、また故障診断の作
業性が悪かつた。
イン２，２，……にコネクタ６，６，……やフオ
トカプラ７，７，……の不良発生や入力線の断線
などの故障が発生するとスイツチSW１，SW２，
……を選択的に閉じても対応する負荷４，４，…
…が動作せず危険を招くことがある。そこでこの
ような入力信号ライン２，２，……の故障診断を
従来はスイツチSW１，SW２，……を選択的に
閉じて対応する負荷４，４，……が動作するか否
かを確認することで行つていた。ところが、上記
制御装置は制御部１のある制御室から負荷４，
４，……やスイツチSW１，SW２，……が遠く
離れた部所にある大型装置に多用されるため、ス
イツチSW１，SW２，……の開閉の確認と対応
する負荷４，４，……の動作の確認が非常に煩わ
しくて誤診断することがあり、また故障診断の作
業性が悪かつた。
ハ 発明の目的
本発明は上記問題点に鑑みてなされたもので、
制御するスイツチが制御部から遠く離れていても
制御部の入力信号ラインの故障を容易に且つ正確
に自己診断し得るように改善された制御装置を提
供することを目的とする。
制御するスイツチが制御部から遠く離れていても
制御部の入力信号ラインの故障を容易に且つ正確
に自己診断し得るように改善された制御装置を提
供することを目的とする。
ニ 発明の構成
本発明はスイツチと前記スイツチの開閉による
信号に基づき負荷の動作を制御する信号を送出す
る制御部とを有するものにおいて、 前記スイツチに並列に他のスイツチング素子を
接続し、前記他のスイツチング素子を開閉する手
段を前記制御部に近接して配置したことを特徴と
する。前記スイツチング素子はツエナーダイオー
ドやトランジスタなどであつて、これを選択的に
導通させて対応するスイツチを見かけ上閉状態に
してこのスイツチを含む入力信号ラインから制御
部への入力信号の有無を調べることにより入力信
号ラインのコネクタぬけなどの故障診断がなされ
る。
信号に基づき負荷の動作を制御する信号を送出す
る制御部とを有するものにおいて、 前記スイツチに並列に他のスイツチング素子を
接続し、前記他のスイツチング素子を開閉する手
段を前記制御部に近接して配置したことを特徴と
する。前記スイツチング素子はツエナーダイオー
ドやトランジスタなどであつて、これを選択的に
導通させて対応するスイツチを見かけ上閉状態に
してこのスイツチを含む入力信号ラインから制御
部への入力信号の有無を調べることにより入力信
号ラインのコネクタぬけなどの故障診断がなされ
る。
ホ 実施例
第１図の制御装置に本発明を適用した一実施例
を第２図から説明すると、第１図と同一内容のも
のは同一参照符合を付して説明は省略する。相違
点は各入力信号ライン２，２，……のスイツチ
SW１，SW２，……に他のスイツチング素子と
して同一ツエナー電圧V2のツエナーダイオード
Ｄ１，Ｄ２，……を１つずつ並列接続すること、
及びこの各ツエナーダイオードＤ１，Ｄ２，……
を選択的に導通させて手段として例えば各スイツ
チSW１，SW２，……と共通の直流電源５の間
に２接点の切換スイツチＡ１，Ａ２，……を接続
し、各切換スイツチＡ１，Ａ２，……のテストモ
ード側接点ｎ，ｎ，……と別個に設けたテスト用
直流電源８との間に多接点切換スイツチＢを接続
することである。尚、ツエナーダイオードＤ１，
Ｄ２，……のツエナー電圧Vzは通常運転時の直
流電圧５の電圧Ｖ１より高く設定され、またテス
ト用直流電源８の電圧Ｖ２はツエナー電圧Vz以
上に設定される。また特にテスト用直流電源８と
多接点切換スイツチＢは制御部１の近辺に配備さ
れる。
を第２図から説明すると、第１図と同一内容のも
のは同一参照符合を付して説明は省略する。相違
点は各入力信号ライン２，２，……のスイツチ
SW１，SW２，……に他のスイツチング素子と
して同一ツエナー電圧V2のツエナーダイオード
Ｄ１，Ｄ２，……を１つずつ並列接続すること、
及びこの各ツエナーダイオードＤ１，Ｄ２，……
を選択的に導通させて手段として例えば各スイツ
チSW１，SW２，……と共通の直流電源５の間
に２接点の切換スイツチＡ１，Ａ２，……を接続
し、各切換スイツチＡ１，Ａ２，……のテストモ
ード側接点ｎ，ｎ，……と別個に設けたテスト用
直流電源８との間に多接点切換スイツチＢを接続
することである。尚、ツエナーダイオードＤ１，
Ｄ２，……のツエナー電圧Vzは通常運転時の直
流電圧５の電圧Ｖ１より高く設定され、またテス
ト用直流電源８の電圧Ｖ２はツエナー電圧Vz以
上に設定される。また特にテスト用直流電源８と
多接点切換スイツチＢは制御部１の近辺に配備さ
れる。
第２図回路は通常運転時は各切換スイツチＡ
１，Ａ２，……がノーマルモード側接点ｍ，ｍ，
……に入つて通常の運転が実施される。入力信号
ライン２，２，……の故障診断時には各切換スイ
ツチＡ１，Ａ２，……が第２図実線の如くテスト
モード側接点ｎ，ｎ，……に切換えられてから多
接点切換スイツチＢが順次に切換えられて直流電
圧Ｖ２が各ツエナーダイオードＤ１，Ｄ２，……
に選択的に順次印加され、ツエナーダイオードＤ
１，Ｄ２，……が順次に選択的に導通する。この
導通で対応するスイツチSW１，Ｗ２，……が見
かけ上閉じた状態となり、この時の入力ポートＩ
１，Ｉ２，……への入力信号の有無を検知するこ
とにより、入力信号ライン２，２，……の故障の
有無が検知される。この入力信号の有無検知は対
応する負荷４，４，……の動作の確認や、入力ポ
ートＩ１，Ｉ２，……に入力信号が入ると発光す
る発光ダイオード（図示せず）を付設してその発
光を調べることなどの手段で行われ、いずれの手
段にせよ故障診断は制御部１に近接して設けた他
のスイツチの開閉手段である多接点切換スイツチ
Ｂの操作だけで行える。
１，Ａ２，……がノーマルモード側接点ｍ，ｍ，
……に入つて通常の運転が実施される。入力信号
ライン２，２，……の故障診断時には各切換スイ
ツチＡ１，Ａ２，……が第２図実線の如くテスト
モード側接点ｎ，ｎ，……に切換えられてから多
接点切換スイツチＢが順次に切換えられて直流電
圧Ｖ２が各ツエナーダイオードＤ１，Ｄ２，……
に選択的に順次印加され、ツエナーダイオードＤ
１，Ｄ２，……が順次に選択的に導通する。この
導通で対応するスイツチSW１，Ｗ２，……が見
かけ上閉じた状態となり、この時の入力ポートＩ
１，Ｉ２，……への入力信号の有無を検知するこ
とにより、入力信号ライン２，２，……の故障の
有無が検知される。この入力信号の有無検知は対
応する負荷４，４，……の動作の確認や、入力ポ
ートＩ１，Ｉ２，……に入力信号が入ると発光す
る発光ダイオード（図示せず）を付設してその発
光を調べることなどの手段で行われ、いずれの手
段にせよ故障診断は制御部１に近接して設けた他
のスイツチの開閉手段である多接点切換スイツチ
Ｂの操作だけで行える。
上記装置は多接点切換スイツチＢでツエナーダ
イオードＤ１，Ｄ２，……を１つずつ順次に導通
させるようにしたが、必要に応じツエナーダイオ
ードＤ１，Ｄ２，……が同時に複数個選択的に導
通するように多接点切換スイツチＢを変更させる
ことも可能である。
イオードＤ１，Ｄ２，……を１つずつ順次に導通
させるようにしたが、必要に応じツエナーダイオ
ードＤ１，Ｄ２，……が同時に複数個選択的に導
通するように多接点切換スイツチＢを変更させる
ことも可能である。
次に本発明の他の実施例を第３図と第４図から
説明する。
説明する。
第３図実施例の特徴は各スイツチSW１，SW
２，……に並列接続するツエナーダイオードＤ
１′，Ｄ２′，……のツエナー電圧Vz１，Vz２，
……を相違（例えばVz１，Vz２＜……、但しVz
１＞Ｖ１）させて、切換スイツチＡ１，Ａ２，…
…のテストモード側接点ｎ，ｎ，……に可変直流
電源９を接続することである。可変直流電源９は
制御部１の近辺に設置される。そして、第３図回
路における故障診断は各切換スイツチＡ１，Ａ
２，……をテストモード側接点ｎ，ｎ，……に切
換えて可変直流電源９の直流電圧VxをVz１から
Vz２，Vz３，……へと順次に大きくして各ツエ
ナーダイオードＤ１′，Ｄ２′，……を順次に導通
させることにより行われる。
２，……に並列接続するツエナーダイオードＤ
１′，Ｄ２′，……のツエナー電圧Vz１，Vz２，
……を相違（例えばVz１，Vz２＜……、但しVz
１＞Ｖ１）させて、切換スイツチＡ１，Ａ２，…
…のテストモード側接点ｎ，ｎ，……に可変直流
電源９を接続することである。可変直流電源９は
制御部１の近辺に設置される。そして、第３図回
路における故障診断は各切換スイツチＡ１，Ａ
２，……をテストモード側接点ｎ，ｎ，……に切
換えて可変直流電源９の直流電圧VxをVz１から
Vz２，Vz３，……へと順次に大きくして各ツエ
ナーダイオードＤ１′，Ｄ２′，……を順次に導通
させることにより行われる。
第４図実施例の特徴は各スイツチSW１，SW
２，……に並列接続する他のスイツチング素子に
トランジスタTr１，Tr２，……を使用し、これ
の選択的導通を制御部１の近辺に配備したトラン
ジスタドライブ回路１０で行うことである。即
ち、通常運転時は各トランジスタTr１，Tr２，
……は不導通状態にあり、故障診断時にトランジ
スタドライブ回路１０からの各トランジスタTr
１，Tr２，……のベースへの選択的電圧印加に
て各トランジスタTr１，Tr２，……が選択的に
導通して対応するスイツチSW１，SW２，……
が見かけ上閉状態となり、所望の故障診断が行わ
れる。
２，……に並列接続する他のスイツチング素子に
トランジスタTr１，Tr２，……を使用し、これ
の選択的導通を制御部１の近辺に配備したトラン
ジスタドライブ回路１０で行うことである。即
ち、通常運転時は各トランジスタTr１，Tr２，
……は不導通状態にあり、故障診断時にトランジ
スタドライブ回路１０からの各トランジスタTr
１，Tr２，……のベースへの選択的電圧印加に
て各トランジスタTr１，Tr２，……が選択的に
導通して対応するスイツチSW１，SW２，……
が見かけ上閉状態となり、所望の故障診断が行わ
れる。
ヘ 発明の効果
以上説明したように、本発明によれば制御装置
における入力信号ラインの故障診断が負荷制御用
スイツチが遠く離れていても容易に、且つ正確に
行え、高信頼度の制御装置が提供できる。
における入力信号ラインの故障診断が負荷制御用
スイツチが遠く離れていても容易に、且つ正確に
行え、高信頼度の制御装置が提供できる。
第１図は従来の制御装置例を示す回路図、第２
図乃至第４図は本発明の三実施例を示す各回路図
である。 SW１，SW２，……スイツチ、Ｄ１，Ｄ２，
Ｄ１′，Ｄ２′，Tr１，Tr２……他のスイツチン
グ素子、１……制御部、Ｂ，９，１０……他のス
イツチング素子を開閉する手段。
図乃至第４図は本発明の三実施例を示す各回路図
である。 SW１，SW２，……スイツチ、Ｄ１，Ｄ２，
Ｄ１′，Ｄ２′，Tr１，Tr２……他のスイツチン
グ素子、１……制御部、Ｂ，９，１０……他のス
イツチング素子を開閉する手段。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ スイツチと前記スイツチの開閉による信号に
基づき負荷の動作を制御する信号を送出する制御
部とを有するものにおいて、 前記スイツチに並列に他のスイツチング素子を
接続し、前記他のスイツチング素子を開閉する手
段を前記制御部近接して配置したことを特徴とす
る制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59016443A JPS60160743A (ja) | 1984-01-31 | 1984-01-31 | 制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59016443A JPS60160743A (ja) | 1984-01-31 | 1984-01-31 | 制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60160743A JPS60160743A (ja) | 1985-08-22 |
| JPH0416999B2 true JPH0416999B2 (ja) | 1992-03-25 |
Family
ID=11916377
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59016443A Granted JPS60160743A (ja) | 1984-01-31 | 1984-01-31 | 制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60160743A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02216939A (ja) * | 1989-02-17 | 1990-08-29 | Nec Corp | 監視入力回路 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54144573A (en) * | 1978-05-02 | 1979-11-10 | Matsushita Electric Works Ltd | Signal generator |
-
1984
- 1984-01-31 JP JP59016443A patent/JPS60160743A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54144573A (en) * | 1978-05-02 | 1979-11-10 | Matsushita Electric Works Ltd | Signal generator |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60160743A (ja) | 1985-08-22 |
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