JPH04155202A - Eddy current type noncontact displacement gage - Google Patents

Eddy current type noncontact displacement gage

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JPH04155202A
JPH04155202A JP28279990A JP28279990A JPH04155202A JP H04155202 A JPH04155202 A JP H04155202A JP 28279990 A JP28279990 A JP 28279990A JP 28279990 A JP28279990 A JP 28279990A JP H04155202 A JPH04155202 A JP H04155202A
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voltage
frequency component
current
circuit
output
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Tsukasa Fujita
司 藤田
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Abstract

PURPOSE:To eliminate an error in an measured displacement amount owing to temperature change by applying AC current or voltage having two or more frequency components to an L element, separating it per frequency component and extracting and calculating an imaginary number part and a real number part. CONSTITUTION:Oscillators 24, 20 respectively output at frequencies (f), (nf), while they obtain outputs via voltage/current converters 22, 26 from a current synthetic circuit 28, which are to be applied to a detecting head 30. The head 30 has a coil 8 with inductance L1 and a resistance value R1 and separates voltage across the coil 8 respectively into frequency components (f), (nf) via a buffer amplifier 32 and further by synchronous wave detectors 34, 36. For example, pulses based on the output of the oscillator 24 are shifted by 90 deg. by a phase shifter 40 to extract only an imaginary number part, while simultaneously pulses based on the output of the oscillator 20 are shifted by 90 deg. by a phase shifter 38 to extract only an imaginary number part. Then an output of the synchronous wave detecting circuit is inputted to a subtraction circuit 44 as predetermined and applied to a linearizer, whereby voltage in proportion to a distance between an object and the head 30 can be obtained. Since a calculation base does not depend on a L1 value or R1 value of the head, no error occurs due to change in their temperatures.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は渦電流を利用した非接触変位計に1するもの
であり、特にその温度変化による測定1差を排除した渦
電流式非接触変位計に関するも(である。
[Detailed Description of the Invention] [Field of Industrial Application] This invention is an improvement to a non-contact displacement meter that uses eddy current, and in particular, an eddy current non-contact displacement meter that eliminates measurement differences due to temperature changes. It's also about the meter.

[従来の技術] 測定対象物との距離(変位)を測定するため1渦電流式
非接触変位計が用いられており、例え1第5図に示すよ
うなものが存在する。2はLC4振器であり、このLC
発振器2の発振出力は、]波回路4において検波された
後、積分器等のり。
[Prior Art] An eddy current type non-contact displacement meter is used to measure the distance (displacement) to an object to be measured, and there is one such as the one shown in FIG. 5, for example. 2 is an LC4 shaker, and this LC
The oscillation output of the oscillator 2 is detected in the wave circuit 4 and then passed through an integrator or the like.

アライブ6に与えられて平坦化される。Alive 6 is supplied with the signal to be flattened.

LC発振器2のコイル8を検査対象物10に近−けると
、検査対象物10に渦電流が生じ、発振器:の出力振幅
が減少する。この減少の度合いは、手出コイル8と検査
対象物10との距離に依存する。
When the coil 8 of the LC oscillator 2 is brought close to the object to be inspected 10, an eddy current is generated in the object to be inspected 10, and the output amplitude of the oscillator decreases. The degree of this reduction depends on the distance between the hand coil 8 and the test object 10.

したがって、発振出力を検波して、リニアライニした出
力に基づいて、検出コイル8と検査対象中10との距離
(変位)を知ることができる。
Therefore, the distance (displacement) between the detection coil 8 and the object to be inspected 10 can be determined based on the linearly aligned output by detecting the oscillation output.

[発明が解決しようとする課題] しかしながら、従来の渦電流式変位計には、と■  の
ような問題点があった。
[Problems to be Solved by the Invention] However, conventional eddy current displacement meters have the following problems.

誤   検出コイル8のインダクタンスおよび直流抵抗
っ  は、周囲の温度によって変化するため、これに伴
って発振振幅、発振周波数か変化し、測定される変位量
に誤差を生じるという問題を内包している。
Since the inductance and direct current resistance of the false detection coil 8 change depending on the ambient temperature, the oscillation amplitude and oscillation frequency change accordingly, causing an error in the measured displacement amount.

こ、   この発明は、上記のような問題点を解決して
、よ  温度変化によって測定変位量に誤差を生じるこ
と飴  のない渦電流式非接触変位計を提供することを
目金  的とする。
The purpose of this invention is to solve the above-mentioned problems and provide an eddy current type non-contact displacement meter that does not cause errors in measured displacement due to temperature changes.

=   [課題を解決するための手段]本発明は上記目
的を達成するために、 ゴ   少なくとも2以上の周波数成分を有する交流型
2  流または交流電圧を生成する複合発振回路と、尖
   測定対象物と磁気的に結合され、インダクタンス
値L1および抵抗値R1を有し、前記複合発振回路〈 
 からの交流電力が印加されるインダクタンス素子グ 
  と、 該インダクタンス素子に流れる電流またはインダクタン
ス素子の両端の電圧を各周波数成分こと(に分離すると
ともに、分離した各周波数成分の虚数外または実数分を
抽出する分離抽出回路と、各周波数成分に分離した電圧
または電流の虚た分または実数分に基づいて、インダク
タンス値りおよび抵抗値R2に依存しない電圧または電
流値苓演算し、測定対象物の変位を算出する演算回路と
を備えたことを特徴とする渦電流式非接触変位計を構成
するものである。
= [Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, the present invention provides a composite oscillation circuit that generates an AC current or an AC voltage having at least two or more frequency components, and an object to be measured. The composite oscillation circuit is magnetically coupled and has an inductance value L1 and a resistance value R1.
An inductance element to which AC power is applied from
and a separation/extraction circuit that separates the current flowing through the inductance element or the voltage across the inductance element into each frequency component, and extracts the non-imaginary or real part of each separated frequency component; and a calculation circuit that calculates the displacement of the object to be measured by calculating the voltage or current value independent of the inductance value and the resistance value R2 based on the imaginary part or the real part of the voltage or current. This constitutes an eddy current type non-contact displacement meter.

ここで、複合発振回路の出力する交流電流まtコは交流
電圧が、第1の周波数成分と、第1の周滋数成分のn倍
の周波数である第2の周波数成分とを有するものとする
ことかできる。
Here, it is assumed that the AC voltage output by the composite oscillation circuit has a first frequency component and a second frequency component that is n times the frequency of the first frequency component. I can do something.

また、前記演算回路が、インダクタンス素子C両端の電
圧またはインダクタンス素子に流れる1流の内の第1の
周波数成分に係るものをn倍したものから、第2の周波
数成分に係るものを減算したものの虚数外に基ついて変
位を算出するように構成できる。
The arithmetic circuit subtracts the second frequency component from the voltage across the inductance element C or the first frequency component of one current flowing through the inductance element multiplied by n. It can be configured to calculate displacement based on outside imaginary numbers.

また、演算回路が、インダクタンス素子の両端の電圧ま
たはインダクタンス素子に流れる電流の内の第1の周波
数成分に係るものから、第2の周波数成分に係るものを
減算したものの実数分に基k  づいて変位を算出する
構成とすることもできる。
In addition, the arithmetic circuit calculates k based on the real number obtained by subtracting the second frequency component from the first frequency component of the voltage across the inductance element or the current flowing through the inductance element. It is also possible to adopt a configuration in which displacement is calculated.

[作用] この発明に係る渦電流式非接触変位計は、少な5、  
くとも2以上の周波数成分を有する交流電流またL  
は交流電圧をインダクタンス素子に印加し、インダクタ
ンス素子に流れる電流またはインダクタン゛  ス素子
の両端の電圧を各周波数成分ごとに分離するとともに、
分離した各周波数成分の虚数外または実数分を抽出し、
これに基ついて、インダクタンス値L1および抵抗値R
3に依存しない電圧または)  電流値を演算して、測
定り、j象物の変位を算出するに  ようにしている。
[Function] The eddy current type non-contact displacement meter according to the present invention has the following features:
Alternating current or L having at least two or more frequency components
applies an alternating voltage to the inductance element, separates the current flowing through the inductance element or the voltage across the inductance element for each frequency component, and
Extract the imaginary or real part of each separated frequency component,
Based on this, inductance value L1 and resistance value R
The voltage or current value that does not depend on 3 is calculated and measured, and the displacement of the object is calculated.

すなわち、測定対象物の変位の゛  演算の基礎が、イ
ンダクタンス値し、および抵抗値R1に依存していない
ので、インダクタンス値し、および抵抗値R1の温度変
化によって測定変位か影響を受けない。
That is, since the basis for calculating the displacement of the object to be measured is the inductance value and does not depend on the resistance value R1, the measured displacement is not affected by temperature changes in the inductance value and the resistance value R1.

[実施例コ )   第1図に、この発明の一実施例による渦電流式
1  非接触変位計のブロック図を示す。この実施例に
おいては、発振器20、電圧・電流変換器22、発振器
24、電圧・電流変換器26、電流合成回路28によっ
て複合発振回路が構成されている。発振器24は周波数
fの発振出力を出すものであり、発振器20は周波数n
fの発振出力を出すものである。なお、ここで、n≠1
である。これらの発振出力は、電圧・電流変換器22.
26において、電流に変換された後、電流合成回路28
に与えられる。したがって、電流合成回路28からは、
周波数fの成分と周波数nfの成分を有する交流電流が
出力される。この交流電流は、検出ヘッド30に与えら
れる。検出ヘッド30は、インダクタンス値し1、抵抗
値R1を有するコイル8を備えている。
[Embodiment 1] FIG. 1 shows a block diagram of an eddy current type 1 non-contact displacement meter according to an embodiment of the present invention. In this embodiment, an oscillator 20, a voltage/current converter 22, an oscillator 24, a voltage/current converter 26, and a current combining circuit 28 constitute a composite oscillation circuit. The oscillator 24 outputs an oscillation output with a frequency f, and the oscillator 20 outputs an oscillation output with a frequency n.
It outputs an oscillation output of f. Note that here, n≠1
It is. These oscillation outputs are sent to the voltage/current converter 22.
At 26, after being converted to a current, the current combining circuit 28
given to. Therefore, from the current combining circuit 28,
An alternating current having a frequency f component and a frequency nf component is output. This alternating current is applied to the detection head 30. The detection head 30 includes a coil 8 having an inductance value of 1 and a resistance value of R1.

検出ヘッド30のコイル8の両端の電圧が、バッファア
ンプ32を介して取り出される。このようにして取り出
されるコイル8両端の電圧■(ω+nω)は、次のよう
に表わされる。
The voltage across the coil 8 of the detection head 30 is taken out via the buffer amplifier 32. The voltage (ω+nω) across the coil 8 extracted in this way is expressed as follows.

まず、周波数fの成分によってもたらされる電圧V(ω
)は、下式のとおりである。
First, the voltage V(ω
) is as shown below.

ただし、 ω=2πf L、:コイル8の自己インタ′クタンスR1:コイル8
の直流抵抗 L!:測定対象物10の自己インダクタンスR7:測定
対象物10の直流抵抗 M:コイル8と測定対象物lOとの相互インダクタンス である。
However, ω=2πf L,: Self-interactance of coil 8 R1: Coil 8
DC resistance L! : Self-inductance of the measurement object 10 R7: DC resistance of the measurement object 10 M: Mutual inductance between the coil 8 and the measurement object IO.

同様に、周波数nfの成分によってもたらされる電圧V
(nω)は、下式のとおりとなる。
Similarly, the voltage V caused by the component of frequency nf
(nω) is as shown in the following formula.

n”ω″M″       n″CLJ ’M’V (
nω) = i(R+ ’ R”i占用Rt)+ jn
(oi(L+ −iiiiim−L已、)・・・・・・
(2) すなわち、コイル8の両端には、電圧■(ω)と電圧V
(nω)の合成電圧か表われる。この合成電圧は、(1
)(2)式から明らかなように、LIR2,Mの関数と
なっている。これらり、、R,、Mは、検出ヘッド30
と検出対象物IOとの距離によって変化するものである
。したかって、検出ヘッド30と検出対象物10との距
離によって、合成電圧か変化する。
n"ω"M"n"CLJ'M'V (
nω) = i(R+ ' R”i occupied Rt) + jn
(oi(L+ -iiiim-L已,)...
(2) In other words, the voltage ■(ω) and the voltage V
The combined voltage of (nω) appears. This combined voltage is (1
) As is clear from equation (2), it is a function of LIR2,M. These, , R, , M are the detection head 30
It changes depending on the distance between the object IO and the detection target IO. Therefore, the combined voltage changes depending on the distance between the detection head 30 and the detection target 10.

以下、この合成電圧に基ついて、距離を算出する演算課
程を示す。
The calculation process for calculating the distance based on this composite voltage will be shown below.

(1)式の両辺をn倍して(2)式を引算すると、””
’   R1)−;(R+橿 −1゜二1す;  Rt
)nV+llJ+  V+nω1=ni(Ru Ni’
i;”UIB、、ncI、 1゜(IJ’M’n’c+
〕’M’ −jnω1(Hr、石vB4L+   1iiii’;
+’L冨 ”となる。
Multiplying both sides of equation (1) by n and subtracting equation (2), we get “”
'R1)-;(R+昿-1゜21s;
) nV+llJ+ V+nω1=ni(Ru Ni'
i;"UIB,, ncI, 1゜(IJ'M'n'c+
]'M' −jnω1(Hr, stone vB4L+ 1iii';
It becomes +'L-tomi''.

(3)式の虚数部を整理すると、 ・・・(4) となる。If we rearrange the imaginary part of equation (3), we get ...(4) becomes.

この(4)式には、R,、L、か含まれていない。した
がって、R,、L、の温度変化かあっても、測定誤差を
生じない。
This equation (4) does not include R, or L. Therefore, even if there is a temperature change in R,,L, no measurement error occurs.

上記のような演算を回路によって実現しく4)式の出力
を得るためには、まず、バッファアンプ32の出力を、
■(ω)とV(nω)に分離する必要がある。
In order to realize the above calculation using a circuit and obtain the output of equation 4), first, the output of the buffer amplifier 32 is
■It is necessary to separate into (ω) and V(nω).

これを行うのが、同期検波回路34.36である。同期
検波回路34は周波数f成分を分離して出力するもので
あり、同期検波回路36は周波数nf酸成分分離して出
力するものである。
The synchronous detection circuits 34 and 36 perform this. The synchronous detection circuit 34 separates and outputs the frequency f component, and the synchronous detection circuit 36 separates and outputs the frequency nf acid component.

第2図に、同期検波回路の一例を示す。バッファアンプ
32の出力電圧を、端子52に印加する。スイッチ54
を周波数fのパルスによってオンオフさせることにより
、オペアンプ50の出力端子56から周波数f成分の電
圧か分離される。この実施例においては、発振器24の
出力に基づいて周波数fのパルスを得て、移相器40に
よって移相した後、スイッチ54に与えている。移相器
40によって90’移相することにより、虚数部のみを
抽出している。
FIG. 2 shows an example of a synchronous detection circuit. The output voltage of the buffer amplifier 32 is applied to the terminal 52. switch 54
By turning on and off with a pulse of frequency f, the voltage of the frequency f component is separated from the output terminal 56 of the operational amplifier 50. In this embodiment, a pulse of frequency f is obtained based on the output of the oscillator 24, and after being phase-shifted by the phase shifter 40, it is applied to the switch 54. By shifting the phase by 90' using the phase shifter 40, only the imaginary part is extracted.

なお、この実施例において用いた移相器を第3図に示す
Note that the phase shifter used in this example is shown in FIG.

同様にして、発振器20の出力に基づいて周波数nfの
パルスを得て同期検波回路36に与え、周数nf酸成分
電圧を分離している。ここでも、相器38によって90
°の移相を行い、虚数部のみ抽出している。
Similarly, a pulse of frequency nf is obtained based on the output of the oscillator 20 and is applied to the synchronous detection circuit 36 to separate the frequency nf acid component voltage. Again, 90
A phase shift of ° is performed to extract only the imaginary part.

次に、同期検波回路34の出力はn倍増幅器42介して
引算回路44に与えられる。引算回路44のう一方の入
力には、同期検波回路36の出力かそまま与えられる。
Next, the output of the synchronous detection circuit 34 is given to a subtraction circuit 44 via an n-fold amplifier 42. The output of the synchronous detection circuit 36 is directly applied to the other input of the subtraction circuit 44.

したがって、引算回路44の出からは、(4)式に示す
電圧値が得られる。
Therefore, the voltage value shown in equation (4) is obtained from the output of the subtraction circuit 44.

この出力を、リニアライザに与えれば、検出象物10と
検出ヘッド30との距離に比例した電圧1得られる。
If this output is applied to the linearizer, a voltage 1 proportional to the distance between the detection object 10 and the detection head 30 can be obtained.

なお、上記実施例においては、虚数部を抽出で演算を行
ったが、実数部を抽出してもよい。′なわち、(1)式
から(2)式を減算し、実数部を抽1して、下式を得る
In the above embodiment, the calculation is performed by extracting the imaginary part, but the real part may also be extracted. 'That is, by subtracting equation (2) from equation (1) and drawing the real part, the following equation is obtained.

Re(V tω+ −V tnω、)”” ”t ・ω
’M’ (g同ヨnカカLJ)・・・・(5 (5)式の結果を得るための回路を、第4図に示渡  
す。第1図の回路と異なる点は、移相器38.40と移
  n倍増幅器42が設けられていないことである。第
を  4図の回路においても、引算回路44の出力に基
づいて、検出ヘット30と検出対象物10との距離を得
を   ることかできる。
Re(V tω+ −V tnω,)”” t・ω
'M' (g same yon kaka LJ)...(5) The circuit to obtain the result of equation (5) is shown in Figure 4.
vinegar. The difference from the circuit of FIG. 1 is that phase shifters 38, 40 and n-fold amplifier 42 are not provided. In the circuit shown in FIG. 4 as well, the distance between the detection head 30 and the detection object 10 can be obtained based on the output of the subtraction circuit 44.

ち   また、上記実施例においては、検出ヘッド30
の   (コイル8)に対し電流を印加したが、電圧を
印力  加するようにしてもよい。
Furthermore, in the above embodiment, the detection head 30
Although a current was applied to (coil 8), a voltage may also be applied.

さらに、上記実施例においては、検出ヘッド30吋  
 (コイル8)の両端の電圧を取り出したが、これう曳
  に流れる電流を取り出してもよい。
Furthermore, in the above embodiment, the detection head is 30 inches.
Although we have taken the voltage across the coil 8, you can also take the current flowing through it.

なお、それぞれ異なる周波数を有する3以上のし  発
振器を用意し、任意の2つの周波数によって演「  算
した距離を平均してもよい。すなわち、周波数B  を
変更して、任意の2つの周波数による測定を行い、その
測定結果を平均して、距離を算出するようにしてもよい
Note that it is also possible to prepare three or more oscillators, each with a different frequency, and average the distance calculated using any two frequencies.In other words, by changing frequency B, measurements using two arbitrary frequencies can be performed. The distance may be calculated by averaging the measurement results.

[発明の効果] )    この発明に係る渦電流式非接触変位計は、少
なくとも2以上の周波数成分を有する交流電流または交
流電圧をインダクタンス素子に印加し、インダクタシス
素子に流れる電流またはインダクタシス素子の両端の電
圧を各周波数成分ごとに分離するとともに、分離した各
周波数成分の虚数部まt、は実数分を抽出し、これに基
づいて、インダクタンス値し、および抵抗値R2に依存
しない電圧またに電流値を演算して、測定対象物の変位
を算出すZようにしている。したがって、測定対象物の
変化の演算の基礎が、インダクタンス値し、および抵V
値R7に依存していないので、インダクタンス値しおよ
び抵抗値R7の温度変化によって測定変位が既響を受け
ない。すなわち、温度変化により測定ご差を生しること
のない渦電流式非接触変位計を径ることかできる。
[Effects of the Invention]) The eddy current type non-contact displacement meter according to the present invention applies an alternating current or an alternating voltage having at least two or more frequency components to an inductance element, and applies an alternating current or an alternating voltage having at least two or more frequency components to an inductance element, The voltage at both ends is separated for each frequency component, and the imaginary part or t of each separated frequency component is extracted as a real part, and based on this, the inductance value is calculated, and the voltage or t that does not depend on the resistance value R2 is calculated. The displacement of the object to be measured is calculated by calculating the current value. Therefore, the basis for calculating changes in the object to be measured is the inductance value and the resistance value.
Since it is not dependent on the value R7, the measured displacement is not affected by temperature changes in the inductance value and the resistance value R7. That is, it is possible to create an eddy current non-contact displacement meter that does not cause measurement differences due to temperature changes.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はこの発明の一実施例による渦電流式11接触変
位計のブロック図、 第2図は同期検波回路の詳細を示す図、第3図は90°
移相回路の詳細を示す図、第4図は他の実施例による渦
電流式1接触変a計のブロック図、 第5図は従来の渦電流式非接触変位計のブロック図であ
る。 20.24・・・発振器 i       30・・・検出ヘット34 、36・
・・同期検波回路 l       44・・・引算回路 し 第2 図 R 第 3 図
Fig. 1 is a block diagram of an eddy current type 11 contact displacement meter according to an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a diagram showing details of a synchronous detection circuit, and Fig. 3 is a 90°
FIG. 4 is a block diagram of an eddy current type one-contact variable displacement meter according to another embodiment, and FIG. 5 is a block diagram of a conventional eddy current type non-contact displacement meter. 20.24... Oscillator i 30... Detection heads 34, 36.
...Synchronous detection circuit l 44...Subtraction circuit Fig. 2 R Fig. 3

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)少なくとも2以上の周波数成分を有する交流電流
または交流電圧を生成する複合発振回路と、測定対象物
と磁気的に結合され、インダクタンス値L_1および抵
抗値R_1を有し、前記複合発振回路からの交流電力が
印加されるインダクタンス素子と、 該インダクタンス素子に流れる電流またはインダクタン
ス素子の両端の電圧を各周波数成分ごとに分離するとと
もに、分離した各周波数成分の虚数分または実数分を抽
出する分離抽出回路と、各周波数成分に分離した電圧ま
たは電流の虚数分または実数分に基づいて、インダクタ
ンス値L_1および抵抗値R_1に依存しない電圧また
は電流値を演算し、測定対象物の変位を算出する演算回
路と、を備えたことを特徴とする渦電流式非接触変位計
(1) A composite oscillation circuit that generates an alternating current or an alternating voltage having at least two or more frequency components; and a composite oscillation circuit that is magnetically coupled to an object to be measured and has an inductance value L_1 and a resistance value R_1; An inductance element to which AC power of A calculation circuit that calculates the displacement of the object to be measured by calculating a voltage or current value independent of the inductance value L_1 and resistance value R_1 based on the circuit and the imaginary part or real part of the voltage or current separated into each frequency component. An eddy current type non-contact displacement meter characterized by being equipped with.
(2)複合発振回路の出力する交流電流または交流電圧
が、第1の周波数成分と、第1の周波数成分のn倍の周
波数である第2の周波数成分を有し、演算回路が、イン
ダクタンス素子の両端の電圧またはインダクタンス素子
に流れる電流の内の第1の周波数成分に係るものをn倍
したものから、第2の周波数成分に係るものを減算した
ものの虚数分に基づいて変位を算出する請求項1記載の
渦電流式非接触変位計。
(2) The AC current or AC voltage output by the composite oscillation circuit has a first frequency component and a second frequency component whose frequency is n times the first frequency component, and the arithmetic circuit uses an inductance element. A claim for calculating the displacement based on the imaginary part of the result obtained by subtracting the second frequency component from the first frequency component of the voltage across or the current flowing through the inductance element multiplied by n. The eddy current type non-contact displacement meter according to item 1.
(3)複合発振回路の出力する交流電流または交流電圧
が、第1の周波数成分と、第1の周波数成分のn倍の周
波数である第2の周波数成分を有し、演算回路が、イン
ダクタンス素子の両端の電圧またはインダクタンス素子
に流れる電流の内の第1の周波数成分に係るものから、
第2の周波数成分に係るものを減算したものの実数分に
基づいて変位を算出する請求項1記載の渦電流式非接触
変位計。
(3) The AC current or AC voltage output by the composite oscillation circuit has a first frequency component and a second frequency component whose frequency is n times the first frequency component, and the arithmetic circuit uses an inductance element. From the voltage across or the first frequency component of the current flowing through the inductance element,
2. The eddy current type non-contact displacement meter according to claim 1, wherein the displacement is calculated based on the real number after subtracting the second frequency component.
JP28279990A 1990-10-18 1990-10-18 Eddy current type noncontact displacement gage Pending JPH04155202A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2017111073A (en) * 2015-12-18 2017-06-22 株式会社ディスコ Static electricity detection device
CN108489370A (en) * 2018-02-28 2018-09-04 天津职业技术师范大学 A kind of current vortex range-measurement system and method suitable for aluminium

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017111073A (en) * 2015-12-18 2017-06-22 株式会社ディスコ Static electricity detection device
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