JPH0414391B2 - - Google Patents

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JPH0414391B2
JPH0414391B2 JP59250315A JP25031584A JPH0414391B2 JP H0414391 B2 JPH0414391 B2 JP H0414391B2 JP 59250315 A JP59250315 A JP 59250315A JP 25031584 A JP25031584 A JP 25031584A JP H0414391 B2 JPH0414391 B2 JP H0414391B2
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circuit
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JP59250315A
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Shigeru Kuroe
Kengo Nakajima
Isamu Nose
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Oki Electric Industry Co Ltd
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Oki Electric Industry Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は画像処理装置に関し、更に詳細には、
濃淡画像を対象物体の切出しのために領域分割す
ることができかつ高速な画像処理を行なうことの
できる画像処理装置に関する。
(従来の技術) 従来の画像処理装置を第14図に示す。1−1
は濃度値を1画素4ビツトで量子化する画像入力
装置、1−2は入力画像を格納する画像メモリで
ある。1−2に格納された画像を(N×M)画素
を1要素(ここではN=M=12)として各要素に
要素内の平均濃度値(1−3)を割当て、大まか
な濃度情報だけからなる第1の抽象画像を画像メ
モリ1(1−4)に格納する。次に、(1−4)に
格納された画像をもとに要素間の平均濃度の差を
求める(1−5)。ここでは、現要素の平均濃度
をDi,j,4近傍の平均濃度値をDi,j-1;Di-1,j
Di,j+1;Di+1,jとした時(第15図参照)、 1/2|Di,j−Di-1,j+1/2|Di,j−Di,j-1| の値を適当な値(フルスケールの1/4即ち4N2
で正規化したものか、 max l,n--1,+1(Di,j−Di-l,j-n) の値を適当な値(3N2/2)で正規化し主要輸郭
強度の初期値を確率Pij (0)として表わし、第2の抽
象画像としてメモリ2(1−6)に格納する。た
だし1以上の値をとつた時1とする。
第2の象徴画像をもとにして、主要輪郭要素を
緩衝法を用いて抽出する(1−7)。第2の抽象
画像の各(i,j)要素の値より、初期画像空間
を P(0)= {P(0) i,j|1≦i≦n,1≦j≦m;i,j整数

とし、次式による繰り返し演算を行なう。即ち、 Pij (K+1)=Pij (k)qij (k)/Pij (k)qij (k)(1−Pij (k)
)(1−qij (k)) qij (k)=Pij (k)−(1−△ij (k)) △ij (k)=max{1/2|P(k) i-1,j+Pi+1,j (k)−P(
k)
i,j-1−P(k) i,j+1|,1/2|P(k) i-1,j-1+P(k) i+1
,j+1
−P(k) i-1,j+1−P(k) i+1,j-1|} である。ここで物理量△ij (k)は第2の画像の各要
素の連結性に関するもので、各画像要素の値Pij (k)
は自身の輪郭強度Pij (k)と連結性△ij (k)によつて更
新されることになる。
この繰り返し演算の打ち切りは、値が0.9ある
いは0.1以下の要素の数が全要素の0.95以上に達
したところで行なう。次に二値化して、あらため
て画像メモリ2(1−6)に格納する。第2の画
像は、主要な輪郭要素から構成される画像であ
る。
次に第2の画像をもとに、領域分割を行なう
(1−8)。この領域分割は、主要輪郭要素を8連
結で空間的に統合し、外接長方形で区分するもの
であり、具体的に統合して得られた8連結領域を
その外接長方形の代表点の位置(例えば、対角に
位置する2点)を表すものである。その代表点を
画像テーブル(1−9)に格納する。
画像テーブル(1−9)を参照して、各小領域
のラベル付けを行なう(1−10)。ラベル付けは
次のようにして行なう。各小領域内に相当する第
1の画像、第2の画像をもとに2つの物理量を計
算する。即ち(1)主要輪郭要素を境として両側の平
均濃度の差より求めた、領域内の変化値の平均値
(△D);(2)領域内を占める主要輪郭要素数の割合
(DN)である。△D対DN平面で△D≧0.7の時
“写真”、△D<0.7且つDN<0.4の時“グラフ”、
△D<0.7且つDN>0.4の時“文字”の各ラベルを
付け、結果として第16図に示す画像テーブル
(1−9)を得る。
このような従来の技術では、“文字”判定され
た領域から文字列および各文字列の整理した記述
がなされていない欠点があつた。
そこで本出願人はこのような欠点を解消するた
めに特開昭59−43468号(特願昭57−153992号)
にて次のような処理を行なう画像処理装置を提案
した。すなわち、この画像処理装置は、さらに
“文字”と判定された領域に直交交換を施し、大
まかなピツチを算出し、文字列を抽出する。そし
て抽出した文字列の大きさ、位置、および類似ピ
ツチの行数をもとに“タイトル”と“本文”とに
分類する。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、上記のごとき従来の技術では、
入力濃淡画像を写真領域、グラフ領域および文字
領域の3種類に分類し、さらに文字領域を“タイ
トル”と“本文”とに分類することはできるもの
の、写真領域の内部を分割することや、白黒カメ
ラからの濃淡画像を対象物体の切出しのために領
域分割することは不可能であつた。更に、従来技
術では主要輪郭要素を弛緩法を用いて抽出してい
るので、繰り返し演算で多大な時間を要し、処理
速度が遅いという欠点もあつた。
本発明は従来技術のこれらの欠点を除去するた
めになされたものであつて、その目的は濃淡画像
の対象物体の切出しのために領域分割することが
可能で、その画像処理においてラスター走査を好
適に用いることのできる高速な画像処理装置を提
供することにある。
(問題点を解決するための手段) 本発明は、前記従来技術の問題点を解決するた
め、蓄積手段と、平均濃度、分散計算手段と、閾
値手段、連結手段、微分手段、エツジ抽出手段及
び領域拡張手段を備えている。
前記蓄積手段は入力画像の各画素の濃度を電気
信号に変換して第1の画像として蓄積する。平均
濃度・分散計算手段は蓄積手段に蓄積されている
第1の画像の複数の画素から構成される要素の平
均濃度を計算するとともに要素内の複数の画素の
濃度値の分散を計算する。閾値手段は平均濃度・
分散計算手段で計算された分散の値の大小及び隣
接する要素間の平均濃度の差の大小により各要素
を対象物体の領域である領域構成要素と境界要素
とに分類する。連結手段は分類手段により領域構
成要素に分類された要素を連結し、連結された領
域に固有の番号を割当てる。微分手段は蓄積手段
に蓄積されている第1の画像の各画素を微分して
微分値と微分の方向とを計算する。エツジ抽出手
段は微分手段からの情報に基づいて画像のエツジ
を抽出する。領域拡張手段は、連結手段により連
結された各連結領域をエツジ抽出手段にと抽出さ
れたエツジまで拡張することにより、領域境界の
引き直しを行う。
なお、上記各技術手段と第1図の実施例の要素
との対応は、蓄積手段は画像入力装置12及び画
像メモリ13に、平均濃度・分散計算手段は平均
濃度・分散計算回路14に、閾値手段は閾値17
に、連結手段は連結回路19に、部分手段は微分
回路60に、エツジ抽出手段はエツジ抽出回路6
3に、領域拡張手段は領域拡張回路65にそれぞ
れ対応する。
(作用) 本発明によれば、以上のように画像処理装置を
構成したので各技術手段は次のように作用する。
蓄積手段は入力した原画像の濃淡情報を各画素
毎に量子化して格納する。平均濃度・分散計算手
段は例えば入力画像の(N×M)を1要素として
要素内の平均濃度を計算し、また要素内の(N×
M)画素の濃度値の分散を計算し、これらの計算
結果を閾値手段に出力する。閾値手段は、各要素
の分散の大きさに基づいて各要素が一様な濃度分
布であるかを判断するとともに要素間の平均濃度
の差の大小に基づいて隣接する要素が連結性を有
するか否かを判定し、各要素を領域構成要素と境
界要素とに分類する。そして連結手段により領域
構成要素と分類された要素の連結がなされ、連結
された領域に固有の番号が割当てられる。このと
き、現画像の(N×M)画素を1要素として領域
分割の処理がなされているので分割は荒くなつて
いる。そこで微分手段により求めた各画素の微分
値及び微分の方向に基づいてエツジ抽出手段はエ
ツジの抽出を行い、領域拡張手段はこの抽出情報
に基づいて連結手段により連結された領域エツジ
まで拡張することにより、精度良く領域境界の引
き直しを行う。このようにして入力濃淡画像を対
象物体の切出しのために精度良く領域分割するこ
とが可能となり前記従来技術の問題点を解決する
ことができる。
(実施例) 第1図は本発明の実施例を示すブロツク図であ
る。同図において、12は画像入力装置、13は
画像メモリA、14は平均濃度・分散計算回路、
15は画像メモリB、16は画像メモリC、17
は閾値回路、18は画像メモリD、19は連結回
路、20は画像メモリE、60は微分回路、61
は画像メモリF、62は画像メモリG、63はエ
ツジ抽出回路、64は画像メモリH、65は領域
拡張回路、66は画像メモリIである。
画像入力装置12は第14図の従来の画像入力
装置1−1と同様、入力濃淡画像の濃度値を1画
素Lビツト(ここではL=8)で量子化する。画
像メモリA13は第14図の従来の画像メモリ1
−2と同様、第4図のごとく入力画像を2次元的
に格納する画像メモリである。平均濃度・分散計
算回路14は画像メモリA13に格納された画像
の(N×M)画素を1要素(ここではN=M=
4)として各要素内の(N×M)画素の濃度値の
平均と分散を計算する。平均濃度・分散計算回路
14の出力は画像メモリB15及び画像メモリC
16に接続されており、画像メモリB15には平
均濃度・分散計算回路14で計算された平均濃度
が第4図に示す如く2次元的に格納され、一方、
画像メモリC16には同回路14で計算された分
散が同じく2次元的に格納される。閾値回路17
は画像メモリB15と画像メモリC16に格納さ
れた情報をそれぞれ例えば左上の要素からラスタ
ー走査で読み出す。そして読み出された現要素の
分散の値が予め設定された閾値θVよりも小さく、
現要素の平均濃度と現要素のすぐ上隣りの要素の
平均濃度との差が予め設定された閾値θDよりも小
さく、かつ現要素の平均濃度と現要素のすぐ左隣
りの要素の平均濃度との差が閾値θDよりも小さい
場合は“1”を画像メモリD18の対応位置に書
き込み、それ以外の場合には“0”を対応位置に
書き込む。つまり、画像メモリD18で“1”と
ラベル付けされた要素は、濃度値の分布が一様で
あり、対象物体の構成要素(以下、領域と称す)
であり、一方画像メモリD18で“0”とラベル
付けされた要素は対象物体の境界近傍である。連
結回路19は画像メモリD18上で“1”とラベ
ル付けされた要素を4連結し、統合された1つの
ブロツクに固有の番号(1以上)を割当て、画像
メモリE20に書き込む。また、画像メモリD1
8上で“0”とラベル付けされた要素に対しては
番号0を割当て、画像メモリE20に書き込む。
微分回路60は画像メモリA13の出力に接続
されており、入力画像の画素を微分し、微分値を
画像メモリF61に書き込み、微分の方向を画像
メモリG62に書き込む。エツジ抽出回路63は
画像メモリF61と画像メモリG62の出力に接
続されており、これらのメモリ61,62に格納
されたデータを読み出し、読み出したある画素の
微分値が予め設定された閾値θKよりも大きくかつ
特定の近傍の画素の微分値よりも大きく場合には
画像メモリH64の対応位置に“1”を書き込
み、それ以外の場合には同画像メモリH64の対
応位置に“0”を書き込む。領域拡張回路65は
画像メモリE20と画像メモリH64の出力に接
続されており、画像メモリE20上で“0”以外
の番号でラベル付された領域を画像メモリH64
の“1”の点(エツジ)まで拡張し、その結果を
画像メモリI66に書き込む。
次に平均濃度・分散計算回路14の構成を詳細
に説明する。第2図は平均濃度・分散計算回路1
4の構成例を示すブロツク図である。同図におい
て、21は平均濃度・分散制御部、22,23は
レジスタ、24は加算器、25は除算器、26は
掛算器、27は加算器、28,29,30,31
は掛算器、32は加算器、33は減算器である。
各要素内の(N×M)画素の平均濃度は(1)式
に従つて計算させる。
=1/NMΣxij(i=1〜N,j=1〜M) …(1) 但し、xijは各画素の濃度値である。
平均濃度・分散計算回路14の動作について説
明すると、平均濃度・分散制御部21は、まずレ
ジスタ22およびレジスタ23にクリア信号を供
給し、これらのレジスタの内容をクリアする。次
に、平均濃度・分散制御部21は画像メモリA1
3にアドレスを供給して各画素の濃度値を読み出
し、加算器24にてレジスタ22の内容と読み出
された各画素の濃度値を加算しその結果をレジス
タ22に記憶する。この動作をN×M回(ここで
はN=M=4)繰返すとレジスタ22は画像メモ
リA13の(N×M)画素の濃度値の加算結果を
保持していることになる。したがつて平均濃度は
レジスタ22の内容を(N×M)で除算器25を
使つて除算することによつて得られる。
一方、分散σ2(=V)は(2)式で計算される。但
し、xijは各画素の濃度値、は平均濃度を表わ
す。
σ2=Σ(xij−)2(i=1〜N,j=1〜M)…(2) (2)式を展開すると(3)式を得る。
σ2=Σ(xij2+NM2−2Σxij
(i=1〜N,j=1〜M)…(3) 分散を計算する場合、平均濃度・分散制御部2
1は画素メモリA13から各画素の濃度値xij
読み出す毎に、掛算器26で2乗計算xij 2を行な
わせ、その計算結果を加算器27にてレジスタ2
3の内容と加算させ、その和をレジスタ23にセ
ツトする。従つてレジスタ23はレジスタ22と
同様にΣ(xij2の結果を保持していることになる。
(3)式の第2項NM2は、除算器25出力(平均
濃度)を掛算器28で2乗し、その結果2
NMとを掛算器29で掛算することによつて得ら
れる。(3)式の第3項2Σxijは、まず掛算器30
でΣxijを計算し、次に掛算器31でその結果を
2倍して得られる。最後に、加算器32は(3)式の
第1項と第2項を加算し、その結果から減算器3
3は(3)式の第3項を引算することによつて、分散
σ2が計算される。
平均濃度・分散計算制御部21は画像メモリA
13から(N×M)個の画素を読み出す毎に、
(N×M)画素の平均濃度を画像メモリB15
に書き込み、(N×M)画素の分散σ2を画像メモ
リC16に書き込む。この処理を画像メモリA1
3全面に施すころにより、(P×Q)要素の平均
濃度値と分散値とを得る。但し画像メモリA13
の大きさを(P×S)画素とした時、P=R/
N,Q=S/Mである。第4図はこのときの関係
を説明するための図である。
次に閾値回路17の構成を詳細に説明する。第
3図は閾値回路17の構成例を示すブロツク図で
ある。同図において、34は閾値回路制御部、3
5は比較器、36はシフトレジスタ、37はレジ
スタ、38は減算器、39は絶対値回路、40は
比較器、41は減算器、42は絶対値回路、43
は比較器、44はシフトレジスタ、45はレジス
タ、46,47はANDゲート、48はORゲー
ト、49はANDゲート、50はORゲート、51
は選択回路である。
閾値回路制御部34は画像メモリB15と画像
メモリC16に二次元的に格納されている情報を
例えば左上の要素からラスター走査で同時に読み
出し、各要素の読み出し毎に以下に示す条件に従
つて画像メモリD18対応位置に“1”または
“0”を書き込む。
まず、画像メモリC16の出力(分散値V)
は、あらかじめ設定された閾値θVと比較器35で
比較される。比較器35は、分散値Vが閾値θV
りも大きい場合(要素内の濃度値が一様でない状
態、つまり対象物体の境界近傍と考えられる要
素)は“1”を出力し、それ以外の場合(要素内
の濃度値が一様である状態、つまり領域と考えら
れる要素)は“0”を出力する。
一方、画像メモリB15の出力(平均溶度
Di,j;第15図参照;但しDi,jは(1)式で得られる
と同一のものである)は、一行分(Q要素)シフ
トレジスタ36に記憶されるとともに、一要素分
レジスタ37に記憶される。つまり、シフトレジ
スタ36の出力は現在画像メモリC16から読み
出されている要素のすぐ上隣りの要素の平均濃度
(Di-1,j;第15図)であり、レジスタ37の出力
は現要素のすぐ左隣りの要素の平均濃度
(Di,j-1;第15図)である。Di,jとDi-1,jとの差が
減算回路38で演算された後、絶対値回路39で
絶対値化される。比較器40は、あらかじめ設定
された閾値θDと絶対値回路39の出力とを比較
し、絶対値回路39の出力が閾値θDよりも大きい
場合(平均濃度が大きく変化している要素、すな
わち対象物体の境界近傍と考えられる要素)は
“1”を出力し、それ以外の場合は、“0”を出力
する。同様に、Di,jとDi,j-1との差およびその絶対
値がそれぞれ減算回路41と絶対値回路42とで
演算された後、比較器43で閾値θDと比較され
る。比較器43は絶対値回路42の出力が閾値θD
よりも大きい場合は“1”を出力し、それ以外の
場合は“0”を出力する。
ここで、シフトレジスタ44は、閾値処理結果
を一行分(Q要素)記憶している。レジスタ45
は閾値処理結果を一要素分を記憶している。つま
り、シフトレジスタ44の出力は現要素のすぐ上
隣りの要素の閾値処理結果(Ti-1,j;第5図)で
あり、レジスタ45の出力は現要素のすぐ左隣り
の要素の閾値処理結果(Ti,j-1;第5図)である。
閾値処理結果は“1”か“0”のいずれかであり
“1”は領域を表わし、“0”は境界を表わしお
り、本実施例の目的は領域を取出すことにある。
比較器40の出力とシフトレジスタ44の出力は
ANDゲート46に入力される。ANDゲート46
は2つの入力が共に“1”である場合(すなわ
ち、Ti-1,jが“1”でかつ|Di,j−Di-1,j|>θDの場
合)は“1”を出力しそれ以外の場合は“0”を
出力する。現要素とする左隣りの要素との関係も
同様であり、比較器43の出力レジスタ45の出
力がANDゲート47に入力され、ANDゲート4
7は2つの入力が共に“1”である場合は“1”
を出力し、それ以外の場合は“0”を出力する。
ORゲート48はANDゲート46の出力とAND
ゲート47の出力を入力し、いずれかが“1”で
ある場合は“1”を出力し、それ以外は“0”を
出力する。
ところが、ラスター走査において、第1行を処
理している時、すぐ上隣りの要素は、実際は存在
せず、また第1列を処理している時は、すぐ左隣
りの要素も存在しない。閾値回路制御部34は、
第1行もしくは第1列を処理している時は、平均
濃度使用可信号を“0”にしておき、それ以外の
時は“1”にする。ORゲート48の出力はこの
平均濃度使用可信号とANDゲート49でAND演
算され、比較器35の出力とANDゲート49の
出力はORゲート50でOR演算される。つまり、
ORゲート50は、分散値Vが閾値θVよりも大き
い場合あるいは隣接する要素間の平均濃度の差が
大きい場合(すなわち現要素が境界と判定されよ
うとしている場合)は“1”を出力し、それ以外
の場合は“0”を出力する。
ここで閾値処理結果は、“1”が領域を表わし、
“0”が境界を表わしている。したがつて選択回
路51はORゲート50の出力が、“1”の場合
は“0”を出力し、ORゲート50の出力が
“0”の場合は“1”を出力する。閾値回路制御
部34は、閾値処理結果を画像メモリD18に書
き込ませる。
次に連結回路19について説明する。
連結回路19は第6図に示すようにマイクロプ
ロセツサ52ROM53(リードオンリーメモ
リ)とRAM54(ランダムアクセスメモリ)と
で構成される。マイクロプロセツサ52のプログ
ラムはROM53に書かれており、画像メモリD
18を読み出し4連結している“1”のブロツク
に1以上の固有の番号を割当て、画像メモリD1
8上の“1”の位置に対応した画像メモリE20
上の位置に、その割当てられた番号を書込む。な
お、4連結とは、第15図において、Di,j要素と
4近傍(Di-1,j要素、Di,j-1要素、Di+1,j要素、およ
びDi,j+1要素)の一つの要素との関係で、Di,j要素
と4近傍の一つの要素がともに“1”であること
を言い、このときこの2つの要素は4連結してい
ると言う。したがつて4連結しているブロツクと
は、“1”の集合で、その“1”の要素は4近傍
の関係で連結していることを言う。
4連結している“1”のブロツクにつき、1個
の固有の番号を割当てるから、結局、画像メモリ
E20は0から画像メモリD18上に存在する
“1”のブロツクの個数の範囲の番号を保持して
いる。但し、0は画像メモリD18上の“0”に
対応する。
次に微分回路60について詳細に説明する。微
分回路60では微分オペレータ(演算子)として
第7図a,bに示すごときSOBELオペレータと
称されるものを使用する。ここで注目画素をP0
とし、第8図に示すようにその3×3近傍の画素
をP1,P2,……P8とする。SOBELオペレータを
用いてある画素(例えばP0)の微分値と微分の
方向を計算する場合、注目画素(P0)の近傍の
8つの画素の濃度値を用いる。SOBELオペレー
タはまず微分値のX成分を計算する。なお、第7
図aはSOBELオペレータのX成分のマスク値、
第7図bはSOBELオペレータのY成分のマスク
値の一例である。微分値のX成分は第7図aのX
成分のマスク値と第8図の3×3の近傍の画素の
濃度値との積和であり、本例では(4)式のようにな
る。
X=P2+2P1+P8−(P4+2P5+P6) …(4) 同様に、微分値のY成分は第7図bのY成分の
マスク値と第8図の3×3の近傍の画素の濃度値
との積和であり、本例では(5)式のようになる。
Y=P4+2P3+P2−(P6+2P7+P8) …(5) である。
ここで、微分値Kは(6)式で計算される。
K=√22 …(6) しかしながら、(6)式の平方根の計算には多くの
回路が必要となるので、ここでは(6)式を(7)式で代
用する。
K=|X|+|Y| …(7) 一方、微分の方向Tは(8)式で求められる。
T=tan-1(Y/X) …(8) Tの値は−90度から90度の範囲をとるが、Xと
Yの符号(正負)を考慮すると、とりうる範囲は
−180度から180度(つまり全方向)となる。しか
し、ここでは微分の方向を4方向に分類すること
ができれば十分であるので、第9図に示すよう
に、Tの値(−90度から90度)を0〜3の値に量
子化する。すなわち(9)式のようにTの値を45度毎
に4分割する。
−22.5°≦T<22.5°のとき 0 22.5°≦T<67.5°のとき 1 67.5°≦T<90°のとき 2 −90°≦T<−67.5°のとき 2 −67.5°≦T<−22.5°のとき 3 …(9) 微分値を計算するには、(4),(5)式からわかるよ
うに3×3近傍の画素の濃度値が必要である。こ
れらの濃度値を求めるための回路構成を第10図
に示す。同図において67,69,71〜74は
レジスタ、68,70はシフトレジスタである。
画像メモリA13(第1図)に格納されているデ
ータがラスター走査で読み出されると、読み出さ
れたデータはレジスタ67に一画素分記憶される
とともに、シフトレジスタ68に一行分記憶され
る。シフトレジスタ68の出力はレジスタ69に
一画素分記憶されるとともに、シフトレジスタ7
0に一行分記憶される。したがつて、シフトレジ
スタ68とシフトレジスタ70で、現在読み出さ
れている画素の前2行分を記憶していることにな
る。一方、シフトレジスタ70の出力はレジスタ
71に一画素分記憶される。レジスタ67の出力
はレジスタ72に、レジスタ69出力はレジスタ
73に、レジスタ71の出力はレジスタ74に、
それぞれ一画素分記憶される。したがつて、レジ
スタ67とレジスタ72で前2画素分のデータを
記憶していることになる。つまり画像メモリA1
3の現在の出力と2個のシフトレジスタと6個の
レジスタが、結局3×3の近傍の画素(合計9画
素)のデータを出力しており、新しい画素が読み
出される毎に、各々の出力のデータも変化し、常
に3×3の近傍の画素のデータが出力されてい
る。なお、第10図のP0,P1…P8と第8図のP0
P1…P8とはそれぞれ対応している。
第11図は微分回路60の構成例を示すブロツ
ク図である。同図において、75〜80,82〜
87,91は加算器、81,88は減算器、8
9,90は絶対値回路、200は演算器、Kは微
分値、Tは微分の方向である。また第11図の
P0,P1…P8と第8図及び第10図のP0,P1…P8
とはそれぞれ対応している。
微分回路60は、上述したように、画像メモリ
A13に格納されているデータをラスター走査で
読み出し、第10図の回路を使つて3×3の近傍
の画素の濃度値を得る。そして、まず、(4)式中の
P2+2P1+P8を加算器75、加算器76および加
算器77を使つて計算する。次に(4)式中のP4
2P5+P6を加算器78、加算器79および加算器
80を使つて計算する。加算器77の出力から加
算器80の出力を減算器81で減算し、(4)式のX
を得る。(5)式のYも全く同様に、加算器82、加
算器83、加算器84、加算器85、加算器8
6、加算器87および減算器88を使つて得られ
る。(7)式のKは、減算器81と減算器88の出力
をそれぞれ絶対値回路89と絶対値回路90とで
絶対値化し、それらの出力を加算器91で加算す
ることにより得られる。(8)式と(9)式の計算は演算
器200で計算される。(8)式のtan-1の演算とそ
の後の量子化はROM(リードオンリーメモリ)
を使つて、容易に実現できる。
微分回路60は、以上のようにして求めた微分
値の大きさKを画像メモリF61に書き込み、微
分の方向Tを画像メモリG62に書き込む。
次にエツジ抽出回路63の構成について説明す
る。第12図はエツジ抽出回路63の構成例を示
すブロツク図である。同図において、92,9
5,96は比較器、93,94は選択器、94は
ANDゲートである。
エツジ抽出回路63は、微分回路60と同様
に、画像メモリF61に格納されているデータを
ラスター走査で読み出し、第10図に示すごとき
回路を用いて3×3の近傍の画像の微分値P0
P1…P8を得るとともに、画像メモリG62に格
納されているデータを同時にラスター走査で読み
出し、微分の方向Tを得る。
まず、注目画素の微分値P0は、あらかじめ設
定された閾値θKと比較器92で比較される。比較
器92はP0がθKよりも大きい場合は“1”を出力
し、それ以外の場合は“0”を出力する。微分値
が閾値θKよりも大きいということは、その画素の
周辺で濃度が急に変化していることを示す。この
ような画素はエツジと呼ばれる。エツジは通常、
領域の境界である。しかしながら、このようにし
て得られたエツジは境界といつても、通常幅が広
い。そこで、微分値がその3×3の近傍において
最大である画素(局所的最大)をエツジとする。
また、微分値を比較する場合、3×3の近傍の8
画素全部と比較するのではなく、特定の2画素の
みを比較の対象とする。すなわち、注目画素の微
分の方向の画素と逆方向の画素の2画素の微分値
と注目画素の微分値よりも大きいか、等しい場合
にその注目画素をエツジとする。このように、微
分の方向の画素とその逆方向の画素のみと微分値
の大きさを比較することにより、良好なエツジが
得られる。
第12図において、Tは0から3の値をとる。
選択器93は、Tの値によつてP1,P2,P3,P4
のいずれかを選択して出力する。すなわち、T=
0のときP1を、T=1のときP2を、T=2のと
きP3を、T=3のときP4を出力する。一方、選
択器94も同様に、T=0のときP5を、T=1
のときP6を、T=2のときP7を、T=3のとき
P8を選択して出力する。したがつて、選択器9
3と選択器94の出力は、第8図と第9図とから
わかるように、着目画素P0の微分の方向の画素
とその逆方向の画素の微分値である。
比較器95は注目画素の微分値P0と選択器9
3の力とを比較し、注目画素の微分値P0が選択
器93の出力も大きいか等しい場合に“1”を出
力し、それ以外の場合は“0”を出力する。同様
に、比較器96は注目画素の微分値P0と選択器
94の出力とを比較し、注目画素の微分値P0
選択器94の出力よりも大きいか等しい場合に
“1”を出力し、それ以外の場合は“0”を出力
する。ANDゲート97は、比較器92と比較器
95と比較器96の出力がすべて“1”の場合に
“1”を出力し、それ以外の場合は“0”の出力
する。
エツジ抽出回路93は、以上のようにして得ら
れたANDゲート97の出力を画像メモリH64
に書込む。
さて、連結回路19(第1図)の処理により、
画像メモリE20上では連結している“1”のブ
ロツクに固有のラベル番号を割当てられている。
しかしながら、原画像の(N×M)画素を一要素
として、領域分解の処理がなされているので、画
像メモリE20上の分割は非常に荒い。そこで、
原画像の要素に戻つて、領域の境界を引き直す。
この処理について以下詳述する。
第13図は領域拡張回路65の構成例を示すブ
ロツク図である。同図において画像メモリE2
0、画像メモリI66、画像メモリH64につい
ては第1図のものと同一である。また、98は領
域拡張回路制御部、99,100は選択器、10
1はデコーダ、102はインバータ、103,1
05はANDゲート、104はレジスタ有効信号
である。
画像メモリE20は原画像の(N×M)画素を
一要素としているので、画像の大きさは(P×
Q)要素であり、一方、画像メモリH64の画像
の大きさは(R×S)画素である。そこで、画像
メモリE20を(N×M)倍に拡大して画像メモ
リI66に書き込む。
領域拡張回路制御部98は、まず画像メモリE
20の一要素のデータを読み出す毎に、その読み
出された同一データを画像メモリI66の対応す
る(N×M)画素のすべてに書き込む。この時、
選択器99は画像メモリE20のデータを出力し
ている。この動作を画像メモリE20のすべての
要素について行なうことにより、画像メモリI6
6に(R×S)画素のデータが得られる。その
後、領域拡張回路制御部98は選択器99の出力
を切換えて、選択回路99に選択器100のデー
タを出力させる。
画像メモリI66では、画像メモリE20と同
様に、連結しているブロツクに固有のラベル番号
が割当てられており、また境界には0の番号が割
当てられている。一方、画像メモリH64には入
力画像の微分処理により得られたエツジ点情報が
格納されている。エツジ抽出回路63が抽出した
エツジは領域の境界を十分精度良く表わしてい
る。そこで画像メモリI66上で0のラベル番号
をもつ画素は未定義の画素と定義しなおして、0
以外のラベル番号をもつ領域をその領域の周囲に
拡張する。拡張する条件は、拡張を行なう領域が
0以外のラベル番号を持つこと、かつ、拡張され
ようとしている画素は0のラベル番号をもつこ
と、更にその拡張されようとしている画素がエツ
ジ点でない(画像メモリH64の出力が“1”で
ない)ことである。ラベル番号が0から0以外の
番号に書換えられた画素は、そのラベル番号の領
域となり、隣りの画素が拡張条件を満足するな
ら、拡張することが可能で、拡張は次々に伝播す
る。
領域拡張回路制御部98は、画像メモリI66
と画像メモリH64をラスター走査で読み出す。
デコーダ101は画素メモリI66の出力が0の
場合は“1”を出力し、それ以外の場合は“0”
を出力する。インバータ102は画像メモリH6
4の出力を反転させる。つまり、インバータ10
2は、メモリH64の出力が“0”(エツジでは
ない)の場合は“1”を出力し、画像メモリH6
4の出力が“1”(エツジである)の場合は“0”
を出力する。ANDゲート103は、デコーダ1
01とインバータ102の出力がともに、“1”
であるとき“1”を出力し、それ以外の場合は
“0”を出力する。なお、画像メモリI66に格
納されているデータを左上の画素からラスター走
査で読み出す時、最左端の画素にはその左隣りの
画素は存在しないから拡張することができない。
そこで、領域拡張回路制御部98は、最左端の画
素を処理している時はレジスタ有効信号104を
“0”にし、それ以外の時は“1”にする。AND
ゲート105は、レジスタ有効信号と104と
ANDゲート103の出力がともに“1”の場合
は“1”を出力し、それ以外の場合は“0”を出
力する。選択器100は、ANDゲート105の
出力が“0”の場合は画像メモリI66のデータ
を出力し、ANDゲート105の出力が“1”の
場合はレジスタ106のデータを出力する。領域
拡張回路制御部98は選択器100の出力を選択
器99を通して画像メモリI66に書き込む。レ
ジスタ106は選択器100の出力を一画素分記
憶している。したがつて、レジスタ106は画像
メモリI66に書き込まれた直前の画素のデータ
を保持している。この処理を、画像メモリI66
の全画素に行なう。
しかしながら、左上の画素からのラスター(右
方向の走査)処理しか終つていないので、領域拡
張回路制御98は残る3方向(左方向の走査、下
方向の走査および上方向の走査)についても、同
様の処理を行なう。
(発明の効果) 以上、詳細に説明したように本発明によれば、
第1に入力画像の複数の画素を1要素として要素
内の画素の平均濃度及び濃度値の分散を計算し、
分散の大きさ及び隣接する要素間の平均濃度の差
に基づいて、各要素が対象物体の領域に属するの
か、又は境界に属するのかを判定し、その結果に
従つて領域に属する要素を連結して粗く領域分割
し、第2に入力画像の各画素毎に微分計算を行つ
て微分値の大きさ及び微分の方向を求め、求めた
微分値の大きさ及び微分の方向を用いて領域の境
界を制度良く表すエツジを抽出し、粗く分割され
た領域をエツジまて拡張することにより、対象物
体の領域を精度良く分割することができる。従つ
て、本発明は、濃淡画像を対象物体の切り出しの
ために精度良く領域分割することができ、またラ
スター走査を用いることにより高速処理が可能と
なる利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による画像処理装置の実施例を
ブロツク図、第2図は平均濃度・分散計算回路の
ブロツク図、第3図は閾値回路のブロツク図、第
4図は画素と要素との対応の説明図、第5図は閾
値処理結果の隣接する要素の説明図、第6図は連
結回路のブロツク図、第7図a及びbはSOBEL
オペレータのX方向及びY方向のマスク値を示す
図、第8図は3×3の近傍の画素の説明図、第9
図は微分の方向の量子化の説明図、第10図は3
×3の近傍の画素のデータを読み出す回路のブロ
ツク図、第11図は微分回路のブロツク図、第1
2図はエツジ抽出回路のブロツク図、第13図は
領域拡張回路のブロツク図、第14図は従来の画
像処理装置のブロツク図、第15図は4近傍の画
素の平均濃度値の説明図、第16図は画像テーブ
ルを示す図である。 なお、図において、12……画像入力装置、1
3……画像メモリA、14……平均濃度・分散計
算回路、15……画像メモリB、16……画像メ
モリC、17……閾値回路、18……画像メモリ
D、19……連結回路、20……画像メモリE、
21……平均濃度・分散制御部、22,23……
レジスタ、24,27,32……加算器、25…
…除算器、26,28,29,30,31……掛
算器、33……減算器、34……閾値回路制御
部、35,40,43……比較器、36,44…
…シフトレジスタ、37,45……レジスタ、3
8,41……減算器、39,42……絶対値回
路、46,47,49……ANDゲート、48,
50……ORゲート、51……選択回路、52…
…マイクロプロセツサ、53……ROM、54…
…RAM、60……微分回路、60……画像メモ
リF、62……画像メモリG、63……エツジ抽
出回路、64……画像メモリH、65……領域拡
張回路、66……画像メモリI、67,69,7
1,72,73,74……レジスタ、68,70
……シフトレジスタ、75,76,77,78,
79,80,82,83,84,85,86,8
7……加算器、81,88……減算器、89,9
0……絶対値回路、91……加算器、92,9
5,96……比較器、93,94……選択器、9
7……ANDゲート、98……領域拡張制御部、
99,100……選択器、101……デコーダ、
102……インバータ、103,105……
ANDゲート、104……レジスタ有効信号、1
06……レジスタ、200……演算器、である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 原画像の各画素の濃度を電気信号に変換して
    第1の画像として蓄積する蓄積手段と、 前記蓄積手段に蓄積されている第1の複数の画
    素から構成される要素の平均濃度及び濃度値の分
    散を計算する平均濃度・分散計算手段と、 前記平均濃度・分散計算手段により計算された
    分散の価及び隣接する要素間の平均濃度の価の差
    に基づいて前記要素を領域構成要素と境界要素と
    に分類する閾値手段と、 前記閾値手段により領域構成要素に分類された
    要素を連結し、連結された領域に固有の番号を割
    当てる連結手段と、 前記蓄積手段に蓄積されている第1画像の各画
    素を微分し、その微分値及びその微分の方向を計
    算する微分手段と、 前記微分手段により計算された前記微分値と前
    記微分の方向に基づいて画像のエツジを抽出する
    エツジ抽出手段と、 前記エツジ抽出手段により求められた情報に基
    づき前記連結手段により連結された領域をエツジ
    まで拡張し、領域の境界を引き直す領域拡張手段
    と を有することを特徴とする画像処理装置。
JP59250315A 1984-11-27 1984-11-27 画像処理装置 Granted JPS61128385A (ja)

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JP2532086B2 (ja) * 1987-03-16 1996-09-11 日本電信電話株式会社 画像特徴抽出装置
WO1997040959A1 (fr) * 1996-04-30 1997-11-06 Komatsu Ltd. Procede et appareil pour la detection d'un defaut d'outil dans une machine-outil
JP6765103B2 (ja) * 2016-12-09 2020-10-07 国立大学法人千葉大学 画像処理装置、画像処理プログラム及び画像処理方法

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