JPH04136725A - Time resolved spectrometery - Google Patents

Time resolved spectrometery

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JPH04136725A
JPH04136725A JP25935890A JP25935890A JPH04136725A JP H04136725 A JPH04136725 A JP H04136725A JP 25935890 A JP25935890 A JP 25935890A JP 25935890 A JP25935890 A JP 25935890A JP H04136725 A JPH04136725 A JP H04136725A
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JP
Japan
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time
interferogram
light source
delay
difference
Prior art date
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Pending
Application number
JP25935890A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Koji Masutani
浩二 増谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
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Publication date
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Priority to US07/676,576 priority patent/US5196903A/en
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  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

PURPOSE:To enable a time-series spectrum in a reaction process to be measured simultaneously by acquiring a difference interferogram at a plurality of different delay times simultaneously and then performing their Fourier transformation. CONSTITUTION:Trigger signals from delay circuits 61, 62, 63... are combined by a trigger signal combiner 31, triggers are given to a power supply for light source 7 after delay times gamma1', gamma2', gamma3'... and t'+ gamma1', t'+ gamma2', t'+ gamma3'... after stimulating a sample 3 respectively, a pulse light source 1 is driven, and then a comb-shaped signal is obtained at a detector 4. This comb-shaped signal is sent to band-pass filters 111, 112, 113... according to a delay time by a distributer 32 and then an interferogram which is the difference between an excitation state and a normal state in each delay time can be taken out by lock-in amplifiers 121, 122, 123... which are connected to the next stage.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、刺激発生手段により周期的に刺激を発生して
測定対象に繰り返し与え、パルス光源を用いたラビッド
スキャン干渉計により、刺激に対して繰り返し同じ応答
を示す測定対象の刺激より後の異なる遅延時間における
通常状態との差のインター7エロダラムを取得し、フー
リエ変換してスペクトルを得ることにより、測定対象の
反応過程における時系列スペクトルを同時に測定する時
間分解分光測定法に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention periodically generates a stimulus using a stimulus generating means and repeatedly applies it to a measurement object, and uses a rapid scan interferometer using a pulsed light source to respond to the stimulus. The time-series spectrum of the reaction process of the measurement target can be obtained by obtaining the inter-7 erodalum of the difference from the normal state at different delay times after the stimulus of the measurement target that repeatedly shows the same response, and then obtaining the spectrum by Fourier transformation. Concerning a time-resolved spectrometry method for simultaneous measurements.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

サンプルに電気やレーザその他の手段により周期的に刺
激を与え、その刺激から復帰する過程において、その反
応状態を測定しようという要求は、例えば液晶の特性を
評価する場合や、その他のいろいろな分野にある。その
測定方法としては、FT−IR(フーリエ変換赤外分光
光度計)を用いた時間分解分光測定法がある。この方法
は、広い波数域を高いSN比で測定できるため、従来か
ら開発利用されているが、ラピッドスキャン干渉計を用
いるものと、ステップスキャン干渉計を用いるものに分
類できる。
The need to periodically apply stimulation to a sample using electricity, laser, or other means and measure the reaction state during the process of recovery from the stimulation is needed, for example, when evaluating the characteristics of liquid crystals, and in various other fields. be. As a measurement method, there is a time-resolved spectrometry method using FT-IR (Fourier transform infrared spectrophotometer). This method has been developed and used in the past because it can measure a wide wavenumber range with a high signal-to-noise ratio, and can be classified into those using a rapid scan interferometer and those using a step scan interferometer.

FT−IRは、半透鏡と移動鏡と固定鏡からなる干渉計
を用い、移動鏡を移動させてインタフェログラムを得る
ものであるが、インタフェログラムは、サンプルの透過
率等の特性が測定中一定でなければならないという条件
があり、サンプルの特性が変わってしまうと、それをフ
ーリエ変換した場合、本来の情報と違う情報が出てしま
う。したがって、時間分解分光測定法において、与える
刺激の周期は、反応が終わってしまう時間より長いこと
が条件であるが、周期的な刺激を与える場合、移動鏡の
移動と無関係に刺激を与えると、その整合を採ることが
必要になる。そこで、従来は、干渉計の持つ基準信号に
同期して刺激を与えるようにしている。
FT-IR uses an interferometer consisting of a semi-transparent mirror, a movable mirror, and a fixed mirror, and obtains an interferogram by moving the movable mirror. However, in an interferogram, characteristics such as transmittance of the sample remain constant during measurement. If the characteristics of the sample change, then when it is Fourier transformed, information different from the original information will be obtained. Therefore, in time-resolved spectroscopy, the period of stimulation applied must be longer than the time for the reaction to end, but when applying periodic stimulation, if the stimulation is applied regardless of the movement of the movable mirror, It is necessary to achieve that consistency. Therefore, conventionally, stimulation is applied in synchronization with a reference signal possessed by an interferometer.

このような状況の下に、本出願人はすでに、ラピッドス
キャン干渉計により、測定対象に1J激を与えたときの
反応状態を時系列スペクトルで得る時間分解分光測定法
であって、測定対象に反応周期の2倍より長い周期でl
FI激を繰り返し与えると共に、パルス光源により刺激
繰り返し周期の1/2の周期で刺激からの遅延時間を制
御して光を放射し、検知器出力より刺激繰り返し周波数
に乗った成分を抽出することによって、励起状態の試料
から得られるインタフェログラムと通常状態の試料から
得られるインタフェログラムの差のインタフェログラム
を取り出してサンプリングしフーリエ変換することによ
り、遅延時間毎に各遅延時間での測定対象と通常状態で
の測定対象との差スペクトルを得ることをvfmとする
時間分解分光測定法を提案している(特願平2−821
28号)。
Under these circumstances, the applicant has already developed a time-resolved spectrometry method that uses a rapid scan interferometer to obtain a time-series spectrum of the reaction state when a 1 J impulse is applied to the measurement target. l with a period longer than twice the reaction period
By repeatedly applying FI intensity and emitting light by controlling the delay time from stimulation with a period of 1/2 of the stimulation repetition period using a pulsed light source, and extracting the component that rides the stimulation repetition frequency from the detector output. By extracting, sampling, and Fourier transforming the interferogram that is the difference between the interferogram obtained from the sample in the excited state and the interferogram obtained from the sample in the normal state, the measurement target at each delay time and the normal state are obtained. We have proposed a time-resolved spectroscopic measurement method in which VFM is used to obtain the difference spectrum from the measurement target at
No. 28).

この方法は、光源としてパルス光源を用いるので、試料
に光を照射する時間を短くすることができ、応用の対象
が広がり、しかも、刺激を干渉計の持つ基準信号と非同
期で与えることができるので、刺激に対する制約が少な
くなり、また、速い反応には、刺激周波数を上げること
ができるので、測定効率の向上を計ることができ、さら
には、一般に普及しているラピッドスキャン干渉計を持
った装置にゲート回路等のシステムを加えることにより
、データサンプリング回路やデータ編集ソフト等のFT
−rHの持つシステムの大幅な変更を必要とせず実施で
き、しかも、差測定法のメリットを付加することができ
るものである。
Since this method uses a pulsed light source as the light source, the time for irradiating the sample with light can be shortened, and the range of applications can be expanded.Furthermore, the stimulation can be applied asynchronously with the reference signal of the interferometer. , there are fewer restrictions on stimulation, and the stimulation frequency can be increased for faster responses, making it possible to improve measurement efficiency.Furthermore, it is possible to improve measurement efficiency by using a device equipped with a commonly used rapid scan interferometer. By adding systems such as gate circuits to the FT, data sampling circuits and data editing software, etc.
-rH can be implemented without requiring major changes to the system, and moreover, it can add the advantages of the differential measurement method.

以下、この方法を簡単に説明する。第5図は上記提案に
係る時間分解分光測定法を実施する装置の1例の構成を
示す図であり、第6図はその動作を説明するための波形
図であり、1はパルス光源、2は干渉計、3は試料、4
は検知器、5はタイマ、6は可変型遅延回路、7は光源
用電源、8は分周器、9は刺激発生器、10はプリアン
プ、11はバンドパスフィルタ、12はロックインアン
プ、13はメインアンプ、14はAD変換器、15はC
PUを示す。
This method will be briefly explained below. FIG. 5 is a diagram showing the configuration of an example of an apparatus for implementing the time-resolved spectrometry method according to the above proposal, and FIG. 6 is a waveform diagram for explaining its operation, in which 1 is a pulsed light source, 2 is the interferometer, 3 is the sample, 4
is a detector, 5 is a timer, 6 is a variable delay circuit, 7 is a power source for the light source, 8 is a frequency divider, 9 is a stimulus generator, 10 is a preamplifier, 11 is a bandpass filter, 12 is a lock-in amplifier, 13 is the main amplifier, 14 is the AD converter, 15 is C
Indicates PU.

第5図(a)において、試料3は、反応が刺激に対して
繰り返し同じ応答を示し、第6図(d)に示すように反
応周期τの測定対象である。タイマ5は1、第6図ら)
に示すように第6図(a)に示す干渉計2の持つ基準信
号とは非同期で反応周期τより長じ)周期t′のクロッ
ク信号を発生するものであり、分周器8は、タイマ5の
クロック信号を1/2分周し、その分周した周期2t’
の信号を刺激発生器9及びロックインアンプ12に供給
するものである。刺激発生器9は、1/2分周器8で生
成された信号に基づいて試料3に第6図(C)に示すよ
うな刺激を与えるものであり、この刺激は、干渉計2の
持つ基準信号とは非同期となる。可変型遅延回路6は、
タイマ5のクロック信号から一定時間Δτ′だけ遅延し
たトリガを生成するものであり、光源用電源7は、この
トリガにより第2図(e)に示すようなタイミングでパ
ルス光源1を駆動するものである。したがって、励起状
態の試料からの信号■ 11L2t・(t−Δr’)J’ B’ (σ、Δr’
)cos2πa x d aと通常状態の試料からの信
号■ 1112t・(t−Δr’−t’)fB(+7) co
s2rraxdaが第6図(f)に示すように交互に検
知器9の出力となる。バンドパスフィルタ11は、検知
器9の出力から得られる高調波と低周波成分を除去する
ために用いるものである。
In FIG. 5(a), sample 3 repeatedly shows the same response to the stimulus, and is the object of measurement of the reaction period τ as shown in FIG. 6(d). Timer 5 is 1, Figure 6, etc.)
As shown in FIG. 6(a), it generates a clock signal with a period t' (longer than the reaction period τ) which is asynchronous with the reference signal of the interferometer 2 shown in FIG. The frequency of the clock signal of 5 is divided by 1/2, and the divided period is 2t'.
This signal is supplied to the stimulus generator 9 and lock-in amplifier 12. The stimulus generator 9 gives a stimulus to the sample 3 as shown in FIG. 6(C) based on the signal generated by the 1/2 frequency divider 8. It is asynchronous with the reference signal. The variable delay circuit 6 is
It generates a trigger that is delayed by a fixed time Δτ' from the clock signal of the timer 5, and the light source power source 7 uses this trigger to drive the pulsed light source 1 at the timing shown in FIG. 2(e). be. Therefore, the signal from the sample in the excited state is
)cos2πa x d a and the signal from the sample in the normal state■ 1112t・(t-Δr'-t')fB(+7) co
s2rraxda becomes the output of the detector 9 alternately as shown in FIG. 6(f). The bandpass filter 11 is used to remove harmonics and low frequency components obtained from the output of the detector 9.

そこで、検知器9の出力信号をバンドパスフィルタ11
に通した時に得られる第6図(g)に示す出力を見るた
めに111at、(t−Δτ°)をtでフーリエ変換す
る。
Therefore, the output signal of the detector 9 is filtered through a bandpass filter 11.
In order to see the output shown in FIG. 6(g) obtained when passing through 111at, (t-Δτ°) is Fourier transformed at t.

JIII2t、(t−Δτ)  e’−”zrtdt=
 e −+2””(1/ 2 t ’)uL72t・(
f ) −(1)=1/2t’ [δ(f)+δ(f 
 1/2t’ ) e −」2貸+δ(f−1/l’)
e−」”壬午・・・・・・・・・+δ(f+ 1/2t
’ ) e J2Lm□ + =・・・・・−・)この
第2項に注目し、LL12t・(を−Δτ’−t’)も
同様にフーリエ変換した場合の第2項を見ると、1/2
t’  δ (f−1/2t゛) e −」2χ−ゴシ
5(−L′=t′)= −1/2t’δ(f−1/2t
’)e−””   ・・・・・・(2)となる。すなわ
ち、両者は共にフーリエ変換によとがわかる。バンドパ
スフィルタ11としては、この2項のみを通すものを用
いる。したがって、中心周波数が1/2 t’で、バン
ド幅がB(σ)、2B′ (σ、△τ′)をカバーする
ものとなり、その出力は、(1)、(2)式から f (B’(σ、Δr’)−B  (+7) ) co
s2πa x d aのインタフェログラムが周波数(
1/2t“)で変調されているものとなる。そこで、出
力信号をロックインアンプ12に人力し、周波数(1/
2t’)の参照(以下、余白) 信号と同期をとることで −f (B’(σ、Δτ’)−B(σ)) cos2π
a x d a2t’ が得られる。これは、励起状態の試料から得られるイン
タフェログラムと通常状態の試料から得られるインタフ
ェログラムの差のインタフェログラムを取り出すことに
なる。したがって、これをA/D変換器14に通し、C
PU15に取り込みフーリエ変換を施すと、B’(σ、
Δτ’)−B (σ)の差スペクトルが得られる。この
ように差スペクトルの形で処理するので、A/D変換器
14に人力する信号が圧縮されてA/D変換器14のダ
イナミックレンジの不足を補うことができ、A/D変換
器14によるSN比の悪化を防ぐことができる。
JIII2t, (t-Δτ) e'-”zrtdt=
e −+2””(1/2 t')uL72t・(
f ) −(1)=1/2t' [δ(f)+δ(f
1/2t') e-''2+δ(f-1/l')
e-””Igo・・・・・・・・・+δ(f+1/2t
' ) e J2Lm□ + =... /2
t' δ (f-1/2t゛) e -''2χ-goshi5(-L'=t')=-1/2t'δ(f-1/2t
')e-""...(2). That is, both can be determined by Fourier transformation. As the bandpass filter 11, one that passes only these two terms is used. Therefore, the center frequency is 1/2 t', the bandwidth covers B(σ), 2B' (σ, Δτ'), and the output is f ( B' (σ, Δr') - B (+7) ) co
The interferogram of s2πa x d a is the frequency (
Therefore, the output signal is input to the lock-in amplifier 12, and the frequency (1/2t) is modulated.
2t') reference (hereinafter, blank space) By synchronizing with the signal, -f (B'(σ, Δτ') - B(σ)) cos2π
a x d a2t' is obtained. This results in taking out an interferogram that is the difference between the interferogram obtained from the sample in the excited state and the interferogram obtained from the sample in the normal state. Therefore, it is passed through the A/D converter 14 and the C
When taken into PU15 and subjected to Fourier transformation, B'(σ,
A difference spectrum of Δτ′)−B(σ) is obtained. Since processing is performed in the form of a difference spectrum in this way, the signal manually input to the A/D converter 14 can be compressed to compensate for the lack of dynamic range of the A/D converter 14. Deterioration of the SN ratio can be prevented.

上記の例では、タイマ5で周期t′のクロック信号を発
生し、これを可変型遅延回路6に供給すると共に分周器
8で分周して周期2t’の信号を刺激発生器9に供給す
るように構成したが、第5図(b)に示すようにタイマ
5′で周期2t’のクロック信号を発生してこれを刺激
発生器9に供給し、タイマ5′のクロック信号を倍周器
8′で2倍の周波数に逓倍して可変型遅延回路6に供給
するように構成してもよい。
In the above example, the timer 5 generates a clock signal with a period t', supplies this to the variable delay circuit 6, divides the frequency in the frequency divider 8, and supplies a signal with a period 2t' to the stimulus generator 9. However, as shown in FIG. 5(b), the timer 5' generates a clock signal with a period of 2t' and supplies this to the stimulus generator 9, which doubles the frequency of the clock signal of the timer 5'. It may be configured such that the signal is multiplied to twice the frequency by the circuit 8' and supplied to the variable delay circuit 6.

以上のように、上記提案にかかる発明は、時間分解分光
法を差測定法に発展させたものである。
As described above, the invention according to the above proposal is an evolution of time-resolved spectroscopy into a difference measurement method.

差測定法は、装置の状態、測定環境の変化に影響されな
い特徴を持っている。
The difference measurement method has the characteristic that it is not affected by changes in the state of the device or the measurement environment.

なお、上記発明は、上記の例に限定されるものではなく
、種々の変形が可能である。例えば上記の例では、タイ
マで発生したクロック信号を用いて刺激発生器を制御す
ると共に、可変型遅延回路で時間Δτ′だけ遅延させて
パルス光源を駆動するように構成したが、パルス光源は
、刺激より時間Δτ′だけ遅延したパルス光を放射する
ように構成すればよいので、自己発振で周期t′のパル
ス光を放射する光源、例えばモードロックパルスレーザ
の場合には、光源をモニタしそれからt′−Δτ′遅延
して1χ2分周した周期の刺激を与えるように構成して
もよい。
Note that the above invention is not limited to the above example, and various modifications are possible. For example, in the above example, the stimulus generator is controlled using the clock signal generated by the timer, and the pulsed light source is driven by delaying the pulsed light source by the time Δτ′ using the variable delay circuit. It is sufficient to configure the structure to emit pulsed light delayed by time Δτ' from the stimulus, so in the case of a light source that emits pulsed light with period t' by self-oscillation, such as a mode-locked pulse laser, the light source is monitored and then It may be configured to provide stimulation with a period delayed by t'-Δτ' and divided by 1x2.

また、上記の例では、試料に刺激を与え、ある遅延時間
後に光を放射するたtパルス光源を設けたが、このよう
なパルス光源を設けず、第7図に示すようにラマン励起
パルスレーザを用いて試料を励起するように構成しても
よい。すなわち、第7図に示すように時分解FT−ラマ
ン装置に上記発明を適用する場合には、ラマン励起パル
スレーザ27と試料励起パルスレーザ28を用いる。そ
して、タイマ24、分周器25、可変型遅延回路26を
用いてタイマ24のクロック信号の1/2分周信号で試
料励起パルスレーザ28とロックインアンプ31を制御
し、タイマ24のクロック信号t′からΔτ′遅延させ
たタイミングでラマン励起パルスレーf27を制御する
。なお、この場合も第5図ら)の例と同様に試料励起パ
ルスレーザとロックインアンプをタイマのクロック信号
で制御し、倍周器と可変型遅延回路でタイマのクロック
信号を逓倍させ、Δτ′遅延させてラマン励起パルスレ
ーザを制御するように構成してもよい。
In addition, in the above example, a t-pulsed light source was provided to stimulate the sample and emit light after a certain delay time, but instead of providing such a pulsed light source, a Raman excitation pulsed laser was used as shown in FIG. The sample may be excited using the following. That is, when the above invention is applied to a time-resolved FT-Raman apparatus as shown in FIG. 7, a Raman excitation pulsed laser 27 and a sample excitation pulsed laser 28 are used. Then, using the timer 24, frequency divider 25, and variable delay circuit 26, the sample excitation pulse laser 28 and the lock-in amplifier 31 are controlled by the 1/2 frequency divided signal of the clock signal of the timer 24, and the clock signal of the timer 24 is The Raman excitation pulse ray f27 is controlled at a timing delayed by Δτ' from t'. In this case as well, the sample excitation pulsed laser and lock-in amplifier are controlled by the timer clock signal as in the example shown in Fig. 5, etc., and the timer clock signal is multiplied by the frequency multiplier and variable delay circuit. The Raman excitation pulse laser may be controlled with a delay.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

以上のような本出願人の提案に係る時間分解分光測定法
においては、刺激を与えた後の所定の遅延時間において
パルス光を試料に当てて差のインターフェログラムを測
定することはできるが、異なるいくつかの遅延時間にお
ける差のインターフェログラムを測定しようとする場合
、遅延回路6.26の遅延時間を変化させて同様の測定
を繰り返さなければならず、測定に非常に長い時間を要
する。
In the time-resolved spectrometry method proposed by the present applicant as described above, it is possible to measure the difference interferogram by applying pulsed light to the sample at a predetermined delay time after applying a stimulus. When attempting to measure the interferogram of the difference between several different delay times, it is necessary to repeat similar measurements by changing the delay time of the delay circuit 6.26, which takes a very long time.

本発明はこのような状況に鑑みてなされたものであり、
ラビッドスキャン干渉計とパルス光源を用いて刺激に対
して異なる複数の遅延時間における差のインタフェログ
ラムを同時に取得して、それらをフーリエ変換すること
により、刺激に対して繰り返し同じ応答を示す測定対象
の異なる遅延時間における通常状態との差のインターフ
ェログラムを取得し、フーリエ変換して反応過程におけ
る時系列スペクトルを同時に測定する時間分解分光測定
法を提供することである。
The present invention was made in view of this situation, and
By using a rapid scan interferometer and a pulsed light source to simultaneously obtain interferograms of the differences at multiple different delay times for a stimulus, and then Fourier transforming them, it is possible to detect a measurement target that repeatedly shows the same response to a stimulus. It is an object of the present invention to provide a time-resolved spectrometry method in which interferograms of the difference from the normal state at different delay times are obtained, Fourier transform is performed, and time-series spectra in the reaction process are simultaneously measured.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

上記目的を達成する本発明の時間分解分光測定法は、ラ
ビッドスキャン干渉計により、測定対象に刺激を与えた
ときの反応状態を時系列スペクトルで得る時間分解分光
測定法であって、測定対象に反応周期の2倍より長い周
期で刺激を繰り返し与えると共に、パルス光源により刺
激繰り返し周期の1/2の周期で刺激からの遅延時間を
制御して光を放射し、検知器出力より刺激繰り返し周波
数に乗った成分を抽出することによって、励起状態の試
料から得られるインタフェログラムと通常状態の試料か
ら得られるインタフェログラムの差のインタフェログラ
ムを取り出してサンプリングしフーリエ変換することに
より、遅延時間毎に各遅延時間での測定対象と通常状態
での測定対象との差スペクトルを得る時間分解分光測定
法において、前記パルス光源から刺激繰り返し周期の1
/2の周期当たり異なる複数の遅延時間で光を放射して
、各遅延時間毎の検出器出力信号を別々に取り出し、各
別々に取り出された信号から刺激繰り返し周波数に乗っ
た成分を抽出することによって、各遅延時間に対する差
のインタフェログラムを取得し、各差のインタフェログ
ラムをフーリエ変換することにより対応する遅延時間で
の測定対象と通常状態での測定対象との差スペクトルを
得ることによって、刺激に対して繰り返し同じ応答を示
す測定対象の複数の遅延時間における反応状態を同時に
測定することを特徴とする方法である。
The time-resolved spectrometry method of the present invention that achieves the above object is a time-resolved spectrometry method that uses a rapid scan interferometer to obtain a time-series spectrum of the reaction state when a stimulus is applied to the measurement object. The stimulus is repeatedly given at a cycle longer than twice the response cycle, and a pulsed light source is used to emit light by controlling the delay time from the stimulus at half the cycle of the stimulus repetition cycle, and the stimulus repetition frequency is determined from the detector output. By extracting the interferogram of the difference between the interferogram obtained from the sample in the excited state and the interferogram obtained from the sample in the normal state, the interferogram is sampled and Fourier transformed. In a time-resolved spectrometry method that obtains a difference spectrum between a measurement target in time and a measurement target in a normal state, the pulsed light source is
emitting light at a plurality of different delay times per period of /2, separately extracting the detector output signal for each delay time, and extracting a component riding on the stimulus repetition frequency from each separately extracted signal. By obtaining a difference interferogram for each delay time, and performing Fourier transform on each difference interferogram to obtain a difference spectrum between the measurement target at the corresponding delay time and the measurement target in the normal state, the stimulus This method is characterized by simultaneously measuring the reaction state of a measurement target that repeatedly shows the same response to a plurality of delay times.

〔作用〕[Effect]

本発明においては、パルス光源から刺激繰り返し周期の
1/2の周期当たり異なる複数の遅延時間で光を放射し
て、各遅延時間毎の検出器出力信号を別々に取り出し、
各別々に取り出された信号から刺激繰り返し周波数に乗
った成分を抽出することによって、各遅延時間に対する
差のインタフェログラムを取得し、各差のインタフェロ
グラムをフーリエ変換することにより対応する遅延時間
での測定対象と通常状態での測定対象との差スペクトル
を得ることによって、IPJ激に対して繰り返し同じ応
答を示す測定対象の複数の遅延時間における反応状態を
同時に測定するようになっているので、同じ試料に遅延
時間を変化させて同様の測定を繰り返し行う必要がなく
、試料に刺激を与えたときの異なる時間における過渡現
象を同時に短時間に測定することができる。
In the present invention, light is emitted from a pulsed light source at a plurality of different delay times per half of the stimulation repetition period, and a detector output signal for each delay time is separately extracted.
By extracting the component on the stimulus repetition frequency from each separately extracted signal, the interferogram of the difference for each delay time is obtained, and by Fourier transforming the interferogram of each difference, the interferogram of the difference at the corresponding delay time is obtained. By obtaining the difference spectrum between the measurement target and the measurement target in the normal state, it is possible to simultaneously measure the reaction state at multiple delay times of the measurement target that repeatedly shows the same response to IPJ stimulation. There is no need to repeat similar measurements by changing the delay time on the sample, and transient phenomena at different times when a stimulus is applied to the sample can be simultaneously measured in a short time.

〔実施例〕〔Example〕

次に、図面を参照にして本発明の時間分解分光測定法の
実施例について説明する。
Next, embodiments of the time-resolved spectrometry method of the present invention will be described with reference to the drawings.

本発明の基本的考え方は、第5図、第7図に示したよう
な装置において、パルス光源から刺激繰り返し周期の1
/2の周期当たり、ある遅延時間のパルスを1個放射さ
せる代わりに、異なる複数の遅延時間において複数のパ
ルスを重ねて放射さセ、一方、バンドパスフィルタ、ロ
ックインアンプ等からなるチャンネルを複数並列に設け
、各遅延時間毎のパルスに対応する検出器出力信号を各
チャンネルに振り分けて人力することにより、第5図、
第6図を参照にして説明した原理により、刺激を与えて
から異なる複数の遅延時間における差のインタフェログ
ラムを同時に取得して、それらをフーリエ変換すること
により、刺激に対して繰り返し同じ応答を示す測定対象
の反応過程における異なる時間のスペクトル状態を同時
に測定するものである。
The basic idea of the present invention is that in the apparatus shown in FIGS.
Instead of emitting one pulse with a certain delay time per period of /2, multiple pulses with different delay times are emitted overlappingly.On the other hand, multiple channels consisting of bandpass filters, lock-in amplifiers, etc. By installing them in parallel and manually distributing the detector output signals corresponding to the pulses for each delay time to each channel, the results shown in Fig. 5 are obtained.
Based on the principle explained with reference to Figure 6, by simultaneously acquiring interferograms of differences at multiple different delay times after applying a stimulus and performing Fourier transform on them, the same response to the stimulus is repeatedly shown. This method simultaneously measures the spectral states at different times during the reaction process of the measurement target.

第1図はこの時間分解分光測定法を実施するための装置
の基本的構成を示す図であり、試料3は、反応が刺激に
対して繰り返し同じ応答を示し、第2図(d)(第6図
(d)と同じ)に示すように反応周期τの測定対象であ
る。タイマ5は、第2図Q))(第6図ら)と同じ)に
示すように第2図(a)(第6図(a)と同じ)に示す
干渉計2の持つ基準信号とは非同期で反応周期τより長
い周期t′のクロック信号を発生するものである。この
クロック信号は分周器8により1/2に分周されて周期
2t′の信号になり、この信号に基づいて、刺激発生器
9は、試料3に第2図(C)に示すような刺激を与える
ものであり、この刺激は、干渉計2の持つ基準信号とは
非同期となる。この点までは第5図と同様である。一方
、タイマ5で生成された周期t′のクロック信号は複数
の並列に配置された遅延回路61.62.63・・・に
入力する。遅延回路61.62.63・・・はそれぞれ
異なる遅延時間Δτ1′、Δτ2′、Δτ3′・・・を
有し、刺激発生から遅延時間Δτ1′、Δτ2′、Δτ
3′・・・、及び、t’+Δτ1’、t’+Δτ2’、
t’+Δτ3′・・・後にトリガ信号を送るようになっ
ている。各遅延回路61.62.63・・・からのトリ
ガ信号はトリガ信号合成器31により合成されて、第2
図(b)に示す刺激を試料3に与えてから遅延時間Δτ
1′△τ2′、Δτ3′・・・、及び、t′+Δτ1′
t′+Δτ2’、t’+Δτ3′・・・後に光源用電源
7にトリガを与える。このトリガにより、第2図(e)
の波形のタイミングでパルス光源1を駆動するようにす
る。
FIG. 1 is a diagram showing the basic configuration of an apparatus for implementing this time-resolved spectrometry method. Sample 3 shows the same response repeatedly to the stimulus, and FIG. As shown in Figure 6 (d), the reaction period τ is the object of measurement. The timer 5 is asynchronous with the reference signal of the interferometer 2 shown in Fig. 2(a) (same as Fig. 6(a)), as shown in Fig. 2(Q)) (same as Fig. 6(a)). A clock signal with a period t' longer than the reaction period τ is generated. This clock signal is divided in half by the frequency divider 8 to become a signal with a period of 2t', and based on this signal, the stimulus generator 9 applies the signal to the sample 3 as shown in FIG. 2(C). This stimulus is asynchronous with the reference signal of the interferometer 2. Up to this point, it is similar to FIG. 5. On the other hand, the clock signal of period t' generated by the timer 5 is input to a plurality of delay circuits 61, 62, 63, . . . arranged in parallel. The delay circuits 61, 62, 63... each have different delay times Δτ1', Δτ2', Δτ3'...
3'..., and t'+Δτ1', t'+Δτ2',
t'+Δτ3'... A trigger signal is sent later. The trigger signals from each delay circuit 61, 62, 63... are combined by the trigger signal combiner 31, and the second
Delay time Δτ after applying the stimulus shown in figure (b) to sample 3
1'△τ2', Δτ3'..., and t'+Δτ1'
t'+Δτ2', t'+Δτ3'... Later, a trigger is given to the light source power supply 7. This trigger causes the
The pulse light source 1 is driven at the timing of the waveform.

上記のようにパルス光源1が第2図(e)に示すタイミ
ングで駆動されるため、検知器4には、第2図(f)に
示すように櫛状の信号が得られる。つまり、繰り返しの
刺激に対し、その刺激よりΔτ1′Δτ2′、Δτ3′
・・・、及び、t′+Δτ1′t′+Δτ2’、t’十
Δτ3′・・・の遅延時間でゲートをかけたときの検出
信号のみをサンプリングしたのと同じになり、櫛状のイ
ンタフェログラムが得られる。この櫛状の信号は、プリ
アンプ10を経て分配器32に入力する。分配器32に
は分配のためのタイミング信号として遅延回路61.6
2.63・・・の出力が接続されており、刺激からの遅
延時間Δτ1′、Δτ2′、Δτ3′・・・、及び、t
′+Δτ1’、t’ +Δτ2′、t′+Δτ3′・・
・に応じて検知器4からの櫛状の信号を次段に接続され
たバンドパスフィルタ111.112.113・・・に
振り分けるようになっている。したがって、各バンドパ
スフィルタ111.112.113・・・には第2図(
11〜3に実線で示すような横状の信号が入力し、第5
図と第6図の関連で述べたようにして、高調波と低周波
成分が除去され、周波数(1/2t“)で変調された各
差のインタフェログラムが得られ、次段に接続された各
ロックインアンプ121.122.123・・・により
周波数(1/2t’)の参照信号と同期をとることによ
り、遅延時間Δτ1′、Δτ2′、Δτ3′・・・にお
ける励起状態の試料から得られるインタフェログラムと
通常状態の試料から得られるインタフェログラムの差の
インタフェログラムを同時に取り出すことができる。そ
して、各差のインタフェログラムは第5[!Iと同様に
して各チャンネルに設けられたメインアンプ131.1
32.133・・・により増幅され、AD変換器141
.142.143・・・により、干渉計の基準信号の周
期tでサンプリングされて第6図(i)に示すようなデ
ジタル信号になり、CPU15に取り込まれてフーリエ
変換され、各遅延時間Δτ1′、△τ2′、Δτ3′・
・・における試料3の状態を表す差スペクトルが同時に
求められる。そのため、先に提案した方法に比較して測
定時間の短縮化を図ることができる。なお、以上の例は
、タイマ5で周期t′のクロック信号を発生し、これを
遅延回路61.62.63・・・に供給すると共に分周
器8で分周して周期2t’ の信号を刺激発生器9に供
給するように構成したが、第5図(b)に示すように、
タイマ5′で周期2t’のクロック信号を発生してこれ
を刺激発生器9に供給し、タイマ5′のクロック信号を
倍周器8′で2倍の周波数に逓倍して遅延回路61.6
2.63・・・に供給するように構成してもよい。
Since the pulse light source 1 is driven at the timing shown in FIG. 2(e) as described above, a comb-shaped signal is obtained on the detector 4 as shown in FIG. 2(f). In other words, for repeated stimuli, Δτ1′Δτ2′, Δτ3′
..., t' + Δτ1't' + Δτ2', t' + Δτ3'... This is the same as sampling only the detection signal when the gate is applied with a delay time of t' + Δτ3', and a comb-shaped interferogram. is obtained. This comb-shaped signal is input to the distributor 32 via the preamplifier 10. The distributor 32 includes a delay circuit 61.6 as a timing signal for distribution.
2. The outputs of 63... are connected, and the delay times from stimulation Δτ1', Δτ2', Δτ3'... and t
'+Δτ1', t'+Δτ2',t'+Δτ3'...
The comb-shaped signal from the detector 4 is distributed to the band-pass filters 111, 112, 113, etc. connected to the next stage according to the following. Therefore, each bandpass filter 111, 112, 113...
A horizontal signal as shown by the solid line is input to 11 to 3, and the 5th
As described in connection with Figure 6 and Figure 6, harmonics and low frequency components were removed, and an interferogram of each difference modulated at the frequency (1/2t'') was obtained, which was connected to the next stage. By synchronizing with the reference signal of frequency (1/2t') by each lock-in amplifier 121, 122, 123... The interferogram of the difference between the interferogram obtained from the sample in the normal state and the interferogram obtained from the sample in the normal state can be taken out at the same time.Then, the interferogram of each difference can be extracted from the main amplifier provided in the fifth [! 131.1
32, 133..., and the AD converter 141
.. 142, 143, etc., the reference signal of the interferometer is sampled at the period t to become a digital signal as shown in FIG. △τ2′, Δτ3′・
A difference spectrum representing the state of the sample 3 at ... is obtained at the same time. Therefore, the measurement time can be shortened compared to the previously proposed method. In the above example, the timer 5 generates a clock signal with a period t', this is supplied to the delay circuits 61, 62, 63, etc., and the frequency is divided by the frequency divider 8 to generate a signal with a period 2t'. was configured to supply the stimulus generator 9, but as shown in FIG. 5(b),
The timer 5' generates a clock signal with a period of 2t' and supplies it to the stimulus generator 9, and the clock signal of the timer 5' is doubled to twice the frequency by the frequency multiplier 8', which is then supplied to the delay circuit 61.6.
2.63... may be configured to be supplied.

次に、第3図に本発明の時間分解分光測定法を実施する
ための別の構成の装置を示す。第1図の場合との相違点
は、各チャンネルに対応して遅延時間の異なる複数の遅
延回路61.62.63・・・を用いる代わりに、タイ
マ5からの周期t′の繰り返しパルスを周期t’ /n
 (n : 2以上の整数)の繰り返しパルスに逓倍す
る逓倍パルス発生器33を用い、この逓倍された信号を
トリガとして光源用電源7に与え、また、この逓倍パル
ス発生器33からの逓倍パルスを刺激から位相(遅延時
間)がt’/n、2 t’ /n、3 t’ /n・・
・だけ異なる周期t′の繰り返しパルスに分配するパル
ス分配器34を用い、パルス分配器34により分配され
たパルスを分配器32のタイミング信号として印加する
点にある。第1図の場合は各チャンネルの遅延時間を任
意に設定できるが、この場合はt’/nの整数倍に制限
される点で異なるが、その他の動作は同じである。
Next, FIG. 3 shows an apparatus having another configuration for carrying out the time-resolved spectrometry method of the present invention. The difference from the case of FIG. 1 is that instead of using a plurality of delay circuits 61, 62, 63, etc. with different delay times corresponding to each channel, a repetitive pulse of period t' from the timer 5 is used. t'/n
A multiplication pulse generator 33 that multiplies the repeated pulses (n: an integer of 2 or more) is used, and this multiplied signal is applied to the light source power supply 7 as a trigger, and the multiplication pulse from the multiplication pulse generator 33 is The phase (delay time) from the stimulus is t'/n, 2 t'/n, 3 t'/n...
The present invention uses a pulse distributor 34 that distributes repetitive pulses with periods t' that differ by .times., and applies the pulses distributed by the pulse distributor 34 as a timing signal to the distributor 32. In the case of FIG. 1, the delay time of each channel can be set arbitrarily, but in this case, the delay time is limited to an integral multiple of t'/n, but the other operations are the same.

次に、第7図に示したようにラマン励起パルスレーザを
用いる場合に、同時に異なる複数の遅延時間におけるイ
ンタフェログラムを取得して、試料の反応過程における
異なる時間のスペクトル状態を測定するようにする例を
第4図に示す。この場合は、第1図に示す光源用電源7
に代えて、ラマン励起パルスレーザ27を用いる。そし
て、タイマ5で生成された周期t′のクロック信号を遅
延回路61.62.63・・・及びトリガ信号合成器3
1により刺激から遅延時間Δτ1′、Δτ2′Δτ3′
・・・のトリガに変換して、ラマン励起パルスレーザ2
7のパルス発振を制御すればよい。なお、この場合も、
第3図のように、遅延回路61.62.63・・・、ト
リガ信号合成器31を用いる代わりに、逓倍パルス発生
器33とパルス分配器34を用いるようにすることもで
きる。
Next, when using a Raman excitation pulsed laser as shown in Fig. 7, interferograms at multiple different delay times are obtained simultaneously to measure the spectral state at different times during the reaction process of the sample. An example is shown in FIG. In this case, the light source power supply 7 shown in FIG.
Instead, a Raman excitation pulse laser 27 is used. Then, the clock signal of period t' generated by the timer 5 is sent to the delay circuits 61, 62, 63... and the trigger signal synthesizer 3.
1, the delay time from stimulation Δτ1′, Δτ2′Δτ3′
Convert the trigger to the Raman excitation pulse laser 2
It is sufficient to control the pulse oscillation of 7. In addition, in this case as well,
As shown in FIG. 3, instead of using the delay circuits 61, 62, 63, . . . and the trigger signal synthesizer 31, a multiplication pulse generator 33 and a pulse distributor 34 may be used.

なお、上記以外に、本発明の分光測定法を実施するため
の装置は種々変形が可能である。例えば、光源として例
えばSOR放射のような自励発光光源を用い、その信号
を元にパルス信号を分配するようにしてもよい。本発明
の分光測定法を実施するための装置において重要なこと
は、各チャンネルに別々のバンドパスフィルタ11L1
12.113・・・とロックインアンプ121.122
.123・・・を設けることであり、その他は種々変形
が可能である。したがって、以上の装置の配置は単なる
例示のためであり、本発明を限定するものではない。
In addition to the above, various modifications can be made to the apparatus for carrying out the spectroscopic measurement method of the present invention. For example, a self-excited light source such as SOR radiation may be used as the light source, and pulse signals may be distributed based on the signal. What is important in the apparatus for carrying out the spectroscopic measurement method of the present invention is that each channel is provided with a separate bandpass filter 11L1.
12.113... and lock-in amplifier 121.122
.. 123..., and various other modifications are possible. Accordingly, the above arrangement of devices is merely illustrative and is not intended to limit the invention.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明の時間分解分光測定法によると、パルス光源から
刺激繰り返し周期の1/2の周期当たり異なる複数の遅
延時間で光を放射して、各遅延時間毎の検出器出力信号
を別々に取り出し、各別々に取り出された信号から東j
j激繰り返し周波数に乗った成分を抽出することによっ
て、各遅延時間に対する差のインタフェログラムを取得
し、各差のインタフェログラムをフーリエ変換すること
により対応する遅延時間での測定対象と通常状態での測
定対象との差スペクトルを得ることによって、刺激に対
して繰り返し同じ応答を示す測定対象の複数の遅延時間
における反応状態を同時に測定するようになっているの
で、同じ試料に遅延時間を変化させて同様の測定を繰り
返し行う必要がなく、試料に刺激を与えたときの異なる
時間における過渡現象を同時に短時間に測定することが
できる。
According to the time-resolved spectrometry method of the present invention, light is emitted from a pulsed light source at a plurality of different delay times per half of the stimulation repetition period, and a detector output signal for each delay time is separately extracted. East j from each separately extracted signal
By extracting the component that rides on the high repetition frequency, an interferogram of the difference for each delay time is obtained, and by Fourier transforming the interferogram of each difference, it is possible to calculate the difference between the measurement target at the corresponding delay time and the normal state. By obtaining the difference spectrum from the measurement target, it is possible to simultaneously measure the reaction state at multiple delay times of the measurement target that repeatedly shows the same response to a stimulus. There is no need to repeat similar measurements, and transient phenomena at different times when a sample is stimulated can be simultaneously measured in a short time.

しかも、その前提となる方法の差測定法のメリットも存
している。
Furthermore, there are advantages to the difference measurement method, which is the premise of this method.

また、本発明の方法は、その前提となる時間分解分光方
法と同様、光源としてパルス光源を用いるので、試料に
光を照射する時間を短くすることができ、応用の対象が
広がり、しかも、刺激を干渉計の持つ基準信号と非同期
で与えることができるので、刺激に対する制約が少なく
なり、また、速い反応には、刺激周波数を上げることが
できるので、測定効率の向上を計ることができ、さらに
は、一般に普及しているラビッドスキャン干渉計を持っ
た装置に刺激発生装置、遅延回路、ノくンドパスフィル
タ、ロックインアンプ等を加えることにより、データサ
ンプリング回路やデータ編集ソフト等のFT−IRの持
つシステムの大幅な変更を必要とせず実施できるメリッ
トがある。
In addition, since the method of the present invention uses a pulsed light source as a light source, similar to the time-resolved spectroscopy method on which it is based, it is possible to shorten the time for irradiating the sample with light, broadening the range of applications, and stimulating can be applied asynchronously with the reference signal of the interferometer, reducing restrictions on stimulation.Also, for faster responses, the stimulation frequency can be increased, improving measurement efficiency. By adding a stimulus generator, a delay circuit, a passive pass filter, a lock-in amplifier, etc. to a commonly used device equipped with a rapid scan interferometer, FT-IR such as a data sampling circuit and data editing software can be realized. It has the advantage of being able to be implemented without requiring major changes to the system.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の時間分解分光測定法を実施するための
装置の基本的構成を示す図、第2図は第1図の装置の動
作を説明するための波形図、第3図、第4図は本発明の
時間分解分光測定法を実施するための別の装置の構成を
示す図、第5図は本発明の前提の時間分解分光測定法を
実施するための装置の構成を示す図、第6図は第5図の
装置の動作を説明するための波形図、第7図は本発明の
前提の時間分解分光測定法を実施するための別の装置の
構成を示す図である。 1・・・パルス光源、2・・・干渉計、3・・・試料、
4・・・検知器、5と5′・・・タイマ、6・・・可変
型遅延回路、7・・・光源用電源、8・・・分周器、8
′・・・倍周器、9・・・刺激発生器、10・・・プリ
アンプ、11.111.112.113・・・バンドパ
スフィルタ、12.121.122.123・・・ロッ
クインアンプ、13.131.132.133・・・メ
インアンプ、14.141.142.143・・・AD
変換器、15・・・CPU、27・・・ラマン励起パル
スレーザ、28・・・試料励起パルスレーザ、31・・
・トリガ信号合成器、32・・・分配器、33・・・逓
倍パルス発生器、34・・パルス分配器、61.62.
63・・・遅延回路弊 π 瞥 4 巻 夜
FIG. 1 is a diagram showing the basic configuration of an apparatus for carrying out the time-resolved spectrometry method of the present invention, FIG. 2 is a waveform diagram for explaining the operation of the apparatus shown in FIG. 1, and FIGS. FIG. 4 is a diagram showing the configuration of another apparatus for implementing the time-resolved spectrometry method of the present invention, and FIG. 5 is a diagram showing the configuration of an apparatus for implementing the time-resolved spectrometry method based on the premise of the present invention. , FIG. 6 is a waveform diagram for explaining the operation of the apparatus shown in FIG. 5, and FIG. 7 is a diagram showing the configuration of another apparatus for carrying out the time-resolved spectrometry method based on the premise of the present invention. 1... Pulse light source, 2... Interferometer, 3... Sample,
4...Detector, 5 and 5'...Timer, 6...Variable delay circuit, 7...Power source for light source, 8...Frequency divider, 8
'... Frequency multiplier, 9... Stimulus generator, 10... Preamplifier, 11.111.112.113... Band pass filter, 12.121.122.123... Lock-in amplifier, 13.131.132.133... Main amplifier, 14.141.142.143... AD
Converter, 15... CPU, 27... Raman excitation pulse laser, 28... Sample excitation pulse laser, 31...
- Trigger signal synthesizer, 32... Distributor, 33... Multiplying pulse generator, 34... Pulse distributor, 61.62.
63...Delay circuit evil π glimpse 4th volume night

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)ラピッドスキャン干渉計により、測定対象に刺激
を与えたときの反応状態を時系列スペクトルで得る時間
分解分光測定法であって、測定対象に反応周期の2倍よ
り長い周期で刺激を繰り返し与えると共に、パルス光源
により刺激繰り返し周期の1/2の周期で刺激からの遅
延時間を制御して光を放射し、検知器出力より刺激繰り
返し周波数に乗った成分を抽出することによって、励起
状態の試料から得られるインタフェログラムと通常状態
の試料から得られるインタフェログラムの差のインタフ
ェログラムを取り出してサンプリングしフーリエ変換す
ることにより、遅延時間毎に各遅延時間での測定対象と
通常状態での測定対象との差スペクトルを得る時間分解
分光測定法において、前記パルス光源から刺激繰り返し
周期の1/2の周期当たり異なる複数の遅延時間で光を
放射して、各遅延時間毎の検出器出力信号を別々に取り
出し、各別々に取り出された信号から刺激繰り返し周波
数に乗った成分を抽出することによって、各遅延時間に
対する差のインタフェログラムを取得し、各差のインタ
フェログラムをフーリエ変換することにより対応する遅
延時間での測定対象と通常状態での測定対象との差スペ
クトルを得ることによって、刺激に対して繰り返し同じ
応答を示す測定対象の複数の遅延時間における反応状態
を同時に測定することを特徴とする時間分解分光測定法
(1) A time-resolved spectrometry method that uses a rapid scan interferometer to obtain a time-series spectrum of the reaction state when a stimulus is applied to a measurement target, in which the stimulus is repeatedly applied to the measurement target at a cycle longer than twice the response period. At the same time, the pulsed light source emits light by controlling the delay time from stimulation at a period of 1/2 of the stimulation repetition period, and the component at the stimulation repetition frequency is extracted from the detector output, thereby detecting the excited state. By extracting the interferogram that is the difference between the interferogram obtained from the sample and the interferogram obtained from the sample in the normal state, sampling it, and Fourier transforming it, the measurement target at each delay time and the measurement target in the normal state are determined for each delay time. In the time-resolved spectrometry method that obtains the difference spectrum between the pulsed light source and the pulsed light source, light is emitted from the pulsed light source at a plurality of different delay times per half of the stimulation repetition period, and the detector output signal for each delay time is separately obtained. The difference interferogram for each delay time is obtained by extracting the component on the stimulus repetition frequency from each separately extracted signal, and the corresponding delay is obtained by Fourier transforming each difference interferogram. Time characterized by simultaneously measuring the reaction state at multiple delay times of a measurement target that repeatedly shows the same response to a stimulus by obtaining a difference spectrum between the measurement target in time and the measurement target in a normal state. Resolved spectroscopy.
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