JPH03279825A - Fourier transforming spectral method using pulse light source - Google Patents

Fourier transforming spectral method using pulse light source

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JPH03279825A
JPH03279825A JP8212690A JP8212690A JPH03279825A JP H03279825 A JPH03279825 A JP H03279825A JP 8212690 A JP8212690 A JP 8212690A JP 8212690 A JP8212690 A JP 8212690A JP H03279825 A JPH03279825 A JP H03279825A
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Abstract

PURPOSE:To expand a light source and a measurement object range by using the pulse light source as a light source, emitting pulses whose period is shorter than a sampling period and extracting an interferogram of a low-frequency component from the output of a detector, and sampling and processing it by Fourier transformation. CONSTITUTION:The period t' of the pulse light emitted by the period pulse light source 1 is shorter than the period (t) of a trigger signal generated by an interferometer according to a sampling rule, so the output of an interferometer, i.e. detector 5 is obtained by sampling a conventional interferogram at the period t'. Further, a low-pass filter 7 obtains an interferometer which is the envelope of the output of the detector 5. Then the light source 1 and filter 7 are combined to sample the interferogram by an AD converter 8 with the trigger signal which has the period (t) and this is processed by Fourier transformation to obtain a target analyzed spectrum.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、干渉計を用いてインタフェログラムを取り出
しフーリエ変換して試料の分析スペクトルを得るパルス
光源を用いたフーリエ変換分光法に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention relates to Fourier transform spectroscopy using a pulsed light source to extract an interferogram using an interferometer and perform Fourier transform to obtain an analytical spectrum of a sample.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

第3図はフーリエ変換光分光法の従来例を説明するため
の図、第4図は第3図に示す回路の信号波形を示す図で
ある。
FIG. 3 is a diagram for explaining a conventional example of Fourier transform optical spectroscopy, and FIG. 4 is a diagram showing signal waveforms of the circuit shown in FIG. 3.

マイケルソン干渉計で代表されるラピッドスキャン方式
のフーリエ変換光分光法では、第3図に示すように半透
鏡2、固定鏡3、移動鏡4からなる二光東干渉計、光源
1′、及び検知器5が用いられる。そして、二光東干渉
計の半透鏡2で光源1′からの光を2光束に分け、一方
を固定鏡3側に、他方を定速移動する移動鏡4側に導き
、検知器5でそれらの光路差によるインタフェログラム
(第4図Q)))を検出している。このインタフェログ
ラムは、AD変換器8で第2図(C)に示すような干渉
計により作られる周期tのトリガ信号を用いて同図(d
)に示すようにサンプリングされ、それがCPU9でフ
ーリエ変換され分析スペクトルが得られる。なお、ここ
で試料は直接関係巳ないので省略する。
In the rapid scan Fourier transform optical spectroscopy represented by the Michelson interferometer, as shown in FIG. A detector 5 is used. Then, the light from the light source 1' is divided into two beams by the semi-transparent mirror 2 of the two-light East interferometer, and one is guided to the fixed mirror 3 side and the other to the movable mirror 4 side that moves at a constant speed. The interferogram (Fig. 4 Q)) is detected due to the optical path difference. This interferogram is generated by using a trigger signal with a period t generated by an interferometer as shown in FIG. 2(C) in the AD converter 8.
) is sampled as shown in FIG. 9, and is subjected to Fourier transformation by the CPU 9 to obtain an analysis spectrum. Note that the sample is not directly relevant here, so it will be omitted.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上記ラピッドスキャン方式のフーリエ変換光分先決では
、光源の強度が一定で時間的に連続な光を条件としてき
た。すなわち、光源1′は、第2図(a)に示すように
強度が一定の時間的に連続な光を放出するものであり、
干渉計に入射した光は、移動鏡4が一定速度で移動する
ことで光の波数に比例した周波数に変調され、検知器に
受光されるようになっている。
In the above-mentioned rapid scan method, the Fourier transform light distribution is based on the condition that the intensity of the light source is constant and the light is continuous in time. That is, the light source 1' emits temporally continuous light with constant intensity as shown in FIG. 2(a),
The light incident on the interferometer is modulated into a frequency proportional to the wave number of the light by moving the movable mirror 4 at a constant speed, and is received by the detector.

そのだと、使用する光源が制約され、また、光が連続照
射されることから、試料としても対象が連続照射に影響
されないものに限られてしまうという問題がある。
In this case, there is a problem that the light source to be used is restricted, and since the light is continuously irradiated, the sample is limited to those that are not affected by continuous irradiation.

本発明は、上記の課題を解決するものであって、光源及
び測定対象を広げることができるパルス光源を用いたフ
ーリエ変換分光法を提供することを目的とするものであ
る。
The present invention solves the above-mentioned problems, and aims to provide a Fourier transform spectroscopy method using a pulsed light source that can expand the range of light sources and measurement targets.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

そのために本発明は、干渉計を用いてインタフェログラ
ムを取り出しフーリエ変換して試料の分析スペクトルを
得るフーリエ変換分光法において、光源としてパルス光
源を用い、サンプリング周期より短い周期のパルス光を
放射して検知器出力から低周波成分のインタフェログラ
ムを取り出しサンプリングしてフーリエ変換することに
より、試料の分析スペクトルを得ることを特徴とするも
のである。
To this end, the present invention uses a pulsed light source as a light source and emits pulsed light with a period shorter than the sampling period in Fourier transform spectroscopy in which an interferogram is taken out using an interferometer and subjected to Fourier transformation to obtain an analysis spectrum of the sample. This method is characterized by obtaining the analysis spectrum of the sample by extracting the interferogram of low frequency components from the detector output, sampling it, and Fourier transforming it.

(作用〕 本発明のパルス光源を用いたフーリエ変換分光法では、
光源としてパルス光源を用い、サンプリング周期より短
い周期のパルス光を放射するので、検知器出力からロー
パスフィルタを通すことにより低周波成分のインタフェ
ログラムを取り出すことができ、それをAD変換器で従
来と同様にサンプリングしてフーリエ変換することによ
り試料の分析スペクトルを得ることができる。
(Function) In the Fourier transform spectroscopy using the pulsed light source of the present invention,
Since a pulsed light source is used as the light source and emits pulsed light with a period shorter than the sampling period, an interferogram of low frequency components can be extracted from the detector output by passing it through a low-pass filter. Similarly, an analysis spectrum of a sample can be obtained by sampling and Fourier transform.

〔実施例〕〔Example〕

以下、図面を参照しつつ実施例を説明する。 Examples will be described below with reference to the drawings.

第1図は本発明に係るパルス光源を用いたフーリエ変換
分光法の1実施例を説明するだめの図、第2図は第1図
における主要部の信号波形を示す図である。図中、1は
周期パルス光源、2は半透鏡、3は固定鏡、4は移動鏡
、5は検知器、6はアンプ、7はローパスフィルタ、8
はAD変換器を示す。
FIG. 1 is a diagram for explaining one embodiment of Fourier transform spectroscopy using a pulsed light source according to the present invention, and FIG. 2 is a diagram showing signal waveforms of the main parts in FIG. 1. In the figure, 1 is a periodic pulse light source, 2 is a semi-transparent mirror, 3 is a fixed mirror, 4 is a movable mirror, 5 is a detector, 6 is an amplifier, 7 is a low-pass filter, 8
indicates an AD converter.

周期パルス光源1は、強度の等しい周期t′のパルス光
を放射するものであり、周期t′は、第2図(a)、(
d)に示すようにサンプリング則より干渉計で作られる
トリガの周期tよりも短いものである。したがって、干
渉計の出力、すなわち検知器5の出力は、第21K(b
)に示すように従来のインタフェログラムを周期t′で
サンプリングした形になる。ローパスフィルタ7は、第
2図(C)に示すような検知器5の出力の包絡線である
インタフェログラムを得るものである。このように周期
パルス光源1とローパスフィルタ7を組み合わせること
によりAD変換器8では、従来と同様に第2図(d)に
示す周期tのトリガ信号でインタフェログラムを第21
1K(e)に示すようにサンプリングすることができ、
これをフーリエ変換することにより目的とする分析スペ
クトルを得ることができる。
The periodic pulse light source 1 emits pulsed light of equal intensity with a period t', and the period t' is as shown in FIG. 2(a), (
As shown in d), it is shorter than the period t of the trigger produced by the interferometer according to the sampling law. Therefore, the output of the interferometer, that is, the output of the detector 5 is the 21K(b
), the conventional interferogram is sampled at a period t'. The low-pass filter 7 obtains an interferogram, which is an envelope of the output of the detector 5, as shown in FIG. 2(C). By combining the periodic pulse light source 1 and the low-pass filter 7 in this way, the AD converter 8 can convert the interferogram to the 21st one using the trigger signal with the period t shown in FIG.
1K(e) can be sampled as shown in
By Fourier transforming this, a target analysis spectrum can be obtained.

なお、周期パルス光源としては、S OR(S ync
hrotron  Orbital  Radiati
on)光源やノ旬レスレーザ励起ラマン試料等を用いて
もよい。また、光源の強度が変動する場合には、その強
度をモニタして検知器出力を規格化すればよい。
Note that as a periodic pulse light source, SOR (S ync
hrotron Orbital Radiati
(on) A light source, a laser-excited Raman sample, etc. may be used. Furthermore, if the intensity of the light source fluctuates, the intensity may be monitored to standardize the detector output.

次に、本発明の応用例について説明する。Next, an application example of the present invention will be explained.

第5図は時分解分光法の従来例を説明するための図であ
る。
FIG. 5 is a diagram for explaining a conventional example of time-resolved spectroscopy.

サンプルに電気やレーザその他の手段により周期的に刺
激を与え、その刺激から復帰する過程において、サンプ
ルの反応状態を測定しようという要求は、例えば液晶の
特性の評価、その他のし)ろいろな分野にあり、測定方
法として、FT−IR(フーリエ変換赤外分光光度計)
を用いた時分解分光法がある。この方法は、ラビッドス
キャン干渉計を用いるものと、ステップスキャン干渉計
を用いるものに分類でき、広い波数域を高いSN比で測
定できるたt、従来から広く利用されている。
The need to periodically apply stimulation to a sample using electricity, laser, or other means and measure the reaction state of the sample during the process of recovery from the stimulation is used in a variety of fields, such as the evaluation of liquid crystal properties. The measurement method is FT-IR (Fourier transform infrared spectrophotometer).
There is a time-resolved spectroscopy method using This method can be classified into those using a rapid scan interferometer and those using a step scan interferometer, and has been widely used in the past because it can measure a wide wave number range with a high signal-to-noise ratio.

FT−I Rのインタフェログラムは、その測定中にお
いてサンプルの透過率等の特性が一定でなければフヨら
ないという条件があり、サンプルの特性が変わってしま
うと、それをフーリエ変換した場合、本来の情報と違う
情報が出てしまう。また、時分解分光法において、与え
る刺激の周期は、反応が終わってしまう時間より一般に
長いことが条件である。そして、周期的な刺激を与える
場合、移動鏡の移動と無関係に刺激を与えると、その整
合を採ることが必要になる。そこで、従来は、干渉計の
持つ基準信号に同期して刺激を与えるようにしている。
The FT-IR interferogram has a condition that it will not distort unless the characteristics such as the transmittance of the sample are constant during the measurement. Information that is different from the information that appears will appear. In addition, in time-resolved spectroscopy, the period of the applied stimulus is generally required to be longer than the time at which the reaction ends. When applying periodic stimulation, it is necessary to match the stimulation if the stimulation is applied regardless of the movement of the movable mirror. Therefore, conventionally, stimulation is applied in synchronization with a reference signal possessed by an interferometer.

ラピッドスキャン干渉計を用いるものでは、上記のよう
に干渉計の持つ基準信号に同期して刺激を与えインタフ
ェログラムを採ることから、対象の反応周期の長さによ
って、次の3つの場合に分けることができる。
With rapid scan interferometers, as mentioned above, stimulation is applied in synchronization with the reference signal of the interferometer and interferograms are taken, so the following three cases can be divided depending on the length of the target's response cycle: I can do it.

■ 刺激に対する応答が非常に遅い場合すなわち測定対
象の反応又はそれに類する状態の変化の周期τが第5図
(a)に示すように移動鏡のスキャン時間T(干渉計で
得られるインタフェログラム全体を1回測定する時間)
より長い(τ〉T)場合 ■ 刺激に対する応答が比較的遅い場合すなわち、測定
対象の反応又はそれに類する状態の変化の周期τが第5
図ら)に示すようにインタフェログラムを形成する魚群
の各点を測定する時間間隔(サンプリング間隔)tより
長い(1<τ<T)場合 ■ 刺激に対する応答が非常に速い場合すなわち、第5
図(C)に示すようにτくtの場合例えば上記■の場合
には、移動鏡のスキャン時間Tより対象の反応周期τが
長いので、第5図(a)に示すように移動鏡のスキャン
を速くすると、与えた刺激の成る遅れのところでインタ
フェログラムが取れてしまうので、これをフーリエ変換
することによって目的とする成る状態のスペクトルを得
ることができる。
■ If the response to the stimulus is very slow, that is, the period τ of the reaction of the object to be measured or a change in a similar state is time for one measurement)
If longer (τ>T) ■ If the response to the stimulus is relatively slow, that is, the period τ of the response to be measured or a similar state change is the fifth
When the time interval (sampling interval) for measuring each point of a school of fish that forms an interferogram is longer than t (1<τ<T), as shown in Fig.
As shown in Figure 5(C), in the case of τ x t, for example, in the case of (■) above, the reaction period τ of the object is longer than the scanning time T of the moving mirror, so as shown in Figure 5(a), If the scanning speed is increased, an interferogram will be obtained at a time when the applied stimulus is delayed, so by Fourier transforming this interferogram, the spectrum of the desired state can be obtained.

しかし、■の場合には、反応時間が短くなっているので
、第5図ら)に示すように複数回のスキャンを行って1
回目の干渉計のスキャン、2回目の干渉計のスキャン、
・・・・・・で刺激を与えるタイミングを干渉計の持つ
基準信号の周期tずつずらして測定を行い、各スキャン
で同じ遅延時間のデータ■、■、・・・・・・を識別編
集してインタフェログラムにすることによって成る状態
のスペクトルを取りaすことになる。
However, in the case of ■, the reaction time is short, so multiple scans are performed as shown in Figure 5, etc.
Second interferometer scan, second interferometer scan,
Measurement is performed by shifting the stimulation timing by the period t of the reference signal of the interferometer, and in each scan, the data with the same delay time ■, ■, etc. are identified and edited. By creating an interferogram, we obtain the spectrum of the state a.

そして、■の場合には、サンプリング周期tに反応周期
Tが入ってしまうので、第5図(C)に示すように干渉
計の基準信号に同期させて繰り返し刺激を与え、一定の
遅延時間Δτで測定を行い、同じ遅延時間のデータを編
集してインタフェログラムにすることによって成る状態
のスペクトルを取り出すことになる。
In the case of ■, since the reaction period T is included in the sampling period t, stimulation is repeatedly applied in synchronization with the reference signal of the interferometer as shown in FIG. 5(C), and a constant delay time Δτ The state spectrum is obtained by performing measurements at , and editing the data with the same delay time to create an interferogram.

しかし、特に上記■の場合には、干渉計の持つ基準信号
との同期が必要であると共に、非常に速い測定が必要で
ある。例えばサンプリング周期tが100μsで100
点の測定を行おうとすると、1μsの時間で測定を繰り
返すことになり、移動鏡の1回のスキャンで非常に大容
量のデータを取り込み処理しなければならなくなる。し
かも、測定後に各データを識別して同じ遅延時間のデー
タを編集しなければならない。そうすると、FTIRと
しては、高速のサンプリング機構やデータ編集機能等、
従来備えていない機能を付加しなければならなくなる。
However, especially in the case (2) above, synchronization with the reference signal of the interferometer is required, and extremely fast measurement is required. For example, if the sampling period t is 100 μs, 100
If a point is to be measured, the measurement must be repeated every 1 μs, and a very large amount of data must be captured and processed in one scan of the movable mirror. Moreover, after measurement, each data must be identified and data with the same delay time must be edited. In this case, FTIR has a high-speed sampling mechanism, data editing function, etc.
It becomes necessary to add functions that were not previously provided.

また、反応周期がサンプリング時間より短くなると、反
応終了後、次のサンプリングまで無駄時間が生じ、測定
効率が悪くなるという問題がある。
Furthermore, if the reaction period is shorter than the sampling time, there is a problem that dead time is generated until the next sampling after the reaction is completed, resulting in poor measurement efficiency.

さらに、上記の例の場合には、干渉計の持つ基準信号と
同期して11111mを与えているが、このような同期
をとることが難しく、自然に周期的な刺激が励起される
ものの場合には、上記の方法では測定ができないという
問題がある。
Furthermore, in the case of the above example, 11111m is given in synchronization with the reference signal of the interferometer, but it is difficult to achieve such synchronization, and in cases where periodic stimulation is naturally excited. has the problem that it cannot be measured using the above method.

そこで、本発明のパルス光源を用いたフーリエ変換分光
法を用いると、次のようにして上記の問題を解決するこ
とができる。
Therefore, by using the Fourier transform spectroscopy using the pulsed light source of the present invention, the above problem can be solved as follows.

第6図は本発明を適用した時分解分光測定装置の1実施
例構成を示す図、第7図は第6図に示す時分解分光測定
装置の動作を説明するための波形図である。図中、11
はパルス光源、12は干渉計、13は試料、14は検知
器、15はタイマ、16は可変型遅延回路、17は光源
用電源、18は刺激発生器、19はプリアンプ、20は
ローパスフィルタ、21はメインアンプ、22はAD変
換器、23はCPUを示す。
FIG. 6 is a diagram showing the configuration of one embodiment of a time-resolved spectrometer to which the present invention is applied, and FIG. 7 is a waveform diagram for explaining the operation of the time-resolved spectrometer shown in FIG. 6. In the figure, 11
is a pulsed light source, 12 is an interferometer, 13 is a sample, 14 is a detector, 15 is a timer, 16 is a variable delay circuit, 17 is a power source for the light source, 18 is a stimulus generator, 19 is a preamplifier, 20 is a low-pass filter, 21 is a main amplifier, 22 is an AD converter, and 23 is a CPU.

第6図において、試料13は、反応が刺激に対して繰り
返し同じ応答を示し、第7図(C)に示すように反応周
期τの測定対象であり、反応周期τがインタフェログラ
ムの各点のサンプリング間隔tより短いものである。タ
イマ15は、第7図ら)に示すように第7図(a)に示
す干渉計12の持つ基準信号とは非同期で反応周期τよ
り長い周期t′のクロック信号を発生するものである。
In FIG. 6, sample 13 repeatedly shows the same response to the stimulus, and is the object of measurement for the response period τ as shown in FIG. This is shorter than the sampling interval t. As shown in FIGS. 7 and 7, the timer 15 generates a clock signal having a period t' which is asynchronous with the reference signal of the interferometer 12 shown in FIG. 7(a) and which is longer than the reaction period τ.

刺激発生器18は、タイマ15で生成されたクロック信
号に基づいて試料13に第7図ら)に示すようなトリガ
(刺激)を与えるものであり、このトリガは、干渉計1
2の持つ基準信号とは非同期となる。可変型遅延回路1
6は、タイマ15のタロツク信号から一定時間Δτ′だ
け遅延したトリガを生成するものであり、光源用電源1
7は、このトリガにより第7図[d)に示すようなタイ
ミングでパルス光源11を駆動するものである。
The stimulus generator 18 gives a trigger (stimulus) to the sample 13 as shown in FIG.
It is asynchronous with the reference signal of No.2. Variable delay circuit 1
6 generates a trigger delayed by a certain time Δτ' from the tarok signal of the timer 15, and the light source power supply 1
Reference numeral 7 is for driving the pulse light source 11 at the timing shown in FIG. 7 [d] using this trigger.

上記のようにパルス光源11が第7図(d)に示すタイ
ミングで駆動されるため、検知器14には、同図(e)
に示すように櫛状の信号が得られる。つまり、繰り返し
の刺激に対し、その刺激よりある遅延時間でゲートをか
け刺激に対して一定の遅延時間の信号のみをサンプリン
グしたのと同じになり、櫛状のインタフェログラムが得
られる。ローパスフィルタ20は、この検知器14の出
力から得られる高調波を除去して第7図(f)に示すよ
うな包絡線を得るために用いるものであり、この結果、
櫛状のインタフェログラムは、ローパスフィルタ20に
より通常のアナログ信号に変換される。
Since the pulsed light source 11 is driven at the timing shown in FIG. 7(d) as described above, the detector 14 has the timing shown in FIG.
A comb-shaped signal is obtained as shown in . In other words, this is the same as applying a gate with a certain delay time from the stimulus to a repeated stimulus and sampling only the signal with a certain delay time relative to the stimulus, and a comb-shaped interferogram is obtained. The low-pass filter 20 is used to remove harmonics obtained from the output of the detector 14 to obtain an envelope as shown in FIG. 7(f).
The comb-shaped interferogram is converted into a normal analog signal by a low-pass filter 20.

上記の構成によれば、試料13が変化しないときの検知
器14の出力は、 (σ;波数−1/λ)   ・・・・・・(1)となる
が、試料13に刺激が与えられると、一定の遅れ△τ′
でゲートされたときの検知器16の出力は、等間隔にサ
ンプリングするので、デルタ関数を等間隔にしたコム関
数■、・を含み、(1+cos2πσx)dσ ・・・
・・・(2)となる。ここで、干渉計の移動鏡の速度を
Vとすると、x=2vtであるが、周期的に与える刺激
が移動鏡との移動と非同期であるので位相関係はない。
According to the above configuration, the output of the detector 14 when the sample 13 does not change is (σ; wave number - 1/λ) (1), but when the sample 13 is stimulated and a constant delay △τ′
Since the output of the detector 16 is sampled at equal intervals, the output of the detector 16 when gated at , includes the comb function ■, · which is a delta function at equal intervals, and (1+cos2πσx)dσ...
...(2). Here, if the speed of the movable mirror of the interferometer is V, then x=2vt, but there is no phase relationship because the periodic stimulation is asynchronous with the movement of the movable mirror.

上記(2)式の(1’−、C092πσX)において、
cos 2πσXのかかっている項だけがスペクトルに
変換できるので、この項のみを抜き出すと、その出力は
、 F″fX) −LIJ j・(t−△τ°)となる。そ
こで、この信号をローパスフィルタ20に通したときに
得られる出力を見るため、IP、・(t−△τ゛) をtでフーリエ変換すると、 = e −’ ”f′” (1/ t’ )[14ry
t・(f)   ”・・”(3)=1/l’ [δ(O
+δ(f−1/l’)  e−”’テ+・・・・・・+
δ(f+1/l’)  e”>7”+、、。
In (1'-, C092πσX) of the above formula (2),
Only the term multiplied by cos 2πσX can be converted into a spectrum, so if only this term is extracted, the output will be F″fX) −LIJ j・(t−△τ°). Therefore, this signal is low-pass In order to see the output obtained when passing through the filter 20, we perform a Fourier transform on IP, ・(t-△τ゛) at t, and we get = e −'"f'" (1/ t') [14ry
t・(f) ”・・”(3)=1/l' [δ(O
+δ(f-1/l') e-"'te+...+
δ(f+1/l') e">7"+,.

となり、 同じくコム関数になる。しかも、サンプリングした間隔
の逆数の間隔で出る。したがって、ローパスフィルタ2
0を通すと、 ・・・・・・(4) となり、これが出力として得られる。この(4)式を上
記の〔1ン式と比較すると、F”(X)の式は、刺激を
与えてから△τ゛だけ遅延した時の試料の状態のインタ
フェログラムを得たことを示している。したがって、信
号の持つ?J!i数帯域で決まるサンプリング間隔でA
D変換すればよい。
, which is also a comb function. Furthermore, the data is output at an interval that is the reciprocal of the sampling interval. Therefore, low pass filter 2
When 0 is passed through, ...(4) is obtained, and this is obtained as the output. Comparing this equation (4) with the above [1] equation, the equation F''(X) shows that we have obtained an interferogram of the state of the sample when there is a delay of △τ'' after applying the stimulus. Therefore, at the sampling interval determined by the ?J!i number band of the signal,
All you need to do is D conversion.

上記の例では、タイマで発生したクロック信号を用し)
で刺激発生器を制御すると共に、可変型遅延回路で時間
△τ′だけ遅延させてパルス光源を駆動するように構成
したが、自己発振で周期t′のパルス光を放射する光源
、例えばモードロックパルスレーザを用いた場合には、
光源をモニタし、それからt′−△τ′遅延してill
激を出すように構成してもよい。
The above example uses a clock signal generated by a timer)
The pulsed light source is configured to control the stimulus generator using the oscillator and to drive the pulsed light source by delaying the stimulus generator by the time Δτ' using a variable delay circuit. When using a pulsed laser,
Monitor the light source, then ill with a delay of t'-△τ'
It may also be configured to give a powerful effect.

上記のようにパルス光源を用いると、ローパスフィルタ
を用いることにより従来と同様のシステムで時分解分光
測定を行うことができる。
When a pulsed light source is used as described above, time-resolved spectroscopic measurements can be performed with a conventional system by using a low-pass filter.

なお、本発明は、上記の実施例に限定されるものではな
く、種々の変形が可能である。例えば上記の実施例では
、時分解分光測定法に本発明を適用したが、他のフーリ
エ変換光分光法にも同様に適用することができる。
Note that the present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications are possible. For example, in the above embodiments, the present invention was applied to time-resolved spectroscopy, but it can be similarly applied to other Fourier transform optical spectroscopy.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上の説明から明らかなように、本発明によれば、光源
にパルス光源を利用するので、SOR光源やパルスレー
ザ励起ラマン試料等を光源として利用することができる
。しかも、測定対象に光を照射する時間を短くし照射す
る光量を少なくすることができるので、光照射により影
響を受ける測定対象や連続照射等が好ましくない測定対
象に対してもフーリエ変換分光法を適用することができ
、応用対象が広がる。
As is clear from the above description, according to the present invention, since a pulsed light source is used as a light source, an SOR light source, a pulsed laser-excited Raman sample, or the like can be used as a light source. Moreover, since the time to irradiate the measurement target with light can be shortened and the amount of light irradiated can be reduced, Fourier transform spectroscopy can be used even for measurement targets that are affected by light irradiation or for which continuous irradiation is undesirable. It can be applied and the range of applications is expanded.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明に係るパルス光源を用いたフーリエ変換
分光法の1実施例を説明するための図、第2図は第1図
における主要部の信号波形を示す図、第3図はフーリエ
変換光分光法の従来例を説明するための図、第4図は第
3図に示す回路の信号波形を示す図、第5図は時分解分
光法の従来例を説明するだめの図、第6図は本発明を適
用した時分解分光測定装置の1実施例構成を示す図、第
7図は第6図に示す時分解分光測定装置の動作を説明す
るための波形図である。 1・・・周期パルス光源、2・・・半透鏡、3・・・固
定鏡、4・・・移動鏡、5・・・検知器、6・・・Tン
ブ、7・・・ローパスフィルタ、8・・・A D変換器
。 出 願 人   日本電子株式会社
FIG. 1 is a diagram for explaining one embodiment of Fourier transform spectroscopy using a pulsed light source according to the present invention, FIG. 2 is a diagram showing the signal waveform of the main part in FIG. 1, and FIG. 4 is a diagram for explaining a conventional example of converted light spectroscopy. FIG. 4 is a diagram showing a signal waveform of the circuit shown in FIG. 3. FIG. FIG. 6 is a diagram showing the configuration of one embodiment of a time-resolved spectrometer to which the present invention is applied, and FIG. 7 is a waveform diagram for explaining the operation of the time-resolved spectrometer shown in FIG. 6. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Periodic pulse light source, 2... Half-transparent mirror, 3... Fixed mirror, 4... Moving mirror, 5... Detector, 6... Tomb, 7... Low pass filter, 8...A/D converter. Applicant: JEOL Ltd.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)干渉計を用いてインタフェログラムを取り出しフ
ーリエ変換して試料の分析スペクトルを得るフーリエ変
換分光法において、光源としてパルス光源を用い、サン
プリング周期より短い周期のパルス光を放射して検知器
出力から低周波成分のインタフェログラムを取り出しサ
ンプリングしてフーリエ変換することにより、試料の分
析スペクトルを得ることを特徴とするパルス光源を用い
たフーリエ変換分光法。
(1) In Fourier transform spectroscopy, an interferogram is taken out using an interferometer and Fourier transformed to obtain the analysis spectrum of the sample, a pulsed light source is used as the light source and pulsed light with a period shorter than the sampling period is emitted and output from the detector. A Fourier transform spectroscopy method using a pulsed light source that is characterized by obtaining an analytical spectrum of a sample by extracting, sampling and Fourier transforming an interferogram of low frequency components from a sample.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100326047B1 (en) * 1999-06-21 2002-03-07 윤종용 Measurement apparatus and method of optical spectrum unsing fourier transform

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60209123A (en) * 1984-03-31 1985-10-21 Shimadzu Corp Monitor device for fourier transform type spectrophotometer

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