JPH0392750A - Time-resolution spectrometric apparatus - Google Patents

Time-resolution spectrometric apparatus

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JPH0392750A
JPH0392750A JP23020989A JP23020989A JPH0392750A JP H0392750 A JPH0392750 A JP H0392750A JP 23020989 A JP23020989 A JP 23020989A JP 23020989 A JP23020989 A JP 23020989A JP H0392750 A JPH0392750 A JP H0392750A
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time
interferometer
sample
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Koji Masutani
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Abstract

PURPOSE:To make it possible to measure a sample whose reaction period is fast by generating a stimulus which is asynchronous with a reference signal in an interferometer, delaying the stimulus by a delay time for measurement, and sampling the outputs of a detector. CONSTITUTION:Light emitted from a light source 1 is projected on a sample 3 through a rapid-scan interferometer 2. The sample 3 is an object to be mea sured whose reaction indicates the same response to stimulus repeatedly. A stimulus generator 4 generates a trigger (a) having a constant period t' which asynchronous with a reference signal in the interferometer 2. The trigger is imparted to the sample 3 and supplied to a variable type delay circuit 5 as a synchronizing singal (b). The circuit 5 generates a trigger (c) which is delayed by DELTAgamma' and controls a gate circuit 8. The output signal from the gate circuit 8 is detected with a detector 6. The detected signal is made to pass the gate circuit 8 through a preamplifier 7. Only the signal having the constant delay time is sampled, and comb-shaped interferogram is obtained. The signal is inputted into a CPU 12 through a low-pass filter LPF 9, a main amplifier 10 and an AD converter 11.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、刺激発生手段により周期的に刺激を発生して
測定対象に繰り返し与え、ラピツドスキャン干渉計を用
いた検出器出力をサンプリングして刺激よりある遅延時
間に対ずるインタフエロダラムを取得し、フーリエ変換
によりスペクトルを得ることによって、刺激に対して繰
り返し同じ応答を示す測定対象の反応状態を測定する時
分解分光測定装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention periodically generates a stimulus using a stimulus generating means, repeatedly applies it to a measurement object, and samples the output of a detector using a rapid scan interferometer. The present invention relates to a time-resolved spectroscopic measuring device that measures the reaction state of a measurement object that repeatedly shows the same response to a stimulus by obtaining an interfaelogram for a certain delay time from a stimulus and obtaining a spectrum by Fourier transformation.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

サンプルに電気やレーザその他の手段により周期的に刺
激を与え、その刺激から復帰する過程において、その反
応状態を測定しようという要求は、例えば液晶の特性を
評価する場合や、その他のいろいろな分野にある。その
測定方法としては、FT−IR(フーリエ変換赤外分光
光度計)を用いた時分解分光法がある。この方法は、広
い波数域を高いSN比で測定できるため、従来から開発
利用されているが、ラピッドスキャン干渉計を用いるも
のと、ステップスキャン干渉計を用いるものに分類でき
る。
The need to periodically apply stimulation to a sample using electricity, laser, or other means and measure the reaction state during the process of recovery from the stimulation is needed, for example, when evaluating the characteristics of liquid crystals, and in various other fields. be. As a measurement method, there is a time-resolved spectroscopy using FT-IR (Fourier transform infrared spectrophotometer). This method has been developed and used in the past because it can measure a wide wavenumber range with a high signal-to-noise ratio, and can be classified into those using a rapid scan interferometer and those using a step scan interferometer.

FT−I Rは、半透鏡と移動鏡と固定鏡からなる干渉
計を用い、移動鏡を移動させてインクフエロダラムを得
るものであるが、インクフェログラムは、サンプルの透
過率等の特性が一定でなければならないという条件があ
り、サンプルの特性が変わってしまうと、それをフーリ
エ変換した場合、本来の情報と違う情報が出てしまう。
FT-IR uses an interferometer consisting of a semi-transparent mirror, a movable mirror, and a fixed mirror, and moves the movable mirror to obtain an ink ferrodrum, whereas an ink ferogram measures characteristics such as transmittance of a sample. There is a condition that the sample must be constant, and if the characteristics of the sample change, when it is Fourier transformed, information different from the original information will be obtained.

したがって、時分解分光法において、与える刺激の周期
は、反応が終わってしまう時間より長いことが条件であ
るが、周期的な刺激を与える場合、移動鏡の移動と無関
係に刺激を与えると、その整合を採ることが必要になる
。そこで、従来は、干渉計の持つ基準信号に同期して刺
激を与えるようにしている。
Therefore, in time-resolved spectroscopy, the period of stimulation applied must be longer than the time required for the reaction to end; however, when applying periodic stimulation, it is difficult to It will be necessary to achieve consistency. Therefore, conventionally, stimulation is applied in synchronization with a reference signal possessed by an interferometer.

第4図は時分解分光法の従来例を説明するための図であ
る。
FIG. 4 is a diagram for explaining a conventional example of time-resolved spectroscopy.

ラビッドスキャン干渉計を用いるものでは、上記のよう
に干渉計の持つ基準信号に同期して刺激を与えインクフ
エロダラムを採ることから、対象の反応周期の長さによ
って、次の3つの場合に分けることができる。
In the case of using a labid scan interferometer, as mentioned above, the stimulation is synchronized with the reference signal of the interferometer and the ink ferrodrum is collected. Can be divided.

■ 刺激に対する応答が非常に遅い場合すなわち対象の
反応又はそれに類する状態の変化の周期τが移動鏡のス
キャン時間T(干渉計で得られるインタフエロダラム全
体を1回測定する時間)より長い(τ>T)場合 ■ 刺激に対する応答が比較的遅い場合すなわち、イン
クフエロダラムを形或する点群の各点を測定する時間間
隔(サンプリング間隔)tより長い(1<τ<T)場合 ■ 刺激に対する応答が非常に速い場合すなわち、τく
tの場合 例えば上記■の場合には、移動鏡のスキャン時間Tより
対象の反応周期τが長いので、第4図(a)に示すよう
に移動鏡のスキャンを速くすると、与えた刺激の或る遅
れのところでインタフエロダラムが取れてしまうので、
これをフーリエ変換することによって目的とする或る状
態のスペクトルを得ることができる。
■ If the response to the stimulus is very slow, that is, the period τ of the object's response or similar state change is longer than the scanning time T of the moving mirror (the time for one measurement of the entire interferodrum obtained by the interferometer) (τ > T) ■ If the response to the stimulus is relatively slow, that is, the time interval (sampling interval) for measuring each point of the point cloud forming the ink ferrodalum is longer than t (1 < τ < T) ■ The stimulus In the case where the response to If the scanning speed is increased, the interferodalum will be removed at a certain delay in the applied stimulus, so
By Fourier transforming this, a spectrum of a certain target state can be obtained.

しかし■の場合には、反応時間が短くなっているので、
第4図(b)に示すように複数回のスキャンを行いて1
回目の干渉計のスキャン、2回目の干渉計のスキャン、
・・・・・・で刺激を与えるタイミングを干渉計の持つ
基準信号の間隔tずつずらして測定を行い、同じ遅延時
間のデータを識別編集してインクフエログラムにするこ
とによって或る状態のスペクトルを取り出すことになる
However, in the case of ■, the reaction time is shorter, so
As shown in Figure 4(b), multiple scans are performed to
Second interferometer scan, second interferometer scan,
The spectrum of a certain state can be calculated by shifting the stimulus timing by the interval t of the reference signal of the interferometer, and by identifying and editing data with the same delay time and creating an ink ferrogram. will be taken out.

そして、■の場合には、サンプリング周期tに反応周期
τが入ってしまうので、第4図(C)に示すように干渉
計の基準信号に同期させて繰り近し刺激を与え、一定の
遅延時間△τで測定を行い、同じ遅延時間のデータを編
集してインタフエロダラムにすることによって或る状態
のスペクトルを取り出すことになる。
In the case of ■, the reaction period τ is included in the sampling period t, so as shown in Figure 4 (C), repeated stimulation is applied in synchronization with the reference signal of the interferometer, and a constant delay is applied. A spectrum in a certain state is extracted by measuring at a time Δτ and editing data with the same delay time to create an interferodrum.

[発明が解決しようとする課題] し,かじ、特に上記■の場合には、干渉計の持つ基準信
号との同期が必要であると共に、非常に速い測定が必要
である。例えばサンプリング周期tが100μsで10
0点の測定を行おうとすると、1μsの時間で測定を繰
り返すことになり、移動鏡の1回のスキャンで非′j:
9に人容量のデータを取り込み処理しなければならなく
なる。しかも、測定後に各データを識別して同じ遅延時
間のデータを編集しなければならない。そうすると、F
TrRとしては、高速のサンプリング機構やデータ編集
機能等、従来備えていない機能を<=h加しなければな
らなくなる。
[Problems to be Solved by the Invention] However, especially in the case of (2) above, it is necessary to synchronize with the reference signal of the interferometer and to perform very fast measurement. For example, if the sampling period t is 100 μs, 10
If you try to measure the 0 point, you will have to repeat the measurement every 1 μs, and one scan of the moving mirror will result in non-'j:
9 will have to import and process data on human capacity. Moreover, after measurement, each data must be identified and data with the same delay time must be edited. Then, F
As for the TrR, it is necessary to add <= h functions that have not been provided in the past, such as a high-speed sampling mechanism and a data editing function.

また、反応周期がサンプリング時間より短くなると、反
応終了後、次のサンプリングまで無駄時間が生じ、測定
効率が悪くなる。
Furthermore, if the reaction period is shorter than the sampling time, there will be dead time until the next sampling after the reaction is completed, and measurement efficiency will deteriorate.

さらに、上記の例の場合には、干渉計の持つ基準信号と
同期して刺激を与えているが、このような同期をとるこ
とが難しく、自然に周期的な刺激が励起されるものの場
合には、」二記の方法では測定ができないという問題が
ある。
Furthermore, in the case of the above example, the stimulation is applied in synchronization with the reference signal of the interferometer, but it is difficult to achieve such synchronization, and it is difficult to achieve such synchronization when the stimulation is naturally periodic. However, there is a problem in that it cannot be measured using the method described in 2.

本発明は、上記の課題を解決するものであって、干渉計
の持つ基準信号とは非同期で対象の反応周期の速いザン
プルの測定が可能な時分解分光測定装置を提供すること
を目的とする。
The present invention solves the above-mentioned problems, and aims to provide a time-resolved spectrometer that can measure a sample with a fast reaction period asynchronously with a reference signal of an interferometer. .

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

そのために本発明は、刺激発生手段により周期的に刺激
を発生して測定対象に繰り返し与え、ラビッドスキャン
干渉計を用いた検出器出力をサンプリングして刺激より
ある遅延時間に対するインタフエロダラムを取得し、フ
ーリエ変換によりスペクトルを得ることによって、刺激
に対して繰り返し同じ応答を示す測定対象の反応状態を
測定する時分解分光測定装置であって、検出器出力をゲ
ートするゲート回路、該ゲート手段に接続された口−パ
スフィルタ、及び刺激に同期して所定時間遅らせてゲー
ト回路を制御する遅延手段を備え、干渉計の持つ基準信
号と非同期で刺激を発生させ、測定したい遅延時間だけ
遅らせて検出器出力をサンプリングするように構或した
ことを特徴とするものである。
To this end, the present invention periodically generates a stimulus using a stimulus generating means and repeatedly applies it to the measurement target, samples the output of a detector using a rapid scan interferometer, and obtains an interferodynamic value for a certain delay time from the stimulus. , a time-resolved spectroscopic measurement device that measures the reaction state of a measurement target that repeatedly shows the same response to a stimulus by obtaining a spectrum by Fourier transformation, the gate circuit gating the detector output, and connected to the gate means. It is equipped with a delay means that controls a gate circuit by delaying a predetermined time in synchronization with the stimulus, and generates the stimulus asynchronously with the reference signal of the interferometer. This device is characterized in that it is configured to sample the output.

〔作用〕[Effect]

本発明の時分解分光測定装置では、検出器出力をゲート
するゲート回路、該ゲート手段に接続されたローパスフ
ィルタ、及び刺激に同期して所定時間遅らせてゲート回
路を制御する遅延手段を備え、干渉計の持つ基準信号と
非同期で刺激を発生させ、測定したい遅延時間だけ遅ら
せて検出器出力をサンプリングするので、ある遅延時間
に対ずるインタフエロダラムを取得し、フーリエ変換に
よりスペクトルを得ることができ、さらに、次々に遅延
時間を変えて同様に測定することにより、別の遅延時間
に対する一連の時系列スペクトルを得ることができる。
The time-resolved spectrometer of the present invention includes a gate circuit for gating the detector output, a low-pass filter connected to the gate means, and a delay means for controlling the gate circuit by delaying the gate circuit by a predetermined period of time in synchronization with the stimulus. The stimulus is generated asynchronously with the reference signal of the meter, and the detector output is sampled with a delay of the desired delay time, so it is possible to obtain the interferometry for a certain delay time and obtain the spectrum by Fourier transformation. Furthermore, by successively changing the delay time and making similar measurements, a series of time-series spectra for different delay times can be obtained.

しかも、刺激発生器の制約がなくなるので、速い反応に
も干渉計の持つ基準信号とは関係な< ilil1激の
周波数を上げて測定することができる。また、ラピッド
スキャン干渉計を用いた従来の装置においても、システ
ムの大幅な変更をすることなく簡単な手段を付加するこ
とにより実現することができる。
Moreover, since there are no restrictions on the stimulus generator, it is possible to measure fast reactions by raising the frequency of <ilil1, which is unrelated to the reference signal of the interferometer. Further, even in a conventional device using a rapid scan interferometer, it can be realized by adding simple means without making any major changes to the system.

〔実施例〕〔Example〕

以下、図面を参照しつつ実施例を説明する。 Examples will be described below with reference to the drawings.

第1図は本発明に係る時分解分光測定装置のl実施例構
或を示す図、第2図は本発明に係る時分解分光測定装置
の動作を説明するための波形図である。
FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of the time-resolved spectrometer according to the present invention, and FIG. 2 is a waveform diagram for explaining the operation of the time-resolved spectrometer according to the present invention.

第1図において、1は光源、2は干渉計、3は試料、4
は刺激発生器、5は可変型遅延回路、6は検知器、7は
ブリアンプ、8はゲート回路、9はローバスフィルタ、
10はメインアンプ、11はΔD変換器、12はCPU
を示す。刺激発生器4は、第2図に示すように干渉計2
の持つ基準信号(a)と非同期で一定周期t′の刺激(
トリガー)(b)を発生するものであり、可変型遅延回
路5は、刺激発生器4の同期信号から一定時間Δτ′遅
延したトリガーを生或してゲート回路8を制御するもの
である。ゲート回路8は、八〇変換器と同様に周期t′
に対して十分狭いゲート幅を持ったものであり、その間
だけ信号を通ずことによって、同図(d)に示すように
櫛状の信号を得る。つまり、繰り返しの信号に対し刺激
よりある遅延時間でゲートをかけて刺激に対して一定の
遅延時間の信号のみをサンプリングし、櫛状のインタフ
エログラムを得る。ローバスフィルタ9は、ゲート回路
8の出力から得られる高調波を除去してゲート回路8の
出力の包路線を得るために用いるものである。
In Figure 1, 1 is a light source, 2 is an interferometer, 3 is a sample, and 4
is a stimulus generator, 5 is a variable delay circuit, 6 is a detector, 7 is a preamplifier, 8 is a gate circuit, 9 is a low-pass filter,
10 is the main amplifier, 11 is the ΔD converter, 12 is the CPU
shows. The stimulus generator 4 includes an interferometer 2 as shown in FIG.
Stimulation (
The variable delay circuit 5 generates a trigger delayed by a fixed time Δτ' from the synchronization signal of the stimulus generator 4 to control the gate circuit 8. The gate circuit 8 has a period t' like the 80 converter.
By passing the signal only between the two gates, a comb-shaped signal is obtained, as shown in FIG. 3(d). In other words, a comb-like interferogram is obtained by gating repeated signals with a certain delay time from the stimulus and sampling only signals with a certain delay time from the stimulus. The low-pass filter 9 is used to remove harmonics obtained from the output of the gate circuit 8 to obtain an envelope of the output of the gate circuit 8.

この結果、櫛状のインタフエロダラムは、通常のアナロ
グ信号に変換される。
As a result, the comb-like interferodalum is converted into a normal analog signal.

上記本発明のシステムに用いられる試料3は、反応が刺
激に対して繰り返し同じ応答を示す測定対象であり、対
象の反応周期τがインタフエロダラムの各点のサンプリ
ング間隔tより短いものである。
The sample 3 used in the system of the present invention is a measurement object that repeatedly shows the same response to a stimulus, and the reaction period τ of the object is shorter than the sampling interval t of each point of the interfaerodrum.

上記の構或によれば、試料3が変化しないときの検知器
6の出力は、 〈σ;波数−1/λ)   ・・・・・(1)となるが
、試料3に刺激が与えられると、一定の遅れ△τ′でゲ
ートされたときの検知器6の出力は、等間隔にザンブリ
ングするので、デルタ関数を等間隔にしたコム関数[1
1.を含み、( 1 +  cos2 yr a x 
)  d σ−(2)となる。ここで、干渉計の移動鏡
の速度をVとすると、X=2νtであるが、周期的に与
える刺激が移動鏡との移動と非同期であるので位相関係
はない。上記(2)式の(1+cos2πσX)におい
て、cos2πσXのかかっている項だけがスペクトル
に変換できるので、この項のみを抜き出すと、その出力
は、 F ”(X) =川,・(t一△τ“〉となる。そこで
、この信号をローバスフィルタ9に通したときに得られ
る出カを見るため、11J,・(t−△τ”) をtでフーリエ変換すると、 =e−”””(1/t’)147t’(f)   −−
−−−−(3)=1/t’ Cδ(f)十δ(f−1/
t’)  e−”で+−・・−+δ(f+i/t’)e
”’?+.となり、同じくコム関数になる。しかも、サ
ンプリングした間隔の逆数の間隔で出る。したがって、
ローバスフィルタ9ヲ通1−ト、 11 ・ (4) となり、これが出力として得られる。この(4)式を上
記の(1)式と比較すると、F ”(X)の式は、il
ill激を与えてから△τ゛だけ遅延した時の試料の状
態のインクフエロダラムを得たことを示している。した
がって、信号の持つ波数帯域で決まるサンプリング間隔
でAD変換すればよい。
According to the above structure, the output of the detector 6 when the sample 3 does not change is <σ; wave number - 1/λ) (1), but when a stimulus is applied to the sample 3 The output of the detector 6 when gated with a constant delay △τ′ zumbling at equal intervals, so the comb function [1
1. ( 1 + cos2 yr a x
) dσ−(2). Here, if the speed of the movable mirror of the interferometer is V, then X=2νt, but there is no phase relationship because the periodic stimulation is asynchronous with the movement of the movable mirror. In (1+cos2πσX) of equation (2) above, only the term multiplied by cos2πσX can be converted into a spectrum, so if only this term is extracted, the output is F ''(X) = River, · (t - △τ Then, in order to see the output obtained when this signal is passed through the low-pass filter 9, 11J,·(t-△τ") is Fourier transformed with t, = e-"""(1/t')147t'(f) --
----(3) = 1/t' Cδ(f) +δ(f-1/
t') e-" and +-...-+δ(f+i/t')e
``'?+.'', which is also a comb function.Moreover, it appears at an interval that is the reciprocal of the sampling interval.Therefore,
Passing through the low-pass filter 9, 11.(4) is obtained as the output. Comparing this equation (4) with the above equation (1), the equation of F''(X) becomes il
It is shown that the ink ferrodurum in the state of the sample was obtained after a delay of △τ' after applying illumination. Therefore, AD conversion may be performed at a sampling interval determined by the wave number band of the signal.

なお、本発明は、上記の実施例に限定されるものではな
く、種々の変形が可能である。例えば上記ゲート回路そ
のものの機能をAD変換器で行わせるようにしてもよい
。この場合には、移動鏡の各スキャン毎に位相が異なる
ので、1スキャン毎ノインクフエロダラムをFTでフエ
ーズコレクションを行ってスペクトルにした後積算する
ことになる。また、検知器への供給電圧を刺激発生器か
らのトリガー信号に同期させてオン/オフする等により
ゲート回路の代わりを行うようにしてもよい。さらには
、パルスレーザを試料に照射するFTラマン(τ′=O
)やFTホトルミにも同様にl2 適用することができる。この場合には、第3図に示すよ
うにバルスレーザ26を試料21に直接当て、試料21
からの光を干渉計22を通して検知器23で取り込み、
第1図に示した実施例と同様の処理を行う。また、前者
では、τ′−0とするので、ゲート回路25と遅延回路
27を省いてブリアンブ24に直接ローバスフィルタを
接続してもよいし、実質的に同等の信号処理ができるよ
うに遅延回路27を設定してもよい。
Note that the present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications are possible. For example, the function of the gate circuit itself may be performed by an AD converter. In this case, since the phase differs for each scan of the movable mirror, the phase correction is performed on the no-ink fluorodulum for each scan by FT to form a spectrum, which is then integrated. Further, the gate circuit may be replaced by turning on/off the voltage supplied to the detector in synchronization with the trigger signal from the stimulation generator. Furthermore, FT Raman (τ′=O
) and FT photoluminescence. In this case, the pulse laser 26 is directly applied to the sample 21 as shown in FIG.
The light from is captured by the detector 23 through the interferometer 22,
The same processing as in the embodiment shown in FIG. 1 is performed. In the former case, since τ'-0 is used, the gate circuit 25 and delay circuit 27 may be omitted and a low-pass filter may be connected directly to the preamplifier 24, or the delay circuit may be A circuit 27 may also be set.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上の説明から明らかなように、本発明によれば、勅激
を干渉計の持つ基準信号と非同期で与えることができる
ので、刺激に対する制約を大幅に緩和することができる
。また、速い反応には、刺激周波数を上げることができ
るので、測定効率の向上を計ることができる。さらには
、一般に普及しているラピッドスキャン干渉計を持った
装置に刺激発生器、可変型遅延回路、ゲート回路、ロー
パスフィルタを加えることにより、データサンプリング
回路やデータ編集ソフト等、システムの大幅な変更を必
要とせず実施できる。
As is clear from the above description, according to the present invention, the stimulation can be applied asynchronously with the reference signal of the interferometer, so that restrictions on stimulation can be significantly relaxed. Furthermore, since the stimulation frequency can be increased for fast reactions, measurement efficiency can be improved. Furthermore, by adding a stimulus generator, a variable delay circuit, a gate circuit, and a low-pass filter to a commonly used rapid-scan interferometer device, we can significantly change the system, including the data sampling circuit and data editing software. It can be carried out without the need for

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明に係る時分解分光測定装置の1実施例構
或を示す図、第2図は本発明に係る時分解分光測定装置
の動作を説明するための波形図、第3図は本発明の他の
実施例を示す図、第4図は時分解分光装置の従来例を説
明するための図である。 l・・・光源、2・・・干渉計、3・・・試料、4・・
・ffilJ激発生器、5・・・可変型遅延回路、6・
・・検知器、7・・・ブリアンプ、8・・・ゲート回路
、9・・・ローパスフィルタ、10・・・メインアンプ
、11・・・AD変換器、l2・・・CPU0 出 願 人   日本電子株式会社
FIG. 1 is a diagram showing the structure of one embodiment of the time-resolved spectrometer according to the present invention, FIG. 2 is a waveform diagram for explaining the operation of the time-resolved spectrometer according to the present invention, and FIG. FIG. 4, which is a diagram showing another embodiment of the present invention, is a diagram for explaining a conventional example of a time-resolved spectrometer. l...Light source, 2...Interferometer, 3...Sample, 4...
・ffilJ Geki Generator, 5... Variable delay circuit, 6.
...Detector, 7...Brieamp, 8...Gate circuit, 9...Low pass filter, 10...Main amplifier, 11...AD converter, l2...CPU0 Applicant: JEOL Co., Ltd.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)刺激発生手段により周期的に刺激を発生して測定
対象に繰り返し与え、ラピッドスキャン干渉計を用いた
検出器出力をサンプリングして刺激よりある遅延時間に
対するインタフェログラムを取得し、フーリエ変換によ
りスペクトルを得ることによって、刺激に対して繰り返
し同じ応答を示す測定対象の反応状態を測定する時分解
分光測定装置であって、検出器出力をゲートするゲート
回路、該ゲート手段に接続されたローパスフィルタ、及
び刺激に同期して所定時間遅らせてゲート回路を制御す
る遅延手段を備え、干渉計の持つ基準信号と非同期で刺
激を発生させ、測定したい遅延時間だけ遅らせて検出器
出力をサンプリングするように構成したことを特徴とす
る時分解分光測定装置。
(1) Periodically generate a stimulus using a stimulus generator and repeatedly apply it to the measurement target, sample the detector output using a rapid scan interferometer to obtain an interferogram for a certain delay time from the stimulus, and use Fourier transform to obtain an interferogram. A time-resolved spectrometer that measures the reaction state of a measurement target that repeatedly shows the same response to a stimulus by obtaining a spectrum, the device comprising: a gate circuit that gates the detector output; and a low-pass filter connected to the gate means. , and a delay means for controlling a gate circuit by delaying a predetermined time in synchronization with the stimulus, so that the stimulus is generated asynchronously with the reference signal of the interferometer, and the detector output is sampled with a delay of the desired delay time. A time-resolved spectroscopic measurement device characterized by the following configuration.
(2)刺激としてパルスレーザを測定対象に与えるよう
にしたことを特徴とする請求項1記載の時分解分光測定
装置。
(2) The time-resolved spectrometer according to claim 1, characterized in that a pulsed laser is applied to the measurement object as a stimulus.
JP23020989A 1989-09-04 1989-09-04 Time-resolved spectrophotometer Expired - Fee Related JPH0640068B2 (en)

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JP23020989A JPH0640068B2 (en) 1989-09-04 1989-09-04 Time-resolved spectrophotometer

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CN105548036A (en) * 2015-12-08 2016-05-04 上海理工大学 Self-adaptive double-light-comb spectrum system

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