JPH04132048A - Pll false lock detection circuit - Google Patents

Pll false lock detection circuit

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Publication number
JPH04132048A
JPH04132048A JP2251321A JP25132190A JPH04132048A JP H04132048 A JPH04132048 A JP H04132048A JP 2251321 A JP2251321 A JP 2251321A JP 25132190 A JP25132190 A JP 25132190A JP H04132048 A JPH04132048 A JP H04132048A
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JP
Japan
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pll
pattern
circuit
signal
clock
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Application number
JP2251321A
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Japanese (ja)
Inventor
Seiichiro Satomura
誠一郎 里村
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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Publication of JPH04132048A publication Critical patent/JPH04132048A/en
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Abstract

PURPOSE:To detect the false lock of a PLL, and to properly decide the abnormality of the PLL by detecting an (n+1)T or an (n-1)T pattern existing in the nT patterns of an input signal. CONSTITUTION:Flip flops 1, 2 synchronize a binary reproduced signal inputted to this false lock detection circuit with a clock generated by the PLL. A shift register 3 serial/parallel-converts synchronized data. Then, gates 4 to 9 detect the (n+1)T pattern or the (n-1)T pattern existing between the nT pattern and the nT pattern. Thus, the false lock of the PLL can be detected, and the abnormality of the PLL can be properly decided without being influenced by the defect of other signals.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、情報記録装置や通信装置等に用いられるPL
L回路に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Field of Industrial Application] The present invention is directed to a PL used in information recording devices, communication devices, etc.
Regarding the L circuit.

[従来の技術] 従来より、クロック専用信号をもたない情報記録装置や
通信装置では、情報再生時に、同期クロックを生成する
ためにPLL回路を使用する。
[Prior Art] Conventionally, information recording devices and communication devices that do not have a dedicated clock signal use a PLL circuit to generate a synchronized clock when reproducing information.

このPLL回路では1例えば、記録媒体からの再生信号
に含まれる一定周期のパターンを引き込み、このパター
ンから、それに同期したクロックを生成するものである
。すなわち、生成すべき同期クロックの周期をTとする
と、再生信号には、PLLを起動して、引き込むための
nT周期のパターン(VFOパターン)の部分が存在す
ることになる。
In this PLL circuit, for example, a pattern of a constant period included in a reproduced signal from a recording medium is input, and a clock synchronized with the pattern is generated from this pattern. That is, assuming that the cycle of the synchronization clock to be generated is T, the reproduced signal includes a pattern (VFO pattern) with an nT cycle for activating and pulling in the PLL.

第2図は、書き替え型の光ディスクのセクターフォーマ
ットの一例を示す模式図である。
FIG. 2 is a schematic diagram showing an example of a sector format of a rewritable optical disc.

コノ中−1’VFO1,VFO2、VF03とあるのが
、PLLの引き込み用に設置された部分であり、この部
分には、“010”の繰り返しよりなる3Tパターンが
記録されている。つまり、これは、n=3の場合である
The part labeled -1'VFO1, VFO2, and VFO3 in the middle is a part installed for pulling in the PLL, and a 3T pattern consisting of repeating "010" is recorded in this part. That is, this is the case when n=3.

第3gは、光ディスクの再生回路の一例を示すブロック
図である。
3g is a block diagram showing an example of an optical disc reproducing circuit.

この再生回路は、記録媒体31からの再生信号を検出す
る検出器32と、この検出信号を2値化する2値化回路
33と、この2値化再生信号からセクターマークを検出
するセクターマーク検出器34と、ここで検出されたセ
クターマークからリードゲート信号を生成するリードゲ
ート生成回路35と、リードゲート信号と2値化再生信
号からクロックを生成するPLL回路36と、リードゲ
ート信号と2値化再生信号から同期信号を生成する同期
信号検出回路37と、2値化再生信号を復号する復号器
38と、復号データからアドレスを認識するアドレス認
識回路39と、復号データのエラー訂正を行うエラー訂
正回路40と、復号データをインタフェースを介してホ
ストコンピュータに送るためのバッファ41とを有して
いる。
This reproduction circuit includes a detector 32 that detects a reproduction signal from a recording medium 31, a binarization circuit 33 that binarizes this detection signal, and a sector mark detector that detects sector marks from this binary reproduction signal. a read gate generation circuit 35 that generates a read gate signal from the sector mark detected here, a PLL circuit 36 that generates a clock from the read gate signal and the binary reproduction signal, A synchronization signal detection circuit 37 that generates a synchronization signal from a binary reproduction signal, a decoder 38 that decodes the binary reproduction signal, an address recognition circuit 39 that recognizes an address from decoded data, and an error correction circuit that performs error correction on the decoded data. It has a correction circuit 40 and a buffer 41 for sending decoded data to a host computer via an interface.

第4図は、PLL回路36の一般的な例を示すブロック
図である。
FIG. 4 is a block diagram showing a general example of the PLL circuit 36.

このPLL回路36は、基準発振器42と、2値化再生
信号に基いて動作するパルスゲ−゛ト回路43と、リー
ドゲート信号によって制御される切り替えスイッチ44
と、位相比較器45と、チャージポンプ46と、電圧制
御発振器(V C0)47とを有する。
This PLL circuit 36 includes a reference oscillator 42, a pulse gate circuit 43 that operates based on a binary reproduction signal, and a changeover switch 44 that is controlled by a read gate signal.
, a phase comparator 45 , a charge pump 46 , and a voltage controlled oscillator (VC0) 47 .

このPLL回路36では、リードゲートが閉じている時
は1位相比較器45の2つの入力には、基準発振器42
とVCO47が接続され、VCO47のクロックは基準
発振器42と同周波数、同位相に近付く、パルスゲート
43は、2値再生信号パルスが入力される毎に、そのパ
ルスと比較されるべ5VCOクロツクのパルスを1個通
過させる。また、2値再生信号パルスが入力されない時
は、パルスゲートも遮断される。
In this PLL circuit 36, when the read gate is closed, the two inputs of the 1-phase comparator 45 are connected to the reference oscillator 42.
and the VCO 47 are connected, and the clock of the VCO 47 approaches the same frequency and phase as the reference oscillator 42.The pulse gate 43 compares the pulse with the binary reproduction signal pulse every time it is inputted.5VCO clock pulse Let one pass through. Furthermore, when the binary reproduction signal pulse is not input, the pulse gate is also cut off.

一方、リードゲートが開くと、2値再生信号が入力され
る毎に、1回ずつの位相比較が行われる。また、2値再
生信号が入力されない時は1位相比較は行われず、チャ
ージポンプ46の出力値は保存されてVCO47が出力
するクロックの周波数および位相も保持される。
On the other hand, when the read gate is opened, phase comparison is performed once each time a binary reproduction signal is input. Furthermore, when a binary reproduction signal is not input, one-phase comparison is not performed, the output value of the charge pump 46 is saved, and the frequency and phase of the clock output by the VCO 47 are also held.

そして、このようなPLL回路36に第2図に示すよう
なフォーマットの信号が入力された場合には、次の3段
階の動作をする。
When a signal having a format as shown in FIG. 2 is input to such a PLL circuit 36, the following three steps of operation are performed.

(1)まず、VFOI以前の部分では、リードゲートは
閉じておく、すると切り替えスイッチ44は、下側の接
点と接続され、PLL回路36は。
(1) First, in the part before the VFOI, the read gate is closed, then the changeover switch 44 is connected to the lower contact, and the PLL circuit 36 is connected.

この間、基準発振器42のクロックによって周波数の引
き込みを行う。
During this time, the frequency is pulled in using the clock of the reference oscillator 42.

(2)次に、VFOIに入るとリードゲートを開く、す
ると切り替えスイッチ44は、第4図に示す状態のよう
に上側の接点と接続され、PLL回路36は、入力され
た信号のVFOパターンによって位相の引き込みを行う
(2) Next, when the VFOI is entered, the read gate is opened, and the changeover switch 44 is connected to the upper contact point as shown in FIG. Performs phase pull-in.

(3)上記(1)および(2)によって、同期信号(A
M)が入力される時には、PLLクロックは周波数も位
相も入力信号と同期(ロック)している、よってAMを
検出することができる。
(3) According to (1) and (2) above, the synchronization signal (A
When the signal M) is input, the PLL clock is synchronized (locked) with the input signal in both frequency and phase, so that AM can be detected.

[発明が解決しようとする課題] ところで、入力信号に異常がなければ、上記PLL回路
36によって、上述のような動作が行われ、何等問題は
ない、ところが、記録媒体の異常や再生感度の劣化、あ
るいは伝送経路上で発生するノイズ等によって、VFO
パターンにも、パルス欠落(ドロップアウト)や余分な
パルス(エクストラパルス)の発生、さらにはパルスの
位相の大きなずれ(ビットシフト)が発生することがあ
る。
[Problems to be Solved by the Invention] By the way, if there is no abnormality in the input signal, the above-mentioned operation is performed by the PLL circuit 36, and there is no problem. , or due to noise generated on the transmission path, the VFO
Even in patterns, pulse dropouts (dropouts), extra pulses (extra pulses), and even large pulse phase shifts (bit shifts) may occur.

特に、PLL動作で上記(1)と(2)の切り替えの時
点でドロップアウトやエクストラパルスが発生すると、
PLLは誤動作することがあり、この場合、PLLが別
の安定状態に達してしまうことがある。この状態を擬似
ロックという。
In particular, if a dropout or extra pulse occurs at the time of switching between (1) and (2) above in PLL operation,
PLLs may malfunction, in which case the PLL may reach another stable state. This state is called a pseudo-lock.

第5.、図は、擬似ロックの4つの例を示すタイムチャ
ートである。
Fifth. , is a time chart showing four examples of pseudo locks.

図の■から@に示すように、擬似ロック時のりロック周
波数は、正常時の(3n+1)/3n、(4n+1)/
4n、(5n+ 1)15 n・・・・・・または(3
n−1)/3n、(4n−1)/4n、(5n−1)1
5n・・・・・・というかたちとなり、mを正の整数と
して、((mn+ 1)/mn) Fあるいは((mn
−1)/mn) Fという値をとる。
As shown from ■ to @ in the figure, the locking frequency during pseudo-locking is (3n+1)/3n during normal locking, and (4n+1)/3n during normal locking.
4n, (5n+1)15n... or (3
n-1)/3n, (4n-1)/4n, (5n-1)1
5n..., where m is a positive integer, ((mn+ 1)/mn) F or ((mn
-1)/mn) Takes the value F.

一般的には、VFOの自走周波数が目標周波数よりも高
い時には、((mn+1)/mn) Fが出現し易く、
低い時には((mn−1)/mn)Fが出現し易い。
Generally, when the free-running frequency of the VFO is higher than the target frequency, ((mn+1)/mn) F tends to appear,
When the value is low, ((mn-1)/mn)F tends to appear.

PLLの擬似ロックは、位相比較器45の特性の不連続
性あるいはVCO47のFV特性の非線型性によって発
生し易くなる。また、同じ装置に同じ欠陥信号が入力さ
れた場合でも、入力信号と基準発振器42のクロックと
の位相差によって、発生したり発生しなかったりするこ
とがあるので、この事象の再現性は乏しい。
Pseudo-locking of the PLL is likely to occur due to discontinuity in the characteristics of the phase comparator 45 or nonlinearity in the FV characteristics of the VCO 47. Furthermore, even if the same defective signal is input to the same device, it may or may not occur depending on the phase difference between the input signal and the clock of the reference oscillator 42, so the reproducibility of this event is poor.

第6図は、PLLの入出力周波数特性を示す模式図であ
る。
FIG. 6 is a schematic diagram showing the input/output frequency characteristics of the PLL.

図において、f=nFの線が正常動作時を示し、その両
側の線が、擬似ロックである。
In the figure, the line f=nF indicates normal operation, and the lines on both sides of it indicate pseudo-lock.

入力周波数が、VCO47の自走周波数や基準発振器4
2のクロック周波数より高くなったり低くなったりした
時、擬似ロックが出現し易くなる。
The input frequency is the free running frequency of VCO 47 or the reference oscillator 4.
When the clock frequency becomes higher or lower than 2, false locks tend to occur.

そして、PLLが擬似ロックすると、アドレスやデータ
は再生できない、同期信号も検出できない。
When the PLL is pseudo-locked, addresses and data cannot be reproduced, and synchronization signals cannot be detected.

従って、PLLが擬似ロックしてしまったら、PLLを
新たに再起動して、基準発振器42のクロックを入力し
、周波数の引き込みを再び行うべきである。
Therefore, if the PLL becomes pseudo-locked, the PLL should be restarted, the clock of the reference oscillator 42 should be input, and the frequency should be pulled in again.

しかるにPLLは、−旦正常にロックすれば。However, once the PLL locks normally.

それが擬似ロック状態になったり、不安定状態になるこ
とはほとんどないので、PLLの再起動は行わない方が
良い。
It is better not to restart the PLL, as it is unlikely to enter a pseudo-locked state or become unstable.

そこで、PLLの再起動を制御する方法として次のよう
なものが考えられる。
Therefore, the following method can be considered as a method of controlling restart of the PLL.

まず、第2図に示すフォーマットによると、VFOIの
後にAMがあり、その後にIDがあり、そのIDの中に
はエラー検出をするためのCRCがある。そこで、この
CRCを利用して・IDが正しく再生されない場合は、
次のVCO2の領域内でPLLを再起動する方法が第1
に考えられる。この時のCRCエラー信号の流れを第3
図中に破線で示す。
First, according to the format shown in FIG. 2, there is an AM after the VFOI, followed by an ID, and within the ID there is a CRC for error detection. Therefore, if the ID is not reproduced correctly using this CRC,
The first method is to restart the PLL within the next VCO2 area.
It can be considered. The flow of the CRC error signal at this time is explained in the third section.
Indicated by a broken line in the figure.

また、AMが正しく検出されなかったことによってPL
Lを再起動する方法も考えられる。この時の同期信号検
出エラー信号の流れを第3図中に一点破線で示す。
In addition, the PL
Another possible method is to restart L. The flow of the synchronization signal detection error signal at this time is shown by a dotted line in FIG.

しかし、これらのいずれの方法においても、それらのエ
ラーが、PLL動作の異常によって発生したものなのか
、それともPLLは正常動作しているのに信号に欠陥が
あってエラーと判断されたものなのかがわからない。
However, in any of these methods, it is difficult to determine whether these errors are caused by an abnormality in the PLL operation, or whether the PLL is operating normally but there is a defect in the signal and the error is determined to be an error. I don't understand.

また、PLLクロックでVFOパターンを同期化した時
のパターンについて調べて、100100100・・・
というnTの同一パターンの繰返しをカウントし、それ
が所定回数以上続いたことによってPLLがロックした
と判断し、そうでない場合は異常としてPLLを再起動
するという方法もある。
Also, I investigated the pattern when synchronizing the VFO pattern with the PLL clock, and found that 100100100...
There is also a method of counting the repetition of the same pattern of nT, determining that the PLL is locked when it continues for a predetermined number of times, and restarting the PLL as an abnormality if not.

しかし、これもやはりVFOパターンの中に信号欠陥が
ある時、PLLが正常にロックしているにもかかわらず
、エラーと判断してしまうことがある。
However, when there is a signal defect in the VFO pattern, it may be determined as an error even though the PLL is normally locked.

本発明は、PLLが正常か異常かを適正に判定すること
ができ、PLLに正しい再起動をかけることができるP
LL擬似ロック検出回路を提供することを目的とする。
The present invention provides a PLL that can appropriately determine whether the PLL is normal or abnormal and can restart the PLL correctly.
An object of the present invention is to provide a LL pseudo-lock detection circuit.

[課題を解決する手段] 本発明は、入力信号に含まれる一定周期nT(nは整数
)のパターンから、それに同期した周期Tのクロックを
生成するPLL回路において、上記入力信号をPLLク
ロックに同期化したときのパターンについて、nTパタ
ーンとnTパターンとの間にある(n+1)Tパターン
あるいはnTパターンとnTパターンとの間にある(n
−1)Tパターンを検出することによりPLLが正常に
動作しているかどうかを検出することを特徴とする。
[Means for Solving the Problems] The present invention provides a PLL circuit that generates a clock with a period T synchronized with a pattern of a constant period nT (n is an integer) included in an input signal, in which the input signal is synchronized with the PLL clock. Regarding the pattern when the pattern is converted into
-1) It is characterized by detecting whether the PLL is operating normally by detecting the T pattern.

[作用] 本発明では、入力をPLLクロックに同期化したときの
パターンを認識して、nTパターンとn丁パターンとの
間にある(n+1)Tパターンあるいはn丁パターンと
nTパターンとの間にある(n−1)Tパターンを検出
することにより、PLLの擬似ロックを検出することか
ら、他の信号の欠陥に影響されることなく、PLLの異
常を適正に判定することができる。
[Operation] In the present invention, the pattern when the input is synchronized with the PLL clock is recognized, and the (n+1)T pattern between the nT pattern and the nT pattern or between the nT pattern and the nT pattern is detected. Since a false lock of the PLL is detected by detecting a certain (n-1)T pattern, an abnormality in the PLL can be appropriately determined without being affected by defects in other signals.

〔実施例] 第1図は、本発明の一実施例を示す回路図である。〔Example] FIG. 1 is a circuit diagram showing one embodiment of the present invention.

また、第7図(1)〜(3)は、このPLL擬似ロック
検出回路の動作を説明するタイムチャートである。
Further, FIGS. 7(1) to (3) are time charts illustrating the operation of this PLL pseudo lock detection circuit.

第1図において、フリップフロップl、2は、この擬似
ロック検出回路に入力される2値化再生信号をPLLに
よって生成されたクロックに同期化するものである。す
なわち、クロックの立ち下がりエツジに対する2値化再
生信号の立ち上りエツジ位置によって、クロックに同期
した同期データが決定される。なお、上述した第5図に
おける同期データも、この回路によって生成される。
In FIG. 1, flip-flops 1 and 2 synchronize the binary reproduction signal input to the pseudo lock detection circuit with the clock generated by the PLL. That is, synchronous data synchronized with the clock is determined by the position of the rising edge of the binary reproduction signal with respect to the falling edge of the clock. Note that the synchronization data shown in FIG. 5 described above is also generated by this circuit.

次に、シフトレジスタ3は、上記同期データをシリアル
/パラレル変換する。そして、シフトレジスタ3に入力
されたパターンが“10010001001”であった
場合、AND回路4.6とNOR回路5により、AND
回路4の出力端Aに“l”が出力される。
Next, the shift register 3 performs serial/parallel conversion on the synchronous data. Then, when the pattern input to the shift register 3 is "10010001001", the AND circuit 4.6 and the NOR circuit 5 perform an AND operation.
“l” is output to the output terminal A of the circuit 4.

また、シフトレジスタに入力されたパターンが1001
01001”であった場合、AND回路7.9とNOR
回路8により、AND回路9の出力端Bにl”が出力さ
れる。
Also, the pattern input to the shift register is 1001
01001”, AND circuit 7.9 and NOR
The circuit 8 outputs l'' to the output terminal B of the AND circuit 9.

そして、出力端A、Hのいずれかの検出パルスがOR回
路12を経てフリップフロップlOによるウィンドウ内
に入っていれば、そのQ出力Cに“1″が出力され、フ
リップフロップ11にPLLエラーが出力される。
If the detection pulse of either output terminal A or H passes through the OR circuit 12 and falls within the window formed by the flip-flop lO, "1" is output to the Q output C, and a PLL error is detected in the flip-flop 11. Output.

つまり、ウィンドウ内で、nTパターンの中に(n+1
)Tパターンあるいは(n−1)Tパターンが存在する
時に、エラーが検出されることになる。但し、この実施
例は、n=3の場合である。
That is, within the window, within the nT pattern (n+1
)T pattern or (n-1)T pattern is present, an error will be detected. However, this example is a case where n=3.

第8図は、ウィンドウの設定例を示すタイムチャートで
ある。
FIG. 8 is a time chart showing an example of window settings.

図示のように、PLLの動作が安定したVFOパターン
の後半でウィンドウ内記憶器うにすることが有効である
As shown in the figure, it is effective to use the window memory in the latter half of the VFO pattern when the PLL operation is stable.

第7図(1)は1本実施例の擬似ロック検出回路に第5
図[株]の擬似ロック信号を入力した場合のタイムチャ
ートである。この場合はウィンドウ内で“100101
001”パターンを検出し、エラー信号を出力する。
FIG. 7 (1) shows that the pseudo lock detection circuit of this embodiment has a fifth
It is a time chart when the pseudo lock signal shown in the figure [stock] is input. In this case, “100101” is displayed in the window.
001” pattern and outputs an error signal.

第7図(2)は1本実施例の擬似ロック検出回路に第5
図[相]の擬似ロック信号を入力した場合のタイムチャ
ートである。この場合はウィンドウ内で“100100
01001”パターンを検出し、エラー信号を出力する
FIG. 7 (2) shows that the pseudo lock detection circuit of this embodiment has a fifth
It is a time chart when the pseudo lock signal of figure [phase] is input. In this case, “100100” is displayed in the window.
01001” pattern and outputs an error signal.

第7図(3)は、再生信号に欠陥がある場合である0図
中aの区間内は欠陥のない正常な3Tパターンである。
FIG. 7(3) shows a case where there is a defect in the reproduced signal, and the section a in FIG. 0 is a normal 3T pattern with no defects.

また、bの部分ではパルスが欠落している。さらに、C
の部分ではビットシフトが発生している。これらいずれ
の場合にも、PLLエラーは検出されない。
Furthermore, a pulse is missing in part b. Furthermore, C
A bit shift occurs in the part. In either of these cases, no PLL error is detected.

第9図は、本実施例の擬似ロック検出回路を用いたリー
ドゲートの制御方法の例を示すタイムチャートである。
FIG. 9 is a time chart showing an example of a read gate control method using the pseudo lock detection circuit of this embodiment.

PLLエラーが無ければ1図示のようにプリフォーマッ
ト部とデータ部において、リードゲートは1回ずつ開く
のが良い6本回路によってPLLエラーが検出されれば
、リードゲートを閉じてPLLを再起動させるのが良い
、これにはり−ドゲートαのように、エラーが検出され
たら直ちにPLLを再起動させても良いし、リードゲー
トβのように、1回目のIDを再生終了するまではその
ままにしておいて、2回目のVFOの領域でPLLを再
起動させるという方法も考えられる。
If there is no PLL error, it is best to open the read gate once in the preformat section and the data section as shown in the figure.If a PLL error is detected by the 6 circuits, close the read gate and restart the PLL. You can restart the PLL as soon as an error is detected, as in read gate α, or leave it as is until the first ID is played, as in read gate β. Another possible method is to restart the PLL in the second VFO area.

以上のように、本実施例では、再生信号欠陥により、P
LL擬似ロックが発生したときに、それを速やかに検出
し、PLLを再起動することができる。
As described above, in this example, due to the reproduction signal defect, P
When a LL pseudo-lock occurs, it can be quickly detected and the PLL can be restarted.

これによって、再生信号欠陥が多い場合にも、PLLが
正しくロックされないことに起因する再生不能現象の発
生率を低くすることができる。
As a result, even when there are many reproduction signal defects, it is possible to reduce the incidence of reproduction failure caused by the PLL not being properly locked.

また、VFOパターン領域内にドロップアウト、エクス
トラパルス、ビットシフト等の信号欠陥が有る場合でも
PLLの擬似ロック状態を正しく判断することができる
Furthermore, even if there are signal defects such as dropouts, extra pulses, and bit shifts within the VFO pattern area, the pseudo-lock state of the PLL can be correctly determined.

さらに、PLLのプルインレンジ、ロックインレンジ等
の特性を測定する時にも、本発明の回路を用いると便利
である。
Furthermore, it is convenient to use the circuit of the present invention when measuring characteristics such as the pull-in range and lock-in range of a PLL.

また、データが正しく再生されない時に、その原因がP
LLの疑似ロックにあるのか、あるいはその他の原因1
例えばデータ部の信号欠陥にあるのかということを判断
することができる。
Also, when data is not played correctly, the cause may be P.
Is it due to LL pseudo lock or other cause 1?
For example, it can be determined whether there is a signal defect in the data section.

[発明の効果] 本発明によれば、入力信号のnTパターンの中にある(
nil)Tパターンあるいは(n−1)Tパターンを検
出することにより、PLLの擬似ロックを検出すること
から、他の信号の欠陥に影響されることなく、PLLの
異常を適正に判定することができる。
[Effects of the Invention] According to the present invention, (
By detecting the nil)T pattern or the (n-1)T pattern, PLL pseudo-lock is detected, so it is possible to appropriately determine PLL abnormality without being affected by other signal defects. can.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、本発明の一実施例を示す回路図である。 第2図は、従来の書き替え型の光ディスクのセクターフ
ォーマットの一例を示す模式図である。 第3図は、従来の光ディスクの再生回路の一例を示すブ
ロック図である。 第4図は、従来のPLL回路の例を示すブロック図であ
る。 第5図は、上記PLL回路の擬似ロックの4つの例を示
すタイムチャートである。 第6図は、上記PLL回路の入出力周波数特性を示す模
式図である。 第7図(1)〜(3)は、上記実施例のPLL擬似ロッ
ク検出回路の動作を説明するタイムチャートである。 第8図は、上記実施例におけるウィンドウの設定例を示
すタイムチャートである。 第9図は、上記実施例の擬似ロック検出回路を用いたリ
ードゲートの制御方法の例を示すタイムチャートである
。 l、2,10.11・・・フリップフロップ、3・・・
シフトレジスタ、 4.6.7.9・・・AND回路、 5.6・・・NOR回路、 12・・・OR回路。 特許出願人   キャノン株式会社 同代理人 用久保 新 7y−7−7ト ライ′/′Fつ 第6図 入力酒醪49 第8図 第7図(1) りO・ツク 1JIS1fL「−−−−−第7図(2) PLlj5−
FIG. 1 is a circuit diagram showing one embodiment of the present invention. FIG. 2 is a schematic diagram showing an example of a sector format of a conventional rewritable optical disc. FIG. 3 is a block diagram showing an example of a conventional optical disc reproducing circuit. FIG. 4 is a block diagram showing an example of a conventional PLL circuit. FIG. 5 is a time chart showing four examples of pseudo-locking of the PLL circuit. FIG. 6 is a schematic diagram showing the input/output frequency characteristics of the PLL circuit. FIGS. 7(1) to (3) are time charts illustrating the operation of the PLL pseudo-lock detection circuit of the above embodiment. FIG. 8 is a time chart showing an example of window settings in the above embodiment. FIG. 9 is a time chart showing an example of a read gate control method using the pseudo lock detection circuit of the above embodiment. l, 2, 10.11...Flip-flop, 3...
Shift register, 4.6.7.9...AND circuit, 5.6...NOR circuit, 12...OR circuit. Patent Applicant: Canon Co., Ltd. Kubo Shin 7y-7-7 Try'/'F Figure 6 Input Sake Moromi 49 Figure 8 Figure 7 (1) RiO Tsuku 1JIS1fL ``----- Figure 7 (2) PLlj5-

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)入力信号に含まれる一定周期nT(nは整数)の
パターンから、それに同期した周期Tのクロックを生成
するPLL回路において、 上記入力信号をPLLクロックに同期化したときのパタ
ーンについて、nTパターンとnTパターンとの間にあ
る(n+1)TパターンあるいはnTパターンとnTパ
ターンとの間にある(n−1)Tパターンを検出するこ
とによりPLLが正常に動作しているかどうかを検出す
ることを特徴とするPLL擬似ロック検出回路。
(1) In a PLL circuit that generates a clock with a period T synchronized with a pattern with a constant period nT (n is an integer) included in an input signal, the pattern when the input signal is synchronized with the PLL clock is nT. To detect whether the PLL is operating normally by detecting the (n+1)T pattern between the pattern and the nT pattern or the (n-1)T pattern between the nT pattern and the nT pattern. A PLL pseudo lock detection circuit characterized by:
(2)請求項(1)において、 上記PLLが正常に動作していないと判断したときには
、PLLを新たに再起動することを特徴とするPLL回
路。
(2) The PLL circuit according to claim (1), wherein when it is determined that the PLL is not operating normally, the PLL is restarted anew.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7366269B2 (en) 2004-04-26 2008-04-29 Sony Corporation False lock detection circuit and false lock detection method, PLL circuit and clock data recovery method, communication device and communication method, and optical disk reproducing device and optical disk reproducing method
JP2011030058A (en) * 2009-07-28 2011-02-10 Renesas Electronics Corp Clock data recovery circuit and display device

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