JPH04131786U - LSI tester - Google Patents
LSI testerInfo
- Publication number
- JPH04131786U JPH04131786U JP3856691U JP3856691U JPH04131786U JP H04131786 U JPH04131786 U JP H04131786U JP 3856691 U JP3856691 U JP 3856691U JP 3856691 U JP3856691 U JP 3856691U JP H04131786 U JPH04131786 U JP H04131786U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tester
- panel
- test head
- main body
- test
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 34
- 238000012986 modification Methods 0.000 abstract 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 abstract 1
- 241000238413 Octopus Species 0.000 description 1
- 241000287462 Phalacrocorax carbo Species 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】 テスタ本体とテストヘッド間の信号ケ−ブル
の接続を簡単に行えるようにした。
【構成】 被検査対象デバイスを試験する検査信号をテ
ストヘッドを介してテスタ本体１０と検査対象デバイス
との間で授受するＬＳＩテスタであって、テスタ本体１
０の前面に一側をヒンジとして開閉可能に取りるけられ
たパネル２０と、パネル２０の背面に設けられていて、
テスタ本体１０とテストヘッド間の信号線を中継してい
て、中継部分でテスタ本体１０とテストヘッド間の配線
関係を編集しているプリント基板とを設けるようにして
いる。
(57) [Summary] (with modifications) [Purpose] Easily connects the signal cable between the tester body and the test head. [Structure] An LSI tester that transmits and receives test signals for testing a device under test between a tester main body 10 and the device under test via a test head, the tester main body 1
A panel 20 is provided on the front side of 0 so that it can be opened and closed using a hinge on one side, and a panel 20 is provided on the back side of the panel 20,
A printed circuit board is provided that relays the signal line between the tester main body 10 and the test head, and edits the wiring relationship between the tester main body 10 and the test head at the relay part.
Description
【０００１】0001
本考案は、テスタ本体とテストヘッド間の信号ケ−ブルの接続に改良を加えた ＬＳＩテスタに関する。 This invention improves the connection of the signal cable between the tester body and the test head. Regarding LSI testers.
【０００２】0002
ＬＳＩテスタは、テストのための各種の信号を被検査対象デバイス（以下、Ｄ ＵＴと省略する）に加え、その結果ＤＵＴから出力される信号を各測定モジュ− ルに導入してＤＵＴの品質を検査する装置である。 このため、ＬＳＩテスタは、ＤＵＴの各ピンと各種の信号を授受できるように テスタ本体のモジュ−ルから引き出した信号ケ−ブルを一旦テストヘッドで振り 分けて配線し、このテストヘッドを介してＤＵＴに接続されている。 An LSI tester sends various signals for testing to the device under test (hereinafter referred to as D (abbreviated as UT), the resulting signal output from the DUT is transmitted to each measurement module. This is a device that is installed in the system to inspect the quality of the DUT. For this reason, LSI testers are designed to be able to send and receive various signals to and from each pin of the DUT. Shake the signal cable pulled out from the module of the tester body with the test head. It is wired separately and connected to the DUT via this test head.
【０００３】0003
このような従来のＬＳＩテスタは、信号ケ−ブルの配線の振り分けがテストヘ ッド内で行われているために、次のような欠点を有していた。 (1) 信号ケ−ブルの配線を一本ずつ振り分けてテストヘッドに接続するために、 接続作業に多大な工数が必要になる。 (2) テストヘッド内で信号ケ−ブルがタコ足配線になるために、ケ−ブルの収納 性が悪い。 (3) 信号ケ−ブル内の配線に一本でも断線が生じると、配線がタコ足配線されて いるために信号ケ−ブルの交換が大変で、メンテナンス性が悪い。 In such conventional LSI testers, the wiring of signal cables is divided into test sections. Because the process was carried out within the project, it had the following drawbacks. (1) In order to distribute the signal cables one by one and connect them to the test head, Connection work requires a large amount of man-hours. (2) Because the signal cable is wired in the test head, it is difficult to store the cable. Bad sex. (3) If even one wire in the signal cable is disconnected, the wires may be wired in an octopus manner. Because of this, it is difficult to replace the signal cable, and maintenance is poor.
【０００４】 本考案は、このような点に鑑みてなされたもので、テスタ本体とテストヘッド 間の信号ケ−ブルの接続を振り分け作業を行わないでできるようにしたもので、 信号ケ−ブルの接続作業の簡略化とメンテナンス性の良いＬＳＩテスタを提供す ることを目的とする。0004 This invention was made in view of these points, and it consists of a tester body and a test head. It is possible to connect signal cables between We provide an LSI tester that simplifies signal cable connection work and is easy to maintain. The porpose is to do.
【０００５】[0005]
このような目的を達成するために、本考案は、 被検査対象デバイスを試験する検査信号をテストヘッドを介してテスタ本体と 検査対象デバイスとの間で授受するＬＳＩテスタであって、 前記テスタ本体の前面に一側をヒンジとして開閉可能に取りるけられたパネル と、 このパネルの背面に設けられていて、前記テスタ本体と前記テストヘッド間の 信号線を中継していて、中継部分でテスタ本体とテストヘッド間の配線関係を編 集しているプリント基板とを設けたことを特徴している。 In order to achieve this purpose, the present invention The test signal for testing the device under test is sent to the tester body via the test head. An LSI tester that exchanges data with a device to be tested, A panel attached to the front of the tester body with one side hinged so that it can be opened and closed. and, provided on the back of this panel between the tester main body and the test head. The signal line is relayed, and the wiring relationship between the tester body and the test head is edited at the relay part. It is characterized by the fact that it is equipped with a printed circuit board.
【０００６】[0006]
本考案の各構成要素は、次に示すような作用をする。 パネルは、テスタ本体の前面にヒンジを介して開閉可能に取り付けられている 。 プリント基板は、パネルの背面に設けられていて、モジュ−ルの信号ケ−ブ ルから入力される信号を編集し、信号ケ−ブルを介してテストヘッドに接続する 。 Each component of the present invention operates as shown below. The panel is attached to the front of the tester body via a hinge so that it can be opened and closed. . The printed circuit board is installed on the back of the panel and connects the module's signal cable. Edit the signal input from the cable and connect it to the test head via the signal cable. .
【０００７】[0007]
以下図面を用いて、本考案の一実施例を説明する。図１は、本考案の一実施例 を示すＬＳＩテスタのテスタ本体部の要部正面図である。図２は、パネルが開か れた状態の要部の側断面図、図３はパネルが閉じられた状態の要部の側断面図で ある。図中、１０は箱形のテスタ本体で、数段にネスト１１が設けられていて、 各ネスト１１には複数のモジュ−ル１２が挿入並設されている。 ２０はパネルで、ヒンジ２１を中心にＹ−Ｙ´方向に開閉できるようになって いて、背面にはプリント基板２２（以下、マ−シャリングボ−ドと呼ぶ）が絶縁 部材を介して取り付けられている。 An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. Figure 1 shows an embodiment of the present invention. FIG. 3 is a front view of main parts of the tester main body of the LSI tester. Figure 2 shows that the panel is open. Figure 3 is a side sectional view of the main part with the panel closed. be. In the figure, 10 is a box-shaped tester main body, with nests 11 provided in several stages. A plurality of modules 12 are inserted and arranged in each nest 11 in parallel. 20 is a panel that can be opened and closed in the Y-Y' direction around a hinge 21. A printed circuit board 22 (hereinafter referred to as a marshalling board) is insulated on the back side. It is attached via a member.
【０００８】 マ−シャリングボ−ド２２は、複数枚が２段になって設けられていて、テスタ 本体１０のモジュ−ル１２から導出された信号ケ−ブル１３が接続されている。 信号ケ−ブル１３は、両端に多ピンのコネクタ１３ａ、ｂが設けられていて、 このコネクタ１３ａ，ｂを介してモジュ−ル１２とマ−シャリングボ−ド２２を 接続している。 マ−シャリングボ−ド２２に接続された信号ケ−ブル１３は、マ−シャリング ボ−ド２２で編集され、両端にコネクタ１４ａ有した信号ケ−ブル１４を介して テストヘッド（図省略）のマザ−ボ−ドに接続される。[0008] A plurality of marshalling boards 22 are arranged in two stages, and the tester A signal cable 13 led out from the module 12 of the main body 10 is connected. The signal cable 13 is provided with multi-pin connectors 13a and 13b at both ends. The module 12 and marshalling board 22 are connected via these connectors 13a and 13b. Connected. The signal cable 13 connected to the marshalling board 22 is connected to the marshalling board 22. The signal is edited by the board 22 and is connected via the signal cable 14 having connectors 14a at both ends. Connected to the motherboard of the test head (not shown).
【０００９】 このように、本考案のＬＳＩテスタは、モジュ−ル１２とマ−シャリングボ− ド２２間をコネクタ付きの信号ケ−ブル１３で接続し、更にマ−シャリングボ− ド２２とテストヘッド間をコネクタ付きのケ−ブル１４で接続するため、接続が 簡単である。[0009] In this way, the LSI tester of the present invention has the module 12 and the marshalling board. A signal cable 13 with a connector is connected between the boards 22, and a marshalling board is connected. Since the cable 14 with a connector connects between the board 22 and the test head, the connection is easy. It's easy.
【００１０】 ケ−ブル１３、１４の接続は、パネル２０をヒンジ２１を中心にＹ´方向に回 転して開き、チェ−ン２５によってパネル２０を水平に保持した状態において行 う。 チェ−ン２５は、長さが調整できるようになっていて、長さを変えることでパ ネル２０の開口度を自由に変えることができる。 ２６はパネル２０を閉じたときにテスタ本体１０にパネル２０を固定する固定 螺子で、パネル２０から脱落しないようにパネル２０に一体になって構成されて いる。0010 To connect the cables 13 and 14, rotate the panel 20 around the hinge 21 in the Y' direction. Turn it open and hold the panel 20 horizontally with the chain 25. cormorant. The length of the chain 25 can be adjusted, and by changing the length, the part can be adjusted. The opening degree of the flannel 20 can be changed freely. A fixing member 26 fixes the panel 20 to the tester body 10 when the panel 20 is closed. It is integrated into the panel 20 with screws so that it does not fall off from the panel 20. There is.
【００１１】[0011]
以上詳細に説明したように、本考案のＬＳＩテスタは、マ−シャリングボ−ド を介してテスタ本体のモジュ−ルとテストヘッドとを接続するようにしているた め、信号ケ−ブルを分岐して接続する必要がなく、信号ケ−ブルの接続が場所を 取らずに簡単に行うことができる。 As explained in detail above, the LSI tester of the present invention has a marshalling board. The module of the tester body and the test head are connected through the Therefore, there is no need to branch and connect signal cables, and signal cables can be connected in different places. It can be easily done without removing it.
【図１】本考案の一実施例を示すＬＳＩテスタのテスタ
本体部の要部正面図である。FIG. 1 is a front view of main parts of a tester main body of an LSI tester showing an embodiment of the present invention.
【図２】パネルが開かれた状態の要部の側断面図であ
る。FIG. 2 is a side sectional view of the main parts with the panel opened.
【図３】パネルが閉じられた状態の要部の側断面図であ
る。FIG. 3 is a side cross-sectional view of the main parts with the panel closed.
１０ テスタ本体 １２ モジュ−ル １３、１４ 信号ケ−ブル ２０ パネル ２２ マ−シャリングボ−ド 10 Tester body 12 modules 13, 14 Signal cable 20 panels 22 Marshaling board
Claims (1)
をテストヘッドを介してテスタ本体と検査対象デバイス
との間で授受するＬＳＩテスタであって、前記テスタ本
体の前面に一側をヒンジとして開閉可能に取りるけられ
たパネルと、このパネルの背面に設けられていて、前記
テスタ本体と前記テストヘッド間の信号線を中継してい
て、中継部分でテスタ本体とテストヘッド間の配線関係
を編集しているプリント基板と、を設けたことを特徴と
したＬＳＩテスタ。1. An LSI tester that transmits and receives test signals for testing a device under test between a tester main body and the device under test via a test head, the tester having a hinge on one side on the front surface of the tester main body for opening and closing. A panel that can be removed, and a panel provided on the back of this panel, relays the signal line between the tester body and the test head, and the relay part connects the wiring relationship between the tester body and the test head. An LSI tester characterized by being equipped with a printed circuit board for editing.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991038566U JP2555044Y2 (en) | 1991-05-28 | 1991-05-28 | LSI tester |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991038566U JP2555044Y2 (en) | 1991-05-28 | 1991-05-28 | LSI tester |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04131786U true JPH04131786U (en) | 1992-12-04 |
| JP2555044Y2 JP2555044Y2 (en) | 1997-11-19 |
Family
ID=31920039
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1991038566U Expired - Lifetime JP2555044Y2 (en) | 1991-05-28 | 1991-05-28 | LSI tester |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2555044Y2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007529748A (en) * | 2004-03-17 | 2007-10-25 | クウォリタウ・インコーポレーテッド | Electrical connector for semiconductor device test fixture and test assembly |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51144116U (en) * | 1975-05-14 | 1976-11-19 | ||
| JPS6260095U (en) * | 1985-10-01 | 1987-04-14 | ||
| JPH02131386U (en) * | 1989-04-06 | 1990-10-31 |
-
1991
- 1991-05-28 JP JP1991038566U patent/JP2555044Y2/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51144116U (en) * | 1975-05-14 | 1976-11-19 | ||
| JPS6260095U (en) * | 1985-10-01 | 1987-04-14 | ||
| JPH02131386U (en) * | 1989-04-06 | 1990-10-31 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007529748A (en) * | 2004-03-17 | 2007-10-25 | クウォリタウ・インコーポレーテッド | Electrical connector for semiconductor device test fixture and test assembly |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2555044Y2 (en) | 1997-11-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3699127B2 (en) | JTAG testing of buses using plug-in cards with JTAG logic | |
| US4084869A (en) | Interconnector for integrated circuit package | |
| JP3285212B2 (en) | Tester interconnect system | |
| JPH0618620A (en) | Method and device for simultaneously testing input/output connecting section and device | |
| KR930006876A (en) | Electrical parameter inspection circuit of input and output of integrated circuit | |
| US5101150A (en) | Automatic circuit tester with separate instrument and scanner buses | |
| JPH04131786U (en) | LSI tester | |
| JPH10227830A (en) | Test board for ic tester | |
| JP3037043B2 (en) | Circuit mounting method for easy test of printed circuit board | |
| JPH11260869A (en) | Inspection device of multi-pin device by probe card | |
| JP2519283Y2 (en) | Card Module | |
| JPH1194895A (en) | Pci bus short circuit checker and method for checking | |
| JPH051282U (en) | Electronic unit | |
| JPS6379143A (en) | Connecting device for microcomputer | |
| JPS59180468A (en) | Jig for testing circuit | |
| JPH0933614A (en) | Connecting device | |
| JPH03180774A (en) | Circuit verifying device | |
| JPH0280983A (en) | Comparing inspection apparatus | |
| JPH02168586A (en) | Circuit board connecting device | |
| JPS6255573A (en) | Trouble shooting for electronic circuit board | |
| JPH09329637A (en) | Method and device for inspecting wiring of dut interface for ic test device | |
| JPS60111279U (en) | Cable wiring checker | |
| JP2001103076A (en) | Analyzing method for ieee1394 bus and interface circuit | |
| JPS60219796A (en) | Connector | |
| JPS63298172A (en) | Facilitation of test for logic circuit |