JPH04121831A - 光学式ピックアップ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は円盤状記録媒体に各種情報を光学的に記録・再
生および再生のみを行う装置の光学式ピックアップに関
し、特にフォーカス検出系のオフセット補正を行う光学
式ピックアップに関するものである。

〔従来の技術〕

第６図は従来の光学式ピックアップの一例を示すブロッ
ク図、第７図は第６図に示した従来例を対物レンズのフ
ァーフィールドから眺めたときの図である。

従来、この種の装置においては、第６図および第７図に
示すように半導体レーザ１から出射された光束はコリメ
ートレンズ２により平行光とされた後、前方に配置され
たビーム整形プリズム３に入射し、半導体レーザ１のＰ
Ｎ接合面と平行な方向に２．５倍程度拡大され円形光束
となって偏光ビームスプリッタ４に入射する。この時、
偏光ビ−ムスプリッタ４はコリメートレンズ２出射後の
光束がＳ偏光にて入射するように配置されているため、
偏光ビームスプリッタ４に入射した光束はその誘電体多
層膜をコートした接合面により１００％反射され、λ／
４板５を透過後円偏光となり対物レンズ６により円盤状
記ｊ［体１３上に集光される。

かかる後に、円盤状記録媒体１３によって反射された光
束は、再び対物レンズ６を透過しλ／４板５を透過し、
半導体レーザ２を出射後の光束となす方位角が９０°と
なる直線偏光となり再び偏光ビームスプリッタ４に入射
する。この時、この光束は偏光ビームスプリッタ４に対
してＰ偏光で入射するため１００％反射し、λ／４板５
を透過後円偏光となり凹面鏡８によって集光されながら
反射し、再びλ／４板５を透過しＳ偏光となり今度は偏
光ビームスプリッタ４の誘電体多層膜をコートシた接合
面により１００％反射されてビームスプリッタフに入射
する。

ビームスプリッタフに入射した光束は、その５０％が凹
面鏡８の光軸に垂直な方向に出射し、さらに５０％の光
量が前方にあるナイフ１１により遮られ、２分割の受光
素子１２によって捕えられ、その差動出力によりフォー
カシング制御を行い残りの凹面鏡８の光軸に平行な方向
に出射した光束は受光素子９によって捕えられ、トラッ
キング制御およびＲＦ信号検出を行っていた。

〔発明が解決しようとする課題〕

上述した従来の光学式ピックアップでは、フォーカシン
グ制御を行うためにシングルナイフェツジ法を採用して
いる。即ち、ビームスプリッタ７から凹面鏡８の光軸と
直交する方向に出射した光束をナイフ１１により凹面鏡
８の光軸に平行な面内において５０％の光量の遮光を行
い、２分割の受光素子１２のその２つの受光面同士の差
動出力によりフォーカス検出を行い、対物レンズ６のフ
ォーカシング制御を行っている６ところが、外部からの
衝撃力および急激な温度変化等によりフォーカス検出系
にオフセットを生じた場合、即ち、２分割の受光素子１
２が初期位置より凹面鏡８の光軸に平行な方向に移動し
てしまい、２分割の受光素子１２の差動出力にオフセッ
トを生じた場合には、フォーカス検出系において誤検出
が発生することから起こるフォーカシング制御の不能状
態に陥るばかりでなく、フォーカス検出機能を回復する
なめには再度２分割の受光素子１２を調整し直さなけれ
ばならないという欠点があった。

本発明の目的は、ビームスプリッタとナイフとの間にフ
ォーカスオフセットの度合により定量的にその厚みある
いは曲率が定められた平行平板ガラスおよび平凸レンズ
等のフォーカスオフセット補正用の部材を挿入すること
により、外部からの衝撃力および急激な温度変化によっ
て生じたフォーカスオフセットの補正を簡単に行えるよ
うにした光学式ピックアップを提供することにある。

〔課題を解決するための手段〕

本発明の光学式ピックアップは、円盤状記録媒体に各種
情報を光学的に記録・再生または再生のみを行う光学式
記録再生装置に用いられ且つ前記円盤状記録媒体上にお
ける光スポットのピントすれをナイフェツジ法により検
出する光学式ピックアップにおいて、前記ナイフェツジ
法を構成するナイフと、少なくとも２分割した受光素子
との間にフォーカスオフセット補正用の部材を有するこ
とを特徴とする。また、前記フォーカスオフセット補正
用の部材はフォーカスオフセットの度合により定量的に
その厚みまたは曲率が定められた平行平板ガラスおよび
平凸レンズのいずれがであることを特徴とする。

〔実施例〕

次に、本発明について第１図〜第５図を参照して説明す
る。

第１図は本発明の光学式ピックアップの一実施例を示す
ブロック図、第２図は第１図に示した実施例を対物レン
ズの上部のファーフィールドから眺めたときの図である
。

本実施例は、ビームスプリッタ７とナイフ１１との間に
フォーカスオフセット補正用部材１ｏを設けた点が第６
図および第７図に示す従来例とは異なる。

円盤状記録媒体１３によって反射された光束は対物レン
ズ６およびλ／４板５を透過し、半導体レーザ出射後の
光束となす方位角が９０°となる直線偏光となり再び偏
光ビームスプリッタ４に今度はＰ偏光となって入射する
ため、その誘電体多層膜をコートした接合面により反射
されてビームスプリッタフに入射する。

ビームスプリッタフに入射した光束はその５０％の光量
が誘電体多層膜をコートした接合面により反射し、前方
にある４分割の受光素子９によって捕えられ、その差動
出力によりトラッキング制御およびＲＦ信号検出を行う
０次に、ビームスプリッタフの誘電体多層膜をコートし
た接合面を透過した残りの光束は前方にあるナイフ１１
により凹面鏡８の光軸に平行な面内において５０％の光
量が遮光され、前方にある２分割の受光素子１２によっ
て捕えられてその差動出力を行うが、外部からの衝撃力
あるいは急激な温度変化等によ、って２分割の受光素子
１２が凹面鏡８の光軸に平行な方向に移動してしまい、
正確なフォーカス検出ができなくなった場合には、以下
に示すようにフォーカスオフセット補正用部材１０の働
きにより補正を行う。

第３図は第１図におけるフォーカスオフセット補正用部
材を説明するための図で、予めオフセットの度合に応じ
て定量的にその厚みが決定された平行平板ガラスａ、〜
ｅあるいは平凸レンズｆ。

〜ｊが用意されている。

第４図は第１図、第２図においてフォーカス検出系にオ
フセットが発生したときその補正方法を説明するための
図であり、第５図は第４図のそれぞれの状態において円
盤状記録媒体の面振れによって生じる２分割の受光素子
の差動出力の波形を示す図である。

第４図（ａ）に示すように２分割の受光素子１２にオフ
セットを生じていない初期の状態では第５図（ａ）に示
すように２分割の受光素子１２の差動出力の出力波形が
対物レンズに対する媒体のＩＮフォーカスおよびＯＵＴ
フォーカス状態の振幅の大きさに差を生じておらず、対
物レンズの焦点検出が正確に行われている。ところが、
第４図（ｂ）のように２分割の受光素子１２がナイフ１
１のエツジにより下方にずれて第５図（ｂ）のように２
分割の受光素子１２の差動出力のＩＮフォーカスとＯＵ
Ｔフォーカスのそれぞれの振幅の大きさのバランスがく
ずれジャストフォーカス位置であたかもＯＵＴフォーカ
スであると誤検出させるようなオフセットが発生した場
合には、第４図（ｃ）のようにそのオフセットに応じた
平行平板ガラスをビームスプリッタとナイフ１１の間に
挿入して凹面鏡から出射した光束の焦点距離を長くして
、第５図（Ｃ）のように対物レンズがジャストフォーカ
スのときに波形がグランドＧにゼロクロスするようにし
て更に振幅が小さい方の受光素子にアンバランスな分だ
け電圧を加算して電気的なオフセットを補正する。

また、例えば第４図（ｄ）のように２分割の受光素子１
２がナイフ１１のエツジより上方にずれて第５図（ｄ）
のように２分割の受光素子１２の差動出力のＩＮフォー
カスとＯＵＴフォーカスのそれぞれの振幅の大きさのバ
ランスがくずれジャストフォーカス位置であたかもＩＮ
フォーカスであると誤検出させるようなオフセットが発
生した場合には、第４図（ｅ）のようにそのオフセット
に応じた平凸レンズ１０をビームスプリッタとナイフ１
１の間に挿入して凹面鏡から出射した光束の焦点距離を
短くして、第５図（ｅ）のように対物レンズ６がジャス
トフォーカスのときに波形がグランドＧにゼロクロスす
るようにして更に振幅が小さい方の受光素子にアンバラ
ンスな分だけ電圧を加算して電気的なオフセットを補正
する。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明によれば、フォーカス検出系
において、ビームスプリッタとナイフとの間にフォーカ
スオフセットの度合により定量的にその厚みあるいは曲
率が定められた平行平板ガラスまたは平凸レンズ等のフ
ォーカスオフセット補正用部材を挿入するより、外部か
らの衝撃力および急激な温度変化によって生じたフォー
カスオフセットの補正を簡単に行えるという効果がある
。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の光学式ピックアップの一実施例を示す
ブロック図、第２図は第１図に示した実施例を対物レン
ズの上部のファーフィードから眺めたときの図、第３図
は第１図におけるフォーカスオフセット補正用部材を説
明するための図、第４図は第１図、第２図においてフォ
ーカス検出系にオフセットが発生したときその補正方法
を説明するための図、第５図は第４図のそれぞれの状態
において円盤状記録媒体の面振れによって生じる２分割
の受光素子の差動出力の波形を示す図、第６図は従来の
光学式ピックアップの一例を示すブロック図、第７図は
第６図に示した従来例を一対一レンズのファーフィール
ドから眺めなとき図である。 １・・・半導体レーザ、２・・・コリメートレンズ、３
・・・ビーム整形プリズム、４・・・偏光ビームスプリ
ッタ、５・・・λ／４板、６・・・対物レンズ、７・・
・ビームスプリッタ、８・・・凹面鏡、９・・・４分割
の受光素子、１０・・・フォーカスオフセット補正用部
材、１１・・・ナイフ、１２・・・２分割の受光素子、
１３・・・円盤状記録媒体。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、円盤状記録媒体に各種情報を光学的に記録・再生ま
   たは再生のみを行う光学式記録再生装置に用いられ且つ
   前記円盤状記録媒体上における光スポットのピントずれ
   をナイフエッジ法により検出する光学式ピックアップに
   おいて、前記ナイフエッジ法を構成するナイフと、少な
   くとも２分割した受光素子との間にフォーカスオフセッ
   ト補正用の部材を有することを特徴とする光学式ピック
   アップ。 ２、前記フォーカスオフセット補正用の部材はフォーカ
   スオフセットの度合により定量的にその厚みまたは曲率
   が定められた平行平板ガラスおよび平凸レンズのいずれ
   かであることを特徴とする請求項１記載の光学式ピック
   アップ。