JPH0411125B2 - - Google Patents
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- JPH0411125B2 JPH0411125B2 JP61014515A JP1451586A JPH0411125B2 JP H0411125 B2 JPH0411125 B2 JP H0411125B2 JP 61014515 A JP61014515 A JP 61014515A JP 1451586 A JP1451586 A JP 1451586A JP H0411125 B2 JPH0411125 B2 JP H0411125B2
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/04—Modifications for accelerating switching
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Description
【発明の詳細な説明】
(技術分野)
本発明は、半導体リレー回路に関するものであ
り、さらに詳しくは、光結合によるアイソレーシ
ヨンを利用した半導体リレー回路に関するもので
ある。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Technical Field) The present invention relates to a semiconductor relay circuit, and more particularly to a semiconductor relay circuit that utilizes isolation by optical coupling.
(背景技術)
従来、フオトカツプラとMOSFETとを組み合
わせた半導体リレー回路が提案されている。この
従来例にあつては、例えば、リレーの入力端子に
LEDを接続し、このLEDからの光をフオトダイ
オードアレイにて受光し、フオトダイオードアレ
イの両端に発生した電圧を、MOSFETのゲー
ト・ソース間に印加すると共に、MOSFETのソ
ース・ドレイン間をリレーの出力端子としていた
ものである。(Background Art) Conventionally, semiconductor relay circuits that combine a photocoupler and a MOSFET have been proposed. In this conventional example, for example, the input terminal of the relay
An LED is connected, the light from this LED is received by a photodiode array, and the voltage generated across the photodiode array is applied between the gate and source of the MOSFET, and a relay is applied between the source and drain of the MOSFET. It was used as an output terminal.
しかしながら、このような方式の半導体リレー
回路において、高速スイツチング特性を実現する
ためには、光信号が出力された時には、この光信
号を受けた受光素子に発生した電気信号にて、ス
イツチング素子の制御端子電圧を素早く上昇させ
ると共に、光信号が遮断された時には、スイツチ
ング素子の制御端子に蓄積されていた電荷を、速
やかに放電させて制御端子電圧を素早く降下させ
る必要があつた。このため、この種の半導体リレ
ー回路では、上記の動作を実現するために種々の
制御回路が付加されてきたが、回路構成が複雑で
高価なものとなつたり、逆に回路構成が簡単すぎ
て十分な効果を期待できないものが多かつた。 However, in order to achieve high-speed switching characteristics in this type of semiconductor relay circuit, when an optical signal is output, the switching element must be controlled by an electrical signal generated in the light receiving element that receives the optical signal. In addition to quickly increasing the terminal voltage, when the optical signal is interrupted, it is necessary to quickly discharge the charge accumulated in the control terminal of the switching element and quickly lower the control terminal voltage. For this reason, various control circuits have been added to this type of semiconductor relay circuit to achieve the above operations, but the circuit configuration has become complicated and expensive, or conversely, the circuit configuration has been too simple. There were many cases where we could not expect sufficient effects.
そこで、本発明者らは、制御回路として必要な
条件は、リレーの出力端子間をスイツチングする
素子の制御端子に蓄積された電荷の充放電を高速
に行なうことであるとの認識の下に、このような
制御回路の構成要素として適する素子を種々検討
した結果、試行錯誤の末、近年開発された絶縁ゲ
ートプレーナサイリスタ(IGT:Insulated−
Gate Planar Thyristor)が極めて有効な素子で
あることを見出した。 Therefore, the present inventors recognized that a necessary condition for a control circuit is to quickly charge and discharge the charge accumulated in the control terminal of the element that switches between the output terminals of the relay. As a result of examining various elements suitable as components of such control circuits, and after much trial and error, we decided on the recently developed insulated gate planar thyristor (IGT).
We have found that a gate planar thyristor (Gate Planar Thyristor) is an extremely effective device.
(発明の目的)
本発明は、上述のような知見に基づいてなされ
たものであり、その目的とするところは、スイツ
チング素子の制御電圧の充放電を速やかに行なう
ための制御回路を供え、高速スイツチングを可能
とした半導体リレー回路を絶縁ゲートプレーナサ
イリスタを用いた簡単な回路構成で実現すること
にある。(Object of the Invention) The present invention has been made based on the above-mentioned knowledge, and its purpose is to provide a control circuit for quickly charging and discharging the control voltage of a switching element, and to provide a high-speed switching device. The object of this invention is to realize a semiconductor relay circuit that enables switching with a simple circuit configuration using an insulated gate planar thyristor.
(発明の開示)
基本構成
第1図は、本発明の基本構成を示す回路図であ
る。本発明に係る半導体リレー回路においては、
この第1図に示されるように、一対の入力端子1
0,11と、前記入力端子10,11に接続され
た発光素子1と、前記発光素子1の光信号を受け
て、電気信号を出力する受光素子2と、受光素子
2の両端間に接続された第1の抵抗4と、前記受
光素子2の陽極に陽極が接続されたダイオード3
と、ソース及びN型基板が前記ダイオード3の陰
極に接続されゲートが前記ダイオード3の陽極に
接続された第1のPチヤンネルMOSFET5と、
アノード端子が前記ダイオード3の陰極に接続さ
れ、カソード端子が前記受光素子2の陰極に接続
され、ゲート端子が第1のPチヤンネル
MOSFET5のドレインに接続された絶縁ゲート
プレーナサイリスタ6と、ソース端子が前記ダイ
オード3の陽極に接続され、ゲート端子が前記受
光素子2の陰極に接続され、ドレイン素子が前記
絶縁ゲートプレーナサイリスタ6のN型半導体バ
ルク層に接続され、N型基板が前記ダイオード3
の陰極に接続された第2のPチヤンネル
MOSFET7と、前記絶縁ゲートプレーナサイリ
スタ6のゲート端子とカソード端子の間に接続さ
れた第2の抵抗8と、前記ダイオード3の陰極と
前記受光素子2の陰極との間に制御端子を接続さ
れ、制御端子間に印加される電圧に応じて通電端
子間のインピーダンスが変化するスイツチング素
子9と、スイツチング素子9の通電端子に接続さ
れた一対の出力端子12,13とを備えるもので
ある。なお、第2のPチヤンネルMOSFET7の
ゲートは受光素子2の陰極に実質的に接続されて
いればよく、絶縁ゲートプレーナサイリスタ6の
ゲートにPチヤンネルMOSFET7のゲートを接
続して、抵抗8を介してPチヤンネルMOSFET
7のゲートが受光素子2の陰極に接続されるよう
にしてもよい。(Disclosure of the Invention) Basic Configuration FIG. 1 is a circuit diagram showing the basic configuration of the present invention. In the semiconductor relay circuit according to the present invention,
As shown in FIG. 1, a pair of input terminals 1
0 and 11, a light emitting element 1 connected to the input terminals 10 and 11, a light receiving element 2 that receives an optical signal from the light emitting element 1 and outputs an electrical signal, and a light receiving element 2 connected between both ends of the light receiving element 2. a first resistor 4 and a diode 3 whose anode is connected to the anode of the light receiving element 2.
and a first P-channel MOSFET 5 whose source and N-type substrate are connected to the cathode of the diode 3 and whose gate is connected to the anode of the diode 3;
An anode terminal is connected to the cathode of the diode 3, a cathode terminal is connected to the cathode of the light receiving element 2, and a gate terminal is connected to the first P channel.
An insulated gate planar thyristor 6 is connected to the drain of the MOSFET 5, a source terminal is connected to the anode of the diode 3, a gate terminal is connected to the cathode of the light receiving element 2, and a drain element is connected to the N of the insulated gate planar thyristor 6. type semiconductor bulk layer, and the N type substrate is connected to the diode 3.
a second P-channel connected to the cathode of
A control terminal is connected between the MOSFET 7, a second resistor 8 connected between the gate terminal and the cathode terminal of the insulated gate planar thyristor 6, and the cathode of the diode 3 and the cathode of the light receiving element 2, It includes a switching element 9 whose impedance between current-carrying terminals changes depending on the voltage applied between the control terminals, and a pair of output terminals 12 and 13 connected to the current-carrying terminals of the switching element 9. Note that the gate of the second P-channel MOSFET 7 only needs to be substantially connected to the cathode of the light-receiving element 2, and the gate of the P-channel MOSFET 7 is connected to the gate of the insulated gate planar thyristor 6 through the resistor 8. P channel MOSFET
The gate of 7 may be connected to the cathode of the light receiving element 2.
絶縁ゲートプレーナサイリスタ6(以下、単に
IGT6という)の構造及び基本動作については、
例えば、IEEE TRANSACTIONS ON
ELECTRON DEVICES VOL.ED−27、No.2、
FEBRUARY 1980等に開示されているが、ここ
で簡単に説明しておく。IGT6は第2図に示すよ
うな構造を有しており、その等価回路は第3図に
示すようになる。第2図及び第3図において、A
はアノード端子、Kはカソード端子、Gはゲート
端子、BはN型半導体バルク端子である。第2図
に示されるように、N型半導体バルクの一方の面
は、P型に強くドープされ、このP型領域にアノ
ード端子Aを接続されている。また、N型半導体
バルクの他方の面には、一対のP型に弱くドープ
された領域を作り、その中心部をP型に強くドー
プし、P型に強くドープされた領域とP型に弱く
ドープされた領域とに亘る部分をN型に強くドー
プし、このN型に強くドープされた領域にアルミ
電極を蒸着し、カソード端子Kとしてある。P型
に弱くドープされた領域とN型半導体バルクとに
亘る部分の表面には、薄い絶縁層を介してゲート
電極が配置されており、このゲート電極はゲート
端子Kに接続されている。また、N型半導体バル
クの一部は、N型に強くドープされて、アルミ電
極を蒸着され、バルク端子Bを接続されている。 Insulated gate planar thyristor 6 (hereinafter simply referred to as
Regarding the structure and basic operation of IGT6),
For example, IEEE TRANSACTIONS ON
ELECTRON DEVICES VOL.ED−27, No.2,
FEBRUARY 1980, etc., but I will briefly explain it here. The IGT 6 has a structure as shown in FIG. 2, and its equivalent circuit is shown in FIG. 3. In Figures 2 and 3, A
is an anode terminal, K is a cathode terminal, G is a gate terminal, and B is an N-type semiconductor bulk terminal. As shown in FIG. 2, one side of the N-type semiconductor bulk is heavily doped with P-type, and an anode terminal A is connected to this P-type region. In addition, on the other side of the N-type semiconductor bulk, a pair of weakly doped P-type regions are formed, the center of which is strongly doped with P-type, and a region strongly doped with P-type and a region weakly doped with P-type. The portion extending over the doped region is strongly doped with N type, and an aluminum electrode is deposited on this region which is heavily doped with N type to form a cathode terminal K. A gate electrode is arranged on the surface of the portion extending between the weakly P-doped region and the N-type semiconductor bulk via a thin insulating layer, and this gate electrode is connected to a gate terminal K. Further, a part of the N-type semiconductor bulk is strongly doped with N-type, an aluminum electrode is deposited thereon, and a bulk terminal B is connected to the N-type semiconductor bulk.
この第2図に示される構造の等価回路は、第3
図に示されるように、PNPトランジスタと、
NPNトランジスタとをサイリスタ構造となるよ
うに接続し、NPNトランジスタの両端間にNチ
ヤンネルMOSFETを並列接続した回路となる。
すなわち、PNPトランジスタのベース及びコレ
クタは、それぞれ、NPNトランジスタのコレク
タ及びベースに接続され、PNPトランジスタの
エミツタは、IGT6のアノード端子Aに接続さ
れ、NPNトランジスタのエミツタは、IGT6の
カソード端子Kに接続される。NPNトランジス
タのコレクタ及びエミツタは、それぞれ、Nチヤ
ンネルMOSFETのドレイン及びソースに接続さ
れている。NチヤンネルMOSFETのソースは基
板端子と共通されており、ゲートはIGT6のゲー
ト端子Gに接続されている。さらに、NPNトラ
ンジスタのコレクタはバルク端子Bに接続されて
いる。 The equivalent circuit of the structure shown in FIG.
As shown in the figure, a PNP transistor and
The circuit consists of an NPN transistor connected in a thyristor structure, and an N-channel MOSFET connected in parallel between both ends of the NPN transistor.
That is, the base and collector of the PNP transistor are connected to the collector and base of the NPN transistor, respectively, the emitter of the PNP transistor is connected to the anode terminal A of IGT6, and the emitter of the NPN transistor is connected to the cathode terminal K of IGT6. be done. The collector and emitter of the NPN transistor are connected to the drain and source of the N-channel MOSFET, respectively. The source of the N-channel MOSFET is shared with the substrate terminal, and the gate is connected to the gate terminal G of the IGT6. Furthermore, the collector of the NPN transistor is connected to bulk terminal B.
作 用
まず、IGT6の動作について説明する。アノー
ド端子Aがカソード端子Kに対して正の電位とな
るように電圧が印加されている場合において、ゲ
ート端子Gがカソード端子Kと同じ電位で、バル
ク端子Bがアノード端子Aと同じ電位か、または
アノード端子Aよりも高い電位であるときには、
NチヤンネルMOSFETが導通せず、また、PNP
トランジスタもゼロバイアス、または、逆バイア
ス状態であるので導通せず、このため、NPNト
ランジスタにはベース電流が流れない。したがつ
て、IGT6のアノード・カソード間は非導通状態
となつている。次に、バルク端子Bがアノード端
子Aよりも低い電位になるか、または、ゲート端
子Gがカソード端子Kに対して所定のスレシヨル
ド電圧VTH1以上の正電圧レベルになつて、Nチヤ
ンネルMOSFETが導通したときには、IGT6内
のPNPトランジスタのエミツタ・ベース間に電
流が流れる。これによつて、PNPトランジスタ
が導通すると、NPNトランジスタにベース電流
が流れ、NPNトランジスタも導通する。NPNト
ランジスタが導通することにより、PNPトラン
ジスタのベースの電流路が確保され、サイリスタ
現象によりIGT6のアノード・カソード間は導通
状態となる。このように、IGT6は通常のサイリ
スタに比べると、バルク端子Bを有しており、こ
のバルク端子Bをアノード端子Aよりも高い電位
にプルアツプしておけば、サイリスタが不用意に
ターンオンすることを確実に防止できるようにな
つている。Operation First, the operation of IGT6 will be explained. When a voltage is applied so that the anode terminal A has a positive potential with respect to the cathode terminal K, is the gate terminal G at the same potential as the cathode terminal K, and the bulk terminal B at the same potential as the anode terminal A? Or when the potential is higher than that of the anode terminal A,
N-channel MOSFET does not conduct, and PNP
Since the transistor is also in a zero bias or reverse bias state, it does not conduct, so no base current flows through the NPN transistor. Therefore, the anode and cathode of the IGT 6 are in a non-conducting state. Next, either the bulk terminal B becomes a lower potential than the anode terminal A, or the gate terminal G becomes a positive voltage level higher than a predetermined threshold voltage V TH1 with respect to the cathode terminal K, and the N-channel MOSFET becomes conductive. When this happens, a current flows between the emitter and base of the PNP transistor in IGT6. As a result, when the PNP transistor becomes conductive, a base current flows through the NPN transistor, and the NPN transistor also becomes conductive. When the NPN transistor becomes conductive, a current path through the base of the PNP transistor is secured, and the anode and cathode of the IGT 6 become conductive due to the thyristor phenomenon. In this way, compared to a normal thyristor, the IGT6 has a bulk terminal B, and if this bulk terminal B is pulled up to a higher potential than the anode terminal A, the thyristor can be prevented from being turned on inadvertently. It is now possible to definitely prevent this.
次に、第1図回路の全体動作について説明す
る。 Next, the overall operation of the circuit shown in FIG. 1 will be explained.
第1図の回路において、入力端子10,11間
に、外部回路によつて電圧が印加されると、発光
素子1が光信号を出力する。受光素子2はこの光
信号を受けて電気信号を発生し、抵抗4の両端に
電圧信号を発生させる。この電圧信号はダイオー
ド3の陽極、陰極を介して、スイツチング素子9
の制御端子に印加される。このとき、ダイオード
3は順方向にバイアスされているので、Pチヤン
ネルMOSFET5のゲートとソースの間は逆バイ
アスされており、PチヤンネルMOSFET5は導
通しない。したがつて、IGT6のゲート端子Gは
カソード端子Kと同じ電位となつている。また、
PチヤンネルMOSFET7は導通状態であり、
IGT6のバルク端子Bへ正電荷を流し込んでいる
ので、IGT6がサイリスタ現象を起こして導通状
態となることを防止している。このため、スイツ
チング素子9の制御端子間は高インピーダンスと
なつており、スイツチング素子の制御端子の電圧
は受光素子2からの出力により急速に上昇する。
これによつて、スイツチング素子9の通電端子間
は高インピーダンス、または、低インピーダンス
のうちいずれか一方のインピーダンス状態とな
る。 In the circuit shown in FIG. 1, when a voltage is applied between input terminals 10 and 11 by an external circuit, light emitting element 1 outputs an optical signal. The light receiving element 2 receives this optical signal, generates an electric signal, and generates a voltage signal across the resistor 4. This voltage signal is passed through the anode and cathode of the diode 3 to the switching element 9.
is applied to the control terminal of At this time, since the diode 3 is biased in the forward direction, the gate and source of the P-channel MOSFET 5 are reverse biased, and the P-channel MOSFET 5 is not conductive. Therefore, the gate terminal G of the IGT 6 is at the same potential as the cathode terminal K. Also,
P-channel MOSFET 7 is in a conductive state,
Since a positive charge is poured into the bulk terminal B of the IGT 6, the IGT 6 is prevented from causing a thyristor phenomenon and becoming conductive. Therefore, there is a high impedance between the control terminals of the switching element 9, and the voltage at the control terminal of the switching element rapidly increases due to the output from the light receiving element 2.
As a result, the impedance state between the current-carrying terminals of the switching element 9 is either high impedance or low impedance.
次に、入力端子10,11間の電圧が除去され
て、発光素子1の光信号が遮断されると、受光素
子2による電気信号の発生は停止される。このと
き、受光素子2の電荷は抵抗4を介して放電さ
れ、受光素子2の両端電圧は急速に低下する。一
方、スイツチング素子9の制御端子に蓄積された
電荷は、ダイオード3によつて逆流を阻止されて
いるので、ダイオード3を介する経路で放電され
ることはない。したがつて、Pチヤンネル
MOSFET5のソース電位はゲート電位よりも高
くなり、PチヤンネルMOSFET5のソース・ド
レイン間インピーダンスが低下する。これによつ
て、抵抗8の両端電圧V1が上昇し、IGT6のゲ
ート端子Gの電圧が上昇する。前記電圧V1が
IGT6内のNチヤンネルMOSFETのスレシヨル
ド電圧VTH1よりも高くなると、IGT6のアノー
ド・カソード間が導通する。このため、スイツチ
ング素子9の制御端子に蓄積された電荷は急速に
放電され、スイツチング素子9の通電端子間は高
インピーダンス、または、低インピーダンスのう
ちいずれか他方のインピーダンス状態となる。 Next, when the voltage between the input terminals 10 and 11 is removed and the optical signal from the light emitting element 1 is cut off, the generation of the electrical signal by the light receiving element 2 is stopped. At this time, the charge in the light receiving element 2 is discharged through the resistor 4, and the voltage across the light receiving element 2 rapidly decreases. On the other hand, the charge accumulated in the control terminal of the switching element 9 is prevented from flowing backward by the diode 3, so that it is not discharged through the path via the diode 3. Therefore, P channel
The source potential of MOSFET 5 becomes higher than the gate potential, and the source-drain impedance of P-channel MOSFET 5 decreases. As a result, the voltage V 1 across the resistor 8 increases, and the voltage at the gate terminal G of the IGT 6 increases. The voltage V 1 is
When the voltage becomes higher than the threshold voltage V TH1 of the N-channel MOSFET in the IGT 6, conduction occurs between the anode and cathode of the IGT 6. Therefore, the charge accumulated in the control terminal of the switching element 9 is rapidly discharged, and the impedance state between the current-carrying terminals of the switching element 9 becomes either high impedance or low impedance.
実施例 1
以下、本発明の好ましい実施例を添付図面と共
に説明する。第4図は本発明の一実施例の回路図
である。本実施例においては、スイツチング素子
9として、エンハンスメント型のMOSFET9が
使用されている。第5図に本実施例に使用した
MOSFET9aのドレイン電流IDと、ゲート・ソ
ース間電圧VGSとの関係を示す。実施例回路にお
いて、受光素子2の陽極はダイオード3を介して
MOSFET9aのゲート端子Gに接続され、陰極
はMOSFET9aのソース端子Sに接続されてい
る。また、MOSFET9aは、ドレイン端子Dが
リレーの出力端子12として、また、ソース端子
Sがリレーの出力端子13として用いられ、オフ
状態のときに、出力端子12が出力端子13に対
して正電位に保たれた状態で使用され、オン状態
のときに、一方の出力端子12から他方の出力端
子13に向けて電流を流すように動作する。さ
らに、MOSFET9aの基板はソース端子Sに接
続されている。その他の構成については、第1図
に示す基本構成と同じである。Embodiment 1 Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. FIG. 4 is a circuit diagram of an embodiment of the present invention. In this embodiment, an enhancement type MOSFET 9 is used as the switching element 9. Figure 5 shows the diagram used in this example.
The relationship between the drain current I D of MOSFET 9a and the gate-source voltage V GS is shown. In the example circuit, the anode of the light receiving element 2 is connected to the anode through the diode 3.
It is connected to the gate terminal G of MOSFET 9a, and its cathode is connected to the source terminal S of MOSFET 9a. In addition, in the MOSFET 9a, the drain terminal D is used as the output terminal 12 of the relay, and the source terminal S is used as the output terminal 13 of the relay, and when the MOSFET 9a is in the off state, the output terminal 12 is at a positive potential with respect to the output terminal 13. It is used in a maintained state, and operates to flow current from one output terminal 12 to the other output terminal 13 when it is in the on state. Furthermore, the substrate of the MOSFET 9a is connected to the source terminal S. The other configurations are the same as the basic configuration shown in FIG.
以下、本実施例の動作について説明する。入力
端子10,11間に図示された極性の電圧が印加
されると、LEDよりなる発光素子1から光信号
が発生される。フオトダイオードアレイよりなる
受光素子2は、前記光信号を受けると電気信号を
発生し、その短絡電流と、第1の抵抗4の値との
積によつてほぼ決定される電圧VSを受光素子2
の両端に、陽極側が陰極側に比べて正電位となる
ように発生させる。受光素子2の陽極はダイオー
ド3を通してMOSFET9aのゲートに接続さ
れ、陰極はMOSFET9aのソースに接続されて
いるので、MOSFET9aのゲート・ソース間
は、ゲート端子がソース端子に対して正電位とな
り、その電位差が前記電圧VSからダイオード3
の導通電圧を差し引いた電圧値と等しくなるまで
ゲート端子が充電される。この電圧VSが正の方
向にMOSFET9aのスレシヨルド電圧VTHを越
えると、MOSFET9aは第5図の特性に従つて
導通し、リレーも導通状態となり、一方の出力端
子12から、他方の出力端子13へ向う電流が流
れる。 The operation of this embodiment will be explained below. When a voltage of the illustrated polarity is applied between the input terminals 10 and 11, an optical signal is generated from the light emitting element 1 made of an LED. The light-receiving element 2 made of a photodiode array generates an electrical signal when it receives the optical signal, and applies a voltage V S approximately determined by the product of the short-circuit current and the value of the first resistor 4 to the light-receiving element. 2
A positive potential is generated at both ends of the anode so that the anode side has a more positive potential than the cathode side. The anode of the light receiving element 2 is connected to the gate of the MOSFET 9a through the diode 3, and the cathode is connected to the source of the MOSFET 9a. Therefore, between the gate and source of the MOSFET 9a, the gate terminal is at a positive potential with respect to the source terminal, and the potential difference is is from the voltage V S to diode 3
The gate terminal is charged until it becomes equal to the voltage value minus the conduction voltage of . When this voltage V S exceeds the threshold voltage V TH of MOSFET 9a in the positive direction, MOSFET 9a becomes conductive according to the characteristics shown in FIG. A current flows towards.
この時、PチヤンネルMOSFET5のソース電
圧は、ゲート電圧よりもダイオード3の順方向電
圧降下分だけ低く保たれるため、非導通状態であ
り、MOSFET9aのゲート端子の充電動作には
影響を与えない。また、このPチヤンネル
MOSFET5が非導通状態であるから、抵抗8の
両端には電位差は生じず、従つてIGT6のゲート
端子Gにも電圧は発生していない。このためIGT
6は非導通状態である。また、Pチヤンネル
MOSFET7は導通状態であり、IGT6のバルク
端子Bへ正電荷を流し込んでいるので、IGT6が
サイリスタ現象を起こして導通状態となることを
防止している。このように、MOSFET9aのゲ
ート・ソース間に接続された各素子は受光素子2
により発生された電荷を光信号が存在する期間は
放電することはなく、MOSFET9aのゲート・
ソース間の充電動作には影響を与えない。 At this time, the source voltage of the P-channel MOSFET 5 is kept lower than the gate voltage by the forward voltage drop of the diode 3, so it is in a non-conductive state and does not affect the charging operation of the gate terminal of the MOSFET 9a. Also, this P channel
Since the MOSFET 5 is in a non-conductive state, no potential difference is generated between both ends of the resistor 8, and therefore no voltage is generated at the gate terminal G of the IGT 6. For this reason, IGT
6 is a non-conducting state. Also, P channel
The MOSFET 7 is in a conductive state and a positive charge is poured into the bulk terminal B of the IGT 6, thereby preventing the IGT 6 from causing a thyristor phenomenon and becoming conductive. In this way, each element connected between the gate and source of MOSFET 9a is connected to the light receiving element 2.
The charges generated by the gate are not discharged during the period when the optical signal is present, and are
Does not affect charging operation between sources.
LEDよりなる発光素子1への入力信号を零に
して、光信号が遮断されると、まず、第1の抵抗
4の両端に発生していた電圧VSが零になる。
MOSFET9aのゲート端子には正の電荷が蓄積
されているので、ダイオード3の陽極・陰極間は
逆バイアス状態となる。このため、MOSFET9
aのゲートに蓄積された正電荷は、ダイオード3
にて阻止され、ダイオード3を介しては放電され
ない。また、電圧VSが零になるとともにPチヤ
ンネルMOSFET5のゲート電圧も零となり、前
記PチヤンネルMOSFET5は導通し、
MOSFET9aのゲートに蓄積されていた正電荷
が、前記PチヤンネルMOSFET5と、第2の抵
抗8を通して放電される。これにより第2の抵抗
8の両端に電圧V1が発生する。この電圧V1が第
3図に示すIGT6内のNチヤンネルMOSFETの
スレシヨルド電圧VTH1を越える様に第2の抵抗8
の抵抗値を設定しておけば、電圧V1がスレシヨ
ルド電圧VTH1を越えたときに、IGT6内のNチヤ
ンネルMOSFETが導通状態となり、IGT6のア
ノード端子からカソード端子へ、MOSFET9a
のゲートに蓄積された正電荷が流れる。この電荷
の流れがトリガー電流となり、IGT6のサイリス
タ現象を引き起こし、MOSFET9aのゲート・
ソース間に蓄積していた正電荷を急速に放電す
る。MOSFET9aのVTHの絶対値を、IGT6の
サイリスタ現象を起こした導通時における順方向
電圧降下VC以上に設定しておけば、MOSFET9
aはゲート端子の電荷の放電とともに急速に、非
導通状態となり、リレーもオフとなる。本実施例
にあつては、このようにエンハンスメント型の
MOSFET9aのゲート端子を速やかに充電し、
かつ蓄積された電荷を急速に放電できるから、高
速なリレーのオン・オフが可能な常開型(ノーマ
リー・オフ型)の半導体リレー回路を実現するこ
とができる。 When the input signal to the light emitting element 1 made of an LED is made zero and the optical signal is cut off, first, the voltage V S generated across the first resistor 4 becomes zero.
Since positive charges are accumulated in the gate terminal of the MOSFET 9a, the anode and cathode of the diode 3 are in a reverse bias state. For this reason, MOSFET9
The positive charge accumulated on the gate of a diode 3
, and is not discharged via the diode 3. Further, as the voltage V S becomes zero, the gate voltage of the P-channel MOSFET 5 also becomes zero, and the P-channel MOSFET 5 becomes conductive.
The positive charge accumulated in the gate of MOSFET 9a is discharged through the P-channel MOSFET 5 and second resistor 8. This generates a voltage V 1 across the second resistor 8 . The second resistor 8 is connected so that this voltage V 1 exceeds the threshold voltage V TH1 of the N-channel MOSFET in the IGT 6 shown in FIG.
If the resistance value is set, when the voltage V 1 exceeds the threshold voltage V TH1 , the N-channel MOSFET in IGT6 becomes conductive, and from the anode terminal of IGT6 to the cathode terminal, MOSFET9a
The positive charge accumulated in the gate of flows. This charge flow becomes a trigger current, causing the thyristor phenomenon of IGT6, and the gate of MOSFET9a.
Rapidly discharges the positive charge accumulated between the sources. If the absolute value of V TH of MOSFET 9a is set to be higher than the forward voltage drop V C during conduction that causes the thyristor phenomenon of IGT 6, MOSFET 9
As the charge at the gate terminal is discharged, a quickly becomes non-conductive, and the relay also turns off. In this example, the enhancement type
Immediately charge the gate terminal of MOSFET9a,
In addition, since the accumulated charge can be rapidly discharged, it is possible to realize a normally-open type (normally-off type) semiconductor relay circuit in which the relay can be turned on and off at high speed.
実施例 2
第6図は本発明の他の実施例の回路図である。
本実施例においては、スイツチング素子9とし
て、デプリーシヨン型のMOSFET9bが使用さ
れている。第7図に本実施例に使用した
MOSFET9bのドレイン電流IDと、ゲート・ソ
ース間電圧VGSとの関係を示す。実施例回路にお
いて、MOSFET9bは、ドレイン端子Dがリレ
ーの出力端子13として、また、ソース端子Sが
リレーの出力端子12として用いられ、オフ状態
のときに、出力端子13が出力端子12に対して
正電位に保たれた状態で使用され、オン状態のと
きに、一方の出力端子13から他方の出力端子1
2に向けて電流を流すように動作する。さら
に、MOSFET9bの基板はソース端子に接続さ
れている。その他の構成については、第1図に示
す基本構成と同じである。Embodiment 2 FIG. 6 is a circuit diagram of another embodiment of the present invention.
In this embodiment, a depletion type MOSFET 9b is used as the switching element 9. Figure 7 shows the diagram used in this example.
The relationship between the drain current ID of MOSFET 9b and the gate-source voltage V GS is shown. In the example circuit, the drain terminal D of the MOSFET 9b is used as the output terminal 13 of the relay, and the source terminal S is used as the output terminal 12 of the relay, so that the output terminal 13 is connected to the output terminal 12 when in the off state. It is used while being kept at a positive potential, and when it is in the on state, one output terminal 13 is connected to the other output terminal 1.
It operates in such a way that current flows toward 2. Furthermore, the substrate of MOSFET 9b is connected to the source terminal. The other configurations are the same as the basic configuration shown in FIG.
以下、本実施例の動作について説明する。入力
端子10,11間に図示された極性の電圧が印加
されると、LEDよりなる発光素子1から光信号
が発生される。フオトダイオードアレイよりなる
受光素子2は、前記光信号を受けると電気信号を
発生し、その短絡電流と、第1の抵抗4の値との
積によつてほぼ決定される電圧VSを受光素子2
の両端に、陽極側が陰極側に比べて正電位となる
ように発生させる。受光素子2の陽極はダイオー
ド3を通してMOSFET9bのソースに接続さ
れ、陰極はMOSFET9bのゲートに接続されて
いるので、MOSFET9bのゲート・ソース間
は、ゲート端子がソース端子に対して負電位とな
り、その電位差が前記電圧VSからダイオード3
の導通電圧を差し引いた電圧値と等しくなるまで
ゲート端子が充電される。この電圧VSが負の方
向にMOSFET9bのスレシヨルド電圧VTHを越
えると、MOSFET9bは第7図の特性に従つて
遮断され、リレーも遮断状態となり、一方の出力
端子13から、他方の出力端子12へ向う電流が
遮断される。 The operation of this embodiment will be explained below. When a voltage of the illustrated polarity is applied between the input terminals 10 and 11, an optical signal is generated from the light emitting element 1 made of an LED. The light-receiving element 2 made of a photodiode array generates an electrical signal when it receives the optical signal, and applies a voltage V S approximately determined by the product of the short-circuit current and the value of the first resistor 4 to the light-receiving element. 2
A positive potential is generated at both ends of the anode so that the anode side has a more positive potential than the cathode side. The anode of the light receiving element 2 is connected to the source of the MOSFET 9b through the diode 3, and the cathode is connected to the gate of the MOSFET 9b. Therefore, between the gate and source of the MOSFET 9b, the gate terminal is at a negative potential with respect to the source terminal, and the potential difference is is from the voltage V S to diode 3
The gate terminal is charged until it becomes equal to the voltage value minus the conduction voltage of . When this voltage V S exceeds the threshold voltage V TH of MOSFET 9b in the negative direction, MOSFET 9b is cut off according to the characteristics shown in FIG. The current going to is cut off.
この時、PチヤンネルMOSFET5のソース電
圧は、ゲート電圧よりもダイオード3の順方向電
圧降下分だけ低く保たれるため、非導通状態であ
り、MOSFET9bのゲート端子の充電動作には
影響を与えない。また、このPチヤンネル
MOSFET5が非導通状態であるから、抵抗8の
両端には電位差は生じず、従つてIGT6のゲート
端子Gにも電圧は発生していない。このためIGT
6は非導通状態である。また、Pチヤンネル
MOSFET7は導通状態であり、IGT6のバルク
端子Bへ正電荷を流し込んでいるので、IGT6が
サイリスタ現象を起こして導通状態となることを
防止している。このように、MOSFET9bのゲ
ート・ソース間に接続された各素子は受光素子2
により発生された電荷を光信号が存在する期間は
放電することはなく、MOSFET9bのゲート・
ソース間の充電動作には影響を与えない。 At this time, the source voltage of the P-channel MOSFET 5 is kept lower than the gate voltage by the forward voltage drop of the diode 3, so it is in a non-conductive state and does not affect the charging operation of the gate terminal of the MOSFET 9b. Also, this P channel
Since the MOSFET 5 is in a non-conductive state, no potential difference is generated between both ends of the resistor 8, and therefore no voltage is generated at the gate terminal G of the IGT 6. For this reason, IGT
6 is a non-conducting state. Also, P channel
The MOSFET 7 is in a conductive state and a positive charge is poured into the bulk terminal B of the IGT 6, thereby preventing the IGT 6 from causing a thyristor phenomenon and becoming conductive. In this way, each element connected between the gate and source of MOSFET 9b is connected to the light receiving element 2.
The charges generated by the gate are not discharged during the period when the optical signal is present, and are
Does not affect charging operation between sources.
LEDよりなる発光素子1への入力信号を零に
して、光信号が遮断されると、まず、第1の抵抗
4の両端に発生していた電圧VSが零になる。
MOSFET9bのゲート端子には負の電荷が蓄積
されているので、ダイオード3の陽極・陰極間は
逆バイアス状態となる。このため、MOSFET9
bのゲートに蓄積された負電荷は、ダイオード3
にて阻止され、ダイオード3を介しては放電され
ない。また、電圧VSが零になるとともにPチヤ
ンネルMOSFET5のゲート電圧も零となり、前
記PチヤンネルMOSFET5は導通し、
MOSFET9bのゲートに蓄積されていた負電荷
が、前記PチヤンネルMOSFET5と、第2の抵
抗8を通して放電される。これにより第2の抵抗
8の両端に電圧V1が発生する。この電圧V1が第
3図に示すIGT6内のNチヤンネルMOSFETの
スレシヨルド電圧VTH1を越える様に第2の抵抗8
の抵抗値を設定しておけば、電圧V1がスレシヨ
ルド電圧VTH1を越えたときに、IGT6内のNチヤ
ンネルMOSFETが導通状態となり、IGT6のア
ノード端子からカソード端子へ、MOSFET9b
のゲートに蓄積された負電荷が流れる。この電荷
の流れがトリガー電流となり、IGT6のサイリス
タ現象を引き起こし、MOSFET9bのゲート端
子に蓄積されていた負電荷を急速に放電する。
MOSFET9bのVTHの絶対値を、IGT6のサイ
リスタ現象を起こした導通時における順方向電圧
降下VC以上に設定しておけば、MOSFET9bは
ゲート端子の電荷の放電とともに急速に、導通状
態となり、リレーもオンとなる。本実施例にあつ
ては、このようにデプリーシヨン型のMOSFET
9bのゲート端子を速やかに充電し、かつ蓄積さ
れた電荷を急速に放電できるから、高速なリレー
のオン・オフが可能な常閉型(ノーマリー・オン
型)の半導体リレー回路を実現することができる
ものである。 When the input signal to the light emitting element 1 made of an LED is made zero and the optical signal is cut off, first, the voltage V S generated across the first resistor 4 becomes zero.
Since negative charges are accumulated in the gate terminal of MOSFET 9b, the anode and cathode of diode 3 are in a reverse bias state. For this reason, MOSFET9
The negative charge accumulated on the gate of diode 3
, and is not discharged via the diode 3. Further, as the voltage V S becomes zero, the gate voltage of the P-channel MOSFET 5 also becomes zero, and the P-channel MOSFET 5 becomes conductive.
The negative charges accumulated in the gate of MOSFET 9b are discharged through the P-channel MOSFET 5 and the second resistor 8. This generates a voltage V 1 across the second resistor 8 . The second resistor 8 is connected so that this voltage V 1 exceeds the threshold voltage V TH1 of the N-channel MOSFET in the IGT 6 shown in FIG.
By setting a resistance value of
Negative charges accumulated in the gate of the circuit flow. This charge flow becomes a trigger current, causing a thyristor phenomenon in the IGT 6, and rapidly discharging the negative charge accumulated in the gate terminal of the MOSFET 9b.
If the absolute value of V TH of MOSFET9b is set to be higher than the forward voltage drop V C during conduction that causes the thyristor phenomenon of IGT6, MOSFET9b will rapidly become conductive as the charge at the gate terminal is discharged, and the relay will is also turned on. In this example, the depletion type MOSFET is
Since the gate terminal 9b can be quickly charged and the accumulated charge can be rapidly discharged, it is possible to realize a normally-on type semiconductor relay circuit that can turn on and off the relay at high speed. It is possible.
なお、上記各実施例にあつては、直流リレーを
構成する場合についてのみ説明したが、交流リレ
ーを構成することも可能であり、例えば、スイツ
チング素子9として一対のMOSFETのゲート・
ソース間を共通接続して、これをスイツチング素
子9の制御端子とし、各MOSFETのドレインを
通電端子とすれば、交流をスイツチングするリレ
ーを実現することができる。 In each of the above embodiments, only the case where a DC relay is configured has been described, but it is also possible to configure an AC relay. For example, the switching element 9 may be a gate of a pair of MOSFETs.
By connecting the sources in common, making this the control terminal of the switching element 9, and making the drain of each MOSFET the current-carrying terminal, it is possible to realize a relay that switches alternating current.
(発明の効果)
本発明は上述のように、絶縁ゲートプレーナサ
イリスタを、スイツチング素子の制御端子間に接
続されるようにしたので、サイリスタが一旦オン
になると、自己保持作用により、スイツチング素
子の制御端子間の電荷をほぼ完全に放電させるこ
とができ、したがつて、蓄積電荷の急速な放電が
可能であり、また、サイリスタのゲート端子にト
リガー電圧を与えるための第1のPチヤンネル
MOSFETのゲート・ソース間にはダイオードが
接続されており、発光素子からの光信号により受
光素子に電気信号が発生したときには、第1のP
チヤンネルMOSFETは逆バイアス状態となるの
で、サイリスタが導通することはなく、しかも、
この状態においては第2のPチヤンネル
MOSFETにより前記サイリスタのバルク端子が
正電圧にプルアツプされているので、サイリスタ
が不用意にターンオンされることはなく、スイツ
チング素子の制御端子間を確実に高インピーダン
スにして制御端子に速やかに充電を行うことがで
き、したがつて、簡単な構成でありながら、極め
て高速度のスイツチングを実現することができる
という効果がある。(Effects of the Invention) As described above, in the present invention, the insulated gate planar thyristor is connected between the control terminals of the switching element, so that once the thyristor is turned on, the self-holding action prevents the switching element from being controlled. A first P-channel for providing a trigger voltage to the gate terminal of the thyristor, which allows the charge between the terminals to be almost completely discharged, thus allowing a rapid discharge of the accumulated charge;
A diode is connected between the gate and source of the MOSFET, and when an electrical signal is generated in the light receiving element by an optical signal from the light emitting element, the first P
Since the channel MOSFET is reverse biased, the thyristor will not conduct, and
In this state, the second P channel
Since the bulk terminal of the thyristor is pulled up to a positive voltage by the MOSFET, the thyristor is not turned on inadvertently, and the control terminal of the switching element is reliably set to high impedance and the control terminal is quickly charged. Therefore, there is an effect that extremely high-speed switching can be realized with a simple configuration.
第1図は本発明の基本構成を示す回路図、第2
図は同上に用いる絶縁ゲートプレーナサイリスタ
の断面構造を示す説明図、第3図は同上の等価回
路を示す回路図、第4図は本発明の一実施例の回
路図、第5図は同上の実施例に用いるスイツチン
グ素子の特性図、第6図は本発明の他の実施例の
回路図、第7図は同上の実施例に用いるスイツチ
ング素子の特性図である。
1は発光素子、2は受光素子、3はダイオー
ド、4は第1の抵抗、5はPチヤンネル
MOSFET、6はIGT、7はPチヤンネル
MOSFET、8は第2の抵抗、9はスイツチング
素子、10,11は入力端子、12,13は出力
端子である。
Figure 1 is a circuit diagram showing the basic configuration of the present invention, Figure 2 is a circuit diagram showing the basic configuration of the present invention.
The figure is an explanatory diagram showing the cross-sectional structure of the insulated gate planar thyristor used in the same as above, FIG. 3 is a circuit diagram showing an equivalent circuit in the same as above, FIG. FIG. 6 is a characteristic diagram of the switching element used in the embodiment, FIG. 6 is a circuit diagram of another embodiment of the present invention, and FIG. 7 is a characteristic diagram of the switching element used in the above embodiment. 1 is a light emitting element, 2 is a light receiving element, 3 is a diode, 4 is a first resistor, 5 is a P channel
MOSFET, 6 is IGT, 7 is P channel
MOSFET, 8 is a second resistor, 9 is a switching element, 10 and 11 are input terminals, and 12 and 13 are output terminals.
Claims (1)
た発光素子と、前記発光素子の光信号を受けて電
気信号を出力する受光素子と、前記受光素子の両
端間に接続された第1の抵抗と、前記受光素子の
陽極に陽極が接続されたダイオードと、ソース及
びN型基板が前記ダイオードの陰極に接続されゲ
ートが前記ダイオードの陽極に接続された第1の
PチヤンネルMOSFETと、アノード端子が前記
ダイオードの陰極に接続され、カソード端子が前
記受光素子の陰極に接続され、ゲート端子が第1
のPチヤンネルMOSFETのドレインに接続され
た絶縁ゲートプレーナサイリスタと、ソース端子
が前記ダイオードの陽極に接続され、ゲート端子
が前記受光素子の陰極に接続され、ドレイン端子
が前記絶縁ゲートプレーナサイリスタのN型半導
体バルク層に接続され、N型基板が前記ダイオー
ドの陰極に接続された第2のPチヤンネル
MOSFETと、前記絶縁ゲートプレーナサイリス
タのゲート端子とカソード端子の間に接続された
第2の抵抗と、前記ダイオードの陰極と前記受光
素子の陰極との間に制御端子を接続され、制御端
子間に印加される電圧に応じて通電端子間のイン
ピーダンスが変化するスイツチング素子と、スイ
ツチング素子の通電端子に接続された一対の出力
端子とを備えて成ることを特徴とする半導体リレ
ー回路。 2 特許請求の範囲第1項記載の回路において、
前記スイツチング素子は、制御端子間に所定値以
上の電圧が印加されたときに通電端子間が低イン
ピーダンスとなり、制御端子間に電圧が印加され
ていないときに通電端子間が高インピーダンスと
なる常開型のスイツチング素子であることを特徴
とする半導体リレー回路。 3 特許請求の範囲第1項記載の回路において、
前記スイツチング素子は、制御端子間に所定値以
上の電圧が印加されたときに通電端子間が高イン
ピーダンスとなり、制御端子間に電圧が印加され
ていないときに通電端子間が低インピーダンスと
なる常閉型のスイツチング素子であることを特徴
とする半導体リレー回路。[Scope of Claims] 1. A pair of input terminals, a light emitting element connected to the input terminal, a light receiving element that receives an optical signal from the light emitting element and outputs an electrical signal, and a connection between both ends of the light receiving element. a first resistor, a diode whose anode is connected to the anode of the light receiving element, and a first P channel whose source and N-type substrate are connected to the cathode of the diode and whose gate is connected to the anode of the diode. MOSFET, an anode terminal connected to the cathode of the diode, a cathode terminal connected to the cathode of the light receiving element, and a gate terminal connected to the first
an insulated gate planar thyristor connected to the drain of the P-channel MOSFET, a source terminal connected to the anode of the diode, a gate terminal connected to the cathode of the light receiving element, and a drain terminal connected to the N-type insulated gate planar thyristor. a second P channel connected to the semiconductor bulk layer and with an N type substrate connected to the cathode of the diode;
A MOSFET, a second resistor connected between the gate terminal and the cathode terminal of the insulated gate planar thyristor, and a control terminal connected between the cathode of the diode and the cathode of the light receiving element, and a control terminal connected between the control terminals. A semiconductor relay circuit comprising: a switching element whose impedance between current-carrying terminals changes depending on an applied voltage; and a pair of output terminals connected to the current-carrying terminals of the switching element. 2. In the circuit described in claim 1,
The switching element is normally open, with low impedance between the current-carrying terminals when a voltage of a predetermined value or higher is applied between the control terminals, and high impedance between the current-carrying terminals when no voltage is applied between the control terminals. A semiconductor relay circuit characterized by being a type switching element. 3. In the circuit described in claim 1,
The switching element is normally closed, with high impedance between the current-carrying terminals when a voltage of a predetermined value or higher is applied between the control terminals, and low impedance between the current-carrying terminals when no voltage is applied between the control terminals. A semiconductor relay circuit characterized by being a type switching element.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61014515A JPS62172812A (en) | 1986-01-25 | 1986-01-25 | Semiconductor relay circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61014515A JPS62172812A (en) | 1986-01-25 | 1986-01-25 | Semiconductor relay circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62172812A JPS62172812A (en) | 1987-07-29 |
JPH0411125B2 true JPH0411125B2 (en) | 1992-02-27 |
Family
ID=11863223
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61014515A Granted JPS62172812A (en) | 1986-01-25 | 1986-01-25 | Semiconductor relay circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62172812A (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5504449A (en) * | 1992-04-09 | 1996-04-02 | Harris Corporation | Power driver circuit |
-
1986
- 1986-01-25 JP JP61014515A patent/JPS62172812A/en active Granted
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Publication number | Publication date |
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JPS62172812A (en) | 1987-07-29 |
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