JPH04110673A - 電子負荷装置 - Google Patents

電子負荷装置

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JPH04110673A
JPH04110673A JP2226583A JP22658390A JPH04110673A JP H04110673 A JPH04110673 A JP H04110673A JP 2226583 A JP2226583 A JP 2226583A JP 22658390 A JP22658390 A JP 22658390A JP H04110673 A JPH04110673 A JP H04110673A
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Nobuo Kanzaki
神崎 信夫
Yoshio Suga
菅 祥夫
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Kikusui Electronics Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、被試験電源などに接続されて等測的負荷とし
ての機能を果たす電子負荷装置に関するものである。
[従来の技術1 従来から知られているこの種の電子負荷装置は、第4図
に示すように、複数の負荷電流制御用トランジスタ(も
しくはFET)Ql=Qnを並列接続すると共に、これ
らトランジスタに流れる電流が最大許容値を越えたとき
に保護するためのヒユーズを1個ないし複数個備えてい
る。
[発明が解決しようとする課題1 しかしながら、第4図に示したような従来の電子負荷装
置では、何らかの原因で、ある負荷電流制御用トランジ
スタのエミッタ・コレクタ間がショートしたとすると、
残りのトランジスタに過大電流が流れてしまい、ヒユー
ズが連鎖的に溶断してしまうという事態が生じ得た。
その結果どして、被試験電源の出力端短絡は回避できる
ことになるが、出力端開放となるため、動作試験あるい
はエージングが中断されてしまうという欠点がある。
また、並列に接続された複数の負荷電流制御用素子のう
ち、数個が破損した場合、残りの電力素子で全定格電力
を受けもつことになる。この場合、負荷電流制御用素子
にとって過負荷な状態になる場合もあり、素子の寿命を
著しく短くし、電の 子負荷装置に信頼性の低下を招(結果となる。
よって本発明の目的は上述した点に鑑み、負荷側の内部
短絡事故から被試験電源が受けるダメージを防止すると
共に、装置の寿命低下を防止するよう構成した安全性の
高い電子負荷装置を提供することにある。
[課題を解決するための手段] 本発明は、並列接続された複数の負荷電流制御用素子を
有する電子負荷装置において、前記負荷電流制御用素子
の各々に直列接続された複数の電流検知手段と、前記電
流検知手段に所定電流が流れたとき、当該電流検知手段
の個数を検出する計数手段と、前記計数手段の出力に応
答して、前記負荷電流制御用素子の最大許容負荷電流を
低減させる制御手段とを具備したものである。
[イ乍 用1 本発明によれば上記構成を採ることにより、負荷電流制
御用素子の破損等による負荷のショートを防止すると共
に、負荷電流を適度に低減させることによって、被試験
電源の負荷試験が中断しないようにすることができる。
すなわち、計算手段により異常な負荷電流制御用素子の
数を検知し、その数に応じて電子負荷装置に加えられる
最大電流を低減し、装置の寿命の低下を回避すると同時
に信頼性を維持することができる。
[実施例] 以下に詳述する実施例は、一対の負荷入力端子とこの端
子間に接続された複数の負荷電流制御用素子と、この制
御素子に直列に接続された電流検出素子と、該電流検出
素子の高力信号と、電流設定用基準電圧とを比較する誤
差増幅器よりなる電子負荷装置において、一方の負荷入
力端子と複数の負荷電流制御素子との間に一素子ごとに
(あるいは複数個の素子ごとに)対応したヒユーズを直
列に介して接続し、他の一方の負荷入力端子と前記ヒユ
ーズとの接続点にホトカブラのアノードを接続し、前記
ヒユーズと電流制御素子との接続点に前記ホトカブラの
カソード側を、逆極性に接続したダイオードを介して接
続し、前記ホトカブラのアノード側をプラスに、カソー
ド側をマイナスとした直流電源を接続したものである。
ここで、前記ヒユーズの断線数は前記ホトカブラで検出
し、最大許容負荷電流を低減させている。
次に、図面を参照して本発明の一実施例を詳細に説明す
る。
第1図は本発明の一実施例を示す回路図である。本実施
例では、4個の負荷電流制御用トランジスタQ1〜Q4
を備えている。これらのトランジスタq1〜Q4には直
列にヒユーズF1〜F4を接続し、さらに、これらヒユ
ーズには、直列接続されたダイオードCRI〜CR4お
よびフォトカブラの発光素子PC]、−1〜PC4−1
を並列に接続しである。このダイオードCRI〜CR4
は、ヒユーズが溶断したときに負荷電流がフォトカブラ
側に分流するのを阻止するために挿入しである。
また、従来の電子負荷装置と同じ(、最大負荷電流値を
設定するための基準電圧源Vア。、および演算増幅器A
MPを備えている。
フォトカブラの受光側PCI−2〜PC4−2は計数回
路20に接続されている。この計数回路20は、MO3
型ICである2個の論理演算素子2,4と4個のゲート
回路6〜14から構成されており、第2図に示す真理値
をとる。この論理演算素子2,4は第3図に示すような
論理回路構成および真理値を有する。そして、計数回路
20からは、溶断したヒユーズの個数に応じて、出力端
子■〜■のいずれかがハイレベルとなる。すなわち、1
個のヒユーズが溶断した場合には出力端子■がハイレベ
ルになり、2個のヒユーズが溶断した場合には出力端子
■がハイレベルになり、3個のヒユーズが溶断した場合
には出力端子■がハイレベルになり、4個のヒユーズが
溶断した場合には出力端子■がハイレベルになる。
これらの出力端子■〜■は、双方向性アナログスイッチ
30のコントロール端子に接続されている。各アナログ
スイッチ31〜S4には、ツェナー電圧がそれぞt異な
ったツェナーダイオードCR5〜CR8が接続されてい
る。これにより、演算増幅器AMPの非反転入力端(P
点)の電圧は最大でも上記ツェナー電圧にクランプされ
るため、強制的に各トランジスタQ1〜Q4の最大許容
負荷電流は制限されることになる。
次に、第1図に示した回路の動作を順をおって説明して
いく。
一例として、トランジスタQlのコレクタ・エミッタ間
ショートでの故障が起き、ヒユーズF1が溶断した場合
、それまでヒユーズF1→CRI→R1を通って流れて
いた電流が、フォトカブラPC1,−1→R1を通って
流れ、フォトカブラPCI−1が発光する。すると、フ
ォトカブラPCI−1の受光側トランジスタPC12が
ONして、計数回路20にLレベルの信号が人力される
同様に、フォトカブラPC2〜PC4についてもヒユー
ズが溶断すると、計数回路20にLレベルの信号が入力
される。
計数回路20では、ヒユーズの溶断した個数を数える。
計数回路20は第2図に示した真理値表に示すとおり、
入力A、B、C,Dのうち1個がLレベルのとき出力■
がHレベル、他はLレベルになり、入力4個のうち2個
がLレベルのとき出力■がHレベル、他はLレベルにな
る。3個、4個の場合も同様に出力■、■がLレベルに
なる。入力全てHレベルのときは出力■がHレベルにな
るが、この回路では使用していない。
計数回路20の圧力がHレベルになるとアナログスイッ
チのいずれかがONとなり、演算増幅器AMPの非反転
入力端にツェナーダイオードCR5〜CR8が接続され
る。
ここで、各ツェナーダイオードのツェナー電圧を、 CR5=7.5V、  CR6=5V、  CR7、=
2.5V。
CR8=OV(つまりグランドと接続)とし、基準電圧
 Vr−r=lOV V、、f=10Vのとき負荷装置の負荷電流I=10A トランジスタ(Ql〜Q4)1石当たり2.5Aとする
いまトランジスタQlがショートしてヒユーズF1が溶
断すると、PCl、−1が発光し、受光側のトランジス
タがONする。そして、計数回路200Å力AにLレベ
ルが入り、出力■のみHレベルとなり、アナログスイッ
チSlが閉じ、ツェナーダイオードCR5(CR5=7
.5V)が演算増幅器AMPに接続される。
例えばユーザーが負荷電流I=7A(つまり基準電圧V
、、f=7V)で使用中だとすると、ツェナーダイオー
ドCR5の方が基準電圧Vr6fより高いため、P点で
は7vであり、ヒユーズが溶断しても7Aで使用するこ
とができる。ツェナー電圧は7,5■であるため、基準
電圧Vtafが0〜7.5Vまでは負荷電流■もO〜7
.5Aまで設定でき、■r1が7.5〜IOVまでは負
荷電流工は7.5Aのままになる。
従ってヒユーズが1本溶断することにより、最大許容負
荷電流がIOAから7.5Aまで低減されることになる
。またトランジスタ1石当たり最大7.5/3 =2.
5Aで標準状態(ヒユーズが溶断していないとき)より
過電流にならず、トランジスタの保護にもなる。また、
ユーザーが7.5A以上で使用しているときは、7,5
Aに下がり、ヒユーズが連鎖的に溶断することもない。
ヒユーズが2本以上溶断しても同様に最大許容電流が低
減する。
このように、ツェナーダイオードのツェナー電圧の選び
方により、いろいろな低減率のものが設定できる。
なお、ヒユーズの替わりにブレーカ等の電流検知手段を
用いることも可能である。さらに、CPUを用いて計算
回路20の機能を実現させることも可能である。
[発明の効果1 以上説明したとおり本発明によれば、負荷電流制御素子
の短絡事故が生じた場合にも、最大許容負荷電流を自動
的に低減させる構成としであるので、被試験電源が受け
るダメージをなくし、かつ正常な電力素子の数に応じた
最大電流に自動的に電流が低減されることから電子負荷
装置の信頼性を維持でき、安全性の高い直流電源の特性
試験および長期エージングに好適な電子負荷装置を提供
することができる。
また、破損した電力素子の有・無を動作中においても、
例えば視覚により操作者が−速く確認することができる
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す回路図、第2図は第1
図に示した計数回路の真理値表を示す図、 第3図は計数回路に含まれる論理演算素子の説明図、 第4図は従来技術の一例を示す図である。 F1〜F4・・・ヒユーズ、 CRI〜CR4・・・ダイオード、 PCI〜PC4・・・フォトカプラ、 Q1〜Q4・・・負荷電流制御用トランジスタ、AMP
・・・演算増幅器、 ■1..・・・基準電圧源、 20・・・計数回路、 30・・・アナログスイッチ、 CR5〜CR8・・・ツェナーダイオード。 A

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)並列接続された複数の負荷電流制御用素子を有する
    電子負荷装置において、 前記負荷電流制御用素子の各々に直列接続された複数の
    電流検知手段と、 前記電流検知手段に所定電流が流れたとき、当該電流検
    知手段の個数を検出する計数手段と、前記計数手段の出
    力に応答して、前記負荷電流制御用素子の最大許容負荷
    電流を低減させる制御手段と を具備したことを特徴とする電子負荷装置。 2)前記制御手段は、前記計数手段の出力に応じて所定
    の定電圧発生手段を選択し、当該定電圧に基づいて前記
    最大許容電流を設定することを特徴とする請求項1に記
    載の電子負荷装置。 3)前記電流検知手段として、ヒューズまたはブレーカ
    を用いたことを特徴とする請求項1に記載の電子負荷装
    置。
JP2226583A 1990-08-30 1990-08-30 電子負荷装置 Expired - Lifetime JPH0664111B2 (ja)

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JPH0664111B2 JPH0664111B2 (ja) 1994-08-22

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