JPH04105035A - つり合い試験機 - Google Patents

つり合い試験機

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JPH04105035A
JPH04105035A JP22389390A JP22389390A JPH04105035A JP H04105035 A JPH04105035 A JP H04105035A JP 22389390 A JP22389390 A JP 22389390A JP 22389390 A JP22389390 A JP 22389390A JP H04105035 A JPH04105035 A JP H04105035A
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JP
Japan
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circuit
signal
pulse
counter
measured
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Application number
JP22389390A
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English (en)
Inventor
Tomoo Kawabe
河辺 智勇
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Toyota Motor Corp
Original Assignee
Toyota Motor Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、被測定物がたとえば自動車用エンジンのクラ
ンクシャフトのような回転体である場合において、これ
を回転させながらつり合い度を試験するための、つり合
い試験機に関するものである。
(従来の技術) 上記のような被測定物の場合、製品のつり合い度を試験
し、不つり合いの度合が許容範囲を趙えているときには
これを音歪する加工を施すか、不良品として処分するこ
とになる。このためのつり合い試験機として広く用いら
れているものを第4図について説明する0図においてl
はつり合い試験機であって2はその基台である。基台2
の四隅には支柱3が植立されており、その上部に天板4
が取付けられている。天板4の下面で支柱3の内側に位
置するところには、フロント(図における右側)および
リアそれぞれ2枚の振動板5,6の上端が固定されてい
る。
フロントおよびリアの振動板5.6の各下端間は連結部
材7.8で連結されており、この連結部材7.8のそれ
ぞれ対向する内側には、被測定物(後述するエンジン用
のクランクシャフト)を受けるとともに、この被測定物
を回転自在に支持するローラ9(リア側は図示せず)が
取付けられている6対向するローラ9のうちの一方のも
の(図示例ではリア側)には同軸でプーリlOが結合さ
れている。そしてこのこのプーリIOと、駆動手段とし
て基台2に取付けられたモータ11の出力軸に取付けら
れたブー912とに、ベルト13が掛渡されている。し
たがってモータ11が作動すればこの回転力がプーリl
Oと同軸側のローラ9に伝えられることになる。
フロントおよびリアの振動板5.6の一側(図示例では
手前側)の下端に対向したところには、板状のブラケッ
ト14.15が基台2から植立されており、このブラケ
ット14.15の各上端にそれぞれフロント用とリア用
の非接触変位計+6.17が取付けられている。これら
非接触変位計16.17は振動板5.6の振動を非接触
で検出し、振動値を電気的信号として出力するものであ
る。この非接触変位計16.17の出力側は信号処理装
置18に接続されている。信号処理装置18はフロント
およびリアの非接触変位計16.17の出力値から、被
測定物のつり合い状態を検出するものである。
このような構成からなるつり合い試験[1を使用して被
測定物のつり合い状態を試験するときには、被測定物(
−例として第5図に示す自動車エンジン用のクランクシ
ャフト19)の両端をローラ9で挟持し、モータ11を
作動させる。モータIIの作動によって被測定物が回転
すると、回転によって発生する振動が連結部材7.8か
ら振動板56に伝達してこれを水平方向に振動させるこ
とになる。この振動による変位は、その近傍に位置する
非接触変位計16.17によって検出される。すなわち
、回転する被測定物が均衡がとれており、つり合い状態
が良好なときには、フロント、リア両方の非接触変位計
16.17の出力信号の振幅はぜろになるから、信号処
理装置18はつり合い状態が良好であるとの判断をする
。もし、つり合い状態が良好でないときには、フロント
、リア両方の非接触変位計16.17はその不つり合い
の度合に比例した振幅の出力信号を発するから、信号処
理装置1i18は被測定物が不つり合いなものであるこ
と、およびその不つり合いの程度を検出することになる
第5図は、第4図に示した振動検出部分と信号処理装置
18の内部回路とを示したものである。この図において
符号19で示すものは、被測定物として前述した自動車
エンジン用のクランクシャフトである。クランクシャフ
ト19の両端部近傍には振動111i[5,6が設けら
れており、クランクシャフト19が回転したとき、矢印
で示すように図における左右方向に振動するようになっ
ている。非接触変位計16.17はこの振動に感知し、
その結果を電気信号として出力して、二次のローパスフ
ィルタ20、21に与えるようになっている。非接触変
位計16、17から得られる信号はノイズ成分が多く 
S/N比が低くなって、これが測定誤差の原因となるた
めに、このノイズ成分を除去するために、二次のローパ
スフィルタ20.21を設けて、S/N比を充分に高め
るのである。
二次のローパスフィルタ20.21の出力側はA/D変
換器22の入力側に接続されている。A/D変換器22
は、二次のローパスフィルタ20.21の出力信号であ
るアナログ信号をディジタル信号化するものであり、同
信号をディジタル化してマイクロコンピュータ23に入
力するものである。マイクロコンピュータ23は、この
信号でつり合い度の判断を行なうが、被測定物であるク
ランクシャフト19の1回転毎の基準信号を必要とする
ため、クランクシャフト19の近傍に設けられた、回転
検出器としての近接スイッチ24から、1回転毎のパル
ス信号も得るようになっている。マイクロコンピュータ
23はこれらの信号を処理して不つり合い量とその角度
とを算出し、出力端子25に出力する。
第6図は不つり合いの振動による信号■と、近接スイッ
チ24による回転基準信号■とを示したものである(不
つり合い量は水平振動の振幅、不つり合いの角度は基準
信号と不つり合い量との位相差)。このうちの信号■は
、二次のローパスフィルタ20.21によってノイズ成
分が除去された状態の波形であるが、この略サイン波の
時間的変化と、一定時間毎に発生する■で示すパルス波
との位置のずれの大きさによって、不つり合いの度合い
を測定するのである。この場合において、ローパスフィ
ルタには、一般に通過信号の周波数に対して位相差がず
れる特性(第7図参照)があることから5このようなず
れが生ずることのない■で示すパルス波に、ローパスフ
ィルタのずれ分の配慮を加えないでそのまま比較すると
、二次のローパスフィルタ20.21に起因したずれ分
(第6図では便宜上、信号■側に表示した)が5あたか
も被測定物の不つり合いの結果生ずる信号と混同してし
まうのである。
(発明が解決しようとする課題) 従来のつり合い試験機1は、以上説明したようにして被
測定物のつり合い状態を検出することになるが、mj述
のようにローパスフィルタには位相遅と特性があり、こ
の例の場合には二次のローパスフィルタ2021には第
7図に示すように2周波数が6.8Hzで0であり、周
波数がそれより低いときには位相差がマイナス側に、ま
た周波数が6、8Hzより高くなるとプラス側に変化す
るという位相遅れ特性が存在することから、これがロー
パスフィルタ20.21による周波数変動となる。
これについてさらに説明する。被測定物を測定のために
回転させる駆動源はモータIIであるが、このモータ1
1には誘導モータを使用することが多い。この誘導モー
タには3%程度の回転数変動があることから回転数変動
は信号■、■の両方に影響を与えることになる。影響が
■、■の両信号に同条件に与えられている限りにおいて
は、これが即、測定誤差の要因となることはないが、ロ
ーパスフィルタの特性から、この変動がローパスフィル
タにおける周波数の変動となり、すなわち、位相遅れが
変化してしまうことになる。このため、これが不つり合
いの角度誤差となって測定精度な悪化させる大きな要因
となっていた。
この問題の一つの解決案として成された発明に特開昭5
8−187826号公報に開示されるものがある。この
発明においては、上記ローパスフィルタ(積分回路)の
影響を無くすための手段として、マイクロコンピュータ
により補正することを行なっている。このようにマイク
ロコンピュータを用いて補正をするようにしてもよいが
、マイクロコンピュータを用いるようにすると、このた
めのソフトウェアが必要となり、また装置が高価となっ
てしまう問題がある。
本発明は、従来のものが有するこのような問題を回避す
ることを目的として成されたものであり、マイクロコン
ピュータを用いることなしに5測定精度の高いつり合い
試験機を得ようとするものである。
(課題を解決するための手段) 本発明は、上記課題を解決するための手段として、被測
定物(クランクシャフト19)を回転自在に支持してこ
れを回転させるように駆動手段(モータII)を設けた
基台2と、前記被測定物の回転に伴なう振動を受けて振
動する振動板5.6と、この振動板5.6の振動を変位
として捉え、これを電気信号として出力する変位計(非
接触変位計16.17)とを有するつり合い試験mlに
おいて、前記被測定物の回転を検出する回転検出器(近
接スイッチ24)と、この回転検出器の回転信号を受け
て所定数のパルス信号を発生させる倍周回路29ならび
にこの倍周回路29の発生したパルス数をカウントする
カウンタ30と、一定周期のクロックパルスを発生させ
るクロック発振回路38ならびにゲート信号に基いてこ
のクロックパルスをカウントするダウンカウンタ37と
、このダウンカウンタ37のカウント値を記憶するラッ
チ回路35と、ラッチ回路35の記憶したカウント値と
前記カウンタ30のカウント値が一致した時(−数回路
31)に振動出力信号を取込むパルス信号を出力するパ
ルス遅延回路26を備えたことを特徴とするつり合い試
験機を得たものである。
(作用) このような構成とすれば、パルス遅延回路25が二次の
ローパスフィルタ20.21の特性上生ずる位相遅れと
、遅れのない基準信号との同期をとることになるから、
二次のローパスフィルタ20.21の特性の影響を受け
ることが無くなることになる。
(実施例) 次に、本発明の一実施例を図について説明する。第1図
において符号19で示すものは、被測定物として前述し
た自動車エンジン用のクランクシャフトである。クラン
クシャフト19の両端部近傍には振動板5.6が設けら
れており、クランクシャフト19が回転したとき、矢印
で示すように図における左右方向に振動するようになっ
ている。
非接触変位計16.17はこの振動に感知し、その結果
を電気信号として出力して、二次のローパスフィルタ2
0.21に与えるようになっている。非接触変位計16
.17から得られる信号はノイズ成分が多く S/N比
が低いため、二次のローパスフィルタ20.21によっ
てS/N比を充分に高めるのである。
次のローパスフィルタ20.21の出力側はA/D変換
器22の入力側に接続されている。A/D変換器22は
、二次のローパスフィルタ20.2.1の出力信号であ
るアナログ信号をディジタル信号化するものであり、同
信号をディジタル化してマイクロコンピュータ23に入
力するものである。マイクロコンピュータ23は、この
信号でつり合い度の判断を行なうが、被測定物であるク
ランクシャフト19の1回転毎の基準信号を必要とする
ため5クランクシヤフト19の近傍に設けられた、回転
検出器としての近接スイッチ24から、1回転毎のパル
ス信号も得るようになっている。
以上説明したところは第5図について従来技術として説
明したところと同様であるが、近接スイッチ24の出力
信号をそのままマイクロコンピュータ23に直接入力せ
ず、次に詳細に説明するパルス遅延回路26を介して入
力するところに大きな特徴がある。この構成によって、
測定する回転数付近では、近接スイッチ24からのパル
ス信号に二次のローパスフィルタ20.21と同様な位
相遅れを故意に発生させ、被測定物の測定回転数に変動
が生じたときには、そのために生ずる二次のローパスフ
ィルタ20.21での位相のずれを相対的に打消すよう
にする。
第2図は第1図中のパルス遅延回路26の内部構成を詳
細に示すものである。これを説明する。27は入力端子
であり、近接スイッチ24が接続されるものである。ま
た28は出力端子でありマイクロコンピュータ23の入
力側に接続されるものである。
入力端子27には倍周回路29が接続されており、入力
端子27に入力する周波数f、のパルス信号を、設定さ
れた整数N倍の周波数f、に変換するようになっている
6倍周することにより、入力端子27に現れる入力信号
が被測定物であるクランクシャフト19が1回転する毎
に1パルス現れるのを、その整数倍であるNパルスにす
る0倍周回路29の出力側にはカウンタ30が接続され
ており、倍周回路26の出力信号であるパルス数を1周
期毎にカウントするようになっている。カウンタ30の
出力信号は後述する一致回路31に与えられる。
入力端子27にはF/F回路(フリップフロップ回路。
以下同じ)32の入力端も接続されており、入力端子2
7に人力された信号を分周して、測定1回転毎に反転す
る信号を作り出すようになっている。このF/F回路3
2の出力側はワンショットパルス回路33の入力側とア
ンド回路34の一つの入力端子とに接続されている。ワ
ンショットパルス回路33はF/F回路32からアント
回路34に加えられる出力信号に同期して次段に接続さ
れたラッチ回路35に記憶用パルス信号を与えるもので
ある。
このワンショットパルス回路33の出力側は、ラッチ回
路35のほか、第2のワンショットパルス回路36の入
力側にも接続されている。この第、2のワンショットパ
ルス回路36は、アンド回路34の出力側に接続された
ダウンカウンタ37を、ラッチ回路35がカウント値を
記憶した後にクリアするためのものである。ダウンカウ
ンタ37の出力信号はラッチ回路35に与えられるよう
になっており、ラッチ回路35の出力側は一致回路31
に与えられるようになっている。前述のアンド回路34
の他の−つの入力端子には、一定周波数のパルス信号を
発振するクロック発振回路38の出力側が接続されてい
る。
このような構成からなるパルス遅延回路26を有する本
発明のつり合い試験機は5次のように作動する。被測定
物であるクランクシャフト19が回転し、これによって
振動板5.6が振動し、この振動を非接触変位計16.
17が捉え、この信号を二次のローパスフィルタ20.
21を介してA/D変換器22に与えて、その出力信号
をマイクロコンピュータ23に入力し、被測定物のつり
合い状態を検出するまでの点については、第5図に示し
たものの作動と変わるところがない。この場合、前述の
ように、二次のローパスフィルタ20.21には第7図
に示すような位相遅れ特性が存在することと、被測定物
を回転させるための駆動装置としてのモータ11に誘導
モータを使用する関係で、3%程度の回転数変動がある
ことから、この変動がローパスフィルタにおける周波数
の変動となり、すなわち、位相遅れが変化してしまうこ
とになる。このため、前述したようにこれが不つり合い
の角度誤差となって測定精度を悪化させる要因となる。
第2図に示した構成のパルス遅延回路26を有する本発
明のつり合い試験機lによれば、この問題が解決される
。これを第2図の各部分の出力波形とそのタイミングを
示した第3図を用いて説明する。この図において■は近
接スイッチ24が検出する基準信号であり、被測定物(
クランクシャフト+9)が1回転する毎にlパルス発生
するものである。■は倍周回路29の出力波形で、上記
■の出力信号があるたびに、これをあらかじめ定めた倍
数の周波数に変換するものである(倍数がNのときNf
ヘルツ)。@はカウンタ30の出力信号で、上記倍周回
路29の出力波形を数えるものである。このカウンタ3
0の出力は、当然に基準信号■が発生したときにのみ発
生する。
■はF/F回路32の出力波形である。F/F回路であ
るから、当然に入力端子27に信号が入力したときに立
上がり、次に信号の入力があると立下がることになる。
したがって被測定物が2回転する毎に1パルス発生とい
うことになる。■はワンショットパルス回路33の出力
波形、■はワンショットパルス回路36の出力波形であ
る。これらの回路はF/F回路32の出力信号があった
ときに作動するので、パルス波の発生は図示するような
タイミングとなる。■はクロック発振回路38の出力波
形で、図示するように一定形状で連続して発生するもの
である。このクロック発振回路38の出力信号は終始発
生しているので、F/F回路32が出力信号を出したと
きには、アント回路34がOのような出力信号を発生す
る。
ダウンカウンタ37はMからカウントを開始し、M−M
までカウントダウンしていく。ラッチ回路35はこのM
 −M′を記憶するので、カウンタ30の値がOから始
まりNに達するまでにラッチ回路35のf直M −M’
と一致するところがある(一致するように、あらかじめ
M、M’、Nの値を決めておく)。
第3図中の■はダウンカウンタ37の出力値(リセット
からM−1、M−2,−・−)を示し、■はラッチ回路
35の出力値である。このようにしてラッチ回路35の
出力値がカウンタ30の出力値に合致したとき、−数回
路31は出力端子28に第3図の■のようなパルス信号
を発するので、マイクロコンピュータ23(第1図参照
)は、この信号■を基準として、つり合い状態の試験を
行なう、これによって、二次のローパスフィルタ20.
21の位相遅れの影響を受けずに試験できることになる
。なお、図中にAで示す範囲、すなわち1周期の開始時
から一致回路31が出力信号としてパルス波を発生する
までの間が、基準信号に対する遅れ時間となる。換言す
れば、ダウンカウンタ37のカウント値を数(lft 
Nで除した分だけ遅れたものとなる。
以上のようにして被測定物のつり合い試験を行なうに当
り、1!備行為として、周期が変化するとカウントft
1Iがどのくらい変化するかを、あらかじめ計算で求め
ておく、すなわち、カウント値の変化量が、ちょうどロ
ーパスフィルタで遅れる分と一致する遅れとなるように
、あらかじめ計算しておく必要がある。またダウンカウ
ンタ37のカウント値は、前述のように入力端子27へ
の周波数が高いほど大きくなるようにしであるので、位
相の遅れも大きくなる。この遅れが第6図と同様の特性
となるようにNの値とクロック発振回路38の発振周波
数を決めておく必要がある。
(発明の効果) 本発明は、以上説明したように、被測定物を回転自在に
支持してこれを回転させるように駆動手段を設けた基台
と、前記被測定物の回転に伴なう振動を受けて振動する
振動板と、この振動板の振動を変位として捉え、これを
電気信号として出力する変位計とを有するつり合い試験
機にお−いて、前記被測定物の回転を検出する回転検出
器と、この回転検出器の回転信号を受けて所定数のパル
ス信号を発生させる倍周回路ならびにこの倍周回路の発
生したパルス数をカウントするカウンタと、一定周期の
クロックパルスを発生させるクロック発振回路ならびに
ゲート信号に基いてこのクロックパルスをカウントする
ダウンカウンタと、このダウンカウンタのカウント値を
記憶するラッチ回路と、このラッチ回路の記憶したカウ
ント値と前記カウンタのカウント値が一致した時に振動
出力信号を取込むパルス信号を出力するパルス遅延回路
を備えたことを特徴とするつり合い試験機である。
このように構成したことにより、非接触変位計の出力信
号からノイズ成分を除去してSハ比を上げるために二次
のローパスフィルタを使用しても、このローパスフィル
タの有する位相差遅れの影響を受けないことになる。そ
してその手段としてマイクロコンピュータを使用しない
のでソフトウェアが不要である。モータに回転誤差があ
ってもこれを試験結果に影響させないようにできるので
、特別高精度なサーボモータ等を使用しなくても安価な
誘導モータで足りること、ならびに簡単な部品のみで構
成できるので5コスト的に有利となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の回路図、第2図は第1図中
のパルス遅延回路を詳細に示した回路図、第3図は第2
図に示した回路の作動を説明するためのタイムチャート
図、第4図はつり合5>試験機の外観を示す斜視図、第
5図は従来回路を示す回路図、第6図は不つり合いの振
動Gこよる信号と近接スイッチによる回転基準信号とを
示すり゛ラフ、第7図はローパスフィルタの特性を示す
グラフである。 l−つり合い試験機 2−基台 5.6・−振動板 11−モータ 16、17一−非接触変位計 1g−一信号処理装置 19−クランクシャフト 20.21−二次のローパスフィルタ 22−A/D変換器 23−マイクロコンピュータ 24−近接スイッチ 26−パルス遅延回路 29−倍周回路 30−カウンタ 31 ・・・−数回路 32−・・F/F回路 33、36・−ワンショットパルス回路34−・・アン
ド回路 35−・ラッチ回路 37−・・ダウンカウンタ 38−・・クロック発振回路 特 許 出願人 トヨタ自動車株式会社第1 1・・つり合い試験機 29.基台 5.6・・・振a板 11・・七−夕 19・・クフソクジャフト 20.21・ ・ニ次めローパスフィルり22・・・A
/D交換器 23−マイグロコソヒ゛ユータ 図 U・・肚接スイッチ に・、/Yルス遵′VL回路 30・・カウンタ 31・・・一致回距 莫・・ 35・ ご・・ 菫・・ 了ソド回路 ウソヶ回路 ダウンカウンタ クロソク究振可路 菓2図 第4図 第5図 第6図 第7 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被測定物を回転自在に支持してこれを回転させる
    ように駆動手段を設けた基台と、前記被測定物の回転に
    伴なう振動を受けて振動する振動板と、該振動板の振動
    を変位として捉え、これを電気信号として出力する変位
    計とを有するつり合い試験機において、前記被測定物の
    回転を検出する回転検出器と、この回転検出器の回転信
    号を受けて所定数のパルス信号を発生させる倍周回路な
    らびに該倍周回路の発生したパルス数をカウントするカ
    ウンタと、一定周期のクロックパルスを発生させるクロ
    ック発振回路ならびにゲート信号に基いて該クロックパ
    ルスをカウントするダウンカウンタと、該ダウンカウン
    タのカウント値を記憶するラッチ回路と、該ラッチ回路
    の記憶したカウント値と前記カウンタのカウント値が一
    致した時に振動出力信号を取込むパルス信号を出力する
    パルス遅延回路を備えたことを特徴とするつり合い試験
    機。
JP22389390A 1990-08-24 1990-08-24 つり合い試験機 Pending JPH04105035A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008292222A (ja) * 2007-05-23 2008-12-04 Toshiba Corp 回転振動位相検出装置及び方法
JP2013015458A (ja) * 2011-07-05 2013-01-24 Sugawara Sekkei Jimusho Kk 回転体のアンバランス量測定方法および装置

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