JPH0394131A - Electronic thermometer - Google Patents

Electronic thermometer

Info

Publication number
JPH0394131A
JPH0394131A JP1331615A JP33161589A JPH0394131A JP H0394131 A JPH0394131 A JP H0394131A JP 1331615 A JP1331615 A JP 1331615A JP 33161589 A JP33161589 A JP 33161589A JP H0394131 A JPH0394131 A JP H0394131A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
display
output
switch
oscillator
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP1331615A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0810168B2 (en
Inventor
Toshiyuki Kobayashi
敏幸 小林
Takao Ota
太田 隆雄
Masaji Miura
三浦 正次
Hidetoshi Matsumoto
英俊 松本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Omron Tateisi Electronics Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Omron Corp, Omron Tateisi Electronics Co filed Critical Omron Corp
Priority to JP1331615A priority Critical patent/JPH0810168B2/en
Publication of JPH0394131A publication Critical patent/JPH0394131A/en
Publication of JPH0810168B2 publication Critical patent/JPH0810168B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)

Abstract

PURPOSE:To execute the self-diagnosis of a circuit function whenever the thermometer is used by constituting it so that a display testing circuit and a function testing circuit are actuated at the time of operating a switch for measuring a temperature. CONSTITUTION:When a push-button switch which is not shown in the figure, for instructing to start a temperature measurement is operated, a switch circuit 14 is turned on, an oscillation start signal is outputted to an oscillator 1 and a clock oscillator 5, and a function test start signal is outputted to a function testing circuit 15. The circuit 14 outputs a display test signal to a driver 12 and allows an indicator 13 to turn on all the lamps for a prescribed time after the push-button switch is depressed, and an operation check of the indicator 13 is executed. The circuit 15 receives the function test start signal, and a clock signal from the oscillator 5, and resets an FF1 through an OR circuit 16. Accordingly, a switch SW is connected to a reference resistance R side, and the oscillator 1 is oscillated by the resistance R. Since the resistance R is set to a reference temperature value, a function test is executed by confirming whether a temperature display of the indicator 13 is the reference temperature or not.

Description

【発明の詳細な説明】 (a)  発明の関連する技術分野 この発明は電子体温計等の電子温度計K関する。[Detailed description of the invention] (a) Technical field to which the invention relates The present invention relates to an electronic thermometer K such as an electronic thermometer.

(b)  従米技術の欠点 従来の電子温度計は電源スイッチをオンすると直ちに測
定モードに移b1動作モードとしては通常の測定モード
しか備えていなかった。しかし、このような温度計では
、回路機能が正常でない場合に、誤った測定をすること
になb1しかも誤った測定を行うときにその表示値が誤
測定値であることを表示する手段がない。それ故、従来
の電子温度計では測温精度に対する信頼性が劣るという
問題があった。
(b) Disadvantages of conventional technology Conventional electronic thermometers immediately enter measurement mode when the power switch is turned on, and have only the normal measurement mode as the b1 operation mode. However, with such a thermometer, if the circuit function is not normal, it may lead to incorrect measurements.Moreover, there is no way to indicate that the displayed value is an incorrect measurement value when making an incorrect measurement. . Therefore, conventional electronic thermometers have a problem of poor reliability in temperature measurement accuracy.

(c)  発明の目的 この発明の目的は、使用毎に回路機能の自己診断を短時
間に行える電子温度計を提供することにある。
(c) Purpose of the Invention The purpose of the present invention is to provide an electronic thermometer that can self-diagnose circuit functions in a short time each time it is used.

(d)  発明の構戊3よび効果 この発明は、要約すれば、 温度表示を行う表示手段の表示テストを行う表示テスト
回路と、その表示手段に基準温度値を表示させる機能テ
ストを行う機能テスト回路と、測定開始を指定するスイ
ッチを含み、このスイッチ操作時に前記表示テスト回路
と前記機能テスト回路とを起動し、一定時聞後に測定開
始状態に移行させるスイッチ回路とを有し、前記スイッ
チ操作が行われたとき、前記表示テスト釦よび前記機能
テストを行い、一定時間後に測定を開始するようにした
ことを特徴とする。
(d) Structure 3 and Effects of the Invention To summarize, the present invention provides: a display test circuit that performs a display test of a display means for displaying temperature; and a function test that performs a function test that causes the display means to display a reference temperature value. a circuit, and a switch circuit that includes a switch that specifies the start of measurement, starts the display test circuit and the function test circuit when the switch is operated, and shifts to the measurement start state after a certain period of time; The present invention is characterized in that when the display test button and the function test are performed, the measurement is started after a certain period of time.

この発明によれば、 温度測定開始時に、回路機能の自己#断が短時間に自動
的に行われるので、同路機能の故障等を使用する前にあ
らかじめ知ることができ、測定結果の信頼性が向上する
利点を有する。
According to this invention, since the circuit function is automatically shut off in a short time when temperature measurement is started, failures in the circuit function can be known in advance before use, improving the reliability of measurement results. It has the advantage of improving

(e)  実施例の説明 第1図はこの発明の一実施例を示す電子温度計のブロッ
ク図である。同図において、サーミスタ(感温抵抗)R
x,  基準抵抗Rのー@は共通接続されて、電源電圧
の電#(図示せず)に接続され、夫々の他端はスイッチ
SWを介して一端が接地されたコンデンサCに接続され
る。スイッチSWはフリツプフロツプFFIの出力によ
って切換わるスイッチであって、フリッグ7ロツプFF
IのQ出力がある場合はザーミスタRX側に、Q出力が
ない場合は基準抵抗R側に夫々切換わるように構或され
ている。基準抵抗Rぱ感温抵抗Rxが例えば37.0℃
のときの抵抗値を有する。スイッチ回路14は、測定開
始を指示する押ボタンスイッチ(図示せず)を含み、こ
の押ボタン操作により、発振器1ふ−よびクロツク発振
器5へ発振開始信号を出力し、1た機能テスト回W!r
l5に機能テスト開始信号を出力する。咬た、スイッチ
回路14は、押ボタンスイツヂを押したときから一定時
間ドライバ12へ表示器13を全灯点灯させる表示テス
} 4Ni号を出力する。機能テスト回路15は、クロ
ツク発振器5からのクロツク信号を受け、一定時間出力
をリセット信号としてオア回路16を介してプリツブフ
ロツブFFIに出力する。
(e) Description of Embodiment FIG. 1 is a block diagram of an electronic thermometer showing an embodiment of the present invention. In the same figure, thermistor (temperature-sensitive resistance) R
x and -@ of the reference resistor R are commonly connected and connected to a power source voltage (not shown), and the other ends of each are connected via a switch SW to a capacitor C whose one end is grounded. The switch SW is a switch that is switched by the output of the flip-flop FFI, and is a switch that is switched by the output of the flip-flop FFI.
When there is a Q output of I, it is switched to the thermistor RX side, and when there is no Q output, it is switched to the reference resistor R side. For example, if the reference resistance R and temperature-sensitive resistance Rx are 37.0°C
It has a resistance value when . The switch circuit 14 includes a push button switch (not shown) that instructs to start measurement, and when this push button is operated, an oscillation start signal is output to the oscillator 1 and the clock oscillator 5, and the first functional test W! r
A function test start signal is output to l5. The switch circuit 14 then outputs a display test (4Ni) to the driver 12 for a certain period of time from when the pushbutton switch is pressed to turn on all the lights of the display 13. The functional test circuit 15 receives the clock signal from the clock oscillator 5, and outputs the output for a certain period of time as a reset signal to the pretub FFI via the OR circuit 16.

発振器1はコンデンサCとサーミスクRx  又ぱ基準
抵抗Rの時定数によりほぼ定1る周波数で発振する発振
器であり、その出力はカクンタ2に与見られる。カクン
タ2は所定数No tで計数できるNO進カウンタであ
って、その出力はラッチ回路3に与えられ、オーバー7
ロー出力は遅延回路4とラッチ回路7に与えられる。一
方、所定のクロツク周技数fcを発振するクロツク発振
器5の出力はカクンタ6に与えられる。カクンタ6の出
力けラツチ回路7ふ−よび比較回路8に与えられる。
The oscillator 1 is an oscillator that oscillates at a frequency that is approximately constant depending on the time constant of the capacitor C, thermistor Rx, or the reference resistor R, and its output is given to the capacitor 2. Kakuunta 2 is a NO counter that can count by a predetermined number Not, and its output is given to latch circuit 3.
The low output is given to delay circuit 4 and latch circuit 7. On the other hand, the output of the clock oscillator 5, which oscillates at a predetermined clock frequency fc, is given to the counter 6. The output of the kakuunta 6 is applied to a latch circuit 7 and a comparator circuit 8.

クロツク発振器5、カクンタ6、ラッチ回路7および比
較回路8は、カクンタ2がオーバーフローするまでの時
間を計測する計時手段を構戊している。ラツヂ回路7け
カクンク2のオーバー7ロー出力をストロープ信号とす
る計数値の保持回路であって、その出力は比較回路8に
与えられる。比較回路8はこれらの二種類の入力信号を
比較するものであって、両入力が一致したとき出力を発
生する。その出力は遅延回路9に与えられ、更にストロ
ーグ信号としてラッチ回路3に与え.られる。
The clock oscillator 5, the kakunta 6, the latch circuit 7, and the comparison circuit 8 constitute a time measuring means for measuring the time until the kakunta 2 overflows. It is a count value holding circuit that uses the over-7 low output of the 7-digit radial circuit 2 as a strobe signal, and its output is given to the comparator circuit 8. Comparison circuit 8 compares these two types of input signals, and generates an output when both inputs match. The output is given to the delay circuit 9, and further given to the latch circuit 3 as a stroke signal. It will be done.

遅延{川Wj4の出力はセット信号としてクリップ7ロ
ツプFFIに与λ,られると共に、オア回路10を介し
てカクンタ2、6にクリャ信号として与えられる。ラッ
チ回路3の出力はデコーダ11、更にリードオンリメモ
リROMに与λ.られる。リードオンリメモIJ R 
O Mは入力に対応する温度値が記,憶されているメモ
リであって、その温度情報出力はド2イバ12を介して
表示器13によって表示される。
The output of the delay Wj4 is applied to the clip 7 loop FFI as a set signal, and is also applied to the counters 2 and 6 via the OR circuit 10 as a clear signal. The output of the latch circuit 3 is applied to the decoder 11 and further to the read-only memory ROM. It will be done. Read only memo IJR
OM is a memory in which temperature values corresponding to inputs are stored, and the temperature information output is displayed on a display 13 via a driver 12.

第2図は発振器1とその周辺部の一例を示す回路図であ
る。同図に示すようにコンデンヅ゛Cには放電用抵抗R
1を介してインパータ17.25及びMOS}ランジス
タ18が接続されている。ここでインパーク25はヒス
テリシス特性を有するものとし、インパータ17けヒス
テリシス特性を持たないものとする。インパータ25.
17の出力はゲート回路19.20を介して7リンプ7
ロツプFF2のセット入力端子及びリセット入力端子に
与えられる。フリツプフロツブFF2のQ出力は前述す
るカクンタ2及びMOSトランジスタ18のゲートに与
えられる。フリツブフロツプFF2のCLI子には、ス
イッチ回路14からの発振開始信号が与えられる。
FIG. 2 is a circuit diagram showing an example of the oscillator 1 and its peripheral parts. As shown in the same figure, the capacitor C has a discharge resistor R.
1, an inverter 17, 25 and a MOS transistor 18 are connected. Here, it is assumed that the impercator 25 has a hysteresis characteristic, and the imperctor 17 does not have a hysteresis characteristic. Imperter 25.
The output of 17 is 7 limp 7 through gate circuit 19.20.
It is applied to the set input terminal and reset input terminal of the flop FF2. The Q output of the flip-flop FF2 is applied to the above-mentioned capacitor 2 and the gate of the MOS transistor 18. An oscillation start signal from the switch circuit 14 is applied to the CLI terminal of the flip-flop FF2.

第3図はスイッチ口路14を示すブロック図である。同
図において、フリツブフロツブFF3のD入力端子には
電源電圧VDD  が導入され、フリツプフロツブFF
3とFF4の各CLK端子には、分周されたクロツク偵
号CLSがクロツク発振器5よシ与えられる。フリツブ
7ロツプFF3のQ出力はフリソプフロツプFF4のD
入力端子に与えられる。フリツプフロツブFF4のQ出
力はフリツプフロツブFF5のC L K入力端子とノ
ア回M22に与えられ、またそのQ出力はノア回路21
に与えられる。フリツブフロツブFF5のD入力は、ク
リップフロツプF F 5のQ出力より与えられ、その
Q出力はノア回路21.22に与えられる。ノア回路2
1の出力端子はフリツブフロツブFF6のD入力端子に
接絖され、そのCLK入力端子にはクロツク発振器5よ
りクロツク信号が与えられる。フリツブフロツプFF3
,4.6のCL入力端子には、前述の押ボタンスイッチ
(図示せず)の出力が接続される。フリツプフロツプF
F6のQ出力は機能テスト開始4Fi号として機能テス
ト回路15に、筐た、発振開始信号として、允振器1に
与えられ、1た、頁出力は発振開始信号としてクロツク
発振器5 K与λ一られる。この板組開始信号および発
振器1への発振開始信号けQ出力の「0」(ロー)に対
応し、′!たクロツク発振器5への発振開始信号け百出
力の「1」(ハイ)に対応している。壕た、ノア■路2
2の出力は表示テスト信号どしてドライバ12に与λ一
られる。
FIG. 3 is a block diagram illustrating the switchway 14. In the same figure, the power supply voltage VDD is introduced to the D input terminal of flip-flop FF3, and the flip-flop FF
A frequency-divided clock signal CLS is applied from a clock oscillator 5 to each CLK terminal of FF3 and FF4. The Q output of flipflop FF3 is the D output of flipflop FF4.
given to the input terminal. The Q output of flip-flop FF4 is given to the CLK input terminal of flip-flop FF5 and the NOR circuit M22, and the Q output is applied to the NOR circuit 21.
given to. The D input of the flip-flop FF5 is given from the Q output of the clip-flop FF5, and the Q output is given to the NOR circuits 21 and 22. Noah circuit 2
The output terminal of the flipflop FF6 is connected to the D input terminal of the flipflop FF6, and a clock signal is applied from the clock oscillator 5 to its CLK input terminal. Fritz flop FF3
, 4.6 are connected to the output of the aforementioned pushbutton switch (not shown). flip flop F
The Q output of F6 is applied to the function test circuit 15 as a function test start signal 4Fi, and the output is applied to the clock oscillator 1 as an oscillation start signal. It will be done. Corresponding to this board assembly start signal and the oscillation start signal to the oscillator 1, the Q output is "0"(low),'! The oscillation start signal to the clock oscillator 5 corresponds to the output of "1" (high). Treasure, Noah Road 2
The output of 2 is applied to the driver 12 as a display test signal.

この表示テスト信号はノア回路22出力の「1」に対応
している。
This display test signal corresponds to "1" of the NOR circuit 22 output.

第4図はia能テスト回路15を示すブロック図である
。同図にお−いて、カクンタ24Viクロツク発振器5
よりクロツク信りを、1た、インパータ23を介して機
能テスト開始信号を受け、一定時間カクントする。そし
て、カウントアンプ信号を、カクンタ24のカクン1・
アップ出力よbフリップ7ロツプFF7のS入力端子に
出力する。イン/<ータ23の出力ij7リツプフロツ
プFF7のR入力端子にも与えられ、7リップフロップ
FF7の蚕出力は、前述のようにオア回路16を介して
7リップフロツプFFIのR入力端子に与えられる。
FIG. 4 is a block diagram showing the IA function test circuit 15. In the same figure, Kakunta 24Vi clock oscillator 5
Once the clock signal is input, a function test start signal is received via the inverter 23, and the signal is counted for a certain period of time. Then, the count amplifier signal is sent to the Kakunta 1 of Kakunta 24.
The up output is output to the S input terminal of the b flip 7 flip FF7. The output of the ij7 flip-flop FF7 is also applied to the R input terminal of the input/< 23, and the output of the 7 flip-flop FF7 is applied to the R input terminal of the 7 flip-flop FFI via the OR circuit 16 as described above.

なお・、フリツブフロツブFFI,?はリセット優先の
7リップフロツフである。
In addition, Fritub FFI,? is a 7-lip flop with reset priority.

以上の構戒にかいて、との発U]を構戊する感温抵抗は
サーミスタRxが、比較手段はカクンタ2,6、ランチ
回路7、クロツク発振器5、遅延口路4,9、比較回路
8ふ・よびその他のダート回路が、表示手段はドライバ
12および表示器13が、1た、表示テスト幽@はスイ
ッチ回路14のノア回路22等の表示テスト値号発生部
がそれぞれ対応する。
Based on the above considerations, the temperature sensitive resistor that constitutes the output U is the thermistor Rx, and the comparison means are the kakuntas 2 and 6, the launch circuit 7, the clock oscillator 5, the delay ports 4 and 9, and the comparison circuit. The display means corresponds to the driver 12 and the display 13, and the display test value corresponds to the display test value generator such as the NOR circuit 22 of the switch circuit 14, respectively.

次に、この電子湿度計の測定dr f’+−について説
明する。第5図はコンデン−1/− C IZ)端子電
比波形を示す波形図である。4スイッチSWが基準抵抗
R側にあるものとすると、基準抵抗Rを介してコンデン
サCは充電され、その端子電圧は徐々に上昇する。端子
電圧がインパータ25のオン電圧v2に達すると、フリ
ツプフロツプFF2がセットされ、MOSトランジスタ
18がオン状態となb1コンデンサCは抵抗R1  を
通じて放電される。喘子電圧が下がってインバーク25
のオフ電圧■lに達すると、フリツブ7ロツプFF2が
リセットされて、再び充電される。充電時向′rCは次
式で表わされる。ここでR 1 <1< , Rxであ
る場合には放電時間は無視できる。従って発振器」の発
振周波政foは次式 1     1 ””Tc   k−劃で   ・・・(2)(但し、k
1−ln−LニヱLとしてトく。)E−V. で表わされる。カクンク2および6vよ同時にクリャさ
れて夫々発振器l及びクロツク発振器5の出力パルスを
計数する。カクンタ2の計数値が所定& N oに達す
ると、そのオーバーフロー出力によってカクンタ6の計
政値がランチ回路7に保時される。ところでカクンタ2
がオーバーフローするまでの時間はNo/fo  であ
るので、クロツク発振器5のクロック周波敗をfc(例
えば3 3 KHz)とするとラツチ凹路7に保持され
るカクンタ6の計政値は次式 と表わすことができる。次にカクンタ2のオーバーフロ
ー出力は遅延回路4により微小時間遅れてオア回路10
に加わり、カクンタ2.6をクリャすると共に、フリツ
プフロツプFFIをセットする。フリツプフロツブFF
Iが反転することにより、スイッチSWが基準抵抗R側
からサーミスタRx側に切換えられる。サーミスタRx
が接続された場合、発振器lの発振周波故fxぱ、式(
2)のRをRxに変換して (プーミスタRxに接続されているとき)によって求め
ることができる。カクンタ2はこれ以後発振周波11k
fxの発振器1の出力パルスを計数し始める。一方カク
ンタ6は再びクロック発振器5の出力パルスを計数する
。ここでクロック周波数をfc  とする。カクンタ6
が式(3)で示される計数値に達した時に比較lgI路
8は両者の一致を検出してその時点でのカクンタ2の計
数値をクッチ同路3によって一時保持する。ラツチ圓路
3により保持される計数値をNx  とすると、カクン
タ2がNx tで計数する時間(Nx/fx)内にカク
ンタ6が計数する計数値( /cNx/ fx )はラ
ンチ口路7に保持されている計歌値fcNo / fo
 (式(3)の値)に悸しい。従って次式が戊立つ。
Next, the measurement dr f'+- of this electronic hygrometer will be explained. FIG. 5 is a waveform diagram showing a capacitor-1/-C IZ) terminal voltage ratio waveform. Assuming that the 4-switch SW is on the side of the reference resistor R, the capacitor C is charged via the reference resistor R, and its terminal voltage gradually increases. When the terminal voltage reaches the on-voltage v2 of the inverter 25, the flip-flop FF2 is set, the MOS transistor 18 is turned on, and the b1 capacitor C is discharged through the resistor R1. Pancreatic voltage drops and invert 25
When the off-voltage ■l is reached, the flipflop FF2 is reset and charged again. The charging direction 'rC is expressed by the following equation. Here, if R 1 <1<, Rx, the discharge time can be ignored. Therefore, the oscillation frequency fo of the oscillator is expressed as follows:
Toku as 1-ln-LnieL. ) E-V. It is expressed as The clock pulses 2 and 6 are cleared simultaneously to count the output pulses of the oscillator 1 and the clock oscillator 5, respectively. When the count value of the kakunta 2 reaches a predetermined value &No, the calculated value of the kakunta 6 is held in the launch circuit 7 by its overflow output. By the way, Kakunta 2
Since the time until overflow is No/fo, if the clock frequency loss of the clock oscillator 5 is fc (for example, 33 KHz), the calculated value of the kakuntator 6 held in the latch concave path 7 is expressed as the following equation. be able to. Next, the overflow output of the kakunta 2 is delayed by a minute time by the delay circuit 4, and then the OR circuit 10
, clears Kakunta 2.6, and sets flip-flop FFI. flipflop FF
By inverting I, the switch SW is switched from the reference resistor R side to the thermistor Rx side. Thermistor Rx
is connected, the oscillation frequency of the oscillator l is given by the equation (
2) can be obtained by converting R into Rx (when connected to Pumister Rx). Kakunta 2 has an oscillation frequency of 11k from now on.
Start counting the output pulses of oscillator 1 of fx. Meanwhile, the kakunta 6 counts the output pulses of the clock oscillator 5 again. Here, let the clock frequency be fc. Kakunta 6
When the count reaches the count value shown in equation (3), the comparison lgI circuit 8 detects a coincidence between the two, and the count value of the kakunta 2 at that point is temporarily held by the kucchi circuit 3. If the count value held by the latch circle path 3 is Nx, the count value (/cNx/fx) counted by the kakunta 6 within the time (Nx/fx) that the kakunta 2 counts at Nx t will be Stored measurement value fcNo/fo
(The value of equation (3)) is disturbing. Therefore, the following equation stands out.

クロツク周波数は基準抵抗RとサーミスタRxとを切換
える間には変化しないものとすればfcとfc とは等
しいので、式(4)を変形し、式+21, (2)を代
入すると、次式が戊立つ。
Assuming that the clock frequency does not change while switching the reference resistor R and thermistor Rx, fc and fc are equal, so by transforming equation (4) and substituting equation +21 and (2), we get the following equation: Stand up.

ところでサーミスタRx の抵抗値は次式で表すことが
できる。
By the way, the resistance value of the thermistor Rx can be expressed by the following equation.

似しRo:絶対零度To のときの抵抗伽B :ポルン
マン定数 T :絶対温度 尚スイッチSWは半導体スイッチで構戊するが、基準抵
抗R,!:サーミスクRXの抵抗値がほt!等しければ
、スイッチのオン抵抗、オフ電圧vt1オン電圧VmO
値は等しいものと考えられるので、k1冨k禽  とお
くことができる。これを用いて式(6)を弐挿)に代入
すると、 従ってNyd>i定まれば、他は全て定数であるので温
度を求めることができる。第1図に示すりードオンV%
:りROMには式(7)に誌づく変換コードが記憶され
てレシ、ラッチ回路3に保持されるNxのデータはデコ
ーダ11を通じてリードオンリメモ!JROMに与えら
れ、温度の情報が続出される。
Similarity Ro: Resistance at absolute zero To B: Polnmann's constant T: Absolute temperature The switch SW is a semiconductor switch, but the reference resistance R,! :The resistance value of Thermist RX is amazing! If they are equal, the on-resistance of the switch, off-voltage vt1 on-voltage VmO
Since the values are considered to be equal, it can be set as k1. Using this and substituting equation (6) into (2), if Nyd>i is determined, the temperature can be found since everything else is constant. Ride-on V% shown in Figure 1
:The conversion code written in formula (7) is stored in the ROM, and the Nx data held in the receipt and latch circuit 3 is read-only memorized through the decoder 11! It is given to JROM and temperature information is output one after another.

温度情報はドライバ12を介して表示器13によって表
示される。
The temperature information is displayed on the display 13 via the driver 12.

次にこの電子温度計に釦ける同路機能テスト動作を説明
する。
Next, the same circuit function test operation that can be performed by pressing the button on this electronic thermometer will be explained.

第6.7図はそれそれスイッチ回路14、機能テスト回
路15の動作を示すタイミングチャートである。スイッ
チ回路14の押ボタンスイッチを押すと、その入力の立
上りタイミングで、フリツブ7ロツプFF3,4.6は
リセットされる。そのリセット直後よシ、フリツプフロ
ツブFF6の出力から、機能テスト開始値号釦よび発振
器1の発振開始信号、クロツク発振器5の発振開始信号
が出力される。このときノア回路22から表示テスト信
号が出力される。すなわち、この押ボタン操作によりパ
ワーオン状態に移る。この表示テスト信号が出力されて
いる時間は、第6図に示すように、押ボタンスイッチの
オン時間T1 と、チャクリング防止用に設けられた時
間T! との和である。ところで、時間T!ぱ2l0/
 fc秒程度であるので、’rt’>”rsといえる。
FIG. 6.7 is a timing chart showing the operations of the switch circuit 14 and the function test circuit 15, respectively. When the pushbutton switch of the switch circuit 14 is pressed, the flip-flop FFs 3, 4.6 are reset at the rising timing of the input. Immediately after the reset, the function test start value button, the oscillation start signal of the oscillator 1, and the oscillation start signal of the clock oscillator 5 are output from the output of the flip-flop FF6. At this time, the NOR circuit 22 outputs a display test signal. That is, by operating this push button, the power-on state is entered. As shown in FIG. 6, the time during which this display test signal is output is the ON time T1 of the pushbutton switch and the time T1 provided to prevent chuckling. It is the sum of By the way, time T! pa2l0/
Since it is about fc seconds, it can be said that 'rt'>”rs.

したがって、表示テスト信号はほぼ押ボタンスイッチを
押している間出力されることになる。この表示テスト信
号がドライバ12に与えられると、表示装13が全灯点
灯される。これにより、操作者は、表示器13が全灯点
灯されているか否かを因眼で債船することによって表示
器13の正常動作をチェックすることができる。押ボタ
ンスイッチをオフしてから11時間経過すると、クロツ
ク信9CLSの立下bタイミングにおいて、フリツブ7
ロツブFF4,5はセットされ、ノア回路22の出力が
反転して表示テスト信号は出力されなくなる。
Therefore, the display test signal is output approximately while the pushbutton switch is being pressed. When this display test signal is given to the driver 12, all the lights of the display device 13 are turned on. Thereby, the operator can check the normal operation of the display 13 by visually checking whether all the lights on the display 13 are lit. After 11 hours have elapsed since the pushbutton switch was turned off, at the falling edge b timing of the clock signal 9CLS, the flip-flop 7
The lobe FFs 4 and 5 are set, the output of the NOR circuit 22 is inverted, and the display test signal is no longer output.

一方、この表示テスト信号が出力されている間、機能テ
スト回路15はインパータ23を介して機能テスト開始
信号と、クロツク発振器5よりのクロツク信号とを受け
、カクンタ24がカウントを開始する。これと同時に、
フリッグ7ロツプFF7にはリセット信号が与えられ、
クリップ7ロップFF7の頁出力が「1」になる。この
頁出力はオア回路16を介してフリツプ7ロツブFFI
のR入力端子に導入され、フリツプフロツプFFIはリ
セットされる。したがって、スイッチSWは感温抵抗R
x側に切換わることなく、基準抵抗R側に接続された1
筐になる。それ故、発振器1は強制的に基準抵抗Rで発
振する。そして、前述したように、基準抵抗lくは37
.O’Cのときの感?!III抵抗Rx  の抵抗値に
設定されているので、カクンタ24がカクントアップす
るまで表示器13には基準温度値として37.0℃が一
定時間表示される。
On the other hand, while this display test signal is being output, the function test circuit 15 receives the function test start signal and the clock signal from the clock oscillator 5 via the inverter 23, and the counter 24 starts counting. At the same time,
A reset signal is given to flip 7 lop FF7,
The page output of clip 7 lop FF7 becomes "1". This page output is sent to the flip 7 lob FFI via the OR circuit 16.
, and the flip-flop FFI is reset. Therefore, the switch SW is a temperature sensitive resistor R
1 connected to the reference resistor R side without switching to the x side
Becomes a box. Therefore, the oscillator 1 is forced to oscillate with the reference resistance R. Then, as mentioned above, the reference resistance l or 37
.. The feeling you had at O'C? ! Since the resistance value is set to the resistance value of the III resistor Rx, 37.0° C. is displayed as the reference temperature value on the display 13 for a certain period of time until the kakunta 24 goes up.

すなわち、操作者は、表示器13に37.0℃が表示さ
れているか否かを肉眼で確認することによって、回路機
能のデス1・を行うことができる。なか、このテストは
表示テスト信号が出力されている間のうち、押ボタンス
イッチを押しているときでも行われるが、そのTI 時
間の間は表示器13が全灯点灯されるので、実質上37
,O℃の表示を?lIkmできるのは押ポクンスイッチ
を押し終えた後からである。
That is, the operator can check the circuit function by checking with the naked eye whether 37.0° C. is displayed on the display 13. This test is performed even when the pushbutton switch is pressed while the display test signal is being output, but since all the lights on the display 13 are lit during that TI time, it is actually 37 seconds.
, Display O℃? You can move lIkm only after pressing the pushokun switch.

次にカクンタ24がカクントアップすると、そのカクン
トアツプ出力を7リップ7ロップFF7に与え、7リッ
プ7ロップFF7をセットする。
Next, when the kakuunta 24 steps up, the kakunt-up output is applied to the 7-rip, 7-lop FF7, and the 7-rip, 7-lop FF7 is set.

したがって、フリップフロップFF1へのリセット信号
が解除されることになう、前述した通常の測定動作に移
る。
Therefore, the routine moves on to the aforementioned normal measurement operation in which the reset signal to flip-flop FF1 is released.

測定終了後、押ボタンスイッチを押すと、その入力の立
上シタイミングで、7リッグフロツプFF3,4はリセ
ットされる。そして、押ボタンスイッチを押し終えたと
きから、チャタリング防止用に設けた時間Ta を経過
した後、クロツク信号CLSの立下bタイミングで7リ
ツプ7ロツブFF4がセットされ、また、フリツプ7ロ
ツプFF5がリセットされる。したがって、グリップ7
ロツプFF6のQ出力は「1」に、壕た、4出力は「0
」になって、パフーオ7状急になる。すなわち、7リツ
プ7ロツプFF6の出力の反転によって、発振器1釦よ
びクロツク発振器5の発振が停止する。
After the measurement is completed, when the pushbutton switch is pressed, the 7-rig flops FF3 and FF4 are reset at the rising timing of the input. Then, after the time Ta set for chattering prevention has elapsed since the end of pressing the pushbutton switch, the 7-rip 7-lob FF4 is set at the fall timing b of the clock signal CLS, and the flip 7-lob FF5 is set. will be reset. Therefore, grip 7
The Q output of FF6 is set to ``1'', and the output of FF6 is set to ``0''.
”, and the situation suddenly became worse. That is, the oscillation of the oscillator 1 button and the clock oscillator 5 is stopped due to the inversion of the output of the 7-rip FF 6.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はこの発明の一実施例を示す電子温度計のブロッ
ク図、第2図は同電子温度計の発振器1の周辺を示す回
路図、4$3図は同電子温度計のスイッチ凹路14の回
路図、tJ;4図は同電子温度計の機能テスト回路15
の回路図、第5図は同電子温度計コンデンサCの端子電
圧波形を示す波形図、第6図ふ・よび協7図はそれそれ
向電子M度計のスイッチ回路14、機能テスト回路l5
の納作を示すタイミングチャートである。 1・・・発振器、      13・・・表示器、14
・・・スイッチ回路、  15・・・機能テスト一路、
R・・・基準抵抗、Rx  ・・・感温抵抗。 出航人   立石im板株式会社
Fig. 1 is a block diagram of an electronic thermometer showing an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a circuit diagram showing the periphery of the oscillator 1 of the electronic thermometer, and Fig. 4/3 is a switch concave path of the electronic thermometer. 14 circuit diagram, tJ; Figure 4 is the functional test circuit 15 of the same electronic thermometer.
5 is a waveform diagram showing the terminal voltage waveform of capacitor C of the electronic thermometer, and FIG.
This is a timing chart showing the delivery of the product. 1... Oscillator, 13... Display device, 14
...Switch circuit, 15...Function test one way,
R...Reference resistance, Rx...Temperature-sensitive resistance. Departer: Tateishi Im Board Co., Ltd.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)時定数回数を構成する抵抗を基準抵抗と感温抵抗
とに切換え可能に構成した発振器と、前記発振器の二種
類の抵抗を切換えて、夫々の発振周波数を比較する比較
手段と、前記比較手段の出力に基づいて温度値を表示す
る表示手段と、 前記表示手段の表示テストを行う表示テスト回路と、前
記表示手段に基準温度値を表示させる機能テストを行う
機能テスト回路と、測定開始を指示するスイッチを含み
、このスイッチ操作時に前記表示テスト回路と前記機能
テスト回路とを起動し、各テスト終了後に測定開始状態
に移行させるスイッチ回路とを有し、前記スイッチ操作
が行われたとき、前記表示テストおよび前記機能テスト
を行い、一定時間後に測定を開始するようにした電子温
度計。
(1) an oscillator configured such that the resistance constituting the time constant number can be switched between a reference resistance and a temperature-sensitive resistance; a comparison means for switching the two types of resistance of the oscillator and comparing the respective oscillation frequencies; a display means for displaying a temperature value based on the output of the comparison means; a display test circuit for performing a display test on the display means; a function test circuit for performing a function test for displaying a reference temperature value on the display means; and a switch circuit that starts the display test circuit and the function test circuit when the switch is operated, and shifts to a measurement start state after each test is completed, and when the switch is operated, the display test circuit and the function test circuit are activated. , an electronic thermometer that performs the display test and the function test and starts measurement after a certain period of time.
JP1331615A 1989-12-21 1989-12-21 Electronic thermometer display method Expired - Lifetime JPH0810168B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1331615A JPH0810168B2 (en) 1989-12-21 1989-12-21 Electronic thermometer display method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1331615A JPH0810168B2 (en) 1989-12-21 1989-12-21 Electronic thermometer display method

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57140563A Division JPS5930030A (en) 1982-08-12 1982-08-12 Electronic thermometer

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0394131A true JPH0394131A (en) 1991-04-18
JPH0810168B2 JPH0810168B2 (en) 1996-01-31

Family

ID=18245637

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1331615A Expired - Lifetime JPH0810168B2 (en) 1989-12-21 1989-12-21 Electronic thermometer display method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0810168B2 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012042263A (en) * 2010-08-17 2012-03-01 Shimadzu Corp Material testing machine and measured temperature display method in material testing machine
JP2019148462A (en) * 2018-02-26 2019-09-05 株式会社Subaru Diagnosis device

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5227016A (en) * 1975-08-27 1977-03-01 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd Washing equipment of anode used for electrolysis of zinc
JPS5277774A (en) * 1975-12-24 1977-06-30 Seiko Epson Corp Electronic watch
JPS5369685A (en) * 1976-12-03 1978-06-21 Toshiba Corp Temperature measuring apparatus
JPS54156579A (en) * 1978-05-31 1979-12-10 Toshiba Corp Temperature measuring apparatus
JPS5930030A (en) * 1982-08-12 1984-02-17 Omron Tateisi Electronics Co Electronic thermometer

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5227016A (en) * 1975-08-27 1977-03-01 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd Washing equipment of anode used for electrolysis of zinc
JPS5277774A (en) * 1975-12-24 1977-06-30 Seiko Epson Corp Electronic watch
JPS5369685A (en) * 1976-12-03 1978-06-21 Toshiba Corp Temperature measuring apparatus
JPS54156579A (en) * 1978-05-31 1979-12-10 Toshiba Corp Temperature measuring apparatus
JPS5930030A (en) * 1982-08-12 1984-02-17 Omron Tateisi Electronics Co Electronic thermometer

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012042263A (en) * 2010-08-17 2012-03-01 Shimadzu Corp Material testing machine and measured temperature display method in material testing machine
JP2019148462A (en) * 2018-02-26 2019-09-05 株式会社Subaru Diagnosis device
US10585017B2 (en) 2018-02-26 2020-03-10 Subaru Corporation Diagnosis apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0810168B2 (en) 1996-01-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6695475B2 (en) Temperature sensing circuit and method
JPS58206939A (en) Electronic clinical thermometer
JPS61167827A (en) Electronic thermometer
US4592003A (en) Measuring circuit device
JPH0394131A (en) Electronic thermometer
JPS61159121A (en) Electronic thermometer
JPS5930030A (en) Electronic thermometer
JPS5815134A (en) Electronic thermometer
US5357490A (en) Measuring timer system
US11333693B2 (en) Frequency measurement apparatus, microcontroller, and electronic apparatus
JPS6015901B2 (en) time measuring device
JPH04102910A (en) Microcomputer
JPH037058B2 (en)
US4184320A (en) Electronic stop watches
JP2004318711A (en) Microcomputer
US5511047A (en) High resolution timer using low resolution counter
JPH01287431A (en) Semiconductor device
JP2544224Y2 (en) Microcomputer time constant setting circuit
JP3134408B2 (en) Frequency detection circuit
JPS6236586A (en) Digital time counter
JPS6118832A (en) Electronic thermometer
JPS6360849B2 (en)
JPS6118831A (en) Electronic thermometer
JPS6258121A (en) Electronic thermometer
JPH0313709Y2 (en)