JPH0385586U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0385586U JPH0385586U JP14671389U JP14671389U JPH0385586U JP H0385586 U JPH0385586 U JP H0385586U JP 14671389 U JP14671389 U JP 14671389U JP 14671389 U JP14671389 U JP 14671389U JP H0385586 U JPH0385586 U JP H0385586U
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- Granted
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- 230000032258 transport Effects 0.000 claims 2
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
第1図および第2図は、この考案のIC試験用
恒温槽装置の一例を示す斜視図および一部を断面
にした正面図、第3図は、従来のIC試験用恒温
槽装置の一例を示す斜視図である。
恒温槽装置の一例を示す斜視図および一部を断面
にした正面図、第3図は、従来のIC試験用恒温
槽装置の一例を示す斜視図である。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 台部と、 この台部上に配置される、試験するICが載置
される第1トレイと、 上記台部上に設けられた、試験するICを試験
回路に接続する接続部と、 上記台部上に配置される、上記接続部において
試験されたICが載置される第2トレイと、 上記台部上に配置された上記第1トレイ上に載
置された試験するICを上記接続部に搬送し、上
記接続部において試験されたICを上記台部上に
配置された上記第2トレイ上に搬送するヘツドと
、 このヘツドを前後方向、左右方向および上下方
向に動かすヘツド駆動機構と、 上記台部上に配置された上記第1トレイ、上記
接続部、上記台部上に配置された上記第2トレイ
および上記ヘツドを内部に収容し、上記ヘツド駆
動機構を外部に配するように上記台部に取り付け
られて、上記台部上に密閉された恒温槽を形成す
る、それぞれ上記ヘツドの移動に伴つて伸縮する
、互いに接触しない内側カバーおよび外側カバー
からなるカバー体と、 を備えるIC試験用恒温槽装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14671389U JPH0719015Y2 (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | Ic試験用恒温槽装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14671389U JPH0719015Y2 (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | Ic試験用恒温槽装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0385586U true JPH0385586U (ja) | 1991-08-29 |
JPH0719015Y2 JPH0719015Y2 (ja) | 1995-05-01 |
Family
ID=31693260
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14671389U Expired - Lifetime JPH0719015Y2 (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | Ic試験用恒温槽装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0719015Y2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2010007653A1 (ja) * | 2008-07-14 | 2010-01-21 | 株式会社アドバンテスト | ソケットガイド、ソケット、プッシャおよび電子部品試験装置 |
-
1989
- 1989-12-20 JP JP14671389U patent/JPH0719015Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2010007653A1 (ja) * | 2008-07-14 | 2010-01-21 | 株式会社アドバンテスト | ソケットガイド、ソケット、プッシャおよび電子部品試験装置 |
JPWO2010007653A1 (ja) * | 2008-07-14 | 2012-01-05 | 株式会社アドバンテスト | ソケットガイド、ソケット、プッシャおよび電子部品試験装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0719015Y2 (ja) | 1995-05-01 |