JPH0385583U - - Google Patents

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JPH0385583U
JPH0385583U JP14671189U JP14671189U JPH0385583U JP H0385583 U JPH0385583 U JP H0385583U JP 14671189 U JP14671189 U JP 14671189U JP 14671189 U JP14671189 U JP 14671189U JP H0385583 U JPH0385583 U JP H0385583U
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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第１図はこの考案の実施例の要部を示す平面図
、第２図はその後段側の一部も加えた側面図、第
３図は従来のＩＣ試験装置を示す側面図、第４図
はその一部を省略した平面図である。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 ＩＣ素子供給部から分離供給用レールへＩＣ素
    子を供給し、その分離供給用レールの分離操作ご
    とに１つずつＩＣ素子を、ｎ列（ｎは２以上の整
    数）の分配レールの１つの列へ順次供給し、その
    分配レールのすべての列にＩＣ素子が供給される
    と、その分配レールを横方向へ移動させて、ｍ列
    （ｍはｎより大きい整数）配列された蓄積用トラ
    ツク中のｎ列へ同時にＩＣ素子をそれぞれ供給し
    、これらｍ列の蓄積用トラツクよりＩＣ素子をそ
    れぞれｍ列のコンタクトレールへ供給して試験を
    行うＩＣ試験装置において、 上記分離供給用レールと上記分配レールの基準
    位置との間にバツフア用レールが設けられ、 このバツフア用レールは上記分配レールと同一
    ピツチでｎ列からなり、かつ各列にストツパを備
    え、 そのバツフア用レールは横方向に移動可能で、
    上記分離供給用レールに対し、各列を一致させる
    ことができ、かつ上記基準位置の上記分配レール
    の各列と上記バツフア用レールの各列とをそれぞ
    れ一致させることができることを特徴とするＩＣ
    試験装置。
JP14671189U 1989-12-20 1989-12-20 Ｉｃ試験装置 Expired - Lifetime JPH0717025Y2 (ja)

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JP14671189U JPH0717025Y2 (ja) 1989-12-20 1989-12-20 Ｉｃ試験装置

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JPH0385583U true JPH0385583U (ja) 1991-08-29
JPH0717025Y2 JPH0717025Y2 (ja) 1995-04-19

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5130552B1 (ja) * 2012-02-14 2013-01-30 株式会社ミヤザワ パン片コンベア装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5130552B1 (ja) * 2012-02-14 2013-01-30 株式会社ミヤザワ パン片コンベア装置

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JPH0717025Y2 (ja) 1995-04-19

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