JPH0377626A - 水素同位体精製装置 - Google Patents

水素同位体精製装置

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JPH0377626A
JPH0377626A JP20965989A JP20965989A JPH0377626A JP H0377626 A JPH0377626 A JP H0377626A JP 20965989 A JP20965989 A JP 20965989A JP 20965989 A JP20965989 A JP 20965989A JP H0377626 A JPH0377626 A JP H0377626A
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JP
Japan
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gas
active metal
hydrogen isotope
hydrogen
diffuser
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JP20965989A
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English (en)
Inventor
Atsushi Obara
敦 小原
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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  • Hydrogen, Water And Hydrids (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の口内] (産業上の利用分野) 本発明は、トリチウム等の水素同位体を含んだ混合ガス
から水素同位体を回収するための水素同位体精製装置に
関する。
(従来の挾術) 核融合炉においては、燃料として水素同位体を用いて核
融合反応させ、その際放出されるエネルギーを利用して
発電が行なわれる。燃料としては、現在、重水素とトリ
チウムとの組合せが有望視されている。トカマク型の核
融合炉においては、炉心に注入された燃料である水素同
位体のうち、最大でもわずか数パーセントしか核燃焼せ
ず、その他は全て排出される。したがって、核融合炉を
経済的に運用するには、未燃焼の燃料を回収する必要が
ある。核融合炉の炉心から排出されるガス中には不純物
が混入しており、現在のところその成分は、軽水素、ヘ
リウム、炭素、酸素等が主成分になっていると考えられ
ている。回収した燃料を再使用するためには、これら不
純物を除去する必要がある。軽水素と燃料とを分離する
方法としては、一般に深冷蒸留法が採用される。この深
冷蒸留法によって、定常的に同位体分離を行おうとする
と、軽水素、ヘリウム以外の前述した不純物のトータル
濃度を1 ppm以下にすることが必要となる。
ところで、核融合炉の炉心より排出されたガス中からト
リチウム、重水素等の水素同位体を分離するには、軽水
素ガス精製において用いられている方法を利用すること
ができる。軽水素ガスの精製法には種々あるが、そのう
ちの一つとして、パラジウムおよびパラジウム系合金(
以下、Pdと総称。)に対する水素同位体分子(以下、
Q2と総称。)の透過性を利用したPd拡散器を使用す
る方法がある。Q2はPdの表面において分子から原子
状水素に解離してPdの内部に溶解し、拡散する性質が
ある。またPdの両側でのQ2の分圧に差がある場合に
は、Q2がPd壁を透過する。
ちなみに、その透過ff1Pは次式で示される。
P = (A / d )   (F[−1−日)B・
eXp(−Q/RT) 上記の式において、AはPd表面の面積、dはPd壁の
厚さ、plは透過側のたとえばトリチウムガス分圧、p
2はたとえば被透過側のトリチウムガス分圧、Bは5I
everLs定数、qは活性化エネルギー、Rはガス定
数、Tは絶対温度をそれぞれ表す。
第3図にはPd拡散器を用いて核融合炉の炉心より排出
されたガス中から水素同位体を分離する水素同位体精製
装置が示されている。この装置では、炉心Nから排出さ
れた被処理ガスが、配管1を介してPd拡散器2へ供給
される。Pd拡散器2内のPdJli3はヒーター(不
図示)によって約300℃に加熱されている。Pd膜3
を透過したQ2は、配管4を介して同位体分離系Sへ供
給される。またQ2の透過によって、Q2ガスの劣化し
た被処理ガスは、配管5を介して触媒反応器6へと送ら
れる。この触媒反応器6においてQ2および水素同位体
と結合した不純物が酸素(02)と反応し、水素同位体
が水(H2O)となる。この水および他の不純物ガスは
、冷凍器7aまたは冷凍器7bに送られ、ここで水が回
収され、他の不純物ガスは排ガス処理系Zへと導かれる
。冷凍器7aまたは冷凍器7bで回収された水は、配管
8を介して電解槽9に導かれ、ここで電気分解される。
そして、Q2は配管10を介してPd拡散器2へと供給
され、また酸素は配管11を介して触媒反応器6へと送
られる。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、上記のように構成された従来の水素同位
体精製装置にあっては、Pd拡散器2でQ2を分離した
後の不純物を含むガスの処理のために、3種類の機器が
必要となる。このため、装置全体が複雑になるばかりか
、制御系統も複雑になるという問題があった。さらに冷
凍器7a、7bを介して水を回収し、これを電解槽9に
送ってQ2を再抽出する方式を採用しているので、この
再抽出系におけるトリチウム・インベントリ−がかなり
多くなり、トリチウム経済の面からみて好ましいもので
はない。
そこで本発明は、Pd拡散器でQ2を分離した後の不純
物を含むガスを処理するための系を大幅に簡単化できる
水素同位体精製装置を提供することを目的としている。
〔発明の構成] (:11題を解決するための手段) 上記目的を達成するために、本発明に係る水素同位体精
製装置は、水素同位体を含む被処理ガスをパラジウムあ
るいはパラジウム系合金で形成された水素透過膜1ご接
触させて上記被処理ガス中の水素同位体ガスを透過分離
させる第1の手段と、この第1の手段において分離され
ないまま排出された水素同位体ガスおよび水素同位体と
他原子の粘合したガスを活性金属に接触させて水素同位
体を上記活性金属に吸蔵させる第2の手段と、前記活性
金属に吸蔵されている水素同位体を放出させて前記第1
の手段に再度注入する再注入手段と、で構成されている
(作用) Pd拡散器を通った排出ガスからの水素同位体回収およ
びPd拡散器への再注入を、活性金属のみで行うため、
必要とされる機器点数および工程が軽減され、かつPd
拡散器への再注入経路でのトリチウム・インベントリ−
を少なくすることができる。
(実施例) 第1図には、本発明の一実施例に係る水素同位体精製装
置の概略構成が示されている。
核融合炉の炉心Nから排出された水素同位体を含む被処
理ガスは、配管21を介してPd拡散器22内へ導かれ
る。Pd拡散rA22には、Q2を透過させるPdH2
3が拡散器内を2つの部屋に仕切る形に配置されている
。Pd膜23は図示しないヒータによって所望の温度に
保持されている。
Pd膜23を透過したQ2は図示しない同位体分離系S
へ導かれ、またPd膜23を透過しなかったQ2および
不純物ガスは配管24.バルブ25a、25bを介して
活性金属充填塔26a、26bへ選択的に導かれる。
活性金属充填塔26a、26b内には、それぞれ水素同
位体を吸蔵するウラン、チタニウム、ジルコニウム等の
金属あるいはこれらの合金からなる活性金属が収容され
ている。また、活性金属充填塔26a、26bには、活
性金属を選択的に所定温度に加熱するヒータと、活性金
属を選択的に冷却する冷却系とが付設されている。活性
金属充填塔26a、26bには、廃ガス排出口27a。
27bと、再生ガス排出口28a、28bとが設けられ
ている。そして、廃ガス排出口27a、27bはそれぞ
れバルブ29a、29bを介して廃ガス処理系2に接続
されており、また再生ガス排出口28a、28bはそれ
ぞれバルブ30a、30bを介して配管31に接続され
ている。配管31はPd拡散器22のガス導入口に接続
されている。
なお、バルブ25a、25b、29a、29b。
30a、30bならびに各活性金属充填塔26a。
26bに付設されたヒータおよび冷却系は、図示しない
制御装置によって後述する関係に制御される。
次に、上記のように構成された水素同位体精製装置の動
作を説明する。
まず、バルブ25a、29aが“開1、バルブ25b、
29b、30a、30bが“閉2の状態にあるものとす
る。
この状態において、水素同位体を含む被処理ガスが配管
21からPd拡散器22へ供給されると、Q2がPdM
23を透過して、同位体分離系Sへ供給される。一方、
Pd拡散器22より排出されたQ2の劣化したガスは活
性金属充填塔26gに供給される。活性金属充填塔26
a内には前述した活性金属が収容されているので、残存
するQ2および水素同位体と他原子が結合したガスが、
活性金属に接触して分解され活性金属内に吸蔵される。
その他の活性金属との反応性に乏しい希ガスは、排ガス
排出口29aより排出され、廃ガス処理系2へと流れる
。一定期間経過すると、つまり活性金属の水素同位体吸
蔵能力を越えない一定期間経過した時点で、バルブ25
b、29bが“開“に、バルブ25a、29aが“閉”
に制御される。
この結果、Pd拡散器22から排出されたガスは、こん
どは活性金属充填塔26bへと流れる。この時点から一
定期間経過すると、活性金属充填塔26aに付設された
ヒータがオン制御され、この充填塔26a内の活性金属
が所定の温度に加熱される。また、バルブ30aが“開
”に制御される。
充填塔に充填されているウラン、チタニウム、シリコニ
ウム等の金属あるいはこれらの合金からなる活性金属の
水素同位体吸蔵量qと温度TとQ2の圧力Pとの間には
、−膜内に第2図のような相関関係が見られる。したが
って、活性金属充填塔26gの内の活性金属がヒータに
よって所定温度Tに加熱されると、この活性金属からQ
2が放出される。放出されたQ2は、バルブ30a、配
管31を介してPd拡散器22のガス等入口へと流れる
。なおこの時、水素同位体以外の原子は活性金属と安定
な化合物を形成しているため放出されることはなく、P
d拡散器22の処理能力に過剰の負担がかかることはな
い。
このような状態で一定期間経過すると、バルブ30aが
“閉°に制御され、また活性金属充填塔26mに付設さ
れたヒータがオフ制御される。続いて、この活性金属充
填塔26aに付設された冷細糸が一定期間オン制御され
る。
次に、バルブ25a、29aが“開”に制御されるとと
もに、バルブ25b、29bが“閉″制御される。した
がって、Pd拡散器22から排出されたガスは、再び活
性金属充填塔26aへと流れる。この時点より一定期間
経過した時点で活性金属充填塔26bに付設されたヒー
タがオン制御され、さらにバルブ30bが“開1に制御
される。
この結果、活性金属充填塔26bの活性金属に吸蔵され
ていたQ2がPd拡散W22へ再注入される。以後、上
述した動作が繰り返えされて水素同。
α体の精製が連続的に行なわれる。
このように、Pd拡散器22より排出されたガスから水
素同位体を回収し、これをPd拡散器22へ再注入する
系を活性金属充填塔26a、26bだけで構成している
。したがって、排出ガス処理系の構成を極めて簡lit
化でき、またそれに伴って制御も容易化できる。さらに
、Pd拡散器22の再注入はガス状態で行われるため、
移送部分でのトリチウム・インベントリ−を少なくする
こともできる。
なお、本発明は上述した実施例に限定されるものではな
い。この他に本要旨を逸脱しない範囲で抽々の変形実施
が可能である。
[発明の効果] 以上に説明したように、本発明によれば、Pd拡散器の
排出ガスからの水素同位体回収およびPd拡散器への再
注入を活性金属でのみで行うようにしているため、必要
とされる機器点数および工程が軽減される。またPd拡
散器への再注入はガスで行われるため、移送部分でのト
リチウム・インベントリ−を少なくすることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係わる水素同位体精製装置
の概略構成図、第2図は活性金属の温度と水素同位体分
子の圧力と吸蔵量との間の関係を示す図、第3図は従来
の水素同位体精製装置の概略構成図である。 22−P d拡散器、23−P d膜、26a、26b
・・・活性金属充填塔、N・・・炉心、S・・・同位体
分離系、Z・・・廃ガス処理系。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  水素同位体を含む被処理ガスをパラジウムあるいはパ
    ラジウム系合金で形成された水素透過膜に接触させて上
    記被処理ガス中の水素同位体ガスを透過分離させる第1
    の手段と、この第1の手段において分離されないまま排
    出された水素同位体ガスおよび水素同位体と他原子の結
    合したガスを活性金属に接触させて水素同位体を上記活
    性金属に吸蔵させる第2の手段と、前記活性金属に吸蔵
    されている水素同位体を放出させて前記第1の手段に再
    度注入する再注入手段と、を具備してなることを特徴と
    する水素同位体精製装置。
JP20965989A 1989-08-15 1989-08-15 水素同位体精製装置 Pending JPH0377626A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1997035805A1 (en) * 1996-03-28 1997-10-02 Saes Pure Gas, Inc. Method and apparatus for purifying hydrogen gas
JPH11137969A (ja) * 1997-11-14 1999-05-25 Iwatani Industrial Gases Corp 水素同位体の分離・回収方法及びその装置
JP2007186366A (ja) * 2006-01-12 2007-07-26 Toshiba Corp 水素ガス製造装置及びその方法
KR100786626B1 (ko) * 2006-10-11 2007-12-21 한국표준과학연구원 수소 동위원소 제거장치 및 이를 이용하여 제작된 저온교정장치

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