JPH0377487B2 - - Google Patents

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JPH0377487B2
JPH0377487B2 JP56044182A JP4418281A JPH0377487B2 JP H0377487 B2 JPH0377487 B2 JP H0377487B2 JP 56044182 A JP56044182 A JP 56044182A JP 4418281 A JP4418281 A JP 4418281A JP H0377487 B2 JPH0377487 B2 JP H0377487B2
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JP
Japan
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value
evaluation
evaluation function
receiving element
function value
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JP56044182A
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Japanese (ja)
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JPS57158819A (en
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Asao Hayashi
Kenichi Ooikami
Masahiro Aoki
Masatoshi Ida
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Olympus Corp
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Olympus Optical Co Ltd
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Publication of JPH0377487B2 publication Critical patent/JPH0377487B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/28Systems for automatic generation of focusing signals
    • G02B7/36Systems for automatic generation of focusing signals using image sharpness techniques, e.g. image processing techniques for generating autofocus signals

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、複数の光電変換素子を配列した受光
素子列上に結像レンズにより投影される光学像
を、各光電変換素子によつて光電変換し、その出
力を演算処理することにより投影像の鮮明度の評
価関数値を導出することによつて前記結像レンズ
の合焦を検出する方法において、評価値が小さい
場合には前記演算処理方法を変更することによつ
て、常時精度高く合焦を検出しうるようにした合
焦検出方法に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention photoelectrically converts an optical image projected by an imaging lens onto a light-receiving element row in which a plurality of photoelectric conversion elements are arranged, and calculates the output. In the method of detecting the focus of the imaging lens by deriving the evaluation function value of the sharpness of the projected image through processing, if the evaluation value is small, the calculation processing method is changed. Accordingly, the present invention relates to a focus detection method that can always detect focus with high precision.

従来のこの種の合焦検出法としては、たとえば
本願人の出願にかかわる特開昭55−57809号公報
に記載された方法がある。
As a conventional focus detection method of this type, there is, for example, a method described in Japanese Patent Application Laid-open No. 57809/1983, filed by the applicant.

その方法は、結像レンズに対して、光学的な距
離に、一定の距離差を隔てて設けられた1対の受
光素子列から生ずる光電信号を、各素子毎にデイ
ジタル信号に変換し、互いに隣り合う素子の出力
信号の差の絶対値の中から、最大の値より第N番
目に大きい値までの和を各受光素子列毎に計算
し、第1の受光素子列の和F−1aと第2の受光
素子列の和F−2aが等しくなる位置を合焦点と
して検出する方法である。
This method converts photoelectric signals generated from a pair of light-receiving element rows arranged at a certain optical distance from the imaging lens into digital signals for each element, and then Among the absolute values of the differences between the output signals of adjacent elements, the sum up to the Nth largest value from the maximum value is calculated for each light-receiving element column, and the sum is calculated as the sum F-1a of the first light-receiving element column. In this method, a position where the sum F-2a of the second light receiving element array is equal is detected as a focused point.

その方法は、結像レンズの合焦を自動制御する
必要上、一対の受光素子列を用いているが、単に
合焦を検出するだけであれば、一つの受光素子列
で足りるので、本発明と対比してその問題点を明
らかにするため、一列の受光素子列の場合につい
て説明する。
This method uses a pair of light-receiving element arrays because it is necessary to automatically control the focusing of the imaging lens, but if the focus is simply detected, one light-receiving element array is sufficient, so the present invention In order to clarify the problem in comparison with the above, the case of a single row of light receiving elements will be explained.

いま、説明を簡単にするため、評価関数は、互
いに隣り合う受光素子の出力信号の差の絶対値の
最大値のみをとるものとする。
To simplify the explanation, it is assumed that the evaluation function takes only the maximum absolute value of the difference between the output signals of adjacent light receiving elements.

第1図は、結像レンズによつて受光素子列に投
影された被写体像の像空間と像の光強度分布の関
係を、横軸に受光素子列P1〜P10をとり、縦
軸に各受光素子の出力をとつて示したものであ
る。同図のAは被写体の反射濃度変化がステツプ
状に変化している場合であり、その変化部分に隣
り合う受光素子P5およびP6の出力は、光強度
分布が最大(Imax)と最小(Imin)となつてい
る。
Figure 1 shows the relationship between the image space of the subject image projected onto the light-receiving element array by the imaging lens and the light intensity distribution of the image, with the horizontal axis representing the light-receiving element arrays P1 to P10, and the vertical axis representing each light-receiving element array. This figure shows the output of the element. A in the same figure shows a case where the reflection density change of the subject changes stepwise, and the outputs of the light receiving elements P5 and P6 adjacent to the changing part have a maximum (Imax) and a minimum (Imin) light intensity distribution. It is becoming.

この場合、互に隣り合う受光素子の出力の差の
絶対値の最大値をもつて評価関数値とする受光素
子列の評価関数F−1aは、第2図に示すように
被写体像が受光素子列面で合焦した近傍で、する
どいピークを示し、またそのピーク値は〔F−
1a(Peak)=|Imax−Imin|〕であつて大きな値
を示す。
In this case, the evaluation function F-1a of the light-receiving element array, in which the evaluation function value is the maximum value of the absolute value of the difference between the outputs of adjacent light-receiving elements, is such that the subject image is It shows a sharp peak in the vicinity of the focused plane, and the peak value is [F-
1a (Peak)=|Imax−Imin|], which shows a large value.

ところが、被写体の反射濃度変化がなだらかに
変化している場合(「グレイデツト状」という。)
は、第1図Bに示すような像の光強度分布をもつ
ている。この場合の受光素子列の評価関数F−
1bは、第2図に示したように合焦付近でピーク
を生ずるが、その値(F−1b=|I(P6)−I(P7)|)
は、前記のF−1aに比較してはるかに小さな値
である。
However, if the reflection density of the subject changes gradually (this is called a "gradient pattern").
has an image light intensity distribution as shown in FIG. 1B. Evaluation function F- of the light receiving element array in this case
1b has a peak near the focus as shown in Figure 2, and its value (F-1b=|I (P6) −I (P7) |)
is a much smaller value than F-1a mentioned above.

一方、第2図のように合焦点より、より離れた
所では、評価関数値がある値で残留し、しかもそ
の値は、各受光素子(P1〜P10)のばらつ
き、それらの出力をアナログ−デイジタル(A/
D)変換する際の量子化ノイズ等により動揺して
いる。これがため、グレイテツド状の被写体に対
する合焦の検出が困難であり、従つて、前記従来
方法のように、1対の受光素子列を用い、各受光
素子列の出力から求めた評価関数値が等しくなる
位置を合焦位置とする場合は、評価関数のある値
以上の所で判断しなくてはならなくなる。
On the other hand, as shown in Fig. 2, at a place further away from the focal point, the evaluation function value remains at a certain value, and that value is due to variations in each light receiving element (P1 to P10), and their outputs are compared to analog Digital (A/
D) It is disturbed by quantization noise etc. during conversion. For this reason, it is difficult to detect focus on a greyed-out subject, and therefore, as in the conventional method described above, when a pair of light-receiving element arrays are used, the evaluation function values obtained from the output of each light-receiving element array are equal. If the focal position is set as the focal position, the evaluation function must be determined at a certain value or higher.

第2図は、1対の受光素子列を結像レンズの光
軸に沿つて一定の距離を隔てて配置し、各受光素
子列毎に前記の評価方法により得た評価関数につ
いて、ステツプ状の光強度分布像の場合をF−
1aおよびF−2aで、またグレイデツド状の光強
度分布像のそれをF−1bおよびF−2bでそれぞ
れ示したものである。そして、各受光素子列毎に
求めた評価関数値が等しい位置を前記結像レンズ
の合焦位置として検出するものである。
Figure 2 shows a step-shaped evaluation function obtained by the above evaluation method for each light-receiving element row by arranging a pair of light-receiving element rows at a fixed distance apart along the optical axis of the imaging lens. The case of light intensity distribution image is F-
1a and F-2a, and the graded light intensity distribution images are shown as F-1b and F-2b, respectively. Then, a position where the evaluation function values obtained for each light receiving element array are equal is detected as a focal position of the imaging lens.

なお、一般の物体では、二つの物体の境界、髪
の毛と顔の境界等は、ステツプ状の被写体であ
り、一方顔の鼻や、ほほなどのように漸次の陰影
を生ずる部分は、グレイデツド状の被写体といえ
る。
For general objects, the boundary between two objects, the boundary between hair and the face, etc., is a step-like object, while parts of the face that produce gradual shadows, such as the nose and cheeks, are graded objects. It can be said to be the subject.

上述の従来例においては、評価関数値として互
に隣り合う素子の出力信号間の差の絶対値の最大
値のみをとるものとしたが、反射濃度変化がステ
ツプ状の被写体像の評価関数値のデイフオーカス
量に対する変化を最良のものとすべく、受光素子
のピツチを細かくすればする程、互に隣り合う受
光素子の出力間の差は小となるので、このように
受光素子のピツチを細かくすると、グレイデツド
状の被写体像の場合には合焦の検出が困難となる
欠点がある。
In the conventional example described above, only the maximum absolute value of the difference between the output signals of adjacent elements is taken as the evaluation function value. In order to optimize the change in the amount of defocus, the finer the pitch of the light receiving elements, the smaller the difference between the outputs of adjacent light receiving elements. In the case of a graded subject image, it is difficult to detect focus.

本発明の目的は、上述した欠点を除去し、受光
素子列に投影される被写体像の光強度分布がグレ
イテツド状であつても焦点状態を常に正確に検出
できる合焦検出方法を提供するものである。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to eliminate the above-mentioned drawbacks and provide a focus detection method that can always accurately detect the focus state even if the light intensity distribution of the subject image projected onto the light receiving element array is graded. be.

すなわち、本発明は、複数個の光電変換素子か
らなる受光素子列に結像レンズにより物体像を投
影し、その光電変換信号に基づいて物体像の鮮明
度の評価関数値を算出して前記結像レンズの焦点
状態を検出するにあたり、 前記受光素子列の複数個の光電変換素子の同一
瞬時の光電変換信号を同時にサンプルホールドし
て並列的にデイジタル信号に変換し、 そのデイジタル信号に基づいて基本の評価方法
により評価関数値を算出して所定のしきい値と比
較し、 その評価関数値が前記所定のしきい値よりも大
きい場合は、該評価関数値を用いて結像レンズの
焦点状態を検出し、 前記基本の評価方法による評価関数値が前記所
定のしきい値よりも小さい場合には、前記デイジ
タル信号に基づいて前記基本の評価方法とは異な
る評価方法により評価関数値を算出して前記結像
レンズの焦点状態を検出することを特徴とするも
のである。
That is, the present invention projects an object image using an imaging lens onto a light-receiving element array consisting of a plurality of photoelectric conversion elements, and calculates the evaluation function value of the sharpness of the object image based on the photoelectric conversion signal. In order to detect the focal state of the image lens, the same instantaneous photoelectric conversion signals of a plurality of photoelectric conversion elements in the light receiving element row are simultaneously sampled and held and converted into digital signals in parallel, and based on the digital signals, the basic An evaluation function value is calculated by the evaluation method and compared with a predetermined threshold value, and if the evaluation function value is larger than the predetermined threshold value, the focal state of the imaging lens is determined using the evaluation function value. is detected, and if the evaluation function value obtained by the basic evaluation method is smaller than the predetermined threshold value, the evaluation function value is calculated by an evaluation method different from the basic evaluation method based on the digital signal. The present invention is characterized in that the focal state of the imaging lens is detected.

以下本発明の方法について詳記するに、本発明
における基本の評価方法とは、任意の方法でよい
が、たとえば複数の光電変換素子からなる受光素
子列に結像レンズにより被写体像を投影して、光
電変換することにより得られる出力をデイジタル
信号に変換し、その隣り合う光電変換素子間の出
力の差、またはその差の最大の値のものから第N
番目まで大きい値のものの和を評価関数値とする
評価方法を云うこととする。
The method of the present invention will be described in detail below.The basic evaluation method of the present invention may be any method, but for example, a subject image is projected by an imaging lens onto a light receiving element array consisting of a plurality of photoelectric conversion elements. , converts the output obtained by photoelectric conversion into a digital signal, and calculates the Nth output from the difference in output between adjacent photoelectric conversion elements or the largest value of the difference.
This is an evaluation method in which the evaluation function value is the sum of the values up to the largest value.

被写体の反射濃度分布が、グレイデツド状の場
合は、受光素子列上の光強度分布が、第1図Bに
示したようになり、その基本の評価方法による評
価関数は、第2図のF−1bもしくはF−2bのよ
うにピークが目立たない平坦な特性を示すこと
は、さきに説明したとおりである。そのような状
態を新たに第3図BのF−1b、F−2bに示した。
When the reflection density distribution of the subject is graded, the light intensity distribution on the photodetector array becomes as shown in Figure 1B, and the evaluation function according to the basic evaluation method is F- in Figure 2. As explained earlier, it exhibits flat characteristics with inconspicuous peaks like 1b or F-2b. Such conditions are newly shown in F-1b and F-2b of FIG. 3B.

このように算出した評価関数値を、従来のしき
い値Kよりも比較的高いレベルにあらかじめ設定
したしきい値K1と比較し、そのしきい値K1より
も前記評価値が小さいときは、前記評価値が大き
いときは、この基本の評価方法による評価関数値
を用いて焦点状態を検出し、小さいときは前記基
本の評価方法とは異なる評価方法に切換えて評価
関数値を求め、これにより焦点状態を検出するよ
うにする。
The evaluation function value calculated in this way is compared with a threshold value K1 that is set in advance at a relatively higher level than the conventional threshold value K, and when the evaluation value is smaller than the threshold value K1, the When the evaluation value is large, the focus state is detected using the evaluation function value based on this basic evaluation method, and when it is small, the evaluation function value is determined by switching to an evaluation method different from the basic evaluation method, and the focus state is Detect the state.

基本の評価方法として、たとえば、受光素子列
の互に隣り合う光電変換素子間の出力信号(デイ
ジタル信号)の差の絶対値を評価関数とする評価
方法を、基本の評価方法として採用した場合、第
3図Aに示したように光電変換素子P6とP7の
出力の差は、i1であり、P7とP8についてのそ
れはi2である。その値が所定のしきい値K1より
も低い場合は、異なる評価方法に切換えるが、そ
の異なる評価方法として、たとえば1個おきの光
電変換素子P6とP8の出力信号(デイジタル信
号)の差の絶対値を評価関数値とする評価方法を
採用するとすれば、図示のようにi1とi2を加えた
値に等しいi3となる値をもつた評価関数が得られ
ることとなり、その関数が示すピークは、評価方
法を切換える前のものに比べ大きな値を示すよう
になる。
For example, if an evaluation method is adopted as the basic evaluation method in which the evaluation function is the absolute value of the difference in output signals (digital signals) between adjacent photoelectric conversion elements in a photodetector array, As shown in FIG. 3A, the difference in output between photoelectric conversion elements P6 and P7 is i1, and that between P7 and P8 is i2. If the value is lower than a predetermined threshold value K1, the evaluation method is switched to a different evaluation method. If we adopt an evaluation method that uses the value as the evaluation function value, we will obtain an evaluation function with a value of i3 equal to the sum of i1 and i2, as shown in the figure, and the peak indicated by that function is It shows a larger value than before switching the evaluation method.

また別の例として基本の評価方法に、受光素子
列の互いに隣り合う光電変換素子間の出力信号
(デイジタル信号)の差の絶対値の中から、最大
値より第2番目に大きな値までの和とする場合、
たとえば第3図Aのような光強度分布をもつた被
写体像では、光電変換素子のP7とP8の出力間
の差i1の値が1番大きく、次には、P6とP7の
出力間の差i2が大きいので、この二つの差の絶対
値の和i3をもつて評価関数値とすることとなる。
同図で明らかなように、この例では基本の評価方
法で求めた評価関数値は、すでにさきの例と同等
の値を示している。本発明方法は、このように求
めた基本の評価方法による評価関数値をさきの例
の場合と同様に、所定のしきい値K1と比較し、
K1よりも大きいときはこの基本の評価方法によ
る評価関数値を用いて焦点状態を検出し、同図B
のF−1bまたはF−2bのようにその値がしきい
値K1以下のときは、その基本の評価方法と異な
る評価方法、たとえば同図Aに示したように受光
素子列の2個おきの光電変換素子P5とP8間の
出力信号(デイジタル信号)の差の絶対値i4を評
価関数値とする評価方法に切換える。同図で明ら
かなように、そのようにして求めた評価関数値
は、基本の評価方法によるもので較べて一そう大
きな値を示し、同図BのF−1BまたはF−2Bの
ように合焦点近傍において先鋭なピークをもつよ
うになるから、従来の方法では検出困難であつた
ようなグレイデツト状の被写体像についても正確
に合焦状態の検出ができるようになる。また、そ
の例では、異なる評価方法として、受光素子列の
2個おきに隣り合う光電変換素子間の出力信号の
差の絶対値を求めたが、3個おき、もしくはそれ
以上離れた光電変換素子間の出力信号の差を利用
すれば、さらに一そう顕著な検出効果が期待でき
る。
As another example, the basic evaluation method includes the sum of the absolute values of the differences between the output signals (digital signals) between adjacent photoelectric conversion elements in the photodetector array to the second largest value from the maximum value. If,
For example, in a subject image with a light intensity distribution as shown in FIG. Since i2 is large, the evaluation function value is the sum i3 of the absolute values of these two differences.
As is clear from the figure, in this example, the evaluation function value obtained using the basic evaluation method has already shown the same value as in the previous example. The method of the present invention compares the evaluation function value obtained by the basic evaluation method obtained in this way with a predetermined threshold value K1, as in the case of the previous example,
When it is larger than K1, the evaluation function value based on this basic evaluation method is used to detect the focus state, and
When the value is below the threshold value K1, such as F-1b or F-2b, an evaluation method different from the basic evaluation method is used, for example, as shown in Figure A, every second photodetector array is used. The evaluation method is changed to one in which the absolute value i4 of the difference between the output signals (digital signals) between the photoelectric conversion elements P5 and P8 is used as the evaluation function value. As is clear from the figure, the evaluation function value obtained in this way is much larger than that obtained by the basic evaluation method, and the evaluation function value obtained in this way is much larger than that obtained by the basic evaluation method. Since it has a sharp peak in the vicinity of the focus, it becomes possible to accurately detect the in-focus state even for gray-detailed subject images that are difficult to detect using conventional methods. In addition, in that example, as a different evaluation method, the absolute value of the difference in output signal between adjacent photoelectric conversion elements in every second photodetector array was determined, but photoelectric conversion elements located every third or more apart If the difference in output signals between the two is used, even more remarkable detection effects can be expected.

実際には、後述する実施例のように、基本の評
価方法と、それとは異なる評価方法の双方の効果
の相乗的効果を発揮させることができるので、期
待以上の効果を奏せしめることができる。
In fact, as in the examples described later, it is possible to exhibit a synergistic effect of the effects of both the basic evaluation method and the different evaluation method, and therefore it is possible to achieve an effect that exceeds expectations.

第4図は、本発明方法を採用した合焦検出装置
の一例の構成を示すブロツク図である。
FIG. 4 is a block diagram showing the configuration of an example of a focus detection device employing the method of the present invention.

同図において、被写体1は、結像レンズ2によ
り受光素子列3に光学像として投影される。受光
素子列の各受光素子の出力は、アナログ−デイジ
タル(A/D)変換回路4によつて、並列的にデ
イジタル信号に変換された後、順次中央処理装置
5に取り込まれ、ここで隣接する受光素子の出力
間の差の絶対値を算出するとともに指定した基本
の評価関数を演算して所定のしきい値と比較し、
演算結果が、そのしきい値以下であるときは、メ
モリー選択回路30を制御して、A/D変換回路
4内に設けられた各光電変換素子のデイジタル出
力を記憶するデイジタルメモリをN個おきに選択
し、連続的に順次読み出し、前記中央処理装置5
に入力させることにより、前記基本の評価方法を
それとは異なる評価方法に切換えるように構成さ
れている。また、中央処理装置5には、結像レン
ズ2を光軸に沿つて矢印の方向に変位させるため
の光学系駆動装置8を制御するための光学系駆動
制御回路29への制御信号発生回路、第3図に
K1で示したしきい値を決定するための定数メモ
リおよびそのメモリから読み出された所定のレベ
ルと前記算出値を比較するための比較回路を含ん
でいる。なお、合焦状態は、表示装置7に表示さ
れるようになつている。なお、簡易型の装置にお
いては、光学系の駆動は、撮影者が、表示装置6
の指示によつて手動で行なうようにして、光学系
駆動装置8および光学系駆動制御回路29を省略
してもよい。
In the figure, a subject 1 is projected as an optical image onto a light receiving element array 3 by an imaging lens 2. The output of each light-receiving element in the light-receiving element row is converted into a digital signal in parallel by an analog-digital (A/D) conversion circuit 4, and then sequentially taken into the central processing unit 5, where the output of the adjacent light-receiving element is converted into a digital signal. Calculates the absolute value of the difference between the outputs of the light receiving elements, calculates the specified basic evaluation function, and compares it with a predetermined threshold.
When the calculation result is less than or equal to the threshold value, the memory selection circuit 30 is controlled to select every N digital memories for storing the digital output of each photoelectric conversion element provided in the A/D conversion circuit 4. The central processing unit 5
The basic evaluation method is switched to a different evaluation method by inputting the above-mentioned basic evaluation method. The central processing unit 5 also includes a control signal generation circuit for an optical system drive control circuit 29 for controlling an optical system drive device 8 for displacing the imaging lens 2 in the direction of the arrow along the optical axis; In Figure 3
It includes a constant memory for determining the threshold value indicated by K1 and a comparison circuit for comparing the calculated value with a predetermined level read from the memory. Note that the in-focus state is displayed on the display device 7. Note that in a simple device, the optical system is driven by the photographer using the display device 6.
The optical system drive device 8 and the optical system drive control circuit 29 may be omitted so that the optical system drive device 8 and the optical system drive control circuit 29 are manually operated according to an instruction.

第5図ないし第8図は、本発明の実施例の構成
図である。第5図は、受光素子列の配置列を、1
眼レフ式カメラを例にとつて示したものであつ
て、1対の受光素子列9,10は基板11上に並
列に配置され、結像レンズ2によつて被写体像の
一部を、クイツクリターン・ハーフミラー12を
介してミラー13、ハーフミラー14、およびミ
ラー15により、結像レンズ2の予定焦平面であ
るフイルム面(図示せず)と光学的に共役な面の
前後に一定の光学的距離を隔てて配置した前記各
受光素子列9および10に投影するよう構成して
ある。なお、16はピント板、17はビユーフア
インダ用ペンタプリズム、18はシヤツター幕を
示す。
5 to 8 are configuration diagrams of embodiments of the present invention. FIG. 5 shows the arrangement rows of light receiving element rows,
This is an example of an eye reflex camera, in which a pair of light receiving element arrays 9 and 10 are arranged in parallel on a substrate 11, and a part of the subject image is captured by the imaging lens 2. Through the return half mirror 12, a mirror 13, a half mirror 14, and a mirror 15 are used to generate a constant value before and after a surface that is optically conjugate with the film surface (not shown), which is the predetermined focal plane of the imaging lens 2. The light is projected onto each of the light receiving element arrays 9 and 10 arranged at an optical distance apart. Note that 16 is a focusing plate, 17 is a pentaprism for viewfinder, and 18 is a shutter curtain.

各受光素子列に投影された被写体像は、その光
の強度分布に応じ、さきに説明したように評価関
数値が各受光素子列別に算出され、各受光素子列
の評価関数値が一致するように、結像レンズ2を
光軸に沿つて移動させればよい。
For the subject image projected onto each light-receiving element row, the evaluation function value is calculated for each light-receiving element row according to the intensity distribution of the light, as explained earlier, and the evaluation function value of each light-receiving element row is made to match. What is necessary is to move the imaging lens 2 along the optical axis.

すなわち、第3図のF−1bとF−2Bは、各受
光素子列の出力から本発明方法により求めた評価
関数であり、従つてその両者の価の等しくなる位
置が前記結像レンズの合焦位置となる。その位置
は、対をなす各受光素子列の性能が等しければ、
第5図のハーフミラー14とミラー15の中間位
置となる。
That is, F-1b and F-2B in FIG. 3 are evaluation functions obtained by the method of the present invention from the output of each light-receiving element array, and therefore, the position where the values of both are equal is the summation of the imaging lens. It becomes the focal position. If the performance of each light-receiving element array in a pair is equal, the position is as follows:
This is an intermediate position between the half mirror 14 and the mirror 15 in FIG.

第6図は、本発明方法を実施するための回路構
成例について、A/D変換回路4を中心に示した
ブロツク線図である。同図において、1対の受光
素子列9,10の出力は、中央処理装置5からの
制御信号により動作する選択回路21により交互
に切換えられて、受光素子列9または10をなす
各光電変換素子に対応する各サンプルホールド回
路22−1,22−2…22−Kにそれぞれ入力
する。
FIG. 6 is a block diagram mainly showing the A/D conversion circuit 4 as an example of a circuit configuration for implementing the method of the present invention. In the figure, the outputs of a pair of photodetector arrays 9 and 10 are alternately switched by a selection circuit 21 operated by a control signal from a central processing unit 5, and the outputs of each photoelectric conversion element forming the photodetector array 9 or 10 are alternately switched. The sample and hold circuits 22-1, 22-2, .

各サンプルホールド回路22−1,22−2…
22−Kには、前記中央処理装置5からサンプリ
ング信号および読み出し信号を加えることによつ
て、そのサンプリング信号のタイミングにより前
記各光電変換素子の出力信号を同時にサンプル
し、ホールドして出力するように構成してある。
Each sample hold circuit 22-1, 22-2...
By applying a sampling signal and a readout signal from the central processing unit 5 to 22-K, the output signal of each of the photoelectric conversion elements is simultaneously sampled, held, and output according to the timing of the sampling signal. It is configured.

各サンプルホールド回路22−1,22−2…
22−Kの出力信号は、次の各比較器23−1,
23−2…23−Kにそれぞれ入力し、それら各
比較器23−1,23−2…23−Kにおいて
D/A変換回路24からのレベルが段階的に変化
する出力信号と比較して、比較出力を取り出し、
それら各比較器に対応して設けたデイジタルメモ
リ25−1,25−2…25−Kのそれぞれに記
憶制御信号として導いている。
Each sample hold circuit 22-1, 22-2...
The output signal of 22-K is sent to each of the following comparators 23-1,
23-2...23-K, and compared with the output signal whose level changes stepwise from the D/A conversion circuit 24 in each of the comparators 23-1, 23-2...23-K, Take the comparison output and
The signal is guided as a storage control signal to each of the digital memories 25-1, 25-2, . . . 25-K provided corresponding to each of the comparators.

各デイジタルメモリ25−1,25−2…25
−Kおよび記前D/A変換回路24には、前記中
央処理装置5からの入力パルス信号を、たとえば
4ビツトの並列2進コード信号の形で出力するカ
ウンタ26からのデイジタル信号が導かれてい
る。
Each digital memory 25-1, 25-2...25
-K and the D/A conversion circuit 24 are led to a digital signal from a counter 26 which outputs the input pulse signal from the central processing unit 5 in the form of, for example, a 4-bit parallel binary code signal. There is.

従つて、各比較器23−1,23−2…23−
Kに入力するD/A変換回路24の出力レベル
は、各デイジタルメモリに入力するカウンタ36
のデイジタル出力信号が表わすレベルと同一レベ
ルに相当することとなるので、各比較器23−
1,23−2…23−Kの出力のタイミングで、
各デイジタルメモリ25−1,25−2…25−
Kに前記カウンタ26からのデイジタル信号を記
憶させれば、前記受光素子列9または10の各光
電変換素子からの出力信号を、それぞれに対応す
る各デイジタルメモリ25−1,25−2…25
−Kに、4ビツト2進コードのデイジタル信号に
並列的に変換して記憶することができる。
Therefore, each comparator 23-1, 23-2...23-
The output level of the D/A conversion circuit 24 input to K is determined by the counter 36 input to each digital memory.
Since this corresponds to the same level as the level represented by the digital output signal, each comparator 23-
1, 23-2...23-K output timing,
Each digital memory 25-1, 25-2...25-
If the digital signal from the counter 26 is stored in K, the output signal from each photoelectric conversion element of the light receiving element array 9 or 10 is stored in the corresponding digital memory 25-1, 25-2...25.
-K can be converted into a 4-bit binary code digital signal and stored in parallel.

また、前記サンプルホールドのタイミングは、
各比較器23−1,23−2,…23−Kの出力
をOR回路27に導いて論理和をとり、その出力
を中央処理装置に導くことにより、比較器の出力
中の最初の出力のタイミングをもつたサンプルパ
ルスを中央処理装置から発生させ、このパルスを
前記サンプルホールド回路22−1,22−2…
22−Kに加えるサンプリングパルスにして、各
光電変換素子の同一瞬時の光電変換信号を同時に
サンプルホールドする。一方各比較器23−1,
23−2,…23−Kの出力をAND回路28に
導いて、その出力を取り出し、これをそのデイジ
タル変換の終了の情報として、中央処理装置5に
導いている。
Moreover, the timing of the sample hold is
The output of each comparator 23-1, 23-2,...23-K is led to the OR circuit 27, the logical sum is taken, and the output is led to the central processing unit. A sample pulse with timing is generated from the central processing unit, and this pulse is sent to the sample and hold circuits 22-1, 22-2...
The photoelectric conversion signals of the respective photoelectric conversion elements at the same instant are simultaneously sampled and held using a sampling pulse added to 22-K. On the other hand, each comparator 23-1,
The outputs of the circuits 23-2, .

前記デイジタルメモリ25−1,25−2,…
25−Kからデイジタル信号を読み出して、中央
処理装置により指定の任意の基本の評価方法によ
り求めた評価値を所定のしきい値と比較し、その
しきい値以下の場合には、異なる評価方法に切換
えて評価値を演算するにあたり、この実施例では
その演算結果に応じて、メモリ選択回路30によ
り読み出すべきデイジタルメモリの番地を指定し
うるようにしている点に特徴がある。
The digital memories 25-1, 25-2, . . .
25-K, the central processing unit compares the evaluation value determined by any specified basic evaluation method with a predetermined threshold, and if it is less than the threshold, a different evaluation method is used. In calculating the evaluation value by switching to , this embodiment is characterized in that the address of the digital memory to be read can be specified by the memory selection circuit 30 according to the calculation result.

第7図は、そのメモリ選択回路30の一例を示
すブロツク線図であつて、カウンタ31は、中央
処理装置5からの制御信号によつて、零からデイ
ジタルメモリの数Kまでカウントし、再び零に戻
るように構成してあり、デイジタルメモリ25−
1,25−2,…25−Kの順次呼び出すように
動作する。しかし、そのカウンタ31と、各デイ
ジタルメモリ25−1,25−2…25−Kの間
には、第1のデコーダ32と、ANDゲート群3
3−1,33−2,…33−Kが介挿されており
デイジタルメモリ25−1,25−2…25−K
の呼び出しを制限するようにしている。
FIG. 7 is a block diagram showing an example of the memory selection circuit 30, in which the counter 31 counts from zero to the number K of digital memories according to a control signal from the central processing unit 5, and then counts back to zero. The digital memory 25-
1, 25-2, . . . 25-K are sequentially called. However, between the counter 31 and each digital memory 25-1, 25-2...25-K, there is a first decoder 32 and an AND gate group 3.
3-1, 33-2,...33-K are inserted, and digital memories 25-1, 25-2...25-K are inserted.
I am trying to limit the number of calls.

すなわち、各ANDゲート33−1,33−2
…33−Kの一方の入力は、前記第1のデコーダ
32の出力が導かれており、他方の入力は、詳細
を後記する中央処理装置5からの比較出力をカウ
ントするダウンカウンタ34の出力を解読して、
C・B・Aからなる並列デイジタル信号を出力す
る第二のデコーダ35よりの出力が、ANDゲー
ト33−1〜33−Kを選択的に作動可能なよう
に導かれている。
That is, each AND gate 33-1, 33-2
One input of ...33-K is led to the output of the first decoder 32, and the other input is connected to the output of the down counter 34 that counts the comparison output from the central processing unit 5, the details of which will be described later. Decipher and
An output from a second decoder 35 outputting a parallel digital signal consisting of C, B, and A is directed to enable AND gates 33-1 to 33-K to be selectively operated.

たとえば、第1のデコーダ32からのデイジタ
ルメモリ25−1〜25−Kに対する読み出し信
号が、各ANDゲート33−1〜33−Kに順次
加わつた場合、前記第2のデコーダ35の出力
C・B・Aが1・1・1のとき、全部のANDゲ
ート33−1〜33−Kが出力し、また、前記
C・B・Aが0・1・1のときは、一つおきの
ANDゲート33−1,33−3,33−5…が
出力し、さらに前記C・B・Aが0・0・1とな
つたときは三つおきのANDゲート33−1,3
3−5,33−9…がそれぞれ出力するよう構成
されている。
For example, when the read signal from the first decoder 32 for the digital memories 25-1 to 25-K is sequentially applied to each AND gate 33-1 to 33-K, the outputs C and B of the second decoder 35・When A is 1, 1, 1, all AND gates 33-1 to 33-K output, and when C, B, and A are 0, 1, 1, every other AND gate outputs.
AND gates 33-1, 33-3, 33-5... output, and when the above C, B, and A become 0, 0, 1, every third AND gate 33-1, 3
3-5, 33-9, . . . are configured to output respectively.

このようにして、第2のデコーダ35の指定に
従つて第1のデコーダ32からの読み出し用信号
が順次選択されて、第6図のデイジタルメモリ2
5−1〜25−Kに順次もしくは選択的に供給さ
れ、中央処理装置5に順次読み出される。
In this way, the signals for reading from the first decoder 32 are sequentially selected according to the designations of the second decoder 35, and the digital memory 2 of FIG.
5-1 to 25-K sequentially or selectively, and sequentially read out to the central processing unit 5.

その場合に読み出されるデイジタルメモリ25
−1〜25−Kは、前記ANDゲートによつて指
定されたものだけとなる。
Digital memory 25 read out in that case
-1 to 25-K are only those specified by the AND gate.

従つて、中央処理装置5に読み込まれる受光素
子列の出力は、その場合に互いに隣り合う光電変
換素子のうち、前記メモリ選択回路30の指令に
よりL個おきのものだけとなり、中央処理装置5
では、L個おきの光電変換素子間の出力信号の差
を演算することとなり、その結果は、異なる評価
方法による評価関数値に切換えられたこととな
る。
Therefore, the outputs of the light receiving element array read into the central processing unit 5 are only every L photoelectric conversion elements among the adjacent photoelectric conversion elements according to the command from the memory selection circuit 30, and the central processing unit 5
In this case, the difference in output signals between every L photoelectric conversion elements is calculated, and the result is that the evaluation function value is switched to a different evaluation method.

なお、この実施例では、基本の評価方法とし
て、受光素子列9および10の隣り合う光電変換
素子間の出力信号の差の絶対値の最大値から第N
番目に大きな値までの和を評価関数値とする方法
を採用しているので、中央処理装置5内には、複
数のメモリブロツクを含む最大値検出回路および
加算器を内蔵している。
In this example, as a basic evaluation method, the Nth
Since a method is adopted in which the sum up to the largest value is used as the evaluation function value, the central processing unit 5 includes a maximum value detection circuit including a plurality of memory blocks and an adder.

いま、受光素子列9または10の被写体像が第
3図Aのようにグレイデツド状の光強度分布をも
つている場合の評価関数について考えてみる。説
明を簡単にするため、評価関数は、中央処理装置
5に順次入力するデイジタルメモリ25−1,2
5−2,…25−Kの出力信号間の出力の差の絶
対値の最大値のみを取るものとする。
Let us now consider the evaluation function when the subject image of the light receiving element array 9 or 10 has a graded light intensity distribution as shown in FIG. 3A. For the sake of simplicity, the evaluation function is based on the digital memories 25-1 and 25-1, which are sequentially input to the central processing unit 5.
Only the maximum absolute value of the difference in output between the output signals of 5-2, . . . 25-K is taken.

すなわち、デイジタルメモリ25−1,25−
2…25−Kから読み出された信号は、第8図の
中央処理装置5において、シフトレジスタ41と
減算回路42とによつて隣り合うデイジタルメモ
リ25−1〜25−Kの出力間の差が算出され、
複数のメモリブロツクを含む最大検出回路43に
入力する。その最大値検出回路43は、制御回路
44からの制御信号により、Nが指定され、受光
素子間の出力信号の差の絶対値の中から最大の値
より第N番目に大きい値までの上記絶対値を選択
して検出しうるように構成してあり、Nが1のと
きは、基本の評価方法として、受光素子列の隣り
合う光電変換素子間の単なる出力信号間の差の絶
対値を評価関数値とする場合に相当し、最大値検
出回路43によつて、減算回路42の出力中の最
大値の絶対値のみが選択される。
That is, digital memories 25-1, 25-
2...The signal read out from 25-K is processed by the shift register 41 and the subtraction circuit 42 in the central processing unit 5 of FIG. is calculated,
The maximum detection circuit 43 includes a plurality of memory blocks. The maximum value detection circuit 43 is configured to detect N by a control signal from the control circuit 44, and detects the absolute value up to the Nth largest value from the maximum value from among the absolute values of the differences in output signals between the light receiving elements. The structure is configured so that a value can be selected and detected, and when N is 1, the basic evaluation method is to evaluate the absolute value of the difference between simple output signals between adjacent photoelectric conversion elements in the light receiving element array. This corresponds to the case of using a function value, and only the absolute value of the maximum value in the output of the subtraction circuit 42 is selected by the maximum value detection circuit 43.

いま、そのNを2に設定すれば、最大値選択回
路43によつて、減算回路42の出力中の最大値
から第2番までの値のものが選択され、順次加算
器45に導かれて加算される。
Now, if N is set to 2, the maximum value selection circuit 43 selects the values from the maximum value to the second value among the outputs of the subtraction circuit 42, and sequentially leads them to the adder 45. will be added.

その加算器45によつて得られた加算出力は、
比較回路46に入力し、所定のしきい値K1(第3
図参照)を記憶せしめた定数メモリ47からの基
準値と比較される。比較回路46は、前記加算器
45の出力が、前記しきい値よりも低いときに出
力を生ずるように設定してあるので、前記加算器
45の出力がもしそのしきい値よりも低ければ、
メモリ選択回路30のダウンカウンタ34を1ス
テツプダウンカウントし、その出力C・B・Aを
1・1・1から0・1・1にするので、さきに説
明したようにメモリ選択回路30のANDゲート
は一つおきに出力することとなり、従つてデイジ
タルメモリも一つおきに読み出されるようアドレ
ス指定されて、その内容が順次中央処理装置5に
読み込まれる。中央処理装置5ではそのように読
み込まれた隣接信号間の差について演算処理する
こととなるので、前記基本の評価方法とは異なつ
た評価方法によつて評価関数値を求めたこととな
り、その評価関数値は、前記アドレス指定された
L個すなわち1個おきの受光素子の出力に対応す
るデイジタルメモリの出力間の差に相当する。
The addition output obtained by the adder 45 is
input to the comparator circuit 46, predetermined threshold value K1 (third
(see figure) is compared with a reference value from a constant memory 47 in which the constant value is stored. Since the comparator circuit 46 is set to produce an output when the output of the adder 45 is lower than the threshold, if the output of the adder 45 is lower than the threshold;
Since the down counter 34 of the memory selection circuit 30 is counted down by one step and the outputs C, B, and A are changed from 1.1.1 to 0.1.1, the AND of the memory selection circuit 30 is The gates output every other gate, and therefore the digital memory is also addressed to be read every other gate, and its contents are sequentially read into the central processing unit 5. Since the central processing unit 5 performs arithmetic processing on the difference between adjacent signals read in this way, the evaluation function value is obtained by an evaluation method different from the basic evaluation method described above, and the evaluation The function value corresponds to the difference between the outputs of the digital memory corresponding to the outputs of the L addressed light receiving elements, that is, every other light receiving element.

また、一つおきのデイジタルメモリを読み出し
ても、その評価関数値が、まだ所定のしきい値
K1以下の場合には、再び比較回路46の出力が
発生するので、さらにダウンカウンタ34をカウ
ントダウンさせ、ANDゲートを二つおきに動作
させる。この実施例では最大三つおきのANDゲ
ートを動作させるようにしているが、その数を増
加させ、同様な動作を繰返させるように構成して
もよい。
Furthermore, even if every other digital memory is read, the evaluation function value still falls below the predetermined threshold value.
If it is less than K1, the output of the comparison circuit 46 is generated again, so the down counter 34 is further counted down and every second AND gate is operated. In this embodiment, at most every third AND gate is operated, but the number may be increased and the same operation may be repeated.

一方、基本の評価方法により求めた評価関数値
が、前記しきい値K1以上であれば、比較回路4
6から出力がないので、ダウンカウンタ34の出
力は1・1・1の状態を維持することとなり、全
部のデイジタルメモリ25−1〜25−Kが順次
読み出され、中央処理装置に加わり、最大値検出
回路43および加算器45によつて設定される基
本の評価方法に基づいて合焦状態が検出されるこ
ととなる。
On the other hand, if the evaluation function value obtained by the basic evaluation method is equal to or higher than the threshold value K1, the comparison circuit 4
Since there is no output from 6, the output of the down counter 34 will maintain the state of 1, 1, 1, and all the digital memories 25-1 to 25-K will be sequentially read out and added to the central processing unit, and the maximum The in-focus state is detected based on the basic evaluation method set by the value detection circuit 43 and the adder 45.

この実施例において、たとえば最大値検出回路
43が、入力信号の最大値からN番目までに大き
な値のものを選択するよう設定されているものと
し、デイジタルメモリ25−1〜25−KのL個
おきがアドレス指定されて順次中央処理装置5に
とり込まれるものとすれば、前者の基本の評価方
法と後者の異なる評価方法との相乗効果により、
従来の隣り合う光電変換素子間の出力信号の差の
絶対値を評価関数値とする場合に較べ、ほぼNL
倍の値をもつた評価関数値となるので、第3図B
に示したように、従来方法では合焦点の検出が不
可能であつたようなグレイデイツト状の被写体像
に関する評価関数F−1bおよびF−2bは、F−
1BおよびF−2Bのように合焦点近傍において躍
著に大きな値を示すようになる。
In this embodiment, it is assumed that, for example, the maximum value detection circuit 43 is set to select the Nth largest value from the maximum value of the input signal, and L pieces of digital memories 25-1 to 25-K are selected. If the data are addressed and sequentially imported into the central processing unit 5, the synergistic effect of the former basic evaluation method and the latter different evaluation method,
Compared to the conventional case where the absolute value of the difference in output signals between adjacent photoelectric conversion elements is used as the evaluation function value, almost NL
Since the evaluation function value has twice the value, Figure 3B
As shown in FIG.
1B and F-2B, it shows a significantly large value near the in-focus point.

なお、この実施例では、そのように検出された
合焦状態に対応した信号を表示判定回路48に導
いて、結像の良否等を表示装置7により表示する
ようにしている。
In this embodiment, a signal corresponding to the detected focusing state is led to the display determination circuit 48, and the quality of the imaging is displayed on the display device 7.

以上のような演算処理を第6図の9,10で示
した1対の受光素子列について、中央処理装置5
よりの指令により交互に行なえば、第4図の結像
レンズ2のいわゆる前ピンおよび後ピンの状態に
おける評価関数値を比較し得るので、その等しい
関数値を求めるように前記結像レンズを光軸に沿
つて移動させることにより、正確に合焦位置が検
出できる。
The above-mentioned arithmetic processing is performed by the central processing unit 5 for the pair of light-receiving element arrays shown at 9 and 10 in FIG.
If the evaluation functions are performed alternately according to the commands of 1 and 2, it is possible to compare the evaluation function values in the so-called front focus and rear focus states of the imaging lens 2 shown in FIG. By moving along the axis, the in-focus position can be detected accurately.

なお、第8図においては、制御回路44と各機
能ブロツク間の結線の図示を省略してあるが、各
機能ブロツクは、制御回路44からの制御信号に
より制御されるよう構成されている。
Although the connections between the control circuit 44 and each functional block are not shown in FIG. 8, each functional block is configured to be controlled by a control signal from the control circuit 44.

以上実施例によれば基本の評価方法による評価
値が、所定のしきい値以下のときは、L個おきに
読み出されるデイジタルメモリの中央処理装置5
に入る隣り合う信号の差の絶対値の最大値を評価
関数にしているから、前記Lを1とした場合、結
果的には受光素子列9または10で受光した像の
光強度分布の一つおきの信号の差の絶対値の最大
値を評価関数にしたことになり、その評価関数値
は、基本の評価方法とは異なる評価方法で算出し
たこととなる。
According to the above embodiment, when the evaluation value obtained by the basic evaluation method is less than or equal to a predetermined threshold value, the central processing unit 5 of the digital memory reads every L pieces.
Since the evaluation function is the maximum absolute value of the difference between adjacent signals, if L is set to 1, the result is one of the light intensity distributions of the image received by the light receiving element array 9 or 10. This means that the maximum absolute value of the difference between the signals at intervals is set as the evaluation function, and the evaluation function value is calculated using an evaluation method different from the basic evaluation method.

その結果、第3図にF−1BまたはF−2Bで示
したように、基本の評価方法、すなわち、単に隣
り合う受光素子間の出力信号の差の絶対値の最大
値を評価値F−1bまたはF−2bとするものに比
較して、格段と大きな値を示すようになり、従来
方法では検出不能であつたような場合であつて
も、合焦位置の検出が可能となる。
As a result, as shown by F-1B or F-2B in Fig. 3, the evaluation value F-1B was determined using the basic evaluation method, that is, simply calculating the maximum absolute value of the difference in output signals between adjacent light receiving elements. This value is much larger than that of F-2b, and the in-focus position can be detected even in cases where detection would not have been possible using conventional methods.

また、さきの実施例で説明したように、受光素
子出力の一つおきの値の差を計算して、これを評
価値としてもなお検出が困難な場合には、ダウン
カウンタ(第7図の34)を一つづつ進めること
により、受光素子の二つおき、または三つおきの
出力が、中央処理装置に順次入力するので、きわ
めてなだらかな反射濃度をもつたグレイデツドな
被写体に対しても結像レンズの合焦位置を容易に
検出することができる。また、従来の方法、すな
わち互に隣り合う受光素子間の出力差の絶対値の
中から最大値より第N番目の大きい値までの和
を、各受光素子列毎に計算し、第1列の和F−
1aと第2列の和F−2aとの大小関係により、F
−1aとF−2aが等しくなる位置を合焦点として
検出する方法では、ステツプ状の反射濃度をもつ
被写体の合焦検出を最良の状態にすると、グレイ
デツド状の反射濃度をもつ被写体に対しては合焦
検出が不可能となる場合であつても、本発明方法
では、基本の評価方法と、それとは異なる評価方
法とを組み合わせ、両者の相乗効果による評価方
法に基づいて合焦状態を検出しうる方法であるか
ら、従来方法に較べ格段に優れた合焦検出効果を
奏しうる。
In addition, as explained in the previous example, if you calculate the difference between every other value of the light receiving element output and use this as the evaluation value, if detection is still difficult, use the down counter (see Figure 7). By advancing step 34) one by one, the outputs of every second or third light receiving element are sequentially input to the central processing unit. The focal position of the image lens can be easily detected. In addition, using the conventional method, the sum of the absolute values of the output differences between adjacent light receiving elements up to the Nth largest value from the maximum value is calculated for each light receiving element column, and Japanese F-
Due to the magnitude relationship between 1a and the sum F−2a of the second column, F
In the method of detecting the in-focus point at the position where -1a and F-2a are equal, if the focus detection is optimal for subjects with step-like reflection density, Even when in-focus detection becomes impossible, the method of the present invention combines the basic evaluation method and a different evaluation method, and detects the in-focus state based on the evaluation method that has a synergistic effect between the two. Since it is a method of focusing on focus detection, it can achieve a much superior focus detection effect compared to conventional methods.

また、受光素子列の複数個の光電変換素子の同
一の瞬時の光電変換信号を同時にサンプルホール
ドして並列的にデイジタル信号に変換して評価値
を求めるようにしたので、A/D変換を短時間で
できると共に、被写体が移動する場合であつても
光電変換素子間で時間的にずれのない信号を用い
ることができ、したがつて常に正確な評価値を短
時間で得ることができ、焦点状態を常に正確に検
出することができる。
In addition, since the same instantaneous photoelectric conversion signals of multiple photoelectric conversion elements in the light receiving element row are simultaneously sampled and held and converted into digital signals in parallel to obtain the evaluation value, A/D conversion is shortened. It is possible to use signals with no time lag between photoelectric conversion elements even when the subject moves, so accurate evaluation values can always be obtained in a short time, and the focus The state can always be detected accurately.

なお、本発明方法における基本の評価方法およ
びそれとは異なる評価方法は、前述の実施例に説
明した各評価方法に限定されるものではないこと
は勿論である。
It goes without saying that the basic evaluation method and evaluation methods different from the basic evaluation method in the method of the present invention are not limited to the evaluation methods described in the above-mentioned Examples.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図および第2図は、従来方法を説明するた
めの被写体像光強度分布図および評価関数曲線
図、第3図は、本発明方法の作用を説明するため
の図、第4図は、本発明方法を採用した合焦検出
装置の1例の構成を示すブロツク線図、第5図
は、本発明方法の実施例における受光素子列の配
置構成図、第6図は、本発明方法の実施例の回路
構成をA/D変換回路を中心に示したブロツク線
図、第7図は、本発明の実施例におけるメモリ選
択回路の構成例のブロツク線図、第8図は本発明
の実施例における中央処理装置の構成例のブロツ
ク線図である。 1……被写体、2……結像レンズ、11……基
板、12……クイツクリターン・ハーフミラー、
13,14……ハーフミラー、15……ミラー、
16……ピント板、17……ペンタプリズム、1
8……シヤツタ幕、33−1〜33−K……
ANDゲート。
1 and 2 are a subject image light intensity distribution diagram and an evaluation function curve diagram for explaining the conventional method, FIG. 3 is a diagram for explaining the action of the method of the present invention, and FIG. FIG. 5 is a block diagram showing the configuration of an example of a focus detection device employing the method of the present invention. FIG. FIG. 7 is a block diagram showing the circuit configuration of the embodiment with a focus on the A/D conversion circuit. FIG. 7 is a block diagram of an example of the configuration of the memory selection circuit in the embodiment of the present invention. FIG. FIG. 2 is a block diagram of a configuration example of a central processing unit in an example. 1... Subject, 2... Imaging lens, 11... Board, 12... Quick return half mirror,
13, 14...half mirror, 15...mirror,
16... Focusing board, 17... Pentaprism, 1
8...Shutter curtain, 33-1 to 33-K...
AND gate.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 複数個の光電変換素子からなる受光素子列に
結像レンズにより物体像を投影し、その光電変換
信号に基づいて物体像の鮮明度の評価関数値を算
出して前記結像レンズの焦点状態を検出するにあ
たり、 前記受光素子列の複数個の光電変換素子の同一
瞬時の光電変換信号を読み出してデイジタル信号
に変換し、 そのデイジタル信号に基づいて基本の評価方法
たる第1の評価方法により第1の評価関数値を算
出して所定のしきい値と比較し、 そのとき第1の評価関数値が前記所定のしきい
値よりも大きい場合は、該第1の評価関数値を用
いて結像レンズの焦点状態を検出し、 前記第1の評価関数値が前記所定のしきい値よ
りも小さい場合には、前記デイジタル信号に基づ
いて前記基本の評価方法たる第1の評価方法とは
異なる第2の評価方法により第2の評価関数値を
算出して該第2の評価関数値を用いて前記結像レ
ンズの焦点状態を検出する合焦検出方法であつ
て、 前記第1の評価方法は、前記受光素子列につい
て前記第1の評価関数値として、隣り合う光電変
換素子によるデイジタル信号出力の差の絶対値の
中から最大の値より第N番目までに大きい値の和
を算出することによる方法であり、 前記第2の評価方法は、前記受光素子列につい
て前記第2の評価関数値として、L個おきに隣り
合う光電変換素子によるデイジタル信号出力の差
の絶対値の中から最大の値より第N番目までに大
きい値の和を算出することによる方法である、こ
とを特徴とする合焦検出方法。
[Scope of Claims] 1. An object image is projected by an imaging lens onto a light receiving element array consisting of a plurality of photoelectric conversion elements, and an evaluation function value of the sharpness of the object image is calculated based on the photoelectric conversion signal. In detecting the focal state of the imaging lens, the same instantaneous photoelectric conversion signals of the plurality of photoelectric conversion elements in the light receiving element row are read out and converted into digital signals, and based on the digital signals, the basic evaluation method is carried out. A first evaluation function value is calculated by the evaluation method of 1 and compared with a predetermined threshold, and if the first evaluation function value is larger than the predetermined threshold, the first evaluation detecting the focal state of the imaging lens using the function value, and when the first evaluation function value is smaller than the predetermined threshold value, the first evaluation method, which is the basic evaluation method, is performed based on the digital signal; A focus detection method that calculates a second evaluation function value by a second evaluation method different from the evaluation method and detects the focus state of the imaging lens using the second evaluation function value, The first evaluation method includes determining, as the first evaluation function value for the light receiving element array, a value that is up to the Nth largest value from the absolute value of the difference between digital signal outputs of adjacent photoelectric conversion elements. The second evaluation method is a method of calculating the sum of digital signal outputs of every L adjacent photoelectric conversion elements as the second evaluation function value for the light receiving element array. A focus detection method, characterized in that it is a method of calculating the sum of values up to the Nth largest value among the values.
JP4418281A 1981-03-27 1981-03-27 Method for focusing detection Granted JPS57158819A (en)

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JPS59177509A (en) * 1983-03-29 1984-10-08 Kyocera Corp Automatic focus control device at moving limit on infinite side of lens
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