JPH0376186U - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0376186U
JPH0376186U JP13740789U JP13740789U JPH0376186U JP H0376186 U JPH0376186 U JP H0376186U JP 13740789 U JP13740789 U JP 13740789U JP 13740789 U JP13740789 U JP 13740789U JP H0376186 U JPH0376186 U JP H0376186U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
information
storage means
pulse
pulse generator
read
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP13740789U
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP13740789U priority Critical patent/JPH0376186U/ja
Publication of JPH0376186U publication Critical patent/JPH0376186U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は、本考案の実施例である電子ボリユー
ム用のパルスジエネレータを備えた混成集積回路
の検査装置の概略を示す回路図、第２図ａ，ｂ及
びｃは上記パルスジエネレータの動作を説明する
ための出力波形図、第３図は上記出力波形の各ビ
ツトの内容を説明する対応図、第４図は上記パル
スジエネレータを構成するコンピユータの動作を
説明するためのフローチヤート、そして、第５図
は従来技術になるパルスジエネレータの一例を示
す回路図である。 １０……パルスジエネレータ、１１……ＥＰ−
ＲＯＭ、１２……データバス、１３……データ変
換部、１３１……ＣＰＵ（中央処理部）、１３２
……ＲＡＭ、１３３……ＲＯＭ、２０……電子ボ
リユーム、２１……抵抗器、２２……リレー、３
０……増幅器（ＡＭＰ）、４０，６０……プロー
ブピン、５０……被検査混成集積回路、７０……
検査部、ＣＬ……クロツク信号、ＳＴ……ストロ
ーブ信号、ＤＴ……データ信号。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 予め所定のパルス発生条件を情報として記憶し
    た複数の記憶手段と、上記記憶手段に記憶された
    情報をパラレルに読取り、上記記憶手段から読取
    られた情報のパレス発生条件を基に、クロツク信
    号を基準としたシリアルな情報パルス信号に変換
    する変換手段とを有することを特徴とするパルス
    ジエネレータ。
JP13740789U 1989-11-28 1989-11-28 Pending JPH0376186U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13740789U JPH0376186U (ja) 1989-11-28 1989-11-28

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13740789U JPH0376186U (ja) 1989-11-28 1989-11-28

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0376186U true JPH0376186U (ja) 1991-07-30

Family

ID=31684565

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP13740789U Pending JPH0376186U (ja) 1989-11-28 1989-11-28

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0376186U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007074653A (ja) * 2005-09-09 2007-03-22 Nikon Corp 投影システム

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63175515A (ja) * 1987-01-16 1988-07-19 Hitachi Ltd 波形形成回路

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63175515A (ja) * 1987-01-16 1988-07-19 Hitachi Ltd 波形形成回路

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007074653A (ja) * 2005-09-09 2007-03-22 Nikon Corp 投影システム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0376186U (ja)
JPH026278U (ja)
JPH0382441U (ja)
JPS5928795U (ja) 分析計校正装置
JPS6116652U (ja) メモリデ−タ表示試験器
JPS6361046U (ja)
JPS6356455U (ja)
JPS648677U (ja)
JPS60168076U (ja) 混成ｉｃの遅延時間測定回路
JPH01110383U (ja)
JPS5945575U (ja) 論理回路パツケ−ジ試験装置
JPS6396595U (ja)
JPS5910032U (ja) 測温装置
JPH0196041U (ja)
JPH0283597U (ja)
JPS593537U (ja) 半導体素子検査装置の測子カ−ド
JPH0376129U (ja)
JPH01102936U (ja)
JPH03128861U (ja)
JPH02123644U (ja)
JPH02675U (ja)
JPS61119198U (ja)
JPS59112111U (ja) 自動校正曲線検出装置
JPH0252171U (ja)
JPH0344739U (ja)