JPH0359762A - 実験計画データ作成装置 - Google Patents
実験計画データ作成装置Info
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- JPH0359762A JPH0359762A JP1197134A JP19713489A JPH0359762A JP H0359762 A JPH0359762 A JP H0359762A JP 1197134 A JP1197134 A JP 1197134A JP 19713489 A JP19713489 A JP 19713489A JP H0359762 A JPH0359762 A JP H0359762A
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- 238000002474 experimental method Methods 0.000 title claims abstract description 7
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 10
- 238000013500 data storage Methods 0.000 claims description 8
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000003491 array Methods 0.000 description 2
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
- Y02P90/02—Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
- Y02P90/30—Computing systems specially adapted for manufacturing
Landscapes
- Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)
- General Factory Administration (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は実験計画のデータ作成に関し、特に直交表を用
いた実験計画の立案、および得られたデータの解析に関
する。
いた実験計画の立案、および得られたデータの解析に関
する。
(従来の技術)
直交表は、各産業分野で実験を効率的に進めるための実
、験計画のひとつである。実際には、この実験計画にも
とづいて行った実験の結果を解析するのであるが、その
実験に先立ち、テストデータを作成し、実験結果を予測
することは実験計画を立てるうえで重要なステップであ
る。
、験計画のひとつである。実際には、この実験計画にも
とづいて行った実験の結果を解析するのであるが、その
実験に先立ち、テストデータを作成し、実験結果を予測
することは実験計画を立てるうえで重要なステップであ
る。
しかし、従来、直交表による実験計画のテストデータは
手計算によりひとつずつ作られるのが通例であった・ (発明が解決しようとする課題) 上述した従来の実験計画では、手作業によってデータが
作成されていたため、直交表が太きくなると、種々のパ
ターンデータを作成するのにかなりの時間がかかるとい
う欠点がある。さらに、人間の手作業のために誤りも多
いと言う欠点がある。
手計算によりひとつずつ作られるのが通例であった・ (発明が解決しようとする課題) 上述した従来の実験計画では、手作業によってデータが
作成されていたため、直交表が太きくなると、種々のパ
ターンデータを作成するのにかなりの時間がかかるとい
う欠点がある。さらに、人間の手作業のために誤りも多
いと言う欠点がある。
本発明の目的は、直交表によるデータ作成に°必要なパ
ラメータを入力して、その入力パラメータが正しいもの
であるか否かをチェックし、メモリ中にこれを展開して
おき、展開されたパラメータを一時的に保存するととも
にデータ作成の基準となる直交表の情報を保持し、実験
誤差として想定することのできる誤差データを発生 し
てテストデータを作成し、出力することによって上記欠
点を除去し、短時間に誤りなくテストデータを作成でき
るように構成した実験計画データ作成装置を提供するこ
とにある。
ラメータを入力して、その入力パラメータが正しいもの
であるか否かをチェックし、メモリ中にこれを展開して
おき、展開されたパラメータを一時的に保存するととも
にデータ作成の基準となる直交表の情報を保持し、実験
誤差として想定することのできる誤差データを発生 し
てテストデータを作成し、出力することによって上記欠
点を除去し、短時間に誤りなくテストデータを作成でき
るように構成した実験計画データ作成装置を提供するこ
とにある。
(課題を解決するための手段)
本発明による実験計画データ作成装置は入力装置と、入
力パラメータ解析部と、パラメータテーブルと、直交表
データファイルと、乱数発生部と、データ作成部と、作
成データ保存ファイルとを具備して構成したものである
。
力パラメータ解析部と、パラメータテーブルと、直交表
データファイルと、乱数発生部と、データ作成部と、作
成データ保存ファイルとを具備して構成したものである
。
入力装置は、直交表によるデータ作成に必要なパラメー
タを入力するためのものである。
タを入力するためのものである。
入力パラメータ解析部は、入力されたパラメータが正し
いか否かをチェックし、メモリ中に展開するためのもの
である。
いか否かをチェックし、メモリ中に展開するためのもの
である。
パラメータテーブルは、入力パラメータ解析部によって
展開されたパラメータを一時的に保存するためのもので
ある。
展開されたパラメータを一時的に保存するためのもので
ある。
直交表データファイルは、データ作成の基準となる直交
表の情報を保持するためのものである。
表の情報を保持するためのものである。
乱数発生部は、実験誤差として想定することのできる誤
差データを発生するためのものである。
差データを発生するためのものである。
データ作成部は、パラメータテーブルの情報と直交表デ
ータファイルから得られる直交表の情報と、乱数発生部
から作られた誤差データとを用いて演算を行い、テスト
データを作成して出力するためのものである。
ータファイルから得られる直交表の情報と、乱数発生部
から作られた誤差データとを用いて演算を行い、テスト
データを作成して出力するためのものである。
作成データ保存ファイルは、作成されたデータを保存す
るためのものである。
るためのものである。
(実施例)
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は、本発明による実験計画データ作成装置の一実
施例を示す概略ブロック図である。
施例を示す概略ブロック図である。
第1図において、11はパラメータ入力装置、12は入
力パラメータ解析部、13は直交表データファイル、1
4はデータ作成部、15は乱数発生部、16は作成デー
タ保存手段、17はパラメータテーブルである。
力パラメータ解析部、13は直交表データファイル、1
4はデータ作成部、15は乱数発生部、16は作成デー
タ保存手段、17はパラメータテーブルである。
パラメータ入力装置11は、第2図に示すような入力項
目を順次に入力する。これはキーボードであっても、あ
るいはファイルであっても、またはカードであってもよ
い。パラメータ解析部12は、入力されたパラメータに
ついて指定された直交表が、直交表データファイル13
の中のデータ中に存在するか、あるいは指定された繰返
し数が負の数ではないかなど、その受画性をチェックし
、順次に入力されたパラメータを第2図に示すような表
形式に整理して、メモリ上にパラメータテーブル17を
作成する。
目を順次に入力する。これはキーボードであっても、あ
るいはファイルであっても、またはカードであってもよ
い。パラメータ解析部12は、入力されたパラメータに
ついて指定された直交表が、直交表データファイル13
の中のデータ中に存在するか、あるいは指定された繰返
し数が負の数ではないかなど、その受画性をチェックし
、順次に入力されたパラメータを第2図に示すような表
形式に整理して、メモリ上にパラメータテーブル17を
作成する。
直交表データ保存ファイル13は、第3図(a)に示す
ような直交表自身のデータを必要な種類だけ、データベ
ースとして記憶している。第3図(a)は直交表のイメ
ージを表示しているが、実際には表中の太線内である。
ような直交表自身のデータを必要な種類だけ、データベ
ースとして記憶している。第3図(a)は直交表のイメ
ージを表示しているが、実際には表中の太線内である。
その列に、割当てられた要因の水準を示す数字を記憶し
ておけばよい。乱数発生部15は、実験誤差と想定でき
る正規乱数とを作成する。
ておけばよい。乱数発生部15は、実験誤差と想定でき
る正規乱数とを作成する。
データ作成部14は、次に説明する第1の方式、あるい
は第2の方式のどちらかを選択してテストデータを設定
する。さらにその後、データを作成データ保存ファイル
16に出力する。
は第2の方式のどちらかを選択してテストデータを設定
する。さらにその後、データを作成データ保存ファイル
16に出力する。
第1の方式では、パラメータテーブル17を参照しなが
ら直交表データファイル13から指定された直交表を選
択し、テストデータ作成の基準となる直交表の情報を得
て、その情報と、パラメータテーブルの情報と、乱数発
生部15から得られた誤差データとを用いて演算し、テ
ストデータを作成する。このとき、要因の効果の幅を指
定して自動的に各水準の効果を設定する。
ら直交表データファイル13から指定された直交表を選
択し、テストデータ作成の基準となる直交表の情報を得
て、その情報と、パラメータテーブルの情報と、乱数発
生部15から得られた誤差データとを用いて演算し、テ
ストデータを作成する。このとき、要因の効果の幅を指
定して自動的に各水準の効果を設定する。
第2の方式では、各要因の各水準の効果を指定して、そ
のままその値を各水準の効果として設定する。
のままその値を各水準の効果として設定する。
作成データ保存ファイル16には、データ作成部15か
ら出力されたデータを記憶しておく。
ら出力されたデータを記憶しておく。
これにより、このデータを他の解析に使うことも可能と
なる。データ作成部15のデータはファイルであっても
、あるいはプリンタによるリスト出力であっても、また
はカードであってもよい。
なる。データ作成部15のデータはファイルであっても
、あるいはプリンタによるリスト出力であっても、また
はカードであってもよい。
第4図は、本発明の動作例を示すフローチャートである
。
。
次に、本発明によるデータの作成手順について、第1図
および第4図を参照して説明する。
および第4図を参照して説明する。
まず、ステップ41によってパラメータ入力装置11か
らパラメータを入力し、続いてステップ42により入力
パラメータ解析装置12でパラメータを解析してパラメ
ータテーブル17を作成する。次に、データ作成部14
ではステップ43により、第2図に示された直交表の種
類に従って直交表データファイル13から第3図(a)
に示すような該当直交表データを得る。
らパラメータを入力し、続いてステップ42により入力
パラメータ解析装置12でパラメータを解析してパラメ
ータテーブル17を作成する。次に、データ作成部14
ではステップ43により、第2図に示された直交表の種
類に従って直交表データファイル13から第3図(a)
に示すような該当直交表データを得る。
次に、ステップ44により第2の全平均の値を各行のテ
ストデータにセットする。ステップ45では、第2図の
各要因についてその効果の幅を該当直交表から得られる
水準数に従って、その和が0になるように各水準の効果
として振分け、各水準の効果の値とする。
ストデータにセットする。ステップ45では、第2図の
各要因についてその効果の幅を該当直交表から得られる
水準数に従って、その和が0になるように各水準の効果
として振分け、各水準の効果の値とする。
次に、ステップ46〜48により第3図(a)の水準の
位置と第2図の要因の割付は方を対応させ、その行列に
一致する水準の効果の値を当該行のテストデータ値に足
し込んでいく作業を、すべての行、ならびにすべての要
因について繰返す。その後、ステップ49により第1図
の乱数発生装置15で平均′0′ 1分散/1/の正規
乱数を発生させ、誤差としてテストデータに付加する。
位置と第2図の要因の割付は方を対応させ、その行列に
一致する水準の効果の値を当該行のテストデータ値に足
し込んでいく作業を、すべての行、ならびにすべての要
因について繰返す。その後、ステップ49により第1図
の乱数発生装置15で平均′0′ 1分散/1/の正規
乱数を発生させ、誤差としてテストデータに付加する。
第2図の繰返し回数が2以上であれば、ステップ50に
より新たに乱数を発生させ、第3図(b)の太線内に示
すような繰返し回数分だけのテストデータを得る。
より新たに乱数を発生させ、第3図(b)の太線内に示
すような繰返し回数分だけのテストデータを得る。
最後に、ステップ51により上記データを第1図の作成
データ保存ファイル16に書込む。
データ保存ファイル16に書込む。
(発明の効果)
以上説明したように本発明は、最低限のパラメータを入
力することにより、どのように大きな直交表によるテス
トデータも、高速、且つ、正確に作成することができる
と言う効果がある。
力することにより、どのように大きな直交表によるテス
トデータも、高速、且つ、正確に作成することができる
と言う効果がある。
さらに、パラメータを変更することにより、同じ直交表
に対しても種々のパターンのテストデータが簡単に作成
できるため、シミュレーションも行うことができると言
う効果がある。
に対しても種々のパターンのテストデータが簡単に作成
できるため、シミュレーションも行うことができると言
う効果がある。
第1図は、本発明による実験計画データ作成装置の一実
施例を示す概略ブロック図である。 第2図は、パラメータとして入力された項目のメモリ内
の構成例を示す説明図である。 第3図は直交表自身のデータ例、および対応する作成テ
ストデータ例を示す説明図である。 第4図は、第1図の動作を説明するフローチャートであ
る。 11・・・パラメータ入力装置 12・・・入力パラメータ解析部 13・・・直交表データファイル 14・・・データ作成部 15・・・乱数発生部 16・・・作成データ保存ファイル 21・・・直交表の種類 22・・・全平均値 23・・・繰返し回数 24・・・要因名 25・・・各要因の効果の幅 26・・・各水準の効果 27・・・各要因を割付ける例 41〜51・・・処理ステップ 才1図 (a) 才2閃 才3 図 (b)
施例を示す概略ブロック図である。 第2図は、パラメータとして入力された項目のメモリ内
の構成例を示す説明図である。 第3図は直交表自身のデータ例、および対応する作成テ
ストデータ例を示す説明図である。 第4図は、第1図の動作を説明するフローチャートであ
る。 11・・・パラメータ入力装置 12・・・入力パラメータ解析部 13・・・直交表データファイル 14・・・データ作成部 15・・・乱数発生部 16・・・作成データ保存ファイル 21・・・直交表の種類 22・・・全平均値 23・・・繰返し回数 24・・・要因名 25・・・各要因の効果の幅 26・・・各水準の効果 27・・・各要因を割付ける例 41〜51・・・処理ステップ 才1図 (a) 才2閃 才3 図 (b)
Claims (1)
- 直交表によるデータ作成に必要なパラメータを入力する
ための入力装置と、前記入力されたパラメータが正しい
か否かをチェックし、メモリ中に展開するための入力パ
ラメータ解析部と、前記入力パラメータ解析部によって
展開されたパラメータを一時的に保存するためのパラメ
ータテーブルと、データ作成の基準となる直交表の情報
を保持するための直交表データファイルと、実験誤差と
して想定することのできる誤差データを発生するための
乱数発生部と、前記パラメータテーブルの情報と前記直
交表データファイルから得られる直交表の情報と乱数発
生部から作られた誤差データとを用いて演算を行い、テ
ストデータを作成して出力するためのデータ作成部と、
前記作成されたデータを保存するための作成データ保存
ファイルとを具備して構成したことを特徴とする実験計
画データ作成装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1197134A JPH0359762A (ja) | 1989-07-28 | 1989-07-28 | 実験計画データ作成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1197134A JPH0359762A (ja) | 1989-07-28 | 1989-07-28 | 実験計画データ作成装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0359762A true JPH0359762A (ja) | 1991-03-14 |
Family
ID=16369319
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1197134A Pending JPH0359762A (ja) | 1989-07-28 | 1989-07-28 | 実験計画データ作成装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0359762A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR19980087802A (ko) * | 1998-09-21 | 1998-12-05 | 김판수 | 핸드폰 가방(케이스) |
-
1989
- 1989-07-28 JP JP1197134A patent/JPH0359762A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR19980087802A (ko) * | 1998-09-21 | 1998-12-05 | 김판수 | 핸드폰 가방(케이스) |
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