JPH0358233A - Interruption control circuit - Google Patents

Interruption control circuit

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Publication number
JPH0358233A
JPH0358233A JP19473289A JP19473289A JPH0358233A JP H0358233 A JPH0358233 A JP H0358233A JP 19473289 A JP19473289 A JP 19473289A JP 19473289 A JP19473289 A JP 19473289A JP H0358233 A JPH0358233 A JP H0358233A
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JP
Japan
Prior art keywords
interrupt
control circuit
interruption
setting means
level
Prior art date
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Pending
Application number
JP19473289A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masashi Masuda
増田 雅士
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Publication of JPH0358233A publication Critical patent/JPH0358233A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To freely set the sequence, etc., of an interruption factor by setting an address bus and a data bus of a storage element as external terminals by a non-volatile and rewritable storage element for constituting a setting means for an interruption level, etc., so that the contents of the setting means in an interruption processing can be tested by using this external terminal. CONSTITUTION:A setting means 2 for setting an interruption level, a priority level, etc., to an interruption element from a logic circuit 4 for executing a logical operation required for an interruption control is constituted of a nonvolatile and rewritable storage element. Also, it is constituted so that an address bus and a data bus of this storage element are set as external terminals, so that the contents of the setting means 2 in an interruption processing can be tested by using this external terminal. In such a way, since a test function is added, it is possible flexibly with an interruption factor, and the sequence of the interruption factor, the level, etc., can be set freely.

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 割込制御回路に関し、 割込要因の順位、レベル等を自由に設定できるとともに
、フレキシブルな対応ができ、かつテストが容易でその
時間も短く、マイクロコントローラの使用範囲を拡げて
短期間でユーザ仕様に応ずることのできる割込制御回路
を提供することを目的とし、 割込要求に応じてCPUの通常処理を中断させて割込処
理に移行させるとともに、割込要求に対する割込レベル
、プライオリテイレヘル等を設定手段によって設定する
割込制御回路において、前記設定手段を不揮発性の書換
可能な記憶素子により構成するとともに、少なくとも該
記憶素子のアドレスバス、データバスを外部端子とし、
該外部端子を用いて割込処理における設定手段の内容を
テスト可能なように構戒する。
[Detailed Description of the Invention] [Summary] Regarding the interrupt control circuit, the order and level of interrupt factors can be set freely, the response can be flexibly handled, the test is easy and takes a short time, and the test can be easily performed using a microcontroller. The purpose of this circuit is to expand the scope of use and provide an interrupt control circuit that can respond to user specifications in a short period of time. In an interrupt control circuit in which an interrupt level, a priority level, etc. for an interrupt request are set by a setting means, the setting means is constituted by a nonvolatile rewritable memory element, and at least an address bus and a data bus of the memory element are configured. is an external terminal,
The external terminal is used to test the contents of the setting means in interrupt processing.

(産業上の利用分野〕 本発明は、割込制御回路に係り、詳しくは、1チップマ
イクロコントローラに適用される割込制御回路に関する
(Industrial Application Field) The present invention relates to an interrupt control circuit, and more particularly to an interrupt control circuit applied to a one-chip microcontroller.

近年、lチップマイクロコントローラに対してユーザか
ら多機能のものが要求されており、このような要求に合
わせて割込み順位、レベル等を対応させ、しかも短期間
でつくる必要がある。
In recent years, users have been requesting multifunctional L-chip microcontrollers, and it is necessary to adapt interrupt orders, levels, etc. to meet such requests, and to create them in a short period of time.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来の1チップマイクロコントローラにおける割込制御
回路では、割込み要求があると、プログラムカウンタや
プログラムステータスワードの退避を行った後に割込み
処理を実行し、割込みからの復帰では退避されているプ
ログラムの中断点の情報を復元している。また、レジス
タ等によってδり込みレベルを設定している。
In the interrupt control circuit of a conventional one-chip microcontroller, when an interrupt request is received, the interrupt processing is executed after saving the program counter and program status word, and when returning from the interrupt, the interruption point of the saved program is executed. information is being restored. Further, the delta penetration level is set by a register or the like.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

しかしながら、このような従来の割込制御回路にあって
は、割込みレベル等をレジスクによりハード的に設定し
ている構或であるため、割込要因の順位、レベルを自由
に設定することができず、フレキシブルな対応ができな
いという問題点があった。
However, in such conventional interrupt control circuits, the interrupt level etc. are set by hardware using a register, so the order and level of interrupt factors cannot be set freely. However, there was a problem in that it was not possible to respond flexibly.

また、割込み制御のテスト(検証)が容易にできず、時
間もかかるという問題点があった。したがって、チップ
の使用範囲も狭まり、短期間でユーザ仕様のチップを作
ることが困難であった。
Another problem is that testing (verification) of interrupt control is not easy and takes time. Therefore, the scope of use of the chip has been narrowed, and it has been difficult to produce chips according to user specifications in a short period of time.

そこで本発明は、割込要因の順位、レベル等を自由に設
定できるとともに、フレキシブルな対応ができ、かつテ
ストが容易でその時間も短く、マイクロコントローラの
使用範囲を拡げて短期間でユーザ仕様に応ずることので
きる割込制御回路を提供することを目的としている。
Therefore, the present invention allows the order, level, etc. of interrupt factors to be set freely, allows for flexible response, is easy to test, takes a short time, and expands the scope of use of the microcontroller, allowing user specifications to be achieved in a short period of time. The purpose of the present invention is to provide an interrupt control circuit that can respond to interrupt requests.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明による割込制御回路は上記目的達戒のため、割込
要求に応じてCPUの通常処理を中断させて割込処理に
移行させるとともに、割込要求に対する割込レベル、ブ
ライオリティレベル等を設定手段によって設定する割込
制御回路において、前記設定手段を、不揮発性の書換可
能な記憶素子により構成するとともに、少なくとも該記
憶素子のアドレスバス、データバスを外部端子とし、該
外部端子を用いて割込処理における設定手段の内容をテ
スト可能なように構戒する。
In order to achieve the above objectives, the interrupt control circuit according to the present invention interrupts the normal processing of the CPU and shifts to interrupt processing in response to an interrupt request, and also controls the interrupt level, priority level, etc. for the interrupt request. In the interrupt control circuit set by a setting means, the setting means is constituted by a non-volatile rewritable memory element, and at least an address bus and a data bus of the memory element are used as external terminals, and the interrupt control circuit is configured by using the external terminals. Care should be taken to ensure that the contents of the setting means in interrupt processing can be tested.

(作用) 本発明では、設定手段がEFROM等の不揮発性の書換
可能な記憶素子により構威され、割込レベル、プライオ
リティレベルが自由に設定される.また、該記憶素子に
は外部端子が設けられ、この外部端子を用いてテストモ
ードの実行により設定手段の設定内容が外部からテスト
される。
(Function) In the present invention, the setting means is constituted by a non-volatile rewritable storage element such as EFROM, and the interrupt level and priority level can be set freely. Further, the memory element is provided with an external terminal, and the setting contents of the setting means are externally tested by executing a test mode using this external terminal.

したがって、割込み要因に対してフレキシブルに対応で
き、かつテスト時間も短くなり、マイクロコントローラ
の使用範囲が拡がる。
Therefore, it is possible to respond flexibly to interrupt factors, and test time is also shortened, expanding the scope of use of the microcontroller.

〔原理説明〕[Explanation of principle]

最初に、本発明の原理から説明する。第l図は本発明の
原理説明図である。この図において、■は割込み要求に
対応する信号人力とアドレスバスを切り換えるセレクタ
、2は割込みレヘル、プライオリティレベル等を設定し
て記憶してお<EPROMセル(設定手段に相当)、3
はEPROMセル2へのリード/ライト動作と通常動作
の信号経路とを切り換えるセレクタ、4は割込み制御に
必要な論理演算を行う論理回路で、割込ホリ御の信号を
出力するもの、5はEPROMセル2からのリード/ラ
イトデータの授受とテストモードとを切り換えるセレク
タである。なお、EFROMセル2のアドレスバス、デ
ータバスは外部端子となっている。
First, the principle of the present invention will be explained. FIG. 1 is a diagram explaining the principle of the present invention. In this figure, ■ is a selector that switches the signal input and address bus corresponding to an interrupt request, 2 is an EPROM cell (corresponding to a setting means) for setting and storing interrupt levels, priority levels, etc.;
4 is a selector that switches the read/write operation to the EPROM cell 2 and the signal path for normal operation; 4 is a logic circuit that performs logical operations necessary for interrupt control; and 5 is a logic circuit that outputs an interrupt control signal; 5 is an EPROM This is a selector that switches between sending and receiving read/write data from the cell 2 and the test mode. Note that the address bus and data bus of the EFROM cell 2 are external terminals.

以上の構戒において、まず、割込みレベル、プライオリ
ティレベル等の割込み条件の設定はEPROMセル2へ
その内容を書き込むことによって行われ、これは書き込
み動作と読出し動作(書込内容のチェソク)となる。ま
た、割込み要求があったときにこの要求に応答するため
に上記設定内容を読み出す動作は割込みの実行となり、
これは通常動作となる。
In the above arrangement, first, setting of interrupt conditions such as interrupt level and priority level is performed by writing the contents to the EPROM cell 2, and this becomes a write operation and a read operation (checking of the written contents). Also, when an interrupt request is received, the operation of reading the above settings in response to this request is execution of an interrupt.
This is normal operation.

EFROMセル2へのリード/ライト動作と通常動作は
独立のモードによって行われ、各動作時のバスは次のよ
うになる。
Read/write operations and normal operations to the EFROM cell 2 are performed in independent modes, and the bus during each operation is as follows.

(1)  リード/ライト動作 セレクタ1によってアドレスバスが選択され、アドレス
バスー巳PROMセル2→セレクタ3→セレクタ5→デ
ータというバスになる。
(1) Read/write operation The address bus is selected by the selector 1, and the bus becomes the address bus - PROM cell 2 -> selector 3 -> selector 5 -> data.

これにより、ユーザからの割込み要求の仕様に沿って設
定内容を自由に定めることができ、フレキシブルな対応
を図ることができる。因みに、従来はハード的な構成で
あるから、このようなソフト的な自由度がない。
As a result, the setting contents can be freely determined according to the specifications of the interrupt request from the user, and a flexible response can be achieved. Incidentally, since conventional systems have a hardware configuration, they do not have this degree of software flexibility.

(II)通常動作時 セレクタlによって割込み要求に対応する信号入力が選
択され、信号入力−EFROMセル2−セレクタ3一論
理回路4一信号出力というパスになる。これにより、外
部からの割込み要求に応じて対応する設定内容の割込み
がEPROMセル2の内容によって定まり、論理回路4
によって割込み制御に必要な論理演算が行われて信号出
力としてCPU側へ送出される。
(II) During normal operation, the signal input corresponding to the interrupt request is selected by the selector 1, resulting in a path of signal input - EFROM cell 2 - selector 3 - logic circuit 4 - signal output. As a result, in response to an external interrupt request, the corresponding interrupt setting is determined by the contents of the EPROM cell 2, and the logic circuit 4
performs logical operations necessary for interrupt control and sends it to the CPU side as a signal output.

一方、割込み制御の機能を検証するためのテストモード
を実行するときは、EFROMセル2のアドレスバス、
データバスが外部端子となっていることにより、この外
部端子を利用してアドレスバス→EPROMセル2→セ
レクタ3→論理回路4→セレクタ5→データというパス
を形威し、これによりCPU側へ出力される割込みレベ
ル等をデータとして外部に出力させる。したがって、割
込みの組み合わせチェックが容易かつ短時間で可能とな
り、また回路量の増加も少なくてすむ。
On the other hand, when executing the test mode for verifying the interrupt control function, the address bus of EFROM cell 2,
Since the data bus is an external terminal, this external terminal is used to form a path of address bus → EPROM cell 2 → selector 3 → logic circuit 4 → selector 5 → data, thereby outputting to the CPU side. The interrupt level, etc. to be output is output as data to the outside. Therefore, the combination of interrupts can be checked easily and in a short time, and the amount of circuitry does not need to increase much.

以上のことから、マイクロコントローラの使用範囲も広
がり、かつ短期間でユーザ仕様に沿った割込制御回路を
提供することができる。
As described above, the scope of use of the microcontroller is expanded, and an interrupt control circuit that meets user specifications can be provided in a short period of time.

(実施例) 次に、上記原理に基づく本発明の一実施例を説明する。(Example) Next, an embodiment of the present invention based on the above principle will be described.

第2図は本発明に係る割込制御回路を適用したlチップ
マイクロコントローラ11のブロソク図である。第2図
において、12はCPU、13は割込制御回路で、割込
制御回路13はCPUブロソクl4内の一部に含まれ、
CPU12に対しインターラプトリクエスト (IRQ
)、プライオリテイレヘルの入力(Nl)および出力(
No)、ベクタアドレス(VA)出力という信号の授受
を行う。
FIG. 2 is a block diagram of an l-chip microcontroller 11 to which an interrupt control circuit according to the present invention is applied. In FIG. 2, 12 is a CPU, 13 is an interrupt control circuit, and the interrupt control circuit 13 is included in a part of the CPU block 14.
Interrupt request (IRQ) to CPU12
), priority level health input (Nl) and output (
No) and vector address (VA) output signals are exchanged.

また、割込制御回路13にはリソース15a〜15n(
例えば、シリアルI /O,タイマ等のモジュールブロ
ソク)からーの割込要求信号が入力されている。一方、
割込制御回路13にはボー目6〜18が接続され、これ
はアドレス入力、データ入出力、リード/ライト制御の
ための端子となる。また、割込制御回路13にはテスト
モードを制御するための信号が入力されるようになって
いる。なお、アドレスバス、データバスは専用バスであ
る。
The interrupt control circuit 13 also includes resources 15a to 15n (
For example, interrupt request signals from module blocks such as serial I/O and timers are input. on the other hand,
Boards 6 to 18 are connected to the interrupt control circuit 13, and serve as terminals for address input, data input/output, and read/write control. Further, a signal for controlling the test mode is input to the interrupt control circuit 13. Note that the address bus and data bus are dedicated buses.

第3図は割込制御回路l3の詳細な構或を示すブロソク
図である。第3図において、21は割込み要因とアドレ
スバスとを選択するセレクタ、22は割込優先度ソート
回路でEPROMセルで構威されるもの、23はセレク
タ、24はプライオリティおよび優先度をマスクするマ
スク回路、25はベクタアドレスを出力するベクタアド
レスデコーダ、26はセレクタ、27はデータバスセレ
クタ、28はテストモードコントローラ、29はブライ
オリティレヘル1をデコードするブライオリティレへル
デコーダ回路でEPROMセルで構成されるもの、30
はセレクタ、3lはプライオリティレベル出力制御回路
、32、33はセレクタ、34はブライオリティマスク
回路で同じ<EFROMセルで構成されるものである。
FIG. 3 is a block diagram showing the detailed structure of the interrupt control circuit 13. In FIG. 3, 21 is a selector that selects an interrupt factor and an address bus, 22 is an interrupt priority sorting circuit constructed of EPROM cells, 23 is a selector, and 24 is a priority and a mask that masks the priority. The circuit includes a vector address decoder 25 that outputs a vector address, a selector 26, a data bus selector 27, a test mode controller 28, and a priority level decoder circuit 29 that decodes priority level 1, which is composed of EPROM cells. things, 30
31 is a selector, 3l is a priority level output control circuit, 32 and 33 are selectors, and 34 is a priority mask circuit, which are constructed of the same EFROM cells.

上記割込優先度ソート回路22、ブライオリティレベル
デコーダ回路29およびプライオリティマスク回路34
は設定手段35を構戒している。
The interrupt priority sorting circuit 22, priority level decoder circuit 29 and priority mask circuit 34
is guarding the setting means 35.

以上の構成において、各動作別に作用を説明する。In the above configuration, the effects of each operation will be explained.

道』出典匡 まず、外部よりEPROMセルで構成される設定手段3
5に割込レベル、プライオリティレヘル等を設定してお
く。具体的には、EPROMモードにおいて割込優先度
ソート回路22、プライオリティレベルデコーダ回路2
9およびプライオリティマスク回路34のEPROMセ
ルに予め上記データを書き込んでおく。次いで、割込処
理プログラムを動作させる。すなわち、リソース15a
−15nからの割込要求がアクティブになると、割込制
御回路13で上記設定された割込のみがアクティブとな
り、このときのプライオリティレベル、ベクタアドレス
がCPU12側へ出力され、割込処理が実行される。
First, setting means 3 consisting of EPROM cells from the outside.
Set the interrupt level, priority level, etc. to 5. Specifically, in the EPROM mode, the interrupt priority sorting circuit 22 and the priority level decoder circuit 2
The above data is written in the EPROM cells of 9 and the priority mask circuit 34 in advance. Next, the interrupt processing program is run. That is, the resource 15a
When the interrupt request from -15n becomes active, only the interrupt set above becomes active in the interrupt control circuit 13, the priority level and vector address at this time are output to the CPU 12, and the interrupt processing is executed. Ru.

具体的な割込制御回路l3の動作は次の通りである。各
割込要因は割込制御回路l3に入力されると、まず、セ
レクタ2lを経た後割込優先度ソート回路22によって
予め設定した割込優先度順に並び変えられる。そして、
割込優先度ソート回路22からの出力はセレクタ23を
介してマスク回路24に入力され、マスク回路24の出
力で初めてどの割込みが許可されたのかが判明する。許
可された割込みによりベククアドレスデコーダ25より
ベクタアドレスが出力し、一方、セレクタ26、プライ
オリティレベルデコーダ回路29、セレクタ3oを介し
てブライオリティレベル出力制御回路3lよりプライオ
リティレベルが出力する。また、ブライオリティレヘル
出力制御回路3lよりブライオリティレベルがセレクタ
33を介してブライオリティマスク回路34に人力され
、セレクタ32の出力によって現在入力された割込みよ
り強い割込要因以外を禁止状態とする。このようにして
割込み処理が行われる。
The specific operation of the interrupt control circuit l3 is as follows. When each interrupt factor is input to the interrupt control circuit l3, it first passes through the selector 2l and then is rearranged by the interrupt priority sorting circuit 22 in the order of interrupt priority set in advance. and,
The output from the interrupt priority sorting circuit 22 is input to the mask circuit 24 via the selector 23, and it is only from the output of the mask circuit 24 that it becomes clear which interrupt has been permitted. A vector address is output from the vector address decoder 25 by the permitted interrupt, and a priority level is output from the priority level output control circuit 3l via the selector 26, the priority level decoder circuit 29, and the selector 3o. Further, the priority level is input from the priority level output control circuit 3l to the priority mask circuit 34 via the selector 33, and the output of the selector 32 disables interrupt factors other than the currently input interrupt. Interrupt processing is performed in this manner.

孟2]」:二ソツ艷住 テストモードは割込制御回路13単体の機能チェックの
ために設けられているものである。リソース15a−1
5nからの割込要求信号と外部端子よりアドレスバス人
力を切り換えできるようにしておき、データバスよりC
PU12側へ出力されるヘクタアドレス、ブライオリテ
ィレベルをデータハスより外部へ出力させる。これによ
り、割込みの組み合わせチェックが短時間でかつ容易に
可能となり、しかも回路量の増加も少なくできる。
2] The two test mode is provided for checking the function of the interrupt control circuit 13 alone. Resource 15a-1
The interrupt request signal from 5n and the address bus can be switched manually from the external terminal, and the C from the data bus.
The hector address and priority level output to the PU 12 side are output from the data hash to the outside. This makes it possible to easily check the combination of interrupts in a short time, and also to reduce the increase in the amount of circuitry.

具体的には、次の通りである。まず、割込み優先度ソー
ト回路22、ブライオリティレへルデコーダ回路29お
よびプライオリティマスク回路34はEFROMセルの
マトリクスであり、EFROMモード時にこのセルに対
してリード/ライト可能である。ここで、EFROMモ
ード中にテストモードを設定することにより、IEPR
OM書き込み時のアドレスバス、データバスを利用し、
外部端子より直接割込動作をさせる。この場合のテスト
モードの手順は第4、5図のフローチャートで示される
Specifically, it is as follows. First, the interrupt priority sort circuit 22, the priority level decoder circuit 29, and the priority mask circuit 34 are a matrix of EFROM cells, and these cells can be read/written in the EFROM mode. Now, by setting test mode during EFROM mode, IEPR
Using the address bus and data bus when writing OM,
Interrupt operation is performed directly from an external pin. The test mode procedure in this case is shown in the flowcharts of FIGS. 4 and 5.

第4図はテスト1を示すもので、まず、P1でテストモ
ードに移行するための初期設定を行い、P2で割込優先
度ソート回路22の全出力をアクティブ状態とし、さら
にP3で外部からのアドレスバスよりプライオリティレ
ベルを擬似的に人力する。入力先はプライオリティレベ
ル出力制御回路3lとし、データバスからベクタアドレ
スデコーダ25の出力およびプライオリティレベル出力
制j卸回路31からのブライオリティレベルを出力させ
、P.でブライオリティレベルが期待値通りであるかを
チェソクし、その機能を検証する。次いで、P,でブラ
イオリティレベルが全てラストまで検証終了したか否か
を判別し、ラストでないときはP3に戻ってルーチンを
繰り返す。
Figure 4 shows test 1. First, P1 performs initial settings for transitioning to the test mode, P2 activates all outputs of the interrupt priority sorting circuit 22, and P3 activates external outputs. The priority level is artificially set manually from the address bus. The input destination is a priority level output control circuit 3l, which outputs the output of the vector address decoder 25 and the priority level from the priority level output control circuit 31 from the data bus. Check whether the priority level is as expected and verify its functionality. Next, at P, it is determined whether or not all priority levels have been verified to the last, and if they are not the last, the routine returns to P3 and is repeated.

第5図はテスト2を示すもので、まず、P I+で初期
設定を行い、p+2でブライオリティマスク回路34の
全出力をアクティブ状態とし、Pl3で外部からのアド
レスバスより割込要因信号を擬似的に入力する。入力先
はセレクタ2lより割込優先度ソート回路22とし、デ
ータバスからベクタアドレスデコーダ25の出力および
ブライオリティレヘル出力制御回路31からのプライオ
リティレヘルを出力させ、P.で優先度順位の機能を検
証する。Pl,では割込要因がラストまで検証終了した
か否かを判別し、ラストでないときはPI3に戻る。
FIG. 5 shows test 2. First, initial settings are made with PI+, all outputs of the priority mask circuit 34 are activated with p+2, and interrupt factor signals are simulated from the external address bus with PI3. type. The input destination is the interrupt priority sorting circuit 22 from the selector 2l, the output of the vector address decoder 25 and the priority level from the priority level output control circuit 31 are outputted from the data bus, and the P. Verify the priority order functionality. At PI, it is determined whether or not the verification of the last interrupt factor has been completed, and if it is not the last, the process returns to PI3.

以上のテスト機能を付加することにより、本発明の原理
説明で述べた如く、割込みの組み合わせチェソクを容易
でかつ短期間で行うことができる。
By adding the above test function, as described in the explanation of the principle of the present invention, it is possible to check combinations of interrupts easily and in a short period of time.

その結果、マイクロコントローラ11の使用範囲を拡げ
てユーザ仕様に短期間で応ずることができる。
As a result, the scope of use of the microcontroller 11 can be expanded to meet user specifications in a short period of time.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明によれば、割込要因の順位、レベル等を自由に設
定することができ、割込みに対してフレキシブルに対応
することができる。
According to the present invention, it is possible to freely set the order, level, etc. of interrupt factors, and it is possible to respond flexibly to interrupts.

また、割込の設定条件のテストが容易でかつそのテスト
時間を短くすることができ、本発明による割込制御回路
を含んだlチソプマイクロコントローラの使用範囲を拡
げて、短期間でユーザ仕様に応ずることができる。
In addition, it is easy to test the interrupt setting conditions and the test time can be shortened, expanding the scope of use of the Chiseop microcontroller that includes the interrupt control circuit according to the present invention, and enabling user specifications in a short period of time. can be met.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の原理説明図、 第2〜5図は本発明に係る割込制御回路の一実施例を示
す図であり、 第2図はその割込制御回路を適用した1チソプマイクロ
コントローラのブロソク図、 第3図はその割込制御回路の詳細な構或図、第4図はそ
のテストlの処理手順を示すフローチャート、 第5図はそのテスト2の処理手順を示すフローチャート
である。 1、3、5、2l、23、26、30、32、33・・
・・・・セレクタ、2・・・・・・EPROMセル(設
定手段〉、4・・・・・・論理回路、 11・・・・・・マイクロコントローラ、12・・・・
・・cpu, 13・・・・・・割込制御回路、 14・・・・・・cpuブロック、 15a−tsn・・・・・・リソース、16〜18・・
・・・・ボート、 22・・・・・・割込優先度ソート回路、24・・・・
・・マスク回路、 25・・・・・・ベクタアドレスデコーダ、27・・・
・・・データバスセレクタ、28・・・・・・テストモ
ードコントローラ、29・・・・・・プライオリテイレ
ベルデコーダ回路、31・・・・・・プライオリテイレ
ベル出力制御回路、34・・・・・・ブライオリテイマ
スク回路、35・・・・・・設定手段。 第 1 図 一実施例のテスト1の処理手順を示すフローチャート第 4 図
FIG. 1 is a diagram explaining the principle of the present invention, FIGS. 2 to 5 are diagrams showing an embodiment of the interrupt control circuit according to the present invention, and FIG. Figure 3 is a detailed diagram of the interrupt control circuit of the microcontroller, Figure 4 is a flowchart showing the processing procedure for test 1, and Figure 5 is a flowchart showing the processing procedure for test 2. be. 1, 3, 5, 2l, 23, 26, 30, 32, 33...
... Selector, 2 ... EPROM cell (setting means), 4 ... Logic circuit, 11 ... Microcontroller, 12 ...
...cpu, 13...interrupt control circuit, 14...cpu block, 15a-tsn...resource, 16-18...
...Boat, 22...Interrupt priority sorting circuit, 24...
...Mask circuit, 25...Vector address decoder, 27...
... Data bus selector, 28 ... Test mode controller, 29 ... Priority level decoder circuit, 31 ... Priority level output control circuit, 34 ... ... Briority mask circuit, 35... Setting means. 1. Flowchart showing the processing procedure of test 1 in the embodiment shown in FIG. 4.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 割込要求に応じてCPUの通常処理を中断させて割込処
理に移行させるとともに、 割込要求に対する割込レベル、プライオリティレベル等
を設定手段によって設定する割込制御回路において、 前記設定手段を、不揮発性の書換可能な記憶素子により
構成するとともに、 少なくとも該記憶素子のアドレスバス、データバスを外
部端子とし、該外部端子を用いて割込処理における設定
手段の内容をテスト可能なように構成したことを特徴と
する割込制御回路。
[Scope of Claims] An interrupt control circuit that interrupts normal processing of a CPU and shifts to interrupt processing in response to an interrupt request, and sets an interrupt level, priority level, etc. for the interrupt request by a setting means. , the setting means is constituted by a nonvolatile rewritable storage element, and at least an address bus and a data bus of the storage element are used as external terminals, and the contents of the setting means in interrupt processing are tested using the external terminals. An interrupt control circuit characterized in that it is configured to enable.
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