JPH035583B2 - - Google Patents

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JPH035583B2
JPH035583B2 JP56003254A JP325481A JPH035583B2 JP H035583 B2 JPH035583 B2 JP H035583B2 JP 56003254 A JP56003254 A JP 56003254A JP 325481 A JP325481 A JP 325481A JP H035583 B2 JPH035583 B2 JP H035583B2
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JP
Japan
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potential
voltage
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control
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JP56003254A
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Koki Kuroda
Koji Suzuki
Joji Nagahira
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Canon Inc
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Canon Inc
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Publication date
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Publication of JPH035583B2 publication Critical patent/JPH035583B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G15/00Apparatus for electrographic processes using a charge pattern
    • G03G15/50Machine control of apparatus for electrographic processes using a charge pattern, e.g. regulating differents parts of the machine, multimode copiers, microprocessor control
    • G03G15/5033Machine control of apparatus for electrographic processes using a charge pattern, e.g. regulating differents parts of the machine, multimode copiers, microprocessor control by measuring the photoconductor characteristics, e.g. temperature, or the characteristics of an image on the photoconductor
    • G03G15/5037Machine control of apparatus for electrographic processes using a charge pattern, e.g. regulating differents parts of the machine, multimode copiers, microprocessor control by measuring the photoconductor characteristics, e.g. temperature, or the characteristics of an image on the photoconductor the characteristics being an electrical parameter, e.g. voltage
    • GPHYSICS
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    • G03G15/00Apparatus for electrographic processes using a charge pattern
    • G03G15/06Apparatus for electrographic processes using a charge pattern for developing
    • G03G15/065Arrangements for controlling the potential of the developing electrode

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Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

[技術分野] 本発明は静電記録装置、特に帯電工程、露光工
程を経て感光体上に形成された帯電潜像を現像工
程を経て可視像にし静電記録を行う静電記録装置
に関する。 [従来技術] 従来、このような静電記録装置では感光体ない
し感光ドラムの状態に従つて得られる画像にかぶ
りが生じたりあるいは画像の濃度が低下し、適正
な濃度の画像が得られないという問題がある。こ
れを第1図、第2図を用いて説明する。 第1図は感光ドラムの表面電位と露光量の関係
を示す特性図である。図中、Aは常温常湿時の特
性、Bは高湿時の特性、Cは耐久時の特性をそれ
ぞれ示す。 特性Aで調整された画質は、特性Bではカブリ
易く特性Cでは濃度が低下しとび易くなる。これ
をユーザーが調整するためには露光ダイアルもし
くは現像バイアスと連動した画質切換スイツチ等
に依らざるを得ない。一般にこの再調整には帯電
量調整が必要となりユーザーには不可能である。
第2図は暗部・明部電位を測定し、その測定出力
で帯電電圧を制御した場合の電位と露光量の関係
を示す特性図である。図中、特性A,B,Cは第
1図と同様である。第2図の電位制御は第1図の
欠点を解消すべくとられた手段であるが、依然と
して特性Aと特性B,Cには差がある。そこで、
この特性差によるカブリ防止の手段として、さら
に白地電位を測定して現像バイアスを制御する方
式がとられている。ところが、この現像バイアス
制御方式を採用すると、画像が薄くなる現象が発
生する。その理由は第2図の特性Aにおいて標準
露光量Esで画像域外に配置された標準板を照射し
たとき感光体上に形成された電位はaであり、こ
の電位aを基準に現像バイアスが現像電極に印加
され、適正な画質が得られるように設定されたと
すると、特性Bの状態に変化したとき標準露光量
Esでの電位はbに上昇する。現像バイアスは電位
bを基準に印加されるので、暗部表面電位(第2
図中ED)と現像バイアス電位との差が縮まり、
カブリはないが、濃度の低い状態になる。逆に特
性Cの状態では電位はcに下降し、この電位cを
基準にして現像バイアスが印加されるので、特性
Aの場合よりは暗部表面電位と現像バイアス電位
との差が広がり濃度の高い画質となる。 この濃度差を補償するためには標準露光量Es
値を感光体の状態に対応して例えば特性Bの状態
ではE′s、特性Cの状態ではE″sに夫々変化させ
て、標準露光時の電位を一定化させなければなら
ないが、これを手動で行なうのは煩雑である。 [目的] 本発明は上記点に鑑みてなされたもので、その
目的とするところは、感光体の特性変動に拘らず
簡単な構成で適正濃度の画像を得ることが可能な
静電記録装置を提供することにある。 即ち、本発明は、記録体を一様に帯電する帯電
手段、前記帯電手段により帯電された記録体を露
光することにより前記記録体上に静電潜像を形成
する露光手段、前記記録体上に形成された静電潜
像を現像する現像手段、基準の白色を有する基準
白色部材、前記記録体の表面電位を検出する検出
手段、像形成前に前記検出手段の出力に基づいて
前記帯電手段、露光手段及び現像手段の動作条件
を決定する制御手段、を有し、前記制御手段は、
前記帯電手段を初期データに基づいて動作させ、
記録体の暗部電位を目標電位に収束させるべく前
記検出手段の暗部電位検出出力に応じて前記帯電
手段の動作電圧を決定するための帯電制御データ
を求め、次にこの帯電制御データに基づいて前記
帯電手段を動作させて前記記録体を帯電するとと
もに前記露光手段を初期データに基づいて、標準
光量で点灯させて前記基準白色部材を露光するこ
とにより前記記録体上にサンプル領域を形成し、
前記サンプル領域の明部電位を固定の目標電位に
収束させるべく、前記検出手段の明部電位検出出
力に対し予め設定された露光量−表面電位の相関
関係を示す近似式に従つて演算処理を行なうこと
により前記露光手段の動作電圧を決定するための
露光制御データを求め、次に求められた露光制御
データに基づいて前記露光手段を更に動作させ、
前記基準白色部材を更に露光して前記記録体上に
サンプル領域を形成し、かぶりのない現像バイア
ス電圧を設定するべく、前記検出手段から出力さ
れる前記サンプル領域の明部電位検出出力に対し
予め決められた演算式に従つて演算処理を行なう
ことにより前記現像手段に印加されるバイアス電
圧を決定するための現像制御データを求めること
を特徴とする静電記録装置を提供するものであ
る。 [実施例] 次に第3図〜第7図を参照して本発明の実施例
を詳細に説明する。 (画像形成装置の概略説明) 第3図には本発明に係る静電記録装置の概略構
成が図示されている。感光体ないし、感光ドラム
1は例えば表面より絶縁層、光導電層、導電層の
三層で構成されており、本体(図示せず)に軸1
aを中心にして矢印方向に回転可能に支持されて
いる。この感光ドラム1の周囲には回転方向に1
次帯電器2、2次帯電器3、全面露光ランプ4、
電位センサー7、現像器の現像ローラ5、転写帯
電器28、並びに前除電用帯電器29が配置され
ている。 帯電器29により各プロセスに先立ち前除電さ
れた感光ドラム1は1次帯電器2によつて全面が
均一に帯電された後、原稿露光ランプ11によつ
て照明された原稿10がミラー12,13を経て
感光ドラム1に露光される。このとき2次帯電器
3によつて原稿の画像に応じて除電され潜像が形
成されている。続いて全面露光ランプ4により全
面露光されたあと現像ローラ5によつてトナー現
像される。この現像ローラ5には後述するように
バイアス電圧が印加され画像の階調をすぐれたも
のにする。続いて転写帯電器28が作動し記録紙
(図示せず)への転写が行われる。 (帯電制御) 画像の記録に先立ちブランク露光ランプ6をオ
ンオフさせることにより感光ドラム1上に暗部電
位(以下VDという)、明部電位(以下VSLという)
を形成する。各電位は全面露光ランプ4と現像ロ
ーラ(現像電極)5間で感光ドラム1に対して配
置された表面電位センサ7で検知され電位測定回
路8でアナログ量で測定される。このようにして
測定された表面電位はA/D変換回路9によつて
デジタル量に変換されてマイクロコンピユータ
(以下MPCという)15内で処理される。MPC
15は明部電位と暗部電位がそれぞれ目標値に近
ずくように制御データをかける。このデータは
D/A変換回路16によつてアナログ量に変換さ
れて1次、2次電圧制御回路18,19に入力さ
れる。1次高圧制御回路18によつて1次高圧ト
ランス21が制御されそれによつて1次帯電器2
の帯電量が制御され、また2次高圧制御回路19
によつて2次高圧トランス22が制御されて2次
帯電器の帯電量が制御され、それぞれVSL,VD
目標値に近づくように調整される。 (露光制御) 続いて原稿10の画像域外に設けた標準白板
(図示せず)を照射し原稿露光ランプ11の露光
量が調整される。最初の照射はMPC15によつ
て出力された予じめ定められたデータをD/A変
換回路16でアナログ量に変換し光量制御回路1
7を介してランプレギユレータ14によつて調節
された点灯電圧を露光ランプ11に与えることに
よつて行われる。この第1回目の露光量による標
準白板からの反射光をミラー12,13を介し感
光体ドラム1上に導き、その表面に形成された白
地相当の電位(VL1)を、電位センサ7、電位測
定回路8を介して測定する。この測定電位はA/
D変換回路9によつてデジタルデータに変換され
たあとMPC15に導びかれ、そこで予め設定さ
れた露光量−表面電位の相関関係を示す近似式で
演算が行われる。その演算結果はD/A変換回路
16でアナログ量に変換され光量制御回路17を
介し白地電位が目標値になるようにランプレギユ
レータ14を駆動し露光ランプ11の露光量を調
節する。このVL1の測定及び測定出力による露光
量の調節を3回繰り返し、決定した露光量を感光
ドラムに照射し、照射された部分の表面電位VL2
を電位センサ7で測定する。(現像バイアス電圧
制御)この測定電位VL2をA/D変換回路9を経
てMPC15に入力する。MPC15は、これに基
づき例えば測定電位VL2に対して+100V印加する
様な演算処理を行う。この演算結果はD/A変換
回路16でアナログ値に変換されたあとDC現像
バイアス回路20を駆動し、適正な現像バイアス
が得られるように制御する。この現像バイアス制
御は、上記原稿露光制御を更に補正するものであ
る。すなわち原稿露光制御より白地電位を例えば
略零Vまで収束させてから現像バイアスを決定し
かぶりのない適正現像バイアスが得られるように
なる。 このDC現像バイアス制御回路20の出力はAC
現像バイアス制御回路23へ導びかれ、例えばピ
ーク−ピーク1300V、1KHzの交流バイアス電圧
が重畳される。この交流バイアスは画像の階調を
忠実に再現する機能を果す。DC現像バイアス制
御回路20、AC現像バイアス制御回路23より
得られた現像バイアス電圧は現像ローラ5の電極
に印加されジヤンピング現像によりトナー現像が
行われる。現像バイアスによるジヤンピング現像
についてはたとえば特開昭55−18656号を参照す
るとよい。 上述した制御動作は装置全体のシーケンスをつ
かさどる手段からの指示をMPC15が受けとり
たとえば第6図に図示されたような手順で行われ
る(後述)。 (前除電、転写制御) また前記プロセスに先立つ前除電工程及び現像
後の転写工程もそれぞれMPC15によつて制御
される。すなわちMPC15で処理されたデータ
がD/A変換回路16でアナログ値に変換された
あと、転写制御回路24、前除電制御回路25を
経てそれぞれ転写高圧トランス26、前除電高圧
トランス27が制御され帯電器28,29が調節
されて等倍時、変倍時の転写工程、除電工程が制
御される。 本発明では、このように感光体上の表面電位に
従つて画像形成条件を制御している。 (制御回路の説明) 次に第3図に図示した制御回路のさらに詳細を
第4図、第5図を参照して説明する。 MPC(マイクロコンピユータ)15は全体のシ
ーケンスを制御するマイクロコンピユータ(シー
ケンスコントローラ)15′により所定のシーケ
ンスに従つて制御信号DB0,DB1,DB2,
DB3,STROB、RESETを受けとりMPCチツ
プQ3内蔵の、ROMより定められた手順で上述
の演算処理を行う。またシーケンスコントローラ
15′からは1次高圧オン信号(HV−1)、2次
高圧オン信号(HV−2)、AC現像バイアスオン
信号(BIAS)が夫々、1次高圧制御回路18、
2次高圧制御回路19、AC現像バイアス制御回
路23に供給されそれぞれの高圧、AC現像バイ
アスの発生をオンオフする。なお各信号はそれぞ
れ抵抗R1とコンデンサC1によつてノイズがカ
ツトされその後段のインバータQ10でで反転さ
れてレベルシフトされてQ3の対応する入力に入
力される。 RESETはQ3の初期化を行う。DB0〜DB3
はこれらの信号の“H”“L”の組み合わせによ
つて表1に示す様な内容を示し、これをMPCが
判断し、処理を行う。従来では電位制御用マイク
ロコンピユータ15への入力はこのようにコード
化していないので、制御の複雑化に伴い信号線が
大幅に増加してしまう欠点があつた。本実施例で
は、4ビツトデータとして最大16通りの状態を指
定することができるので信号線を減少させること
ができる。
[Technical Field] The present invention relates to an electrostatic recording device, and particularly to an electrostatic recording device that performs electrostatic recording by converting a charged latent image formed on a photoreceptor through a charging process and an exposure process into a visible image through a developing process. [Prior Art] Conventionally, in such an electrostatic recording device, fogging occurs in the image obtained depending on the condition of the photoreceptor or photosensitive drum, or the density of the image decreases, making it impossible to obtain an image with an appropriate density. There's a problem. This will be explained using FIGS. 1 and 2. FIG. 1 is a characteristic diagram showing the relationship between the surface potential of a photosensitive drum and the amount of exposure. In the figure, A shows the characteristics at normal temperature and normal humidity, B shows the characteristics at high humidity, and C shows the characteristics during durability. The image quality adjusted with characteristic A is likely to be foggy with characteristic B, and the density is low and skipping is likely to occur with characteristic C. In order for the user to adjust this, he or she must rely on an exposure dial or an image quality changeover switch linked to the development bias. Generally, this readjustment requires adjustment of the amount of charge, which is impossible for the user.
FIG. 2 is a characteristic diagram showing the relationship between potential and exposure amount when dark and bright potentials are measured and the charging voltage is controlled using the measured output. In the figure, characteristics A, B, and C are the same as in FIG. Although the potential control shown in FIG. 2 is a means taken to eliminate the drawbacks shown in FIG. 1, there is still a difference between characteristic A and characteristics B and C. Therefore,
As a means of preventing fog caused by this difference in characteristics, a method has been adopted in which the white background potential is further measured and the developing bias is controlled. However, when this developing bias control method is adopted, a phenomenon occurs in which the image becomes thinner. The reason for this is that in characteristic A in Figure 2, when the standard plate placed outside the image area is irradiated with the standard exposure amount E s , the potential formed on the photoreceptor is a, and the developing bias is set based on this potential a. Assuming that the voltage is applied to the developing electrode and the settings are set to obtain appropriate image quality, when the state changes to characteristic B, the standard exposure amount
The potential at E s rises to b. Since the developing bias is applied based on the potential b, the dark area surface potential (second
The difference between E D in the figure and the developing bias potential is reduced,
There is no fog, but the density is low. Conversely, in the state of characteristic C, the potential drops to c, and the developing bias is applied based on this potential c, so the difference between the dark area surface potential and the developing bias potential is wider than in the case of characteristic A, resulting in a higher density. Image quality. In order to compensate for this density difference, the value of the standard exposure amount E s is changed depending on the state of the photoreceptor, for example, to E′ s in the state of characteristic B, and to E″ s in the state of characteristic C. Although it is necessary to stabilize the potential during exposure, it is troublesome to do this manually. [Objective] The present invention has been made in view of the above points, and its purpose is to stabilize the photoreceptor. It is an object of the present invention to provide an electrostatic recording device capable of obtaining images of appropriate density with a simple configuration regardless of characteristic fluctuations.That is, the present invention provides a charging means for uniformly charging a recording medium, and a charging means for uniformly charging a recording medium. an exposing means for forming an electrostatic latent image on the recording medium by exposing the recording medium charged by the recording medium; a developing means for developing the electrostatic latent image formed on the recording medium; a reference having a reference white color; a white member, a detection means for detecting the surface potential of the recording medium, and a control means for determining operating conditions of the charging means, exposure means, and development means based on the output of the detection means before image formation; The control means are
operating the charging means based on initial data;
In order to converge the dark potential of the recording medium to a target potential, charging control data for determining the operating voltage of the charging means is determined according to the dark potential detection output of the detecting means, and then, based on this charging control data, the forming a sample area on the recording medium by operating the charging means to charge the recording medium and exposing the reference white member by lighting the exposure means at a standard amount of light based on initial data;
In order to converge the bright area potential of the sample area to a fixed target potential, arithmetic processing is performed on the bright area potential detection output of the detection means according to an approximation formula indicating a preset exposure dose-surface potential correlation. obtaining exposure control data for determining the operating voltage of the exposure means, and then further operating the exposure means based on the obtained exposure control data;
The reference white member is further exposed to light to form a sample area on the recording medium, and in order to set a developing bias voltage without fogging, the bright area potential detection output of the sample area outputted from the detection means is set in advance. The present invention provides an electrostatic recording device characterized in that development control data for determining the bias voltage applied to the developing means is obtained by performing arithmetic processing according to a predetermined arithmetic expression. [Example] Next, an example of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 3 to 7. (Schematic Description of Image Forming Apparatus) FIG. 3 shows a schematic configuration of an electrostatic recording apparatus according to the present invention. The photoreceptor or photosensitive drum 1 is composed of three layers, for example, an insulating layer, a photoconductive layer, and a conductive layer from the surface, and a shaft 1 is attached to the main body (not shown).
It is supported so as to be rotatable in the direction of the arrow around a. Around this photosensitive drum 1, there is a
Secondary charger 2, secondary charger 3, full exposure lamp 4,
A potential sensor 7, a developing roller 5 of a developing device, a transfer charger 28, and a pre-discharge charger 29 are arranged. The entire surface of the photosensitive drum 1 is uniformly charged by the primary charger 2, and the entire surface of the photosensitive drum 1 is pre-neutralized by the charger 29 prior to each process.The original 10 illuminated by the original exposure lamp 11 is then placed on the mirrors 12, 13. After that, the photosensitive drum 1 is exposed to light. At this time, the charge is removed by the secondary charger 3 according to the image of the document, and a latent image is formed. Subsequently, the entire surface is exposed by a full-surface exposure lamp 4, and then toner is developed by a developing roller 5. A bias voltage is applied to the developing roller 5, as will be described later, to improve the gradation of the image. Subsequently, the transfer charger 28 is activated to perform transfer onto recording paper (not shown). (Charging control) Prior to recording an image, by turning on and off the blank exposure lamp 6, a dark area potential (hereinafter referred to as V D ) and a light area potential (hereinafter referred to as V SL ) are set on the photosensitive drum 1.
form. Each potential is detected by a surface potential sensor 7 disposed with respect to the photosensitive drum 1 between the entire surface exposure lamp 4 and the developing roller (developing electrode) 5, and is measured as an analog quantity by a potential measuring circuit 8. The surface potential thus measured is converted into a digital quantity by the A/D conversion circuit 9 and processed within the microcomputer (hereinafter referred to as MPC) 15. M.P.C.
15 applies control data so that the bright area potential and the dark area potential approach their respective target values. This data is converted into an analog quantity by the D/A conversion circuit 16 and inputted to the primary and secondary voltage control circuits 18 and 19. The primary high voltage transformer 21 is controlled by the primary high voltage control circuit 18, thereby controlling the primary charger 2.
The amount of charge of the secondary high voltage control circuit 19 is controlled.
The secondary high-voltage transformer 22 is controlled by the secondary charger to control the amount of charge of the secondary charger, and each of V SL and V D is adjusted so as to approach the target value. (Exposure Control) Next, a standard white plate (not shown) provided outside the image area of the original 10 is irradiated, and the exposure amount of the original exposure lamp 11 is adjusted. For the first irradiation, predetermined data outputted by the MPC 15 is converted into an analog quantity by the D/A conversion circuit 16, and the light quantity control circuit 1
This is done by applying a lighting voltage regulated by the lamp regulator 14 to the exposure lamp 11 via the lamp regulator 7 . The reflected light from the standard white plate due to this first exposure amount is guided onto the photosensitive drum 1 via mirrors 12 and 13, and the potential (V L1 ) corresponding to the white background formed on the surface is detected by the potential sensor 7. The measurement is performed via the measurement circuit 8. This measured potential is A/
After being converted into digital data by the D conversion circuit 9, it is led to the MPC 15, where calculations are performed using an approximation formula indicating the correlation between the exposure amount and the surface potential set in advance. The calculation result is converted into an analog quantity by the D/A conversion circuit 16, and the lamp regulator 14 is driven via the light quantity control circuit 17 to adjust the exposure quantity of the exposure lamp 11 so that the white ground potential becomes a target value. This measurement of V L1 and adjustment of the exposure amount based on the measurement output are repeated three times, the determined exposure amount is irradiated onto the photosensitive drum, and the surface potential of the irradiated portion is V L2
is measured by the potential sensor 7. (Development bias voltage control) This measured potential V L2 is input to the MPC 15 via the A/D conversion circuit 9. Based on this, the MPC 15 performs calculation processing such as applying +100V to the measured potential V L2 , for example. This calculation result is converted into an analog value by the D/A conversion circuit 16, and then the DC developing bias circuit 20 is driven to control the DC developing bias circuit 20 so that an appropriate developing bias can be obtained. This developing bias control further corrects the original exposure control described above. That is, by controlling the exposure of the original, the white background potential is converged to, for example, approximately zero V, and then the developing bias is determined, so that an appropriate developing bias can be obtained. The output of this DC developing bias control circuit 20 is AC
The developing bias control circuit 23 superimposes an AC bias voltage of, for example, 1300 V peak-to-peak and 1 KHz. This alternating current bias functions to faithfully reproduce the gradation of an image. The developing bias voltage obtained from the DC developing bias control circuit 20 and the AC developing bias controlling circuit 23 is applied to the electrode of the developing roller 5, and toner development is performed by jumping development. Regarding jumping development using a developing bias, see, for example, Japanese Patent Application Laid-open No. 18656/1983. The above-mentioned control operation is performed by the MPC 15 receiving an instruction from a means for controlling the sequence of the entire apparatus, for example, in accordance with the procedure shown in FIG. 6 (described later). (Pre-electrostatic elimination, transfer control) The pre-electrostatic elimination step preceding the above process and the transfer step after development are also controlled by the MPC 15, respectively. That is, after the data processed by the MPC 15 is converted into an analog value by the D/A conversion circuit 16, the transfer high-voltage transformer 26 and the pre-static discharge high-voltage transformer 27 are controlled through the transfer control circuit 24 and the pre-static discharge control circuit 25, respectively, and are charged. The devices 28 and 29 are adjusted to control the transfer process and the static elimination process at equal magnification and variable magnification. In the present invention, image forming conditions are thus controlled according to the surface potential on the photoreceptor. (Description of Control Circuit) Next, further details of the control circuit shown in FIG. 3 will be described with reference to FIGS. 4 and 5. The MPC (microcomputer) 15 sends control signals DB0, DB1, DB2,
It receives DB3, STROB, and RESET and performs the above-mentioned arithmetic processing according to the procedure determined by the ROM built in MPC chip Q3. Further, from the sequence controller 15', a primary high voltage ON signal (HV-1), a secondary high voltage ON signal (HV-2), and an AC developing bias ON signal (BIAS) are sent to the primary high voltage control circuit 18,
It is supplied to the secondary high voltage control circuit 19 and the AC developing bias control circuit 23 to turn on and off the generation of the respective high voltage and AC developing bias. Note that each signal has its noise removed by a resistor R1 and a capacitor C1, is inverted and level-shifted by an inverter Q10 at the subsequent stage, and is input to the corresponding input of Q3. RESET initializes Q3. DB0~DB3
The combination of "H" and "L" of these signals indicates the content shown in Table 1, which is judged by the MPC and processed. In the past, the input to the potential control microcomputer 15 was not coded in this way, which had the disadvantage that the number of signal lines increased significantly as the control became more complex. In this embodiment, a maximum of 16 states can be specified as 4-bit data, so the number of signal lines can be reduced.

【表】 なお表1においてDBONはDC現像バイアス制
御回路20をオンさせることを意味し、FDB
ONは非現像時にトナーの感光ドラム1への付着
を防止するため約+400VのDCバイアス電圧を発
生させることを示し、LSTR ONは後回転時の
弱2次電圧出力のオンを指定するデータであり、
VDTSは暗部電位VDを電位センサが測定している
ことを示す測定タイミング信号、VSLTSは明部電
位VSLの測定タイミング信号、VL1TSは標準白色
板照射による電位VL1の測定タイミング信号、
VL2は電位VLに基づき所定の特性に応じて求めら
れた露光量によつて標準白色板照射による表面電
位VL2の測定タイミング信号をそれぞれ示す。ま
た×1、×0.7は等倍、変倍時の指定データであ
る。 Q3はA10〜A13に入力される表1のデー
タに従つて現在測定している電位が明部電位
(VSL)か、暗部電位(VD)か、標準白色板照射
による電位(VL1)か等を判断して後述の表面電
位A/D変換データを取り込み、所定の演算処理
を行ないその結果を一次高圧制御値、二次高圧制
御値、光量制御値、直流現像バイアス制御値とし
てDO0〜DO3を介してD/A変換回路16の
D/A変換器Q1へ出力する。又J2のピン1〜
2(CCC)、ピン3〜4(HLC)、ピン5〜6
(DBC)を各々シヨートすることで、前記制御値
の如何にかかわらず、一次、二次帯電器2,3に
基準電流を流すような値を、又原稿照明ランプ1
1の基準点燈電圧値を、更に、直流現像バイアス
基準値をD/A変換器Q1へ出力することも可能
となつている。 (A/D変換) たとえば詳細には特開昭55第142363号に記載さ
れたような表面電位センサ7、電位測定回路8に
よつて測定された表面電位はJ3のピン4
(POTENTIAL)に入力される。更に抵抗R2
を介してオペアンプQ2の反転入力端子に入力さ
れ抵抗R1とR2の比で定まる利得で反転増幅さ
れる。Q2の非反転入力端子には抵抗R3を介し
て+12Vの電源電圧をR4,VR1,R5で分割
して得られる約+6Vのバイアスが与えられる。
VR1により測定電位のレベル調整を行うことが
できる。又コンデンサC3,C4,C5は雑音除
去用に入れられている。Q2出力には測定表面電
位に応じて約9V〜14Vまで変化する電圧があら
われる。この低インピーダンス信号はオペアンプ
Q4,Q5,Q6等で構成されるA/D変換回路
9のA/D変換部へ入力される。Q3からのA/
Dスタート信号はQ3のピン15から出力されて
いて通常“H”となつている。従つてインバータ
Q7出溶は“L”となりFETQ8のゲートソース
間は零バイアスとなりQ8のソースドレイン間は
導通しオペアンプQ6の出力は所定基準値(A/
Dスタート時の電圧)になつている。 ここでQ4出力をR6を介してQ6の非反転入
力に付与される電圧が、Q6出力をR7,R8で
分割した値となる様に設定されている。Q4はそ
の為の基準電圧を発生させる為のものであり12V
をR10,R9で分割したものをQ4でバツフア
リングして得ている。Q5の非反転入力端には、
Q6出力がR11を介して入力され、又反転入力
端には測定電位相当電圧がR12を介して入力さ
れている。Q5は比較回路を構成し、A/D変換
開始以前には、反転入力側が非反転入力側よりも
高い電圧となつているので、Q5出力は約0Vと
なる。Q5出力はZD1でレベルシフトされインバ
ータQ9に入力される。この場合Q9はオフし、
出力は“H”となつている。この信号はマイクロ
コンピユータQ3へA/D終了パルスとして与え
られる。A/Dの開始は本体のシーケンスコント
ローラ15′からのSTROB信号の“H”→“L”
により行われる。STROB信号が変化するとその
時のDB0〜DB3の組み合わせに応じて、A/
D変換を行う電位がいかなる状態の測定電位かを
Q3は判定するとともに、A/Dスタート信号
(端子EO0)を“H”→“L”へかえる。従つて
Q7はオフしQ8ゲートにはQ4出力基準電圧が
抵抗R13を介して与えられ、Q8のソース−ド
レイン間がオフする。Q6の非反転入力には抵抗
R6を介してQ4出力電圧が与えられているの
で、Q8がオフするとQ6出力とコンデンサC
8、抵抗R8の積分ループが構成され、Q6出力
は所定基準電圧を初期電圧としてA/Dスタート
信号が反転し、Q8が導通するまでR8を流れる
電流が直線的にコンデンサC8を充電する。Q8
が導通するとC8に蓄えられた電荷がR7を介し
て放電し、Q6出力は急速に基準電圧まで下が
る。 A/Dスタート信号により、上述の如く積分が
開始された後一定時間後にQ3は計数を開始す
る。計数は、Q6出力が直線的に上昇し、比較器
Q5の非反転入力が反転入力を越すまで行われ
る。その値を越すとQ5出力は状態を反転し、イ
ンバータQ9はオンしQ9出力は“L”となる。
この状態をQ3は計数終了として判定しA/D変
換が終了する。終了時点でQ3はQ7へ与えられ
るA/Dスタートパルスを反転し、Q8を導通さ
せて上述の如くQ6出力は急速に基準電圧まで下
がる。Q3内部では、計数値をDB0〜DB3で
指定される各測定電位のA/D変換データとして
後述のフローチヤートに従つて所定処理を行な
う。DB0〜DB3,STROBに各々R1,C1に
より構成された積分回路で雑音除去されインバー
タQ10を介してマイクロコンピユータQ3へ入
力されている。 (マイクロコンピユータの入出力信号) Q3は本実施例ではNMOS1チツプ4ビツトマ
イクロコンピユータ(MN1400)を用いている。
Q3の各端子には下の表2の様な信号が入力又は
出力されている。
[Table] In Table 1, DBON means turning on the DC developing bias control circuit 20, and FDB
ON indicates that a DC bias voltage of approximately +400V is generated to prevent toner from adhering to the photosensitive drum 1 during non-development, and LSTR ON is data that specifies turning on the weak secondary voltage output during post-rotation. ,
V D TS is the measurement timing signal indicating that the potential sensor is measuring the dark potential V D , V SL TS is the measurement timing signal of the light potential V SL , and V L1 TS is the measurement timing signal of the potential V L1 due to standard white plate irradiation. measurement timing signal,
V L2 indicates a timing signal for measuring the surface potential V L2 by irradiating a standard white plate with an exposure amount determined according to a predetermined characteristic based on the potential V L. Also, ×1 and ×0.7 are specified data for equal magnification and variable magnification. Q3 is whether the potential currently being measured is the light area potential (V SL ), the dark area potential (V D ), or the potential due to standard white plate irradiation (V L1 ) according to the data in Table 1 input in A10 to A13. The surface potential A/D conversion data described below is taken in, and the results are used as the primary high voltage control value, secondary high voltage control value, light amount control value, and DC developing bias control value. It is output to the D/A converter Q1 of the D/A conversion circuit 16 via DO3. Also, pin 1 of J2
2 (CCC), pins 3-4 (HLC), pins 5-6
(DBC), regardless of the above-mentioned control value, a value that causes the reference current to flow through the primary and secondary chargers 2 and 3, and the original illumination lamp 1 is set.
It is also possible to output the reference lighting voltage value of 1 and the DC developing bias reference value to the D/A converter Q1. (A/D conversion) For example, in detail, the surface potential measured by the surface potential sensor 7 and potential measuring circuit 8 as described in JP-A-55-142363 is
(POTENTIAL) is input. Furthermore, resistance R2
The signal is inputted to the inverting input terminal of the operational amplifier Q2 via the inverter and is inverted and amplified with a gain determined by the ratio of the resistors R1 and R2. A bias of approximately +6V obtained by dividing the +12V power supply voltage by R4, VR1, and R5 is applied to the non-inverting input terminal of Q2 via a resistor R3.
The level of the measured potential can be adjusted by VR1. Further, capacitors C3, C4, and C5 are provided for noise removal. A voltage varying from about 9V to 14V appears on the Q2 output depending on the measured surface potential. This low impedance signal is input to an A/D converter section of an A/D converter circuit 9 including operational amplifiers Q4, Q5, Q6, and the like. A/ from Q3
The D start signal is output from pin 15 of Q3 and is normally at "H". Therefore, the output voltage of inverter Q7 becomes "L", and zero bias is applied between the gate and source of FET Q8, and conduction occurs between the source and drain of Q8, and the output of operational amplifier Q6 reaches the predetermined reference value (A/
D voltage at start). Here, the voltage applied to the Q4 output via R6 to the non-inverting input of Q6 is set to be a value obtained by dividing the Q6 output by R7 and R8. Q4 is for generating the reference voltage for that purpose and is 12V.
is divided by R10 and R9 and then buffered by Q4. At the non-inverting input terminal of Q5,
The Q6 output is inputted via R11, and the voltage equivalent to the measurement potential is inputted to the inverting input terminal via R12. Q5 constitutes a comparison circuit, and before the start of A/D conversion, the inverting input side is at a higher voltage than the non-inverting input side, so the Q5 output is approximately 0V. The output of Q5 is level-shifted by Z D1 and input to inverter Q9. In this case, Q9 is turned off,
The output is "H". This signal is applied to microcomputer Q3 as an A/D termination pulse. The A/D starts when the STROB signal from the main unit's sequence controller 15' goes from "H" to "L".
This is done by When the STROB signal changes, A/
Q3 determines in what state the measured potential is for D conversion, and changes the A/D start signal (terminal EO 0 ) from "H" to "L". Therefore, Q7 is turned off, the Q4 output reference voltage is applied to the Q8 gate via the resistor R13, and the source-drain region of Q8 is turned off. Since the Q4 output voltage is applied to the non-inverting input of Q6 via the resistor R6, when Q8 is turned off, the Q6 output and capacitor C
8. An integral loop of resistor R8 is formed, and the output of Q6 uses a predetermined reference voltage as an initial voltage, and the A/D start signal is inverted, and the current flowing through R8 linearly charges capacitor C8 until Q8 becomes conductive. Q8
When Q6 becomes conductive, the charge stored in C8 is discharged through R7, and the output of Q6 rapidly drops to the reference voltage. Q3 starts counting after a certain period of time after integration is started as described above by the A/D start signal. Counting is performed until the Q6 output rises linearly and the non-inverting input of comparator Q5 exceeds the inverting input. When this value is exceeded, the Q5 output reverses its state, inverter Q9 is turned on, and the Q9 output becomes "L".
Q3 determines this state as the end of counting, and the A/D conversion ends. At the end, Q3 inverts the A/D start pulse applied to Q7, makes Q8 conductive, and the Q6 output rapidly drops to the reference voltage as described above. Inside Q3, predetermined processing is performed according to the flowchart described later, using the counted value as A/D conversion data of each measured potential specified by DB0 to DB3. Noise is removed from DB0 to DB3 and STROB by an integrating circuit formed by R1 and C1, respectively, and the signal is input to the microcomputer Q3 via an inverter Q10. (Input/output signals of microcomputer) Q3 uses an NMOS 1 chip 4-bit microcomputer (MN1400) in this embodiment.
Signals as shown in Table 2 below are input or output to each terminal of Q3.

【表】【table】

【表】 J2のピン1〜2、3〜4、5〜6の開閉によ
りQ3の端子B10,B11,B12に与える
“H”、“L”信号で前述の様に高圧一次、二次、
光量、直流現像バイアスを制御値と標準値に切り
換えを行なうことが可能になるとともに、コピー
動作スタンバイ中には端子B13を“L”にする
と“H”、“L”の組み合わせで表3の様な各表示
内容を、発生させ、これをQ3の端子CO6,CO
7,CO8,CO9,DO0,DO1,DO2,DO3
に接続される発光ダイオードLED2−1,2−
2,2−3,2−4,LED1−1,1−2,1
−3,1−4の8ビツトで表示することができる
(DMSモード)。 特に1次、2次電流値は各々LED1−1〜4,
LED2−1〜4の4ビツトで表わされ、4ケの
LEDが全部点灯すれば各々電流値がリミツタ値
になつた事を示す。
[Table] As mentioned above, high voltage primary, secondary,
It is possible to switch the light intensity and DC developing bias between the control value and the standard value, and when the terminal B13 is set to "L" during copy operation standby, the combination of "H" and "L" will be changed as shown in Table 3. Generate each display content and send it to terminals CO6 and CO of Q3.
7, CO8, CO9, DO0, DO1, DO2, DO3
Light emitting diode LED2-1,2- connected to
2, 2-3, 2-4, LED1-1, 1-2, 1
Can be displayed in 8 bits -3, 1-4 (DMS mode). In particular, the primary and secondary current values are LED1-1~4, respectively.
It is represented by 4 bits of LED2-1 to 4.
If all the LEDs light up, it indicates that the current value has reached the limiter value.

【表】【table】

【表】 又、上記スタンバイ中の表示内容とは別に、演
算処理中にもLED2−1〜4を用いて次に示す
内容をユーザに報知することも可能としている。 すなわちLED2−1は1次又は2次電流制御
値が上限に達した時に点灯、LED2−2は明
部・暗部電位差(コントラスト)が400V以下の
時点灯、LED2−3はコントラストが500V以下
の時点灯、LED2−4はシーケンスコントロー
ラ15′からDB0〜3を介して送られてくるデ
ータの正常/異常を判定する為に用いられる。こ
れは前掲の表1に示す、送られてくるデータ4ビ
ツトの組み合わせの中の互いにコンプリメントな
データVDTS,VSLTSに着目し、1方のデータが
入つてきた時にLED2−4を消灯する様にプロ
グラムされている。正常の場合は、コピー全体の
シーケンス上の要請からVSLTS,VDTSが数回繰
り返してQ3へ与えられるのでLED2−4は点
滅を繰り返す。データラインが断線したりインバ
ータQ10の不良等で送られてくるデータが異常
になつた場合は、正常の場合のLED点滅順序が
くずれることになり、正常/異常の判定が可能と
なる。 Q3用のクロツクは、トランジスタQ11とセ
ラミツク発振子CR1を用いた発振回路で得てい
る。Q11コレクタに生ずる発振信号をトランジ
スタQ12でパルス整形し、本実施例に於ては
495KHzのクロツクとしてQ3へ与えている。又、
本発明ではコネクタJ4を介して、前述のDMS
モード用端子とともに、J3の4ピン(測定回路
から供給せられる測定電位信号ライン)にR16
を介して接続された端子とを同時にワンタツチで
GNDへ接続できる構成になつている。その為何
らの補助手段なく電圧制御回路を搭載した基板の
みで、前述のA/D変換部のレベル調整を可能と
した。すなわち、J4の1ピン〜4ピンのすべて
を接続すれば、表面電位Ov相当電圧がA/D変
換部へ供給される一方、表3のDMSモードすな
わちJ2のすべての端子をオープンしておくと、
Ov相当の表示がLED1〜2に表われるので、所
定ビツト表示になる様にVR1を調整すればよ
い。 (D/A変換) Q3とD/A変換器Q1は4ビツトデータライ
ン(DA0〜DA3入力)及びQ1制御用ライン
(LDI入力)の計5本のラインで接続される。Q
3はLDI端子への信号の立ち上がりにおいて、Q
1に対して、D/A変換すべきデータが一次電流
制御データか、二次電流制御データか、光量制御
データかDC現像バイアス制御データかをDA0
〜DA3へ与える信号4ビツトを用いて指定す
る。又Q1はLDI端子への信号の立ち下がりで、
DA0〜DC3へのデータを実際の制御データ4
ビツト分として内部へラツチする。例えばこの動
作を2回繰り返せば8ビツト分のデータがQ1内
にラツチされる。Q1はコンデンサC19,C2
0,C21、抵抗R15、コイルL1により発振
するクロツクにより計数される、4ビツト、6ビ
ツト、12ビツトのバイナリーカウンタを含んでい
て、DA0〜DA3へ送られたデータとの一致検
出を行ない、入力データに比例したデユーテイ比
を有するパルスとしてDAC1〜4に出力する。 DAC1は12ビツトカウンタとの一致検出出力
に、DAC2は6ビツトカウンタとの一致検出出
力に、またDAC3,4は4ビツトカウンタとの
一致検出出力に接続されているので、それぞれの
分解能の出力が得られる。 又Q1は内部に拡張ポート機能を有し、DA0
〜DA3へのデータによつてポートをON/OFF
できる。本実施例ではQ1のPO1を用いてこの
ON/OFFとDAC3出力をそれぞれ対応する抵
抗R13を介して合成しDAC3出力4ビツト相
当を5ビツト相当まで分解能をあげている。この
様にすることで、DAC3出力につながれるDC現
像バイアス制御回路の精度を向上させた。 又、PO8のON/OFFにより後述の転写及び
前除電用高圧出力電流値の等倍コピー時と変倍コ
ピー時の切り換えを可能とした。 DAC1〜4,PO1,PO8はオープンドレイ
ン出力であるので各々プルアツプ抵抗を介して
12Vにプルアツプされたパルス出力となる。
DAC1〜4パルスは抵抗R13とコンデンサC
22からなるRC積分回路により積分されアナロ
グ電圧となる。 DAC4の出力はR13とC22で積分され、
端子P105に光量制御電圧として現われる。こ
の電圧は光量制御回路17の反転増幅回路Q14
(第5図参照)で約13.6V〜16Vの幅で変化するラ
ンプレギユレータへの制御電圧として端子P10
3に取り出され、J1の2ピンを介して、第3図
のランプレギユレータ14に導かれ原稿露光ラン
プ11の点灯電圧を制御する。 DAC1出力はパルス幅変調型12ビツトD/A
出力で、R13,C22及びR17,C23によ
り構成される2次フイルタにより積分され端子P
106を経て1次高圧制御回路18のオペアンプ
Q15に入力され(第5図参照)、R18〜R2
1による抵抗網を経て所定の電圧幅の1次高圧制
御電圧値として取り出され、オペアンプQ16を
中心に構成される1次高圧制御回路へ入力され
る。本実施例ではDAC1の出力パルスは1周期
のパルス幅が約3msあるので、高速応答と平滑
効率を向上させるためR13とC22による積分
とR17,C23による積分を行い積分回路を2
段構成にしている。 一方DAC2出力は対応するR13,C22に
より積分され端子P107を経てオペアンプQ1
7によつてバツフアされ抵抗R22〜R25によ
る抵抗網で所定電圧幅の2次高圧制御電圧値とし
て取り出されオペアンプQ18を中心に構成され
る二次高圧制御回路に入力される。 またDAC3出力は、対応するR13,C22
で積分され端子P108に現われる。この端子に
はさらにPO1出力が抵抗R13を経て現われ、
両電圧が合成される。この合成電圧は本実施例で
は、白地電位(VL2+100V)の1/50に選ばれ、
DC現像バイアス制御電圧として取り出され、抵
抗R70を経てDC現像バイアス制御回路20の
オペアンプQ19の非反転入力に入力される(第
5図)。 Q19の反転入力端子にはR71〜74の抵抗
網によるDC現像バイアス値の1/50がR27を介
して与えられている。Q19は高利得差動増幅器
である。DC現像バイアス制御電圧とR71のR
72接続点は同電位となる様に閉ループが構成さ
れており、DC現像バイアス電圧は高精度に制御
電圧に追従する。 Q19出力はQ20,Q21から成る電流ブー
スタを介してインバータトランスT1の中点に加
えられる。このQ19出力によつて発振出力の変
化する可変出力インバータとトランスT2による
固定出力インバータ部分の組み合わせにより上記
直流現像バイアス値を得る。 可変出力インバータはトランジスタQ22,Q
23による自励発振インバータで、Q22,Q2
3が交互にオン・オフをくりかえし、1次側の誘
起電圧がT1の中点に加わるDC現像バイアス制
御電圧に応じてT1の巻き線比で決まる2次側電
圧に昇圧されD30によりにより半波整流された
のち、C38で平滑され、DC現像バイアス値と
してR28を介して、J5の1ピンから第3図の
AC現像バイアス制御回路23へDC重畳分として
印加される。一方固定出力インバータはT2の1
次側の中点に一定値24Vが印加されており、T2
の巻線比に応じた2次高圧出力をD31,C41
で整流平滑することで負の高圧直流電圧例えば−
600Vを得る。この電圧を抵抗R30〜35を用
いて分圧され前記可変出力インバータ出力に負の
直流バイアスとして重畳し、DC現像バイアス電
圧は、制御電圧に対応して正から負まで直線的に
変化する。固定出力インバータ部では、前記高圧
固定出力の他に電位制御回路に用いる−5V電源
用、表面電位測定回路への24V、40Vのフローテ
イング電源、−600V高圧出力等をも1つのトラン
スで得るようにしている。 (高圧制御) 次に帯電器2,3に対する高圧制御について述
べる。Q16の反転入力にはR40を介して上述
した一次高圧制御電圧が入力される。またQ16
の非反転入力には一次高圧電流を抵抗RS1でサ
ンプルして得られた一次高圧出力パルスをR4
1,R42,VR3でレベルシフトした電圧がR
43を経て入力される。これらの差電圧は−
R44/R40倍されてQ16より出力される。この
出力電圧は抵抗R45を経てトランジスタQ24
により電流増幅され、それにより1次高圧電圧と
して取り出され、J6の端子2を経て1次高圧ト
ランス21の制御入力に入力される。端子P10
1を経てJ1へ与えられるHV−1信号が“H”
のときはLED−4は点灯せずまたダイオードD
10は逆バイアスになりダイオードD11はオン
し、トランジスタQ36がオンしているので、1
次高圧トランス21は動作しない。HV−1信号
が“L”となるとLED−4が点灯しD10が順
バイアスとなりD11がオフしQ36がオフする
のでQ16の出力がそのままQ24のベースに入
力され1次高圧トランス21がオンし1次高圧ト
ランスの制御が可能になる。 高圧負荷の変動で例えばRS1への電流が減少
するとRS1による電圧降下が少なくなりVR3中
点の電圧は上昇する。従つてQ16出力は上昇
し、高圧トランスの出力を増加させRS1へ流れ
る電流を増加させる方向となる。すなわちR40
に与えられる電圧に応じて定電流高圧制御がなさ
れる。同様な構成は2次帯電器3、転写帯電器2
8、前除電器29の各高圧制御にも用いられる。
ここで1次高圧トランスからの帰還ループがオー
プンになると、Q16の出力は最大値となり、1
次高圧が最大になつてしまうのでループオープン
時にダイオードD12をオンすることでトランジ
スタQ36をオンして高圧出力を阻止することが
できる。 2次帯電高圧制御電圧はR46を介してQ18
非反転入力へ与えられる。反転入力へは、2次高
圧電流を抵抗RS2でサンプルして得た2次高圧サ
ンプル電圧値をR47,R48,VR4でレベル
シフトした電圧がR49を介して与えられる。こ
れらの差電圧はR50/R49倍されてQ18より出
力される。この出力電圧はR51を介してQ25
により電流増幅された2次高圧制御電圧として取
り出されJ6の端子4を経て2次高圧トランス2
2の制御入力へ与えられる。J1へ与えられる
HV−2信号が“H”の時はLED−5は点灯せず
D9は逆バイアスされインバータQ26はONす
るので、Q18出力が高圧トランスへは伝わら
ず、高圧トランスはOFFである。HV−2信号が
“L”になると、LED−5は点灯し又D9は順バ
イアスになりQ26はオフするのでQ18出力
が、そのままQ25ベースへ与えられ2次高圧ト
ランス22がONし2次高圧トランスの制御が可
能となる。 転写高圧制御については通常等倍のコピーモー
ドの時はQ1のPO8は“H”である様に設定さ
れているので、Q28出力は“L”となり、端子
P104を経てR52とR53の並列抵抗とR5
4によつて12Vを分圧した電圧がR55を介して
Q29の反転入力側に与えられる。 一方非反転側には、転写電流をRS3でサンプ
ルした電圧をR56,R57でレベルシフトした
電圧がR58を介して与えられ、この両者が等し
くなる様にQ29出力が設定される。すなわちト
ランジスタQ30を介してI6の端子6を経て転
写高圧トランス26が駆動され転写高圧が制御さ
れる。変倍時には、PO8が“L”に切り換わり、
Q28はオフしQ29の反転入力にはR54とR
53で12Vを分圧した電圧がR55を介して与え
られる。この電圧は等倍時よりもRS3を流れる
転写電流の等倍時から変倍時への変化の割合に応
じて増加するように設定されているので、Q29
出力は減少し、変倍時の所定転写電流がRS3に
流れる様に転写高圧制御が行われる。 前除電用高圧制御については、通常の等倍コピ
ー時には前述の如くQ1のPO8が“H”になつ
ているので端子P104を経てQ31出力は
“L”になり、従つてQ32出力は“H”になつ
ている。ゆえに、18VをR61とR61で分圧し
た電圧がR62を介してQ33の非反転入力に与
えられている。一方反転入力には前除電電流を
RS4でサンプルした電圧をR63,R64でレ
ベルシフトした電圧がR65を介して与えられて
いる。この両者が等しくなる様にQ33出力が定
まり、R66を介してトランジスタQ34がドフ
イブされ前除電高圧が制御される。 変倍時には、前述の如くPO8が“L”になる
のでQ31出力は“H”でQ32はオンする。従
つてR67とR62の並列抵抗とR60で+18V
を分圧した電圧がR62を介してオペアンプQ3
3の非反転入力に与えられる。この電圧は等倍時
よりもRS4を流れる転写電流の等倍時から変倍
時への変化の割合に応じて減少するように設定さ
れているのでQ33出力は減少し変倍時の所定前
除電電流がRS4に流れる様に前除電高圧制御が
行われる。転写高圧と前除電高圧のオン/オフに
ついては、一次高圧のオン/オフと同期して行わ
れる様に構成される。すなわちJ1の5ピンへ与
えられるHV−1信号が“H”時は端子P101
を経てD16が逆バイアスになりD17がオンし
Q35もオンする。従つてD20,D21が順バ
イアスとなり、各々Q30,Q34のベースを略
0.7Vにクランプするので高圧トランス側へは制
御電圧は伝わらず転写・前除電高圧はオフ状態と
なる。HV−1信号が“L”になると、D16が
順バイアスになりD17がオフし、Q35もオフ
するので、各々Q29,Q33出力によりQ3
0,Q34がドライブされ、転写・前除電高圧が
オン状態になる。又、帰還ループがオープンした
場合の保護の為に転写高圧トランスからの帰還ル
ープからD18を介してQ35をオン/オフでき
るように構成してあるので、ループがオープンに
なつた場合D18がオンし、Q35をオンさせ
て、高圧出力をオフし、異常高圧発生を防止する
ことができる。 (表面電位制御) 次に第6図を用いて電位制御のシーケンスを説
明する。 (初期セツトルーチン) 第6図Aのステツプ1(S1)ではまず50のスタ
ート後シーケンスコントローラからのリセツト信
号(RESET)によりRAMエリアがクリアされ
(51)、次に1次高圧制御用データ(PC
CONTROL VALUE;PCV)、1次高圧標準デ
ータ(PC STANDARD VALUE;PSV)、2
次高圧制御用データ(SC CONTROL
VALUE;SCV)、2次高圧標準データ(SC
STANDARD VALUE;SSV)、弱2次高圧デ
ータ(SC LSTR VALUE;SLV)及び1次、
2次のこれらの各々の変倍時のデータ、露光量制
御データ(HL CONTROL VALUE;HCV)、
露光量標準データ(HL STANDARD
VALUE;PCV)、現像バイアス制御データ
(DB CONTROL VALUE;DCV)、現像バイア
ス標準データ(DB STANDARD VALUE;
DSV)、現像バイアス最大値データ(FDB
VALUE;FDV)等のデータ、内部の演算処理
に必要な各種データ、各種フラグのイニシヤル値
等をRAMにセツトする(52)。つづいて各ポー
トをクリアし(53)、ポートに接続されている
LEDも消灯する。D/A変換器の出力ポートも
初期状態にセツトする(54)。 (データ出力ルーチン) 続くステツプ2(S2)では後回転であるかどう
かをフラグ判定し(55)、後回転であればSLVを
出力し、ステツプ3へ行く(56)。後回転でなけ
れば、1次、2次高圧を出力する。その際帯電制
御(CCC)の有無を判別し、有りの場合はPCV,
SCVを出力し(57)、無しの場合にはPSV,SSV
を出力する(58)。(PCV,SCVは後述のデータ
判定処理ルーチンで、所定RAMエリア内に確保
されている) このPCV,SCV,PSV,SSV,SLVの各デー
タ値出力ルーチンでは、変倍フラグ判定をその内
部に含んでおり変倍フラグが立つていれば(後述
のステツプ8で、入力データに応じてフラグ操作
が行われる)、後述のステツプ12で演算・セーブ
されている、もしくはRAMに初期セツトされて
いる変倍時のデータ(等倍時のデータ×0.7相当)
を出力する。 ステツプ3(S3)では露光量制御(HLC)の有
無を判別し(58′)、有りの場合はHCVを(59)、
無しの場合にはHSV(60)を出力する。またステ
ツプ4(S4)では現像バイアス制御(DBC)の有
無を判別し(61)、無しの場合にはDSVを出力す
る(62)。有りの場合は、FDBフラグ(現像バイ
アス最大値を出力することを表わすフラグ)の状
態により該フラグが立つていたら(後述のデータ
判別処理ルーチン内で、コントローラからのデー
タによりフラグの状態が定まつている)FDVを
出力する(63、64)。フラグが立つていない時は、
DBフラグ(現像バイアス所定値を出力すること
を表わすフラグ)をみて(65)、該フラグが立つ
ていればDCV(66)を、立つていなければ、Ov
相当のデータを出力する(67)。 続くステツプ5(S5)ではコントローラからの
変倍指令データによりデータ判定処理ルーチン内
で定まる変倍フラグをみて(68)、等倍であれば
(変倍フラグオフ)転写・除電制御用ポートを等
倍時の状態にする(69)。又変倍モードであるな
ら、該ポートを変倍時の状態にする(70)。 ステツプ6(S6)ではDMSモード(各種デイス
プレイ(表示)を行うモード)か否かを判定し
(71)、DMSモードなら後述の表示ルーチン(ス
テツプ17)へ行く(C)。DMSモードでなければス
テツプ7へ行く。 ステツプ7(S7)ではコントローラからの
STROB信号がオフしている場合はステツプ2
(S2)へもどし(72、A)、前記ステツプすなわ
ちデータを出力するルーチンを繰り返す。
STROB信号がオンになるとステツプ8からのデ
ータ判定、処理ルーチンへうつる(B)。 (データ判定処理ルーチン) 第6図Bのステツプ8(S8)ではシーケンスコ
ントローラからのデータ(DB0〜DB3)を入
力し(73)表1に従いまず、“変倍データ”か否
かを判定する(74)。変倍(モード×0.7)なら、
変倍フラグ、FDBフラグをオン後回転フラグを
オフして、ステツプ16へ行く(75)。変倍でなけ
れば次に“変倍データ”か否かを判別する(76)。
等倍(モード×1)であれば変倍フラグ、後回転
フラグをオフし(77)、FDBフラグはオンをして
ステツプ16へ行く。等倍データ判定につづいて、
“後回転(LSTR)データ”か否かを判定し
(78)、後回転であれば後回転LSTRフラグをオン
してステツプ16へ行く(79)。 ステツプ9(S9)ではシーケンスコントローラ
からのデータがVL2であれば(80)A/D変換を
スタートし、VL2測定電位をデイジタル値に変換
し、セーブする(81)。次に現像バイアス制御デ
ータとしてVL2+100Vを演算・セーブし、ステツ
プ16へ行く(82)。 ステツプ10(S10)ではシーケンスコントロー
ラからのデータがVL1TSであれば、A/D変換
をスタートし(83)、VL1測定電位をデイジタル
値に変換しセーブする(84)。 次に、露光量制御の有無を判定し、制御無しで
あれば、出力データを変化させることなくそのま
まステツプ16へぬける。制御有りであれば、露光
量制御データ;HCVo=1/20(VL1o−VL10)+ HCVo-1(但し、添字nはn回目の制御を表わす。
又VL10は目標収束白地電位相当データ値)を演
算・セーブしステツプ16へ行く(86)。 ステツプ11(S11)ではシーケンスコントロー
ラからのデータがVSLTSであれば(87)ストロー
ブ信号の到来を示すSTRBLEDを点灯し、A/
D変換をスタートさせVSL測定電位をデイジタル
値に変換しセーブする(88)。次に一次、二次高
圧制御データPCV,SCVの演算のVSLにかかわる
部分の処理を行いステツプ16へ行く(89)。 ステツプ12(S12)ではシーケンスコントロー
ラからのデータがVDTSであれば(90)、
STRBLEDを消灯し、A/D変換をスタートさ
せ、VD測定電位をデイジタル値に変換し、セー
ブする(91)。次に帯電制御(CCC)の有り無し
を判定し(92)、制御無しであれば、そのままス
テツプ16へぬける。制御有りの時は明部・暗部電
位よりコントラストを計算しコントラストが
500Vより低ければLED2−3を、又400Vより低
ければLED2−2を点灯する。次にPCV,SCV
及びPCV×0.7、SCV×0.7を演算セーブし(93)、
PCVあるいはSCVが上限値に達した場合には
LED2−1を点灯し、リアルタイムで制御状態
の概要を通報する。 又、ステツプ11、ステツプ12でのSTRB LED
(LED2−4)の点灯・消灯が所定シーケンス順
に行われているかどうかを判定し、データライン
の異常発見を容易にしている。 ステツプ13(S13)ではシーケンスコントロー
ラからのデータが現像バイアスON“DBON”な
ら(94)、現像バイアスオンフラグ(DBフラグ)
を立て、FDBフラグはオフしステツプ16へ行く
(95)。 ステツプ14(S14)ではシーケンスコントロー
ラからのデータが現像バイアスOFFすなわち
DBOFFなら(96)、DBフラグ、FDBフラグとも
オフしステツプ16へ行く(97)。 ステツプ15(S15)ではシーケンスコントロー
ラからのデータが現像バイアス最大値ON、即ち
FDBONなら(98)、DBフラグはオフし、FDB
フラグをオンしステツプ16へ行く(99)。 ステツプ16(S16)ではシーケンスコントロー
ラからのストローブ信号がオフするまで待機し、
オフしたらステツプ2からの出力ルーチンへもど
る(100)。 (DMSルーチン) ステツプ17(S17)ではDMSモード時にこのス
テツプからの処理を行う。 まず、一次、二次、露光は標準値(PSV,
SSV,HSV)直流現像バイアスOVを出力する
(101)。 ステツプ18(S18)では表示切換え用としての
データを入力する(102)。 次に再びDMSモードか否かを判定し(103)、
DMSモードでないならLEDの表示内容をステツ
プ12の内容にもどしステツプ2からの出力ルーチ
ンへもどる(104)。 ステツプ19(S19)では電位表示モード
(MED)なら(105)、A/D変換をスタートし測
定表面電位データを表示しステツプ18へもどる
(106)。MEDでないなら次のステツプへ行く。 ステツプ20(S20)ではVD表示モードが指定さ
れているなら(107)、前記データ判定処理ルーチ
ン内でセーブされたVDデータを表示し、ステツ
プ18へもどる。VD表示モードでないならば次の
ステツプへ行く(108)。 ステツプ21(S21)ではVSL表示モードが指定さ
れているなら(109)、セーブされているVSLデー
タを表示しステツプ18へもどる。VSL表示モード
でなければ次のステツプへ行く(110)。 ステツプ22(S22)ではVL1表示モードが指定さ
れているなら(111)、セーブされているVL1デー
タを表示し、ステツプ18へもどる。VL1表示モー
ドでなければ次のステツプへ行く(112)。 ステツプ23(S23)ではVL2表示モードなら
(113)、VL2データを表示しステツプ18へもどる
(115)。VL2表示モードでなければ、一次、二次、
制御データを4ビツトずつに変換表示しステツプ
18へもどる(114)。 このような電位制御を行う静電記録装置全体の
動作を説明すると(第7図参照)、電源を投入し
たあと感光ドラム1は低速回転して各種高圧がか
けられ、定着ローラ(図示せず)が所定の温度に
達すると感光ドラム1が高速回転を始め、前除電
器29、1次帯電器1、2次帯電器3、転写帯電
器28に高速回転に適した高圧が印加され、いわ
ゆる前回転が行われる。 また前回転と同時に光学系が等倍コピーを行う
位置にない場合には光学系が等倍位置に移動され
る。続いて上述したようなマイクロコンピユータ
15による電位制御が行われる。この電位制御に
より感光ドラム1への高圧帯電量、露光ランプ1
1の光量並びに現像ローラ5へのバイアス量が制
御され最適な画像が形成されるように構成され
る。この制御終了とともにウエイト終了となりコ
ピーが可能となる。 また通常この後感光ドラム1を回転させ2次帯
電器によりドラムの残留電荷やメモリを除去しド
ラム表面をクリーニングするいわゆる後回転が行
われ、その後ドラムは停止し、コピー準備として
スタンドバイの状態となる。 以上のように本発明によれば、暗部電位を固定
の目標電位に収束させるべく帯電条件を制御した
後、基準白色部材により得られる明部電位を固定
の目標電位に収束させるべく露光条件を制御する
ので、常に適正コントラスト電位が得られ、更に
露光各部制御に用いる基準白色部材を用いて現像
条件を制御するので、構成を複雑化することがな
く適正な現像条件を設定でき、適正濃度の画像を
得ることができる。
[Table] In addition to the above-mentioned display contents during standby, it is also possible to notify the user of the following contents using the LEDs 2-1 to 2-4 during arithmetic processing. In other words, LED2-1 lights up when the primary or secondary current control value reaches the upper limit, LED2-2 lights up when the bright/dark potential difference (contrast) is below 400V, and LED2-3 lights up when the contrast is below 500V. The lit LEDs 2-4 are used to determine whether the data sent from the sequence controller 15' via DB0-3 is normal or abnormal. This is done by focusing on the mutually complementary data V D TS and V SL TS in the combination of 4 bits of data sent as shown in Table 1 above, and turning on LEDs 2-4 when one of the data comes in. It is programmed to turn off. In the normal case, V SL TS and V D TS are repeatedly given to Q3 several times due to the overall copy sequence requirement, so the LEDs 2-4 repeatedly blink. If the data being sent becomes abnormal due to a disconnection of the data line or a defect in the inverter Q10, the normal LED blinking order will be disrupted, making it possible to determine whether it is normal or abnormal. The clock for Q3 is obtained by an oscillation circuit using a transistor Q11 and a ceramic oscillator CR1. The oscillation signal generated at the collector of Q11 is pulse-shaped by the transistor Q12, and in this example,
It is given to Q3 as a 495KHz clock. or,
In the present invention, the above-mentioned DMS
Along with the mode terminal, connect R16 to pin 4 of J3 (measurement potential signal line supplied from the measurement circuit).
with a single touch at the same time as the terminal connected via the
It is configured so that it can be connected to GND. Therefore, it is possible to adjust the level of the A/D converter described above using only a board equipped with a voltage control circuit without any auxiliary means. In other words, if all pins 1 to 4 of J4 are connected, a voltage equivalent to the surface potential Ov will be supplied to the A/D converter, while in the DMS mode of Table 3, that is, if all the terminals of J2 are open, ,
Since a display corresponding to Ov appears on LEDs 1 and 2, VR1 may be adjusted so that a predetermined bit is displayed. (D/A Conversion) Q3 and D/A converter Q1 are connected by a total of five lines: a 4-bit data line (DA0 to DA3 input) and a Q1 control line (LDI input). Q
3 is Q at the rise of the signal to the LDI terminal.
1, DA0 determines whether the data to be D/A converted is primary current control data, secondary current control data, light amount control data, or DC developing bias control data.
- Specify using the 4-bit signal given to DA3. Also, Q1 is the falling edge of the signal to the LDI terminal,
The data to DA0 to DC3 is the actual control data 4
Latch internally as a bit. For example, if this operation is repeated twice, 8 bits of data will be latched into Q1. Q1 is capacitor C19, C2
It includes 4-bit, 6-bit, and 12-bit binary counters counted by the clock oscillated by 0, C21, resistor R15, and coil L1, and detects coincidence with the data sent to DA0 to DA3 and inputs It is output to DAC1-4 as a pulse having a duty ratio proportional to the data. DAC1 is connected to the match detection output with a 12-bit counter, DAC2 is connected to the match detection output with a 6-bit counter, and DAC3 and 4 are connected to the match detection output with a 4-bit counter, so the output of each resolution is can get. Q1 also has an internal expansion port function, and DA0
~Turn the port on/off depending on the data to DA3
can. In this example, we use PO1 of Q1 to
The ON/OFF and DAC3 outputs are combined through the corresponding resistors R13, increasing the resolution from the 4-bit equivalent of the DAC3 output to the equivalent of 5-bit. By doing this, we improved the accuracy of the DC developing bias control circuit connected to the DAC3 output. In addition, by turning PO8 ON/OFF, it is possible to switch the high-voltage output current value for transfer and pre-static neutralization, which will be described later, between full-size copying and variable-magnification copying. Since DAC1-4, PO1, and PO8 are open-drain outputs, they are connected via pull-up resistors.
This is a pulse output pulled up to 12V.
DAC1~4 pulses are resistor R13 and capacitor C
It is integrated by an RC integration circuit consisting of 22 and becomes an analog voltage. The output of DAC4 is integrated by R13 and C22,
It appears at terminal P105 as a light amount control voltage. This voltage is applied to the inverting amplifier circuit Q14 of the light amount control circuit 17.
(See Figure 5) as a control voltage to the lamp regulator that varies in the range of approximately 13.6V to 16V.
3, and is led to the lamp regulator 14 shown in FIG. 3 via the 2nd pin of J1 to control the lighting voltage of the document exposure lamp 11. DAC1 output is pulse width modulation type 12-bit D/A
At the output, it is integrated by a secondary filter composed of R13, C22 and R17, C23, and is output to terminal P.
106 to the operational amplifier Q15 of the primary high voltage control circuit 18 (see Fig. 5), and R18 to R2.
1 as a primary high-voltage control voltage value of a predetermined voltage width, and is input to a primary high-voltage control circuit configured mainly around an operational amplifier Q16. In this example, the output pulse of DAC1 has a pulse width of about 3 ms per cycle, so in order to improve high-speed response and smoothing efficiency, integration is performed by R13 and C22 and integration by R17 and C23, and the integration circuit is
It is structured in stages. On the other hand, the DAC2 output is integrated by the corresponding R13 and C22 and passes through the terminal P107 to the operational amplifier Q1.
7 and is taken out as a secondary high voltage control voltage value of a predetermined voltage width through a resistor network consisting of resistors R22 to R25, and is inputted to a secondary high voltage control circuit mainly composed of an operational amplifier Q18. Also, the DAC3 output is the corresponding R13, C22
is integrated and appears at terminal P108. The PO1 output further appears at this terminal via resistor R13,
Both voltages are combined. In this example, this composite voltage is selected to be 1/50 of the white ground potential (V L2 +100V),
It is taken out as a DC developing bias control voltage and inputted to the non-inverting input of the operational amplifier Q19 of the DC developing bias control circuit 20 via a resistor R70 (FIG. 5). 1/50 of the DC developing bias value by the resistor network of R71 to R74 is applied to the inverting input terminal of Q19 via R27. Q19 is a high gain differential amplifier. DC developing bias control voltage and R of R71
A closed loop is constructed so that the 72 connection points have the same potential, and the DC developing bias voltage follows the control voltage with high precision. The Q19 output is applied to the midpoint of the inverter transformer T1 via a current booster consisting of Q20 and Q21. The above DC developing bias value is obtained by a combination of a variable output inverter whose oscillation output changes according to the Q19 output and a fixed output inverter section formed by the transformer T2. The variable output inverter is transistor Q22, Q
23, Q22, Q2
3 alternately turns on and off, and the induced voltage on the primary side is boosted to the secondary side voltage determined by the winding ratio of T1 in accordance with the DC developing bias control voltage applied to the midpoint of T1. After being rectified, it is smoothed by C38, and the value shown in Figure 3 is output from pin 1 of J5 via R28 as the DC developing bias value.
It is applied to the AC developing bias control circuit 23 as a DC superimposed component. On the other hand, the fixed output inverter is T2's 1
A constant value of 24V is applied to the midpoint of the next side, and T2
The secondary high voltage output according to the winding ratio of D31, C41
By rectifying and smoothing a negative high voltage DC voltage, for example -
Get 600V. This voltage is divided using resistors R30 to R35 and superimposed on the output of the variable output inverter as a negative DC bias, and the DC developing bias voltage changes linearly from positive to negative in response to the control voltage. In the fixed output inverter section, in addition to the high voltage fixed output mentioned above, -5V power supply used for the potential control circuit, 24V and 40V floating power supply for the surface potential measurement circuit, -600V high voltage output, etc. are obtained with one transformer. I have to. (High Voltage Control) Next, high voltage control for the chargers 2 and 3 will be described. The above-mentioned primary high voltage control voltage is input to the inverting input of Q16 via R40. Also Q16
The non-inverting input of R4 is the primary high voltage output pulse obtained by sampling the primary high voltage current with resistor RS1.
1, R42, VR3 level-shifted voltage is R
43. These differential voltages are −
It is multiplied by R44/R40 and output from Q16. This output voltage is passed through resistor R45 to transistor Q24.
The current is amplified by the voltage, and is thereby taken out as a primary high-voltage voltage, which is input to the control input of the primary high-voltage transformer 21 via terminal 2 of J6. Terminal P10
The HV-1 signal given to J1 via J1 is “H”
In this case, LED-4 does not light up and diode D
10 is reverse biased, diode D11 is on, and transistor Q36 is on, so 1
The next high voltage transformer 21 does not operate. When the HV-1 signal becomes "L", LED-4 lights up, D10 becomes forward biased, D11 turns off, and Q36 turns off, so the output of Q16 is directly input to the base of Q24, turning on the primary high voltage transformer 21, and Next, it becomes possible to control high voltage transformers. For example, when the current to RS1 decreases due to fluctuations in the high voltage load, the voltage drop due to RS1 decreases and the voltage at the midpoint of VR3 increases. Therefore, the Q16 output increases, increasing the output of the high voltage transformer and increasing the current flowing to RS1. That is R40
Constant current high voltage control is performed according to the voltage applied to the voltage. Similar configurations include secondary charger 3 and transfer charger 2.
8. Also used for high voltage control of the pre-static eliminator 29.
Here, when the feedback loop from the primary high voltage transformer becomes open, the output of Q16 becomes the maximum value, and 1
Since the next high voltage reaches the maximum, by turning on the diode D12 when the loop is open, it is possible to turn on the transistor Q36 and prevent the high voltage output. The secondary charging high voltage control voltage is connected to Q18 via R46.
Applied to non-inverting input. A voltage obtained by sampling the secondary high voltage current with the resistor R S2 and level-shifting the secondary high voltage sample voltage value with R47, R48, and VR4 is applied to the inverting input via R49. These differential voltages are multiplied by R50/R49 and output from Q18. This output voltage is applied to Q25 via R51.
The current is taken out as a secondary high-voltage control voltage that is amplified by
2 control input. given to J1
When the HV-2 signal is "H", LED-5 is not lit and D9 is reverse biased and inverter Q26 is turned on, so the Q18 output is not transmitted to the high voltage transformer and the high voltage transformer is turned off. When the HV-2 signal becomes "L", LED-5 lights up, D9 becomes forward biased, and Q26 turns off, so the Q18 output is directly applied to the Q25 base, turning on the secondary high voltage transformer 22 and turning on the secondary high voltage. It becomes possible to control the transformer. Regarding the transfer high voltage control, normally in the same size copy mode, Q1 PO8 is set to "H", so Q28 output becomes "L" and connects to the parallel resistance of R52 and R53 via terminal P104. R5
A voltage obtained by dividing 12V by 4 is applied to the inverting input side of Q29 via R55. On the other hand, to the non-inverted side, a voltage obtained by level-shifting the voltage obtained by sampling the transfer current by RS3 by R56 and R57 is applied via R58, and the Q29 output is set so that both are equal. That is, the transfer high voltage transformer 26 is driven through the transistor Q30 and the terminal 6 of I6 to control the transfer high voltage. When changing magnification, PO8 switches to “L”,
Q28 is turned off and R54 and R are connected to the inverting input of Q29.
A voltage obtained by dividing 12V by 53 is applied via R55. This voltage is set to increase in proportion to the rate of change in the transfer current flowing through RS3 from the time of equal magnification to the time of variable magnification, so Q29
The output is reduced, and transfer high voltage control is performed so that a predetermined transfer current at the time of zooming flows into RS3. Regarding the high voltage control for pre-static elimination, during normal copying at the same size, as mentioned above, PO8 of Q1 is set to "H", so the Q31 output becomes "L" via terminal P104, and therefore the Q32 output becomes "H". It's getting old. Therefore, a voltage obtained by dividing 18V by R61 and R61 is applied to the non-inverting input of Q33 via R62. On the other hand, the pre-static elimination current is applied to the inverting input.
A voltage obtained by level-shifting the voltage sampled by RS4 by R63 and R64 is applied via R65. The Q33 output is determined so that both of them are equal, and the transistor Q34 is energized via R66 to control the pre-discharge high voltage. During zooming, PO8 goes to "L" as described above, so Q31 output goes to "H" and Q32 turns on. Therefore, +18V with parallel resistance of R67 and R62 and R60
The divided voltage is applied to the operational amplifier Q3 via R62.
3 non-inverting input. Since this voltage is set to decrease in accordance with the rate of change in the transfer current flowing through RS4 from the time of equal magnification to the time of variable magnification, the output of Q33 decreases and eliminates static electricity before a predetermined period of time of variable magnification. Pre-neutralization high voltage control is performed so that current flows through RS4. The transfer high voltage and the pre-static elimination high voltage are turned on/off in synchronization with the primary high voltage turned on/off. In other words, when the HV-1 signal applied to pin 5 of J1 is “H”, the terminal P101
After that, D16 becomes reverse biased, D17 is turned on, and Q35 is also turned on. Therefore, D20 and D21 become forward biased, and approximately the base of Q30 and Q34, respectively.
Since it is clamped at 0.7V, the control voltage is not transmitted to the high voltage transformer side, and the transfer/pre-electrostatic high voltage is turned off. When the HV-1 signal becomes "L", D16 becomes forward biased, D17 is turned off, and Q35 is also turned off, so Q29 and Q33 outputs each Q3.
0 and Q34 are driven, and the transfer/pre-discharge high voltage is turned on. Also, for protection in case the feedback loop opens, Q35 is configured to be turned on/off from the feedback loop from the transfer high voltage transformer via D18, so if the loop becomes open, D18 will turn on. , Q35 is turned on, the high voltage output is turned off, and abnormal high pressure can be prevented from occurring. (Surface Potential Control) Next, the sequence of potential control will be explained using FIG. 6. (Initial Set Routine) In step 1 (S1) of Fig. 6A, first, after the start of 50, the RAM area is cleared by the reset signal (RESET) from the sequence controller (51), and then the primary high voltage control data (PC
CONTROL VALUE; PCV), primary high voltage standard data (PC STANDARD VALUE; PSV), 2
Next high pressure control data (SC CONTROL
VALUE; SCV), secondary high voltage standard data (SC
STANDARD VALUE; SSV), weak secondary high voltage data (SC LSTR VALUE; SLV) and primary,
Data for each of these secondary magnification changes, exposure control data (HL CONTROL VALUE; HCV),
Exposure standard data (HL STANDARD
VALUE; PCV), development bias control data (DB CONTROL VALUE; DCV), development bias standard data (DB STANDARD VALUE;
DSV), development bias maximum value data (FDB
VALUE; FDV), various data necessary for internal arithmetic processing, initial values of various flags, etc. are set in RAM (52). Next, clear each port (53) and confirm that it is connected to the port.
The LED will also turn off. The output port of the D/A converter is also set to the initial state (54). (Data Output Routine) In the following step 2 (S2), a flag is determined to determine whether or not it is a post-rotation (55), and if it is a post-rotation, the SLV is output and the process proceeds to step 3 (56). If there is no post-rotation, primary and secondary high pressures are output. At that time, it is determined whether there is charge control (CCC), and if it is, PCV,
Outputs SCV (57), if not, PSV, SSV
Output (58). (PCV and SCV are data judgment processing routines that will be described later, and are secured in a predetermined RAM area.) Each data value output routine of PCV, SCV, PSV, SSV, and SLV includes the scaling flag judgment inside. If the scaling flag is set (the flag will be manipulated according to the input data in step 8 described later), the scaling flag will be calculated and saved in step 12 described later, or the scaling flag is set initially in RAM. Data when magnified (equivalent to data when magnified x 0.7)
Output. In step 3 (S3), the presence or absence of exposure control (HLC) is determined (58'), and if it is, HCV is determined (59).
If not, output HSV (60). Further, in step 4 (S4), it is determined whether or not there is developing bias control (DBC) (61), and if there is none, DSV is output (62). If yes, if the flag is set depending on the state of the FDB flag (a flag indicating that the maximum developing bias value is output) (the state of the flag is determined by data from the controller in the data discrimination processing routine described later). output) FDV (63, 64). When the flag is not raised,
Check the DB flag (a flag indicating that a predetermined developing bias value is output) (65), and if the flag is set, DCV (66) is set, and if it is not set, Ov is set.
Output a considerable amount of data (67). In the following step 5 (S5), the variable magnification flag determined in the data judgment processing routine is checked based on the variable magnification command data from the controller (68), and if the variable magnification flag is OFF (the variable magnification flag is off), the port for transfer/static elimination control is set to the same magnification. to be in the state of time (69). If the mode is variable magnification, the port is set to the variable magnification mode (70). In step 6 (S6), it is determined whether or not the DMS mode (a mode for performing various displays) is determined (71), and if it is the DMS mode, the process proceeds to a display routine (step 17) to be described later (C). If not in DMS mode, go to step 7. In step 7 (S7), the controller
If STROB signal is off, step 2
Return to (S2) (72, A) and repeat the above steps, that is, the data output routine.
When the STROB signal turns on, the process moves to the data judgment and processing routine from step 8 (B). (Data Judgment Processing Routine) In step 8 (S8) of FIG. 6B, data (DB0 to DB3) from the sequence controller is input (73), and according to Table 1, it is first judged whether it is "variable magnification data" ( 74). For variable magnification (mode x 0.7),
After turning on the variable magnification flag and FDB flag, turn off the rotation flag and proceed to step 16 (75). If not, it is then determined whether the data is "variable magnification data" (76).
If it is equal magnification (mode x 1), the variable magnification flag and post-rotation flag are turned off (77), the FDB flag is turned on, and the process goes to step 16. Following the same-size data determination,
It is determined whether or not it is "post-rotation (LSTR) data" (78), and if it is post-rotation, the post-rotation LSTR flag is turned on and the process goes to step 16 (79). In step 9 (S9), if the data from the sequence controller is V L2 (80), A/D conversion is started, and the measured potential V L2 is converted into a digital value and saved (81). Next, calculate and save V L2 +100V as developing bias control data, and proceed to step 16 (82). In step 10 (S10), if the data from the sequence controller is V L1 TS, A/D conversion is started (83), and the measured potential of V L1 is converted into a digital value and saved (84). Next, it is determined whether or not there is exposure control, and if there is no control, the process directly proceeds to step 16 without changing the output data. If there is control, exposure control data: HCV o = 1/20 (V L1o - V L10 ) + HCV o-1 (However, the subscript n indicates the n-th control.
Further, V L10 calculates and saves the target convergence white ground potential equivalent data value) and goes to step 16 (86). In step 11 (S11), if the data from the sequence controller is V SL TS (87), the STRB LED indicating the arrival of the strobe signal is lit, and the A/
Start D conversion, convert the VSL measured potential into a digital value, and save it (88). Next, the part related to VSL of the calculation of the primary and secondary high voltage control data PCV and SCV is processed and the process goes to step 16 (89). In step 12 (S12), if the data from the sequence controller is V D TS (90),
Turn off the STRBLED, start A/D conversion, convert the V D measurement potential to a digital value, and save it (91). Next, the presence or absence of charge control (CCC) is determined (92), and if there is no control, the process directly proceeds to step 16. When there is control, the contrast is calculated from the bright and dark potentials and the contrast is
If it is lower than 500V, LED2-3 is lit, and if it is lower than 400V, LED2-2 is lit. Next, PCV, SCV
And calculate and save PCV×0.7 and SCV×0.7 (93),
If PCV or SCV reaches the upper limit
Lights up LED2-1 and reports the outline of the control status in real time. Also, STRB LED at step 11 and step 12
It is determined whether the LEDs (LED2-4) are turned on and off in a predetermined sequence, making it easy to discover abnormalities in the data line. In step 13 (S13), if the data from the sequence controller is development bias ON "DBON" (94), the development bias ON flag (DB flag) is set.
is set, the FDB flag is turned off, and the process goes to step 16 (95). In step 14 (S14), the data from the sequence controller is set to
If DBOFF (96), turn off both the DB flag and FDB flag and go to step 16 (97). In step 15 (S15), the data from the sequence controller is set to the maximum developing bias value ON, that is,
If FDBON (98), the DB flag is turned off and FDB
Turn on the flag and go to step 16 (99). In step 16 (S16), the program waits until the strobe signal from the sequence controller turns off.
Once turned off, return to the output routine from step 2 (100). (DMS Routine) In step 17 (S17), processing from this step is performed in the DMS mode. First, the primary, secondary, and exposure values are standard values (PSV,
SSV, HSV) Outputs the DC developing bias OV (101). In step 18 (S18), data for display switching is input (102). Next, it is determined whether it is in DMS mode again (103),
If it is not the DMS mode, the LED display contents are returned to the contents of step 12 and the process returns to the output routine from step 2 (104). In step 19 (S19), if the potential display mode (MED) is selected (105), A/D conversion is started, the measured surface potential data is displayed, and the process returns to step 18 (106). If it is not MED, go to the next step. In step 20 (S20), if the VD display mode is designated (107), the VD data saved in the data judgment processing routine is displayed, and the process returns to step 18. If it is not the VD display mode, go to the next step (108). In step 21 (S21), if the VSL display mode is specified (109), the saved VSL data is displayed and the process returns to step 18. If it is not the V SL display mode, go to the next step (110). In step 22 (S22), if the V L1 display mode is specified (111), the saved V L1 data is displayed and the process returns to step 18. If it is not in V L1 display mode, proceed to the next step (112). In step 23 (S23), if the V L2 display mode is selected (113), the V L2 data is displayed and the process returns to step 18 (115). V If not in L2 display mode, primary, secondary,
Convert and display control data in 4-bit units and step
Return to 18 (114). To explain the overall operation of the electrostatic recording device that performs such potential control (see Fig. 7), after the power is turned on, the photosensitive drum 1 rotates at low speed, various high pressures are applied, and the fixing roller (not shown) When the photosensitive drum 1 reaches a predetermined temperature, the photosensitive drum 1 starts to rotate at high speed, and a high voltage suitable for high-speed rotation is applied to the front static eliminator 29, primary charger 1, secondary charger 3, and transfer charger 28. A rotation is performed. Further, if the optical system is not at a position for performing the same-size copy at the same time as the pre-rotation, the optical system is moved to the same-size position. Subsequently, potential control is performed by the microcomputer 15 as described above. This potential control increases the amount of high-voltage charge on the photosensitive drum 1 and the exposure lamp 1.
The amount of light 1 and the amount of bias applied to the developing roller 5 are controlled so that an optimal image is formed. When this control ends, the wait ends and copying becomes possible. Normally, after this, the photosensitive drum 1 is rotated and a secondary charger is used to remove residual charges and memory from the drum, cleaning the drum surface. After that, the drum is stopped and placed in a standby state in preparation for copying. Become. As described above, according to the present invention, after controlling the charging conditions so that the dark area potential converges to a fixed target potential, the exposure conditions are controlled so that the bright area potential obtained by the reference white member converges to the fixed target potential. Therefore, an appropriate contrast potential can always be obtained.Furthermore, since the development conditions are controlled using the reference white member used to control each part of the exposure, it is possible to set the appropriate development conditions without complicating the configuration, and images with appropriate density can be obtained. can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図、第2図は従来の表面電位の制御を説明
した表図、第3図は本発明による表面電位制御を
用いた静電記録装置の配置構成図、第4図、第5
図は第3図の各制御回路のさらに詳細な回路図、
第6図A,B,Cは種々の制御を説明したフロー
チヤート図、第7図は全体のシーケンスを説明し
た説明図である。 1……感光ドラム、2……1次帯電器、3……
2次帯電器、4……全面露光ランプ、5……現像
ローラ、6……ブランク露光ランプ、7……表面
電位センサ、10……原稿、11……露光ラン
プ、12,13……ミラー、28……転写帯電
器、29……前除電器。
1 and 2 are tables explaining conventional surface potential control, FIG. 3 is a layout diagram of an electrostatic recording device using surface potential control according to the present invention, and FIGS. 4 and 5.
The figure shows a more detailed circuit diagram of each control circuit in Figure 3,
6A, B, and C are flowcharts explaining various controls, and FIG. 7 is an explanatory diagram explaining the entire sequence. 1...Photosensitive drum, 2...Primary charger, 3...
Secondary charger, 4...Full exposure lamp, 5...Developing roller, 6...Blank exposure lamp, 7...Surface potential sensor, 10...Original, 11...Exposure lamp, 12, 13...Mirror, 28...Transfer charger, 29...Pre-static eliminator.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 記録体を一様に帯電する帯電手段、 前記帯電手段により帯電された記録体を露光す
ることにより前記記録体上に静電潜像を形成する
露光手段、 前記記録体上に形成された静電潜像を現像する
現像手段、 基準の白色濃度を有する基準白色部材、 前記記録体の表面電位を検出する検出手段、 像形成前に前記検出手段の出力に基づいて前記
帯電手段、露光手段及び現像手段の動作条件を決
定する制御手段、 を有し、 前記制御手段は、前記帯電手段を初期データに
基づいて動作させ、記録体の暗部電位を目標電位
に収束させるべく前記検出手段の暗部電位検出出
力に応じて前記帯電手段の動作電圧を決定するた
めの帯電制御データを求め、 次にこの帯電制御データに基づいて前記帯電手
段を動作させて前記記録体を帯電するとともに前
記露光手段を初期データに基づいて、標準光量で
点灯させて前記基準白色部材を露光することによ
り前記記録体上にサンプル領域を形成し、前記サ
ンプル領域の明部電位を固定の目標電位に収束さ
せるべく、前記検出手段の明部電位検出出力に対
し予め設定された露光量−表面電位の相関関係を
示す近似式に従つて演算処理を行なうことにより
前記露光手段の動作電圧を決定するための露光制
御データを求め、 次に求められた露光制御データに基づいて前記
露光手段を更に動作させ、前記基準白色部材を更
に露光して前記記録体上にサンプル領域を形成
し、かぶりのない現像バイアス電圧を設定するべ
く、前記検出手段から出力される前記サンプル領
域の明部電位検出出力に対し予め決められた演算
式に従つて演算処理を行なうことにより前記現像
手段に印加されるバイアス電圧を決定するための
現像制御データを求めることを特徴とする静電記
録装置。
[Scope of Claims] 1. Charging means for uniformly charging a recording medium; Exposure means for forming an electrostatic latent image on the recording medium by exposing the recording medium charged by the charging means; and the recording medium. a developing means for developing an electrostatic latent image formed thereon; a reference white member having a reference white density; a detecting means for detecting the surface potential of the recording medium; A control means for determining operating conditions of a charging means, an exposure means, and a developing means, the control means operating the charging means based on initial data to converge the dark area potential of the recording medium to a target potential. Charging control data for determining the operating voltage of the charging means is obtained in accordance with the dark potential detection output of the detecting means, and then the charging means is operated based on this charging control data to charge the recording medium. At the same time, a sample area is formed on the recording medium by lighting the exposure means at a standard light intensity based on the initial data to expose the reference white member, and the bright area potential of the sample area is set to a fixed target potential. to determine the operating voltage of the exposure means by performing arithmetic processing on the bright area potential detection output of the detection means in accordance with an approximation formula indicating a preset exposure dose-surface potential correlation in order to converge; Next, the exposure means is further operated based on the obtained exposure control data, the reference white member is further exposed to form a sample area on the recording medium, and a fog-free development is performed. In order to set the bias voltage, the bias voltage applied to the developing means is determined by performing arithmetic processing on the bright area potential detection output of the sample area outputted from the detecting means according to a predetermined calculation formula. An electrostatic recording device characterized in that it obtains development control data for making decisions.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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