JPH0353438A - 電子ビーム装置 - Google Patents

電子ビーム装置

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JPH0353438A
JPH0353438A JP1187980A JP18798089A JPH0353438A JP H0353438 A JPH0353438 A JP H0353438A JP 1187980 A JP1187980 A JP 1187980A JP 18798089 A JP18798089 A JP 18798089A JP H0353438 A JPH0353438 A JP H0353438A
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JP
Japan
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electron
electron beam
electron gun
gun
shielding material
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Pending
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JP1187980A
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English (en)
Inventor
Keiji Yamada
山田 慶二
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Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
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Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 電子ビーム装置、特に電子ビームを出酎する電子銃の分
M復帰処理を容易にした装置に関し、該電子銃の遮蔽具
と電子銃チップとの隙間調整を熟練者の技術に依存する
ことなく、その調整を再現性良く行い、電子銃の保守管
理を容易にすることを目的とし、 第1の装置は、少なくとも、被露光対象物に電子ビーム
を出射する電子銃と、前記電子ビームを偏向走査する電
子ビーム偏向手段とを具備し、前記電子銃は、電子発生
部および案内溝部を有する架台本体部と、前記電子ビー
ムの電子出射口を有する遮蔽具と、前記遮蔽具の案内溝
部に達する係止め具からなることを含み構戒し、第2の
装置は、前記の装置であって、電子銃に隙間調整手段を
設けていることを含み構成する。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、電子ビーム装置に関するものであり、る. 近年、被露光対象物に電子ビームを偏向走査して画像取
得する電子顕微鏡,電子ビームテスタ、および微細パタ
ーン露光をする電子ビーム露光装置が使用されている。
これによれば、電子銃の部品交換の際に、電子ビームの
発生分布を左右するウエーネルドグリソドとカソードチ
ップとの隙間調整を高情度に行うことおよびその電子銃
の分解復帰処理を容易にすることができる装置の嬰望が
ある。
〔従来の技術〕
第6.7図は、従来例に係る説明図である.第6図は、
従来例の電子ビーム装置に係る構成図を示している。
図において、例えば彼照射幻象物3の画像を取得する電
子ビーム装置は、電子ビーム鏡筒1に、電子vtIa.
W向系1b,二次電子検出系1cおよびステージ1dを
具傭し、これらを制御する電子ビーム制御処理装置2か
らなる。該装置の機能は、電子銃1aから出剥されて電
子ビーム1eを被照射対象物3に偏向走査し、その二次
電子Ifを検出することにより、その画像取得をするも
のである。
また、破線円内図は電子銃のIaの拡大断面図を示して
いる。これによれば、電子銃】aは、電子統チップ(カ
ソード)4.ウエーネルドグリソド5,ロックナット6
および電子銃取付け台7から構成されている。Lは隙間
であり、ウエーネルドグリッド5に開口された電子出射
口8と電子銃チンプ(カソード)4との間の距刈を示し
ている。
〔発四が解決しようとする課題〕
第7図は、従来例の問題点に係るウエーネルドグリッド
部分の拡大図である. 図において、ウエーネルドグリッド5ば、電子銃チップ
(カソード)4を遮蔽するものであり、その内側には一
定ピンチAのネジが切られている。
また、電子銃取付け台7は、ウエーネルドグリッド5の
ネジピッチ八に合うようにネジが切られている。これに
より、ウエーネルドグリソド5と電子銃取付け台7とは
、電子銃チップ(カソード)4と電子出射口8とが一致
するように取りつけられる.なお、ウエーネルドグリソ
ド5が回転しないように、電子銃取付け台7に切られた
ネジピッチ八に合わ一已たロックナット6により、共締
め固定される。
ところで、電子ビーム装故の使用による消耗等により、
電子銃チップ(カソード)4を取り替える場合、まず、
ロックナット6を緩めて、ウエーネルドグリッド5が取
り外される。
次に、新しい電子銃(カソード)4を取付けた後にウエ
ーネルドグリノド5ど新しい電子銃チンプ(カソード)
4との隙間Lを調整し、ロックナット6により、固定を
する。
しかし、ウエーネルドグリッド5のネジと、電子銃取付
け台7のネジとの間には、ネジの緩みΔLを考慮し、そ
れらを同特に逆方向に回転して行わなければならず、高
精度の位置合わせ技術が必要となり、再現性良い電子銃
チップ(カソード)4の取り換えができないという問題
がある。
本発明はかかる従来の問題に鑑みて創作されたものであ
り、電子銃の!!蔽具と電子銃チンプとの隙間調整を熟
練者の技術に依存ずることなく、そのjlt!整を再現
杜良く行い、電子銃の保守管理を容易にすることを可能
とする電子ビーム装置の提イj(を目的とする. 〔課題を解決するための手段〕 第1図は、本発明の電子ビーム装置に係る原理図を示し
ている。
その装置は、少なくとも、被露光対象物13に電子ビー
ム11aを出射する電子銃11と、前記電子ビーム11
aを偏向走査する電子ビーム偏向千段12とを具備し、 前記電子銃11は、電子発生部101および案内溝部1
02を有する架台本体部l03と、前記電子ビーム11
aの電子出射口104を有する遮蔽具105と、前記遮
蔽具105の案内溝部102に達する係止め具106か
らなることを特徴とし、 第2の装置は、第1の装置であって、電子銃l1に隙間
調整千段107を設けていることを特徴とし、上記目的
を達戒する. 〔作用〕 本発明の第iの装置によれば、電子銃11の遮蔽具10
5を貫いて、架台本体部103の案内溝部102に達す
る係止め具106が設けられている。
このため、遮蔽具105と電子発生部101との隙間調
整がされると、係止め具1. 0 6により遮蔽具+0
5の水平方向からの締め付ける力によって、該遮蔽具1
06を架台本体部に固定することができる。
これにより、従来のような電子出射方向(垂直方向)に
係るネジの緩みΔLを原因とする調整誤差を考慮するこ
となく、再現性良く電子発生部101の交換作業を行う
ことが可能となる。
また、本発明の第2の装置によれば、第1の装置の電子
銃11に隙間調整手段107が設けられている。
このため、予め、電子銃11の架台本体部103に刻ま
れた主尺.副尺と遮蔽具105とを位置合わせをするこ
とにより、熟練者の技術に依存することなく再現性良く
、しかも高情度の隙間調整を行うことが可能となる。
これにより、電子銃の保守管理を容易にすることが可能
となる。
〔実施例〕
次に、図を参照しながら本発明の実施例について説明す
る。
第2〜5図は、本発明の実施例に係る電子ビーム装置を
説明する図である。
(i)第1の実施例の説明 第2図は、本発明の第1の実施例の電子ビーム装置に係
る構威図を示している。
図において、例えば、被照射対象物23の画像を取得す
る電子ビーム装置は、電子ビームtl!.筒2lと、被
照射対象物23に電子ビーム21eを出射する電子銃2
+aと、電子ビーム21eを走査偏向する電磁コイルや
静11偏向板等からなる偏向手段2lbと、被照射対象
物23からの二次電子21rを検出する二次電子検出手
段21cと、被照射対象物23を載置するステージ21
dとを具備している。また、該装置はこれらの電子銃2
la5偏向手段2lb.二次電子検出手段21cおよび
ステージ21dの入出力を制御する偏向/検出制御処理
装置22から構成されている。
さらに、破線円内図は、本発明の第1の実施例に係る電
子銃11の拡大断面図である。
同図において、3lは電子発生部lotの一実施例とな
る電子銃チンブ(カソード〉であり、電子ビームを出射
するものである。32は案内溝部102の一実施例とな
るV溝であり、電子銃取付け台33の側面に堀られ、そ
の方向は電子ビーム出1・1方向(光軸方向)に並行し
ている。33は架台本体部103の一実施例となる電子
銃取付け台であり、電子銃チソプ(カソード)31やウ
エーネルドグリ,ド35を保持するものである。34は
電子出射口であり、35は遮蔽具105の一実M11i
例となるウエーネノレドグリンドである。ウエーネルド
グリッド35は電子ビームを集束させ、電子銃チップ(
カソード)31の先端と電子出射口34との隙間tを調
整することにより、該電子出射口34から出射する電子
ビームの集束位置を変える機能を有している。
36は係止め具106の一実施例となる保合ネジであり
、ウエーネルドグリッド35と電子取付け台33とを固
定するものである. 第3図は、第1の実施例に係る電子銃の細部の構造図で
ある。図において、係合ネジ36は、ウエーネルドグリ
ソド35の外側面に3〜4箇所程度設けられている。ま
た、係合ネジ36は、ウ工−ネルドグリッド35の外側
面に対して垂直方向に貫通した部分に切られたネジ部を
介して電子銃取付け台33に1屈られた■溝32に達す
るものである。
これにより、保合ネジ36が緩められてe)る場合には
、それがV溝32との間において、電子ビームの光軸方
向へのウエーネルドグリンド35の移動を容易にするこ
とができる。
第4図は本発明の第1の実施例の電子統に係るX−Y矢
視断面図である。
図において、係合ネジ36は、ウエーネルドグリッド3
5を貫通して電子読取付け台33の■溝32に達してい
る。これにより、ウエーネルドグリノド35の電子出射
口34と電子銃チップ(カソード)31との隙間tを所
定間隔に保持した状態で、該ウエーネルドグリッド35
を電子銃取付け台33に固定することができる, このようにして、本発明の第1の実施例によれば、電子
銃11にウエーネルドグリッド35を貫いて、電子銃取
付け台33の■溝32に達する保合ネジ36が設けられ
ている. このため、ウエーネルドグリッド35と電子銃チップ(
カソード)31との隙間Lの調整がされると、係合ネジ
3Gにより、ウエーネルドグリノド35の水平方向から
の締め付け力によって、その所定間隔を保持した状態で
、該ウエー不ルドグリッド35を電子銃取付け台33に
固定することができる。
これにより、従来のような電子ビームの光軸方向(垂直
方向)に係るネジの緩みΔLを原因とする調整誤差を考
慮することなく、再現性良く電子銃チップ(カソード)
31の交換作業を行うことが可能となる. (ii)第2の実施例の説明 第5図は、第2の実施例の電子銃に係る説明図である. 図において、第1の実施例と異なるのは、第2の実施例
では、隙間調整千段107の一実施例となる隙間調整用
スケール37が設けられるものである.その他の電子銃
の構造は、第1の実施例と同樟であるので、説明を省略
する. 隙間調整千段107は、予め、ウエーネルドグリンド3
5と電子チノブ(カソード)との間の距離を規定し、そ
れを電子銃取付け台33の外壁部分に刻み込んだ隙間調
整用(目盛り)スケールであり、主尺八と副尺Bからな
る。副尺Bは主尺八の1/10ピッチされている, こにより、第1の実施例の隙間調整が、例えばノギスや
マイクロメータ等を使用して行われるのに対し、第2の
実施例では、隙間調整用スケールとウエーネルドグリッ
ド35の底部とを短時間に位置合わせすることができる
. このようにして、本発明の実施例によれば、第1の装置
の電子銃11に隙間調整用スケール37が設けられてい
る. このため、隙間調整用スケール37にウエーネルドグリ
ッド35を位置合わせすることにより、熟練者の技術に
依存することなく、再現性良く、しかも、高精度の隙間
調整をjテうことが可能となる。
これにより、従来例のように電子銃の隙間調整が悪く、
一度組み立てた電子ビーム鏡筒を再度分解して、それを
調整し直すことがなく、安定した電子ビームにより画像
取得処理や微細パターンの露光処理等をすることが可能
となる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、電子銃の隙間調整
作業を短時間、かつ再現性良く行うことができる, このため、電子銃の隙間調整不良による電子ビーム鏡筒
の際、分解組立処理に要する無駄な時間等を無くすこと
、および、それを原因とする電子ビーム鏡筒内のコンタ
ミネーション等の発生を防止することが可能となる。
これにより、電子銃に係る保守管理が容易になることか
ら、電子ビーム装置の処理効率の向上を図ることが可能
となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の電子ビーム装置に係る原理図、 第2図は、本発明の第1の実施例の電子ビーム装置に係
る構戒図、 第3図は、本発明の第1の実施例に係る電子銃の細部の
構造図、 第4図は、本発明の第1の実施例の電子銃に係るX−Y
矢視断面図、 第5図は、本発明の第2の実施例の電子銃に係る説四図
、 第6図は、従来例の電子ビーム装置に係る構威図、 第7図は、従来例の問題点に係るウエーネルドグリノド
部分の拡大図である。 (符号の説明) 11・・・電子銃、 11a・・・電子ビーム、 12・・・電子ビーム偏向手段、 101・・・電子発生部、 102・・・案内溝部、 103・・・架台本体部、 104・・・電子出射口、 105・・・遮蔽具、 106・・・係止め具、 107・・・隙間調整手段。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (1)少なくとも、被露光対象物(13)に電子ビーム
    (11a)を出射する電子銃(11)と、前記電子ビー
    ム(11a)を偏向走査する電子ビーム偏向手段(12
    )とを具備し、 前記電子銃(11)は、電子発生部(101)および案
    内溝部(102)を有する架台本体部(103)と、 前記電子ビーム(11a)の電子出射口 (104)を有する遮蔽具(105)と、 前記遮蔽具(105)の案内溝部(102)に達する係
    止め具(106)からなることを特徴とする電子ビーム
    装置。 (2)請求項1記載の電子ビーム装置であって、電子銃
    (11)に隙間調整手段(107)を設けていることを
    特徴とする電子ビーム装置。
JP1187980A 1989-07-19 1989-07-19 電子ビーム装置 Pending JPH0353438A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1187980A JPH0353438A (ja) 1989-07-19 1989-07-19 電子ビーム装置

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JP1187980A JPH0353438A (ja) 1989-07-19 1989-07-19 電子ビーム装置

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JPH0353438A true JPH0353438A (ja) 1991-03-07

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ID=16215509

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JP1187980A Pending JPH0353438A (ja) 1989-07-19 1989-07-19 電子ビーム装置

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JP (1) JPH0353438A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002091421A1 (fr) * 2001-05-01 2002-11-14 Nikon Corporation Appareil a faisceau d'electrons et son utilisation pour la fabrication

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002091421A1 (fr) * 2001-05-01 2002-11-14 Nikon Corporation Appareil a faisceau d'electrons et son utilisation pour la fabrication

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