JPH0344426B2 - - Google Patents

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JPH0344426B2
JPH0344426B2 JP60221787A JP22178785A JPH0344426B2 JP H0344426 B2 JPH0344426 B2 JP H0344426B2 JP 60221787 A JP60221787 A JP 60221787A JP 22178785 A JP22178785 A JP 22178785A JP H0344426 B2 JPH0344426 B2 JP H0344426B2
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JP
Japan
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cmos gate
gate circuit
cmos
stages
column
Prior art date
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JP60221787A
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Japanese (ja)
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JPS6282716A (en
Inventor
Toshio Tomizawa
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Yamaha Corp
Original Assignee
Yamaha Corp
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Publication date
Application filed by Yamaha Corp filed Critical Yamaha Corp
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Priority to US06/914,377 priority patent/US4742254A/en
Priority to EP86307690A priority patent/EP0219291B1/en
Priority to DE8686307690T priority patent/DE3684222D1/en
Publication of JPS6282716A publication Critical patent/JPS6282716A/en
Publication of JPH0344426B2 publication Critical patent/JPH0344426B2/ja
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  • Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Pulse Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

〔産業上の利用分野〕 この発明は、CMOSゲート回路を用いた二値
化信号の遅延回路をIC化するにあたり、効率的
なICパターンを実現するとともに、IC化にとも
なう遅延出力の波形歪(遅延時間歪)を減少させ
るようにした信号遅延用CMOS集積回路に関す
る。 〔従来の技術〕 CMOSゲート回路は第2図に示すように、P
チヤンネルMOS−FET12とNチヤンネルMOS
−FET14をゲートどうし、ドレインどうしを
互いに接続し、ソースに電源電圧VDD,VSSをそ
れぞれ印加し、入力端子13を介してゲートに信
号を入力し、ドレインから出力端子15に入力信
号の反転信号を取り出すようにしたものである。 このCMOSゲート回路10においては、入力
と出力間に遅延時間が生じる。この遅延時間は、
第3図に示すように、電源電圧VDD−VSSに依存
し、電源電圧VDD−VSSが小さいほど遅延時間は
大きく、その変化率も大きい。これは、電源電圧
VDD−VSSによつて素子のコンダクタンスが変化
するためである。したがつて、この性質を利用し
て電源電圧VDD−VSSの大きさにより、任意の遅
延時間に制御することができる。 このようなCMOSゲート回路10を用いた信
号遅延回路によれば、例えば、時間軸にアナログ
情報を含むパルス周波数変調信号を遅延させる技
術(例えば、ビデオデイスク再送装置における再
生映像信号中のジツタ(時間軸のゆらぎ)の吸
収)に利用することができる。これは、ジツタが
含まれた再生映像信号をCMOSゲート回路に入
力し、そこから出力される映像信号からカラーバ
ースト信号を抽出し、これをカラーバーストのサ
ブキヤリアに対応した3.58MHzの水晶発振クロツ
クと位相比較し、その位相誤差に応じてCMOS
ゲート回路の電源電圧VDD−VSSを制御すること
により、CMOSゲート回路からジツタの吸収さ
れた映像信号を出力させるものである。 ところで、長い遅延時間を必要とする場合は、
第4図に示すように、CMOSゲート回路10を
多段接続すればよいが、これをIC化する場合、
電源ライン15,16を長い距離にわたつて引き
回さなければならない。ところが、IC化すると
電源ライン15,16の幅が減少し、これに伴な
い電源ラインのインピーダンスが増大するので、
不測の電源電圧変化をもたらし、遅延時間制御が
不正確となる。 そこで、この発明では、後述するように、
CMOSゲート回路の多段接続による連続パター
ンを折返し構成することにより、これを解決して
いる。 しかし、折返し構成とすると、これに伴ない次
のような不都合が生じる可能性がある。 不用意に折曲げると、入力波形の立上り部
分、立下り部分に対する回路全体での遅延時間
Tr、Tfに相違を生じ易く、出力波形の歪(デ
ユーテイの変化)となつてしまい、時間軸上に
情報を有する前述のようなビデオデイスク再生
信号を扱う際には使いものにならなくなつてし
まう。 折曲げ部分にて、動作入力周波数の上限が下
がつてしまう。 周期性の入力信号に対して、同時に多数の
CMOSゲートが動作し、動作電流集中による
不測の電圧低下を引き起こし、遅延時間制御が
不正確となる。 〔発明が解決しようとする問題点〕 この発明は、前記従来の技術における問題点を
解決しようとするもので、CMOSゲート回路の
多段接続による連続パターンを折返し構成とする
ことにより、電源ラインの短縮化を可能にして同
ラインのインピーダンス増大を防止するとととも
に、折返し構成に伴う出力波形歪の発生を防止し
た信号遅延用CMOS集積回路を提供しようとす
るものである。 〔問題点を解決するための手段〕 この発明は、CMOSゲート回路の多段接続構
成を、折り返しパターンとして集積回路基板上に
配置し、この折り返しパターンを形成する各列
を、奇数個の段数のCMOSゲート回路で構成す
るようにしたものである。 〔作用〕 この発明の前記解決手段によれば、折り返し構
造とすることにより、電源ライン(VDD,VSS
もそれぞれをくし歯状でかつ互い違いに、対向さ
せるという引回しが可能になり、電源ラインのイ
ンピーダンス増大の悪影響を可及的に小さくする
ことができる。 また、各列を奇数個のCMOSゲート回路で構
成することにより、折り返し部分で生じる遅延時
間バラつき要素を効果的に打ち消し合わせること
ができ、回路全体としての立上り、立下り遅延時
間(TR、TF)を等しくさせることができ、出力
波形歪の発生を防止することができる。 なお、以下の実施例では、各列の終段に電流供
給能力の大きいCMOSゲート回路を配置するこ
とにより、折り返し部の負荷容量増大にともなう
同CMOSゲートの動作スピード低下を防ぎ、入
力信号の高速変化に対する追従性の低下を防止い
る。つまり、動作可能上限周波数が下らず、高速
入力も波形歪なく伝送可能となる。 また、各列をそれぞれ奇数個の段数を有する奇
数個のブロツクに区分し、これら各ブロツクの終
段には、電流供給能力の大きいCMOSゲート回
路を配置することにより、入力信号の周期が各段
の遅延時間の整数倍であるかないかによらず周期
性入力に対しても、各CMOSゲート素子の動作
タイミングが相互にズレたものとなり、動作電流
の集中化が生じにくい。したがつて、電源電圧
VDD,VSSの変化がなく、不測の遅延時間の変化
を防止して入出力間の波形歪のない伝送が可能と
なる。また、この場合各ブロツクの段数を相異な
る奇数個とすることにより、所定帯域内の周波数
の入力全てに対しこの効果がもたらされる。 〔実施例〕 この発明による信号遅延用CMOS集積回路の
チツプパターンの一例を第1図に示す。 このチツプパターンは、短冊状に示された小片
20が個々のCMOSゲート回路である。各列22は、
奇数個のCMOSゲート回路20を縦列接続して
構成され、端部において折返して次列に接続され
て、全体として1本の遅延回路の連続パターンを
構成している。そして、入力端子24から二値化
信号を入力すると、出力端子26からその遅延出
力が取り出される。 電源ライン28は、母線28aからくし歯状の
枝線28bから引き出され、端子28cから各列
22には電源電圧VSSを供給している。電源ライン
30は、母線30aからくし歯状の枝線30bが
前記枝線38bと互い違いに対向するように引き
出され、端子30cから各列22に電源電圧VDD
供給している。これら電源電圧VDD,VSSにより
遅延時間が制御される。 各列22におけるCMOSゲート回路20の段数
は奇数個で、この実施例では231段としている。
また、列22の数は、この実施例では44列としてい
る。 ここで、各列22を構成する個々のCMOSゲー
ト回路20のチツプパターンについて説明する。
ここでは、CMOSゲート回路20のチツプパタ
ーンとして、Aタイプ(小電流用)と、Bタイプ
(大電流用)の2つのタイプが用意されている。
Bタイプは各列の終段および各列を奇数個の段数
で分割したブロツクの終段に配置され、Aタイプ
はそれ以外の部分に配置される。また、チツプパ
ターンは、ここでは2個のCMOSゲート回路を
1組として構成している。2個の組合せとして
は、A−A(Aタイプどうしの組合せ)、A−B
(Aタイプの後にBタイプがくる組合せ)、B−A
(Bタイプの後にAタイプがくる組合せ)がある。
なお、各列は奇数段のCMOSゲート回路で構成
されているので、Bタイプ1個のパターンを用意
し、これを各列の最終段に用いるようにする。 A−Bタイプのチツプパターンの一例を第5図
に示す。また、その電気回路を第6図に示す。こ
のCMOSゲート回路は、AタイプのCMOSゲー
ト回路20−1と、BタイプのCMOSゲート回
路20−2とを縦続接続して構成されている。 従来のCMOSゲート回路のチツプパターンは、
Pチヤンネル側とNチヤンネル側とが対称形状に
構成されていたが、第5図のものではゲート以上
がPチヤンネル側とNチヤンネル側で相違してい
る。これは、対称形状とすると、Pチヤンネルと
Nチヤンネルの特性の相違により、出力の立上り
特性と立下り特性に相違が出て、前述したビデオ
デイスク再生におけるパルス周波数変調信号のジ
ツタ吸収等に利用した場合、入出力パルス波形の
デユーテイ比が変化してしまい、デイスク記録情
報の忠実な再生が困難となるためである。 そこで、第5図では、N,P各チヤンネル素子
のゲートパターンの幅および長さを調整し、これ
ら各チヤンネル素子に同一の外部電圧条件を与え
たときにこれら各チヤンネル素子の動作電流値が
等しくなるように設定している。 CMOSゲート回路20−1は、Pチヤンネル
MOS−FET1とNチヤンネルMOS−FET2と
で構成されている。入力信号は、端子22から入
力され、配線24を介して1段目20−1のゲー
トGp1,Go1に印加される。電源VDDは、電極26
を介して、ソースSp1に印加される。電極VSSは、
電極28を介して、ソースSo1に印加される。そ
して、ドレインDp1,Do1の出力信号は、端子3
0から配線31を介して2段目20−2のゲート
Gp2,Go2に印加される。 2段目20−2では、電源VDDは、電極26を
介して、ソースSp2に印加される。電源VSSは、電
極28を介してソースSo2印加される。そして、
ドレインDp2,Do2の出力信号は、端子32を介
して出力される。 AタイプのCMOSゲート回路20−1は、P
チヤンネルMOS−FET1とNチヤンネルMOS−
FET2に共通の電源VDD,VSSを与えたとき、ID
等しくなるように、ゲートGp1,Go1の幅
(W)/長さ(L)を各チヤンネル素子の構造と
材質特性等から決まる定数K′およびスレツシヨ
ールド電圧Vthの値に応じて設定する。その結果、
NチヤンネルMOSFET1のW/Lは、Pチヤン
ネルMOSFET2のW/Lよりも小さくなる。 ゲートGp1,Go1の寸法の一例を下表に示す。
[Industrial Application Field] This invention realizes an efficient IC pattern when converting a binary signal delay circuit using a CMOS gate circuit into an IC, and also reduces waveform distortion ( This invention relates to a CMOS integrated circuit for signal delay which reduces delay time distortion. [Prior art] As shown in Figure 2, the CMOS gate circuit
Channel MOS-FET12 and N-channel MOS
- Connect the gates of the FETs 14 and the drains thereof, apply the power supply voltages V DD and V SS to the sources, input a signal to the gate via the input terminal 13, and invert the input signal from the drain to the output terminal 15. It is designed to extract signals. In this CMOS gate circuit 10, a delay time occurs between input and output. This delay time is
As shown in FIG. 3, it depends on the power supply voltage V DD -V SS , and the smaller the power supply voltage V DD -V SS is, the larger the delay time and the larger the rate of change thereof. This is the power supply voltage
This is because the conductance of the element changes depending on V DD −V SS . Therefore, by utilizing this property, it is possible to control the delay time to an arbitrary value by adjusting the magnitude of the power supply voltage V DD −V SS . According to a signal delay circuit using such a CMOS gate circuit 10, for example, a technique for delaying a pulse frequency modulation signal containing analog information on the time axis (for example, a technique for delaying a pulse frequency modulation signal containing analog information on the time axis (for example, a method for delaying jitter (time) in a reproduced video signal in a video disc retransmission device) It can be used to absorb shaft fluctuations). This inputs the reproduced video signal containing jitter to a CMOS gate circuit, extracts the color burst signal from the video signal output from there, and converts it to a 3.58MHz crystal oscillation clock that supports the color burst subcarrier. Phase comparison and CMOS according to its phase error
By controlling the power supply voltage V DD −V SS of the gate circuit, a video signal with jitter absorbed is output from the CMOS gate circuit. By the way, if you need a long delay time,
As shown in FIG. 4, it is sufficient to connect the CMOS gate circuits 10 in multiple stages, but when converting this into an IC,
The power lines 15 and 16 must be routed over a long distance. However, when integrated circuits are used, the width of the power supply lines 15 and 16 decreases, and the impedance of the power supply lines increases accordingly.
This results in unexpected power supply voltage changes, making delay time control inaccurate. Therefore, in this invention, as described later,
This problem is solved by folding a continuous pattern of CMOS gate circuits connected in multiple stages. However, the folded configuration may cause the following inconveniences. If you bend it carelessly, the delay time of the entire circuit for the rising and falling parts of the input waveform will decrease.
This tends to cause a difference in T r and T f , resulting in distortion of the output waveform (change in duty), making it unusable when handling the aforementioned video disc playback signal that has information on the time axis. I end up. The upper limit of the operating input frequency is lowered at the bent portion. For periodic input signals, many
The CMOS gate operates, causing an unexpected voltage drop due to concentration of operating current, making delay time control inaccurate. [Problems to be Solved by the Invention] This invention attempts to solve the problems in the conventional technology, and shortens the power supply line by folding the continuous pattern formed by multi-stage connection of CMOS gate circuits. The present invention aims to provide a CMOS integrated circuit for signal delay, which can prevent an increase in the impedance of the same line by making it possible to reduce the number of lines, and also prevent output waveform distortion caused by a folded configuration. [Means for Solving the Problems] The present invention arranges a multi-stage connection configuration of CMOS gate circuits as a folded pattern on an integrated circuit board, and each column forming this folded pattern is connected to an odd number of stages of CMOS gate circuits. It is configured with a gate circuit. [Operation] According to the solution of the present invention, the power supply lines (V DD , V SS ) are
It is now possible to route the power supply lines in a comb-like manner and alternately facing each other, thereby minimizing the adverse effects of an increase in the impedance of the power supply line. In addition, by configuring each column with an odd number of CMOS gate circuits, it is possible to effectively cancel out the delay time variations that occur in the folding section, and the rise and fall delay times (T R , T F ) can be made equal, and generation of output waveform distortion can be prevented. In the example below, by placing a CMOS gate circuit with a large current supply capacity at the final stage of each column, it is possible to prevent the operation speed of the CMOS gate from decreasing due to an increase in the load capacity of the folding section, and to increase the speed of input signals. Prevents deterioration in followability to changes. In other words, the maximum operable frequency does not drop, and high-speed input can be transmitted without waveform distortion. Furthermore, by dividing each column into an odd number of blocks each having an odd number of stages, and placing a CMOS gate circuit with a large current supply capacity at the final stage of each block, the period of the input signal can be adjusted to each stage. Even for periodic inputs, whether or not they are an integral multiple of the delay time, the operating timings of each CMOS gate element will be shifted from each other, making it difficult for concentration of operating current to occur. Therefore, the supply voltage
There is no change in V DD or V SS , preventing unexpected changes in delay time, and enabling transmission without waveform distortion between input and output. Further, in this case, by setting the number of stages of each block to a different odd number, this effect is brought about for all input frequencies within a predetermined band. [Embodiment] FIG. 1 shows an example of a chip pattern of a CMOS integrated circuit for signal delay according to the present invention. This chip pattern consists of small pieces shown in strips.
20 are individual CMOS gate circuits. Each column 22 is
It is constructed by connecting an odd number of CMOS gate circuits 20 in series, and is folded back at the end and connected to the next column, thereby forming a continuous pattern of one delay circuit as a whole. When a binary signal is input from the input terminal 24, its delayed output is taken out from the output terminal 26. The power line 28 is drawn out from the bus bar 28a through a comb-shaped branch line 28b, and is connected to each row from the terminal 28c.
22 is supplied with the power supply voltage V SS . The power supply line 30 is drawn out from the bus bar 30a so that comb-like branch wires 30b alternately face the branch wires 38b, and supplies a power supply voltage V DD to each column 22 from a terminal 30c. The delay time is controlled by these power supply voltages V DD and V SS . The number of stages of CMOS gate circuits 20 in each column 22 is an odd number, and is 231 stages in this embodiment.
Further, the number of columns 22 is 44 in this embodiment. Here, the chip patterns of the individual CMOS gate circuits 20 constituting each column 22 will be explained.
Here, two types of chip patterns for the CMOS gate circuit 20 are prepared: type A (for small current) and type B (for large current).
The B type is arranged at the last stage of each column and the last stage of a block obtained by dividing each column into an odd number of stages, and the A type is arranged at the other parts. In addition, the chip pattern here is composed of two CMOS gate circuits as one set. As for the combination of two pieces, A-A (a combination of A types), A-B
(Combination where B type comes after A type), B-A
(a combination in which type A comes after type B).
Note that since each column is composed of an odd number of stages of CMOS gate circuits, one B type pattern is prepared and used in the final stage of each column. An example of an A-B type chip pattern is shown in FIG. Moreover, the electric circuit is shown in FIG. This CMOS gate circuit is constructed by cascading an A-type CMOS gate circuit 20-1 and a B-type CMOS gate circuit 20-2. The chip pattern of a conventional CMOS gate circuit is
The P channel side and the N channel side were constructed symmetrically, but in the one shown in FIG. 5, the P channel side and the N channel side are different from each other in the gate and beyond. This is because if the shape is symmetrical, the difference in the characteristics of the P channel and N channel will cause a difference in the rise and fall characteristics of the output. In this case, the duty ratio of the input/output pulse waveform changes, making it difficult to faithfully reproduce the disc recorded information. Therefore, in Fig. 5, the width and length of the gate pattern of each channel element N and P are adjusted, and when the same external voltage condition is applied to each channel element, the operating current value of each channel element is equal. It is set so that The CMOS gate circuit 20-1 is a P channel
It is composed of a MOS-FET1 and an N-channel MOS-FET2. The input signal is input from the terminal 22 and applied to the gates G p1 and Go1 of the first stage 20-1 via the wiring 24. Power supply V DD is connected to electrode 26
is applied to the source S p1 via. The electrode V SS is
It is applied to the source S o1 via the electrode 28 . Then, the output signals of the drains D p1 and D o1 are the terminal 3
0 to the gate of the second stage 20-2 via the wiring 31
Applied to G p2 and G o2 . In the second stage 20-2, the power supply V DD is applied to the source S p2 via the electrode 26. A power source V SS is applied to the source S o2 via the electrode 28 . and,
The output signals of the drains D p2 and D o2 are outputted via the terminal 32. The A type CMOS gate circuit 20-1 is P
Channel MOS-FET1 and N-channel MOS-
When a common power supply V DD and V SS are applied to FET2, the width (W)/length (L) of the gates G p1 and G o1 are determined by adjusting the structure and material characteristics of each channel element so that I D is equal. It is set according to the value of the constant K' determined from and the threshold voltage V th . the result,
W/L of N-channel MOSFET 1 is smaller than W/L of P-channel MOSFET 2. An example of the dimensions of gates G p1 and G o1 is shown in the table below.

【表】 但しw、lは実効長さで、設定値W、lよりも
次式で示されるように製造プロセスによつて短く
なる。 w=W−1.5 l=L−1.0 BタイプのCMOSゲート回路20−2は、P
チヤンネルMOS−FET3とNチヤンネルMOS−
FET4に共通の電源VDD,VSSを与えたとき、ID
等しくなるように、ゲートGp2,Go2の幅
(W)/長さ(L)を各チヤンネル素子のK′、
Vthの値に応じて設定する。その結果、Nチヤン
ネルMOS−FET3のW/Lは、Pチヤンネル
MOS−FET4のW/Lよりも小さくなる。 ゲートGp2,Go2の寸法の一例を下表に示す。
[Table] However, w and l are effective lengths, which become shorter than the set values W and l depending on the manufacturing process as shown by the following equation. w=W-1.5 l=L-1.0 B type CMOS gate circuit 20-2 is P
Channel MOS-FET3 and N-channel MOS-
When a common power supply V DD , V SS is applied to FET4, the width (W)/length (L) of the gate G p2 , G o2 is set to K′, K′ of each channel element, so that ID is equal.
Set according to the value of V th . As a result, the W/L of N-channel MOS-FET3 is
It becomes smaller than W/L of MOS-FET4. An example of the dimensions of gates G p2 and G o2 is shown in the table below.

【表】 なお、上記の設計では、Bタイプは、Aタイプ
に対して1.6倍の電流供給能力がある。 次に、これらのCMOSゲート回路20を用い
た第1図のチツプパターンの詳細について説明す
る。 (1) CMOSゲート回路20の配列、電源ライン
の構成 第1図のチツプパターンの電気回路を第7図
に示す。このチツプパターンは、CMOSゲー
ト回路20を多段接続した連続パターンを奇数
個ずつ折返して構成したもので、入力端子24
から入力された信号が各段で遅延されて、出力
端子26から出力される。これにより、限られ
たチツプ基板上に多数のCMOSゲート回路2
0を効率的に配置することができる。 電源ライン28は、母線28aからくし歯状
の枝線28bが引き出され、各CMOSゲート
回路20に電源電圧VSSを供給している。また、
電源ライン30は、母線30aからくし歯状の
枝線28bが引き出され、各CMOSゲート回
路20に電源電圧VDDを供給している。 このような電源ライン28,30の構成によ
れば、母線28a,30aに対し、複数の枝線
28b,30bが引き出されているので、2本
の電源ラインで全CMOSゲート回路20に電
源電圧VSS,VDDを供給するに比べて、電源ラ
インの引き回し量を効率的に短かくでき、電源
ラインのインピーダンス増大を防止することが
できる。したがつて、不測の電源電圧変化がな
くなり、遅延時間の制御性が良好となる。ま
た、1つの枝線28b,30bは、CMOSゲ
ート回路20の2列分にのみ関与するので、一
部分での電圧変化が他の部分へ波及しにくくな
る。 (2) 1つの列22におけるCMOSゲート回路20
の個数 各CMOSゲート回路20自体は、前述のご
とく、Pチヤンネル、Nチヤンネルの電流特性
が同一となるように、ゲート巾(W)/長さ
(L)が調整されている。しかしながら、この
調整によつてもわずかながら各CMOSゲート
回路20のtr(立上り反転動作に伴なう遅延時
間)およびtf(立下り反転動作に伴なう遅延時
間)の差が生じ得ることは充分考えられる。 1列22分の遅延時間(Tr、Tf)を考察する。 (A) 1つの列22が偶数段のCMOSゲート回路
20で構成されている場合 まず、単純に直線配置部分について考え
る。この場合、第8図に示すように、200段
あるとする。 入力信号の立上り部分aについての一列22
全体での遅延時間Trおよび入力信号の立下
り部分bについての一列22全体での遅延時間
Tfは、 Tr=100tf+100tr Tf=100tr+100tf となる。 各段のCMOSゲート回路20の立上り遅
延時間trが全段について等しく、かつ立下り
遅延時間tfも全段について等しいものとすれ
ば、tr=tfでなくても Tr=Tf(=T0とする) であり、立上りと立下りの遅延時間の差ΔT
は、 ΔT=Tr−Tf=0 となる。すなわち、入力波形と出力波形でデ
ユーテイの変化(遅延時間歪)はない。 次に折返し部分36を考慮すると、終段
(第200段)では、折返し部分36のパターン
引回しにより、ほかの通常部分の負荷容量を
基準1とすれば、この折り返し部分の負荷容
量は(1+K)となり、すなわち、負荷容量
がKだけ増大するので、遅延時間Tr、Tfは、 Tr=100tf+(100+K)tr=T0+Ktr Tf=100tr+(100+K)tf=T0+Ktr となり、各段を遅延時間がtr=tfであれば、 ΔT=Tr−Tf=0 となる。しかし、これは実際には実現しにく
い。したがつて、通常はtr=tfであり、その
場合立上りと立下りの遅延時間の差ΔTは、 ΔT=|Tr−Tf|=K|(tr−tf)| となり、n列あれば、チツプ全体で nΔT=nK|(tr−tf)| となり、例えばn=40、K=0.2の場合は、 nΔT=8|(tr−tf)| となる。 したがつて、1列が偶数段で構成されてい
る場合は、 (各列終段ゲートのtr、tfの差)×Kだけ各
列ごとに差が出てしまい、さらにこれらは各
列の全てで生じ、加算されていくから、チツ
プ全体としての立上りと立下りの遅延時間の
差は大きくなる。したがつて、入出力波形の
デユーテイ比が変化し、遅延時間歪が生じ、
パルス周波数変調信号では、変調成分の変化
(時間軸歪)につながつてしまう。 (B) 1つの列22が奇数段のCMOSゲート回路
20で構成されている場合 第9図に示すように1列22が201段で構成
されているとする。 入力信号の立上り部分aについての一列22
全体での遅延時間Tr1および入力信号の立下
り部分bについての一列22全体での遅延時間
Tf1は、 Tr1=100tf+100tr+tf(1+K) Tf1=100tr+100tf+tr(1+K) となり、立上りと立下りの遅延時間の差ΔT1
は、 ΔT1=Tr1−Tf1=tf(1+K)−tr(1+K) 一列22が奇数団で構成されているので、1
つの列での入力が立上りの場合は、次の列で
の入力は立下りとなる。したがつて次列での
遅延時間Tr2、Tf2は、 Tr2=100tr+100tf+tr(1+K) Tf2=100tf+100tr+tf(1+K) 立上りと立下りの遅延時間の差ΔT2は、 ΔT2=Tr2−Tf2=tr(1+K)−tf(1+K) したがつて、2列全体で考えると、立上り
と立下りの遅延時間の差は、 ΔT1+ΔT2=0 となり、打ち消される。したがつて、1列22
が奇数段で構成され、かつ1チツプの列数n
が偶数であれば、チツプ全体での立上りと立
下りの遅延時間の差は0となる。つまり出力
波形の遅延時間歪は全く生じない。また、n
が奇数であつても、1列22分の遅延時間差
ΔT1またはΔT2しか生じない。 第1図の実施例では、1列22の段数を231、
チツプ全体での列数を44とすることにより出
力波形の遅延時間歪を完全に打ち消してい
る。 (3) 各列の折返し部分36での電流供給能力の増
大 前記(2)で一列22の段数を奇数にすることによ
り、入力信号の立上り部分と立下り部分に対す
る遅延時間差を打消すようにしたが、各列ごと
に折返し部分36での負荷容量の増大分K自体
を打ち消すように構成すれば、チツプ全体とし
ても(偶数列が奇数列かによらず)遅延時間差
をより完全になくすことができる。 そのためには、第10図に示すように、各列
終段のCMOSゲート回路20の電流供給能力
を負荷容量増大分Kに合わせて大きくすればよ
い。すなわち前記第5図に示すBタイプ20−
2を使用して、CMOSゲート回路のドライブ
能力を、負荷容量増大分Kに合わせてAタイプ
の1+K倍とする。 さらに、このような構成をとることによつて
遅延し得る入力信号の周波数上限の低下が生じ
なくなる効果もある。すなわち、折返し部分3
6のCMOSゲート回路の電流供給能力が他と
同じとすると、負荷容量がKだけ増大する分充
放電に時間がかかり、その部分の遅延時間は他
より大となる。これは別の見方をすると、信号
反転により時間がかかるということであり、高
い周波数の入力変化には追従し得ないというこ
とである。すなわち折返し部分36を強化して
やらないと、その部分がネツクとなつて全体と
しての動作可能上限周波数が低下し、最悪の場
合、途中で信号が消滅してしまう。 そこで、前述のように各列の終段に電流供給
能力の大きいBタイプのCMOSゲート回路2
0−2を用いれば、このような問題も解消する
ことができる。 (5) 列22内のブロツク分け 一様に同じ遅延時間を有するCMOSゲート
回路を多数縦続接続してなる遅延回路に、周期
性を有する入力信号が入力され、この周期が前
記遅延時間の整数倍に一致するような場合、こ
の整数個ごとのCMOSゲート回路は常に同一
タイミングにて動作することになる。CMOS
ゲート回路が動作する際には、第11図に示す
ような動作電流が電源ラインに流れるから、こ
の場合同一タイミングで動作する個数分の電流
がそのタイミングで集中して電源ラインに流れ
ることになる。そして、電源ラインには、当然
ある程度のインピーダンス分が存在するから、
電流の集中度合によつては、前記周期ごとに不
測の電源電圧低下を引き起こし、遅延回路とし
ての遅延時間制御動作に悪影響を及ぼすことに
なる。特にビデオデイスク等のパルス周波数変
調信号は、規格上、周波数7.6〜9.3MHzの間で
種々周期が変化するから前記遅延時間がどのよ
うな値であつたとしても一様であるならば必ず
いずれかの周波数にて前述したような動作電流
集中現象が生じてしまう。ところでこれら動作
電流集中現象は、第12図aに示すように全く
同じタイミングでCMOSゲート回路a,b,
c,……が立上つたり立下つたりすることに基
因するのであるから、これを解消するにはこれ
らの間の動作タイミングを相互にずらしてやれ
ば良い。それには第12図bに示すように各
CMOSゲート回路a,b,cの各間の遅延時
間が適当に異なるように設定してやる。 第13図は、1段の遅延時間で2.9nsである
Aタイプ20−1を用い1列あたり231段で構
成した場合に、入力信号の周期に対して、電流
ライン28のある一つの枝線に関与する2列分
の動作電流がどのように変化するかを示したも
のである。ここでは、前述した7.6〜9.3MHzの
範囲について示しており、また、動作電流の直
流成分はカツトして変化成分のみを示してい
る。図中上方に示す傾斜線は理論上2列内で起
こり得る最大電流集中段数(1段の動作電流値
を基準1としたときこの段数が全電流値に対応
している)を示すものである。これによれば入
力信号の周期が2.9nsの整数倍である110.2ns
(38段分の遅延時間に相当)、113.1ns(39段分)、
116.0ns(40段分)、118.9ns(41段分)、121.8ns
(42段分)、124.7ns(43段分)、127.6ns(44段
分)、130.5ns(45段分)で動作電流集中が生じ
ている。 そこで、第14図に示すように、各列22内を
奇数個のCMOSゲート20からなる奇数個の
ブロツクに区分し、その各ブロツクの最後のゲ
ートに電流供給能力の大きい前記第5図のBタ
イプ20−2を配置して、非周期構造とするこ
とにより、各列22内の動作タイミングを適当に
変化させることができ、動作電流の集中化を防
止できる。 特に、ブロツク内の段数を相異なる数にすれ
ば、全周波数範囲に対して分散させることがで
きる。この場合、段数を選定する考え方は、入
力信号の周期変化幅を各々2周期分まで考慮し
て、タイミングの一致しにくいものを決定す
る。例えばビデオデイスクの場合は、1段分の
遅延時間が2.9nsとして、次表に示す段数が2
周期分までのタイミングの一致する段数であ
る。
[Table] In the above design, the B type has a current supply capacity 1.6 times that of the A type. Next, details of the chip pattern shown in FIG. 1 using these CMOS gate circuits 20 will be explained. (1) Arrangement of CMOS gate circuit 20 and configuration of power supply line The electric circuit of the chip pattern shown in FIG. 1 is shown in FIG. This chip pattern is constructed by folding back an odd number of continuous patterns in which CMOS gate circuits 20 are connected in multiple stages.
A signal inputted from the circuit is delayed at each stage and output from the output terminal 26. This allows a large number of CMOS gate circuits 2 to be mounted on a limited chip board.
0 can be placed efficiently. In the power supply line 28, a comb-like branch line 28b is drawn out from the bus bar 28a, and supplies a power supply voltage V SS to each CMOS gate circuit 20. Also,
In the power supply line 30, a comb-like branch line 28b is drawn out from the bus bar 30a, and supplies a power supply voltage V DD to each CMOS gate circuit 20. According to the configuration of the power supply lines 28 and 30, a plurality of branch lines 28b and 30b are drawn out from the bus bars 28a and 30a, so that the power supply voltage V is applied to all the CMOS gate circuits 20 by the two power supply lines. Compared to supplying SS and V DD , the amount of wiring of the power supply line can be efficiently shortened, and an increase in the impedance of the power supply line can be prevented. Therefore, unexpected power supply voltage changes are eliminated, and delay time controllability is improved. Moreover, since one branch line 28b, 30b is involved only in two columns of the CMOS gate circuit 20, a voltage change in one part is less likely to spread to other parts. (2) CMOS gate circuit 20 in one column 22
As described above, the gate width (W)/length (L) of each CMOS gate circuit 20 itself is adjusted so that the current characteristics of the P channel and the N channel are the same. However, even with this adjustment, there may be a slight difference in t r (delay time associated with rising inversion operation) and t f (delay time associated with falling inversion operation) of each CMOS gate circuit 20. is quite conceivable. Consider a delay time (T r , T f ) of 22 minutes for one row. (A) When one column 22 is composed of an even number of stages of CMOS gate circuits 20 First, let us simply consider the linearly arranged portion. In this case, it is assumed that there are 200 stages as shown in FIG. One row 22 for the rising part a of the input signal
Total delay time T r and total delay time of one column 22 for the falling part b of the input signal
T f becomes T r =100t f +100t r T f =100t r +100t f . Assuming that the rise delay time t r of the CMOS gate circuit 20 in each stage is equal for all stages, and the fall delay time t f is also equal for all stages, T r = T f even if t r = t f. (=T 0 ), and the difference between the rising and falling delay times ΔT
becomes ΔT=T r −T f =0. That is, there is no change in duty (delay time distortion) between the input waveform and the output waveform. Next, considering the folded part 36, in the final stage (200th stage), due to the pattern routing of the folded part 36, if the load capacity of other normal parts is taken as the standard 1, the load capacity of this folded part is (1+K ), that is, the load capacity increases by K, so the delay times T r and T f are T r = 100t f + (100 + K) t r = T 0 + Kt r T f = 100t r + (100 + K) t f = T 0 +Kt r , and if the delay time of each stage is t r =t f , then ΔT = T r −T f =0. However, this is difficult to achieve in practice. Therefore, normally t r = t f , and in that case, the difference ΔT between the rising and falling delay times is ΔT = |T r −T f |=K|(t r −t f )| If there are n columns, nΔT=nK|(t r −t f )| for the entire chip. For example, if n=40 and K=0.2, nΔT=8|(t r −t f )|. Therefore, if one column is made up of an even number of stages, there will be a difference between each column by (difference between t r and t f of the last stage gate of each column) x K, and these differences will be added to each column. The difference in delay time between the rise and fall of the chip as a whole becomes large. Therefore, the duty ratio of the input and output waveforms changes, causing delay time distortion.
In a pulse frequency modulated signal, this leads to a change in the modulation component (time axis distortion). (B) When one column 22 is composed of an odd number of stages of CMOS gate circuits 20 As shown in FIG. 9, it is assumed that one column 22 is composed of 201 stages. One row 22 for the rising part a of the input signal
Total delay time T r1 and total delay time of one column 22 for the falling part b of the input signal
T f1 is T r1 = 100t f +100t r +t f (1+K) T f1 = 100t r +100t f +t r (1+K), and the difference in delay time between rising and falling edges ΔT 1
is ΔT 1 = T r1 − T f1 = t f (1+K) − t r (1+K) Since one row 22 is composed of an odd group, 1
If the input on one column is a rising edge, the input on the next column will be a falling edge. Therefore, the delay times T r2 and T f2 in the next row are: T r2 = 100t r + 100t f + t r (1+K) T f2 = 100t f + 100t r + t f (1+K) Difference between rising and falling delay times ΔT 2 is ΔT 2 = T r2 −T f2 = t r (1+K) − t f (1+K) Therefore, when considering the two columns as a whole, the difference in delay time between the rise and fall is ΔT 1 +ΔT 2 = It becomes 0 and is cancelled. Therefore, one column 22
consists of an odd number of stages, and the number of rows of one chip is n
If is an even number, the difference between the rise and fall delay times of the entire chip is zero. In other words, no delay time distortion occurs in the output waveform. Also, n
Even if is an odd number, only a delay time difference ΔT 1 or ΔT 2 of 22 minutes per column occurs. In the embodiment shown in Fig. 1, the number of stages in one row of 22 is 231,
By setting the number of columns in the entire chip to 44, delay time distortion of the output waveform is completely canceled. (3) Increase in current supply capacity at the folding portion 36 of each column In (2) above, by setting the number of stages in one column 22 to an odd number, the delay time difference between the rising and falling portions of the input signal is canceled out. However, if each column is configured to cancel out the increase in load capacity K at the folded portion 36, the delay time difference can be more completely eliminated for the chip as a whole (regardless of whether the even-numbered columns or odd-numbered columns). can. To this end, as shown in FIG. 10, the current supply capability of the CMOS gate circuit 20 at the final stage of each column may be increased in accordance with the increased load capacitance K. That is, the B type 20- shown in FIG.
2, the drive capacity of the CMOS gate circuit is made 1+K times that of type A in accordance with the increased load capacitance K. Further, by adopting such a configuration, there is an effect that the upper limit frequency of the input signal, which may be delayed, is not lowered. That is, folded part 3
Assuming that the current supply capacity of the CMOS gate circuit No. 6 is the same as the others, it takes time to charge and discharge as the load capacitance increases by K, and the delay time of that portion is longer than the others. Another way to look at this is that it takes time to invert the signal, and it is not possible to follow high frequency input changes. That is, unless the folding portion 36 is strengthened, that portion will become a link, lowering the overall operable upper limit frequency, and in the worst case, the signal will disappear midway. Therefore, as mentioned above, a B-type CMOS gate circuit with a large current supply capacity is installed at the final stage of each column.
If 0-2 is used, this problem can also be solved. (5) Block division within column 22 A periodic input signal is input to a delay circuit formed by cascading a number of CMOS gate circuits having the same delay time, and this period is an integer multiple of the delay time. , the CMOS gate circuits for each integer number always operate at the same timing. CMOS
When the gate circuit operates, the operating current shown in Figure 11 flows through the power supply line, so in this case, the current for the number of gate circuits that operate at the same timing will concentrate at that timing and flow through the power supply line. . And since there is naturally a certain amount of impedance in the power line,
Depending on the degree of current concentration, an unexpected drop in power supply voltage may occur at each cycle, which may adversely affect the delay time control operation of the delay circuit. In particular, pulse frequency modulation signals from video discs, etc., have various periods varying between 7.6 and 9.3 MHz according to the standard, so no matter what the value of the delay time is, if it is uniform, it will always be one of the following. The operation current concentration phenomenon described above occurs at a frequency of . By the way, these operating current concentration phenomena occur when the CMOS gate circuits a, b,
This is due to the rise and fall of c, . As shown in Figure 12b,
The delay times between the CMOS gate circuits a, b, and c are set to be appropriately different. Figure 13 shows how one branch line of the current line 28 corresponds to the period of the input signal when the A type 20-1, which has a delay time of 2.9 ns per stage, is configured with 231 stages per column. This figure shows how the operating current for two columns related to the change changes. Here, the range from 7.6 to 9.3 MHz mentioned above is shown, and the DC component of the operating current is cut out and only the changing component is shown. The sloped line shown in the upper part of the figure shows the maximum number of stages of current concentration that can theoretically occur within two rows (when the operating current value of one stage is taken as reference 1, this number of stages corresponds to the total current value). . According to this, the period of the input signal is 110.2ns, which is an integer multiple of 2.9ns.
(equivalent to 38 stages of delay time), 113.1ns (39 stages),
116.0ns (40 steps), 118.9ns (41 steps), 121.8ns
Operating current concentration occurs at (42 stages), 124.7ns (43 stages), 127.6ns (44 stages), and 130.5ns (45 stages). Therefore, as shown in FIG. 14, each column 22 is divided into an odd number of blocks each consisting of an odd number of CMOS gates 20, and the last gate of each block is connected to the gate shown in FIG. By arranging the type 20-2 to form an aperiodic structure, the operation timing within each column 22 can be changed appropriately, and concentration of operation current can be prevented. In particular, if the number of stages within a block is different, distribution over the entire frequency range can be achieved. In this case, the idea of selecting the number of stages is to consider the cycle change width of the input signal up to two cycles each, and decide the stage whose timing is difficult to match. For example, in the case of a video disc, assuming the delay time for one stage is 2.9ns, the number of stages shown in the following table is 2.
This is the number of stages with matching timing up to a period.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように、この発明の前記解決手段
によれば、折り返し構造とすることにより、電源
ラインもそれぞれをくし歯状でかつ互い違いに、
対向させるという引回しが可能になり、インピー
ダンス増大の悪影響を可及的に小さくすることが
できる。 また、各列を奇数個のCMOSゲート回路で構
成することにより、折り返し部分で生じる遅延時
間バラつき要素を効果的に打ち消し合わせること
ができ、回路全体としての立上り、立下り遅延時
間を等しくさせることができ、出力波形歪の発生
を防止することができる。
As explained above, according to the solving means of the present invention, by using the folded structure, the power lines are also arranged in a comb-like shape and staggered.
It becomes possible to route the wires so that they face each other, and the negative effects of increased impedance can be minimized. In addition, by configuring each column with an odd number of CMOS gate circuits, it is possible to effectively cancel out the elements of delay time variation that occur in the turning portion, and to equalize the rise and fall delay times of the entire circuit. This makes it possible to prevent output waveform distortion from occurring.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、この発明の一実施例を示すICチツ
プパターンを示す図である。第2図は、CMOS
ゲート回路を示す回路図である。第3図は、
CMOSゲート回路の遅延特性を示す線図である。
第4図は、CMOSゲート回路の縦列接続を示す
回路図である。第5図は、第1図のICチツプパ
ターンで用いられる2連のCMOSゲート回路の
チツプパターンを示す図である。第6図は、第5
図のチツプパターンの電気回路図である。第7図
は、第1図のチツプパターンの電気回路図であ
る。第8図は、1列22の段数が偶数の場合の各段
の動作を示す図である。第9図は、1列22の段数
が奇数の場合の各段の動作を示す図である。第1
0図は、列22の終段に電流供給能力の大きいBタ
イプのCMOSゲート回路20−2を配した回路
図である。第11図は、CMOSゲート回路の動
作を示す波形図である。第12図は、電流集中現
象の説明図である。第13図は、1段の遅延時間
が2.9nsであるAタイプのCMOSゲート回路20
−1で全段を構成した場合に、入力信号の周期に
対して、全体の動作電流がどのように変化するか
を示す線図である。第14図は、各列22内を奇数
個のCMOSゲート20からなる奇数個のブロツ
クに区分し、その各ブロツクの最後のゲートに電
流供給能力の大きいBタイプのCMOSゲート回
路20−2を配置したものである。第15図は、
第12図の構成による入力信号の周期に対する全
体の動作電流の変化を示す線図である。第16図
は、第1図のチツプパターンにおける2列分の
CMOSゲート回路の配置を示す図である。 20……CMOSゲート回路、20−1……A
タイプCMOSゲート回路、20−2……Bタイ
プCMOSゲート回路、28,30……電源ライ
ン、28a,30a……母線、28b,30b…
…枝線。
FIG. 1 is a diagram showing an IC chip pattern showing an embodiment of the present invention. Figure 2 shows CMOS
FIG. 2 is a circuit diagram showing a gate circuit. Figure 3 shows
FIG. 3 is a diagram showing delay characteristics of a CMOS gate circuit.
FIG. 4 is a circuit diagram showing a cascade connection of CMOS gate circuits. FIG. 5 is a diagram showing a chip pattern of two CMOS gate circuits used in the IC chip pattern of FIG. 1. Figure 6 shows the fifth
FIG. 3 is an electrical circuit diagram of the chip pattern shown in FIG. FIG. 7 is an electrical circuit diagram of the chip pattern of FIG. FIG. 8 is a diagram showing the operation of each stage when the number of stages in one column 22 is an even number. FIG. 9 is a diagram showing the operation of each stage when the number of stages in one column 22 is an odd number. 1st
FIG. 0 is a circuit diagram in which a B-type CMOS gate circuit 20-2 having a large current supply capacity is arranged at the final stage of the column 22. FIG. 11 is a waveform diagram showing the operation of the CMOS gate circuit. FIG. 12 is an explanatory diagram of the current concentration phenomenon. Figure 13 shows an A-type CMOS gate circuit 20 in which the delay time of one stage is 2.9 ns.
FIG. 7 is a diagram showing how the overall operating current changes with respect to the cycle of the input signal when all stages are configured with -1. In FIG. 14, each column 22 is divided into an odd number of blocks each consisting of an odd number of CMOS gates 20, and a B-type CMOS gate circuit 20-2 with a large current supply capacity is arranged at the last gate of each block. This is what I did. Figure 15 shows
13 is a diagram showing changes in the overall operating current with respect to the period of the input signal according to the configuration of FIG. 12. FIG. Figure 16 shows two rows of the chip pattern in Figure 1.
FIG. 3 is a diagram showing the arrangement of a CMOS gate circuit. 20...CMOS gate circuit, 20-1...A
Type CMOS gate circuit, 20-2... B type CMOS gate circuit, 28, 30... Power line, 28a, 30a... Bus bar, 28b, 30b...
...branch line.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 CMOSゲート回路の多段接続構成からなり、
これらCMOSゲート回路の電源電圧制御に応じ
て、二値化信号からなる入力を所定時間遅延して
出力する信号遅延用CMOS集積回路において、 前記CMOSゲート回路の多段接続構成は折り
返しパターンを有して集積回路基板上に配置さ
れ、前記折り返しパターンを形成する各列は、奇
数個の段数のCMOSゲート回路からなることを
特徴とする信号遅延用CMOS集積回路。 2 前記各列の終段には、電流供給能力の大きい
CMOSゲート回路を配置したことを特徴とする
特許請求の範囲第1項に記載の信号遅延用
CMOSゲート回路。 3 前記各列は、それぞれ奇数個の段数を有する
奇数個のブロツクに区分され、これら各ブロツク
の終段には、電流供給能力の大きいCMOSゲー
ト回路を配置したことを特徴とする特許請求の範
囲第1項に記載の信号遅延用CMOSゲート回路。 4 前記各ブロツクの段数は相違なる奇数個であ
ることを特徴とする特許請求の範囲第3項に記載
の信号遅延用CMOSゲート回路。
[Claims] 1 Consists of a multi-stage connection configuration of CMOS gate circuits,
In these CMOS integrated circuits for signal delay, which delay and output an input consisting of a binary signal by a predetermined time in accordance with the power supply voltage control of the CMOS gate circuit, the multi-stage connection configuration of the CMOS gate circuit has a folding pattern. 1. A CMOS integrated circuit for signal delay disposed on an integrated circuit board, wherein each column forming the folded pattern is comprised of an odd number of stages of CMOS gate circuits. 2 The last stage of each row has a large current supply capacity.
For signal delay according to claim 1, characterized in that a CMOS gate circuit is arranged.
CMOS gate circuit. 3. Claims characterized in that each column is divided into an odd number of blocks each having an odd number of stages, and a CMOS gate circuit with a large current supply capacity is arranged at the final stage of each of these blocks. The CMOS gate circuit for signal delay according to item 1. 4. The CMOS gate circuit for signal delay according to claim 3, wherein the number of stages of each block is a different odd number.
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