JPH0340152A - Fault restoring system for duplex semiconductor storage device - Google Patents
Fault restoring system for duplex semiconductor storage deviceInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は二重化半導体記憶装置の障害復旧方式に関し、
特に二重化されている両生導体記憶装置内のファイルの
レビジョンの不統一を防くための二重化半導体記憶装置
の障害復旧方式に関する。[Detailed Description of the Invention] [Field of Industrial Application] The present invention relates to a fault recovery method for a duplex semiconductor storage device.
In particular, the present invention relates to a failure recovery method for a duplex semiconductor memory device for preventing revision inconsistency of files in a duplex semiconductor memory device.
従来、この種の二重化半導体記憶装置の障害復旧方式は
、二重化されている両生導体記憶装置内のファイルのレ
ビジョンが両生導体記憶装置において変わってしまった
場合に、新しいレビジョン側の半導体記憶装置から古い
レビジョン側の半導体記憶装置にファイルをコピーする
ことによって、ファイルのレビジョンの不統一を防いで
いた。Conventionally, in the failure recovery method of this type of duplex semiconductor storage device, when the revision of a file in the duplexed amphibonic conductor storage device has changed, the redundant semiconductor storage device with the new revision is replaced with the old one. By copying files to the semiconductor storage device on the revision side, inconsistency in file revisions is prevented.
一方、半導体記憶装置は揮発性の記憶装置であるために
、半導体記憶装置に対する電源の供給が停止すると、そ
の記憶内容(ファイル)をセーブディスク(セーブ用の
磁気ディスク等)にハソテリ等のバンクアンプ電源によ
りセーブする必要がある。したがって、二重化半導体記
憶装置における両手導体記憶装置についても、それぞれ
にセーブディスクが設けられており、停電(電源の供給
の停止)が発生ずるとバンクアンプ電源により各記憶内
容がセーブされていた。On the other hand, since semiconductor storage devices are volatile storage devices, when the power supply to the semiconductor storage device stops, the stored contents (files) are stored on a save disk (magnetic disk for saving, etc.) by a bank amplifier such as a bank amplifier. It is necessary to save by power supply. Therefore, each double-handed conductor memory device in a duplex semiconductor memory device is also provided with a save disk, and in the event of a power outage (stoppage of power supply), each memory content is saved by the bank amplifier power supply.
ここで、障害の復旧のため(両手導体記憶装置内のファ
イルのレビジョンの不統一を防ぐため)にファイルのコ
ピーが行われている場合に停電が発生したときには、両
手導体記憶装置の記憶内容が不一致のままセーブディス
クにセーブされてしまい、停電時にコピー中であったと
いう情報は電源の再供給後においては保持されていなか
った。Here, if a power outage occurs while files are being copied for failure recovery (to prevent inconsistent revisions of files in the two-handed conductor storage device), the memory contents of the two-handed conductor storage device will be The data was saved to the save disk without mismatching, and the information that it was being copied at the time of the power outage was not retained after the power was restored.
上述した従来の二重化半導体記憶装置の障害復旧方式で
は、半導体記憶装置間のファイルのコピー中に停電が発
生した場合に、両手導体記憶装置の記憶内容が不一致(
ファイルのレビジョンが不統一)のままセーブディスク
に対するセーブが行われ、しかも停電時にコピー中であ
ったという情報は電源の再供給後においては保持されな
いので、電源の再供給後に二重化されている両手導体記
憶装置の記憶内容が不一致のままとなり、正常な障害の
復旧を達成することができないという欠点がある。In the above-mentioned conventional fault recovery method for redundant semiconductor storage devices, if a power outage occurs while files are being copied between semiconductor storage devices, the storage contents of the two-handed conductive storage devices will be mismatched (
The data is saved to the save disk with inconsistent file revisions), and the information that it was being copied at the time of the power outage is not retained even after the power is resupplied. This has the disadvantage that the stored contents of the storage device remain inconsistent and normal failure recovery cannot be achieved.
本発明の目的は、上述の点に鑑メ、上述のような場合に
おいても、二重化されている両手導体記憶装置の記憶内
容が不一致となることを防くことができる二重化半導体
記憶装置の障害復旧方式を提供することにある。In view of the above-mentioned points, an object of the present invention is to provide a fault recovery method for a duplex semiconductor memory device that can prevent the storage contents of the duplex two-handed conductor memory device from becoming inconsistent even in the above-mentioned cases. The goal is to provide a method.
本発明の二重化半導体記憶装置装置の障害復旧方式は、
セーブ動作の異常終了を示す情報を電源の供給が停止し
た後にも保持する各半導体記憶装置内のラッチリレーと
、半導体装置装置間のコピー動作におけるコピーの書込
み側の半導体記憶装置においてその旨を示す情報を保持
する当該半導体記憶装置内のコピー中F/Fと、本来の
電源の供給の停止後のバンクアンプ電源による各半導体
記憶装置でのセーブ動作において当該半導体記憶装置内
の前記コピー中F/Fが当該半導体記憶装置がコピー中
でありコピーの書込み側であることを示す情報を保持し
ている場合に当該半導体記憶装置内の前記ラッチリレー
にセーブ動作の異常終了を示す情報をセントしセーブ動
作を異常終了する当該半導体記憶装置内のセーブ機能と
、半導体記憶装置間のコピー動作を制御する場合にコピ
ーの書込み側の半導体記憶装置内の前記コピー中F/F
に当該半導体記憶装置がコピー中でありコピーの書込み
側であることを示す情報をセントし停電後の電源の再供
給時に各半導体記憶装置内の前記ラッチリレーの参照に
基づいてセーブ動作の異常終了に係る半導体記憶装置へ
のコピー動作の制御を行う半導体記憶制御装置とを有す
る。The fault recovery method for the duplex semiconductor storage device of the present invention is as follows:
A latch relay in each semiconductor storage device that retains information indicating abnormal termination of a save operation even after power supply is stopped, and a semiconductor storage device on the writing side of the copy in a copy operation between semiconductor devices to indicate this fact. The copying F/F in the semiconductor storage device that retains information and the copying F/F in the semiconductor storage device during the save operation in each semiconductor storage device by the bank amplifier power supply after the original power supply is stopped. If F holds information indicating that the semiconductor storage device is in the process of copying and is on the writing side of the copy, sends information indicating abnormal termination of the save operation to the latch relay in the semiconductor storage device and saves. A save function in the semiconductor storage device that abnormally terminates the operation, and the copying F/F in the semiconductor storage device on the writing side of the copy when controlling the copy operation between the semiconductor storage devices.
information indicating that the semiconductor storage device is in the process of copying and is on the writing side of the copy is sent, and the save operation is abnormally terminated based on reference to the latch relay in each semiconductor storage device when power is supplied again after a power outage. and a semiconductor storage control device that controls a copy operation to the semiconductor storage device according to the invention.
本発明の二重化半導体記憶装置の障害復旧方式では、各
半導体記憶装置内のラッチリレーがセーブ動作の異常終
了を示す情報を電源の供給が停止した後にも保持し、半
導体装置装置間のコピー動作におけるコピーの書込み側
の半導体記憶装置内のコピー中F/Fが当該半導体記憶
装置がコピ中でありコピーの書込み側であることを示す
情報を保持し、半導体記憶装置内のセーブ機能が本来の
電源の供給の停止後のバンクアンプ電源による当該半導
体記憶装置でのセーブ動作において当該半導体記憶装置
内のコピー中F/Fが当該半導体記憶装置がコピー中で
ありコピーの書込み側であることを示す情報を保持して
いる場合に当該半導体記憶装置内のラッチリレーにセー
ブ動作の異常終了を示す情報をセントしセーブ動作を異
常終了し、半導体記憶制御装置が半導体記憶装置間のコ
ピー動作を制御する場合にコピーの書込み側の半導体記
憶装置内のコピー中F/Fに当該半導体記憶装置がコピ
ー中でありコピーの書込み側であることを示す情報をセ
ントし停電後の電源の再供給時に各半導体記憶装置内の
ラッチリレーの参照に基づいてセーブ動作の異常終了に
係る半導体記(1装置へのコピー動作の制御を行う。In the fault recovery method for a redundant semiconductor storage device of the present invention, a latch relay in each semiconductor storage device retains information indicating abnormal termination of a save operation even after the power supply is stopped, and a copy operation between semiconductor devices The copying F/F in the semiconductor storage device on the writing side of the copy holds information indicating that the semiconductor storage device is in the process of copying and is on the writing side of the copy, and the save function in the semiconductor storage device is switched off from the original power source. Information indicating that the copying F/F in the semiconductor storage device is in the process of copying and is on the writing side of the copy during a save operation in the semiconductor storage device using the bank amplifier power supply after the supply of the bank amplifier is stopped. , the semiconductor storage controller sends information indicating abnormal termination of the save operation to the latch relay in the semiconductor storage device to abnormally terminate the save operation, and the semiconductor storage control device controls the copy operation between the semiconductor storage devices. Information indicating that the semiconductor storage device is in the process of copying and is on the writing side of the copy is sent to the copying F/F in the semiconductor storage device on the writing side of the copy, and when the power is resupplied after a power outage, each semiconductor storage Based on reference to the latch relay in the device, the copy operation to one device is controlled based on the abnormal termination of the save operation.
〔実施例) 次に、本発明について図面を参照して説明する。〔Example) Next, the present invention will be explained with reference to the drawings.
第1図は、本発明の二重化半導体記憶装置の障害復旧方
式の一実施例の構成を示すブロソク図である。本実施例
の二重化半導体記憶装置の障害復旧方式は、半導体記憶
制御装置1と、半導体記憶装置10および20と、セー
ブディスク14および24とを含んで構成されている。FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of a fault recovery method for a duplex semiconductor memory device according to the present invention. The fault recovery system for a duplexed semiconductor storage device according to this embodiment includes a semiconductor storage control device 1, semiconductor storage devices 10 and 20, and save disks 14 and 24.
半導体記憶装置10または20は、セーブ機能11また
は21(半導体記憶装置10または20内のマイクロプ
ログラムの一機能として実現されているものとする)と
、コピー中F/F (F I i p/F 1 o p
。The semiconductor storage device 10 or 20 has a save function 11 or 21 (assumed to be realized as a function of a microprogram in the semiconductor storage device 10 or 20) and a copying F/F (FI i p/F). 1 op
.
フリツプフロツプ)12または22と、ラッチリレー1
3または23とを含んで構成されている。flip-flop) 12 or 22 and latch relay 1
3 or 23.
第2図を参照すると、セーブ機能11または21の処理
は、ラッチリレーセソトステンプ101 と、コピー中
F/Fセント判定ステップ102と、セーブ動作ステッ
プ103と、セーブ動作正常判定ステップ101 と、
ラッチリレーリセントステソプ105 とからなる。Referring to FIG. 2, the processing of the save function 11 or 21 includes a latch relay step 101, a copying F/F cent determination step 102, a save operation step 103, a save operation normality determination step 101,
It consists of a latch relay recent step 105.
次に、このように構成された本実施例の二重化半導体記
憶装置の障害復旧方式の動作について説明する。なお、
ここでは、二重化半導体記憶装置(半導体記憶装置IO
および20により二重化されている半導体記憶装置)の
障害の復旧のために、半導体記憶制御装置1の制御に基
づき、半導体記憶装置10から半導体記憶装置20への
コピーが行われている場合の動作について説明する。Next, the operation of the fault recovery method of the duplex semiconductor memory device of this embodiment configured as described above will be explained. In addition,
Here, a duplex semiconductor memory device (semiconductor memory device IO
Regarding the operation when copying from the semiconductor storage device 10 to the semiconductor storage device 20 is performed under the control of the semiconductor storage control device 1 in order to recover from a failure in the semiconductor storage device (semiconductor storage device duplicated by the semiconductor storage device 10 and 20) explain.
このコピーにおいては、半導体記憶装置10から1ブロ
ソク分の記憶内容が読み出され、その1フロソク分の記
憶内容が半導体記憶装置20に書き込まれ、これらの読
出しおよび書込みがファイル分だけ繰り返される。In this copying, the memory contents for one block are read from the semiconductor memory device 10, the memory contents for the one block are written to the semiconductor memory device 20, and these reading and writing operations are repeated for the number of files.
半導体記憶装置1は、上述のコピーに際し、コピーの書
込み側(コピーされる側。古いレビジョン側)の半導体
記憶装置20内のコピー中F/F22をセットする。During the above-described copying, the semiconductor storage device 1 sets the copying F/F 22 in the semiconductor storage device 20 on the copy writing side (copied side; old revision side).
このようなコピー中に停電が発生してセーブ要求が生し
た場合のセーブ動作について、第2図を参照して説明す
る。A save operation when a power outage occurs during such copying and a save request is generated will be described with reference to FIG. 2.
このセーブ動作のための電源は、本来の電源の供給が停
止された後に駆動されるハソテリ等のハソクアップ電源
により供給される。Power for this save operation is supplied by a backup power source such as a power source, which is driven after the original power supply is stopped.
また、このセーブ動作の制御は、半導体記憶装置10お
よび20内のマイクロプログラムの一機能であるセーブ
機能11および21により行われる。すなわち、セーブ
要求を受けたマイクロプログラムはその要求がセーブ要
求であることを確認し、セーブ機能11および21を動
作させる。これにより、セーブ機能11および21のそ
れぞれは、以下に示すような動作を行う。Further, this save operation is controlled by save functions 11 and 21, which are functions of microprograms in semiconductor memory devices 10 and 20. That is, the microprogram that receives the save request confirms that the request is a save request, and operates the save functions 11 and 21. As a result, each of the save functions 11 and 21 performs the following operations.
初めに、コピーの読出し側(コピー元である新しいレビ
ジョン側)の半導体記憶装置10内のセーブ機能11の
動作について説明する。First, the operation of the save function 11 in the semiconductor storage device 10 on the copy reading side (the new revision side that is the copy source) will be described.
まず、ラッチリレー13をセントする(後述するように
、このセント状態により「セーブ動作の異常終了」を示
すことができる) (ステップ101)。First, the latch relay 13 is set (as described later, this state can indicate "abnormal end of save operation") (step 101).
ここで、ラッチリレー13は、電源(本来の電源および
バックアップ電源)の供給が停止してもその状態を保持
するリレーである。Here, the latch relay 13 is a relay that maintains its state even if the supply of power (original power and backup power) is stopped.
次に、コピー中F / F 12がセントされているか
否か(本来の電源の停電時に半導体記憶装置10がコピ
ー中でありかつコピーの書込み側であったか否か)を判
定する(ステップ102)。Next, it is determined whether or not the copying F/F 12 is being written (whether or not the semiconductor storage device 10 was in the process of copying and was on the writing side of the copy at the time of the original power outage) (step 102).
この判定でコピー中F / F 12はセン1〜されて
いないので、半導体記憶装置10の記憶内容をセーブデ
ィスク14にセーブするセーブ動作を行い(ステップ1
03)、このセーブ動作が正常であるか否かを判定する
(ステップ104)。As a result of this determination, the copying F/F 12 has not been read, so a save operation is performed to save the memory contents of the semiconductor storage device 10 to the save disk 14 (step 1).
03), it is determined whether this save operation is normal (step 104).
この判定でセーブ動作が正常である場合には、ラッチリ
レー13をリセソトしくステップ105 )、セーブ動
作を正常終了する。If it is determined that the save operation is normal, the latch relay 13 is reset (step 105), and the save operation is normally completed.
なお、ステップ104の判定でセーブ動作が正常でない
場合(本実施例では正常であるものとする)には、ラッ
チリレー13をそのまま(セソI−状態のまま)として
セーブ動作を異常終了する。Note that if the save operation is not normal as determined in step 104 (assumed to be normal in this embodiment), the latch relay 13 is left as is (remains in the seso I state) and the save operation is abnormally terminated.
続いて、コピーの書込み側の半導体記憶装置20内のセ
ーブ機能21の動作について説明する。Next, the operation of the save function 21 in the semiconductor storage device 20 on the copy writing side will be described.
まず、ラッチリレー23をセントする(ステップ101
)。First, the latch relay 23 is set (step 101).
).
次に、コピー中F/F22がセントされているか否かを
判定する(ステップ102)。Next, it is determined whether or not the copying F/F 22 is being sent (step 102).
この判定でコピー中F/F22はセントされているので
、ラッチリレー23をそのままとしてセーブ動作を異常
終了する(セーブディスク24への半導体記憶装置20
の記憶内容のセーブは行われない)。In this judgment, since the F/F 22 during copying has been sent, the save operation is abnormally terminated while leaving the latch relay 23 as is (the semiconductor storage device 20 is transferred to the save disk 24).
(The contents of the memory will not be saved.)
以上のようなセーブ機能11および21によるセーブ動
作が終了すると、バックアップ電源の供給は停止される
(バソクアソブ電源の供給の停止後もラッチリレー23
のセント状態は維持されて半導体記憶装置20における
セーブ動作の異常終了を示す情報は保持される)。When the save operation by the save functions 11 and 21 as described above is completed, the supply of backup power is stopped (even after the supply of backup power is stopped, the latch relay 23
(The current state of the data is maintained, and the information indicating the abnormal termination of the save operation in the semiconductor memory device 20 is retained.)
本来の電源の供給が再開されると、半導体記憶制御装置
1の制御番こより半導体記憶装置10および20の立上
げが試みられる(この立」二げの際には、半導体記憶制
御装置■により半導体記憶装置10および20内のラッ
チリレー13および23が参照される)。When the original power supply is resumed, an attempt is made to start up the semiconductor storage devices 10 and 20 from the control number of the semiconductor storage control device 1. (See latching relays 13 and 23 in storage devices 10 and 20).
ここで、半導体記憶装置10については、ラッチリレー
13がリセソトされているので正常な立上げが行われ、
セーブディスク14から半導体記憶装置10への記憶内
容のりストアが行われる。Here, since the latch relay 13 of the semiconductor storage device 10 has been reset, normal startup is performed.
The storage contents are stored from the save disk 14 to the semiconductor storage device 10.
一方、半導体記憶装置20については、ラッチリレー2
3がセント状態のままなので立上げは行われない(セー
ブディスク24から半導体記憶装置20への記憶内容の
りストアは行われず、半導体記憶装置20は使用不可能
状態となる)。On the other hand, regarding the semiconductor storage device 20, the latch relay 2
3 remains in the cent state, startup is not performed (memory contents are not stored from the save disk 24 to the semiconductor storage device 20, and the semiconductor storage device 20 becomes unusable).
半導体記憶制御装置1は、半導体記憶装置20の使用不
可能状態の認識に基づき、ラッチリレー23をリセット
シ、半導体記憶装置IOから半導体記憶装置20へのコ
ピー動作の制御を開始する。Based on recognition of the unusable state of the semiconductor storage device 20, the semiconductor storage control device 1 resets the latch relay 23 and starts controlling the copy operation from the semiconductor storage device IO to the semiconductor storage device 20.
なお、本実施例でしょセーブ機能11および2]がマイ
クロプログラムの一機能として実現される場合について
述べたが、ハードウェア的な手段によっ1
て同機能を実現することができることはいうまでもない
。In this embodiment, we have described the case in which the save functions 11 and 2 are realized as functions of a microprogram, but it goes without saying that the same functions can be realized by hardware means. .
以上説明したように本発明は、二重化半導体記憶装置を
構成する各半導体記憶装置内にラッチリレー、コピー中
F/Fおよびセーブ機能を設けること等により、コピー
中の停電の発生に起因してコピーが中断され各半導体記
憶装置内の記憶内容のセーブ動作が行われる場合に、電
源の再供給後に両生導体記憶装置の記憶内容が不一致と
なる(ファイルのレビジョンの不統一が生しる)ことを
未然に防くことができるという効果がある。As explained above, the present invention provides a latch relay, a copying F/F, and a save function in each semiconductor storage device constituting a duplex semiconductor storage device, thereby preventing copying due to a power outage during copying. If the storage contents of each semiconductor storage device are saved due to interruption of the operation, the storage contents of the bidirectional conductor storage devices will become inconsistent after power is supplied again (inconsistency in file revisions will occur). It has the effect of being able to prevent it from happening.
第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロソク図、
第2図は第1図中のセーブ機能の処理を示す流れ図であ
る。
図において、
1・・・・・半導体記憶制御装置、
10、20・・・半導体記憶装置、
Z
21・
22・
23・
24・
・セーブ機能、
・コピー中F/F、
・ラッチリレー
・セーブディスクである。FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a flow chart showing the processing of the save function in FIG. In the figure, 1... Semiconductor storage control device, 10, 20... Semiconductor storage device, Z 21, 22, 23, 24... - Save function, - F/F during copying, - Latch relay save disk It is.
Claims (1)
た後にも保持する各半導体記憶装置内のラッチリレーと
、 半導体装置装置間のコピー動作におけるコピーの書込み
側の半導体記憶装置においてその旨を示す情報を保持す
る当該半導体記憶装置内のコピー中F/Fと、 本来の電源の供給の停止後のバックアップ電源による各
半導体記憶装置でのセーブ動作において当該半導体記憶
装置内の前記コピー中F/Fが当該半導体記憶装置がコ
ピー中でありコピーの書込み側であることを示す情報を
保持している場合に当該半導体記憶装置内の前記ラッチ
リレーにセーブ動作の異常終了を示す情報をセットしセ
ーブ動作を異常終了する当該半導体記憶装置内のセーブ
機能と、 半導体記憶装置間のコピー動作を制御する場合にコピー
の書込み側の半導体記憶装置内の前記コピー中F/Fに
当該半導体記憶装置がコピー中でありコピーの書込み側
であることを示す情報をセットし、停電後の電源の再供
給時に各半導体記憶装置内の前記ラッチリレーの参照に
基づいてセーブ動作の異常終了に係る半導体記憶装置へ
のコピー動作の制御を行う半導体記憶制御装置と を有することを特徴とする二重化半導体記憶装置の障害
復旧方式。[Scope of Claims] A latch relay in each semiconductor storage device that retains information indicating abnormal termination of a save operation even after power supply is stopped, and a semiconductor memory on the writing side of a copy in a copy operation between semiconductor devices. The F/F in the semiconductor storage device during copying that retains information indicating that fact in the device, and the F/F in the semiconductor storage device during the save operation using the backup power supply after the original power supply is stopped. If the copying F/F holds information indicating that the semiconductor storage device is in the process of copying and is on the writing side of the copy, the latch relay in the semiconductor storage device indicates an abnormal end of the save operation. A save function in the semiconductor storage device that sets information and abnormally terminates the save operation, and a save function in the copying F/F in the semiconductor storage device on the writing side of the copy when controlling the copy operation between semiconductor storage devices. Information indicating that the semiconductor storage device is in the process of copying and is on the writing side of the copy is set, and when the power is resupplied after a power outage, the save operation is abnormally terminated based on reference to the latch relay in each semiconductor storage device. 1. A fault recovery method for a duplex semiconductor storage device, comprising: a semiconductor storage control device that controls a copy operation to such a semiconductor storage device.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1176149A JPH0340152A (en) | 1989-07-07 | 1989-07-07 | Fault restoring system for duplex semiconductor storage device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1176149A JPH0340152A (en) | 1989-07-07 | 1989-07-07 | Fault restoring system for duplex semiconductor storage device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0340152A true JPH0340152A (en) | 1991-02-20 |
Family
ID=16008518
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1176149A Pending JPH0340152A (en) | 1989-07-07 | 1989-07-07 | Fault restoring system for duplex semiconductor storage device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0340152A (en) |
-
1989
- 1989-07-07 JP JP1176149A patent/JPH0340152A/en active Pending
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