JPH0337717A - Arithmetic circuit - Google Patents

Arithmetic circuit

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JPH0337717A
JPH0337717A JP17187089A JP17187089A JPH0337717A JP H0337717 A JPH0337717 A JP H0337717A JP 17187089 A JP17187089 A JP 17187089A JP 17187089 A JP17187089 A JP 17187089A JP H0337717 A JPH0337717 A JP H0337717A
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Japan
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arithmetic
carry
circuit
units
signal
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JP17187089A
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Japanese (ja)
Inventor
Atsushi Ishikawa
淳 石川
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NEC Corp
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NEC Corp
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Abstract

PURPOSE:To check trouble by providing a dual carry look ahead circuit (CLA) to check results and inputting the same random numbers to inputs of respective 4-bit ALUs at the time of executing a micro instruction accompanied with no arithmetic operations and comparing results of ALUs with one another to check them. CONSTITUTION:When a micro instruction is an arithmetic instruction, an output signal 31 of a decoder 3 is '0'. Each of selectors 5a to 5h selects and outputs X and Y inputs, and a CLA 2a generates carry-in signals C0 to C2 in accordance with a carry generation function signal G1 and a carry propagation signal P1 of each ALU, and arithmetic results Z (0 to 16) are calculated by carry-in data and input data. Simultaneously, values of CLAs 2a and 2b are compared with each other by a comparator 7 to check the abnormality. Unless the micro instruction is an arithmetic instruction, comparators 6a and 6b compare output results of ALUs 1a and 1b and those of ALUs 1c and 1d. Thus, trouble is checked.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は情報処理装置に使用される演算回路に関する。[Detailed description of the invention] [Industrial application field] The present invention relates to an arithmetic circuit used in an information processing device.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、この種の演算回路は、故障による出力データ不正
を防ぐため、演算回路の2重化手段。
Conventionally, this type of arithmetic circuit has a method of duplicating the arithmetic circuit in order to prevent incorrect output data due to failure.

もしくは、入力データとそのパリティから出力値のパリ
ティを予測するパリティ予測手段が用いられる。
Alternatively, a parity prediction means is used that predicts the parity of an output value from input data and its parity.

演算回路の2重化手段は同一演算回路を2系列持ち、同
一入力データを与え、その出力結果を比較、一致するか
どうかチエツクする。
The arithmetic circuit duplication means has two series of the same arithmetic circuit, applies the same input data, compares the output results, and checks whether they match.

パリティ予測手段は、入力データとそのパリティ及び演
算機能エリ、出力結果のパリティに予測出力し、演算結
果エリ生成したパリティと比較して演算器に異常がない
か否かをチエツクする方法である。
The parity prediction means is a method of predicting and outputting the input data, its parity, the arithmetic function element, and the parity of the output result, and comparing the arithmetic result area with the generated parity to check whether there is any abnormality in the arithmetic unit.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

しかし、上述した従来の2つの手段は共に大きなハード
ウェア量を必要とするという欠点がアシ、ハードウェア
量が制約される小型コンピュータ等では現実的には採用
していないことが多い。又、パリティ・予測手段は2重
化よりもハードウェア量は少ないものの、パリティのみ
チエツク対象となるため、2ビットエラー等が検出でき
ないという課題がある。
However, both of the above-mentioned conventional means have the drawback of requiring a large amount of hardware, and are often not actually adopted in small computers and the like where the amount of hardware is limited. Further, although the parity/prediction means requires less hardware than duplication, only parity is checked, so there is a problem that 2-bit errors cannot be detected.

本発明は従来のもののこのような課題を解決しようとす
るもので、少ないハードウェア量で故障チエツクのでき
る演算回路を提供するものである。
The present invention is an attempt to solve the above-mentioned problems of the conventional circuits, and provides an arithmetic circuit that can perform failure checking with a small amount of hardware.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本第1の発明の演算回路は、数ビット単位の演算を行う
複数の演算器と該6演算器のキャリイン信号を各演算器
の桁上げ情報より生成する桁上げ先見回路を有する演算
回路において、前記桁上げ先見回路を2組備え、該2つ
の桁上げ先見回路の出力値を比較する手段と、前記演算
器の入力ビット数分の乱数とキャリイン信号を生成する
乱数発生回路と、前記演算回路を使用する演算命令か否
か全判断する命令デコード手段と、該デコード手段の指
示により前記各演算器に前記乱数発生回路が生成したテ
ストデータとキャリイン信号を選択する選択回路および
前記各演算器の出力結果を比較する比較手段を含んで構
成される。
The arithmetic circuit of the first invention is an arithmetic circuit having a plurality of arithmetic units that perform arithmetic operations in units of several bits and a carry look-ahead circuit that generates carry-in signals for the six arithmetic units based on carry information of each arithmetic unit. means for comparing the output values of the two carry look-ahead circuits, a random number generation circuit that generates a carry-in signal and a random number equal to the number of input bits of the arithmetic unit, and the arithmetic operation circuit. an instruction decoding means for determining whether or not an arithmetic instruction uses an arithmetic operation; a selection circuit for selecting test data and a carry-in signal generated by the random number generation circuit for each arithmetic unit according to instructions from the decoding means; It is configured to include comparison means for comparing output results.

また2本第2の発明の演算回路は、数ビット単位の演算
を行う複数の演算器と該6演算器のキャリイン信号を前
記各演算器の桁上げ情報より生成する桁上げ先見回路か
らなる演算回路において、前記桁上げ先見回路を2組備
え、該2つの各桁上げ先見回路の出力値を比較する手段
と、前記各演算器のテスト用入力データとキャリイン信
号を格納するROMと、前記演算回路を使用する演算命
令か否かを判断する命令デコード手段と、該デコード手
段の指示によりカウント動作するROMのアドレスカウ
ンタと、前記各演算器毎に前記ROMに格納されている
テスト用データとキャリイン信号を選択する選択回路お
よび前記各演算器の出力結果を比較する比較手段金言ん
で構成される。
Further, the arithmetic circuit of the second invention includes a plurality of arithmetic units that perform arithmetic operations in units of several bits, and a carry look-ahead circuit that generates carry-in signals of the six arithmetic units based on carry information of each of the six arithmetic units. The circuit includes two sets of carry lookahead circuits, means for comparing output values of the two carry lookahead circuits, a ROM for storing test input data and carry-in signals of each of the arithmetic units, and a ROM for storing test input data and carry-in signals of each of the arithmetic units; an instruction decoding means for determining whether or not an arithmetic instruction uses a circuit; an address counter in a ROM that performs a counting operation according to instructions from the decoding means; It is comprised of a selection circuit for selecting a signal and a comparison means for comparing the output results of each of the arithmetic units.

〔実施例〕〔Example〕

次に1本発明について図面を参照して説明する。 Next, one embodiment of the present invention will be explained with reference to the drawings.

第1図は本第1の発明の一実施例の構成図である。本演
算回路は、制御記憶回路(図中省略)に記憶されている
マイクロ命令に基づき、X(0:16)とY(0:16
)のデータを演算(例えば加算)L、z(0:16)に
出力する16ビット演算回路である。
FIG. 1 is a configuration diagram of an embodiment of the first invention. This arithmetic circuit calculates X (0:16) and Y (0:16) based on microinstructions stored in a control storage circuit (not shown).
) is a 16-bit arithmetic circuit that outputs data of (for example, addition) L, z (0:16).

この16ビット演算器は4ビットのALU 1a。This 16-bit arithmetic unit is a 4-bit ALU 1a.

lb、1c、iaと、各AI、Hの下位からのキャリイ
ンデータ金各ビットALU内の桁上げ生成関数信号Gl
(t=o〜3)と1桁上げ伝播関数信号P工で生成する
桁上げ先見回路(キャリ・ルック・アヘッド回路(以下
/CI、Aと略す。)2a。
lb, 1c, ia, carry-in data from the lower order of each AI, H, carry generation function signal Gl in each bit ALU
(t=o~3) and a carry look ahead circuit (carry look ahead circuit (hereinafter abbreviated as /CI, A) 2a that is generated by a carry propagation function signal P.

ノ 2bからなる。CLA2a、2bは同一回路で。of Consisting of 2b. CLA2a and 2b are the same circuit.

CLA2aとC!LA2bの出力値はコンパレータ7で
比較チエツクされる。
CLA2a and C! The output value of LA2b is compared and checked by comparator 7.

命令デコーダ6は実行するマイクロ命令か演算回路を使
用するか否かを判断するデコーダで。
The instruction decoder 6 is a decoder that determines whether to execute a microinstruction or to use an arithmetic circuit.

演算命令でないとき”1”i信号線31に供給する。乱
数発生回路4はテスト用データを各演算器入力弁、各4
ビットとキャリインデータ1ビット計9ビットを生成す
る。
When it is not an arithmetic instruction, "1" is supplied to the i signal line 31. The random number generation circuit 4 sends test data to each arithmetic unit input valve, each 4
A total of 9 bits, including bits and 1 bit of carry-in data, are generated.

セレクタ5a+5b+5c+5d、5c+5ct5g+
5hはALU Ia、lb、1c、Idの入力信号セレ
クタで、信号線51が@0”のときx(0:16)、Y
(0:1(S)を4ビット単位に分割し各ALUへ、1
”のとき乱数発生回路4が生成した値を各ALIUに供
給する。
Selector 5a+5b+5c+5d, 5c+5ct5g+
5h is the input signal selector for ALU Ia, lb, 1c, Id, and when the signal line 51 is @0'', x (0:16), Y
(Divide 0:1(S) into 4-bit units and send 1
”, the value generated by the random number generation circuit 4 is supplied to each ALIU.

コンパレータ6aは、信号線61が”1”のときALU
 1aの出力信号Z(0:4)とALUlbの出力信号
Z(4:4)t−比較チエツクし。
When the signal line 61 is "1", the comparator 6a
Check the comparison between the output signal Z (0:4) of 1a and the output signal Z (4:4) of ALUlb.

1[にコノパレータ6bは信号線31が”1″のとき、
ALU Icの出力信号z(8:4)とALU  1a
の出力信号z(12:4)e比較チエツクする。セレク
タ8a、8b、8cは信号線ろ1が”0″のときCLA
 2aが生成したキャリインデータを、信号線31が“
1”のとき乱数発生回路4が生成したテスト用キャリイ
ンデータを各ALUに選択供給する。ゲート9は信号線
31が′1″のとき、同様にテスト用キャリインデータ
を供給するANDゲートである。
1 [When the signal line 31 is "1", the conoparator 6b
ALU Ic output signal z (8:4) and ALU 1a
Compare and check the output signal z(12:4)e. Selectors 8a, 8b, and 8c are CLA when signal line 1 is "0".
The signal line 31 carries out the carry-in data generated by 2a.
When the signal line 31 is 1'', test carry-in data generated by the random number generation circuit 4 is selectively supplied to each ALU.The gate 9 is an AND gate that similarly supplies test carry-in data when the signal line 31 is 1''. be.

次に本演算器の動作を説明する。Next, the operation of this arithmetic unit will be explained.

マイクロ命令が演算命令の場合、デコーダ6の出力信号
51が0″となる。各入力セレクタ5a+5b、5c+
5a、5e、5ft5g+5h号Piよりキャリイン信
号co + c、 l C2がCLA2aが生成、キャ
リインデータと入力データに工り、演算結果z(o :
 ib)が算出される。
When the microinstruction is an arithmetic instruction, the output signal 51 of the decoder 6 becomes 0''.Each input selector 5a+5b, 5c+
5a, 5e, 5ft 5g + 5h from Pi, carry-in signal co + c, l C2 is generated by CLA2a, processed into carry-in data and input data, and the calculation result z(o:
ib) is calculated.

同時に、CLA Zaと2bの値がコンパレータで比較
され異常がないかチエツクされる。
At the same time, the values of CLA Za and 2b are compared by a comparator to check for any abnormality.

マイクロ命令が演算命令でない場合、デコーダ3の出力
信号31が”1”となる。各ALUは乱数発生回路4が
生成した乱数を入力し演算を行う。故障がなげれば同一
出力結果が算出される。コンパレータ6a、6bは、A
LU Iaと1bの出力結果およびALUICと1dの
出力結果を比較し、異常がないかチエツクする。
If the microinstruction is not an arithmetic instruction, the output signal 31 of the decoder 3 becomes "1". Each ALU receives random numbers generated by the random number generation circuit 4 and performs calculations. If the failure is eliminated, the same output result will be calculated. Comparators 6a and 6b are A
Compare the output results of LU Ia and 1b and the output results of ALUIC and 1d to check for any abnormality.

第2図は本第2の発明の一実施例の構成図で。FIG. 2 is a configuration diagram of an embodiment of the second invention.

第1図と同一符号は同一構成要素を示している。The same reference numerals as in FIG. 1 indicate the same components.

以下第1図で説明していない部分について説明する。The parts not explained in FIG. 1 will be explained below.

セレクタ5a、5b、5c+5ct、5e、5f。Selectors 5a, 5b, 5c+5ct, 5e, 5f.

5g、5hはALUla、1b、IC,1dの入力デー
タセレクタで、信号線61が0”のときX(0:16)
、Y(0:16)を4ビット単位に分割しALUへ供給
し、”1”のときROM10の出力データを各ALUに
供給する。
5g and 5h are the input data selectors of ALUla, 1b, IC, 1d, and when the signal line 61 is 0'', X (0:16)
, Y (0:16) are divided into 4-bit units and supplied to the ALU, and when it is "1", the output data of the ROM 10 is supplied to each ALU.

門 RO呑10は9ビット巾、16フードの構成の読出し専
用メモリで、ALUの故障を検出するに適する第3図の
ようなテストデータを格納している。ROM10のアド
レスはアドレスカウンタ11で示される。このカウンタ
ー1は信号線31が1”のとき、サイクル毎にカウント
アツプ動作をする4ビット巾のカウンタである。
The gate RO unit 10 is a read-only memory having a width of 9 bits and a configuration of 16 hoods, and stores test data as shown in FIG. 3 suitable for detecting failures in the ALU. The address of the ROM 10 is indicated by an address counter 11. This counter 1 is a 4-bit wide counter that performs a count-up operation every cycle when the signal line 31 is 1''.

セレクタ8a、8b、8cはALU 1a、ib。Selectors 8a, 8b, and 8c are ALUs 1a and ib.

1Cのキャリイン入力co、C1,C2にキャリインデ
ータを供給するセレクタで、信号線31が0”のとき、
CLA2aが生成したキャリインデータを、信号線31
が”1”のときROM10が出力するキャリインデータ
を選択供給する。ゲート9は信号線31が”1“のとき
2同様にALU 1dにROM 10のキャリインデー
タを供給する。
A selector that supplies carry-in data to 1C carry-in input co, C1, and C2, and when signal line 31 is 0'',
The carry-in data generated by CLA2a is transferred to the signal line 31.
When is "1", the carry-in data output from the ROM 10 is selectively supplied. When the signal line 31 is "1", the gate 9 supplies the carry-in data of the ROM 10 to the ALU 1d in the same way as in 2.

次に本発明の演算回路の動作を説明する。Next, the operation of the arithmetic circuit of the present invention will be explained.

マイクロ命令が演算命令の場合、デコーダ乙の出力信号
31が10”となる。各セレクタ5a、5b、5c、5
a、5e、5t’、5g、5hはそれぞれx(0:16
)、y’(0:16)を選択出力し、各ALUの桁上げ
生成関数信号G1および桁上げ伝播信号Plよりキャリ
イン信号CO+ C1+02iCLA2aが生成、キャ
リインデータと入力データより演算結果Z(0:16)
が算出される。同時に0LA2aと2bの値がコンパレ
ータ7で比較され異常がないかチエツクされる。
When the microinstruction is an arithmetic instruction, the output signal 31 of the decoder B becomes 10". Each selector 5a, 5b, 5c, 5
a, 5e, 5t', 5g, 5h are respectively x (0:16
), y' (0:16) is selected and output, a carry-in signal CO+C1+02iCLA2a is generated from the carry generation function signal G1 of each ALU and the carry propagation signal Pl, and the calculation result Z(0: 16)
is calculated. At the same time, the values of 0LA2a and 0LA2b are compared by a comparator 7 to check for any abnormality.

マイクロ命令が演算命令でない場合、デコーダ6の出力
信号61が”1″となり、セレクタ5a+5b+5c、
5d、5e、!!、5g、5hがそれぞれ信号線31の
指示に従いカウントアップしたカウンタ11のアドレス
に格納されているROM10のデータを各ALUへ選択
供給する。同様に各ALUのキャリイン信号は、ROM
10のデータが選択供給され、各ALUは同一の入力デ
ータにょう同一の演算結果を出力する。
If the microinstruction is not an arithmetic instruction, the output signal 61 of the decoder 6 becomes "1", and the selectors 5a+5b+5c,
5d, 5e,! ! . Similarly, the carry-in signal of each ALU is
Ten data are selectively supplied, and each ALU outputs the same operation result based on the same input data.

コンパレータ6a、6bはALUlaとib。Comparators 6a and 6b are ALUla and ib.

1cと1dを比較チエツクし、各ALUに異常がないか
チエツクする。
1c and 1d are compared and checked to see if there is any abnormality in each ALU.

テストするデータは演算命令でない場合、サイクル毎に
変化し、故障検出に適したデータが与えられるため、A
LUの異常がすぐに検出出来る。
If the data to be tested is not an arithmetic instruction, it changes every cycle and provides data suitable for fault detection.
LU abnormalities can be detected immediately.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように9本第1の発明は、CLAのみ2重
化しその結果をチエツクすると共に。
As explained above, in the first nine inventions, only the CLA is duplicated and the result is checked.

演算を行わないマイクロ命令′実行時各4ビットALU
の入力にそれぞれ同じ乱数を入力し、その結果を4ビッ
トALU同志で比較チエツクすることにより、また本第
2の発明はODAのみ2重化し、その結果をチエツクす
るとともに4ビット単位のALUをテストするデータを
格納したROM’i備え、演算命令でないとき各AI。
4-bit ALU each when executing microinstructions that do not perform operations
By inputting the same random number to each input and comparing and checking the results between 4-bit ALUs, the second invention doubles only the ODA, checks the results, and tests the ALU in 4-bit units. Each AI is equipped with a ROM'i that stores data to be executed.

Uに同一のテストデータを与え、その結果を比較するこ
とで演算回路を完全2重化した場合や。
A case where the arithmetic circuit is completely duplicated by giving the same test data to U and comparing the results.

パリティ予測回路を用意より少ないHw量で演算回路の
故障チエツクが出き、情報処理装置の信頼度を高める効
果がある。
The parity prediction circuit can check for failures in the arithmetic circuit with a smaller amount of Hw than is required, which has the effect of increasing the reliability of the information processing device.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図と第2図は本第1と第2の発明の一実施例のブロ
ック図、第3図は第2図中のROMに格納した一例のパ
ターン図を示す。 記号の説明: 1a、1b、 1c、ta−1,4ビッ
トALU、2a、2b・・・桁上げ先見回路、3・・・
マイクロ命令デコーダ、4・・・乱数発生回路、5a。 5b、5c、5a、5e、5f、5g、5h、8a、8
b。 8c・・・セレクタ、6a、6b、7・・・コンパレー
タ。 9・・・ANDゲート、10・・・ROM、11・・・
アドレスカウンタ。
1 and 2 are block diagrams of an embodiment of the first and second inventions, and FIG. 3 is a pattern diagram of an example stored in the ROM in FIG. Explanation of symbols: 1a, 1b, 1c, ta-1, 4-bit ALU, 2a, 2b... Carry look ahead circuit, 3...
Microinstruction decoder, 4...Random number generation circuit, 5a. 5b, 5c, 5a, 5e, 5f, 5g, 5h, 8a, 8
b. 8c...Selector, 6a, 6b, 7...Comparator. 9...AND gate, 10...ROM, 11...
address counter.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)数ビット単位の演算を行う複数の演算器と、該各
演算器のキャリイン信号を前記各演算器の桁上げ情報よ
り生成する桁上げ先見回路を有する演算回路において、
前記桁上げ先見回路を2組備え、該2つの桁上げ先見回
路の出力値を比較する手段と、前記演算器の入力ビット
数分の乱数とキャリイン信号を生成する乱数発生回路と
、前記演算回路を使用する演算命令か否かを判断する命
令デコード手段と、前記デコード手段の指示により前記
各演算器毎に前記乱数発生回路が生成した入力データと
キャリイン信号を選択する選択回路と、前記各演算器の
出力結果を比較する比較手段とを含むことを特徴とする
演算回路。(2)数ビット単位の演算を行う複数の演算
器と、該各演算器のキャリイン信号を前記各演算器の桁
上げ情報より生成する桁上げ先見回路から成る演算回路
において、前記桁上げ先見回路を2組備え、該2つの各
桁上げ先見回路の出力値を比較する手段と、前記演算器
のテスト用入力データとキャリイン信号を格納したRO
Mと、前記演算回路を使用する演算命令か否かを判断す
る命令デコード手段と、該デコード手段の指示によりカ
ウント動作をする前記ROMのアドレスカウンタと、前
記各演算器毎に前記ROMに格納されている入力データ
とキャリイン信号を選択する選択回路と、前記各演算器
の出力結果を比較する比較手段を含むことを特徴とする
演算回路。
(1) In an arithmetic circuit having a plurality of arithmetic units that perform arithmetic operations in units of several bits, and a carry look-ahead circuit that generates a carry-in signal for each of the arithmetic units from carry information of each of the arithmetic units,
means for comparing the output values of the two carry look-ahead circuits, a random number generation circuit that generates a carry-in signal and a random number equal to the number of input bits of the arithmetic unit, and the arithmetic operation circuit. an instruction decoding means for determining whether or not an arithmetic instruction using and comparison means for comparing the output results of the calculator. (2) In an arithmetic circuit consisting of a plurality of arithmetic units that perform arithmetic operations in units of several bits, and a carry lookahead circuit that generates a carry-in signal of each arithmetic unit from carry information of each arithmetic unit, the carry lookahead circuit means for comparing the output values of the two respective carry look-ahead circuits, and an RO storing test input data and carry-in signals of the arithmetic unit.
M, an instruction decoding means for determining whether or not an arithmetic instruction uses the arithmetic circuit, an address counter of the ROM that performs a counting operation according to instructions of the decoding means, and an address counter stored in the ROM for each of the arithmetic units. An arithmetic circuit comprising: a selection circuit for selecting input data and a carry-in signal; and comparison means for comparing output results of each of the arithmetic units.
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