JPH0337047Y2 - - Google Patents

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JPH0337047Y2
JPH0337047Y2 JP17219681U JP17219681U JPH0337047Y2 JP H0337047 Y2 JPH0337047 Y2 JP H0337047Y2 JP 17219681 U JP17219681 U JP 17219681U JP 17219681 U JP17219681 U JP 17219681U JP H0337047 Y2 JPH0337047 Y2 JP H0337047Y2
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JP
Japan
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voltage
load
load current
detection circuit
impedance
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JP17219681U
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は予め設定した特性で時間の経過ととも
にインピーダンスが変化する疑似負荷装置に関す
る。
たとえば白熱電球のような負荷では第1図に示
すように点燈時には大きな突入電流が流れフイラ
メント温度の上昇とともにその抵抗値が増大して
流れる電流が減少する。したがつてこのような負
荷に対してフイラメントが常温まで冷却された初
期状態の突入電流を流すためには消燈後、充分な
休止時間を設けてフイラメントの温度の低下を待
たなければならない。
したがつてこのような負荷に電力を供給する電
源、スイツチ等の寿命、耐久摩耗等の試験を行な
う場合、フイラメントが充分に冷却されない状態
で点燈すると初期状態よりも小さな突入電流しか
流れず正確な試験を行なえない。
逆に初期状態を繰り返して再現するためにフイ
ラメントが充分に冷却されるのを待つて点燈する
と試験を行なうために要する時間は著しく長時間
になる。
本考案は上記の事情に鑑みてなされたもので予
め設定した態様で時間の経過とともにインピーダ
ンスを変化させることができ電子的な制御を行な
うことによつて短い周期で繰り返して所望の負荷
の初期状態を再現することができる疑似負荷装置
に関する。以下本考案の一実施例を第2図に示す
ブロツク図を参照して詳細に説明する。図示1,
2は試験端子でこの間に、たとえば破線で示すよ
うにスイツチSW、バツテリBS等が接続される。
また上記試験端子1へ外部から流れ込んだ電流は
電力用トランジスタ3、電流検出器4を介して試
験端子2から外部へ流れ出す。
そして5は特性設定部で、たとえば複数の微分
回路の微分出力を合成して第1図に示すような、
所望の負荷の突入電流値およびその変化に対応す
るインピーダンス変化の波形を得、この信号を加
減算回路6へ与える。また7は第1図において定
常状態における電流ISに対応するインピーダンス
を設定する負荷電流設定器でこの設定値を加減算
回路6へ与える。8は試験端子1,2間に接続さ
れるスイツチSW、バツテリBS等の試料の接触抵
抗、内部抵抗等を検出する検出回路である。ここ
でたとえばスイツチSWの内部抵抗を検出する場
合、第2図図示破線のように電流検出器4の一端
の電圧から試験端子1,2間を流れる電流Iを検
出し、またスイツチSWの一端の電圧Vを検出す
る。そして検出回路8では上記電流Iおよび電圧
Vを演算して上記試料、すなわちスイツチSWの
接触抵抗を得、これによる電圧降下分を外部基準
用の増幅器9で増幅した後上記加減算回路6へ与
えるようにしている。そしてこの加減算回路6の
出力を比較増幅器10の一方の入力へ与えて基準
とし、電流検出器4の検出値が上記基準に等しく
なるように電力用トランジスタ3のベース電流を
制御する。
このような構成であれば、たとえば特性設定部
5に第1図に示すような突入電流値およびその変
化と同一の波形を設定し、また負荷電流設定器7
に定常状態における電流ISを設定する。そして試
験端子1,2間にスイツチSWおよびバツテリBS
を直列に介挿して、このスイツチSWを投入すれ
ばバツテリBSの正極から流れ出た電流は電力用
トランジスタ3および電流検出器4およびスイツ
チSWを介してバツテリBSの負極へ流れ込む。こ
こで電流検出器4における電圧降下として検出さ
れた電流値は比較増幅器10において加減算回路
6の加減算出力と比較されその差分が電力用トラ
ンジスタ3のベースへ与えられる。したがつて試
験端子1,2間のインピーダンスは、たとえば第
1図に示す白熱電球のインピーダンスの経時的変
化と同様に、スイツチSWの投入直後は小さなイ
ンピーダンスを示し、その後定常状態の比較的、
大きなインピーダンスに至る。なおこの場合、た
とえばスイツチSWの接触抵抗が増加すると、こ
れを検出回路8で検出し、これを外部基準として
加減算回路6へ与えるようにしている。したがつ
て電力用トランジスタ3は上記接触抵抗における
電圧降下分に対応して流れる電流を制限し、実物
の白熱電球を負荷として用いた回路に等しい負荷
電流を流すことができる。したがつて負荷電流は
特性設定部5、負荷電流設定器7および検出回路
8の検出値に応じて経時的に所望の特性で変化す
る。そしてこの変化を電子的に行なうために白熱
電球のような熱的な影響を受けることもなくスイ
ツチSWの投入時に常に初期状態を再現すること
ができる。したがつてこのような負荷に電力を供
給する電源あるいはこの回路に介挿されるスイツ
チSW等の試験を短い周期で繰り返して長時間に
わたつて安定に行なうことができる。
なお本考案は上記実施例に限定されるものでは
なく、たとえば特性設定部5に複数の白熱電球の
特性を予め設定し、これをスイツチ等で選択して
もよい。またこの特性は白熱電球だけでなく、イ
グナイター等のインダクタンスの特性を設定して
もよい。また検出回路8により電源、たとえばバ
ツテリBSの内部抵抗を検出し、その増加分を加
えて電力用トランジスタ3を制御するようにして
もよい。
以上詳述したように本考案によれば所望の負荷
のインピーダンスの経時的な変化を電子的に実現
できそれによつて電源、スイツチ等の試験を正確
かつ容易に短い周期で繰り返して行なえる疑似負
荷装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は白熱電球のインピーダンス変化の一例
を示す図、第2図は本考案の一実施例を示すブロ
ツク図である。 1,2……試験端子、3……電力用トランジス
タ、4……電流検出器、5……特性設定部、6…
…加減算回路、7……負荷電流設定器、8……検
出回路、10……比較増幅器、BS……バツテリ、
SW……スイツチ。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 任意の負荷における電源投入時のインピーダン
    スの経時的な変化特性を電圧により設定する特性
    設定部と、 上記負荷の定常状態におけるインピーダンスを
    電圧により設定する負荷電流設定器と、 負荷電流の流れる回路に介挿した部品の抵抗分
    を電圧として検出する検出回路と、 上記特性設定部で設定した電圧と上記負荷電流
    設定器で設定した電圧を加算し、この加算した電
    圧から上記検出回路で検出した電圧を減算する加
    減算回路と、 この加減算回路の出力電圧が一方の入力へ与え
    られ、他方の入力へ与えられる負荷電流による検
    出電圧と比較する比較増幅器と、 この比較増幅器の出力電圧が電力用トランジス
    タのベースへ与えられ負荷電流を制御する電力用
    トランジスタと を具備したことを特徴とする疑似負荷装置。
JP17219681U 1981-11-19 1981-11-19 擬似負荷装置 Granted JPS5876912U (ja)

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JP17219681U JPS5876912U (ja) 1981-11-19 1981-11-19 擬似負荷装置

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JP17219681U JPS5876912U (ja) 1981-11-19 1981-11-19 擬似負荷装置

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Publication Number Publication Date
JPS5876912U JPS5876912U (ja) 1983-05-24
JPH0337047Y2 true JPH0337047Y2 (ja) 1991-08-06

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