JPH0334484A - 安定化光源 - Google Patents
安定化光源Info
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- JPH0334484A JPH0334484A JP16871789A JP16871789A JPH0334484A JP H0334484 A JPH0334484 A JP H0334484A JP 16871789 A JP16871789 A JP 16871789A JP 16871789 A JP16871789 A JP 16871789A JP H0334484 A JPH0334484 A JP H0334484A
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 40
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 20
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims abstract description 13
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims abstract description 9
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 13
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 10
- 230000035559 beat frequency Effects 0.000 claims description 6
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 6
- 230000009466 transformation Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 7
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 6
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 4
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 4
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 2
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 230000005281 excited state Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 230000005283 ground state Effects 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001340 alkali metals Chemical class 0.000 description 1
- 230000005466 cherenkov radiation Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000011982 device technology Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体発光素子を光源とする安定化光源に関す
る。ものである。
る。ものである。
近年、半導体レーザなどの半導体発光素子技術が飛躍的
に進歩しているが、このような半導体レーザでは発振波
長が環境温度について20〜30GH/’C1駆動電流
について30H2/mA程度で変動してしまう。従って
、半導体レーザをコヒーレント光通信や分光技術の分野
で光源として使用しようとすると、高度の周波数(波長
)安定化が必要となる。周波数安定化の技術としては、
次のようなものがある。
に進歩しているが、このような半導体レーザでは発振波
長が環境温度について20〜30GH/’C1駆動電流
について30H2/mA程度で変動してしまう。従って
、半導体レーザをコヒーレント光通信や分光技術の分野
で光源として使用しようとすると、高度の周波数(波長
)安定化が必要となる。周波数安定化の技術としては、
次のようなものがある。
第1は、半導体レーザの出力をPINホトダイオードな
どで検出し、これを駆動電流源に負帰還すると共に、高
度の温度制御を行なうものである。
どで検出し、これを駆動電流源に負帰還すると共に、高
度の温度制御を行なうものである。
これによれば、波長1.3〜1.55μm帯においてl
X10−9以上の周波数安定度が実現されている。
X10−9以上の周波数安定度が実現されている。
第2は、光ガルバノ効果を用いたものであり、例えば電
子通信学会報告OQE81−136(19g2.3.1
6)に示されている。光ガルバノ効果とは、放電気体中
に存在する原子または分子の遷移に一致する波長の光を
照射すると、放電電流が変化する現象であり、微小な波
長変動に対して放電電流が変化する。この技術では、1
3 10 オーダーの高い周波数安定度が得られている。
子通信学会報告OQE81−136(19g2.3.1
6)に示されている。光ガルバノ効果とは、放電気体中
に存在する原子または分子の遷移に一致する波長の光を
照射すると、放電電流が変化する現象であり、微小な波
長変動に対して放電電流が変化する。この技術では、1
3 10 オーダーの高い周波数安定度が得られている。
第3は、原子、分子のスペクトルを用いた標準波長光源
を用意し、この出力光との間でのビート周波数を検出し
、半導体レーザの駆動電流源に負帰還をかけるものであ
る。これは、例えば「ジャーナル◆オブ・ライトウェー
ブ・テクノロジー」JOUI?NAL OF LICI
ITWAVE TECHNOLOGY″Vo1.6゜N
o、2. (1988年2月)に示されている。これ
によれば、アルカリ金属蒸気の吸収スペクトル線12 を使用したときに、2×10 程度の周波数安定度が
得られている。また、この場合の一般的なコヒーレント
化技術については、「オプトロニクスJ (1988
) No、9. P、97〜101に説明されている。
を用意し、この出力光との間でのビート周波数を検出し
、半導体レーザの駆動電流源に負帰還をかけるものであ
る。これは、例えば「ジャーナル◆オブ・ライトウェー
ブ・テクノロジー」JOUI?NAL OF LICI
ITWAVE TECHNOLOGY″Vo1.6゜N
o、2. (1988年2月)に示されている。これ
によれば、アルカリ金属蒸気の吸収スペクトル線12 を使用したときに、2×10 程度の周波数安定度が
得られている。また、この場合の一般的なコヒーレント
化技術については、「オプトロニクスJ (1988
) No、9. P、97〜101に説明されている。
しかし、上記の従来技術においては、例えば第1のもの
では、周波数安定度が10−9オーダーであって十分で
はない。第2および第3のものでは、周波数安定度は高
いが長波長帯(特に1.3〜1.55μm帯)では安定
化が難しい。
では、周波数安定度が10−9オーダーであって十分で
はない。第2および第3のものでは、周波数安定度は高
いが長波長帯(特に1.3〜1.55μm帯)では安定
化が難しい。
一方、「エレクトロニクス・レターズ」’ELECTR
ONICS LETTER3’ Vol、24.No、
13.P、804〜805(1988年6月23日)に
は、光ガルバノ効果を用いた長波長帯の光周波数安定化
技術が示されている。しかし、長波長帯で光ガルバノ効
果を利用するための遷移状態は、例えば励起−励起状態
、励起−イオン化状態のようなごく限られたもので、遷
移確率が小さい。従って、光ガルバノ効果を利用した波
長変動検出手段からの出力も十分とることができない。
ONICS LETTER3’ Vol、24.No、
13.P、804〜805(1988年6月23日)に
は、光ガルバノ効果を用いた長波長帯の光周波数安定化
技術が示されている。しかし、長波長帯で光ガルバノ効
果を利用するための遷移状態は、例えば励起−励起状態
、励起−イオン化状態のようなごく限られたもので、遷
移確率が小さい。従って、光ガルバノ効果を利用した波
長変動検出手段からの出力も十分とることができない。
また、分子の基底状態を利用することも考えられるが、
これも同様に出力信号が小さいとか、バンド幅が広く安
定化の幅を小さく抑えることができない等の問題点を有
している。また、原子や分子の吸収スペクトル線を利用
する方法でも、その波長帯は短波長域に多くあり、従っ
て長波長帯において有効に利用できない問題がある。
これも同様に出力信号が小さいとか、バンド幅が広く安
定化の幅を小さく抑えることができない等の問題点を有
している。また、原子や分子の吸収スペクトル線を利用
する方法でも、その波長帯は短波長域に多くあり、従っ
て長波長帯において有効に利用できない問題がある。
そこで本発明は、長波長帯においても十分な周波数安定
度を実現できる安定化光源を提供することを目的とする
。
度を実現できる安定化光源を提供することを目的とする
。
本発明に係る安定化光源は、半導体発光素子を光源とす
る安定化光源において、半導体発光素子からの光を出力
光と被検出光に分岐する分岐手段と、被検出光をより短
波長の波長変換光に変換する波長変換手段と、波長変換
光の波長変動を検出する波長変動検出手段と、この波長
変動検出手段の出力により半導体発光素子の発振波長が
一定となるようにこれを制御する制御手段とを備えるこ
とを特徴とする。
る安定化光源において、半導体発光素子からの光を出力
光と被検出光に分岐する分岐手段と、被検出光をより短
波長の波長変換光に変換する波長変換手段と、波長変換
光の波長変動を検出する波長変動検出手段と、この波長
変動検出手段の出力により半導体発光素子の発振波長が
一定となるようにこれを制御する制御手段とを備えるこ
とを特徴とする。
ここで、半導体発光素子を主ビーム光と反対方向のモニ
タビーム光を出力するものとし、このモニタビーム光を
より短波長の波長変換光に変換し、これを波長変動検出
手段に人力してもよい。
タビーム光を出力するものとし、このモニタビーム光を
より短波長の波長変換光に変換し、これを波長変動検出
手段に人力してもよい。
本発明によれば、半導体発光素子からの長波長の被検出
光が短波長のものに波長変換され、この波長変動が検出
される。従って、半導体発光素子の出力の波長変動を正
確に検出してフィードバックすることで、高い周波数安
定度を実現できる。
光が短波長のものに波長変換され、この波長変動が検出
される。従って、半導体発光素子の出力の波長変動を正
確に検出してフィードバックすることで、高い周波数安
定度を実現できる。
以下、添付図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第1図は第1実施例に係る安定化光源の構成図である。
光源としての半導体レーザーは、1.3μm波長のレー
ザ光Loを出力し、これはハーフミラ−HMで安定化出
力光L と被検出光L2に分岐される。被検出光L2は
波長変換素子2に入力され、1/2の波長(650n
m)の波長変換光L3とされる。波長変換素子2として
は、例えばL[Nb O3で構成された導波路構造を持
つチェレンコフ放射形第2高調波発生素子(SHG;5
econd llarmonlc Generator
)を用いることができる。この波長変換光L3は波長
変動検出器3に入射される。
ザ光Loを出力し、これはハーフミラ−HMで安定化出
力光L と被検出光L2に分岐される。被検出光L2は
波長変換素子2に入力され、1/2の波長(650n
m)の波長変換光L3とされる。波長変換素子2として
は、例えばL[Nb O3で構成された導波路構造を持
つチェレンコフ放射形第2高調波発生素子(SHG;5
econd llarmonlc Generator
)を用いることができる。この波長変換光L3は波長
変動検出器3に入射される。
波長変動検出器3は光ガルバノ効果を利用したホロカソ
ードランプで構成することができる。これは、650n
m近傍で遷移波長のある元素として、例えばNe、Xe
、Br、H2を封じたものであり、その構成および作用
は第2図のようになっている。
ードランプで構成することができる。これは、650n
m近傍で遷移波長のある元素として、例えばNe、Xe
、Br、H2を封じたものであり、その構成および作用
は第2図のようになっている。
同図(a)の如く、T字管30にはNe等のガが封じら
れ、この中にカソード31とアノード32が妃設されて
いる。カソード31とアノード32にDC高電圧を印加
し、封入ガスを放電状態とする。放電電流は約10mA
であり、この状態ではガスは励起状態のものと、カソー
ド31の金属原子の励起状態が基底状態のものも含めて
、定の分布で定常状態になっている。この状態で封入ガ
スか金属素子の遷移波長のいずれかに相当する光をあて
ると、定常状態が乱されて放電インピーダンスが変化す
る。この放電インピーダンスの変化に伴なってカソード
31とアノード32の間の電圧(電流)が変化するので
、この変化分を出力する。
れ、この中にカソード31とアノード32が妃設されて
いる。カソード31とアノード32にDC高電圧を印加
し、封入ガスを放電状態とする。放電電流は約10mA
であり、この状態ではガスは励起状態のものと、カソー
ド31の金属原子の励起状態が基底状態のものも含めて
、定の分布で定常状態になっている。この状態で封入ガ
スか金属素子の遷移波長のいずれかに相当する光をあて
ると、定常状態が乱されて放電インピーダンスが変化す
る。この放電インピーダンスの変化に伴なってカソード
31とアノード32の間の電圧(電流)が変化するので
、この変化分を出力する。
例えば、封入ガスがNeの場合には、波長653.28
824nmに遷移波長ができる。このとき、653nm
近傍では放電インピーダンスは第2図(b)のように変
化する。そこで、放電インピーダンスの変化の傾斜部分
、あるいは頂点の部分を用いることにより、微少な波長
変動を電気的な変動に変換できる。
824nmに遷移波長ができる。このとき、653nm
近傍では放電インピーダンスは第2図(b)のように変
化する。そこで、放電インピーダンスの変化の傾斜部分
、あるいは頂点の部分を用いることにより、微少な波長
変動を電気的な変動に変換できる。
この検出出力(電気信号)は検出部4を介して駆動電流
源5に与えられ、半導体レーザ1の駆動電流に対して負
帰還がかけられる。例えば、半導体レーザ1の駆動電流
1mAあたりで、光周波数が3GH2変化するので、駆
動電流を制御することで発振波長を制御できる。なお、
温度制御部6は半導体レーザ1の温度を所定に制御する
ためのものである。
源5に与えられ、半導体レーザ1の駆動電流に対して負
帰還がかけられる。例えば、半導体レーザ1の駆動電流
1mAあたりで、光周波数が3GH2変化するので、駆
動電流を制御することで発振波長を制御できる。なお、
温度制御部6は半導体レーザ1の温度を所定に制御する
ためのものである。
次に、第3図を参照して本発明の第2実施例を説明する
。
。
第3図はその構成図である。この実施例では、半導体レ
ーザ1は単一波長(1,3μm)光を出力する分布帰還
型(D F B ; DIstrlbuted Fee
dBack)半導体レーザで構成されている。また、波
長変動検出器3は光ガルバノ放電管35と高圧電源36
で構成され、検出部4はロックインアンプ41と、P、
I (proportional ao+pHN
er andIntegrator) 41と、発振器
42で構成されている。この実施例においても、波長変
換素子2によって短波長(650n m)の波長変換光
L3を得て、これを光ガルバノ放電管35に入射してい
るので、被検出光L2の微少な波長変動が検出できる。
ーザ1は単一波長(1,3μm)光を出力する分布帰還
型(D F B ; DIstrlbuted Fee
dBack)半導体レーザで構成されている。また、波
長変動検出器3は光ガルバノ放電管35と高圧電源36
で構成され、検出部4はロックインアンプ41と、P、
I (proportional ao+pHN
er andIntegrator) 41と、発振器
42で構成されている。この実施例においても、波長変
換素子2によって短波長(650n m)の波長変換光
L3を得て、これを光ガルバノ放電管35に入射してい
るので、被検出光L2の微少な波長変動が検出できる。
そして、検出結果を駆動電流源5に負帰還することで半
導体レーザ1の発振波長を安定化させることができる。
導体レーザ1の発振波長を安定化させることができる。
次に、第4図により第3実施例の安定化光源を説明する
。
。
この実施例では、ハーフミラ−の如き分岐手段を用いる
ことなく、半導体発光素子のモニタビーム光を利用する
ことで被検出光L2を得ている。
ことなく、半導体発光素子のモニタビーム光を利用する
ことで被検出光L2を得ている。
すなわち、レーザーチップ11からの主ビーム光はキャ
ップ12に設けられたガラス窓13を介して出力され、
安定化出力光Llとなる。これに対し、レーザーチップ
11からのモニタビーム光はステム14に設けられたガ
ラス窓15を介して出力され、被検出光L2として波長
変換素子2に入射されている。そして、半分の波長の波
長変換光L3が得られる。従って、この実施例によって
も、前述の実施例と同様の効果を奏することができる。
ップ12に設けられたガラス窓13を介して出力され、
安定化出力光Llとなる。これに対し、レーザーチップ
11からのモニタビーム光はステム14に設けられたガ
ラス窓15を介して出力され、被検出光L2として波長
変換素子2に入射されている。そして、半分の波長の波
長変換光L3が得られる。従って、この実施例によって
も、前述の実施例と同様の効果を奏することができる。
次に、第5図を参照して第4実施例に係る安定化光源を
検出する。
検出する。
第5図はその構成図である。この実施例では、波長変動
検出器3は標準波長光源37と、光検出器38と、周波
数カウンタ39で構成される。標準波長光源37として
は例えばKr86放電管が用いられる、原子あるいは分
子のスペクトル線は第一次標準波長にも使用される安定
した波長の光を発する。この光はハーフミラ−HMによ
って波長変換素子2からのSHGと混合され、周波数f
a−c l 1/λ −1/λ21のビートが出力され
る。ここでλ1は標準波長光源37からの光の波長、λ
2は波長変換素子2からのSHGの光の波長とする。
検出器3は標準波長光源37と、光検出器38と、周波
数カウンタ39で構成される。標準波長光源37として
は例えばKr86放電管が用いられる、原子あるいは分
子のスペクトル線は第一次標準波長にも使用される安定
した波長の光を発する。この光はハーフミラ−HMによ
って波長変換素子2からのSHGと混合され、周波数f
a−c l 1/λ −1/λ21のビートが出力され
る。ここでλ1は標準波長光源37からの光の波長、λ
2は波長変換素子2からのSHGの光の波長とする。
具体的には、半導体レーザーからの被検出光L2の波長
が1291.6144nmであるときは、波長変換素子
2からの光の波長λ1は645.80 (720)とな
る。一方、標準波長光源37 (Kr 86)からの光
の波長は645.80720である。このλ 、λ2の
波長が例えば0.0001nm相違したときには、ビー
ト周波数はf −〜60MH2となる。このビート周波
数は周波数カウンタ39によりカウントされ、制御部9
に送られる。制御部9はビート周波数fBにもとづき駆
動電流源5を制御し、半導体レーザーに対して負帰還を
かける。これによって、半導体レーザーの発振波長が標
準波長光源37からの光の波長の2倍の波長に安定化さ
れる。
が1291.6144nmであるときは、波長変換素子
2からの光の波長λ1は645.80 (720)とな
る。一方、標準波長光源37 (Kr 86)からの光
の波長は645.80720である。このλ 、λ2の
波長が例えば0.0001nm相違したときには、ビー
ト周波数はf −〜60MH2となる。このビート周波
数は周波数カウンタ39によりカウントされ、制御部9
に送られる。制御部9はビート周波数fBにもとづき駆
動電流源5を制御し、半導体レーザーに対して負帰還を
かける。これによって、半導体レーザーの発振波長が標
準波長光源37からの光の波長の2倍の波長に安定化さ
れる。
ここで、標準波長光源37を構成する原子(たとえばK
r8B)については、波長500〜900nmにスペク
トルを有するものが多いので、長波長用の半導体発光素
子の安定化に適している。
r8B)については、波長500〜900nmにスペク
トルを有するものが多いので、長波長用の半導体発光素
子の安定化に適している。
以上、詳細に説明した通り本発明では、半導体発光素子
からの長波長の被検出光が短波長のものに波長変換され
、この波長変動が検出される。従って、半導体発光素子
の出力の波長変動を正確に検出してフィードバックする
ことで、高い周波数安定度を実現できる。このため、長
波長帯においても十分な周波数安定度を実現できる安定
化光源を堤供することができる。
からの長波長の被検出光が短波長のものに波長変換され
、この波長変動が検出される。従って、半導体発光素子
の出力の波長変動を正確に検出してフィードバックする
ことで、高い周波数安定度を実現できる。このため、長
波長帯においても十分な周波数安定度を実現できる安定
化光源を堤供することができる。
第1図は本発明の第1実施例に係る安定化光源の構成図
、第2図は光ガルバノ効果を利用した検出器の説明図、
第3図は本発明の第2実施例に係る安定化光源の構成図
、第4図は本発明の第3実施例に係る安定化光源の構成
図、第5図は本発明の第4実施例に係る安定化光源の構
成図である。 1・・・半導体発光素子(半導体レーザ)、2・・・波
長変換素子、3・・・波長変動検出器、4・・・検出部
、5・・・駆動電流源、 6・・・温度制御部、 9・・・制御部。
、第2図は光ガルバノ効果を利用した検出器の説明図、
第3図は本発明の第2実施例に係る安定化光源の構成図
、第4図は本発明の第3実施例に係る安定化光源の構成
図、第5図は本発明の第4実施例に係る安定化光源の構
成図である。 1・・・半導体発光素子(半導体レーザ)、2・・・波
長変換素子、3・・・波長変動検出器、4・・・検出部
、5・・・駆動電流源、 6・・・温度制御部、 9・・・制御部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、半導体発光素子を光源とする安定化光源において、
前記半導体発光素子からの光を出力光と被検出光に分岐
する分岐手段と、前記被検出光をより短波長の波長変換
光に変換する波長変換手段と、前記波長変換光の波長変
動を検出する波長変動検出手段と、この波長変動検出手
段の出力により前記半導体発光素子の発振波長が一定と
なるようにこれを制御する制御手段とを備えることを特
徴とする安定化光源。 2、前記波長変動検出手段が光ガルバノ効果を用いた検
出器であることを特徴とする請求項1記載の安定化光源
。 3、前記波長変動検出手段が原子または分子のスペクト
ル線を用いた標準波長光源を有し、前記波長変換光と前
記標準波長光源からの光の間のビート周波数を検出する
ように構成されていることを特徴とする請求項1記載の
安定化光源。 4、半導体発光素子を光源とする安定化光源において、
前記半導体発光素子からの光のうち出力光とは反対方向
に出射するモニタ光をより短波長の波長変換光に変換す
る波長変換手段と、前記波長変換光の波長変動を検出す
る波長変動検出手段と、この波長変動検出手段の出力に
より前記半導体発光素子の発振波長が一定となるように
これを制御する制御手段とを備えることを特徴とする安
定化光源。 5、前記波長変動検出手段が光ガルバノ効果を用いた検
出器であることを特徴とする請求項4記載の安定化光源
。 6、前記波長変動検出手段が原子または分子のスペクト
ル線を用いた標準波長光源を有し、前記波長変換光と前
記標準波長光源からの光の間のビート周波数を検出する
ように構成されていることを特徴とする請求項4記載の
安定化光源。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16871789A JPH0334484A (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | 安定化光源 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16871789A JPH0334484A (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | 安定化光源 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0334484A true JPH0334484A (ja) | 1991-02-14 |
Family
ID=15873139
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16871789A Pending JPH0334484A (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | 安定化光源 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0334484A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100237871B1 (ko) * | 1997-05-23 | 2000-01-15 | 이계철 | 파장분할다중 방식에서 파장 안정화부를 가지는 송신장치 |
US8073023B2 (en) | 2009-08-19 | 2011-12-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Surface emitting laser |
CN110793951A (zh) * | 2019-11-28 | 2020-02-14 | 吉林大学 | 基于超强短脉冲供电hcl的光谱仪原子荧光检测方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63137494A (ja) * | 1986-11-28 | 1988-06-09 | Fujitsu Ltd | 半導体レ−ザの周波数安定化装置 |
JPH01102978A (ja) * | 1987-10-16 | 1989-04-20 | Yokogawa Electric Corp | 可変波長光源 |
-
1989
- 1989-06-30 JP JP16871789A patent/JPH0334484A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63137494A (ja) * | 1986-11-28 | 1988-06-09 | Fujitsu Ltd | 半導体レ−ザの周波数安定化装置 |
JPH01102978A (ja) * | 1987-10-16 | 1989-04-20 | Yokogawa Electric Corp | 可変波長光源 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100237871B1 (ko) * | 1997-05-23 | 2000-01-15 | 이계철 | 파장분할다중 방식에서 파장 안정화부를 가지는 송신장치 |
US8073023B2 (en) | 2009-08-19 | 2011-12-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Surface emitting laser |
CN110793951A (zh) * | 2019-11-28 | 2020-02-14 | 吉林大学 | 基于超强短脉冲供电hcl的光谱仪原子荧光检测方法 |
CN110793951B (zh) * | 2019-11-28 | 2021-07-30 | 吉林大学 | 基于超强短脉冲供电hcl的光谱仪原子荧光检测方法 |
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