JPH0333663A

JPH0333663A - 回路基板検査装置

Info

Publication number: JPH0333663A
Application number: JP16909389A
Authority: JP
Inventors: Fumio Tokukasa; 文男徳嵩
Original assignee: Hioki EE Corp
Current assignee: Hioki EE Corp
Priority date: 1989-06-30
Filing date: 1989-06-30
Publication date: 1991-02-13

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕この発明は、実装基板の良否を自動的に判定する回路基
板検査装置に係り、さらに詳しくは回路基板に実装され
た電解コンデンサの極性を判別する極性判別回路を備え
た回路基板検査装置に関するものである。

〔従　来　例〕

電解コンデンサの極性判別回路の従来例が示されている
第２図において、回路基板１に実装されている電解コン
デンサ２のΦ端子２ａおよびｅ端子２ｂには、定電圧源
３の電圧■１がスキャナ４およびプローブ５，６を介し
て印加される。このとき、プローブ５，６は実際には例
えばその■端子２ａ、（ｌ端子２ｂが接続している回路
パターンと接触状態にされ、また電解コンデンサ２の金
スリｔケース２ｃにはプローブ７が接触状態にされる。

そして、スキャナ４の切替動作により、まず、上記プロ
ーブ５が定電圧■１の高電位端子８に接続されるととも
に、プローブ６がその低電位端子９に接続され、またプ
ローブ７はガード端子１０に接続される。なお、その低
電位端子９とカイト端子１０との間には電圧ｎ１１１が
接続される。第３図にはこのときの’８イ曲１Ｉ１１路
か刀くされており、同回路において、Ｒ，は電圧計１１
の入力インピーダンス、Ｒ□はΦ端子２ａと余人ａ４ケ
ース２Ｃとの間のインピーダンス、Ｒ７はｅ端子２ｂと
金嵐ケース２Ｃとの間のインピーダンスとすると、それ
らのイ直は”　Ｐ　＞　Ｒ１＞　Ｒ２の関係にある。す
なわち、金層ケース２Ｃに対する■端子２　ａ、Ｑ端子
２ｂのインピーダンスの大きさが異なり、■端子２ａの
方が大きく、ｅ端子２ｂの方が小さい。

上北笠価回路において、電圧計１１による測定電圧Ｖａ
はほぼＦ記式（１）の値となる。

（Ｒ，、／（Ｒ，＋　Ｒ２））　Ｖ　、　−−−・・・
−（１）次に、スキャナ４に切替動作により、上記プロ
ーブ５が定屯ハ三■、の低屯右′ｌ端子９に接続される
とともに、プローブ６がその高電位端子８に接続される
と、電圧側１１による測定電圧ｖｂはほぼド記式（２）
の値となる。

（Ｒ，／（Ｒ□＋１く２））■、・・・・・・・・・・
・・（２）そこで、第４図に示されるように、定電圧Ｖ
□の１／２をスレッショルトイ直（Ｖｔｈ）とすると、
上記測定電圧Ｖａはその１／２Ｖ□以トとなり、他方測
定電圧ｖｂはその王／２Ｖ１以−」二となる。

ところで、上記電解コンデンサ２が回路基板１に極性逆
に差し込まれている場合には電圧計」１による測定電圧
は一］―記正しい極性の場合と逆になる。

したがって、下記表にボされるように、電ハ三計１１に
よる測定電圧Ｖａ、ＶｂがＬＬ　ＨＩＩ　、　ＩＩ　Ｌ
”レベルであるかによって極性を判別することができる
。

４すなわち、プローブ５が＋［ｌ＋屯（ｊ”ｌ端子８に接
続され、プローブ６が低電位端子９に接続されていると
きの測定屯位Ｖａが“Ｌ　Ｉ＋レベルの範囲であり、か
つ、プローブ５が低電位端子９に接続され、プローブ６
がｘ′ｈ電位端子８に接続されているときの測定電位ｖ
ｂがＬＬ　ＨＩ＋レベルの範囲である場合、つまり上記
表（ｂ）の条件の場合、電解コンデンサ２が回路基板１
に正しく実装されていると判定される。また、それら測
定電位Ｖａ、Ｖｂが逆である場合、つまり上記表（ｃ）
の条件の場合、電解コンデンサ２が回路」、（板１に極
性逆に実装されていると判定される。さらに、上記表示
（ａ）および（ｄ）にボされるように、それら測定電位
Ｖａ、Ｖｂが同一レベルの範囲である場合、１「１１路
Ｊｋ板工に実装されているコンデンサが極性を右しない
ものであると判定される。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかしながら］ユ記従来例において、極性の判定に際し
、１・ａ己ブプローブ６　Ｈ６ｙ　７が回路パターンに
止しく１妾触していない場合、つまり接触不良となって
いる場合には、電圧計１１によるｆｉＩｌｌ　走電）’
Ｌ　Ｖ　＋１　＋ｖｂが正確に測定されず、極性判別の
判定が間違ったものとなることもある。すなわち、回路
基板の検査に際し、例えば検査する１ＩＪｌ路基板を押
し下げ、その回路Ｉｋ板の所定回路バ°ターンをビンボ
ー１〜の所定個所に植設されているプローブに接触させ
るのであるが、それが機械的であるが故に信頼性に欠け
るきらいがある。

したがって、例えば第５図に示されるように、プローブ
（第１のプローブ）５と回路パターンとの間がオープン
状態であると、電圧計１１による測定電圧Ｖａはほぼ零
Ｖ（Ｌレベル）となる。次に、第６図にボされるように
、スキャナ４の動作により、その定電圧Ｖ工が逆向きに
印加されると、その測定電圧ｖｂはほぼ定電圧Ｖ　１（
］−１レベル）となる。この場合、上記表によると、電
解コンデンサ２は正しい極性で実装されていると判定さ
れる。しかしながら、上記のようにプローブ５と回路パ
ターンとの間がオーブン状態である場合には、電解コン
デンサ２が誤極性で実装されていても、゛屯圧ｒｔｌ’
ｉｉによる田す走電ハ・は■ａ＝１ミニ１−レベルｂ　
＝　Ｈレベルとなるため、誤極性を判別することはでき
ない。

また、第７図および第８同にボされるように、プローブ
（第２のプローブ）６と回路パターンとの間がオーブン
状態の場合には、電圧Ｒ１１１による１ｌ１１定電圧Ｖ
ａはほぼ定電圧Ｖｌ（Ｈレベル）となり、力測定電圧ｖ
ｂはほぼ零Ｖ（Ｌレベル）となる。この場合、電解コン
デンサ２が正しい極性で実装されていたとしても、上記
の表からして逆極性で実装されていると判定されること
になる。

さらに、第９Ｉ５４および第１０図に、八されるように
、プローブ（第３のプローブ）７と全屈ケース２ｃとの
間がオーブン状態の場合には、電圧計１１による測定電
圧Ｖａ、Ｖｂはともにほぼ零Ｖ（Ｌレベル）となる。し
たがって、この場合においても電解コンデンサ２がｉＴ
Ｅしい極性で実装されているか否かに拘らず、上記表か
ら極性なしと判定されることになる。

このように、プローブの接触不良はコンデンサの極性判
別に大きな影響を与えるため、従来にお− いては、他の検査項１］、例えばコンデンサの容′３４
（測定項目の検査結果を参照し、その容量測定結果が異
堂領である場合にはプローブの１妾メ仙イ・良が考えら
れるので、極性判別の判定を無効とし、その容量測定結
果が正常値である場合には極＋４：判別の判定を有効と
する処理が必要であった。すなわち、上記極性判別項目
においては、その都度他の検査項目の検査結果とによる
２つのステップから総合的に判定しなければならず、極
性判別項１」における検査効率が悪いという問題があっ
た。

この発明は上記問題点に鑑みなされたものであり、その
目的は、プローブの接触状態をも含めてコンデンサの極
性判別を効率よく行えるようにした回路Ｊ＆板検査装置
を提供することにある。

〔課題を解決するための手段〕

上記ｌ」的を達成するため、この発明においては、定電
圧源より＋＋コ＋路ノに板に実装されている電解コンデ
ンサの各端子に第ｔおよび第２のプローブを介して定電
圧を印加するとともに、１“ｉ！ｌ！ｌ二電解コンデン
サ２ケースに第３のプローブを接触させ、− １；記第１および第２のプローブと上記第３のプローブ
との間の電圧を測定し、その電圧レベルにより１；舵電
解コンデンサの極性を判別する回路基板検査装置におい
て、上詔定電圧を電解コンデンサの各端子に印加する回
路に同回路に流れる電流を検出する電流検出手段を接続
し、上記第１および第２のプローブと上記第３のプロー
ブとの間の電圧を測定するに先立って、上記定電圧源よ
り上記電解コンデンサが飽和するに至らない電流を出力
させ、上記電流検出手段にてその電流を検出することに
より、上記第１および第２のプローブと上記各端子との
接触状態もしくは−１−記第３のプローブと１・記金属
ケースとの接触状態を判断し得るようにしている。

〔作　　用〕

ト記構成としたので、回路基板に実装されている電解コ
ンデンサの極性判別に際し、」―記電流検出手段にて電
流が検出されない場合には、電解コンデンサの各端子と
それに対応する各プローブとが接触不良であると判断さ
れる。一方、その電流が検出された場合には、電解コン
デンサの各端子とそれに対応する各プローブとが接触良
好であると判断される。このように、極性判別回路」に
おいては、プローブの接触状態が判断されるので、他の
検査項目、例えばコンデンサの容Ｍｆｌ１１す足項１＋
ｌの検査結果を参照する必要がなく、検査の効率向上を
図ることができる。

〔実　施　例〕

以ト、この発明の一実施例を第工同に基づいて説明する
。なお、同図において、第２図と同一部分には同一符号
を付し重複説明を省略する。

この回路基板検査装置の極性判別回路には定電圧源３、
電解コンデンサ２の■端子２ａおよびｅ端子２ｂとｉｉ
Ｃ列に接続されるＨ−Ｂ流計１２が設けられており、こ
の電流計１２の検出電流によりプローブ５．６とその■
端子２ａ、ｅ端子２ｂ（あるいはそれに対応する回路パ
ターン）との間の接触状態が検出されるようになってい
る。なお、電流側１２は′電流制限機能をイイしている
ものである。

ここで、回路基板１に実装されている電解コンダンサ２
の極性判別項目のステップが行われると。

例えば回路基板１が図示しない駆動機構により押しトげ
られ、ビンボードに植設されているプローブ５，６と回
路基板１の所定回路パターン（■端子２　ａ、ｅ端子２
ｂに接続している回路パターン）とを接触する動作が行
われる。また、これに伴ってプローブ７も電解コンデン
サ２の全屈ケース２Ｃに接触される。そして、スキャナ
４の動作により、定電圧源３の電圧が電解コンデンサ２
の■端子２ａ、（−）端子２ｂに印加されるが、その電
圧は電解コンデンサ２を十分に充電するに足らないレベ
ル、つまり定電圧Ｖ□より低いレベルである。その電圧
が印加されたとき、上記電流計１２にてその瞬時におけ
る電流値が読み取られ、この電流値に基づいて上記プロ
ーブ５，６と回路バ°ターンとの接触状態が判定される
。すなわち、１：外表に示されるように、電流が検出さ
れた場合には接触良好と判断され、その電流が検出され
ない場合には接触不良と判断され、この接触状態に応し
て極性判別の有効、無効の判断が行われる。

１− 続いて、従来例で説明した極性判別の動作が実行され、
上記接触良好と判断された場合には極性判別の検査結果
が有効なものとされ、例えばデイスプレィ上に極性判別
結果が表示される。また、上記接触不良と判断された場
合には極性判別の検査結果が無効なものとされ、例えば
デイスプレィ上に「プローブ接触不良」などの表示がな
される。

このように、電解コンデンサ２の極性判別に際し、電解
コンデンサ２の各端子２ａ、２ｂとプローブ５，６との
接触状態を判断するようにしたので、例えばコンデンサ
の容量測定項目の検査結果をその都度参照する必要がな
くなり、極性判別ステップの効率向上を図ることができ
る。

なお、電流計１２による電流検出ではプローブ７と金属
ケース２ｃとの間の接触不良は検出できな１２いが、この場合には極性判別ステップにて「極性なし」
、すなわち電解コンデンサの場合、その殆どが有極性で
あるため、これをもって異常と判断される。

〔発明の効果〕

以上説明したように、この発明によれば、同一の極性判
別項目のステップ内でプローブの接触状態を確認するこ
とができるため、極性判別に際し、他の検杏項１−１、
例えばコンデンサの容敞８１す定項目における検査結果
を確認する必要がなくなり、検査効率の向上を図ること
ができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はくの発明の一実施例に係る回路基板検査装置の
極性判別回路の概略的なブロック図、第２０は従来の回
路基板検査装置の極性判別回路の概略的なブロック図、
第３図は極性判別回路の等価回路、第４同は上記極性判
別のための電圧レベルを説明するための図、第５図乃至
第１０図は上記第２図にボす極性判別回路の概略的等価
回路図である。ある。図中、１は回路」に板、２は電解コンデンサ、２ａは■
端子、２ｂはｅ端子、２Ｃは金属ケース、３は定電圧源
、４はスキャナ、５，６．７はプローブ、１１は電圧計
、１２は電流計（＠流検出手段）である。

Claims

【特許請求の範囲】

（１）定電圧源より回路基板に実装されている電解コン
デンサの各端子に第１および第２のプローブを介して定
電圧を印加するとともに、上記電解コンデンサの金属ケ
ースに第３のプローブを接触させ、上記第１および第２
のプローブと上記第３のプローブとの間の電圧を測定し
、その電圧レベルにより上記電解コンデンサの極性を判
別する回路基板検査装置において、上記定電圧を電解コンデンサの各端子に印加する回路に
同回路に流れる電流を検出する電流検出手段を接続し、
上記第１および第２のプローブと上記第３のプローブと
の間の電圧を測定するに先立って、上記定電圧源より上
記電解コンデンサが飽和するに至らない電流を出力させ
、上記電流検出手段にてその電流を検出することにより
、上記第１および第２のプローブと上記各端子との接触
状態もしくは上記第３のプローブと上記金属ケースとの
接触状態を判断し得るようにしたことを特徴とする回路
基板検査装置。