JPH0329964Y2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0329964Y2
JPH0329964Y2 JP6928682U JP6928682U JPH0329964Y2 JP H0329964 Y2 JPH0329964 Y2 JP H0329964Y2 JP 6928682 U JP6928682 U JP 6928682U JP 6928682 U JP6928682 U JP 6928682U JP H0329964 Y2 JPH0329964 Y2 JP H0329964Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
surge
arrester
voltage
polarity
semiconductor element
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP6928682U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS58172337U (ja
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP6928682U priority Critical patent/JPS58172337U/ja
Publication of JPS58172337U publication Critical patent/JPS58172337U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0329964Y2 publication Critical patent/JPH0329964Y2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Emergency Protection Circuit Devices (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は電力線又は通信線等の電線路に発生す
る雷サージ等のサージ検出装置に関する。
電力線又は通信線等の電線路には例えば落雷等
により雷サージ等が発生し易く、そのためこれら
の電線路に接続されている各種電気機器等に電線
路側から雷サージ等が侵入してこれらの機器等を
破損したり、感電事故を生じたりすることがあ
る。このような事故を回避するために機器等を雷
サージ等のサージから保護する必要があり、その
ため各種の手段が講じられている。しかしながら
このような保護手段を講ずるに当つては事前にサ
ージの種類や性質を知る必要があり、そのために
例えばサージの大きさやその極性を調らべること
が行なわれている。
このような従来のサージ検出装置としては例え
ばオシログラフを用いて検出するものや低抵抗を
用いてその抵抗の端子電圧をカウンタでカウント
する装置等が知られているが、オシログラフを用
いるものではサージの観測が複雑で且つその費用
がかさむものであり、また低抵抗の端子電圧をカ
ウントするものではその装置の機構が複雑で高価
なものとなる欠点があつた。
さらに電線路の種類やその設置場所等により例
えばサージ襲来の有無、およびそのサージの概略
の大きさ程度の観測で十分な場合があり、このよ
うな場合には簡単な装置で安価且つ取扱い容易な
サージ検出装置が要求されるものである。
本考案は上記の事情に鑑みてなされたもので、
その目的とするところはサージ襲来の有無、その
大きさならびに極性の判別が簡単に検出できると
ともにサージ検出素子の劣化を有効に防止し得る
構造簡単、取扱い容易且つ安価なサージ検出装置
を提供するにある。
本考案によれば電力線又は通信線等の電線路と
接続され、且つ前記電線路に発生するサージに応
動するように予め設定された動作電圧を有するア
レスタと、 前記電線路と大地との間に前記アレスタを介し
て互いに逆極性に直列接続され、且つ前記サージ
の印加時にその極性と反対極性を有する素子が破
壊して導通するようになされた複数の半導体素子
と、 前記電線路と大地との間に前記アレスタを介し
て互いに逆極性に直列接続され、且つ前記複数の
半導体素子の各極性とそれぞれ同一極性を有する
ものが互いに前記半導体素子と並列に接続されて
なる複数の整流素子とを具備し、前記半導体素子
の逆耐電圧Tvおよび前記整流素子の逆耐電圧Dv
をTv<Dvとなるように選定してなることを特徴
とするサージ検出装置が得られる。
次に本考案の一実施例を図面に基いて詳細に説
明する。
第1図は本考案の一実施例のサージ検出装置の
概略回路図である。第1図において1は電力線ま
たは通信線等の被測定物である電線路であり、こ
の電線路1に例えばガス入放電管の如きアレスタ
3がスイツチ2を介して接続されている。このア
レスタ3は予め動作電圧が所定値に設定されてお
り、前記電線路1に発生する前記所定値以上の電
圧に対応するさに応動して放電するようになされ
ている。前記アレスタ3と大地6との間にサージ
電流を制限する電流制限用抵抗4を介して互いに
逆極性に直列接続され、且つ前記サージの印加時
にその極性と反対極性を有する素子が破壊して導
通するようになされた複数の半導体素子5例えば
トランジスタの如き素子5′,5″が接続されてい
る。
さらに前記アレスタ3と大地6との間に前記抵
抗4を介して互いに逆極性に接続され、且つ前記
複数のトランジスタ5′,5″の各極性とそれぞれ
同一極性を有する整流素子例えばダイオード9,
9′が互いに前記トランジスタ5′,5″と並列に
接続されている。
さらにまた前記複数のトランジスタ5′,5″の
直列回路と並列に過電圧保護素子例えばガス入放
電管10が接続されている。
前記の如く本考案の一実施例によるサージ検出
装置は第1図に示す如く電線路1と大地6との間
にスイツチ2,アレスタ3、電流制限用抵抗4、
互いに逆極性に直列接続されたサージ検出素子た
るトランジスタ5′,5″、これらのトランジスタ
5′,5″と同極性同志で並列に接続されたダイオ
ード9,9′および前記トランジスタ5′,5″の
直列回路と並列に接続されたガス入放電管10が
それぞれ直列に接続されてなる直列回路11にて
構成されている。
さらに本考案においては前記の如く構成された
前記トランジスタ5′,5″の各逆耐電圧をTv、
前記ダイオード9,9′の各逆耐電圧をDv、前記
ガス入放電管10の動作電圧をArvとした場合
に、これらの各電圧の大きさをTv<Arv<Dvと
なるように選定されている。従つて本考案によれ
ば前記の如く構成されているので、例えば直列回
路11に正極性のサージが侵入したとすればトラ
ンジスタ5′を破壊導通してダイオード9′を通過
して大地6に流出し、次に負極性のサージが侵入
したとすると、ダイオード9を通過しトランジス
タ5″を破壊導通して大地6に流出することとな
る。さらにまた本考案によれば前記の如くトラン
ジスタ5′,5″、ダイオード9,9′およびガス
入放電管10がそれぞれ並列に接続され且つこれ
らの各逆耐電圧および動作電圧がTv<Arv<Dv
となるように選定されているからガス入放電管1
0でダイオード9,9′を過電圧から保護すると
共に例えばトランジスタ5′が正極性のサージで
破壊導通の状態にある時に再度サージが侵入する
と前記正極性のサージと同方向にサージ電流が流
れ、これにより一度破壊導通されたトランジスタ
5′がオープン破壊となり、オープン破壊の状態
で再度サージが侵入すると今度はダイオード9の
逆耐を破壊してしまうことになるが、ダイオード
9に並列に接続されたガス入放電管10の動作電
圧およびダイオード9の逆耐電圧が前記の如く
Arv<Dvとなるように選定されているから、ダ
イオード9が破壊する前にガス入放電管10が動
作し、これによりダイオード9の破壊を防止する
ことができる。
なお前記の説明は正極性のサージの侵入につい
て述べたが、負極性のサージの侵入についても全
く同様に作動すること勿論である。
次に第1図に示された本考案の一実施例のサー
ジ検出装置の作動について述べる。
電線路1と大地6との間に予め設定されたアレ
スタ3の動作電圧以上のサージ電圧が印加される
と、直ちにアレスタ3が動作する。このアレスタ
3の動作により半導体素子5中のどちらか一方の
トランジスタ5′又は5″が破壊して導通状態とな
る。従つて半導体素子5の中の破壊により導通状
態となつたトランジスタ5′又は5″の有無を検出
することにより、アレスタ3の動作電圧以上のサ
ージ電圧の電線路1に対する襲来の有無が確認で
きると共に、半導体素子5の中のどちらのトラン
ジスタ5′又は5″が破壊して導通状態となつてい
るかを検出することにより、前記サージの極性が
簡単に確認できることとなる。即ち例えば第1図
において、半導体素子5の中でトランジスタ5′
が破壊して導通状態となつている時は正極性サー
ジが印加されたことを示し、これに対しトランジ
スタ5″が破壊して導通状態となつているときは
負極性サージが印加されたことを示すものであ
る。
さらに第1図において例えば直列回路11に正
極性のサージが侵入した場合には前記の如くトラ
ンジスタ5′を破壊してサージが流通するが、こ
のサージは他方のトランジスタ5″と並列に接続
されたダイオード9′を通過して大地6に流出す
るので、このサージは他の極性のサージ検出素子
であるトランジスタ5″にはほとんど流通しない
こととなる。また負極性のサージの侵入の場合も
前記と同様にこのサージはトランジスタ5″とダ
イオード9とを通過し他の極性のサージ検出素子
であるトランジスタ5′にはほとんど流通しない
こととなる。このように本考案によればサージ検
出素子であるトランジスタ5′,5″にはそれぞれ
正方向のサージがほとんど流通しないこととなる
ので正方向サージが流通する場合に生じ易いトラ
ンジスタ5′,5″の発熱等による劣化や絶縁悪化
に伴う損失や検出測定の誤差を有効に防止するこ
とができる。
さらにまた第1図においてはトランジスタ5′,
5″の直列回路に並列にガス入放電管10が接続
されているので、前述の如くサージが連続し侵入
する場合にガス入放電管10が動作してサージ検
出素子であるトランジスタ5′又は5″がシヨート
破壊からオープン破壊となつてもダイオード9,
9′の破壊を確実に防止し、各素子の損失や検出
測定の誤差を有効に防止できる。
また前記第1図においてはサージ検出装置とし
て1個の直列回路11にて構成されるものについ
て説明したが、例えば各種のサージ電圧の襲来の
有無およびそれらの極性を判別するために後述す
るようにそれぞれ異なる動作電圧を有するアレス
タを複数個用いて直列回路11を複数個設け、こ
れらの回路を電線路1と大地6との間に並列に接
続するようにしてもよい。
さらに第1図において例えば半導体素子5の破
壊による導通状態の有無およびその極性等の検出
は適宜の手段、方法を用いて行い得るものである
が、例えば第2図にその一例が示されている。第
2図において直列回路11で示されているサージ
検出装置は第1図の直列回路11と同一であるか
ら同一部分には同一符号を付して説明を省略す
る。この直列回路11の中の半導体素子5中のト
ランジスタ5′および5″の各端子間にそれらの破
壊による導通状態の有無およびその極性を検出す
るために検出部20が接続されている。この検出
部20は第2図に示されている如く直流電源26
が極性切換スイツチ25を介してその一方の端子
が抵抗22、スイツチ21を経てトランジスタ
5′の入力端に接続され、その他方の端子がトラ
ンジスタ5″の入力端即ち大地6に接続され、さ
らに抵抗23と逆並列に接続された発光ダイオー
ドの如き表示灯24,24′との直列回路がスイ
ツチ21を介して半導体素子5と並列に接続され
て構成されている。
次に第2図図示の本考案の実施例の作動につい
て説明する。
第1図について説明したと同様に電線路1と大
地6との間に予め設定されたアレスタ3の動作電
圧以上のサージ電圧が印加されると、直ちにアレ
スタ3が動作し、半導体素子5中のどちらか一方
のトランジスタ5′又は5″が破壊して導通状態と
なる。このとき前記の如く導通状態となつたトラ
ンジスタ5′又は5″の有無およびその極性を検出
するために、検出部20の極性切替スイツチ25
を例えば正極側に切替えて表示灯24を点灯させ
る。次にこの表示灯24を点灯させた状態でスイ
ツチ21を閉成する。このとき表示灯24が消灯
すれば半導体素子5の中のトランジスタ5′が破
壊して導通状態となつていることが確認できる。
従つてこれによりサージの襲来が確認できると共
にその極性は正極性であることが判る。これに対
し例えば極性切替スイツチ25を負極側に切替え
て表示灯24′を点灯させ、その状態でスイツチ
21を閉成し、表示灯24′が消灯すれば半導体
素子5中のトランジスタ5″が破壊して導通状態
となつていることが確認でき、これによりサージ
の襲来とその極性が負極性であることが判る。ま
た上記の場合に表示灯24および24′の両方の
表示灯が消灯すれば正負両極性のアレスタ3の動
作電圧以上の電圧のサージが襲来したことが判
る。これと反対にスイツチ21を閉成したときそ
れぞれ表示灯24および24′が何れも点灯した
ままの状態であればアレスタ3の動作電圧以上の
電圧のサージの襲来はなかつたことが判る。
さらに第2図図示の検出部20の回路を用いる
ものにおいては、表示灯24,24′は極性切替
スイツチ25の切替えによりそれぞれ常時点灯さ
せることができ、サージ襲来により半導体素子5
が破壊導通状態となつたときに表示灯24または
24′を消灯させるこようにしているので、検出
部20自身の点検が容易であり、従つて半導体素
子5の破壊導通状態の有無を確実に点検できるも
のである。
第3図は本考案の他の実施例を示すもので、第
2図図示のサージ検出装置を複数チヤンネル化し
たものである。第3図図示の実施例の構成および
作動は第2図のものを単に3チヤンネルにしただ
けのものであるから原理的に第2図のものと略同
一であるから同一部分に同一符号を付してその説
明を省略する。次に第3図について第2図のもの
と異なるところについて説明する。第3図におい
てはアレスタ3,3′,3″の各動作電圧を例えば
3は2kV、3′は5kV、3″は10kVの如く設定し、
これにより襲来するサージの大きさを計量的に分
けることができるようになされている。これらの
各アレスタ3,3′,3″にはそれぞれ抵抗4,
4′,4″と半導体素子5,7,8とダイオード
9,9′,12,12′,14,14′とガス入放
電管10,13,15からなる3個の直列回路が
直列に接続され且つこれらの3個の直列回路がス
イツチ2を介して電線路1と大地6との間に並列
に挿入されている。また第2図の場合と同様にこ
れらの各直列回路にスイツチ31を介して各抵抗
32,32′,32″,33,33′,33″と、各
表示灯34,34′,35,35′,36,36′
と、極性切替スイツチ37および直流電源38と
からなる各検出部が接続されている。
第3図図示の実施例においては第3図に示す如
くスイツチ2を閉成すると電線路1と大地6との
間に各アレスタ3,3′,3″を含む直列回路が並
列に接続される。このように各アレスタ3,3′,
3″がそれぞれ並列に接続されている場合には、
電線路1に襲来するサージ電圧が各アレスタ3,
3′,3″の動作範囲の電圧であるときでも、動作
電圧の最も低いアレスタ3が最初に動作するのが
普通である。このアレスタ3が動作すると他の並
列接続のアレスタ3′,3″はたとえ動作電圧範囲
の電圧でも動作しなくなる。これはアレスタ3が
動作するとその定電圧特性によりその端子電圧は
低下してしまうからである。しかしながら第3図
図示のものではこれらのアレスタ3,3′,3″に
それぞれ抵抗4,4′,4″が直列に接続されてい
るので、例えばこれらのアレスタ3,3′,3″の
動作電圧範囲以上のサージ電圧が電線路1に印加
されると、最初にアレスタ3が動作し、この動作
電流で抵抗4に電圧が発生し、この電圧とアレス
タ3に印加される電圧との和の電圧で次のアレス
タ3′を動作させ、同様にこのアレスタ3′の動作
電流で抵抗4′に発生される電圧との和で次のア
レスタ3″を動作させることとなる。第3図にお
いてはアレスタとして3個用いるものについて説
明したが、この数は計量されるサージ電圧の大き
さにより任意に選定できるものであり、前記の如
くこれらのアレスタを順次動作させて検出しよう
とする電圧までアレスタを確実に動作させること
ができる。
次に第3図図示の実施例の作動について説明す
る。電線路1にアレスタ3,3′,3″の動作電圧
以上のサージ電圧が発生すると、始めに動作電圧
の低いアレスタ3が動作し、これにより第1図、
第2図の場合と同様にして半導体素子5中のいず
れかのトランジスタ5′または5″が破壊して導通
状態となる。またアレスタ3が動作するとその動
作電流が抵抗4に流れるので前記したように次の
アレスタ3′を動作させ、半導体素子7中のトラ
ンジスタ7′または7″を破壊して導通状態とす
る。同様にしてアレスタ3″も動作し、半導体素
子8中のトランジスタ8′または8″を破壊して導
通状態とする。第3図における半導体素子5,
7,8中の破壊して導通状態となつたトランジス
タの有無およびその極性を検出するための検出部
の作動は第2図について述べたものと原理的に同
一であるのでその説明を省略する。さらに各ダイ
オード9,9′,12,12′,14,14′とガ
ス入放電管10,13,15の作動も前記と同一
であるのでその説明を省略する。なお第3図にお
いては複数チヤンネルの各検出部がそれぞれ極性
切替スイツチ37を介して直流電源38に並列に
接続されているので各チヤンネルを同時に点検す
ることができること明らかである。
なお前記第3図の実施例においては3チヤンネ
ルのものについて説明したが、このチヤンネル数
はサージ電圧の計量数に応じて任意の数に選ぶこ
とができる。
またサージ電圧を計量的に検出するためには前
記の如く予め動作電圧が設定された多チヤンネル
の検出回路を用いる代りにアレスタの動作電圧を
任意に設定できるようにしてもよい。
さらに前記各実施例では半導体素子としてトラ
ンジスタを用いるものについて説明したが、この
代りにダイオードその他の互いに逆極性に直列接
続され且つサージの印加時にその極性と反対極性
を有する素子が破壊して導通状態となる素子を用
い得るものであり、さらにこれらの素子をプラグ
イン方式で回路に接続するようにすればその取付
けおよび取外しが簡単となるものである。
さらにまた前記各実施例では前記半導体素子と
並列に接続される整流素子としてダイオードを用
い、且つ前記複数の半導体素子の直列回路と並列
に接続される過電圧保護素子としてガス入放電管
を用いるものについて説明したが、本考案はこれ
らのものに限定されるものではなく例えばダイオ
ード以外の整流素子を用いたり、又はガス入放電
管以外の過電圧保護素子を用いることができるこ
と勿論である。
また前記本考案の実施例中第2図および第3図
に示す各実施例においては検出部を具備するサー
ジ検出装置について述べたが、このような検出部
は必ずしも常備する要はなく、例えば検出部を別
個に設けて点検時だけ使用するようにしてもよ
い。さらに図示の構成の検出部のみに限定するこ
となく任意の他の検出手段、方法を用い得ること
言うまでもない。
以上の如く本考案によれば、破壊導通状態とな
つた半導体素子の有無を検出することにより、サ
ージ襲来の有無及びその極性を簡単に判別するこ
とができる。さらに、半導体素子にそれぞれ並列
接続した整流素子により、サージ検出素子として
の半導体素子に正方向のサージは殆ど流れないの
で、半導体素子の発熱による劣化や絶縁悪化に伴
う損失をなくし、検出測定の誤差を防止すること
ができる。また、半導体素子の直列回路に過電圧
保護素子を接続し、半導体素子の逆耐電圧Tv、
整流素子の逆耐電圧Dv及び過電圧保護素子の動
作電圧Arvの関係をTv<Arv<Dvとなるように
設定しているので、半導体素子がシヨート破壊か
らオープン破壊となつても、整流素子の破壊を確
実に防止することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例のサージ検出装置の
概略回路図、第2図および第3図はそれぞれ本考
案の他の実施例のサージ検出装置の概略回路図で
ある。 1……電線路、2……スイツチ、3,3′,
3″……アレスタ、4,4′,4″……抵抗、6…
…大地、5,7,8……半導体素子、5′,5″,
7′,7″,8′,8″……トランジスタ、9,9′
……ダイオード、10……ガス入放電管、11…
…直列回路、12,12′,14,14′……ダイ
オード、13,15……ガス入放電管、20……
検出部、21,31……スイツチ、22,23,
32,32′,32″,33,31′,33″……抵
抗、24,24′,34,34′,35,35′,
36,36′……表示灯、25,37……極性切
替スイツチ、26,38……直流電源。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 電力線又は通信線等の電線路と接続され且つ前
    記電線路に発生するサージに応動するように予め
    設定された動作電圧を有するアレスタと、 前記電線路と大地との間に前記アレスタを介し
    て互いに逆極性に直列接続され、且つ前記サージ
    の印加時にその極性と反対極性を有する素子が破
    壊して導通するようになされた複数の半導体素子
    と、 前記電線路と大地との間に前記アレスタを介し
    て互いに逆極性に直列接続され、且つ前記複数の
    半導体素子の各極性とそれぞれ同一極性を有する
    ものが互いに前記半導体素子と並列に接続されて
    なる複数の整流素子と、 前記半導体素子の直列回路に並列に接続された
    過電圧保護素子とを具備し、 前記半導体素子の逆耐電圧Tvと前記整流素子
    の逆耐電圧Dvおよび前記過電圧保護素子の動作
    電圧Arvの関係がTv<Arv<Dvとなるように設
    定してなることを特徴とするサージ検出装置。
JP6928682U 1982-05-12 1982-05-12 サ−ジ検出装置 Granted JPS58172337U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6928682U JPS58172337U (ja) 1982-05-12 1982-05-12 サ−ジ検出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6928682U JPS58172337U (ja) 1982-05-12 1982-05-12 サ−ジ検出装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS58172337U JPS58172337U (ja) 1983-11-17
JPH0329964Y2 true JPH0329964Y2 (ja) 1991-06-25

Family

ID=30079020

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6928682U Granted JPS58172337U (ja) 1982-05-12 1982-05-12 サ−ジ検出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS58172337U (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102565649A (zh) * 2010-12-15 2012-07-11 爱德万测试株式会社 测试装置
CN102565657A (zh) * 2010-12-15 2012-07-11 爱德万测试株式会社 测试装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102565649A (zh) * 2010-12-15 2012-07-11 爱德万测试株式会社 测试装置
CN102565657A (zh) * 2010-12-15 2012-07-11 爱德万测试株式会社 测试装置
US9057756B2 (en) 2010-12-15 2015-06-16 Advantest Corporation Test apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
JPS58172337U (ja) 1983-11-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4740859A (en) Transient voltage surge suppressor and line short monitor
US20050180080A1 (en) Protection and indication apparatus
CA2972599C (en) Surge protective devices
US20090021881A1 (en) Overvoltage protection device with improved leakage-current-interrupting capacity
KR101391823B1 (ko) 자동절환 과전압 보호장치
WO2022012638A1 (zh) 浪涌防护电路、防雷器和电子设备
JPH0329964Y2 (ja)
JP2003037932A (ja) 寿命検知機能を有する避雷器
JPH0145227Y2 (ja)
JP6218190B2 (ja) 通信用サージ保護素子の異常検出回路
JP2012010469A (ja) サージ検出装置
JP2005150657A (ja) 劣化表示機能付き保安器
JP3147886U (ja) 避雷器破損報知装置、及び避雷器システム
CN108594133A (zh) 一种锂电池压差检测电路
CN210608527U (zh) 一种防雷击浪涌和绝缘耐压电路及电源
KR101794975B1 (ko) 안전 차단 기능을 구비한 태양광 발전 시스템
KR101850377B1 (ko) 전력용 피뢰기의 상태 감시장치
CN108306275B (zh) 一种电源防护电路及电子设备
CN108288846A (zh) 一种光耦输入保护电路及其保护方法
JP2007242569A (ja) 保護素子の劣化・動作表示装置
JPH11133084A (ja) サージ電流検出装置
JP2000021549A (ja) 保安器の劣化検出方法と劣化検出回路
JP2020005357A (ja) 保護回路
JP2003163106A (ja) 漏れ電流検出機能付き避雷器
KR20130073236A (ko) 서지 보호 장치