JPH0329811A - 測距器の検査装置 - Google Patents

測距器の検査装置

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JPH0329811A
JPH0329811A JP16606089A JP16606089A JPH0329811A JP H0329811 A JPH0329811 A JP H0329811A JP 16606089 A JP16606089 A JP 16606089A JP 16606089 A JP16606089 A JP 16606089A JP H0329811 A JPH0329811 A JP H0329811A
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JP16606089A
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Hisashi Segawa
瀬川 尚志
Yukio Ishii
石井 之夫
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光電的手段により距離情報を得ている測距器
が、正確に測距しているかを検査する測距器の検査装置
に関する。
〔従来の技術〕
最近のカメラには、被写体までの距離に応じて撮影レン
ズを合焦位置へ移動させるオートフォーカス装置が組み
込まれたものがある。オートフォーカス装置は光電的手
段によって被写体までの距離情報を得ている測距器を有
しており、このような測距器として第4図に示すような
ものがある。同図において、投光部101から被写体1
02に向けて赤外光線を投光し、投光部101から所定
基線長Lだけ隔たった受光部103で受光している。そ
して、受光部103の出力信号を基線長Lに基づいて演
算することによって、被写体までの距離情報を褥でいる
ところで、オートフォーカス装置が組み込まれたカメラ
は、製品として出荷する前には、このオートフォーカス
装置の測距器が正確に測距しているか検査しなければな
らない。そこで、測距器の前に披写体を近距離から遠距
離にかけて位置させ、披写体までの距離を測定している
。このように、測距器で被写体までの距離を測定するに
は所定の実距離が必要であった。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、オートフォーカス装置の測距器の作動を
検査するのに広い検査場所を必要としているので、この
検査場所を確保するのは、最近では困難になってきてい
る。また、例えば工場敷地が次第に手狭になっていくと
、この検査場所によって他目的のための場所が侵食され
る形となっていた。
そこで、反射鏡を光路中に配置して赤外光線を反射させ
、検査場所ならびに設備をなるべく小さくするように工
夫したりしている。しかし、赤外光線を反射させて検査
場所ならびに設備をいがに小さく工夫しても、投光部1
01から受光部1o3までの光路長さはなおも必要であ
った。このため、やはり検査場所は大きくならざるを得
す、この検査場所を確保するのが困難であった。また、
例えば他目的のための場所が、やはり相対的に侵食され
てしまうという課題があった。
〔課題を解決するための手段〕 このような課題を解決するために、本発明にあっては、
物体へ投光する投光部と前記物体からの反射光を受光す
る受光部とを有する測距器と、該測距器の投光部および
受光部と前記物体との間に介設され光路を短縮するコリ
メータレンズと、前記投光部から受光部までの光路中に
光を透過するように介設されて透過光量を前記物体の移
動に対応して制御する光量制御手段とを備えた構或とす
るものである。
〔作 用〕
オートフォーカス装置の測距器が被写体までの距離を正
確に測定しているかを検査する場合に、コリメータレン
ズによって被写体までの光路を短縮しているので、被写
体までの距離は短縮することができる。また、このとき
光量制御手段によって光の透過光量を制御して、受光部
の受光量を減光させるようにしたので、測距器は適正に
作動する。
〔実施例〕
以下、本発明を図面に基づいて説明する。第1図および
第2図は本発明に係る測距器の検査装置の一実施例を示
す図である。
第1図において、符号1はカメラに組み込まれたオート
フォーカス装置の測距器であり、この測距器lは被写体
に向けて赤外光線を投光する投光部2と、この投光部2
から所定基線長だけ離れて配設され、披写休からの反射
光を受光する受光部3とを有している。被写体としての
反射板4と測距器1の間にはコリメータレンズ5が介設
され、このコリメータレンズ5は支持部材6に取り付け
ら社ている。
コリメータレンズ5は透過する赤外光線の光路を圧縮す
る作用を有するものである。すなわち、コリメータレン
ズ5の前に配設される反射板4は、コリメータレンズ5
の近くに配設されているにもかかわらず、あたかも遠く
の反射板4の虚像(コリメータレンズ5が介設されない
場合の実像)から赤外光線を反射しているように作用す
る。
5 コリメータレンズ5の焦点距離以内で全ての実距離を実
現することができ、反射板4の移動距離は、この範囲で
関数的変位で示される。すなわち、反射板4がコリメー
タレンズ5の近くに位置しているとき、この反射板4の
移動距離に対する虚像の移動距離は小さく、逆に反射板
4がコリメータレンズ5から逮く離れて焦点近傍に位置
しているときには、この反射板4の移動距離に対する虚
像の移動距離は大きい。したがって、虚像が遠く離れれ
ば離れる程光路は圧縮されることになる。
コリメータレンズ5と受光部3との間には、フィルター
7が介設され、このフィルター7は第2図に示すように
全体が円板状のガラスであって、その中心部には回動軸
7aが形成されている。また、フィルター7は入射光の
成分を変えることなく透過光量を減光させる赤外光線用
NDフィルタ一である。フィルター7はその半径方向部
分の減光率が同一となっており、円周方向に向けての減
光率が徐々に異なるように形戊されている。例えば、フ
ィルター7の半径方向微少部分7bから時6 計方向に向けて減光率を徐々に大きくするように形成さ
れている。
一般に、被写体が遠距離に位置していると、受光部3で
受光する反射光はその光量が距離の2乗に比例して減光
する。ところが、コリメータレンズ5で光路を圧縮して
いるので、被写体4は実際には近距離に位置しており、
受光部3で受光する反射光はあまり減光しない。ここで
、遠距離にある被写体を測距器1で測距する場合には、
投光と受光の赤外光線の偏光角度とともに受光部3の減
光された光量に基づいて測距情報を得ている。このため
、コリメータレンズ5によって光路を圧縮した場合、受
光部3で受光される光量は距離に応じて減光されないの
で、測距器1は適正に作動せずに誤った測距情報しか得
られないことになる。
そこで、まず反射板4の位置を検知して、この位置に応
じた受光部3の減光量をマイクロコンピュータ等の演算
手段8によって演算し、この減光量に基づいてさらにフ
ィルター7の透過光量を演算し、この演算結果をステッ
プモータなどの駆動手段9に出力する。駆動手段9は演
算された透過光量に応じて歯車機構等を介して回動軸7
aを回動させ、反射板4の位置に応じたフィルター7の
適正な減光率の部分に、反射された赤外光線を位置させ
る。したがって、受光部3には被写体の距離に応じて減
光した赤外光線が入射し、正確な測距情報が得られるこ
とになる。なお、フィルター7、演算手段8、駆動手段
9は、全体として光量制御手段を構成する。また、フィ
ルター7は反射板4の位置に応じた適正な減光率部分に
手動で回動するようにしてもよい。
一方、フィルター7はコリメータレンズ5と受光部3と
の受光路中に介設したが、投光部2とコリメータレンズ
5との投光路中に介設してもよく、あるいは前記受光路
と段光路の両方に亘って介設してもよい。
オートフォーカス装置の測距器1が正確に作動している
かを検査する場合には、測距器1から圧縮して隔てられ
た距離に位置する被写体を測距して、この測距結果が前
記距離と一致するかを検査する。このときコリメータレ
ンズ5によって被写体4までの光路を圧縮しているので
、被写体4までの距離は圧縮することができる。また、
このときフィルター7によるで先の透過光量を制御して
、受光部3の受光量を減光させるようにしたので、測距
器1は適正に作動する。したがって測距器1の検査場所
は小さくすることができ、この検査場所の確保が可能と
なる。例えば、工場敷地が次第に手狭になってきても、
他の目的のための場所を相対的に侵食するようなことは
ない。
ここで、第3図に示すように被写体4の移動は、入力さ
れた距離に基づいて制御手段11によって行なってもよ
い。この場合に、この制御手段1lは入力された距離に
基づいてフィルター7を適正な減光率部分に回動させる
。なお、制御手段11は光量制御手段を含んでいる。
なお、フィルター7の代わりに、シャッタ羽根などによ
って機械的に絞ったり、PLZTすなわちP b Z 
r O aとP b T t O aの固溶体にLaを
添加した金属酸化物の透明な焼結体を用いてもよく、ま
た液晶に電圧をかけるなどの方法でもよい。
また、前記実施例にあっては、カメラのオートフォーカ
ス装置の測距器の検査装置に適用した例を示したが、こ
れに限らず精密機器の測距器の検査装置に適用してもよ
い。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、測距器の投光部お
よび受光部と物体との間にコリメータレンズを介設し、
投光部から受光部までの光路中に介設された光量制御手
段によって光の透過光量を適正に制御して受光部の受光
量を減光させるようにしたので、測距器の検査場所は小
さくすることができ、この検査場所の確保が可能となる
。また、例えば工場敷地が次第に手狭になってきても、
他のl]的のための場所を相対的に侵食するようなこと
はない。
【図面の簡単な説明】
9 10 第1図および第2図は本発明に係る測距器の検査装置の
一実施例を示す図であり、第1図はこの検査装置の概略
全体図、第2図はこの光量制御手段に用いられたフィル
ターの斜視図、第3図はこの検査装置の他の実施例を示
す概略全体図である。 第4図は従来の測距器の概略図である。 1・・・測距器、      2・・・投光部、3・・
・受光部、      4・・・反射板、5・・・コリ
メータレンズ、7・・・フィルター8・・・演算手段、
    9・・・駆動手段。 以上

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 物体へ投光する投光部と前記物体からの反射光を受光す
    る受光部とを有する測距器に対向して設けた移動可能な
    反射板と、前記測距器の投光部および受光部と前記反射
    板との間に介設され光路を圧縮するコリメータレンズと
    、前記投光部から受光部までの光路中に光を透過するよ
    うに介設されて透過光量を前記物体の移動に対応して制
    御する光量制御手段とを備えたことを特徴とする測距器
    の検査装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020084955A1 (ja) 2018-10-24 2020-04-30 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 測距センサ、検出センサ、測距方法及び電子機器

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WO2020084955A1 (ja) 2018-10-24 2020-04-30 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 測距センサ、検出センサ、測距方法及び電子機器
KR20210080270A (ko) 2018-10-24 2021-06-30 소니 세미컨덕터 솔루션즈 가부시키가이샤 측거 센서, 검출 센서, 측거 방법, 및 전자 디바이스
US11662446B2 (en) 2018-10-24 2023-05-30 Sony Semiconductor Solutions Corporation Ranging sensor, detection sensor, ranging method, and electronic device

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