JPH0329744Y2 - - Google Patents

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JPH0329744Y2
JPH0329744Y2 JP1983131405U JP13140583U JPH0329744Y2 JP H0329744 Y2 JPH0329744 Y2 JP H0329744Y2 JP 1983131405 U JP1983131405 U JP 1983131405U JP 13140583 U JP13140583 U JP 13140583U JP H0329744 Y2 JPH0329744 Y2 JP H0329744Y2
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Japan
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test piece
standard test
standard
test
test surface
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は磁粉探傷試験(磁粒検査)を行なう際
に用いる標準試験片を試験面に固定する構造に関
する。
[Detailed Description of the Invention] The present invention relates to a structure for fixing a standard test piece used in magnetic particle testing (magnetic particle inspection) to a test surface.

磁粉探傷試験は、試験品中の割れのような欠陥
(不連続点)が磁場を変化させ、それが細かい磁
粒粉によつて示される現象を利用して強磁性の試
験品中の欠陥の存在およびその程度を判別する非
破壊検査法である。この試験を行なう場合、作業
開始に先だつて必ず試験面に標準試験片を固定す
る操作を必要とする。この標準試験片とは、権威
ある機関で検定された所定の材質、寸法、および
人工傷を有する電磁軟鉄であり、この標準試験片
を用いることにより、装置、磁粉、検査液の性能
および連続法における試験面の有効磁場の強さお
よび方向、探傷有効範囲、試験操作の適否を調べ
なければならない。
In magnetic particle testing, defects such as cracks (discontinuities) in a test piece change the magnetic field, and this phenomenon is exhibited by fine magnetic particles. This is a non-destructive testing method to determine the presence and extent of the presence. When conducting this test, it is necessary to fix the standard test piece on the test surface before starting work. This standard test piece is electromagnetic soft iron with specified materials, dimensions, and artificial flaws certified by an authoritative institution, and by using this standard test piece, the performance of equipment, magnetic particles, and test liquid can be improved. The strength and direction of the effective magnetic field on the test surface, the effective flaw detection range, and the suitability of the test operation must be investigated.

ところで、従来は標準試験片を試験面とよく密
着するように適当な粘着性テープを用いて試験面
に張付けていた。そのため、特に種々の試験品
(サンプル)を試験する場合には極めて煩雑な作
業を強いられることとなつていた。また、粘着性
テープを用いる時には、暗い場所、狭い場所等の
作業環境の良好でない所では特にテープを張付け
にくい場合があつた。また、標準試験片は曲げ伸
しを繰返えすと人工傷の溝の底が割れてその磁気
的性能に変化が生じる恐れがあるため、取扱には
注意を要するものであるが、粘着性テープを剥が
す時に、標準試験片が折曲げられる等、標準試験
片の磁気的性能に大きな変化を生じさせてしまう
恐れが大きいものであつた。
By the way, in the past, a standard test piece was attached to the test surface using an appropriate adhesive tape so that it would come into close contact with the test surface. Therefore, especially when testing various test products (samples), extremely complicated work has been required. Furthermore, when using adhesive tape, it is sometimes difficult to apply the tape, especially in places where the work environment is not favorable, such as a dark place or a narrow place. In addition, when standard test pieces are repeatedly bent and stretched, the bottom of the grooves of the artificial scratches may crack and their magnetic performance may change, so care must be taken when handling them. When peeling off the standard test piece, there was a large risk that the standard test piece would be bent, causing a large change in the magnetic performance of the standard test piece.

本考案の目的は、粘着性テープを用いることな
く標準試験片を簡単な操作で種々の場所の試験面
に容易かつ迅速に固定することができ、また、標
準試験片を折曲げたりする等の恐れのない磁粉探
傷用標準試験片固定構造を提供することにある。
The purpose of this invention is to allow standard test pieces to be easily and quickly fixed to test surfaces at various locations with simple operations without using adhesive tape, and to allow standard test pieces to be easily and quickly fixed to test surfaces at various locations without using adhesive tape. The purpose of the present invention is to provide a standard test piece fixing structure for magnetic particle flaw detection without any fear.

そのため本考案は、試験面に吸着する試験品磁
化用磁石に腕体を位置調整可能に取付け、この腕
体の先端側を試験面に対向させるとともに、標準
試験片を弾性部材を介して試験面に押圧して密着
固定させるよう構成して前記目的を達成しようと
するものである。
Therefore, in the present invention, the arm is attached to the magnet for magnetizing the test specimen that is attracted to the test surface so that its position can be adjusted, the tip side of this arm is facing the test surface, and the standard test piece is attached to the test surface through an elastic member. In order to achieve the above object, the device is configured to be pressed and fixed in close contact with each other.

以下、本考案の実施例を図面に基づいて説明す
る。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described based on the drawings.

第1,2図には本考案に係る磁粉探傷用標準試
験片固定構造の一実施例が示されている。図中、
試験品11の試験面11A上には試験品磁化用磁
石としての永久磁石12が吸着されている。永久
磁石12は円柱体状に形成される等しており、中
心軸部にはボルト軸13が上端面より所定長だけ
突出した状態で固定されている。ボルト軸13の
所定高さ位置には例えば2つの締めナツト14が
固定され、これら締めナツト14上にはワツシヤ
15を介して腕体16および付勢板17が前記ボ
ルト軸13に挿通されて配置され、かつ、これら
腕体16および付勢板17の更に上部にはワツシ
ヤ18を介して蝶ナツト19が螺合されている。
別言すれば、締めナツト14および蝶ナツト19
間に腕体16および付勢板17が高さ位置調整可
能に取付けられている。更に別言すれば、腕体1
6はボルト軸13を介して永久磁石12に取付け
られている。
FIGS. 1 and 2 show an embodiment of a standard test piece fixing structure for magnetic particle flaw detection according to the present invention. In the figure,
A permanent magnet 12 serving as a magnet for magnetizing the test product is attracted onto the test surface 11A of the test product 11. The permanent magnet 12 is formed into a cylindrical shape, etc., and a bolt shaft 13 is fixed to the central shaft portion thereof with a predetermined length protruding from the upper end surface. For example, two tightening nuts 14 are fixed at a predetermined height position of the bolt shaft 13, and an arm body 16 and a biasing plate 17 are inserted through the bolt shaft 13 and placed on these tightening nuts 14 via washers 15. Further, a wing nut 19 is screwed to the upper part of the arm body 16 and the biasing plate 17 via a washer 18.
In other words, the tightening nut 14 and the wing nut 19
An arm body 16 and a biasing plate 17 are mounted in between so as to be height adjustable. In other words, arm body 1
6 is attached to the permanent magnet 12 via a bolt shaft 13.

腕体16および付勢板17は共に透明なアクリ
ル板等により形成されている。また、腕体16の
先端側には同じくアクリル製棒等よりなる介装棒
21が取付けられている。この介装棒21は腕体
16と付勢板17との間〓内に押し込まれた状態
となつており、従つて、介装棒21により腕体1
6の先端側は第2図中下方側(試験面11A側)
に付勢されている。
Both the arm body 16 and the biasing plate 17 are formed of transparent acrylic plates or the like. Furthermore, an intervening rod 21 made of an acrylic rod or the like is attached to the distal end side of the arm body 16. This interposition rod 21 is pushed into the space between the arm body 16 and the biasing plate 17, and therefore, the interposition rod 21 forces the arm body 1
The tip side of 6 is the lower side in Figure 2 (test surface 11A side)
is energized by

前記腕体16は、1枚のアクリル板が折曲さ
れ、或いは複数のアクリル板が互いに接合される
等して断面クランク型(第2図参照)に構成され
ている。この断面クランク型の腕体16は基端部
が前記ボルト軸13に固定され、先端部は試験面
11A近傍に試験面11Aと略平行に配された押
え枠部22とされている。この押え枠部22は、
標準試験片23と内側で略同程度の大きさとさ
れ、中央部に例えば方形状の覗き窓24が穿設さ
れた方形枠板状に形成されている。
The arm body 16 has a crank-shaped cross section (see FIG. 2) by bending a single acrylic plate or by joining a plurality of acrylic plates to each other. The arm body 16, which has a crank-shaped cross section, has a proximal end fixed to the bolt shaft 13, and a distal end serving as a holding frame portion 22 disposed near the test surface 11A and substantially parallel to the test surface 11A. This presser frame portion 22 is
It has approximately the same size on the inside as the standard test piece 23, and is formed into a rectangular frame plate shape with, for example, a rectangular viewing window 24 bored in the center.

押え枠部22の四隅には夫々小孔状の挿通孔2
5(第2図参照)が穿設され、これら挿通孔25
には基端部に抜け止め26Aを有するピン状の押
え軸26が進退動自在に挿通されている。押え軸
26の先端(図中下端)には所定の厚さの押えパ
ツト27が固定されている。これら押えパツト2
7はアクリル板等の合成樹脂板等から構成されて
おり、標準試験片23に損傷等を与えないように
なつている。また、押えパツト27と押え枠部2
2の下端面との間には弾性部材である圧縮コイル
ばね28が介装されており、圧縮コイルばね28
により各押えパツト27は標準試験片23を試験
面11A上に押圧して密着固定するようになつて
いる。
Small insertion holes 2 are provided at each of the four corners of the presser frame portion 22.
5 (see Figure 2) are drilled, and these insertion holes 25
A pin-shaped presser shaft 26 having a retainer 26A at its base end is inserted through the shaft so as to be movable forward and backward. A presser pad 27 having a predetermined thickness is fixed to the tip of the presser shaft 26 (lower end in the figure). These presser foot parts 2
7 is made of a synthetic resin plate such as an acrylic plate, and is designed to prevent damage to the standard test piece 23. In addition, the presser foot pad 27 and the presser frame portion 2
A compression coil spring 28, which is an elastic member, is interposed between the lower end surface of the compression coil spring 28 and the lower end surface of the compression coil spring 28.
Accordingly, each presser pad 27 presses the standard test piece 23 onto the test surface 11A to tightly fix it.

次に、本実施例における標準試験片23の固定
操作に付き説明する。
Next, the fixing operation of the standard test piece 23 in this example will be explained.

予め2つの締めナツト14の高さ位置を適当に
定めておくとともに、蝶ナツト19を若干緩めた
状態としておく。この状態で永久磁石12を試験
品11に吸着させると同時に標準試験片23の四
隅に押えパツト27を当てがつて試験片23を試
験面11A上により仮固定しておく。この仮固定
状態でも標準試験片23は試験面11A上に一応
固定されるが、標準試験片23の試験面11A上
における正確な位置決め等は可能である。
The height positions of the two tightening nuts 14 are determined appropriately in advance, and the wing nut 19 is left in a slightly loosened state. In this state, the permanent magnet 12 is attracted to the test piece 11, and at the same time, presser pads 27 are applied to the four corners of the standard test piece 23 to temporarily fix the test piece 23 on the test surface 11A. Even in this temporarily fixed state, the standard test piece 23 is temporarily fixed on the test surface 11A, but it is possible to accurately position the standard test piece 23 on the test surface 11A.

標準試験片23の試験面11A上での位置を決
定したら、蝶ナツト19を締めることとする。こ
れにより、付勢板17、特に付勢板17に設けら
れた介装棒21が腕体16の先端側即ち押え枠部
22側を試験面11A側へと押え付けるよう作用
する。従つて、腕体16自体の有する弾性力およ
びこの弾性力を更に強化するよう介装棒21を介
して腕体16に加えられる付勢板17の弾性力、
更には、押え枠部22の四隅に設けられた押えパ
ツト27を試験片23側に押圧する各圧縮コイル
ばね28のばね力の全ての合力によつて標準試験
片23は試験面11A上に押圧され、これによ
り、標準試験片23は試験面11A上に密着固定
されることとなるわけである。
After determining the position of the standard test piece 23 on the test surface 11A, the wing nut 19 is tightened. As a result, the biasing plate 17, particularly the intervening rod 21 provided on the biasing plate 17, acts to press the distal end side of the arm body 16, that is, the presser frame portion 22 side, toward the test surface 11A side. Therefore, the elastic force of the arm body 16 itself and the elastic force of the biasing plate 17 applied to the arm body 16 via the interposition rod 21 to further strengthen this elastic force.
Furthermore, the standard test piece 23 is pressed onto the test surface 11A by the combined force of all the spring forces of the compression coil springs 28 that press the holding pads 27 provided at the four corners of the holding frame 22 toward the test piece 23. As a result, the standard test piece 23 is tightly fixed on the test surface 11A.

このような本実施例によれば次のような効果が
ある。
This embodiment has the following effects.

従来のように粘着性テープを用いることなく標
準試験片23を試験面11A上に固定することが
できる。従つて粘着性テープを用いて固定した場
合と異なり、水分のある所等でも、或いは、暗い
場所や狭い場所等のように従来であれば標準試験
片23を固定することの不可能な、或いは極めて
困難であつた場所にも容易に標準試験片23を固
定することができるという効果がある。
The standard test piece 23 can be fixed on the test surface 11A without using an adhesive tape as in the past. Therefore, unlike the case of fixing using adhesive tape, it is possible to fix the standard test piece 23 in places where it would be impossible to fix it conventionally, such as in places with moisture, dark places, narrow places, etc. This has the effect that the standard test piece 23 can be easily fixed even in extremely difficult locations.

また、標準試験片23の固定に要する操作自体
も、蝶ナツト19を若干操作するだけのものであ
り、或は、場合によつては蝶ナツト19を予め締
つけておけば蝶ナツト19を何ら操作することな
く、標準試験片23を試験面11Aを上に固定さ
せることも可能である。従つて、標準試験片23
の固定操作自体が極めて簡単なものである。その
ため、試験操作に要する労力を大幅に低減させる
ことができ、複数の個所を次々に試験しなければ
ならない場合にあつても、比較的短時間で試験を
完了させることができるという効果がある。
Further, the operation required to fix the standard test piece 23 is only a slight operation of the wing nut 19, or in some cases, the wing nut 19 may be tightened in advance. It is also possible to fix the standard test piece 23 with the test surface 11A facing upward without any operation. Therefore, standard test piece 23
The fixing operation itself is extremely simple. Therefore, the labor required for test operations can be significantly reduced, and even when multiple locations must be tested one after another, the test can be completed in a relatively short time.

更にまた、粘着性テープを用いる場合にあつて
は、特に粘着性テープを剥がす時に標準試験片2
3を折曲げてしまつたり、或は折曲げない迄もそ
の磁気的性能に変化を与えてしまう等の恐れが極
めて大きかつたが、本実施例によれば、標準試験
片23を試験面11A上に固定するときは勿論、
標準試験片23を試験面11Aから取り外す時に
あつても、標準試験片23を折曲げたり或は標準
試験片23の磁気的性能に変化を与えるような恐
れが全くないという効果がある。そのために、試
験精度自体を向上させることができるとともに、
標準試験片23の長寿命化をはかることもでき
る。
Furthermore, when using adhesive tape, the standard test piece 2 should be used especially when peeling off the adhesive tape.
However, according to this example, the standard test piece 23 was placed on the test surface. Of course, when fixing on 11A,
Even when the standard test piece 23 is removed from the test surface 11A, there is no fear of bending the standard test piece 23 or changing the magnetic performance of the standard test piece 23. Therefore, the test accuracy itself can be improved, and
It is also possible to extend the life of the standard test piece 23.

また、押えパツト27で押えられている個所を
除き、どの位置からでも検査液の適用ができると
いう効果がある。
Further, there is an effect that the test liquid can be applied from any position except for the part held down by the holding pad 27.

更に、腕体16は高さつまり押圧方向に位置調
整可能であるから、標準試験片23を試験面11
Aに押圧する力を適宜調整できるとともに、試験
面11Aに段差等があつて永久磁石12と標準試
験片23の取付高さが異なる場合等でも、腕体1
6の位置を調整することで容易に対応できる。
Furthermore, since the arm body 16 can be adjusted in height, that is, in the pressing direction, the standard test piece 23 can be placed on the test surface 11.
In addition to being able to adjust the force applied to the arm body 1 as appropriate, even if there is a step on the test surface 11A and the mounting heights of the permanent magnet 12 and the standard test piece 23 are different,
This can be easily done by adjusting the position of 6.

また、標準試験片23および腕体16の押え枠
部22間には、弾性部材である圧縮コイルばね2
8が介装されているので、試験片23の押圧力を
分散して面圧を均一化し、確実かつ安定した密着
固定を行うことができるとともに、腕体16の移
動等により試験片23の一方側に過度の押圧力を
加わつても、コイルばね28により緩衝すること
ができるので、試験片23を折曲げたり、傷付け
たりすることがない。
Furthermore, between the standard test piece 23 and the holding frame portion 22 of the arm body 16, there is a compression coil spring 2 which is an elastic member.
8 is interposed, it is possible to disperse the pressing force of the test piece 23 and equalize the surface pressure, thereby ensuring reliable and stable close fixation. Even if an excessive pressing force is applied to the side, it can be buffered by the coil spring 28, so the test piece 23 will not be bent or damaged.

なお、実施にあたり、付勢板17は必ずしも必
要でないが、付勢板17を設け、特に介装棒21
を有する付勢板17を設けることにより、腕体1
6の先端側を試験面11A側に特に強く押さえ付
けるよう構成することができる。また、腕体16
や付勢板17は必ずしも透明なアクリル板等より
なるものに限らないが、透明なアクリル板等であ
れば、軽量にしてかつ各部を傷付ける恐れがな
く、更に、透明なため観察を行なう上での死角を
作りにくいという効果がある。また、合成樹脂材
であれば腐食にも耐え得るという効果がある。
In addition, in implementation, although the biasing plate 17 is not necessarily required, the biasing plate 17 is provided, and especially the interposed rod 21
By providing the biasing plate 17 having
6 can be configured to be particularly strongly pressed against the test surface 11A side. Also, arm body 16
The biasing plate 17 is not necessarily made of a transparent acrylic plate or the like, but if it is a transparent acrylic plate or the like, it is lightweight and there is no risk of damaging the parts, and furthermore, since it is transparent, it is easy to observe. This has the effect of making it difficult to create blind spots. In addition, a synthetic resin material has the advantage of being resistant to corrosion.

また、標準試験片23を直接押え付ける各押え
パツト27も透明なアクリル板であるとしたが、
押えパツト27を構成する材質はこれらに限らな
い。ただし、透明なアクリル板であれば標準試験
片23の押え位置を定め易いものであるととも
に、押えパツト27が標準試験片23表面を損傷
する恐れがない。
In addition, each presser part 27 that directly presses the standard test piece 23 was also made of a transparent acrylic plate.
The material constituting the presser pad 27 is not limited to these materials. However, if it is a transparent acrylic plate, it is easy to determine the holding position of the standard test piece 23, and there is no fear that the holding part 27 will damage the surface of the standard test piece 23.

更にまた、前記実施例では、腕体16および付
勢板17の有する弾性力および圧縮コイルばね2
8のばね力の全ての合力によつて標準試験片23
を試験面11A上に押圧密着固定させるものであ
つたが、これら全ての合力が必ずしも必要なわけ
ではなく、例えば、圧縮コイルばね28のばね力
のみによつて標準試験片23を試験面11A上に
押圧する構成であつてもよい。ただし、前記実施
例のように構成すれば、全体としての構成が簡単
であるにも拘わらず、極めて大きな力で標準試験
片23を試験面11A上に押圧密着固定させるこ
とができるという効果がある。
Furthermore, in the embodiment, the elastic force of the arm body 16 and the biasing plate 17 and the compression coil spring 2
Standard specimen 23 by the resultant force of all the spring forces of 8
However, the resultant force of all these forces is not necessarily necessary; for example, the standard test piece 23 is pressed and fixed onto the test surface 11A only by the spring force of the compression coil spring 28. The configuration may be such that the pressure is applied to the However, if the configuration is as in the embodiment described above, although the overall configuration is simple, there is an effect that the standard test piece 23 can be pressed and fixed tightly onto the test surface 11A with an extremely large force. .

更にまた、覗き窓24は必ずしも穿設されてい
なくともよいが、覗き窓24が穿設されていれ
ば、この覗き窓24より標準試験片23の中央部
を容易に直接観察することができ、欠陥確認で視
野が妨げられず、極めて便宜である。
Furthermore, although the viewing window 24 does not necessarily have to be provided, if the viewing window 24 is provided, the central part of the standard test piece 23 can be easily directly observed through the viewing window 24, The field of view is not obstructed when checking defects, which is extremely convenient.

また、押えパツト27は押え枠部22の四隅に
設けられており、従つて、押えパツト27は標準
試験片23の四隅に夫々当てがわれるよう構成さ
れていたが、必ずしもこのような構成に限られる
ものではない。ただし、押えパツト27が前記四
隅に設けられていれば、標準試験片23の四辺方
向から検査液を適用できるという効果がある。
Further, the presser pads 27 are provided at the four corners of the presser frame portion 22, and therefore, the presser pads 27 are configured to be applied to each of the four corners of the standard test piece 23, but this configuration is not necessarily limited. It's not something you can do. However, if the holding pads 27 are provided at the four corners, there is an effect that the test liquid can be applied from the four sides of the standard test piece 23.

また、試験品磁化用磁石は前記永久磁石12で
あるとしたが、永久磁石12に限らず電磁石であ
つてもよく、或いはマグネチツクスタンド等に用
いられ、レバーの切換えによつてマグネツトを回
転させ、吸着状態と非吸着状態とを切換えられる
永久磁石構造でもよい。また、腕体16とボルト
軸13との取付け構造は前述の場合に限られない
し、更には、必ずしもボルト軸13を介して付勢
板17が取付けられる構造でなくともよい。更に
また、標準試験片23はA型、B型、C型等の何
れの規格のものであつてもよい。
In addition, although the magnet for magnetizing the test item is the permanent magnet 12, it is not limited to the permanent magnet 12, but may be an electromagnet, or may be used in a magnetic stand, etc., and the magnet can be rotated by switching a lever. , a permanent magnet structure that can be switched between an attracted state and a non-adsorbed state may be used. Furthermore, the attachment structure between the arm body 16 and the bolt shaft 13 is not limited to the above-mentioned case, and furthermore, the structure in which the biasing plate 17 is not necessarily attached via the bolt shaft 13 may be used. Furthermore, the standard test piece 23 may be of any standard such as A type, B type, C type, etc.

上述のように本考案によれば、粘着性テープを
用いることなく標準試験片を簡単な操作で種々の
場所の試験面に容易かつ迅速に固定することがで
き、また、試験片を折曲げる等の恐れのない磁粉
探傷用標準試験片固定構造を提供できる。
As described above, according to the present invention, standard test pieces can be easily and quickly fixed to test surfaces at various locations with simple operations without using adhesive tape, and the test pieces can be easily and quickly fixed to test surfaces at various locations without using adhesive tape. It is possible to provide a standard test piece fixing structure for magnetic particle flaw detection without the fear of

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本考案に係る磁粉探傷用標準試験片固
定構造の一実施例を示す平面図、第2図は第1図
の−線に従う矢視断面図である。 11……試験品、11A……試験面、12……
試験品磁化用磁石としての永久磁石、13……ボ
ルト軸、16……腕体、17……付勢板、22…
…押え枠部、23……標準試験片、24……覗き
窓、27……押えパツト、28……圧縮コイルば
ね。
FIG. 1 is a plan view showing an embodiment of a standard test piece fixing structure for magnetic particle flaw detection according to the present invention, and FIG. 2 is a sectional view taken along the line - in FIG. 1. 11...Test product, 11A...Test surface, 12...
Permanent magnet as test item magnetization magnet, 13... Bolt shaft, 16... Arm body, 17... Biasing plate, 22...
... Presser frame portion, 23 ... Standard test piece, 24 ... Peephole, 27 ... Presser pat, 28 ... Compression coil spring.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 磁粉探傷試験用の標準試験片を試験面に密着固
定させる固定構造であつて、前記試験面に吸着す
る試験品磁化用磁石に位置調整可能に取付けられ
た腕体を設け、この腕体の先端側を試験面に対向
させるとともに、前記標準試験片を弾性部材を介
して試験面に押圧して密着固定させることを特徴
とする磁粉探傷用標準試験片固定構造。
This is a fixing structure that tightly fixes a standard test piece for magnetic particle testing on a test surface, and has an arm whose position can be adjusted to a magnet for magnetizing the test product that is attracted to the test surface. 1. A standard test piece fixing structure for magnetic particle flaw detection, characterized in that the standard test piece is pressed against the test surface via an elastic member to tightly fix the standard test piece, with the side facing the test surface.
JP13140583U 1983-08-25 1983-08-25 Standard test piece fixing structure for magnetic particle testing Granted JPS6039966U (en)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5181683A (en) * 1975-01-16 1976-07-17 Daido Steel Co Ltd KEIKOJIFUNTANSHONIOKERU HANTEIYOHYOJUNKIZUSANPURU

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5181683A (en) * 1975-01-16 1976-07-17 Daido Steel Co Ltd KEIKOJIFUNTANSHONIOKERU HANTEIYOHYOJUNKIZUSANPURU

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