JPH1151833A - Clamping jig for tensile test - Google Patents
Clamping jig for tensile testInfo
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- JPH1151833A JPH1151833A JP9214984A JP21498497A JPH1151833A JP H1151833 A JPH1151833 A JP H1151833A JP 9214984 A JP9214984 A JP 9214984A JP 21498497 A JP21498497 A JP 21498497A JP H1151833 A JPH1151833 A JP H1151833A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は引張試験片のクラン
プに関し、特に試験片把持装置に試験片を取り付ける
際、試験方向に対する平行度を確保し、精度のよい測定
値を迅速に得ることを可能とする引張試験用クランプ治
具に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a clamp for a tensile test piece, and particularly, when mounting a test piece on a test piece gripping device, it is possible to secure parallelism with respect to a test direction and quickly obtain accurate measurement values. The present invention relates to a clamp jig for a tensile test.
【0002】[0002]
【従来の技術】引張試験においては、応力−歪み線図を
得ることが主たる目的であり、これを如何に精度良く、
かつ迅速にして効率よくなすことが必要である。JIS
等の規格では、認定された試験機によって試験片の軸心
方向に正しくセットされ、規定試験片の標点近傍にて破
断し、その時の応力が重要な指標となることを前提とし
て設定されている。そのため試験を実施する者は細心の
注意を払って、試験片のセッティングを行うことが肝要
となっている。2. Description of the Related Art In a tensile test, the main purpose is to obtain a stress-strain diagram.
It must be done quickly and efficiently. JIS
In such standards, it is set on the assumption that the test piece is set correctly in the axial direction of the test piece by a certified testing machine, breaks near the reference point of the specified test piece, and the stress at that time becomes an important index. I have. For this reason, it is important for the person who performs the test to set the test piece with great care.
【0003】一方、実生産ライン等の品質管理用として
の試験においては、その試験の効率化がさらに重要なフ
ァクターとなっている。この点から従来では人力によっ
て試験片の傾き等試験値に直接影響する要因を無くすた
めに、試験片を下方向に垂直にセットするための調整に
時間を要していた。このため迅速にして精度の良いデー
タを得るための軸心方向への精度のよいセッティングが
問題となっていた。これが試験実施者による目測による
試験片のセットであり、熟練者でも試験片をクランプ後
に平行度を確認し、再度試験片をセットし直すというこ
とも行われ作業が煩瑣になっている。また、平行度が得
られていないことにより、試験片の局部に異常応力が加
わり正確なデータが得られない等の不具合も発生してい
る。On the other hand, in a test for quality control of an actual production line or the like, the efficiency of the test is an even more important factor. From this point, conventionally, in order to eliminate factors that directly affect the test value such as the inclination of the test piece due to human power, it takes time to adjust the test piece to be set vertically downward. For this reason, accurate setting in the axial direction to obtain quick and accurate data has been a problem. This is the setting of test pieces by visual measurement by a tester, and even a skilled worker checks the parallelism after clamping the test pieces and resets the test pieces again, which makes the work complicated. Further, since the parallelism is not obtained, an abnormal stress is applied to a local portion of the test piece, which causes a problem that accurate data cannot be obtained.
【0004】上記のように従来の引張試験片のクランプ
に関し、試験方向と引張方向の平行度を確保しようとし
た簡便にして効率良い方法の開示されたものはない。一
般には、板状引張試験用のクランプ治具は試験片をチャ
ック部に挿入しつつ、クランプ面を締め込んでチャック
するものであるが、このセッティング初期の試験片方向
と引張方向が平行にならないことを修正する方法によっ
て、試験データのバラツキの発生を防止して、かつ簡便
な方法であることが望まれている。As described above, there is no conventional simple and efficient method for clamping a tensile test piece in an attempt to secure parallelism between the test direction and the tensile direction. In general, a clamp jig for a plate-like tensile test is one in which a test piece is inserted into a chuck portion and a clamp surface is tightened to chuck the test piece. However, the direction of the test piece in the initial stage of setting does not become parallel to the tensile direction. It is desired that a simple method is used to prevent the occurrence of variation in test data by a method for correcting this.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、板状
引張試験用のクランプ治具は試験片をチャック部に挿入
しつつ、クランプ面を締め込んでチャックするものであ
るが、このセッティング初期の試験片方向と引張方向が
平行となるように修正する方法を検討し、簡便にして効
率良いクランプ治具を提供するものである。本発明の他
の目的は、板状引張試験用のクランプ治具のクランプ面
に、仮クランプ時に試験片を平行にクランプできる方法
を検討し、これを試験片押し圧用接触子によって実現
し、かつ正規のクランプ時に前記接触子を埋没してクラ
ンプ面全面でクランプ可能としたクランプ治具を提供す
るものである。SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a clamping jig for a plate-like tensile test in which a test piece is inserted into a chuck portion and a clamping surface is tightened to chuck. A method for correcting the initial test piece direction and the tensile direction so as to be parallel to each other is studied, and a simple and efficient clamp jig is provided. Another object of the present invention is to study a method capable of clamping a test piece in parallel to a clamping surface of a clamp jig for a plate-like tensile test at the time of temporary clamping, realizing this with a test piece pressing pressure contactor, and An object of the present invention is to provide a clamp jig in which the contact is buried at the time of regular clamping so that the entire surface of the clamp surface can be clamped.
【0006】本発明の別の目的は、仮クランプ時に試験
片を平行にクランプできる方法としてその接触子を弾性
体によって製作することで、前記正規のクランプ時に接
触子を埋没する機能を付与してチャッキングの精度向上
をはかることを可能とするクランプ治具を提供するもの
である。Another object of the present invention is to provide a function of burying the contact at the time of the regular clamping by manufacturing the contact with an elastic body as a method capable of clamping the test piece in parallel during the temporary clamping. An object of the present invention is to provide a clamp jig that can improve the accuracy of chucking.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】上記の目的は、試験片の
端部を保持する試験片把持装置の上下チャッキング用ク
ランプ治具の少なくとも一方のクランプ治具において、
対向するクランプ面の軸心部で前記クランプ治具の試験
片把持部に、試験片セッティングの当初に試験片を鉛直
方向に試験片支持力を付与する仮クランプ用接触子と、
次いで仮クランプ状態の試験片を完全に把持するクラン
プ時に、前記接触子をクランプ面に対して進退自在とし
て、前記クランプ面に埋没させ前記試験片をクランプ面
全面で支持可能とする接触子埋没機構を有することを特
徴とする引張試験用クランプ治具によって達成される。The object of the present invention is to provide at least one of a clamp jig for vertical chucking of a test piece gripping device for holding an end of a test piece,
At the axis of the opposing clamp surface, to the test piece gripping part of the clamp jig, a temporary clamp contact for applying a test piece supporting force to the test piece in the vertical direction at the beginning of the test piece setting,
Next, at the time of clamping for completely gripping the test piece in the temporarily clamped state, the contact burying mechanism that allows the contact to be able to advance and retreat with respect to the clamp surface so as to be buried in the clamp surface so that the test piece can be supported on the entire clamp surface. This is achieved by a tensile test clamp jig having the following features.
【0008】また、上記の目的は、前記接触子は弾性体
からなることを特徴とする前記引張試験用クランプ治具
によっても達成される。板材の引張試験は広く行われて
いるが、試験片をセットする時の試験片方向を引張方向
と平行にすることは、正確なデータを得るために必須の
課題であって、本発明はこの課題を解決するものであっ
て、クランプ治具内部に点接触型予備クランプピンを設
け試験片の自重により容易に試験片方向が引張方向と平
行となる機構を達成したものである。The above object is also achieved by the tensile test clamp jig, wherein the contact is made of an elastic material. Although tensile tests of plate materials are widely performed, it is an essential issue to obtain accurate data to make the test piece direction parallel to the tensile direction when setting the test piece, and the present invention In order to solve the problem, a point contact type preliminary clamp pin is provided inside a clamp jig to achieve a mechanism in which the test piece direction is easily parallel to the tensile direction by the weight of the test piece.
【0009】板材などの一般的な試験である引張試験に
おいて、引張方向に対し試験片を平行にセットできるク
ランプ治具であって、接触子によって仮クランプ時試験
片を鉛直方向への位置決めを簡便にして、迅速に行うも
のである。In a tensile test, which is a general test for a plate material or the like, a clamp jig capable of setting a test piece in parallel to a tensile direction, wherein a test piece is easily positioned in a vertical direction at the time of temporary clamping by a contact. And quickly.
【0010】[0010]
【発明の実施の形態】従来のクランプ治具は試験片を挿
入しつつチャッキングを行うものであるため、試験片の
挿入時に試験片が傾いた場合は、そのままクランプされ
ることになる。このまま試験を実施した場合、局部的な
応力集中や変形の不均一を招き正確なデータ採りができ
ないことが発生する。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A conventional clamping jig performs chucking while inserting a test piece, so that if the test piece is tilted when the test piece is inserted, it will be clamped as it is. If the test is carried out as it is, local stress concentration and non-uniform deformation may be caused, and accurate data may not be collected.
【0011】また挿入時に平行度合いを確保することは
目視に頼っており熟練者であってもセットのやり直しを
行うなど慎重さが要求される作業である。本発明では、
接触子により仮クランプ時試験片を鉛直方向に位置決め
できる。また、接触子の埋没機構を弾性体で兼ねること
ができる。そのため、試験片のクランプ精度を向上し、
試験片方向と引張方向が平行とならないことによる試験
データの信頼性低下を防止する。さらに試験片方向と引
張方向を平行にするための作業を容易にする。本発明の
弾性体とは、機械的特性が弾性的挙動を呈するものであ
ればよく、特にその材料形状および大きさを規定するも
のではない。材料としては、例えば金属は勿論、金属以
外でも熱硬化性および熱可塑性セラミックスのばね特性
を有する材料および押し圧用形状に仕上げたもの、その
他高分子材料によるものおよびそれらの組み合わせた材
料および形状のもの等が挙げられる。以下に本発明につ
いて実施例によってさらに詳述する。[0011] Further, securing the degree of parallelism at the time of insertion depends on visual observation, and is a task that requires carefulness, such as re-setting of a set even by a skilled person. In the present invention,
The test piece can be positioned in the vertical direction at the time of temporary clamping by the contact. In addition, the burying mechanism of the contact can be also used by the elastic body. Therefore, the clamping accuracy of the test piece is improved,
This prevents a drop in the reliability of test data due to the test piece direction and the tensile direction not being parallel. Further, the work for making the test piece direction parallel to the tensile direction is facilitated. The elastic body of the present invention may be any as long as it exhibits elastic behavior in mechanical properties, and does not particularly define its material shape and size. Examples of the material include not only metals, but also materials other than metals that have thermosetting and thermoplastic ceramic spring properties and those that are finished into a shape for pressing, materials made of other high-polymer materials, and materials and shapes obtained by combining them. And the like. Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to Examples.
【0012】[0012]
実施例1 本実施例は、第1発明に関するものであって、その概要
を図1に示す。図1(a)は試験片1を接触子3を介し
て、クランプ治具2によって仮クランプした上部チャッ
ク部の状態を示す。図1(b)は図1(a)を90度回
転した時の図である。第1発明は、クランプ治具内のク
ランプ面にスプリング4(コイルスプリング、板バネ)
と接触球3を備えたクランプ治具である。これらの図か
らわかるとおり、試験片1をクランプ治具2内に挿入す
るとスプリング4 により、接触球3は試験片1に押しつ
けられ試験片1は予備クランプされ、引張方向に対して
下方向に平行にセットされる。Embodiment 1 This embodiment relates to the first invention, and its outline is shown in FIG. FIG. 1A shows a state of an upper chuck portion where a test piece 1 is temporarily clamped by a clamp jig 2 via a contact 3. FIG. 1B is a diagram when FIG. 1A is rotated by 90 degrees. In the first invention, a spring 4 (coil spring, leaf spring) is provided on a clamp surface in a clamp jig.
And a clamp jig having a contact ball 3. As can be seen from these figures, when the test piece 1 is inserted into the clamp jig 2, the contact ball 3 is pressed against the test piece 1 by the spring 4 and the test piece 1 is pre-clamped, and is parallel to the downward direction with respect to the tensile direction. Is set to
【0013】従来の方法を比較として図4に示す。図4
(a)は試験片把持装置8の全体を示し、図4(a)は
その側面図である。図4(c)はクランプ治具2が締込
ネジ7によって、試験片を保持している状況を示す。平
行でない場合には、図4(d)のように試験片が傾いた
ようになり、この場合には精度のよいデータが得られな
い。これに対して本発明では、図1の仮クランプによっ
て試験片1は自重により接触球4との接点を中心に、回
転し試験片方向は垂下に安定する。FIG. 4 shows a conventional method as a comparison. FIG.
(A) shows the entire test piece holding device 8, and FIG. 4 (a) is a side view thereof. FIG. 4C shows a state in which the clamp jig 2 holds the test piece with the screw 7. If they are not parallel, the test piece will be inclined as shown in FIG. 4D, and in this case, accurate data cannot be obtained. On the other hand, in the present invention, the test specimen 1 rotates around the contact point with the contact ball 4 by its own weight by the temporary clamp of FIG.
【0014】この時、スプリングのバネ定数は試験片の
サイズ等より最適なものを用いる。その後本来のクラン
プ治具にて本クランプを行うことにより試験片方向は引
張方向と平行に保たれる。さらに、本発明を他方の下方
向のチャッキング部について、上部の代わりに適用して
もよく、その効果は基本的に同様であって、仮クランプ
によって試験片1は締めつけ力により接触球4との接点
を中心に、回転し試験片方向は垂直上方向に安定するこ
とになる。At this time, the most suitable spring constant is used depending on the size of the test piece and the like. Thereafter, by performing the main clamp with the original clamp jig, the test piece direction is kept parallel to the tensile direction. Further, the present invention may be applied to the other downward chucking portion instead of the upper portion, and the effect is basically the same, and the temporary clamp causes the test piece 1 to be in contact with the contact ball 4 by the clamping force. The test piece rotates around the contact point of (1) and the direction of the test piece is stabilized vertically upward.
【0015】実施例2 本実施例は第2発明に関するものである。その概要を図
2に示す。図2は試験片1を接触子3を介して、クラン
プ治具2によって仮クランプした上部チャック部の状態
を示す。この時、図1のスプリング4に対して、本実施
例ではクランプ治具内のクランプ面に弾性体と接触球を
備えたクランプ治具としたものである。実施例1と同様
の機構により弾性体5により接触球3は試験片1に押し
つけられ、試験片1は予備クランプされる。この後は発
明1と同様に、試験片方向は引張方向と平行に保たれ
る。Embodiment 2 This embodiment relates to the second invention. The outline is shown in FIG. FIG. 2 shows a state of the upper chuck portion where the test piece 1 is temporarily clamped by the clamp jig 2 via the contact 3. At this time, in the present embodiment, a clamp jig provided with an elastic body and a contact ball on a clamp surface in the clamp jig is used for the spring 4 of FIG. The contact ball 3 is pressed against the test piece 1 by the elastic body 5 by the same mechanism as in the first embodiment, and the test piece 1 is pre-clamped. Thereafter, as in Invention 1, the specimen direction is kept parallel to the tensile direction.
【0016】実施例3 本実施例は、基本的には第2発明に関するものである。
その概要を図3に示す。図3は試験片1を接触子6を介
して、クランプ治具2によって仮クランプした上部チャ
ック部の状態を示す。この時、本実施例ではクランプ治
具内のクランプ面に弾性体を備え試験片との接触部は、
試験片が回転可能となるよう接触面積を制限したクラン
プ治具であって、クランプ治具2内のクランプ面の弾性
体6により試験片1は予備クランプされ実施例1、2と
同様に試験片方向は引張方向と平行に保たれる。Embodiment 3 This embodiment is basically related to the second invention.
The outline is shown in FIG. FIG. 3 shows a state of the upper chuck portion where the test piece 1 is temporarily clamped by the clamp jig 2 via the contact 6. At this time, in the present embodiment, the contact portion with the test piece is provided with an elastic body on the clamp surface in the clamp jig,
A clamp jig in which the contact area is limited so that the test piece can be rotated. The test piece 1 is pre-clamped by the elastic body 6 on the clamp surface in the clamp jig 2, and the test piece is similar to the test pieces 1 and 2. The direction is kept parallel to the tensile direction.
【0017】[0017]
【発明の効果】本発明によれば、引張試験における試験
片のセッティングが、仮クランプによって平行に保つこ
とが可能となり、本クランプ時に仮クランプに使用した
接触子を後退させ、埋没させるのでクランプ面全面での
固定が可能なクランプ治具の提供を可能とし、従来より
データの精度が向上し、かつ効率よく引張試験を実施す
ることができる。According to the present invention, the setting of the test piece in the tensile test can be maintained in parallel by the temporary clamp, and the contact used in the temporary clamp is retracted and buried at the time of the main clamp, so that the clamp surface is provided. It is possible to provide a clamp jig that can be fixed on the entire surface, thereby improving the accuracy of data as compared with the related art, and performing a tensile test efficiently.
【図1】本発明に係る実施例1のクランプ治具の概要を
示し、(a)仮クランプを示し、(b)クランプ面図を
示す。FIGS. 1A and 1B schematically show a clamp jig according to a first embodiment of the present invention, wherein FIG. 1A shows a temporary clamp, and FIG.
【図2】本発明に係る実施例2のクランプ治具の概要を
示す図である。FIG. 2 is a diagram illustrating an outline of a clamp jig according to a second embodiment of the present invention.
【図3】本発明に係る実施例3のクランプ治具の概要を
示す図である。FIG. 3 is a diagram illustrating an outline of a clamp jig according to a third embodiment of the present invention.
【図4】従来のクランプ治具の概要を示し、(a)クラ
ンプの全体を示し、(b)クランプ面図、(c)クラン
プ状況、(d)クランプ不良を示す図である。FIG. 4 shows an outline of a conventional clamp jig, in which (a) shows the entire clamp, (b) is a clamp view, (c) is a clamp situation, and (d) is a view showing a clamp failure.
1…試験片 2…クランプ治具 3…接触子 4…スプリング 5、6…弾性体 7…締込ネジ 8…試験片把持装置 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Test piece 2 ... Clamp jig 3 ... Contact 4 ... Spring 5, 6 ... Elastic body 7 ... Tightening screw 8 ... Test piece holding device
Claims (2)
の上下チャッキング用クランプ治具の少なくとも一方の
クランプ治具において、対向するクランプ面の軸心部で
該クランプ治具の試験片把持部に、試験片セッティング
の当初に試験片を鉛直方向に試験片支持力を付与する仮
クランプ用接触子と、次いで仮クランプ状態の試験片を
完全に把持するクランプ時に、該接触子をクランプ面に
対して進退自在として、該クランプ面に埋没させ前記試
験片をクランプ面全面で支持可能とする接触子埋没機構
を有することを特徴とする引張試験用クランプ治具。In at least one of the upper and lower chucking jigs of a test-piece gripping device for holding an end of a test piece, a test piece of the clamp jig is held at an axial center of an opposing clamp surface. At the beginning of the test piece setting, the gripper is provided with a contact for temporary clamping that applies a test piece supporting force to the test piece in the vertical direction, and then the contact is clamped at the time of clamping to completely hold the test piece in the temporarily clamped state. A clamp jig for a tensile test, comprising a contact burial mechanism that is immersed in the clamp surface so as to be able to advance and retreat with respect to the surface, and is capable of supporting the test piece on the entire clamp surface.
とする請求項1記載の引張試験用クランプ治具。2. The tensile jig according to claim 1, wherein the contact is made of an elastic material.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9214984A JPH1151833A (en) | 1997-08-08 | 1997-08-08 | Clamping jig for tensile test |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9214984A JPH1151833A (en) | 1997-08-08 | 1997-08-08 | Clamping jig for tensile test |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1151833A true JPH1151833A (en) | 1999-02-26 |
Family
ID=16664787
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9214984A Pending JPH1151833A (en) | 1997-08-08 | 1997-08-08 | Clamping jig for tensile test |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH1151833A (en) |
Cited By (6)
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-
1997
- 1997-08-08 JP JP9214984A patent/JPH1151833A/en active Pending
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