JPH03294077A - Apparatus for cutting tie bar - Google Patents

Apparatus for cutting tie bar

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JPH03294077A
JPH03294077A JP2098121A JP9812190A JPH03294077A JP H03294077 A JPH03294077 A JP H03294077A JP 2098121 A JP2098121 A JP 2098121A JP 9812190 A JP9812190 A JP 9812190A JP H03294077 A JPH03294077 A JP H03294077A
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JP
Japan
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tie bar
laser beam
irradiation position
beam irradiation
lead frame
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JP2098121A
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Takashi Kono
隆 河野
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NEC Corp
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Abstract

PURPOSE:To cut a tie bar into the suitable shape by detecting shrinkage rate on frame surface near the tie bar on a lead frame after sealing with resin, correcting laser beam irradiation position to the tie bar and executing the laser beam irradiation. CONSTITUTION:Picture of marks 5a, 5b for detecting shrinkage shifting rate arranged on the lead frame 2 is taken in an ITV camera through an image forming lens, and each picture position is detected with picture processing. Positional information of the detected marks 5a, 5b is transferred to a correction arithmetic device and the shifting rate from the laser beam irradiation position beforehand programed is calculated and the accurate laser beam irradiation position is decided. Then, with the decided accurate laser beam irradiation positional information, the irradiating angle to the tie bar 4 is controlled to cut the tie bar 4.

Description

【発明の詳細な説明】 r産業上の利用分野〕 本発明は樹脂封止型半導体装置製造におけるタイバー切
断装置に関し、特にレーザ光を用いたタイバー切断装置
に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION r Industrial Application Field The present invention relates to a tie bar cutting device for manufacturing resin-sealed semiconductor devices, and more particularly to a tie bar cutting device using laser light.

【従来の技術] 従来、レーザ光を用いたタイバー切断装置では、第5図
および第6図で参照する図面から明らかなように、タイ
バー4とこれを照射し瀉断するレーザ光15との位置合
わせ・は、レーザ照射ステージ1上の位置決めビン(図
示しない)にリードフレーム2の位置出し孔20を挿入
するメカニカル機構によって行われる。すなわち、リー
ドフレーム2の機械的精度に全て依存する手法がとられ
ている。ここで、3はレーザ照射ステージ1上に搬送さ
れた半導体装置の封止樹脂、6,7.13および14は
それぞれレーザ照射系の大口径レンズ、ハーフミラ−、
カルバノミラーおよびレーザ発振器、また、17および
18はリードフレーム2上にピッチPで配列された外部
リードおよびリードフレーム送り孔をそれぞれ示す。
[Prior Art] Conventionally, in a tie bar cutting device using a laser beam, as is clear from the drawings referred to in FIG. 5 and FIG. The alignment is performed by a mechanical mechanism that inserts the positioning hole 20 of the lead frame 2 into a positioning bin (not shown) on the laser irradiation stage 1. That is, a method is used that depends entirely on the mechanical precision of the lead frame 2. Here, 3 is the sealing resin of the semiconductor device transferred onto the laser irradiation stage 1, 6, 7, 13 and 14 are large diameter lenses of the laser irradiation system, half mirrors,
A carbano mirror and a laser oscillator, and 17 and 18 indicate external leads and lead frame perforations arranged at a pitch P on the lead frame 2, respectively.

[発明が解決しようとする課題] このように、従来のタイバー切断装置では、リードフレ
ーム2の位置出し孔20をレーザ照射ステージ1の位置
決めビンに挿入することによってタイバー4のレーザ光
15に対する位置決めを行った後、あらかじめプログラ
ム入力された照射位置座標に従ってレーザ光15が順次
照射される。
[Problems to be Solved by the Invention] As described above, in the conventional tie bar cutting device, the positioning of the tie bar 4 with respect to the laser beam 15 is performed by inserting the positioning hole 20 of the lead frame 2 into the positioning bin of the laser irradiation stage 1. After that, the laser beam 15 is sequentially irradiated according to the irradiation position coordinates that have been programmed in advance.

しかしながら、この種の半導体装置は、樹脂封止後にお
こる封止樹脂の収縮応力が、リードフレームにたわみ、
うねりを発生させ、外部リードピッチPを規定値以下に
縮少させている場合が多い。しかも、この縮少の度合い
は個々のフレーム内でもバラツクので、通常のリードピ
ッチの場合はともかく、高密度基板実装用に設計された
リードピッチが0.5mm以下のファインリードフレー
ムに対して用いると、フレームの機械的精度にのみ依存
する従来のタイバー切断装置は、第7図に示すように、
タイバーの溶断部分16のセンタを点線で示す正規のセ
ンタ位置から外して了りという問題点をおこす、すなわ
ち、外部リード17に深い切込みと幅広の突出部とを形
成するので、つぎのリード形成工程においてリード曲り
または捩れなどを発生させ、リード形状の規格不良を多
発させる欠点がある。
However, in this type of semiconductor device, shrinkage stress of the encapsulating resin that occurs after resin encapsulation causes the lead frame to bend.
In many cases, waviness is generated and the external lead pitch P is reduced below a specified value. Moreover, the degree of this reduction varies within individual frames, so it is not suitable for normal lead pitches, but when used for fine lead frames with a lead pitch of 0.5 mm or less designed for high-density board mounting. , the conventional tie bar cutting device that relies only on the mechanical precision of the frame is
This causes the problem that the center of the fusing portion 16 of the tie bar must be removed from the normal center position shown by the dotted line. In other words, a deep cut and a wide protrusion are formed in the external lead 17, so the next lead forming step is not necessary. This method has the drawback of causing bending or twisting of the lead, resulting in frequent defects in the lead shape.

本発明の目的は、上記の情況に鑑み、リードフレームの
たわみ、うねりによって生じる従来の溶断部分の位置ず
れの問題点を解決したタイバー切断装置を提供すること
である。
SUMMARY OF THE INVENTION In view of the above circumstances, it is an object of the present invention to provide a tie bar cutting device that solves the conventional problem of displacement of the fusing portion caused by bending and waviness of the lead frame.

[課題を解決するための手段〕 本発明によれば、タイバー切断装置は、樹脂封止工程終
了後のリードフレームのタイバー近傍におけるフレーム
表面の収縮量を検出し前記タイバーに対するレーザ照射
位置のプログラム内容を修正する光学系手段と、前記光
学系手段からの修正レーザ照射位置情報に基づいてレー
ザ発振器が出力するレーザ光の前記タイバーに対する照
射位置を制御するレーザ照射位置制御手段とを含んで構
成される。
[Means for Solving the Problems] According to the present invention, the tie bar cutting device detects the amount of shrinkage of the frame surface near the tie bars of the lead frame after the resin sealing process is completed, and determines the program content of the laser irradiation position with respect to the tie bars. and a laser irradiation position control means that controls the irradiation position of the laser beam output from the laser oscillator with respect to the tie bar based on the corrected laser irradiation position information from the optical system means. .

[作  用  J 本発明によれば、樹脂封止の際、リードフレームに生じ
るリードピッチの収縮は最も近接するタイバー近傍にお
いて量的に測定され、これによりタイバーに対するレー
ザ照射位置が正確に割出されるので、ファインリードフ
レームのタイバー切断工程において従来生じていたタイ
バーの不整形溶断の問題点は完全に解決される。
[Function J According to the present invention, the shrinkage of the lead pitch that occurs in the lead frame during resin sealing is quantitatively measured in the vicinity of the closest tie bar, thereby accurately determining the laser irradiation position with respect to the tie bar. Therefore, the problem of irregularly fused tie bars that conventionally occurred in the tie bar cutting process of fine lead frames is completely solved.

[実施例1 次に1本発明について図面を参照して詳細に説明する。[Example 1 Next, one embodiment of the present invention will be explained in detail with reference to the drawings.

第1図および第2図、第3図はそれぞれ本発明の一実施
例を示すタイバー切断装置のブロック構成図およびタイ
バー切断すべき対象のりドフレームの部分平面図である
。本実施例によれば、タイバー切断装置は、レーザ照射
ステージ1と、このステージ1上に搬送されたリードフ
レーム2がタイバー4の近傍に設ける2つまたは4つの
収縮ずれ雪検知用マーク5a、5bまたは5a〜5dの
位置をそれぞれ正確に測定する大口径レンズ6、ダイク
ロイックミラー7、ハーフミラ−8,結像レンズ9.I
TVカメラ、画像認識装置11i5よび投光装置19か
らなる光学測定系と、画像認識装置11が出力するマー
ク5a、5bの位置情報を基礎にレーザ照射位置のプロ
グラム内容を修正し、収縮位置ずれを起こしたタイバー
4に対して正確にレーザ光15を照射する補正演算装置
12.レーザ発振器およびカルバラメータ13からなる
レーザ照射系とを含む。本実施例によると、リードフレ
ーム2上に設けられた収縮ずれ雪検知用マーク5a、5
bまたは5a〜5dの画像は結像レンズ9を通してIT
Vカメラ10に取込まれ、画像認識装置11による画像
処理によってそれぞれの画像位置が検出される。この検
出されたマーク5a、5bまたは5a〜5dの位置情報
は補正演算装置12にそれぞれ転送され、ここであらか
じめプログラムされたレーザ照射位置からのずれ量が計
算されて正確なレーザ照射位置が割出される。かくして
割出されたこの正確なレーザ照射位置情報はカルバラメ
ータ13を駆動しレーザ発振器14が発振するレーザ光
15のタイバー4に対する照射角を制御するので、第4
図に示すように、全てのタイバーの溶断部分16のセン
タを正規のセンタ位置に合わせて一挙に切断することが
できる。従って、リードピッチPが0.5s+s以下の
ファインリードフレームに対しても、切断ずれの少ない
適正形状のタイバー切断加工を実施することが可能であ
る。特に、第3図の如く4個の収縮ずれ雪検知用マーク
を用いリードピッチPの位置ずれ情報量を増加せしめる
と、封止樹脂3の寸法が大きく、樹脂収縮による影響を
大きく受ける多ビンリードフレームに対して大きな効果
をあげることができる。
FIG. 1, FIG. 2, and FIG. 3 are a block diagram of a tie bar cutting device showing one embodiment of the present invention, and a partial plan view of a glued frame to be cut with tie bars, respectively. According to this embodiment, the tie bar cutting device includes a laser irradiation stage 1 and a lead frame 2 conveyed on the stage 1, which has two or four shrinkage and snow detection marks 5a and 5b provided near the tie bars 4. Or a large diameter lens 6, dichroic mirror 7, half mirror 8, and imaging lens 9 for accurately measuring the positions of 5a to 5d. I
The program content of the laser irradiation position is corrected based on the optical measurement system consisting of the TV camera, the image recognition device 11i5, and the light projecting device 19, and the position information of the marks 5a and 5b output by the image recognition device 11, and the contraction position shift is corrected. A correction calculation device 12 that accurately irradiates the laser beam 15 to the raised tie bar 4. It includes a laser irradiation system consisting of a laser oscillator and a calparameter 13. According to the present embodiment, the marks 5a, 5 for detecting shrinkage/slip snow provided on the lead frame 2
The images b or 5a to 5d are sent to IT through the imaging lens 9.
The images are captured by the V camera 10, and the image positions are detected by image processing by the image recognition device 11. The position information of the detected marks 5a, 5b or 5a to 5d is transferred to the correction calculation device 12, where the amount of deviation from the pre-programmed laser irradiation position is calculated to determine the accurate laser irradiation position. It will be done. This accurate laser irradiation position information determined in this way drives the calparameter 13 and controls the irradiation angle of the laser beam 15 oscillated by the laser oscillator 14 with respect to the tie bar 4.
As shown in the figure, the centers of the fusing portions 16 of all tie bars can be cut at once by aligning them with the regular center positions. Therefore, even for a fine lead frame with a lead pitch P of 0.5 s+s or less, it is possible to cut the tie bar into an appropriate shape with less cutting deviation. In particular, when the amount of positional deviation information of the lead pitch P is increased using four shrinkage deviation snow detection marks as shown in Fig. 3, the size of the sealing resin 3 is large and the multi-bin lead is greatly affected by resin shrinkage. It can have a great effect on the frame.

[発明の効果] 以上詳細に説明したように、本発明によれば、樹脂封止
の際生じるリードピッチの位置ずれをタイバー近傍にお
いて量的に検出し、タイバーに対するレーザ照射位置を
正確に割出したうえで、レーザ照射が行われるので、リ
ードピッチが0.5+s■以下のファインピッチのリー
ドフレームに対して切断ずれの少ない適正形状のタイバ
ー切断加工を実施することが可能である。
[Effects of the Invention] As described in detail above, according to the present invention, the positional deviation of the lead pitch that occurs during resin sealing can be quantitatively detected in the vicinity of the tie bar, and the laser irradiation position with respect to the tie bar can be accurately determined. After that, laser irradiation is performed, so it is possible to cut a tie bar into an appropriate shape with less cutting deviation for a fine-pitch lead frame with a lead pitch of 0.5+s■ or less.

特に、半導体装置の多ビン化に伴う封止樹脂層の大型化
傾向に対しても充分対応できるので品質の安定化に大い
に効果を発揮す・ることかできる。
In particular, it can sufficiently cope with the trend of increasing the size of the sealing resin layer due to the increase in the number of bottles in semiconductor devices, and is therefore highly effective in stabilizing quality.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図および第2図、第3図はそれぞれ本発明の一実施
例を示すタイバー切断装置のブロック構成図およびタイ
バー切断すべき対象のリードフレームの部分平面図、第
4図は本発明によるタイバー切断状態図、第5図および
第6図はそれぞれ従来のタイバー切断装置のブロック構
成図およびタイバー切断すべき対象のリードフレームの
部分平面図、第7図は従来のタイバー切断装置によるフ
ァインリードフレームのタイバー切断状態図である。 1・−・レーザ照射ステージ、 2−・・リードフレーム、 3・・・封止樹脂4・・・
タイバー 5a、5b、5c、5d −収縮ずれ雪検知用マーク、
6・・・大口径レンズ、 7・・・ダイクロイックミラー 8・・・ハーフミラ−19−・−結像レンズ、10・−
ITVカメラ、11−・−画像認識装置、12−・・補
正演算装置、13−・・カルバラメータ、14・・・レ
ーザ発振器、15・・・レーザ光、16・・・タイバー
溶断部分、 17・・−外部リード、 18・・・リードフレーム送り孔、 19・・・投光装置、   20・・・位置出し孔、P
−・・リードピッチ。 第2図
1, 2, and 3 are a block diagram of a tie bar cutting device showing one embodiment of the present invention, and a partial plan view of a lead frame to be cut with tie bars, and FIG. 4 is a tie bar according to the present invention. 5 and 6 are respectively a block diagram of a conventional tie bar cutting device and a partial plan view of a lead frame to be cut with tie bars, and FIG. 7 is a diagram of a fine lead frame cut by a conventional tie bar cutting device. FIG. 3 is a diagram showing a state in which the tie bar is cut. 1... Laser irradiation stage, 2-... Lead frame, 3... Sealing resin 4...
Tie bars 5a, 5b, 5c, 5d - Shrinkage deviation snow detection mark,
6...Large diameter lens, 7...Dichroic mirror 8...Half mirror-19--Imaging lens, 10--
ITV camera, 11--Image recognition device, 12--Correction calculation device, 13--Carbal meter, 14--Laser oscillator, 15--Laser light, 16--Tie bar fused portion, 17.・-External lead, 18... Lead frame feed hole, 19... Light projector, 20... Positioning hole, P
-...Lead pitch. Figure 2

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims]  樹脂封止工程終了後のリードフレームのタイバー近傍
におけるフレーム表面の収縮量を検出し前記タイバーに
対するレーザ照射位置のプログラム内容を修正する光学
系手段と、前記光学系手段からの修正レーザ照射位置情
報に基づいてレーザ発振器が出力するレーザ光の前記タ
イバーに対する照射位置を制御するレーザ照射位置制御
手段とを含むことを特徴とするタイバー切断装置。
optical system means for detecting the amount of shrinkage of the frame surface near the tie bars of the lead frame after the resin sealing process is completed and correcting the program content of the laser irradiation position with respect to the tie bars, and corrected laser irradiation position information from the optical system means; 1. A tie bar cutting device comprising: laser irradiation position control means for controlling an irradiation position of a laser beam output from a laser oscillator on the tie bar based on the laser oscillator.
JP2098121A 1990-04-13 1990-04-13 Tie bar cutting device Expired - Lifetime JP2844827B2 (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20130049265A1 (en) * 2010-03-09 2013-02-28 B. Braun Melsungen Ag Device for cutting plastic products provided in a continuous plastic band for use in the medical sector

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20130049265A1 (en) * 2010-03-09 2013-02-28 B. Braun Melsungen Ag Device for cutting plastic products provided in a continuous plastic band for use in the medical sector
US9421642B2 (en) * 2010-03-09 2016-08-23 B. Braun Melsungen Ag Device for cutting plastic products provided in a continuous plastic band for use in the medical sector

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