JPH03293530A - デジタル校正装置 - Google Patents
デジタル校正装置Info
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- JPH03293530A JPH03293530A JP9610290A JP9610290A JPH03293530A JP H03293530 A JPH03293530 A JP H03293530A JP 9610290 A JP9610290 A JP 9610290A JP 9610290 A JP9610290 A JP 9610290A JP H03293530 A JPH03293530 A JP H03293530A
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- JP
- Japan
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- sensor
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- Pending
Links
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
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- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
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- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Fluid Pressure (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
プロセス・コントローラのようにアナログ量を計測し、
アナログないしはデジタルの出力をするシステムで、内
部的な制御・処理がマイクロプロセッサなどを用いてデ
ジタル的に行われる計測制御システムにおけるデジタル
校正装置に関する。
アナログないしはデジタルの出力をするシステムで、内
部的な制御・処理がマイクロプロセッサなどを用いてデ
ジタル的に行われる計測制御システムにおけるデジタル
校正装置に関する。
（ロ）従来の技術
内部の制御処理がデジタル的に行われる場合、まずセン
サで検出したアナログ信号レベルをアナログのセンスア
ンプで増幅した後、更にＡ／Ｄコンバータを介してデジ
タル量に変換するようになっている。信号レベルが、−
旦デジタル化されてしまえば誤差が生ずることはないが
、センサ、センスアンプやＡ／Ｄコンバータには、経時
変化などの誤差発生要因があり、精度の高い計測を行う
には、アナログ系の校正を行う必要がある。
サで検出したアナログ信号レベルをアナログのセンスア
ンプで増幅した後、更にＡ／Ｄコンバータを介してデジ
タル量に変換するようになっている。信号レベルが、−
旦デジタル化されてしまえば誤差が生ずることはないが
、センサ、センスアンプやＡ／Ｄコンバータには、経時
変化などの誤差発生要因があり、精度の高い計測を行う
には、アナログ系の校正を行う必要がある。
従来のこうした校正は、センスアンプに設けられた半固
定抵抗器をマニュアルで調整するようなアナログ的な手
段により実現されていた。
定抵抗器をマニュアルで調整するようなアナログ的な手
段により実現されていた。
（ハ）発明・考案が解決しようとする課題このような、
アナログ的手段を用いて校正を行うに際し微妙な調整が
必要な場合、調整に熟練度が要求される場合がある。特
に調整を、センサ、アンプ、Ａ／Ｄコンバータと個別に
行い、アナログ系全体を通じての調整がしにくい場合が
ある。
アナログ的手段を用いて校正を行うに際し微妙な調整が
必要な場合、調整に熟練度が要求される場合がある。特
に調整を、センサ、アンプ、Ａ／Ｄコンバータと個別に
行い、アナログ系全体を通じての調整がしにくい場合が
ある。
また、調整個所が、アナログ系を通じて一ケ所しかない
場合、調整個所より後段の部分で発生した誤差を取り除
けないという問題もある。
場合、調整個所より後段の部分で発生した誤差を取り除
けないという問題もある。
（ニ）課題を解決するための手段
この様な問題を解決するために、本発明ではデジタル系
からアナログ系にフィードバックを掛けて、デジタル系
を含めて校正できるようにしている。つ＊ｌ）、Ｄ／Ａ
コンバータを用いて、センスアンプにフィードバックを
掛けて、アンプのオフセットやゲインをデジタル的に調
整できるようにしている。
からアナログ系にフィードバックを掛けて、デジタル系
を含めて校正できるようにしている。つ＊ｌ）、Ｄ／Ａ
コンバータを用いて、センスアンプにフィードバックを
掛けて、アンプのオフセットやゲインをデジタル的に調
整できるようにしている。
（ホ）作用
この様に、デジタル系を含めて校正を行うようにすれば
、誤差を発生させる可能性のあるアナログ系全体を１ケ
所で校正することができる。
、誤差を発生させる可能性のあるアナログ系全体を１ケ
所で校正することができる。
更に、Ｄ／Ａコンバータの分解能を適切に設定しておく
ことにより、調整の際に熟練度を要求するような難しさ
を無くすことができる。
ことにより、調整の際に熟練度を要求するような難しさ
を無くすことができる。
（へ）実施例
第１図は本発明校正装置を適用した調温温体を用いた温
度計測システムの構成図、第２図はそのアナログ部分の
回路図を示す。
度計測システムの構成図、第２図はそのアナログ部分の
回路図を示す。
システム全体は、マイクロプロセッサ１及び表示操作部
２を用いたデジタル制御部と、Ａ／Ｄコンバータ３、Ｄ
／Ａコンバータ４を介して接続されているセンスアンプ
５及び調温温体からなるセンサ６より構成されていて、
通常プロセス制御、例えば吸収式冷凍機用の制御盤等に
利用される。
２を用いたデジタル制御部と、Ａ／Ｄコンバータ３、Ｄ
／Ａコンバータ４を介して接続されているセンスアンプ
５及び調温温体からなるセンサ６より構成されていて、
通常プロセス制御、例えば吸収式冷凍機用の制御盤等に
利用される。
こうした装置において、測定誤差になる主たる要因とし
ては、 ■基準電圧の誤差 ■電圧電流変換抵抗（３にΩ）の抵抗値誤差■胴側温体
の抵抗値の誤差 などがある。
ては、 ■基準電圧の誤差 ■電圧電流変換抵抗（３にΩ）の抵抗値誤差■胴側温体
の抵抗値の誤差 などがある。
本装置においては、表示操作部２から与えられる正確な
センサ６温度とＡ／Ｄコンバータ３を介して検知される
温度とを比較する比較プログラムをマイクロプロセッサ
１内に設けている。そして比較レベルに応じてＤ／Ａコ
ンバータ４を介してセンスアンプ５内のオペアンプ７へ
与える電圧レベル調整している。これにより、Ａ／Ｄコ
ンバータ３から読み込まれる温度データは、Ｄ／Ａコン
バータ４の出力により調整される。
センサ６温度とＡ／Ｄコンバータ３を介して検知される
温度とを比較する比較プログラムをマイクロプロセッサ
１内に設けている。そして比較レベルに応じてＤ／Ａコ
ンバータ４を介してセンスアンプ５内のオペアンプ７へ
与える電圧レベル調整している。これにより、Ａ／Ｄコ
ンバータ３から読み込まれる温度データは、Ｄ／Ａコン
バータ４の出力により調整される。
具体的には、センサ６が今現在どの様な温度であるかが
別の温度針で測定し、その読み取り値をマイクロプロセ
ッサに入力することで、マイクロプロセッサがＤ／Ａコ
ンバータ４の出力を制御して、先に入力された読み値と
同じ値をＡ／Ｄコンバータから読み取れるようにＤ／Ａ
コンバータ４の出力を調整することにより、自動的に校
正の作業が行われる。
別の温度針で測定し、その読み取り値をマイクロプロセ
ッサに入力することで、マイクロプロセッサがＤ／Ａコ
ンバータ４の出力を制御して、先に入力された読み値と
同じ値をＡ／Ｄコンバータから読み取れるようにＤ／Ａ
コンバータ４の出力を調整することにより、自動的に校
正の作業が行われる。
（ト）発明の効果
以上述べた如く本発明校正装置はＤ／Ａコンバータを設
けてデジタル系を含めて校正を行うようにしているので
誤差発生の可能性のあるアナログ系全体を一筒所で調整
することができ、校正作業の簡略化、時間の短縮が図れ
る。
けてデジタル系を含めて校正を行うようにしているので
誤差発生の可能性のあるアナログ系全体を一筒所で調整
することができ、校正作業の簡略化、時間の短縮が図れ
る。
第１図は本発明が適用された温度計測システム例の構成
図、第２図その要部ブロック図である。 １・・・マイクロコンピュータ、 ２・・・表示操作部、 ３ ・ ・ ・ ４ ・ ・ ・ ５１ ・ ６ ・ ・ ・ ７ ・ ・ ・ Ａ／Ｄコンバータ、 Ｄ／Ａコンバータ、 センスアンプ、 センサ、 オペアンプ。
図、第２図その要部ブロック図である。 １・・・マイクロコンピュータ、 ２・・・表示操作部、 ３ ・ ・ ・ ４ ・ ・ ・ ５１ ・ ６ ・ ・ ・ ７ ・ ・ ・ Ａ／Ｄコンバータ、 Ｄ／Ａコンバータ、 センスアンプ、 センサ、 オペアンプ。
Claims (1)
- （１）圧力、温度などの計測レベルをアナログ量で計測
し、これをＡ／Ｄ変換してシステム内部の操作量がデジ
タル量で処理される計測制御システムに於て、アナログ
量を測定するセンサーアンプにＤ／Ａコンバータを介し
て校正レベル信号をフィードバックし、計測レベルをデ
ジタル的に校正する事を特徴したデジタル校正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9610290A JPH03293530A (ja) | 1990-04-11 | 1990-04-11 | デジタル校正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9610290A JPH03293530A (ja) | 1990-04-11 | 1990-04-11 | デジタル校正装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03293530A true JPH03293530A (ja) | 1991-12-25 |
Family
ID=14156028
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9610290A Pending JPH03293530A (ja) | 1990-04-11 | 1990-04-11 | デジタル校正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03293530A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007093607A (ja) * | 2005-09-29 | 2007-04-12 | Hynix Semiconductor Inc | 半導体メモリ素子の温度情報出力装置及びその実行方法 |
| JP2007327932A (ja) * | 2006-06-07 | 2007-12-20 | Hynix Semiconductor Inc | 半導体メモリ素子の温度情報出力装置及びその実行方法 |
-
1990
- 1990-04-11 JP JP9610290A patent/JPH03293530A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007093607A (ja) * | 2005-09-29 | 2007-04-12 | Hynix Semiconductor Inc | 半導体メモリ素子の温度情報出力装置及びその実行方法 |
| JP2007327932A (ja) * | 2006-06-07 | 2007-12-20 | Hynix Semiconductor Inc | 半導体メモリ素子の温度情報出力装置及びその実行方法 |
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