JPH03285068A - Sputtering system - Google Patents

Sputtering system

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JPH03285068A
JPH03285068A JP8379590A JP8379590A JPH03285068A JP H03285068 A JPH03285068 A JP H03285068A JP 8379590 A JP8379590 A JP 8379590A JP 8379590 A JP8379590 A JP 8379590A JP H03285068 A JPH03285068 A JP H03285068A
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sputtering
vacuum chamber
lid
supply port
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Jiro Ikeda
池田 治朗
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Abstract

PURPOSE:To remarkably improve productivity by making a lid vertically movable with respect to the supply port of a vacuum vessel and freely switching the closing surfaces opposed to the supply port to each other by rotation. CONSTITUTION:A supply port 2 for charging and discharging a member to be sputtered and a sputtering part 3 are provided to a vacuum vessel 1. The supply port 2 is closed by any of the plural closing surfaces 4a and 4b of a lid 4. A member to be sputtered is transferred between the supply port 2 and the sputtering part 3 by using the rotating arm 17 of a transfer means. The lid 4 is made vertically movable with respect to the supply port 2, and the closing surfaces 4a and 4b opposed to the supply port 2 are freely switched to each other by rotating the lid 4. As a result, the member is instantaneously charged into or discharged from the vacuum vessel.

Description

【発明の詳細な説明】 Δ、産業上の利用分野 本発明は、例えば光ディスク等を製造するにあたって、
光デイスク基板へのスパッタリング処理を連続的に行う
スパッタリング装置に関するものである。
[Detailed Description of the Invention] ∆, Industrial Application Field The present invention is applicable to, for example, manufacturing optical discs, etc.
The present invention relates to a sputtering apparatus that continuously performs sputtering processing on an optical disk substrate.

B1発明の概要 本発明は、例えば光ディスク等を製造する際に用いられ
るスパッタリング装置において、被スパッタリング処理
部材を保持する保持手段が設けられた複数の閉塞面を有
してなる蓋体を用い、これを回動操作して被スパッタリ
ング処理部材を出し入れする供給口に対対する閉塞面を
順次切り換えることにより、被スパッタリング処理部材
の真空槽内への出し入れを瞬時に行おうとするものであ
る。
B1 Summary of the Invention The present invention uses a lid body having a plurality of closed surfaces provided with holding means for holding a member to be sputtered in a sputtering apparatus used, for example, in manufacturing optical discs. The object to be sputtered can be taken in and out of the vacuum chamber instantaneously by rotating and sequentially switching the closing surface for the supply port through which the object to be sputtered is taken in and taken out.

C1従来の技術 従来より、音響信号や画像信号等の所定の情報信号が記
録再生できるように構成された光ディスクが提案されて
いる。光ディスクは、例えばポリカーボネートやアクリ
ル等の材料からなりピットやグループ等が形成されたデ
ィスク基板上にアルミニウム等の金属材料が反射膜とし
て被着されることにより構成されている。
C1 Prior Art Conventionally, optical discs have been proposed that are configured to record and reproduce predetermined information signals such as audio signals and image signals. An optical disk is constructed by depositing a metal material such as aluminum as a reflective film on a disk substrate made of a material such as polycarbonate or acrylic, on which pits, groups, etc. are formed.

ところで、金属材料をディスク基板上に被着させる手法
としては、蒸着法やイオンブレーティング法、あるいは
スパッタリング法等が挙げられる。
By the way, examples of methods for depositing the metal material on the disk substrate include a vapor deposition method, an ion blasting method, a sputtering method, and the like.

蒸着法とイオンブレーティング法は、真空槽中で金属材
料(y発源)を加熱して該金属を蒸発せしめ、金属蒸気
中にディスク基板を配置することにより、該金属材料を
基板上に被着させるものである。これらの手法で光ディ
スクを大量に生産しようとすると、複数枚のディスク基
板を一括して収容できる大きな真空槽を用いて上記金属
材料の一度の蒸発によって複数枚の光ディスクを製造す
る。いわゆるバッチ方式に転らざるを得ない。このため
、装置構成が複雑化し大型になるばかりか、真空槽内の
場所によってはムラが発生する。
The vapor deposition method and the ion blating method heat a metal material (y-source) in a vacuum chamber to evaporate the metal, and then place the disk substrate in the metal vapor to coat the metal material on the substrate. It is something to wear. When attempting to mass-produce optical disks using these methods, a large vacuum chamber capable of accommodating a plurality of disk substrates is used to manufacture a plurality of optical disks by evaporating the metal material at once. We have no choice but to switch to the so-called batch method. For this reason, not only the device configuration becomes complicated and large, but also unevenness occurs depending on the location within the vacuum chamber.

これに対してスパッタリング法は、短時間で処理が完了
し連続処理が可能でしかも個々のディスク基板に対して
同一条件で成膜することができるという利点を有してい
る。したがって、この手法を採用すれば、ムラのない均
一な膜とすることができるとともに、大量生産や多品種
生産等にも十分対応できる。
On the other hand, the sputtering method has the advantage that the processing can be completed in a short time, continuous processing is possible, and films can be formed on each disk substrate under the same conditions. Therefore, if this method is adopted, it is possible to obtain a uniform film without unevenness, and it is also possible to cope with mass production, multi-product production, etc.

上記スパッタリング処理は、ディスク基板と例えばアル
ミニウム等の金属材料(ターゲット)が収納された真空
槽中に、例えばアルゴン等の放電用ガスを低圧状態に封
入し、当該真空槽中に電界を印加することにより放電用
ガスをイオン化し、イオン化された上記放電用ガスで金
属材料の原子・分子を叩き出すというものである。すな
わち、真空槽中においては、上記放電用ガスがイオン化
されて上記金属材料に衝突し該金属材料が飛散され、こ
の金属材料が上記ディスク基板に被着されて薄膜を形成
する。
The above sputtering process involves filling a vacuum chamber containing a disk substrate and a metal material (target) such as aluminum with a discharge gas such as argon at low pressure, and applying an electric field to the vacuum chamber. In this method, the discharge gas is ionized, and the ionized discharge gas is used to knock out atoms and molecules of the metal material. That is, in the vacuum chamber, the discharge gas is ionized and collides with the metal material to scatter the metal material, and the metal material is adhered to the disk substrate to form a thin film.

このスパッタリング処理を行うスパッタリング装置とし
ては、例えば第12図に示すように、複数枚のディスク
基板を円周方向に配列させた円盤状の搬送テーブルを回
転操作させることにより、これらディスク基板に対して
連続的にスパッタリング処理を行うように構成されたも
のが擢案されている。
For example, as shown in FIG. 12, a sputtering device that performs this sputtering process rotates a disk-shaped conveying table on which a plurality of disk substrates are arranged in the circumferential direction, so that these disk substrates can be A device configured to perform sputtering processing continuously has been proposed.

このスパッタリング装置は、内部が所定の真空度に保持
されるように構成されるとともに、ディスク基板Daの
出し入れを行うディスク人出口101とスパッタリング
処理を行うスパッタリング処理部102が形成された真
空槽103を有している。上記ディスク人出口101に
は、上記真空槽103内の真空度を保持するための蓋体
104が当該真空槽103に対して接#操作されるよう
に支持されて設けられている。
This sputtering apparatus is configured so that the interior thereof is maintained at a predetermined degree of vacuum, and includes a vacuum chamber 103 in which a disk exit 101 for loading and unloading the disk substrate Da and a sputtering processing section 102 for performing sputtering processing are formed. have. A cover 104 for maintaining the degree of vacuum within the vacuum chamber 103 is supported and provided at the disk exit 101 so as to be operated in contact with the vacuum chamber 103.

一方、スパッタリング処理部102は、上記ディスク人
出口101と同様に形成されたディスク処理口105を
有するとともに、このディスク処理口105の上方を覆
うように前記真空槽103に取付けられる円筒状の処理
部106を有してなっている。この処理部106には、
上記ディスク基板Daに対してスパックリングを行う金
属材料(ターゲット)+07が収容されるとともに、ア
ルゴンガス等が低圧状態で封入されている。
On the other hand, the sputtering processing section 102 has a disk processing port 105 formed similarly to the disk exit 101, and is a cylindrical processing section attached to the vacuum chamber 103 so as to cover the upper part of the disk processing port 105. 106. This processing unit 106 includes
A metal material (target) +07 for performing spackling on the disk substrate Da is accommodated, and argon gas or the like is sealed in a low pressure state.

そして、上記真空槽103内には、複数枚のディスク基
板Daを順次前記ディスク人出口101よりスパッタリ
ング処理部102に亘り搬送させる円盤状の搬送テーブ
ル10Bが配設されている。
A disk-shaped transport table 10B is disposed within the vacuum chamber 103 to sequentially transport a plurality of disk substrates Da from the disk exit 101 to the sputtering processing section 102.

この搬送テーブル108は、真空槽103内に突出して
設けられる回動軸108aに支持され、図示しない駆動
手段により軸回り方向に回動操作されるようになされて
いる。また、この搬送チーフル108には、ディスク基
板Daを載置させるための円形状の位置決め凹部108
bが形成され、該凹部108bにディスク基板DaOセ
ンター孔を固定することで当該ディスク基板Daを位置
決めする受皿109が嵌合R置されている。この受皿+
09は、ディスク基板Daの外形寸法より若干大径の円
盤状として形成され、その略中央部に上記ディスク基板
Daのチャフキング用のセンター孔を挿通させる突起1
09aを突設してなっている、また、上記搬送テーブル
10Bの位置決め凹部108bの略中央部には、上記受
皿109を突き上げるための突き上げ軸110.111
が挿通する挿通孔108cが穿設されている。
This conveyance table 108 is supported by a rotation shaft 108a provided protruding into the vacuum chamber 103, and is configured to be rotated in a direction around the axis by a drive means (not shown). Further, this conveyance chiffle 108 has a circular positioning recess 108 on which the disk substrate Da is placed.
b is formed, and a receiving tray 109 that positions the disk substrate Da by fixing the center hole of the disk substrate DaO in the recess 108b is fitted and placed in the recess 108b. This saucer +
09 is a projection 1 which is formed into a disc shape with a slightly larger diameter than the external dimensions of the disc substrate Da, and through which the center hole for chaffing of the disc board Da is inserted approximately at the center thereof.
09a is provided protrudingly, and a push-up shaft 110, 111 for pushing up the saucer 109 is provided approximately at the center of the positioning recess 108b of the transfer table 10B.
An insertion hole 108c is formed through which it is inserted.

上記突き上げ軸110.111は、前記ディスク人出口
101とスパッタリング処理部102にそれぞれ対向す
る真空槽103の底面部に穿設される透口を介して該真
空槽103内に臨まされ、図示しない駆動装置により上
下方向に進退操作されるように構成されている。すなわ
ち、搬送テーブル108により搬送されてきたディスク
基板Daが、それぞれディスク人出口101及びスパッ
タリング処理部102に対向した位置にきたときに、そ
れぞれの突き上げ軸110,111が突出し、前記受皿
109,109をディスク人出口101及びディスク処
理口105の開口周縁部に圧接支持させて真空槽103
と外部(大気)とをシールする。そして、ディスク人出
口101側でディスク基板Daの取り出し及びスパッタ
リング処理部102でスパッタリング処理が終了したと
きに、それぞれの突き上げ軸110.illが真空槽1
03の底部へ没入するようになっている。
The push-up shafts 110 and 111 face the inside of the vacuum chamber 103 through holes bored in the bottom of the vacuum chamber 103 facing the disk exit 101 and the sputtering processing section 102, respectively, and are driven by a drive (not shown). The device is configured to move forward and backward in the vertical direction. That is, when the disk substrate Da conveyed by the conveyance table 108 comes to a position facing the disk exit 101 and the sputtering processing section 102, the respective push-up shafts 110, 111 protrude and push up the receiving trays 109, 109. The vacuum chamber 103 is supported by pressure on the opening periphery of the disk exit 101 and the disk processing port 105.
and the outside (atmosphere). Then, when the disk substrate Da is taken out on the disk exit 101 side and the sputtering process is completed in the sputtering processing section 102, each push-up shaft 110. ill is vacuum chamber 1
It is designed to be immersed in the bottom of 03.

このように構成されたスパッタリング装置においては、
前記ディスク人出口lotより供給された複数枚のディ
スク基板Daが搬送テーブル108の回動操作により順
次スパッタリング処理部102に搬送され、ここで連続
的にスパッタリング処理が行われると同時に、ディスク
人出口101ではスパッタリング処理されたディスク基
板Daの取り出しと新たなディスク基板Dbの搬送テー
ブル10Bへの供給が行われる。
In the sputtering apparatus configured in this way,
A plurality of disk substrates Da supplied from the disk outlet lot are sequentially conveyed to the sputtering processing section 102 by rotating the conveyance table 108, and are continuously subjected to sputtering treatment there. Then, the sputtered disk substrate Da is taken out and a new disk substrate Db is supplied to the transport table 10B.

D、発明が解決しようとする課題 ところで、スパッタリング処理されたディスク基板Da
の取り出しと新たなディスク基板Dbの搬送テーブル1
0Bへの供給は、蓋体104を真空槽103に対して接
離操作する被スパッタリング処理部材数り出し機構によ
って行われている。
D. Problems to be Solved by the Invention By the way, the sputtering-treated disk substrate Da
Transfer table 1 for taking out the disk substrate Db and transporting the new disk substrate Db
The supply to 0B is performed by a mechanism for counting the number of members to be sputtered, which moves the lid 104 toward and away from the vacuum chamber 103.

この取り出し機構は、第12図に示すように、両端が垂
下する如く略直角に折り曲げ形成された回転アーム11
2と、この回動アーム112の略中央部を支持し、該回
転アーム112を水平方向に回転させるとともに、該蓋
体104をディスク人出口101に対して上下動させる
回転軸113を有した駆動装置114とからなり、上記
回動アーム112の両端に取付けられた一対の蓋体10
4.104をディスク人出口101に対して接離操作す
るとともに、回転軸113を中心として水平方向に回転
操作するようになっている。
As shown in FIG. 12, this take-out mechanism consists of a rotary arm 11 which is bent at a substantially right angle so that both ends hang down.
2, a drive having a rotating shaft 113 that supports a substantially central portion of the rotating arm 112, rotates the rotating arm 112 in the horizontal direction, and moves the lid 104 up and down with respect to the disk exit 101; a pair of lids 10 attached to both ends of the rotating arm 112;
4.104 is operated toward and away from the disk exit 101, and at the same time, it is operated to rotate in the horizontal direction about the rotating shaft 113.

この取り出し機構によるスパッタリング処理されたディ
スク基板Daの取り出しと新たなディスク基板Dbの搬
送テーブル10Bへの供給は、次のようにして行われる
。先ず、ディスク人出口101を閉塞している受皿10
9上に載置されているスパッタリングされたディスク基
板Daを一方の蓋体104に設けられた吸着パッド10
4aにて吸着し、前記回転軸113を上昇させてディス
ク基板り、を真空槽103より取り出す0次いで、前記
回転軸113を軸回り方向に回転させて回転アーム11
2を180度回転させ、他方の蓋体1O4の吸着パッド
104aに吸着されている新たなディスク基板Dbをデ
ィスク人出口101上に位置させる。そして、上記回転
軸113を下降さセで当該ディスク基板Dbを受皿10
9の上に載置する。
The taking-out mechanism takes out the sputtered disk substrate Da and supplies the new disk substrate Db to the transport table 10B in the following manner. First, the saucer 10 blocking the disc person exit 101
The sputtered disk substrate Da placed on the suction pad 10 provided on one lid 104
4a, and the rotating shaft 113 is raised to take out the disk substrate from the vacuum chamber 103.Next, the rotating shaft 113 is rotated in the direction around the axis, and the rotating arm 11
2 is rotated 180 degrees, and the new disk substrate Db, which is sucked to the suction pad 104a of the other lid 1O4, is positioned above the disk exit 101. Then, by lowering the rotating shaft 113, the disk substrate Db is placed in the saucer 10.
Place it on top of 9.

とごろが上述の機構では、処理後のディスク基板Daと
処理前のディスク基板Dbの入れ換えを行うのに、回転
アーム112を水平方向に180度回転させる必要があ
るため、この回転操作にかなりの時間を要する。例えば
、この機構でスパッタリング処理後のディスク基板Da
の取り出しから新たなディスク基板Dbの受皿109へ
のセットまでに要する時間は約1.5秒程度である。ま
た、蓋体104を回転させるのには、大きな回転トルク
が必要とされるため、どうしても駆動装Wl14を大き
くせざを得ない、したがって、装置が高価なものとなる
他、設置スペースに問題が生ずる。
However, in the above-mentioned mechanism, it is necessary to rotate the rotating arm 112 by 180 degrees in the horizontal direction in order to exchange the disk substrate Da after processing with the disk substrate Db before processing, so this rotation operation takes a considerable amount of time. It takes time. For example, with this mechanism, the disk substrate Da after sputtering treatment can be
The time required from taking out the disk substrate Db to setting the new disk substrate Db on the tray 109 is about 1.5 seconds. In addition, since a large rotational torque is required to rotate the lid body 104, the drive unit Wl14 must be made large, which makes the device expensive and creates problems in terms of installation space. arise.

そこで本発明は、かかる従来の実情に鑑みて従業された
ものであり、被スパッタリング処理部材の真空槽内への
出し入れを瞬時に行うことが可能なスパッタリング装置
を提供することを目的とし、さらには小型で安価なスパ
ッタリング装置を提供することを目的とするものである
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention was developed in view of the above-mentioned conventional circumstances, and an object of the present invention is to provide a sputtering apparatus that can instantly take a member to be sputtered into and out of a vacuum chamber. The purpose is to provide a small and inexpensive sputtering device.

E9課題を解決するための手段 上述の目的を達成するために、本発明に係るスパッタリ
ング装置は、被スパッタリング処理部材が出し入れされ
る供給口と前記被スパッタリング処理部材に対してスパ
ッタリングを行うスパッタリング処理部とを有してなる
真空槽と、上記被スパッタリング処理部材を保持する保
持手段が設けられた複数の閉塞面を有し、これら閉塞面
のうちの何れかの面で前記供給口を閉塞する蓋体と、前
記被スパッタリング処理部材を上記供給口と上記スパッ
タリング処理部との間で移送する移送手段とを備えてな
り、上記蓋体は上記供給口に対して上下動自在とされる
とともに、該蓋体の回動操作により上記供給口と対向す
る閉塞面が切り換え自在とされてなることを特徴とする
ものである。
E9 Means for Solving Problems In order to achieve the above-mentioned object, a sputtering apparatus according to the present invention includes a supply port through which a member to be sputtered is taken in and taken out, and a sputtering processing section that performs sputtering on the member to be sputtered. and a lid having a plurality of closing surfaces provided with holding means for holding the member to be sputtered, and closing the supply port with any one of these closing surfaces. and a transfer means for transferring the member to be sputtered between the supply port and the sputtering processing section, and the lid body is vertically movable with respect to the supply port, and It is characterized in that the closing surface facing the supply port can be switched freely by rotating the lid.

F1作用 本発明のスパッタリング装置において、スパッタリング
が終了すると、スパッタリング処理された被スパッタリ
ング処理部材は、供給口を閉塞する蓋体の閉塞面に設け
られた保持手段によって保持される。一方、前記蓋体の
他の閉塞面(真空槽の外方に露呈している閉塞面)には
、前記被スパッタリング処理部材をスパッタリング処理
している間に新たな被スパッタリング処理部材が供給さ
れ、該閉塞面に設けられた保持手段によって保持される
F1 action In the sputtering apparatus of the present invention, when sputtering is completed, the sputtered member to be sputtered is held by the holding means provided on the closing surface of the lid that closes the supply port. On the other hand, a new member to be sputtered is supplied to the other closed surface of the lid (closed surface exposed to the outside of the vacuum chamber) while the member to be sputtered is being sputtered, It is held by a holding means provided on the closed surface.

この状態で上記蓋体を供給口より上昇させるとともに該
蓋体を回動操作して前記閉塞面を反転すると、これまで
真空槽の供給口を閉塞し、該供給口において真空槽の内
部に向かっていた閉塞面が外方に露呈され、該閉塞面に
保持されるスパッタリング処理後の被スパッタリング処
理部材が真空槽から取り出される。そして、上記蓋体を
供給口に下降させると、新たな被スパッタリング処理部
材が保持された閉塞面が前記供給口を閉塞するかたちと
なり、前記新たな被スパッタリング処理部材は真空槽内
へと供給される。
In this state, when the lid is raised above the supply port and the lid is rotated to reverse the closing surface, the supply port of the vacuum chamber is closed, and the supply port is directed toward the inside of the vacuum chamber. The closed surface, which had been closed, is exposed to the outside, and the member to be sputtered after sputtering, which is held on the closed surface, is taken out from the vacuum chamber. Then, when the lid is lowered into the supply port, the closing surface holding the new member to be sputtered closes the supply port, and the new member to be sputtered is supplied into the vacuum chamber. Ru.

G、実施例 以下、本発明を適用した具体的な実施例について図面を
参照しながら説明する。なお本実施例は、本発明に係る
スパッタリング装置を、ポリカーボネートやアクリルの
如き合成樹脂により形成されたディスク基板にアルミニ
ウムの如き金属材Elからなる薄膜をスパッタリングに
より形成して光ディスクを製造する光デイスク製造装置
に適用した例である。
G. Examples Hereinafter, specific examples to which the present invention is applied will be described with reference to the drawings. In this embodiment, the sputtering apparatus according to the present invention is used to manufacture an optical disk by sputtering a thin film made of a metal material such as aluminum onto a disk substrate made of a synthetic resin such as polycarbonate or acrylic. This is an example applied to a device.

本実施例の光ディスク製造装胃は、方形状の筒体(図示
は省略する。)内に真空槽と、該真空槽の下に設けられ
る真空ポンプ等を備えてなる排気系とを収容してなって
いる。
The optical disc manufacturing chamber of this embodiment houses a vacuum chamber in a rectangular cylinder (not shown) and an exhaust system equipped with a vacuum pump and the like provided under the vacuum chamber. It has become.

上記真空槽lは、第1図及び第2図に示すように、真空
ポンプにより内部が所定の真空度に維持されるように構
成されてなり、その略中央部に該真空ポンプに接続され
るダクトlaを有している。
As shown in FIGS. 1 and 2, the vacuum chamber l is configured such that the inside thereof is maintained at a predetermined degree of vacuum by a vacuum pump, and is connected to the vacuum pump approximately at the center thereof. It has a duct la.

この真空槽1には、上面部に被スパッタリング処理部材
となるディスク基板が出し入れされるディスク人出口2
と、上記ディスク基板に対してスパッタリング処理を行
うスパッタリング処理部3とが並列配置されている。
This vacuum chamber 1 has a disk outlet 2 on the upper surface through which a disk substrate, which is a member to be sputtered, is taken in and taken out.
and a sputtering processing section 3 that performs sputtering processing on the disk substrate are arranged in parallel.

−に記ディスク人出口2は、スパッタリング処理後のデ
ィスク基板とスパッタリング処理前のディスク基板を前
記真空槽】内へ出し入れするための供給]]として形成
されるものであり、」1記ディスク基板の形状に対応し
て該ディスク基板の外形寸法よりやや大径の略円形状に
形成されている。このディスク人出口2の1−刃側には
、該ディスク人出口2を開閉自在となす蓋体4が設けら
れている。
- The disk outlet 2 described in ``1'' is formed as a supply for taking disk substrates after sputtering processing and disk substrates before sputtering treatment into and out of the vacuum chamber]. Corresponding to the shape, it is formed into a substantially circular shape with a slightly larger diameter than the outer dimensions of the disk substrate. A lid 4 is provided on the 1-blade side of the disc exit 2 to allow the disc exit 2 to be opened and closed.

」1記蓋体4は、上記ディスク人出口2を閉塞すること
のできる大きさに形成され、その両面に当該ディスク人
出口2を閉塞する閉塞面4a、4bを有している。これ
ら閉塞面4a、4bは、上記ディスク人出口2を閉塞し
得るに足る円形の面であって、当該閉塞面4aあるいは
閉塞面4bの外周縁部がディスク人出口2の開口周縁部
に当接することによって、前記ディスク人出口2を閉塞
する。なお、上記蓋体4の各閉塞面4a、4bの外周縁
寄りには、上記ディスク人出口2の開口周縁部と当接し
て前記真空Nl内の気密状態を保持するための0−リン
グ等の密閉部材5.6が設けられている。
1. The lid body 4 is formed in a size capable of closing the disc exit 2, and has closing surfaces 4a and 4b on both sides thereof for closing the disc exit 2. These closing surfaces 4a and 4b are circular surfaces sufficient to close the disk exit 2, and the outer peripheral edge of the closing surface 4a or 4b comes into contact with the opening periphery of the disc exit 2. By doing so, the disc exit 2 is closed. Furthermore, near the outer periphery of each closing surface 4a, 4b of the lid 4, there is an O-ring or the like for abutting against the opening periphery of the disk exit 2 to maintain an airtight state within the vacuum Nl. A sealing member 5.6 is provided.

また、上記蓋体4の閉塞面4a、4bの略中央部には、
上記ディスク人出口2内に臨むことのできる大きさの円
形の段差面7,8が形成され、その上にディスク基板を
真空吸着する吸着パッド7a、8a等からなる保持手段
が設けられている。
Furthermore, approximately at the center of the closed surfaces 4a and 4b of the lid 4,
Circular stepped surfaces 7 and 8 are formed in a size that allows them to face the inside of the disk exit 2, and holding means consisting of suction pads 7a and 8a for vacuum suctioning the disk substrate are provided thereon.

なお、これら段差面7.8は、前記吸着パッド7a、8
aと後述の受皿18との距離を小さなものとし、この受
皿18上のディスク基板を吸着パッド7a、8aで確実
に真空吸着するために設けられるものである。
Note that these step surfaces 7.8 are similar to the suction pads 7a, 8.
This is provided in order to make the distance between a and a receiving tray 18 (described later) small, and to ensure that the disk substrate on this receiving tray 18 is vacuum-suctioned by the suction pads 7a and 8a.

このように構成された蓋体4は、モータ等からなる駆動
部9の回転軸10に取付けられ、第2図中矢印Aで示す
方向に表裏反転されるようになっている。すなわち、上
記蓋体4は、当該蓋体4の板厚の略中央部に直径方向に
亘り貫通して設けられる挿通孔(図示は省略する。)に
上記回転軸lOが挿通され、その先端側でボルトにて固
定されることにより、当該回転軸lOと共に回転するよ
うになっている。したがって、上記蓋体4は、上記駆動
部9の操作によりその両面に設けられる各閉塞面4a、
4bが180度毎回転させられて表裏反転する。
The lid body 4 constructed in this way is attached to a rotating shaft 10 of a drive unit 9 consisting of a motor or the like, and is adapted to be turned upside down in the direction shown by arrow A in FIG. That is, in the lid 4, the rotation shaft 10 is inserted through an insertion hole (not shown) that is provided in the approximate center of the thickness of the lid 4 in the diametrical direction, By fixing it with a bolt, it rotates together with the rotation axis lO. Therefore, the lid body 4 has each closing surface 4a provided on both sides thereof by the operation of the driving section 9;
4b is rotated every 180 degrees and turned over.

また、上記蓋体4は、上記ディスク人出口2に対して上
下動自在となるように支持されている。
Further, the lid body 4 is supported so as to be vertically movable with respect to the disk exit 2.

すなわち、上記蓋体4は、真空槽lの下部より上方に向
かって突出するエアシリンダ等の駆動部(図示は省略す
る。)の支軸11の先端に上記回転軸10の駆動部9近
傍を覆って取付けられる連結部材12を介して取付けら
れることにより、図中矢印B方向に上下動自在とされて
いる。上記駆動部は、上記真空槽1の:下に設けられる
とともに、その支軸11がディスク人出口2近傍に設け
られる該真空槽1を厚み方向に貫通する貫通孔に臨むよ
うになっている。したがって、装置の小型化が望める。
That is, the lid 4 connects the vicinity of the drive section 9 of the rotary shaft 10 to the tip of the support shaft 11 of a drive section (not shown) such as an air cylinder that protrudes upward from the lower part of the vacuum chamber l. By being attached via a connecting member 12 that is attached over the cover, it is possible to move up and down in the direction of arrow B in the figure. The driving section is provided below the vacuum chamber 1, and its support shaft 11 faces a through hole extending through the vacuum chamber 1 in the thickness direction, which is provided near the disk exit 2. Therefore, it is possible to reduce the size of the device.

なお、上記支軸11を挿通させる貫通孔には、当該支軸
11の摺動を容易なものとするため、例えばヘアリング
13等が圧入されている。
Note that, in order to facilitate the sliding of the support shaft 11, a hair ring 13 or the like is press-fitted into the through hole through which the support shaft 11 is inserted.

上記のように支持された蓋体4は、上記真空槽l側に移
動されて上記ディスク人出口2の開口周縁部を圧接支持
することにより、一方の閉塞面4aで該ディスク人出口
2を閉塞するとともに、吸着パッド7aで受皿18に載
置されているスパッタリング処理後のディスク基板を吸
着する。そして、上記真空槽1より離間されて処理後の
ディスク基板を真空槽l外へ取り出すとともに、該ディ
スク人出口2を開放する。このとき、蓋体4が上昇する
間に当該蓋体4が反転され、他方の閉塞面4b側に吸着
されるスパッタリング処理前のディスク基板がディスク
人出口2に対向して設けられる。
The lid body 4 supported as described above is moved to the side of the vacuum chamber l and press-supports the opening periphery of the disc exit 2, thereby closing the disc exit 2 with one closing surface 4a. At the same time, the disk substrate after the sputtering process placed on the tray 18 is sucked by the suction pad 7a. Then, the processed disk substrate is separated from the vacuum chamber 1 and taken out of the vacuum chamber 1, and the disk exit 2 is opened. At this time, while the lid body 4 is being raised, the lid body 4 is reversed, and the disk substrate before the sputtering process, which is attracted to the other closed surface 4b side, is provided facing the disk exit 2.

一方、スパッタリング処理部3は、上記ディスク人出口
2と同様に形成されたディスク処理口14と、このディ
スク処理口14の上方側を覆うように上記真空槽lに取
付けられて当該真空槽l内を気密状態に保つ処理部15
を有してなっている。
On the other hand, the sputtering processing section 3 has a disk processing port 14 formed in the same manner as the disk exit 2, and is attached to the vacuum chamber l so as to cover the upper side of the disk processing port 14, and is installed inside the vacuum chamber l. Processing section 15 that keeps the airtight state
It has become.

この処理部15は、上端が閉塞された円筒状として形成
され、内部にはスパッタリング処理に用いられる金属材
料(ターゲット)16とスパッタリング処理に必要なア
ルゴン等の放電用のガスが低圧状態で封入されるととも
に、所定の電界が印加されるようになされている。
The processing section 15 is formed into a cylindrical shape with a closed upper end, and a metal material (target) 16 used for the sputtering process and a discharge gas such as argon necessary for the sputtering process are sealed in a low-pressure state. At the same time, a predetermined electric field is applied.

上記真空槽1内には、ディスク基板をディスク人出口2
よりスパッタリング処理部3とに亘り移送操作させる移
送手段を構成する回動アーム17が設けられている。ご
の回動アーム17は、ディスク基板を載置する自由端側
の先端部分のみが円盤状とされ、基端側か先細り形状と
されている。
A disk substrate is placed inside the vacuum chamber 1 at the disk exit 2.
A rotary arm 17 is provided, which constitutes a transfer means for carrying out a transfer operation between the sputtering processing section 3 and the sputtering processing section 3. The rotary arm 17 has a disk shape only at its free end, on which the disk substrate is placed, and is tapered at its base end.

そして、この回動アーム17は、基端部が真空槽1内に
突出して設けられる回動輪18の先端部にボルト止めさ
れ、図示しない駆動装置により第2図中矢印り、及び矢
印り、で示す軸回り方向に回動自在となされている0例
えば、この回動アーム17は、第2図中矢印θで示す9
0°程度の角度で回動操作され、上記ディスク人出口2
の下方の位置と上記スパッタリング処理部3の下方の位
置とに亘り移送操作されるようになっている。なお、上
記回動軸18を真空槽1内に臨ませる該真空槽1の底6
面部に穿設される透口(図示は省略する。)には、当該
真空槽l内の気密状態を維持するための0−リングが設
けられている。
The rotating arm 17 is bolted to the distal end of a rotating wheel 18 whose base end protrudes into the vacuum chamber 1, and is driven by a drive device (not shown) as indicated by the arrows in FIG. For example, this rotating arm 17 is rotatable in the direction around the axis shown in FIG.
The disk is rotated at an angle of about 0 degrees, and the above-mentioned disk exit 2
The transfer operation is performed between a position below the sputtering processing section 3 and a position below the sputtering processing section 3. Note that the bottom 6 of the vacuum chamber 1 allows the rotation shaft 18 to face the interior of the vacuum chamber 1.
An O-ring for maintaining an airtight state within the vacuum chamber 1 is provided in a through hole (not shown) formed in the surface portion.

また、上記回動アーム17の自由端側となる先端側の上
面部には、ディスク基板を載置させるための円形状の位
置決め凹部17aが形成されるとともに、該凹部17a
の中央部には後述の突き上げ軸19.20が挿通される
突き上げ軸挿通孔17bが穿設されている。この凹部1
7aには、ディスク基板を載せる受皿18が嵌合して載
置されるようになされている。上記受皿18は、ディス
ク基板の外形寸法よりやや大径の円盤として形成され、
その中央部に上記ディスク基板のチッキング用のセンタ
ー孔を挿通させることで該ディスク基板を位置決めする
突起18aが突設されている。
Further, a circular positioning recess 17a for placing a disk substrate is formed on the top surface of the free end side of the rotary arm 17, and the recess 17a
A push-up shaft insertion hole 17b into which a push-up shaft 19, 20 (to be described later) is inserted is bored in the center. This recess 1
A receiving tray 18 on which a disk substrate is placed is fitted and placed on 7a. The saucer 18 is formed as a disk with a slightly larger diameter than the outer dimensions of the disk substrate,
A protrusion 18a protrudes from the center of the protrusion 18a for positioning the disk substrate by inserting it into the center hole for ticking of the disk substrate.

したがって、上記ディスク基板は、上記受皿18に固定
された状態で上記位置決め凹部17aに嵌合し、上記回
動アーム17に対して位置決めされて載置される。なお
、上記受皿18の周縁部には、該受皿18の周縁部が上
記ディスク人出口2の開口周縁部に下方から圧接支持さ
れたときに前記真空槽1内が気密状態に保たれるように
、0−リング等の密閉部材18bが取付けられている。
Therefore, the disk substrate is fitted into the positioning recess 17a while being fixed to the receiving tray 18, and is positioned and placed on the rotating arm 17. Furthermore, a peripheral edge of the saucer 18 is provided so that the inside of the vacuum chamber 1 is kept airtight when the peripheral edge of the saucer 18 is pressed against the opening edge of the disc exit 2 from below. , a sealing member 18b such as an O-ring is attached.

上記真空槽Iの底面部には、図示しない制御手段を備え
た駆動装置により、1記ディスク人出口2と上記ディス
ク処理口14とにそれぞれ向かって第1図中矢印Cで示
す方向に上下動自在とされる突き上げ軸19.20が設
けられている。これら突き上げ軸12.13は、上記デ
ィスク人出口2と上記ディスク処理口14にそれぞれ対
向する真空槽lの底面部に穿設される透口(図示は省略
する。)を介して該真空槽l内に臨まされている。
The bottom surface of the vacuum chamber I is moved up and down in the direction shown by arrow C in FIG. A push-up shaft 19,20 which can be moved freely is provided. These push-up shafts 12 and 13 are connected to the vacuum chamber l through through holes (not shown) formed in the bottom of the vacuum chamber l, which are opposite to the disk outlet 2 and the disk processing port 14, respectively. It is present within.

なお、これら透口には、該真空槽l内の気密状態を保持
するための0−リング等の密閉部材(図示は省略する。
Note that these openings are provided with a sealing member (not shown) such as an O-ring for maintaining an airtight state within the vacuum chamber l.

)が設けられている。また、これら突き上げ軸19.2
0の先端部分には、前記回動アーム17に穿設された突
き上げ軸挿通孔17bを介して前記受皿18を安定な状
態で押し上げるための円盤状の押上部材19a、20a
が取付けられている。
) is provided. In addition, these push-up shafts 19.2
Disc-shaped push-up members 19a and 20a are provided at the tip of the rotating arm 17 to push up the saucer 18 in a stable state through a push-up shaft insertion hole 17b formed in the rotation arm 17.
is installed.

これら突き上げ軸19.20は、前記回動アーム17の
先端側がそれぞれディスク人出口2とディスク処理口1
4に対向づる位置となされているときに突出操作される
ようになっている。すなわち、ディスク人出口2及びデ
ィスク処理口14では、回動アーム17に設けられた突
き上げ軸挿通孔17bを介して該回動アーム17に載置
されている受皿18が各突き上げ軸19.20によって
持ち上げられ、上記ディスク人出口2及びディスク処理
口14の開口周縁部に圧接支持される。このとき、上記
受皿18の周縁部には0−リング等の密閉部材18bが
設けられているので、当該真空槽1と外部とのシールが
確実なものとされる。
These push-up shafts 19 and 20 are such that the distal end side of the rotating arm 17 is located at the disk outlet 2 and the disk processing opening 1, respectively.
It is designed to be operated to protrude when it is in a position facing 4. That is, at the disk exit 2 and the disk processing port 14, the saucer 18 placed on the rotating arm 17 is inserted into the push-up shaft 19.20 through the push-up shaft insertion hole 17b provided in the pivot arm 17. It is lifted up and supported in pressure contact with the opening periphery of the disk exit 2 and the disk processing port 14 . At this time, since a sealing member 18b such as an O-ring is provided on the peripheral edge of the saucer 18, the sealing between the vacuum chamber 1 and the outside is ensured.

このように構成された光デイスク製造装置においては、
ディスク基板の真空槽1内への出し入れを、該ディスク
基板を保持する吸着パッド7a8aが設けられた蓋体4
と、この蓋体4をディスク人出口2に対して上下動自在
とし且つ該蓋体4の両面に設けられる各閉塞面4a、4
bを表裏反転する機構により行うようにしているので、
スパッタリング処理後のディスク基板とスパッタリング
処理前のディスク基板の入れ換えが瞬時に行える。また
、特に本実施例の装置では、ディスク基板の前記ディス
ク人出口2とスパッタリング処理部3とに亘る移送操作
を1本の回動アーム17によりその振り角を小さなもの
として行うように構成されているため、真空槽1の小型
化が図れるとともに、該真空槽l内の容積を極めて小さ
なものとすることができる。したがって、排気を行う真
空ポンプを小型化することができるとともに、その排気
時間も短縮することができる。
In the optical disk manufacturing apparatus configured in this way,
A lid body 4 provided with a suction pad 7a8a for holding the disk substrate allows the disk substrate to be taken in and out of the vacuum chamber 1.
The lid body 4 is made vertically movable with respect to the disk exit 2, and each closing surface 4a, 4 provided on both sides of the lid body 4
Since b is performed by a mechanism that turns the front and back sides,
The disk substrate after sputtering treatment and the disk substrate before sputtering treatment can be exchanged instantly. Further, in particular, the apparatus of this embodiment is configured such that the transfer operation of the disk substrate between the disk outlet 2 and the sputtering processing section 3 is performed by one rotating arm 17 with a small swing angle. Therefore, the vacuum chamber 1 can be downsized, and the volume inside the vacuum chamber 1 can be made extremely small. Therefore, the vacuum pump that performs evacuation can be downsized, and the evacuation time can also be shortened.

上記光デイスク製造装置により、光ディスクを製造する
には、次のようにして行う。
An optical disc is manufactured using the above-mentioned optical disc manufacturing apparatus in the following manner.

先ず、第3図に示すように、ディスク人出口2に対応し
て設けられる突き上げ軸2oを、同図中矢印りで示すデ
ィスク人出口2に向かう方向に突出させ、前記回動アー
ム17上にu、置される受皿18を上方に移動させて当
該受皿18の周縁部を上記ディスク人出口2の開口周縁
部に圧接支持させる。
First, as shown in FIG. 3, the push-up shaft 2o provided corresponding to the disk person exit 2 is projected in the direction toward the disk person exit 2 as indicated by the arrow in the figure, and is placed on the rotating arm 17. u. Move the placed tray 18 upward to press and support the peripheral edge of the tray 18 against the opening peripheral edge of the disk exit 2.

すると、上記ディスク人出口2は、上記受皿18によっ
て閉塞される。またこのとき、上記受皿18の周縁部に
は密閉部材18bが設けられているので、前記真空槽1
内部と外部がシールされ、当該真空槽1内への大気の侵
入が防止される。
Then, the disk exit 2 is closed by the saucer 18. Further, at this time, since a sealing member 18b is provided at the peripheral edge of the saucer 18, the vacuum chamber 18
The inside and outside are sealed to prevent atmospheric air from entering the vacuum chamber 1.

そして、上記蓋体4を上下動させる支軸11を同図中矢
印Eで示す方向に突出させて上記蓋体4を真空槽lより
離間させ、前記受皿18の上面を上記ディスク人出口2
を通して上方に臨ませる。
Then, the support shaft 11 for vertically moving the lid 4 is projected in the direction shown by the arrow E in the figure to separate the lid 4 from the vacuum chamber l, and the upper surface of the saucer 18 is moved to the disk exit 2.
It faces upward through the window.

次いで、上記蓋体4の両面に設けられた各吸着パッド?
a、8aにスパッタリング処理前のディスク基板り、、
D、をそれぞれ吸着させる。
Next, each suction pad provided on both sides of the lid 4?
a, 8a shows the disk substrate before sputtering treatment,
D, respectively, are adsorbed.

そして、前記支軸11を第2図中矢印Fで示す真空槽1
の底部へ没入させて上記蓋体4をディスク人出口2側に
下降させ、当該蓋体4に設けられる一方の閉塞面4aで
ディスク人出口2を閉塞する。
A vacuum chamber 1 with the support shaft 11 indicated by an arrow F in FIG.
The lid 4 is lowered toward the disc exit 2, and the disc exit 2 is closed with one closing surface 4a provided on the lid 4.

この結果、上記真空槽l内部と外部とがシールされる。As a result, the inside and outside of the vacuum chamber I are sealed.

なお、図面上は蓋体4に設けられる密閉部材5のみによ
りシールがされているように誇張して描かれてし−るが
、実際には上記閉塞面4aとディスク人出口2の開口周
縁部とが密着する。
In the drawing, the seal is exaggerated only by the sealing member 5 provided on the lid 4, but in reality, the closing surface 4a and the opening periphery of the disk exit 2 are exaggerated. and are in close contact.

そしてこの状態のときに、上記蓋体4の一方の閉塞面4
a側に吸着されているディスク基板り。
In this state, one closed surface 4 of the lid 4
The disk board is attracted to the a side.

を上記受皿18上に載置させる。is placed on the saucer 18.

なおこのとき、上記ディスク基板り、は、受皿18の略
中央部に設けられる突起18aにより位置決めされる。
At this time, the disk substrate is positioned by a protrusion 18a provided approximately at the center of the saucer 18.

次に、第5図に示すように、上記蓋体4でディスク人出
口2を閉蓋した状態で真空ポンプを作動させ、前記ディ
スク人出口2の開閉操作で損なわれた真空度を回復させ
る。同時に、前記突き上げ軸20を、同図中矢印Gで示
すように、真空ポンプ等が設けられる側に没入させて前
記受皿18を下方に移動せしめ、当該受皿18を上記回
動アーム17の凹部17aに載置させる。
Next, as shown in FIG. 5, the vacuum pump is operated with the disk outlet 2 closed with the lid 4 to restore the degree of vacuum lost by the opening/closing operation of the disk outlet 2. At the same time, as shown by arrow G in the figure, the push-up shaft 20 is inserted into the side where the vacuum pump or the like is provided to move the saucer 18 downward, and the saucer 18 is moved into the recess 17a of the rotating arm 17. Place it on.

このとき、本例の真空槽1においては、回動アーム17
が1本であることから、排気に際し邪魔になるものがな
く瞬時に所定の真空度とすることができる0例えば、そ
の時間は僅か1秒足らずである。
At this time, in the vacuum chamber 1 of this example, the rotating arm 17
Since there is only one pipe, there is no obstacle during evacuation, and a predetermined degree of vacuum can be achieved instantaneously.For example, the time required for evacuation is less than one second.

上記受皿18が上記回動アーム17の先端側に載置され
たならば、回動アーム17を、第2図中矢印し!で示す
スパッタリング処理部3へ回動させ、第6図に示すよう
に、上記受皿18に載置されたディスク基板D1を上記
ディスク処理口14の下方に位置させる。
Once the saucer 18 is placed on the tip side of the rotating arm 17, move the rotating arm 17 as indicated by the arrow in FIG. The disk substrate D1 placed on the receiving tray 18 is positioned below the disk processing port 14 as shown in FIG.

上記受皿18が位置決めされたならば、第7図に示すよ
うに、この受皿18の下方に設けられる突き上げ軸19
を、同図中矢印Hで示すディスク処理口14側へ突出さ
せ、該受皿18の周縁部を上記ディスク処理口14の開
口周縁部に圧接支持させる。
Once the saucer 18 is positioned, as shown in FIG.
is projected toward the disk processing port 14 side as indicated by arrow H in the figure, and the peripheral edge of the tray 18 is supported in pressure contact with the opening peripheral portion of the disk processing port 14.

この結果、上記ディスク処理口14が上記受皿18によ
って閉塞される。そしてこの状態でディスク基板り、に
対するスパッタリング処理を開始する。
As a result, the disk processing port 14 is closed by the saucer 18. In this state, sputtering processing for the disk substrate is started.

スパッタリング処理が終了したならば、第8図に示すよ
うに、上記突き上げ軸19を、同図中矢印1で示すよう
に、真空ポンプ等が設けられる側に没入させ、前記ディ
スク基板D1が載置された受皿18を回動アーム17上
に載置させる。
When the sputtering process is completed, as shown in FIG. 8, the push-up shaft 19 is recessed into the side where a vacuum pump or the like is provided, as shown by the arrow 1 in the figure, and the disk substrate D1 is placed. The saucer 18 thus prepared is placed on the rotating arm 17.

上記ディスク基板D1が回動アーム17上に載置された
ならば、該回動アーム17を第2図中矢印L1で示すデ
ィスク人出口2方向へ回動させ、第9図に示すように、
アルミニウムよりなる薄膜が形成されたディスク基板り
、−t−載置した受皿18を上記ディスク人出口2の下
方に位置させる。
Once the disk substrate D1 is placed on the rotating arm 17, the rotating arm 17 is rotated in the direction of the disk exit 2 indicated by the arrow L1 in FIG. 2, as shown in FIG.
A saucer 18 on which a disk substrate on which a thin film made of aluminum is formed is placed below the disk outlet 2.

上記受皿18が所定の位置に位置決めされたならば、第
10図に示すように、上記突き上げ軸20を同図中矢印
jで示すように、ディスク人出口2側に突出させて上記
受皿18を上方に移動せしめ、当該受皿18によって上
記ディスク人出口2を閉塞する。
Once the saucer 18 is positioned at a predetermined position, as shown in FIG. 10, the push-up shaft 20 is made to protrude toward the disk exit 2 as shown by the arrow j in the figure, and the saucer 18 is moved. The tray 18 is moved upward to close the disk outlet 2.

そして、上記ディスク人出口2を閉塞していた蓋体4に
設けられる吸着パッド7aで上記スパッタリング処理さ
れたディスク基板り、を吸着する。
Then, the disk substrate subjected to the sputtering process is sucked by the suction pad 7a provided on the lid body 4 that was blocking the disk exit 2.

次いで、上記蓋体4を上下動自在に支持する支軸11を
第11図中矢印にで示すように突出させて該蓋体4を上
記真空槽!より離間させるとともに、この支軸11を上
昇させる間に、上記蓋体4を同図中矢印して示すように
表裏反転し、前記ディスク人出口2に対向する閉塞面4
bを切り換える。すなわち、スパッタリング処理前のデ
ィスク基板り、をディスク人出口2と対向させ、スパッ
タリング処理後のディスク基板D1をこれと反対側に反
転させる。
Next, the support shaft 11 that supports the lid 4 in a vertically movable manner is made to protrude as shown by the arrow in FIG. 11 to move the lid 4 into the vacuum chamber! While moving the support shaft 11 further apart, the cover body 4 is turned over as shown by the arrow in the figure, and the closed surface 4 facing the disc exit 2 is turned over as shown by the arrow in the figure.
Switch b. That is, the disk substrate D1 before the sputtering process is made to face the disk exit 2, and the disk substrate D1 after the sputtering process is turned over to the opposite side.

次に、前述したように前記支軸11を第4図に示すよう
に真空槽l側に没入させ、前記蓋体4にてディスク人出
口2を閉塞する。そして、上記新たなディスク基板D2
に対して前述した工程を順次軽てスパッタリングを行う
Next, as described above, the support shaft 11 is inserted into the vacuum chamber l side as shown in FIG. 4, and the disk exit 2 is closed with the lid 4. Then, the new disk substrate D2
Light sputtering is performed in sequence through the steps described above.

このとき、新たなディスク基Fi o tがスパッタリ
ングされている間に、ディスク人出口2と反対側の閉塞
面4aに吸着されているスパッタリング処理後のディス
ク基板D1を取り出すとともに、次なる新たなディスク
基板を上記閉塞面4aに設けられる吸着パッド7aに吸
着させる。この操作は、スパッタリング処理の間に行う
ことができるため、時間的に余裕がある。したがって、
スパッタリング処理を自動化する上で非常に有利である
At this time, while the new disk substrate Fi o t is being sputtered, the sputtered disk substrate D1 adsorbed on the closed surface 4a on the opposite side to the disk exit 2 is taken out, and the next new disk is sputtered. The substrate is attracted to the suction pad 7a provided on the closed surface 4a. This operation can be performed during the sputtering process, so there is plenty of time. therefore,
This is very advantageous in automating the sputtering process.

このように、本実施例の光デイスク製造装置を用いて光
ディスクを製造すれば、スパッタリング処理後のディス
ク基板とスパッタリング処理前のディスク基板の真空槽
1内への出し入れが瞬時に行われ、大幅な生産性の向上
が期待できる。例えば、本装置で光ディスクを製造する
に要する時間は6秒程度であるが、このうちディスク基
板の真空槽l内への出し入れは、わずか0.5秒で完了
する。したがって、大幅な時間の短縮が望めるとととも
に、残りの5.5秒で別の処理を十分余裕を持って行う
ことができる。
As described above, if optical disks are manufactured using the optical disk manufacturing apparatus of this embodiment, the disk substrates after sputtering treatment and the disk substrates before sputtering treatment can be instantly taken in and out of the vacuum chamber 1, and a large amount of work can be achieved. It is expected that productivity will improve. For example, it takes about 6 seconds to manufacture an optical disc using this apparatus, but it takes only 0.5 seconds to take the disc substrate into and out of the vacuum chamber l. Therefore, it is possible to expect a significant reduction in time, and the remaining 5.5 seconds can be used to perform other processing with sufficient margin.

以上、本発明を適用した光デイスク製造装置においては
、被スパッタリング処理部材を保持する蓋体4を閉塞面
4a、4bが2つ備わる二面体としているが、例えばこ
れは二面体に限らず、三面体、四面体、五面体あるいは
それ以上の多面体とすることも可能である。
As described above, in the optical disk manufacturing apparatus to which the present invention is applied, the lid body 4 that holds the member to be sputtered is a dihedral body having two closed surfaces 4a and 4b. It is also possible to form a face, a tetrahedron, a pentahedron, or a higher polyhedron.

H1発明の効果 以上の説明からも明らかなように、本発明に係るスパッ
タリング装置においては、被スパッタリング処理部材が
出し入れされる供給口を閉蓋する蓋体に当該被スパッタ
リング処理部材を保持する保持手段が設けられた複数の
閉塞面が設けられているので、各閉塞面の保持手段には
被スパッタリング処理部材をそれぞれ保持させることが
できる。
H1 Effects of the Invention As is clear from the above explanation, in the sputtering apparatus according to the present invention, a holding means for holding the sputtering target member on a lid body that closes the supply port through which the sputtering target member is taken in and taken out is provided. Since a plurality of closed surfaces are provided, each member to be sputtered can be held by the holding means of each closed surface.

また、本発明に係るスパッタリング装置においては、上
記蓋体が上記供給口に対して上下動自在とされるととも
に、該蓋体の回動操作により上記供給口と対向する閉塞
面が切り換えられるようになされているので、該蓋体の
一方の閉塞面側に設けられる保持手段でスパッタリング
処理後の被スパッタリング処理部材を真空槽より取り出
すと同時に、他方の閉塞面側に保持されるスパッタリン
グ処理前の被スパッタリング処理部材を上記供給口に対
向して設けることができる。
Further, in the sputtering apparatus according to the present invention, the lid is movable up and down with respect to the supply port, and the closing surface facing the supply port is switched by rotating the lid. Therefore, when the member to be sputtered after the sputtering process is taken out from the vacuum chamber by the holding means provided on one closed surface side of the lid, the member to be sputtered before the sputtering process held on the other closed surface side is taken out from the vacuum chamber. A sputtering processing member can be provided opposite the supply port.

したがって、本発明の装置によれば、スパッタリング処
理後の被スパッタリング処理部材とスパッタリング処理
前の被スパンクリング処理部材の真空槽内への出し入れ
を瞬時にして行うことができ、大幅な生産性の向上が図
れる。
Therefore, according to the apparatus of the present invention, the sputtering target member after the sputtering process and the sputtering target member before the sputtering process can be instantly taken in and out of the vacuum chamber, resulting in a significant improvement in productivity. can be achieved.

また、上記蓋体を供給口に対して上下動自在とし、且つ
蓋体に設けられる閉塞面を切り換える機構が真空槽の下
方に設けられるので、装置の小型化が図れるとともに、
安価な装置の擢供ができる。
In addition, since the lid body can be moved up and down with respect to the supply port and a mechanism for switching the closing surface provided on the lid body is provided below the vacuum chamber, the device can be made smaller, and
We can supply inexpensive equipment.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本実施例の光デイスク製造装置の真空槽を示ず
継断面図であり、第2図はその真空槽の横断面図である
。 第3図ないし第11図は本実施例の光デイスク製造装置
によりスパッタリング処理を行う手順を順次示す真空槽
の縦断面図であり、第3図は受皿でディスク人出口を閉
塞した状態を示し、第4図はディスク基板を投入する状
態を示し、第5図はディスク基板の投入の完了状態を示
し、第6図はディスク基板のスパッタリング処理部への
搬送が完了した状態を示し、第7図はディスク基板のス
パッタリング処理中の状態を示し、第8図はスパッタリ
ング処理の完了時の状態を示し、第9図はディスク基板
のディスク人出口への搬送が完了した状態を示し、第1
O図はディスク基板を取出す状態を示し、第11図は蓋
体の閉塞面を切り換える状態を示す。 第12図は従来のスパッタリング装置の一例を示す縦断
面図である。 19゜ 20・・・突き上げ軸
FIG. 1 is a cross-sectional view, not showing the vacuum chamber, of the optical disk manufacturing apparatus of this embodiment, and FIG. 2 is a cross-sectional view of the vacuum chamber. 3 to 11 are longitudinal cross-sectional views of a vacuum chamber sequentially showing the steps of performing sputtering processing by the optical disk manufacturing apparatus of this embodiment, and FIG. 3 shows a state in which the disk outlet is closed with a saucer, FIG. 4 shows the state in which the disk substrate is loaded, FIG. 5 shows the state in which the disk substrate has been completely loaded, FIG. 6 shows the state in which the transfer of the disk substrate to the sputtering processing section is completed, and FIG. 8 shows the state during the sputtering process of the disk substrate, FIG. 8 shows the state when the sputtering process is completed, FIG. 9 shows the state after the disk substrate has been transported to the disk exit,
Figure O shows the state in which the disk substrate is taken out, and Figure 11 shows the state in which the closing surface of the lid body is switched. FIG. 12 is a longitudinal sectional view showing an example of a conventional sputtering apparatus. 19゜20・・・Push-up axis

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims]  被スパッタリング処理部材が出し入れされる供給口と
前記被スパッタリング処理部材に対してスパッタリング
を行うスパッタリング処理部とを有してなる真空槽と、
上記被スパッタリング処理部材を保持する保持手段が設
けられた複数の閉塞面を有し、これら閉塞面のうちの何
れかの面で前記供給口を閉塞する蓋体と、前記被スパッ
タリング処理部材を上記供給口と上記スパッタリング処
理部との間で移送する移送手段とを備えてなり、上記蓋
体は上記供給口に対して上下動自在とされるとともに、
該蓋体の回動操作により上記供給口と対向する閉塞面が
切り換え自在とされてなるスパッタリング装置。
a vacuum tank having a supply port through which a member to be sputtered is taken in and taken out, and a sputtering processing section that performs sputtering on the member to be sputtered;
a lid body having a plurality of closing surfaces provided with holding means for holding the member to be sputtered, and closing the supply port with any one of these closing surfaces; a transfer means for transferring between the supply port and the sputtering processing section, the lid body being able to move up and down with respect to the supply port;
A sputtering device in which a closing surface facing the supply port can be freely switched by rotating the lid.
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