JPH03274448A - 被電解物質の濃度測定法 - Google Patents

被電解物質の濃度測定法

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JPH03274448A
JPH03274448A JP2075856A JP7585690A JPH03274448A JP H03274448 A JPH03274448 A JP H03274448A JP 2075856 A JP2075856 A JP 2075856A JP 7585690 A JP7585690 A JP 7585690A JP H03274448 A JPH03274448 A JP H03274448A
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Osamu Hamamoto
修 濱本
Yuji Uchiyama
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は被電解物質の濃度測定法に関し、さらに詳しく
は電解電流値から被電解物質の濃度を高精度に測定する
ことができる被電解物質の濃度測定法に関する。
〔従来の技術〕
従来、電解電流の測定により被電解物質の濃度を測定す
る分析機器として、アンベロメトリー装置、カルバツメ
トリ装置などが知られており、これらの検出器としては
、グルコースバイオセンサ、電解型オゾン検出器、くし
形電極検出器などが用いられている。これらの検出器で
は、通常、キャリブレーション頻度を多くとるため、温
度変化の影響が少な(、pHメータ、イオン電極などに
用いられているような温度補償回路を備える必要がない
。また電解法による分析は、従来、著しくノイズを発生
する濃度の測定には用いられていないため、ノイズ発生
が問題となることがな(、従って、赤外線分光光度計な
どの光検出素子を用いた分析機器に採用されているよう
なノイズ対策は施されていない。
〔発明が解決しようとする課題〕
本発明者等は、陰極と陽極の間隔が1=以下である電極
を用い、検体中に多量の被電解物質を含む場合の被電解
物質の濃度、例えば脱水汚泥中の水分濃度を電気化学的
方法で測定する方法を捉案した。しかしながら、この測
定法においても測定時の温度や検体の粘度等の影響を受
け、ノイズが発生し易く、測定値の精度が劣るという問
題があった。
本発明の目的は、上記問題を解決し、検体中の被電解物
質の濃度を電解法により、高精度に測定することができ
る被電解物質の濃度測定法を提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は、少なくとも1対の陰極および陽極と、該陰極
および陽極を固定し、かつその先端部のみを露出させた
樹脂絶縁部とを有し、該陰極と陽極の間隔が1mm以下
である電極を備えた検出器を、検体中に挿入して上記電
極に電圧を印加し、得られる電流値から検体中の被電解
物質の濃度を測定するに際し、前記電流値を、電流平滑
回路部、温度補償回路部およびキャリブレーション回路
部を有する計測部に入力することを特徴とする被電解物
質の濃度測定法に関する。
本発明に用いられる検出器は、電源および計測部にそれ
ぞれ接続された少なくとも1対の陰極および陽極と、該
陰極および陽極を固定し、かつその先端部のみを露出さ
せた樹脂絶縁部とを有し、該陰極と陽極の間隔が1mm
以下である電極を備えた検出器である。
陰極および陽極を構成する物質としては、Ru(ルテニ
ウム)、Rh (ロジウム)、Os(オスミウム)、I
r(イリジウム)、pt (白金)などの白金族元素、
特にPtが好ましく用いられるが、Tc(テクネチウム
)、Ag(銀)、Cd(カドミウム)、Re (レニウ
ム)、Hg(水銀)などの金属や、Ti(チタン)板に
Pt、、Ru / P を等をコーティングしたものな
どを用いることもできる。
前記陰極と陽極の間隔は測定精度の点からinm以下と
される。該電極の間隔が狭いほど測定精度は向上するが
、検体中のゴミ等の影響を受けやすくなりノイズの発注
率が大きくなるため、0.75園〜0.1 ttmが好
ましく、より好ましくは0.5〜0゜1m程度である。
混入物の少ない均一な試料に対しては、さらに狭い間隔
の電極を用いてより高精度の測定をすることが可能であ
る。前記陰極と陽極は少なくとも1対あればよいが、陰
極と陽極を交互に配列し、くし型電極として用いること
もできる。該電極枚数は多いほど測定精度が高(なるが
、多すぎると電極(検出部)の一部が検体中からは各出
すことがあり、取り扱い上注意゛を要する。
本発明に用いられる計測部は、電流平滑回路部、温度補
償回路部およびキャリブレーション回路部を有し、上記
検出器で測定された電解電流値が入力される。
電流平滑回路部に入力される信号は、電流および電圧の
どちらでもよいが、通常、電流を電圧に変換して入力さ
れる。平滑能力を向上させると、一般に出力波形の歪み
が大きくなり、また時間遅れも大きくなるが、本発明に
おいては定常電流値を読むため、事実上、時間遅れおよ
び出力の歪みの問題を生じることはない。
電流平滑回路部における平滑法は、デジタル方式でもア
ナログ方式でもよい。デジタル方式とする場合には、サ
ンプリングデータを平滑化点数50点以上、好ましくは
60〜80点として重み付き移動平均処理することが好
ましい。平滑化点数が少なすぎると分析精度が著しく低
下する。またアナログ方式とする場合には、時定数が1
0秒以上、好ましくは20〜50秒で、カットオフ周波
数が0.5 Hz以下、好ましくは0.3 Hz以下の
フィルター回路(ローパスフィルタまたはCR回路)を
用いることが好ましい。時定数が50秒未満では、一般
化学分析によって生じるノイズを十分に満足できるまで
に平滑化することがです、またカットオフ周波数が0.
3 Hzを超えると本分析計の応答性に遅れが発生しは
じめ、0.5 Hzを超えると試料の被測定物質濃度変
化に対する良好な追随性を失う。
温度補償回路部では、アレm;ウスの関係式による電流
Iと絶対温度Tとの関係(foglccl/T)により
温度補正が行われる。
キャリブレーション回路部では、通常演算処理または増
幅度の調整により電圧から濃度変換が行われ、液晶の数
字デイスプレィやプリンタなどによって出力される。
第1図は、本発明の一実施例を示す被電解物質の濃度測
定装置の測定回路図である。この図において、温度セン
サ2を備えたセンサ1に定電圧電流6からケーブル8を
介して電圧が印加され、この時に測定された電解電流値
が、ケーブル8を介して電解電流変換および平滑回路部
3、温度補償回路部4ならびにキャリブレーション回路
部5を有する計測部9に入力され、ここで電流値のノイ
ズ処理、温度補正および濃度の演算がなされて打点式記
録計7に入力され、被電解物質の濃度が表示される。
第2図は、第1図のセンサ1の概略図である。
この水分センサ1は、陽極10と陰極11は、交互に複
数枚配列され、リード線13を介して電源および計測部
(第1図)に接続されている。該陽極10と陰極11の
先端部A(試料15と接触して電解電流値を測定する部
分)以外は、エポキシ樹脂等の樹脂で覆われ、固定され
ている。該先端部Aは面として白金等の電極が露出して
いるか、または試料が電極間に詰まらない程度まで突起
していてもよい。
電極10.11に印加される電圧の大きさは測定する被
電解物質の種類によって定められる。例えば水分の測定
の場合は2.5■以上、好ましくは3〜IOVが印加さ
れ、またビタミンCの測定の場合には2■の電圧が印加
される。
例えば脱水汚泥15中の電解電流値(水分量)の測定は
、センサ1を用いて次のようにして行われる。まず、電
極先端部Aの全体を汚泥15に完全に浸漬するように押
しつけ、電極10.11に2.5■以上の電圧を印加す
る。
電圧が印加されると、陰極11では 2H,O+2e−−+)(z↑+20Hの反応を生じ、
また陽極10では 2Hz○→02↑+4H”+4e の反応を生じ、脱水汚泥含水量測定の場合は電気浸透脱
水領域および熱処理領域に至るまでの含水率に基づく電
解電流が得られる。この電解電流の測定値は、電極間隔
が短いために汚泥の電気抵抗に基づく電圧時下が水電解
の分極抵抗に比べて充分に小さくなり、汚泥導電率の影
響を受けにくい。
この電解電流の測定は、前記センサ1を、例えばベルト
コンベアなどで比較的一定な速度で移動する汚泥中に浸
漬することにより、連続して行うことができる。この場
合、一定速度で移動する汚泥を測定するため、陰極にお
ける金属、金属水酸化物の析出はほとんどなく、連続測
定に支障を起こすことがない。
[実施例] 以下、本発明を実施例により詳しく説明する。
実施例に用いたセンサ1は下記のようにして作製した。
厚さ0.5−のPt板5枚に、電源および計測部と接続
するリード線13を連結し、交互に陽極10および陰極
1工とし、かつ該陽極lOと陰極11の間隔が0.5 
mmとなるように配列し、これらの電極の先端の面のみ
を残してエポキシ樹脂12を充填し、これを外枠17に
セットし、第3図に示すような底面を有するセンサ1を
作製した。
実施例1〜4および比較例1.2 第1図に示す濃度測定装置を用い、装置内の電流平滑回
路部を第1表に示す条件のアナログ方式として電解電流
値の平滑化を行い、脱水汚泥中の水分濃度を測定した。
そのときのIHzでの減衰(ゲイン)および変動係数C
vをそれぞれ測定し、その結果を第1表に示した。なお
、変動係数C■は、標準偏差を平均値で割って求められ
、この値が少ない方が平滑化に優れることを示す。
第 1 表 第4図は、実施例1で用いた4次ローパスフィルタの回
路図、第4A図は、実施例1における周波数とゲインの
関係を示す図である。
第5図は、実施例2.3で用いた5次ローパスフィルタ
回路図、第5A図は、実施例2における周波数とゲイン
の関係を示す図である。
第6図は、実施例4における周波数とゲインの関係を示
す図、第7図は、実施例4においてCR回路を用いない
場合と用いた場合の電流値の変化を示す図である。
第1表およびこれらの図から、実施例のフィルター回路
は、IH2での減衰および変動係数が比較例に比べて小
さく、平滑化に優れていることが示される。
実施例5.6および比較例3 第1図に示す濃度測定装置を用い、装置内の電流平滑回
路部を第2表に示す条件のデジタル方式として電解電流
値の平滑化を行い、脱水汚泥中の水分濃度を測定した。
そのときの変動係数CVをそれぞれ測定し、その結果を
第1表に示した。
第2表から、実施例の変動係数が比較例に比べて小さく
、平滑化に優れることが示される。
実施例7、比較例4 センサ1から検出される信号を、温度補償回路に入力し
た場合(実施例7)と、温度補償回路に入力しない場合
(比較例4)の固化前のねり状試料中のビタミンCの電
解電流値をオンラインで測定した。センサ1に印加した
電圧は2vであった。
その結果を第8図に示した。実施例7では安定した電解
電流値が得られたが、比較例4では電流値が時間ととも
に低下し、安定した値が得られなかった。
〔発明の効果〕
本発明の被電解物質の濃度測定法によれば、陰極と陽極
の間隔がIIIIIll以下である電極を用いて電気化
学的方法で測定する場合、電解電流値の平滑化により高
精度に被電解物質の濃度を測定することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例を示す被電解物質の濃度測
定装置の測定回路図、第2図は、第1図のセンサ1の概
略図、第3図は、実施例で用いたセンサ1の底面図、第
4図は、実施例1で用いた4次ローパスフィルタ回路図
、第4A図は、実施例1における周波数とゲインの関係
を示す回、第5図は、実施例2.3で用いた5次ローパ
スフィルタ回路図、第5A図は、実施例2における周波
数とゲインの関係を示す図、第6図は、実施例4におけ
る周波数とゲインの関係を示す図、第7図は、実施例4
においてCR回路を用いない場合と用いた場合の電流値
の変化を示す図、第8図は、温度補償回路に入力した場
合としない場合の電流値の変化を示す図である。 1・・・センサ、2・・・温度センサ、3・・・電流電
圧変換および平滑回路、4・・・温度補償回路、5・・
・キャリブレーション回路、6・・・定電圧電源、7・
・・打点式記録計、8・・・ケーブル、10・・・陽極
、11陰極、12・・・樹脂、14・・・固体粒子、1
5・・・試料、17・・・外枠。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)少なくとも1対の陰極および陽極と、該陰極およ
    び陽極を固定し、かつその先端部のみを露出させた樹脂
    絶縁部とを有し、該陰極と陽極の間隔が1mm以下であ
    る電極を備えた検出器を、検体中に挿入して上記電極に
    電圧を印加し、得られる電流値から検体中の被電解物質
    の濃度を測定するに際し、前記電流値を、電流平滑回路
    部、温度補償回路部およびキャリブレーション回路部を
    有する計測部に入力することを特徴とする被電解物質の
    濃度測定法。
  2. (2)請求項(1)記載の電流平滑回路部が、サンプリ
    ングデータを平滑化点数50点以上として重み付き移動
    平均処理するデジタル方式であることを特徴とする被電
    解物質の濃度測定法。
  3. (3)請求項(1)記載の電流平均回路部が、時定数が
    10秒以上で、カットオフ周波数が0.5Hz以下のフ
    ィルター回路を有するアナログ方式であることを特徴と
    する被電解物質の濃度測定法。
JP2075856A 1990-03-26 1990-03-26 被電解物質の濃度測定法 Expired - Lifetime JPH0743345B2 (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005201753A (ja) * 2004-01-15 2005-07-28 Kett Electric Laboratory 水分検出ユニット及び水分測定装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2005201753A (ja) * 2004-01-15 2005-07-28 Kett Electric Laboratory 水分検出ユニット及び水分測定装置

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