JPH0325590A - Ｉｃカード及びその製造管理方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、ＩＣカードおよびその製造管理方式に関し
、特にその製造工程におけるセキュリティ対策および検
査工程管理の改良に関するものである． 〔従来の技術〕 従来のＩＣカードの製造工程管理は、通常、検移票にた
よっており、その情報を整理するためにデータベースを
利用している．そしてそのデータベースへの入力は人手
で行うのが普通であり、製造数量の管理及び検査工程の
管理（検査順序、作業指示等）は作業者に負うところが
大きい．次にＩＣカード自体についてみれば、後述する
ように、カード利用者（ユーザ）がテストプログラムの
存在を全く意識せずに応用プログラムを実行するような
シーケンスとなっており、電源を立上げリセットを解除
し所定時間が経過すると、自動的に応用プログラム実行
モード（以下ユーザモード）に移行する。従って製造工
程中に盗まれたカードでも、実際に使用可能であるとい
うことである。このように従来のＩＣカードの製造管理
では、これといったセキュリティ対策は行なわれていな
かった． 以下、第５図を用いて従来のＩＣカードの構或およびそ
のテストプログラム．応用プログラムの分岐フローにつ
いて説明する． 第５図（ａ）は従来のＩＣカードの構或であり、図に示
すように、ＩＣカード５３は電源電圧を印加するための
ｖＤＤ端子，ＧＮＤ端子，クロックを印加するためのＣ
ＬＫ端子，リセット信号を印加するためのＲＳＴ端子、
外部装置との通信のためのＩ／Ｏ端子が設けられている
．またデータメモリとして不揮発性メモリであるＥＥＰ
ＲＯＭ５９を内蔵している． また、入出力回路５５は外部装置との通信を行うための
もので、外部装置より与えられるシリアルデータをパラ
レルデータに変換してバス５４へ出力し、またシステム
バス５４より与えられるパラレルデータをシリアルデー
タに変換してＩ／Ｏ端子より出力する，ＣＰＵ５６はＲ
ＯＭ５７に格納されているプログラムを読出して実行し
、ＥＥＰＲＯＭ５　９のデータの書換え、読出しを制御
し、さらに入出力回路５５を制御して外部装置と通信を
行う，ＲＡＭ５Ｂはテンポラリーレジスタ．データバッ
ファ等として使用される．ＲＯＭ５７に納められるプロ
グラムは特開昭６３−２４０６８７号公報に示されてい
るように製造者がＩＣカードの検査を行うためのテスト
プログラムと、カード発行者（ユーザ）がプログラムし
た応用プログラムの両方であることが通常である． 第５図（ロ）に上記公報に示されたＩＣカードのテスト
プログラム、応用プログラムの分岐シーケンスを示す．
図において、カードはステップ１ｌでリセットか解除さ
れると、ステップ１２′の暗証コード受信待ち状態にな
り、例えば暗証コードを入力する等の所定のシーケンス
が行われない場合は、タイムオーバで応用プログラム実
行ルーチン１５に移行する．応用プログラム実行ルーチ
ン１５に入ると、Ｉ／Ｏ端子を介して、カードの識別コ
ード等（アンサー・トゥ・リセット）を外部装置に送り
返し、初期設定を行った後、外部装置より与えられるコ
マンドに従って種々の処理を実行する． また分岐ルーチン１２′で、所定のシーケンスが行われ
た場合は、テストプログラム実行ルーチン１４の実行に
移り、カードはＩ／Ｏ端子を介して外部装置にテストモ
ードに入ったことを示すコード（例えば機種名，ソフト
ウエアバージョン等）を送信した後、外部装置より与え
られる検査プログラムを受信し、実行して各部の検査を
行う．応用プログラム，テストプログラムでの処理が終
了するとカードは外部装置によってリセット端子を介し
てリセット状態にされる。

以上のように、従来の［Ｃカードでは、リセット解除後
、一定時間が経過すれば、自動的に応用プログラムが立
上るフローになっているので、製造工程中に盗難にあっ
たカード（もしくはそのチップ，モジュール）でも実機
で十分使用出来る可能性を残している． 〔発明が解決しようとする課Ｂ］ 現在ＩＣカードは銀行カード，クレジットカードとして
実用化されようとしている段階にあり、実際、大規模な
運用が開始されるとｌ枚のカードで多数の機能を備える
ようになることが予想され、その場合、悪用された時の
被害も深刻になってくる．従って製造工場における盗難
，紛失に対する厳しいセキュリティ対策が要求されてく
る。しかし、前述のように従来の製造管理は作業者と検
移票に負うところが大きく、十分なセキュリティ対策が
なされているとはいえないものであった．また、ロフト
の混入や、不良品の混入，検査工程の間違い等の検査工
程での作業竃スに対しても万全な対策がなされていると
はいえないものであった．この発明は、上記のような従
来のものの問題点を解消するためになされたもので、Ｉ
Ｃカード自身に製造工程中またはカード発行者への輸送
中の盗難．紛失に対するセキュリティ機能を持たせると
ともに、ＩＣカード内に自己の識別コード（ロフト番号
、シリアル番号）および検査履歴を記憶させ、ロフト混
入や作業ミスの発生を防止することができるＩＣカード
及びその製造管理方式を得ることを目的としている。

（課題を解決するための手段〕 この発明に係るＩＣカードは、製造工程中はテストプロ
グラムのみ実行可能であり、製品出荷後またはカード発
行後は応用プログラムのみ実行可能となるような機能を
持たせたものである。

また、この発明に係るＩＣカードの製造管理方式は、テ
ストプログラムへの分岐手段として暗証コード照合手段
を用いるのだが、この暗証コードが各検査工程ごとに順
次変化し、さらに良品、不良品によっても異なるように
したものである。

〔作用） この発明に係るＩＣカードにおいては、製造工程中はテ
ストプログラムのみ実行可能であり、製品出荷後または
カード発行後は応用プログラムのみ実行可能であるよう
な機能を持つので、盗難カードは実機では使用出来ない
． また、この発明に係るＩＣカードの製造管理方式は、テ
ストプログラムへの分岐手段として暗証コード照合手段
を用いるのだが、この暗証コードが各検査工程ごとに順
次変化し、さらに良品．不良品によって異なるので、検
査工程の間違いや不良品の混入といった作業ミスを完全
になくすることが出来る。さらにこの暗証コードは製造
者にさえも未知であるように構或できるので、セキュリ
ティ性が高い． 〔実施例〕 以下、この発明の実施例を図について説明する．前述の
ようにＩＣカードの動作モードは製造者が検査を行うた
めのテストモードとカード使用者が自由にプログラａン
グできるユーザモードの２つに分かれるが、本発明によ
るＩＣカードでは、前記データメモリであるＥＥＰＲＯ
Ｍの特定番地がユーザモードではアクセス出来ない構戒
にしてある．以下このＥＥＦＲＯＭの特定番地をセキュ
リティ領域と呼ぶ． 次に、本発明を実現する手段について説明する。

１．ロフト識別及び検査ＩＩ歴記録手段（１）セキュリ
ティ領域にロット番号，シリアル番号等を記憶する． （２）セキュリティ領域に検査完了を示す完了コードを
記憶する領域を設ける。

（３）完了コードが書かれたことを示すコードを書込む
特定番地を設ける。

２．テストプログラムへの分岐手段 （１）テストプログラム実行ルーチンへの分岐は暗証コ
ード照合手段による。

（２）　　ここで暗証コードは前記完了コードを特定の
アルゴリズムで演算することによって得られる。

３．検査履歴確認手段 （１）外部装置から送信された暗証コードと一敗しない
場合は、検査工程間違い、不良品混入の可能性があるの
で、エラーコードを送信した後、完了コードを前記とは
異なったアルゴリズムで演算して外部装置に送信し、外
部装置はこのコードをデコードして正しい工程を、例え
ばディスプレイに出力する。また不良品が混入していた
場合は不良品であることを表示する。

４．出荷後のテストプログラム実行禁止手段（１）検査
で不良と判定された場合、乱数を完了コード書込み領域
に書込む． （２）最終検査工程終了時に、乱数を完了コード書込み
領域に書込む． ５．応用プログラム実行ルーチンへの分岐禁止手段 （１）セキュリティ領域に応用プログラムへの分岐を可
能化するコードを書込む特定領域を設定する。

（２）検査終了時またはカード発行時（エンコード終了
時）に完了コードを検索して検査が全て完了しているこ
とを検知した場合、応用プログラムへの分岐を可能化す
るコードを書込む．以下、本発明の実施例を図を用いて
説明する．本発明によるＩＣカードの構或は従来の構戒
である第５図（ａ）と同一であり、第４図は本発明の一
実施例によるＩＣカードの構威図であり、各レジスタ及
びデータの配置を示している。ここでＥＥＦＲＯＭ５　
９内のデータ及びレジスタは全てセキュリティ領域に書
かれる．第１図は本発明の一実施例によるＩＣカードの
処理手順を表わすフローチャートで、第２図は第ｌ図の
分岐ルーチンｌ２の詳細を示す．第３図は第１図の処理
ルーチン１７の内容を示すフローチャートである．以上
の図を用いて本発明の一実施例によるＩＣカードの動作
を説明する．まず第１図の処理フローで外部装置より電
源電圧，クロック信号が供給されている状態で、リセッ
ト端子を介してリセットが解除されると（ステップ１１
）、分岐ルーチン１２に入る． 第２図はこの分岐ルーチン１２の詳細を示す。

このルーチンではまず完了コード活性化キー照合ルーチ
ン２１で第３図に示すＥＥＰＲＯＭ５　９のセキュリテ
ィ領域に設定される完了コード活性化レジスタの内容を
読出し、ＲＯＭ５　７に書かれている完了コード活性化
キーＦＣＥと比較照合する。

ここで完了コードとはウエハテスト．モジュール検査等
の各検査工程に対して割付けられたコードであり、各検
査完了時に第４図のＥＥＰＲＯＭ５９のセキュリティ領
域に設定される完了コードレジスタＦＣＩ　〜ＦＣＮ　
（以下ＦＣｎ　（ｎは整数）と称す）に書込まれる． 完了コード活性化レジスタには完了コード活性化キーと
、完了コードの書込み番地を指定するデータとが書かれ
る．活性化キー照合ルーチン２１でＮＧとなるのは初期
化の行われていない状態であり、つまり最初の検査工程
（通常はウエハテスト）が行われていない状熊である．
このときＥＥＦＲＯＭ５９内のデータはランダムな値に
なっている．従って初期値の設定が必要となり、初期値
設定ルーチン２３が実行される。このルーチンではＥＥ
ＰＲＯＭ内の完了コードレジスタＦＣＲｎ及び後述する
、応用プログラムへの分岐を可能化するキー（以下可能
化キーと称す）ＥＮＣを書込む可能化キーレジスタＥＮ
ＣＨの内容をクリア．し（例えばオール”ＦＦ．’にす
る）、さらにカード認識情報ＩＤＣおよび全検査工程の
完了を認識するための終了チェックコードＴＣＣの設定
を行う．また完了コード活性化キーＥＮＣを完了コード
活性化レジスタＥＮＣＨに書込む。次に暗証コード設定
ルーチン２４に入りＣＰＵ５　６内のアキエームレータ
またはＲＡＭ５Ｂ，ＥＥＰＲＯＭ５９上に暗証コードを
設定する．このとき暗証コードとしては後述のように完
了コードレジスタの内容を特定のアルゴリズムＡＬＧ１
で演算した結果を用いてもよいし、またＲＯＭ５　７に
予め設定しておいた固定データを用いてもよく、また活
性化キーＦＣＥを用いてもよい。この後、外部装置から
入力される暗証コードとの照合を行う暗証コード照合ル
ーチン２５へ移る。

また、コード活性化キー照合ルーチン２１で照合結果が
ＯＫならば、暗証コード演算設定ルーチン２２へ分岐し
、完了コードレジスタＦＣＲｎの内容をＲＯＭ５　７内
の特定のアルゴリズムＡＬＣ１で演算し、この演算結果
を暗証コードとしてＣＰＵ５　６内のアキュームレータ
またはＲＡＭ５Ｂ、ＥＥＰＲＯＭ５　９上に設定する。

この後、外部装置から入力される暗証コードとの照合を
行う暗証コード照合ルーチン２５へ移る。

暗証コード照合ルーチン２５では外部装置からの入力に
よって次の３つの場合に分岐する．まず第１は所定時間
内に外部装置から暗証コード入力がなかった場合で、こ
のときはタイムオーバで応用プログラム実行可能化キー
照合ルーチン１３に入る。可能化キー照合ルーチン１３
では第２図のＣＰＵ５　６はＥＥＰＲＯＭ５　９のセキ
ュリティ領域にある可能化キーレジスタ、ＥＮＣＨの内
容を読出し、ＲＯＭ５　７内の可能化キーＥＮＣと比較
し、一敗すれば応用プログラム実行ルーチン１５に分岐
し、一致しなければ処理ルーチン１８でエラーメッセー
ジを外部装置に送信して処理を停止する．製造工程中は
可能化キー書込みレジスタＥＮＣＲには可能化キーが書
込まれていないので、応用プログラム実行ルーチン１５
には分岐出来ない． 次に第２は暗証コード入力はあったが、照合結果がＮＧ
であった場合で、このときは検査工程の誤りまたは不良
品の混入等の可能性があるので、履歴確認ルーチン１６
に分岐する．ここでカード内での暗証コード発生方法に
ついて説明する．即ち、本ＩＣカードでは、各検査工程
ごとに暗証コードが変化してゆくことになる．従って暗
証コードの照合がＮＧになるのは、検査工程を間違った
時である．次にこの履歴確認ルーチン１６の処理につい
て説明する。履歴ｖａ認ルーチンではまず外部装置にエ
ラーコードを送信した後、検査工程完了コードを特定ア
ルゴリズムＡＬＣ；２で演算して外部装置に履歴確認コ
ードを送信する。

外部装置はエラーコードを受信すると、変換テーブルを
検索して、履歴確認コードを翻訳して、カードが受ける
べき検査工程を同定し、ディスプレイ等に出力する。検
査工程の同定方式は、例えば外部装置は各検査工程完了
コードＦＣＩ〜ＦＣＮ（Ｎは整数）と特定アルゴリズム
ＡＬＧ２とを備えていて、順次演算を行い受信した履歴
確認コードと比較して、一致するか否かを見る。一致が
得られない場合は、不良品が混入した場合である（後述
するが不良品は完了コードレジスタＦＣＲｎに乱数を書
込むようにしている）．このときディスプレイに不良品
であることを表示する。

次に、第３は暗証コード照合がＯＫだった場合で、この
時はテストプログラム実行ルーチン１４に入り、カード
は第４図のＥＥＦＲＯＭ５９のセキュリティ領域にある
カード確認情報ＩＤＣ　（例えばロフト番号．シリアル
番号．ソフトウェアバージョン番号等）を外部装置へ送
信した後、外部装置から送信されるプログラムまたはコ
マンドを実行してカード内部の検査を行いカードあるい
は外部装置で検査結果の判定を行う検査が終了すると処
理ルーチン１７に移る。処理ルーチン１７の内容を第３
図のフローチャートに示す．第３図においてフロー３１
の分岐１では検査の判定結果に応じて分岐する。検査結
果がＮＧの場合乱数書込みルーチン２５に入り、カード
内で乱数を発生させ、完了コードレジスタＦＣＲｎに乱
数を書込んで終了する。なおカードより外部装置に乱数
書込みを要求し、外部装置より送信される乱数を書込む
方式も可能である。

検査結果が合格の場合、完了コード書込みルーチン３２
に移り完了コードを完了レジスタＦＯＲｎの所定番地に
書込む．完了コード書込み方式の一例を示すと、まずカ
ードは外部装置に完了コード送信要求を出し、外部装置
は完了コードを特定のアルゴリズムで暗号化してカード
に送信する。

カードはこれを受信し、復号のための特定のアルゴリズ
ムＡＬＧ３で復号し、完了コード活性化レジスタＦＣＥ
Ｒの指定する完了コードレジスタＦＣＲｎの特定番地に
書込んだ後、ＦＣＥＲ内の番地指定データをインクリメ
ントする。

次に処理ルーチン３３の分岐２では完了コードレジスタ
の内容を特定のアルゴリズムＡＬＧ４で演算し、その結
果を第２図の初期値設定ルーチン２３で第３図のＥＥＦ
ＲＯＭ５９のセキュリティ領域に予め設定されている終
了チェ・ンクコードＴＣＣと比較する。終了チェックコ
ードは検査工程を全て終了したときに完了コードレジス
タにかかるべき完了コードを特定アルゴリズムＡＬＧ４
で演算した結果であるので、これに一致しないときには
検査工程が残っていると判断し、処理ルーチンを終了し
、一致した場合は検査工程が全て終了したものと判断し
て、可能化キー書込みルーチン３４にはいり、ＲＯＭ５
　７内の可能化キーＥＮＣをＥＥＰＲＯＭ５　９内の可
能化キーレジスタＥＮＣＲに書込み、応用プログラムへ
の分岐を可能にした後、乱数書込みルーチン３５へ移り
、完了コードレジスタＦＣＲｎに乱数を書込んで、テス
トプログラムへの分岐を禁止して処理ルーチンを終了す
る。

第１図の処理ルーチン１７を終了するとカードは外部装
置に処理の終了を知らせ、外部装置はリセット端子を介
してカードをリセット状態にする。

このように、本実施例によるＩＣカード及びその製造管
理方式によれば、テストモードへの分岐手段として暗証
コード照合手段を用い、暗証コードは各検査完了時に書
込まれる完了コードを用いて算出するようにしたので、
暗証コードは検査工程ごとに異なったものになり、また
完了コードは容易に変更可能（外部装置側を変更するだ
け）であるうえに、カード外及び外部装置から外に直接
出ることがないので、内情を知った者のカードの悪用に
対してさえも極めて高いセキュリティが得られる。さら
に曙証コードには検査工程の情報も含まれることになる
ので、同時に検査工程の異常も検出できるという優れた
効果を有する。

また、本実施例によるＩＣカードでは製造工程中は応用
プログラムへの分岐を完全に禁止するとともに出荷後は
テストプログラムへの分岐を完全に・禁止するか、ある
いは極めて困難にしたので、製造工程中に盗難にあった
カードの悪用及び出荷後のデータ改ざん等の悪用に対し
て、たとえそれが内情を知ったものであったとしても悪
用を思いとどまらせるのに十分なセキュリティを持たせ
ることができるという効果がある。さらに応用プログラ
ムへの分岐可能化キーは全検査工程終了時に自動的に書
かれるようにしたので、検査の完了していないカードが
実機で使用されることは完全になくなる。

なお、上記実施例では特定アルゴリズムＡＬＧｎ（ｎは
整数）はＲＯＭ上に書かれていたが、初期値設定ルーチ
ンでＥＥＰＲＯＭ上に設定してもよく、また、ハードロ
ジックで実現してもよい。

また、上記実施例では暗証コード算出のためのアルゴリ
ズムが固定だったが、カード内に複数のアルゴリズムを
設定しておき、暗証コード算出の際に外部装置からどの
アルゴリズムを活性化するか、またはどのアルゴリズム
を組合わせて暗証コードを算出するかを指示するランダ
ムデータを入力してやって暗証コードを算出する方式も
有効である。この方式では暗証コードは製造者にも未知
となるゆ また、上記実施例では完了コードレジスタＦＣＲｎを複
数個設定したが、１個だけでもよい。

また、上記実施例ではカードがテストプログラム実行ル
ーチンｌ４にはいる時に外部装置に認識情報ＩＤＣを送
信する方式としたが、リセット解除後、ただちに（分岐
ルーチン１２の前）外部装置に送信してもよく、さらに
認識情報に作業指示を含めてもよい。この場合は外部装
置がより詳細にカードの製造フローを管理できる。

また、上記実施例では完了コードレジスタＦＣＲｎに乱
数を書込むことによってテストプログラムへの分岐を禁
止したが、外部装置側でこの乱数とカードの固有の認識
情報（例えばロフト番号，シリアル番号で通常カードに
刻印または印刷するもの）をペアで記憶しておけば、再
びテストモードにはいることが可能であるので、不良品
の解析や出荷後の不具合品の解析に便利である。

その他、乱数のかわりにカード固有の認識情報を特定の
アルゴリズムで演算した結果を用いてもよく、再びテス
トモードにはいることが可能である．また、テストプロ
グラムへの分岐禁止手段としてＥＥＰＲＯＭのセキュリ
ティ領域に分岐禁止コードレジスタを設定してやり、こ
れに分岐禁止コードが書込まれたときテストプログラム
へ分岐しないというフローを採用すると、不良品または
検査完了品は二度とテストプログラムにはいれなくなり
、非常にセキュリティ性が高くなる。

さらに、上記実施例では完了コードレジスタの書込み番
地は完了コード活性化レジスタに記憶させ、完了コード
書込みでインクリメントさせたが、外部装置により完了
コード書き込みのたびに与えるようにしてもよく、その
場合再検査が容易である。

さらに、上記実施例では検査工程完了時に応用プログラ
ムへの分岐を可能化する可能化キーを書込んだが、カー
ド輸送中のセキュリティを考えればカード発行者がカー
ドを発行するとき、つまりカード使用者の暗証コード等
のカード運用に必要な情報を書込んだ時に可能化キーを
書込む方式とすることも可能である。

〔発明の効果〕

以上のように、この発明に係るＩＣカード及びその製造
管理方式によれば、製造工程中はテストプログラムのみ
実行可能であり、製品出荷後またはカード発行後は応用
プログラムのみ実行可能となるような機能を持たせると
ともに、その製造管理方式として、テストプログラムへ
の分岐手段として賄証コード照合手段の賄証コードが各
検査工程ごとに順次変化し、さらに良品、不良品によっ
ても異なるようにしたので、 製造工程中はテストプログラムのみ実行可能であり、製
品出荷後またはカード発行後は応用プログラムのみ実行
可能であるような機能を持つので、盗難カードは実機で
は使用出来ないようにでき、また、暗証コードが各検査
工程ごとに順次変化し、さらに良品．不良品によって異
なるので、検査工程の間違いや不良品の混入といった作
業ミスを完全になくすることができる。さらにこの暗証
コードは製造者にさえも未知であるように構戒できるの
で、セキュリティ性が高いものが得られる効果がある．

【図面の簡単な説明】

第ｌ図は本発明によるＩＣカードの一実施例における動
作フローを示すフローチャート図、第２図及び第３図は
それぞれ第１図の分岐ルーチン１２及び１７の処理ルー
チンの詳細を示すフローチャート図、第４図は本発明に
よるＩＣカードの機能ブロック構或及びメモリ内のデー
タ配置，レジスタ配置を示す図、第５図は従来のＩＣカ
ードに関する図で、第５図（ａ）は機能ブロック構戒を
示す図、第５図（ｂ）はその動作フローチャート図であ
る．図において、１１はリセット解除ルーチン、１２は
分岐ルーチン、１３は応用プログラムキー照合ルーチン
、１４はテストプログラム実行ルーチン、ｌ５は応用プ
ログラム実行ルーチン、１６はｆｆＷＴｉｆ１認ルーチ
ン、１７は処理ルーチン、１８はエラーメッセージ送信
ルーチン、１９はリセットルーチン、２１は完了コード
活性化キー照合ルーチン、２２は晴証コード演算・設定
ルーチン、２３は初期値設定ルーチン、２４は暗証コー
ド設定ルーチン、２５は暗証コード照合ルーチン、５３
はＩＣカード、５４はシステムバス、５５は入出力回路
、５６はＣＰＵ、５７はＲＯＭ，５８はＲＡＭ、５９は
ＥＥＰＲＯＭである。 第１図 １１

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）書換え可能な不揮発性メモリを内蔵するＩＣカー
   ドにおいて、 前記ＩＣカードは製造者が検査を行うためのテストモー
   ドにあるときのみアクセス可能な前記不揮発性メモリの
   特定領域にセキュリティ領域を有し、 前記セキュリティ領域内にカード固有の認識情報を記憶
   させるとともに、 各検査工程の完了時に各検査固有の完了コードを書込む
   領域を有し、 前記完了コードを参照することによって応用プログラム
   への分岐を許容する手段と、 前記完了コードを特定のアルゴリズムで演算することに
   よって、テストプログラムへの分岐を可能化する暗証コ
   ードを得る手段と、 全検査完了時に前記暗証コードをランダムな値に設定す
   る手段とを備えたことを特徴とするＩＣカード。
2. （２）書換え可能な不揮発性メモリを内蔵するＩＣカー
   ドにおいて、 前記ＩＣカードは製造者が検査を行うためのテストモー
   ドにあるときのみアクセス可能な前記不揮発性メモリの
   特定領域にセキュリティ領域を有し、 前記セキュリティ領域内にカード固有の認識情報を記憶
   させるとともに、 各検査工程の完了時に各検査固有の完了コードを書込む
   領域を有し、 前記完了コードを参照することによって応用プログラム
   への分岐を許容する手段と、 前記完了コードを特定のアルゴリズムで演算することに
   よって、テストプログラムへの分岐を可能化する暗証コ
   ードを得る手段と、 全検査完了時に前記暗証コードをランダムな値に設定す
   る手段とを備えたＩＣカードの製造管理方式であって、 前記暗証コード照合手段の照合結果に応じて製造あるい
   は検査工程の誤りの有無を検知することを特徴とするＩ
   Ｃカードの製造管理方式。