JPH0324466A - 加速度センサの故障診断装置 - Google Patents

加速度センサの故障診断装置

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JPH0324466A
JPH0324466A JP15915989A JP15915989A JPH0324466A JP H0324466 A JPH0324466 A JP H0324466A JP 15915989 A JP15915989 A JP 15915989A JP 15915989 A JP15915989 A JP 15915989A JP H0324466 A JPH0324466 A JP H0324466A
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acceleration
sensor
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sensors
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JP15915989A
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Inventor
Toyohei Nakajima
中島 豊平
Tomoaki Teramoto
倫明 寺本
Kazuhiro Kishimoto
岸本 一宏
Takuya Kitajima
北島 卓也
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Honda Motor Co Ltd
Original Assignee
Honda Motor Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、加速度センサの故障診断装置に関し、特に、
加速度センサの劣化、故障等を検出して誤動作を未然に
防止できるようにした加速度センサの故障診断装置に関
する。
(従来の技術) 衝突時にその衝撃を検知してエアバッグを膨らませ、運
転者が受ける衝撃を和げるようにした安全装置が自動車
に搭載されるようになってきた。
このような車載の安全装置、およびその他、衝撃を検出
してその検出結果をもとに各種制御を行う装置では、加
速度センサによって前記衝撃を検出するようにしている
ことが多い。この加速度センサとしては歪みゲージを応
用したセンサが一般に知られている。
例えば、加速度の検出媒体である検出板の一端に重りを
装着し、他端は基板上に片持ち状態で固定し、この検出
板に歪みゲージを張付けた構遣を有する加速度センサが
ある。このような加速度センサにおいて、加速度を受け
て前記検出板が撓むと、これに応じて前記歪みゲージが
歪む。したがって、前記歪みケージの歪み量の多少に基
づいて加速度の大小が検出できる。
前記車載の安全装置では、予定の値を超える大きな加速
度が検出された場合に、エアバッグを膨らますためのイ
ンフレークを起動させるようにしている。
(発明が解決しようとする課題) 上記の加速度センサにおいて、歪みゲージや、このゲー
ジの出力を処理して加速度を検出するための電気部品が
劣化してくると、加速度検出誤差が生じてくる。
本発明の目的は、上記問題点を解消し、上記電気部品の
劣化を、予定値に対する加速度検出値の偏差に基づいて
診断てきる加速度センサの故障診断装置を提供すること
にある。
(課題を解決するための手段および作用)上記の課題を
解決し、目的を達成するために、本発明は、加速度の大
きさに応じて出力される周波数信号に基づいて加速度を
検出する加速度センサの故障診断装置において、2つの
加速度センサを交互に加速度検出状態、および加速度を
検知しない基準状態に切換え、前記基準状態では基準周
波数信号に対する各センサの出力周波数の偏差を検出し
、加速度検出状態では、一方のセンサによる加速度検出
状態時の出力周波数と、この加速度検出状態に引続く、
他方のセンサによる加速度検出状態時の出力周波数との
差を検出し、前記それぞれの偏差のうちの少なくとも一
方の偏差が予定値以上になった場合には故障検出信号を
出力するように構成した点に特徴がある。
また、本発明は、前記2つのセンサの一方は常に加速度
検出状態にし、他方を適当な周期で前記基弗状態に切換
え、ζの基準状態では予定の基準周波数に対するセンサ
の出力周波数の偏差を検出し、前記加速度検出状態では
前記両センサ出力の互いの差を検出し、前記偏差または
差が予定以上になった場合に故障検出信号を出力するよ
うに構成した点に特徴がある。
上記特徴を有する本発明では、基準状態におけるセンサ
出力が予定の基準周波数に対して予定以上ずれていれば
そのセンサの構成部品の劣化などの故障があることを検
出できる。
また、2つの加速度センサのうち、一方のセンサの故障
を、他方のセンサの出力に基づいて検出できる。
(実施例) 以下に図面を参照して本発明の実施例を説明する。
まず、本発明を適用する加速度センサについて説明する
。第3図は本発明を適用する加速度センサの斜視図、お
よびその要部拡大図、第4図,第5図,第6図は加速度
検出のための回路図である。
第3図(a)において、セラミック基板1には2組の加
速度センサ、つまり加速度第1センサ(以下、第1セン
サという)20および加速度第2センサ(以下、第2セ
ンサという)30が設けられている。これらの第1セン
サ20および第2センサ30は、前記セラミック基板1
にその一端が接合され、セラミック材料、樹脂材料など
で形成された検出板2と、この検出板2の他端に設けら
れた重り3とをそれぞれ有している。
さらに、前記検出板2には、それぞれ電界効果トランジ
スタ(PET)4が設けられている。
第2図(b)に前記FET4の細部を拡大して示す。同
図において、FET4は、そのチャネル方向が前記検出
板2の長手方向(矢印A方向)と一致するように設けら
れている。
FET4は検出板2に張付けられた半導体4aと、この
半導体4aの一端に設けられたドレインDおよび他端に
設けられたソースS1ならびに半導体4aの中央部に設
けられたゲートGを有している。
FET4を構成する半導体材料としては、ガリウムひ素
が使用され、検出板2もこれらと同一または同等の半導
体材料で形成することができる。
なお、FET4と検出板2とを同一または同等の材料に
する時はドレインDおよびソースSならびにゲートGを
検出板2上に直接形成してFET4を構成してもよい。
上記の構成からなる加速度センサでは、この加速度セン
サが装着された被検出体に加速度が加わると、その加速
度の方向によって検出板2が矢印BまたはCの方向に撓
む。この撓みによってFET4は歪み検知素子として機
能する。
すなわち、検出板2の撓みに応じてFET4のチャネル
部に応力がかかり、この応力によって生じる圧電効果に
よってゲートGにかかる電圧が変化する。その結果、ゲ
ートGに印加されている電圧が一定であっても、この一
定の電圧に前記圧電効果によって生じる電圧が加わって
ゲート電圧が変化し、それに伴ってソース・ドレイン電
流が変化する。この電流変化に基づき、後述の回路によ
って加速度の大きさを検出することができる。
また、第3図(C)において、検出板2の応力発生部に
は歪みゲージとしてピエゾ抵抗PROが設けられていて
、検出板2と基板との取付部、すなわち応力が発生しな
い部分にはFET13が設けられている。前記ビエゾ抵
抗PROの一端はFET13に接続され、他端は図示し
ない制御回路に接続されていて、後述の回路における分
圧用の抵抗、またはブリッジ回路の一部を構成している
前記ビエゾ抵抗PROを設ける検出板2は半導体材料に
限らず、セラミック材料、樹脂材料等で形成することも
できる。
次に、前記電流の変化に基づく加速度検出回路について
説明する。第4図は第3図(a> ,  (b)に示し
たような、FET4を歪み検知素子として加速度を検出
する加速度センサの回路である。
第4図において、電源電圧Vccは分圧抵抗Rl,R2
で予定の電圧に設定され、この設定された電圧がFET
4のゲートに印加される。このゲートに印加される電圧
、およびFET4のソース・ドレイン間に印加される電
圧に応じてFET4のソース・ドレイン電流IDが決定
される。
FET4のドレインはトランジスタTriのコレクタ、
およびTri,Tr2のベースに接続されている。一方
、トランジスタTr2のコレクタには発振回路5の抵抗
ROとコンデンサCOならびに抵抗R3の一端が接続さ
れている。
上記トランジスタTri,Tr2、およびこれらと接続
されるラインによってカレントミラー回路が構成されて
いる。すなわち、トランジスタTr2のコレクタに流込
む電流Isは、トランジスタTri,Tr2のベースに
供給される電流、つまりソース・ドレイン電流IDに応
じて、このソース・ドレイン電流と一致するように変化
させられる。
また、発振回路5のFET6およびFET7のそれぞれ
のゲートには、コンデンサCOの容量に従って決定され
る周期で交互に電圧が印加される。
したがって、FET6およびFET7は交互に導通、非
導通の状態を繰返し、周波数fsのパルス状出力が得ら
れる。
前記パルス状出力の周波数fsは、前記コレクタ電流I
Sによっても変化する。すなわち、電流Isの増加に応
じて発振回路5の出力周波数が高くなる。
したがって、この周波数fsの変化を検出することによ
って、電流Isの変化を検出できる。電流ISはソース
・ドレイン電流IDの変化に伴って変化するので、電流
Isの変化は、ソース・ドレイン電流IDの変化をも意
味することになる。
さらに、ソース・ドレイン電流IDは、ゲート電圧によ
って決定されるが、このゲート電圧は上述のようにFE
T4にかかる応力によって変化するため、印加されるゲ
ート電圧が一定の場合のソース・ドレイン電流IDの変
化は、FET4にかかる応力の変化、すなわちこのFE
T4が設けられた検出板2にかかる加速度の変化を示し
ていることになる。
このように、発振回路5の出力周波数fsに基づいてF
ET4にかかる応力の変化を検出できるので、周波数f
sを検出することによってFET4が設けられた検出板
2に加わった加速度の大きさを検知することができる。
この加速度検出回路において、FET4のゲートに対す
る電圧を“0′にすると、電流IDは″0゜になり、こ
れに伴って電流Isも“0″になるので発振回路5の出
力周波数は、この発振回路5を構成する部品(FET6
,7、抵抗RO、コンデンサCO等)の定数にのみ依存
する基準周波数になる。
次に、第3図(e)に示したような、ビエゾ抵抗を用い
た歪みゲージによる加速度検出回路を説明する。
第5図,第6図は歪みゲージによる加速度検出回路の要
部を示す。同図において、第4図と同符号は同一または
同等部分を示す。
第5図において、FET13のゲートには電原電圧Vc
cがピエゾ抵抗PRI,PR2で分圧されて印加される
。このピエゾ抵抗PRI,PR2の少なくとも一方は、
前記第3図(e)に示した検出板2に設けられて歪みゲ
ージを構戊するピエゾ抵抗PROに相当する。
したがって、前記検出板2に加速度が加わると検出板2
上に形成されたピエゾ抵抗が撓んでこのピエゾ抵杭の抵
抗値が変化し、FET13のゲートに印加される電圧が
変化する。その結果、FET13のソース・ドレイン電
流IDが変化する。
ソース・ドレイン電流lDが変化すると、電流Isも変
化して前記発振回路5の出力周波数fsが変化する。
第6図では、ブリッジ回路14を構成する抵抗RIO〜
R13の少なくとも1つが前記FET4と同様、検出板
2に設けられて歪みゲージを構成する。ブリッジ回路1
4の出力電圧は増幅器15を介してFET13のゲート
に印加される。
第6図に示した回路でも第5図の回路と同様、前記検出
板2に設けられた抵抗が撓んでこの抵抗の抵抗値が変化
し、FET13のゲートに印加される電圧が変化する。
その結果、FET13のソース・ドレイン電流IDが変
化する。
この加速度検出回路においては、FET13のゲートに
対する電圧の印加をIIO#にすると、上述の検出回路
と同様、発振回路5は基準周波数信号を出力する。
第5図,第6図におけるFET13は歪みゲージではな
いので、検出板2に取付けるのではなく、基板1上に固
定して使用される。
次に、上記構成の加速度検出回路の故障を検知する故障
診断装置をブロック図を参照して説明する。第1図は故
障診断装置の機能構或を示すブロック図である。
同図において、第1センサ20および第2センサ30は
、前記第4図〜第6図のうちのいずれかを含むセンサで
ある。これらのセンサ20,30は、予定の周期で切換
信号発生部9から出力される信号に応答し、モード切換
部8によって加速度検出モードまたは基準モードに切換
られる。モード切換部8は、第1センサ20を基準モー
ドに設定した場合は第2センサ30を加速度検出モード
に設定する。その反対に第1センサ20を加速度検出モ
ードに設定した場合は、第2センサ30を基準モードに
設定するように動作する。
ここで、加速度検出モードとは、前記加速度検出回路に
対して電源Vccが供給されていて、FET4またはF
ET13のソース・ドレイン電流IDが、加速度に応じ
て変化できる加速度検出可能状態を意味する。一方、基
準モードとは、例えばFET4またはFET13に供給
する電源を断って前記ソース・ドレイン電流IDを“0
”に固定した状態を意味する。その結果、この基準モー
ドでは加速度は検出されないので、電流Isは″0″に
固定され、発振回路5からはこの電流}S″0”に対応
する前記基準周波数が出力される。
加速度検出モードにおける第1センサ20および第2セ
ンサ30による検出データ(発振回路5の出力周波数)
は、第1および第2記憶部21.31にそれぞれ記憶さ
れる。さらに第1センサ20の検出データは第1比較部
16にも入力されて、第2記憶部31に記憶されている
前回検出時の第2センサ30の検出データと比較される
。同様に、第2センサ30の検出データは第2比較部1
7に人力されて、第1記憶部21に記憶されている前回
検出時の第1センサ20の検出データと比較される。
第1および第2比較部16.17の比較結果によって、
第1センサ20および第2センサ30の検出データの差
が予定値以上であれば第1および第2故障表示部18.
19で故障表示を行う。すなわち、同一の基板1に装着
されている第1センサ20および第2センサ30の検出
データはほぼ同一になるはずなので、前回サンプリング
時の第1センサ20の検出データと、それに続くサンブ
リングで検出される第2センサ30の検出データとの差
、ならびに前回サンプリング時の第2センサ30の検出
データと、それに続くサンプリングで検出される第2セ
ンサ30の検出データとの差が予定値以上であれば故障
であると判断できる。
但しこの場合の故障箇所が加速度検出回路のどの部分で
あるかは特定できない。
故障箇所をある程度の範囲で特定するために、基準モー
ドでの第1および第2センサ20,30の出力を、電流
Isが“0”の状態での発振回路5の出力周波数、つま
り発振回路5の構成部品の定数のみで決定される基準周
波数とを第3および第4比較部22.23で比較する。
基準周波数は基準周波数設定部24に格納しておく。発
振回路5の構成部品に劣化がなければ出力周波数と基準
周波数との差は“0”か僅少になるはずである。したが
って、この第3および第4比較部22.23の出力に基
づいて発振回路5の部品劣化などの故障を特定できる。
発振回路5が故障と判断されれば第3故障表示部25,
または第4故障表示部26で故障表示を行う。
故障診断にあたっては、まず、発振回路5に故障がない
ことを確認し、その後、第1および第2比較部16.1
7での判断を行うようにすれば、故障があった場合に、
その故障箇所を発振回路5以外の箇所に特定できる。
第1および第2記憶部21,.31の記憶データは、第
1および第2センサ20,30が検出モードに切換えら
れる毎に新しいデータで更新される。
なお、切換信号発生部9から切換信号を出力するタイミ
ングは任意のタイミングでよい。
次に本発明の第2実施例を説明する。
第1図に示した実施例では、第1および第2センサ20
.30を交互に基準モードに切換えて発振回路5の故障
を診断しながら、一方で加速度検出モードにおける第1
および第2センサ20,30の出力を比較するようにし
た。第2実施例では、第1および第2センサの20.3
0のいずれか一方は常時加速度検出モードにしておき、
他方のセンサを予定の周期で基準モードに切換えるよう
にした。
第2図において、第1および第2センサ20,30の出
力は第5比較部27において互いに比較され、両者の出
力の差が予定値以上であれば、第5故障表示部28で故
障の表示をする。
モード切換部8は切換信号発生部9から予定周期で出力
される信号に応答して、第2センサ30を基準モードに
切換える。基準モードに切換えられた第2センサ30の
出力は、第6比較部29において、基準周波数設定部2
4に格納されている基準周波数と比較され、その比較結
果によって第2センサ30の出力が予定範囲からはずれ
ていれば第6故障表示部32で故障の表示をする。
故障診断にあたっては、まず、第6比較部29の比較結
果に基づいて発振回路5に故障がないことを確認し、そ
の後、第5比較部27で、第1および第2センサ20,
30の出力差が予定値以内にあることが検出されれば、
第1および第2センサ双方は正常に機能していると判断
できる。
この第2実施例によれば、第2センサ30の切換え時に
も、第1センサ20は常に加速度検出状態にあるので、
加速度の変化を常時監視できる。
前記第1および第2実施例では、別々の検出板2に歪み
検知素子または歪みゲージを設けた加速度センサの故障
診断について説明したが、本発明は次に示すような加速
度センサにも適用できる。
第7図に示した加速度センサは基板1の上に設けられた
検出板2aに歪み検知素子、つまり前記FET4を2個
設けた例である。このように構威された加速度センサで
は、故障診断機能を有していながらセンサの寸法は小形
に維持できる。また、2個の検出板を使用している場合
に比べて、2個の検出板間の性能のばらつきがないため
故障診断精度がよい。
なお、この加速度センサの検出板2aに設けられた歪み
検知素子はFETに限らず、ビエゾ素子を用いた歪みゲ
ージでも同様の効果が得られるのはもちろんである。
また、上述の実施例では同一の加速度に対して同等の検
出結果が得られる加速度センサ、つまり同感度の加速度
センサを2個使用した場合について説明した。しかしな
がら本発明は、このような場合に限らず、部分的には同
一感度領域を有していて、全体の感度領域が異なる加速
度センサを2個使用してもよい。
このような感度領域の異なる2個のセンサを用いること
により、加速度検出範囲を単一の加速度センサで得られ
る範囲よりも拡大できる。
例えば、2個のセンサのうちの一方の検出レンジが1〜
103であり、他方のセンサの検出レンジを10 〜1
05に設定してあれば、2個のセ3 ンサ全体としては検出レンジ1〜105を有する加速度
センサを実現できる。
この場合、自動車の通常走行時において故障診断を行う
ため前記2個のセンサの検出レンジが重なった部分で通
常走行時に発生すると予測される加速度を検出できるよ
うに感度調整を行っておく。
また、加速度が前記検出レンジの重なった部分からはず
れた場合には故障診断は行わない。
感度の異なる加速度センサは、前記重り3の重量、検出
板2,2aの寸法、あるいは歪み検知素子としてのFE
T4の定数の調整などによって得られる。
また、FET4を検出板2,2aに設ける際の、検出板
2,2aに対するFET4のチャネル方向によっても感
度の異なる加速度センサが得られる。
つまり検出板2.2aに対するFET4の配置方向によ
って検出板2,2aが同一量だけ撓んだ場合でもFET
4が受ける応力は異なるようになり、その結果、FET
4のゲート電圧としては同一撓みに対して異なった値が
得られる。
なお、前記FET13は歪みゲージから出力される電圧
を電流に変換する電圧/電流変換手段として機能するよ
うな、例えばバイボーラトランジスタを用いたオペアン
プを組合わせて構成される電圧・電流変換回路であって
もよい。
(発明の効果) 以上の説明から明らかなように、本発明によれば、次の
ような効果を生じさせることができる。
(1)加速度検出回路を構成する部品の劣化を、通常の
加速度状態で検出できる。したがって、車載のエアバッ
グを作動させる判断基準を得るために使用されるような
、高い安全性が要求される加速度センサの信頼性を向上
させることができる。
(2)加速度センサの故障診断を行えると共に、加速度
検出レンジの拡大がはかれる。
(3)故障診断機能を有していて、しかも加速度センサ
の寸法は小形のまま維持できる。
【図面の簡単な説明】
第1図,第2図は本発明の実施例を示すブロック図、第
3図は加速度センサの斜視図、第4図,第5図,第6図
は本発明の実施例における要部回路図、第7図は検出板
を共用した加速度センサの例を示す斜視図である。 24・・・基準周波数設定部、 ンサ、31・・・第2記憶部

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)加速度の大きさに応じて出力される周波数信号に
    基づいて加速度を検出する加速度センサの故障診断装置
    において、 2つの加速度センサと、 一方のセンサの出力周波数と、他方のセンサの出力周波
    数との差を検出する手段と、 前記出力周波数の差が予定値以上になった場合に故障検
    出信号を出力する手段とを具備したことを特徴とする加
    速度センサの故障診断装置。
  2. (2)加速度の大きさに応じて出力される周波数信号に
    基づいて加速度を検出する加速度センサの故障診断装置
    において、 2つの加速度センサと、 前記2つのセンサを交互に加速度検出状態および加速度
    を検知しない基準状態に切換えるモード切換手段と、 前記基準状態で、基準周波数信号に対する各センサの出
    力周波数の偏差を検出する手段と、一方のセンサによる
    加速度検出状態時の出力周波数と、この加速度検出状態
    に引続く他方のセンサによる加速度検出状態時の出力周
    波数との差を検出する手段と、 前記加速度検出状態時における2つのセンサの出力周波
    数の差、および前記基準周波数信号に対する偏差の少な
    くとも一方が予定値以上になった場合に故障検出信号を
    出力する手段とを具備したことを特徴とする加速度セン
    サの故障診断装置。
  3. (3)加速度の大きさに応じて出力される周波数信号に
    基づいて加速度を検出する加速度センサの故障診断装置
    において、 2つの加速度センサと、 前記2つのセンサの一方は常に加速度検出状態にし、他
    方は適当な周期で加速度を検出しない基準状態に切換え
    るモード切換手段と、 前記基準状態で、基準周波数に対するセンサの出力周波
    数の偏差を検出する手段と、 前記加速度検出状態で、前記2つのセンサ出力の互いの
    差を検出する手段と、 前記偏差または差が予定以上になった場合に故障検出信
    号を出力する手段とを具備したことを特徴とする加速度
    センサの故障診断装置。
  4. (4)前記2つの加速度センサが、加速度検出媒体であ
    る検出板を共用している加速度センサであることを特徴
    とする請求項1、2または3記載の加速度センサの故障
    診断装置。
  5. (5)前記2つの加速度センサが、その感度領域が一部
    で重複している加速度センサであることを特徴とする請
    求項1、2、3または4記載の加速度センサの故障診断
    装置。
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