JPH03238622A - Magnetic head abnormality check system for magnetic disk certifier - Google Patents

Magnetic head abnormality check system for magnetic disk certifier

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JPH03238622A
JPH03238622A JP3519090A JP3519090A JPH03238622A JP H03238622 A JPH03238622 A JP H03238622A JP 3519090 A JP3519090 A JP 3519090A JP 3519090 A JP3519090 A JP 3519090A JP H03238622 A JPH03238622 A JP H03238622A
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magnetic head
magnetic
inspection
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certifier
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Hiroshi Tanabe
田部 博
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Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To enable the treatment of a magnetic head to execute before the finish of medium inspection by connecting a read-out circuit successively to a common check circuit, and calculating the mean value of test signal voltage of every four tracks for each magnetic head, and suspending the medium inspection when the mean value is out of a reference range. CONSTITUTION:A switch 6 is connected to the read-out circuits 3c of four pieces of the magnetic heads 2a of a certifier, and the common head abnormality check circuit 7 to check the abnormal state of each magnetic head 2a is provided. Each read-out circuit 3c is connected successively to the checking circuit 7 by switching the switch 6 for every seeking of each magnetic head 2a by the control and the processing of a microprocessor 4, and the mean value of the test signal voltage read out by each magnetic head 2a is calculated successively in parallel with the detection of the defect of the recording medium of each area. Thus, if the magnetic head is in an abnormal state according to checking, the medium inspection is suspended, and the abnormal state can be restored immediately by executing the treatment such as the exchanging of the magnetic head and the like.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ この発明は、磁気ディスクサーテイファイヤに使用され
ている検査用の磁気ヘッドの異常をチェックする方式に
関し、詳しくは、磁気ディスクの媒体検査と並行して磁
気ヘッドの異常状態をチェックする方式である。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Field of Application] The present invention relates to a method for checking abnormalities in a magnetic head for inspection used in a magnetic disk certifier, and more particularly, to a method for checking the abnormality of a magnetic head for inspection used in a magnetic disk certifier. This is a method of checking the abnormal state of the magnetic head in parallel.

[従来の技術] 情報の記録媒体として多用されているハード磁気ディス
クは、生産工程において記録媒体の品質が磁気ディスク
サーテイファイヤにより検査される。検査においては適
当な周波数のテスト信号が書き込まれ、これを読み出し
て各種の項目について検査が行われる。検査はディスク
に設けられる多数の各トランクごとに行われてかなりの
長時間を必要とするので、これを短縮して検査効率を向
上するために、エリア2分割両面並列検査方式が行われ
ている。
[Prior Art] The quality of hard magnetic disks, which are frequently used as information recording media, is inspected by a magnetic disk certifier during the production process. During inspection, a test signal of an appropriate frequency is written and read out to perform inspection on various items. Inspection is performed for each of the many trunks provided on the disk, and requires a considerable amount of time. In order to shorten this time and improve inspection efficiency, a two-area, double-sided parallel inspection method is used. .

第2図(a)〜(d)は、エリア2分割両面並列検査方
式による磁気ディスクサーテイファイヤの概要と検査シ
ーケンスを示す。図(a)、(b)において、磁気ディ
スク1の記録媒体の範囲は外周エリア1aと内周エリア
1bに2分割され、各エリアの表面および裏面に対して
それぞれ磁気ヘッド部2−I。
FIGS. 2(a) to 2(d) show an outline and testing sequence of a magnetic disk certifier using a two-area, double-sided parallel testing method. In Figures (a) and (b), the range of the recording medium of the magnetic disk 1 is divided into an outer peripheral area 1a and an inner peripheral area 1b, and a magnetic head section 2-I is provided for the front and back surfaces of each area, respectively.

2−2が設けられる。磁気ヘッド部2−1の2個の磁気
ヘッド(HDAt 、A2 )2a−1はキャリッジ機
構2b−1により、また磁気ヘッド部2−2の2個の磁
気へ、ド(HDBl、B2 )2a−2はキャリソン機
構2b−2により、それぞれ外周エリア1aおよび内周
エリア1bの両面のトラックをシークする。図(C)に
おいて、各磁気ヘッドに対してA M P 3 aとデ
ィスク欠陥検出回路3bよりなる同一の検査部3が4組
設けられ、マイクロプロセッサ4の制御により磁気ディ
スク1を回転して各エリアのトラックがシークされ、コ
ントローラ5の制御により、これらに対するテスト信号
の古き込み/読み出しが並列に行われる。図(d)は媒
体検査のシーケンスを示すもので、別途にえられる磁気
ディスクの回転角度の基準点を示すインデックスIND
EX)信号により、磁気ディスクの1回転ごとに、まず
各エリアの両面のトラックがシークされ、各欠陥検出回
路3bにより各トラックに対してテスト信号が書き込ま
れる。ついで欠陥検出回路3bにより各種の項目が検査
される。図示の平均値電圧測定においてはテスト信号の
波高値を検出してその平均値をマイクロプロセッサ4に
より算出する。この平均値を基準として符号のミッシン
グ(Mis)エラーテスト、および波高値のモジュレー
ション(MOD)テストが行われ、これらが終了すると
テスト信号が消去され、さらに続いて符号の湧き出しく
EXT)エラーがテストされる。以上により1トラツク
の検査はディスクの5回転で終了し、次のトラックが順
次にシークされ、上記のシーケンスが繰り返されてすべ
てのトラックが検査される。
2-2 is provided. The two magnetic heads (HDAt, A2) 2a-1 of the magnetic head unit 2-1 are connected to the two magnetic heads (HDAt, B2) 2a-1 of the magnetic head unit 2-2 by the carriage mechanism 2b-1. 2 seeks tracks on both sides of the outer peripheral area 1a and the inner peripheral area 1b, respectively, by the calison mechanism 2b-2. In Figure (C), four sets of the same inspection section 3 consisting of an AMP 3a and a disk defect detection circuit 3b are provided for each magnetic head, and each magnetic disk 1 is rotated under the control of a microprocessor 4. Tracks in the area are sought, and under the control of the controller 5, test signals are read out and read out in parallel for these tracks. Figure (d) shows the sequence of medium inspection, and the index IND indicating the reference point of the rotation angle of the magnetic disk is obtained separately.
EX) signal, each time the magnetic disk rotates, tracks on both sides of each area are first sought, and each defect detection circuit 3b writes a test signal to each track. Various items are then inspected by the defect detection circuit 3b. In the illustrated average voltage measurement, the peak value of the test signal is detected and the average value thereof is calculated by the microprocessor 4. A code missing (Mis) error test and a peak value modulation (MOD) test are performed using this average value as a reference, and when these are completed, the test signal is erased, and then the code error is tested. be done. As described above, the inspection of one track is completed after five revolutions of the disk, and the next track is sequentially sought, and the above sequence is repeated to inspect all the tracks.

[解決しようとする課題] さて、上記の媒体検査においては当然、磁気ヘッド自体
の機能、性能に異常がなく、これが所定の高さに浮上し
た状態で動作することが前提である。これに対して従来
の検査方式においては、各エリアに対して適当な1トラ
ツクづつをJ定L、上記の平均値電圧測定を行って、こ
れが一定の基慴範囲内にあるとき良好とし、それ以外の
ときは磁気ヘッドの動作状態を異常とする方法が行われ
ている。しかしなから、トランク数は非常に多数あって
各エリアに1トラツクづつではチェックの効果が期待で
きない。また異常状態は検査終了後、検査データにより
はじめて発見されるもので、上記したエリア2分割両面
間時検査方式によっても検査にはかなりの長時間かかか
るので、この発見は手遅れで検査データが無駄となるば
かりでなく、検査効率が低ドする欠点かあった。一方、
最近においては小型軽量な薄膜ヘッドが使用されており
、エア70−により磁気ディスクの表面より極めて微小
な高さに浮−ヒして動作するので、検査中に異常状態か
しばしば発生する。そこで動作状態を絶えずチェックし
、異常の場合は検査を中正して即刻異常を口重すること
か必要である。
[Problem to be Solved] In the above-mentioned medium inspection, it is of course assumed that there is no abnormality in the function or performance of the magnetic head itself, and that it operates while floating at a predetermined height. On the other hand, in the conventional inspection method, J constant L is measured for each area, and the above average value voltage is measured, and if this is within a certain standard range, it is judged as good. In other cases, a method is used in which the operating state of the magnetic head is made abnormal. However, since there are so many trunks, checking one track per area cannot be expected to be effective. In addition, abnormal conditions are only discovered from the inspection data after the inspection is completed, and even with the above-mentioned two-area, double-sided inspection method, inspection takes a considerable amount of time, so this discovery is too late and the inspection data is wasted. Not only that, but also the inspection efficiency was low. on the other hand,
Recently, small and lightweight thin film heads have been used, which operate by floating at an extremely small height above the surface of the magnetic disk using air 70, and therefore abnormal conditions often occur during inspection. Therefore, it is necessary to constantly check the operating status and, if an abnormality occurs, to interrupt the inspection and immediately correct the abnormality.

この発明は以上に鑑みてなされたもので、磁気ディスク
サーテイファイヤによる媒体検査中に、磁気ヘッドの動
作状態を絶えずチェックし、異常の場合は直ちに検査を
中止する方式を提供することを目的とするものである。
The present invention has been made in view of the above, and an object of the present invention is to provide a method for constantly checking the operational status of a magnetic head during a medium inspection using a magnetic disk certifier, and immediately stopping the inspection in the event of an abnormality. It is something to do.

[課題を解決するための手段] この発明は、エリア2分割両面並列方式により磁気ディ
スクの記録媒体を検査するサーテイファイヤにおける磁
気ヘッドの異常チェック方式である。サーテイファイヤ
の4個の磁気ヘッドの読み出し回路に対してスイッチを
接続し、各磁気ヘッドの異常状態をチェックする共通の
チェック回路を設ける。マイクロプロセッサの制御と処
理により、各磁気ヘッドのシークごとにスイッチを切り
替えて各読み出し回路をチェック回路に順次に接続し、
各エリアの記録媒体に対する欠陥検出と並行して、各磁
気ヘッドにより読み出されたテスト信号電圧の平均値を
順次に算出する。この平均値が基準範囲内にあるとき磁
気ヘッドが正常であるとし、基準範囲外のとき異常状態
として媒体検査を中止するものである。
[Means for Solving the Problems] The present invention is a method for checking an abnormality of a magnetic head in a certifier that tests a recording medium of a magnetic disk using a two-area double-sided parallel method. A switch is connected to the readout circuits of the four magnetic heads of the certifier, and a common check circuit is provided to check the abnormal state of each magnetic head. Under the control and processing of a microprocessor, each readout circuit is sequentially connected to a check circuit by switching a switch for each seek of each magnetic head.
In parallel with defect detection for the recording medium in each area, the average value of the test signal voltages read by each magnetic head is sequentially calculated. When this average value is within the reference range, the magnetic head is determined to be normal, and when it is outside the reference range, it is determined that the magnetic head is in an abnormal state and the medium inspection is stopped.

[作用] 以上の磁気ヘッドの異常状態チエ、夕方式においては、
エリア2分割両面並列方式のサーテイファイヤによる媒
体検査と並行して、磁気ヘッドの7−りごとに、マイク
ロプロセッサによりスイッチが切り替えられて読み出し
回路が順次に共通のチェック回路に接続され、各磁気ヘ
ッドに対して4トラツクごとにテスト信号電圧の平均値
が算出される。これが基準範囲内のときは磁気ヘッドは
正常とされ、基準範囲外のときは磁気ヘッドが異常状態
にあるとされて媒体検査が中止される。この中正により
媒体検査の終了を待たずに磁気ヘッドの取り替えなどの
措置を行うことができ、異常状態が即刻回復される。な
お、磁気ヘッドのチェックのために特に時間を必要とせ
ず、媒体検査は従来と同一時間で行われるものである。
[Function] In the above abnormal state of the magnetic head, in the evening ceremony,
In parallel with the medium inspection by the two-area double-sided parallel type certifier, a switch is changed by the microprocessor and the readout circuits are sequentially connected to a common check circuit every 7 times the magnetic head is read. The average value of the test signal voltage is calculated for every four tracks for the head. When this is within the reference range, the magnetic head is determined to be normal; when it is outside the reference range, the magnetic head is determined to be in an abnormal state, and the medium inspection is stopped. This intermediate correction allows measures such as replacing the magnetic head to be taken without waiting for the completion of the medium inspection, and the abnormal state is immediately recovered. Note that no particular time is required to check the magnetic head, and the medium inspection can be performed in the same amount of time as in the past.

[実施例コ 第1図(a)は、この発明による磁気ヘッド異常チエ、
夕方式の実施例におけるブロック構成図を不し、図(b
)はこれに対するチェックシーケンスである。図(a)
においては前記した第2図(C)と同様に、4個の磁気
ヘッド(HDAI 、HDA2 。
[Embodiment FIG. 1(a) shows a magnetic head abnormality checker according to the present invention,
A block diagram of the evening style embodiment is shown in Figure (b).
) is a check sequence for this. Diagram (a)
As in FIG. 2(C) described above, there are four magnetic heads (HDAI, HDA2).

HDBI 、HDB2 )2aに対してAMP3aとデ
ィスク欠陥検出回路3bとよりなる検査部3が設けられ
る。マイクロプロセッサ4の制御により各磁気ヘッドが
各工IJ、アのトラックをfi次にシークし、それぞれ
に対してテスト信号の書き込みと読み出しが行われ、デ
ィスク欠陥検出回路3bに対してコントローラ5より制
御信号が与えられて、第2図(d)の検査シーケンスに
より媒体検査が行われる。これに対して、この発明にお
いては、スイッチ6と、各磁気ヘッド2aに共通のヘッ
ド異常チェック回路7を設け、スイッチ6を各AMP3
aの4個の読み出し回路3cに接続する。マイクロフロ
セッサ4の制御1により、磁気ヘッドのン−りごとにス
イッチを切り替えて、読み出し回路を順次にチエ・ツク
回路7に接続する。
An inspection unit 3 including an AMP 3a and a disk defect detection circuit 3b is provided for the HDBI, HDB2) 2a. Under the control of the microprocessor 4, each magnetic head seeks the fith track of each IJ and A, and test signals are written and read for each, and the disk defect detection circuit 3b is controlled by the controller 5. A signal is applied, and a medium test is performed according to the test sequence shown in FIG. 2(d). In contrast, in the present invention, the switch 6 and the head abnormality check circuit 7 common to each magnetic head 2a are provided, and the switch 6 is connected to each AMP 3.
It is connected to the four readout circuits 3c of a. Under the control 1 of the microprocessor 4, the switch is changed over each time the magnetic head is turned, and the readout circuits are sequentially connected to the check circuit 7.

第1図(b)において、4個の磁気ヘッド(HDAI、
HDA2.HDBt 、HDBz )がそれぞれのトラ
ンクを番号順(図では任意のT RNn nより)にシ
ークして各トランクに対する媒体検査(TRTST、)
が並列に行われているものとする。
In FIG. 1(b), four magnetic heads (HDAI,
HDA2. HDBt, HDBz) seeks each trunk in numerical order (from arbitrary TRNn n in the figure) and performs a medium test (TRTST, ) for each trunk.
Assume that these are performed in parallel.

これと並行して各磁気ヘッドにより読み出されたテスト
信号電圧が、シークごとに順次にチェック回路7に人力
し、その平均値がマイクロプロセッサ4により算出され
て動作状態がチェック(HDCH)される。この場合磁
気ヘッドが4個あるので、各磁気ヘッドの状態は4トラ
ンクごとに(HDCH)される。各磁気ヘッドにより読
み出されたテスト信号電圧が基準範囲内のときは、  
(HDCH)に対して“OK”が表示されている。図は
Nil (n + 1 )のトラックにおけるHDA2
の平均値が基準範囲外にある場合を示し、HbA2が異
常状態“NG”であるとし、磁気ディスクの回転を停止
Eするなどにより媒体検査が中正され、HDA2が直ち
に取り替えられることが示されている。
In parallel, the test signal voltages read by each magnetic head are sequentially input to the check circuit 7 for each seek, and the average value is calculated by the microprocessor 4 to check the operating state (HDCH). . In this case, since there are four magnetic heads, the status of each magnetic head is determined every four trunks (HDCH). When the test signal voltage read by each magnetic head is within the reference range,
“OK” is displayed for (HDCH). The figure shows HDA2 in the Nil (n + 1) track.
This indicates that the average value of HbA2 is outside the standard range, HbA2 is in an abnormal state "NG", the medium inspection is corrected by stopping the rotation of the magnetic disk, etc., and HDA2 is immediately replaced. There is.

なお、NG(異常)磁気ヘッドが検出されたときには、
その試験ディスクのテストは、最初のトラ、りから再び
テストされることになる。
Note that when an NG (abnormal) magnetic head is detected,
The test disk will be tested again starting from the first test.

[発明の効果コ 以上の説明により明らかなように、この発明による磁気
ヘッドの異常状態チェック方式においては、エリア2分
割両面並列方式のサーテイファイヤによる磁気ディスク
の媒体検査と並行して、磁気ヘッドの動作状態が4トラ
ツクごとにチェックされ、従来と同一の時間により媒体
検査がなされる。チェックにより異常状態にあるときは
媒体検査が中止され、磁気ヘッドの取り替えなどの措置
を行うことにより異常状態を即刻に回復することができ
るもので、従来の方式における検査データの無駄と検査
効率の低下が排除される効果には大きいものがある。
[Effects of the Invention] As is clear from the above explanation, in the magnetic head abnormality check method according to the present invention, the magnetic head is The operating status of the media is checked every four tracks, and the medium is inspected at the same time as in the past. If the check indicates that the medium is in an abnormal state, the medium test is stopped, and the abnormal state can be immediately recovered by taking measures such as replacing the magnetic head. The effect of eliminating the decline is significant.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図(a)および(b)は、この発明による磁気ディ
スクサーテイファイヤの磁気ヘッド異常チェック方式の
実施例におけるブロック構成図およびチェックシーケン
ス図、第2図(a)、(b)、(c)および(d)は、
エリア2分割両面間時検査方式の磁気ディスクサーテイ
ファイヤの概要図および媒体検査シーケンス図である。 1・・・磁気ディスク、   la・・・外周エリア、
1b・・・内周エリア、   2・・・磁気ヘッド部、
2a・・・磁気ヘッド、   2b・・・キャリッジ機
構、3・・・検査部、     3a・・・AMP13
b・・・ディスク欠陥検出回路、 3c・・・読み出し回路、4・・・マイクロプロセッサ
、5・・・コントローラ、   6・・・スイッチ、7
・・・ヘッド異常チェック回路。
FIGS. 1(a) and (b) are block diagrams and check sequence diagrams in an embodiment of the magnetic head abnormality check method for a magnetic disk certifier according to the present invention, and FIGS. 2(a), (b), ( c) and (d) are
FIG. 2 is a schematic diagram and a medium inspection sequence diagram of a magnetic disk certifier using a two-area, double-sided interval time inspection method. 1...Magnetic disk, la...Outer area,
1b...Inner peripheral area, 2...Magnetic head section,
2a... Magnetic head, 2b... Carriage mechanism, 3... Inspection section, 3a... AMP13
b...Disk defect detection circuit, 3c...Reading circuit, 4...Microprocessor, 5...Controller, 6...Switch, 7
...Head abnormality check circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)エリア2分割両面並列方式により磁気ディスクの
記録媒体を検査するサーティファイヤにおいて、4個の
磁気ヘッドの読み出し回路に対して接続されたスイッチ
と、該各磁気ヘッドの異常状態をチェックする共通のチ
ェック回路とを設け、マイクロプロセッサの制御と処理
により、該各磁気ヘッドのシークごとに該スイッチを切
り替えて上記読み出し回路を順次に上記チェック回路に
接続し、上記各エリアの記録媒体の欠陥検出と並行して
、上記各磁気ヘッドにより読み出された上記テスト信号
電圧の平均値を算出し、該平均値が基準範囲内にあると
き上記磁気ヘッドが正常であるとし、該基準範囲外のと
き異常状態として上記記録媒体の検査を中止することを
特徴とする、磁気ディスクサーティファイヤの磁気ヘッ
ド異常チェック方式。
(1) In a certifier that inspects magnetic disk recording media using a two-area, double-sided parallel method, switches connected to the readout circuits of four magnetic heads and a common unit that checks abnormal conditions of each magnetic head. A check circuit is provided, and under the control and processing of a microprocessor, the switch is switched every time each magnetic head seeks, and the readout circuit is sequentially connected to the check circuit, thereby detecting defects in the recording medium in each area. In parallel, the average value of the test signal voltages read by each of the magnetic heads is calculated, and when the average value is within a reference range, the magnetic head is determined to be normal, and when it is outside the reference range, the average value is determined to be normal. A magnetic head abnormality check method for a magnetic disk certifier, characterized in that testing of the recording medium is stopped when an abnormal state is detected.
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