JPH03238621A - Magnetic disk testing system for magnetic disk certifier - Google Patents

Magnetic disk testing system for magnetic disk certifier

Info

Publication number
JPH03238621A
JPH03238621A JP3518990A JP3518990A JPH03238621A JP H03238621 A JPH03238621 A JP H03238621A JP 3518990 A JP3518990 A JP 3518990A JP 3518990 A JP3518990 A JP 3518990A JP H03238621 A JPH03238621 A JP H03238621A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
area
test
magnetic disk
error detection
control circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3518990A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kiyomi Yamaguchi
山口 清美
Eishi Yuuki
結城 英詞
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Electronics Engineering Co Ltd filed Critical Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Priority to JP3518990A priority Critical patent/JPH03238621A/en
Publication of JPH03238621A publication Critical patent/JPH03238621A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Digital Magnetic Recording (AREA)
  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)

Abstract

PURPOSE:To simplify a circuit by connecting two pieces of magnetic heads for the outer circumferential area and the inner circumferential area of the halved range of a recording medium alternately to a common set of a write-in control circuit and an error detection circuit by switching them by a test controller controlled by a microprocessor. CONSTITUTION:The range of the recording medium of a magnetic disk 1 is halved into the outer circumferential area 1a and the inner circumferential area 1b, and the recording medium is inspected by seeking a track and writing in and reading out a test signal for every area by using two pieces of the magnetic heads 2a provided for each area. A set of the write-in control circuit 2e and the error detection circuit 2f common for each area is provided, and the magnetic head 2a of each area is switched to the write-in control circuit 2e and the error detection circuit 2f by the test controller 3a controlled by the microprocessor 3. Thus, the write-in control circuit and the error detection circuit having been considered to be required by two sets in the past can be saved into one set, and simultaneously, a test can be executed in the same test duration as in the past, and it can contribute to the simplification of a magnetic disk certifier.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ この発明は磁気ディスクサーテイファイヤの磁気ディス
クテスト方式に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] This invention relates to a magnetic disk test method for a magnetic disk certifier.

[従来の技術] 情報の記録媒体として多用されている磁気ディスクは、
生産工程において記録媒体の品質が磁気ディスクサーテ
イファイヤにより検査される。検査においては適当な周
波数のテスト信号が書き込まれ、これを読み出して符号
の欠落(MIS)、イ勇き出しくEXT)などのエラー
が検出され、また、テスト信号の波高値の変動(MOD
)が測定される。これらの検査はディスクに設けられる
多数の各トラックごとに行われるので、検査にはかなり
の長時間を必要とする。これに対して、検査時間を短縮
して検査効率を向上するために、ディスクの記録媒体面
を外周エリアと内周エリアに2分割し、それぞれに対し
て磁気ヘッドと必要な回路を2組設けて同時に検査する
方法が行われている。
[Prior Art] Magnetic disks, which are frequently used as information recording media, are
During the production process, the quality of the recording medium is inspected using a magnetic disk certifier. During inspection, a test signal of an appropriate frequency is written, and it is read out to detect errors such as missing codes (MIS) and EXT), and to detect fluctuations in the peak value of the test signal (MOD).
) is measured. Since these tests are performed for each of the many tracks provided on the disk, the tests require a considerable amount of time. On the other hand, in order to shorten inspection time and improve inspection efficiency, the recording medium surface of the disk is divided into two areas, an outer circumferential area and an inner circumferential area, and two sets of magnetic heads and necessary circuits are installed for each area. A method of simultaneously testing is being used.

第2図(a)、(b)および(c)は、上記の2分割方
式の磁気ディスクサーテイファイヤを説明するもので、
図(a)において、被検査の磁気ディスクlは、その記
録媒体が外周エリア1aと内周エリアibに2分割され
、各エリアに対してそれぞれ検査部2−1.2−2が設
けられる。各検査部の磁気ヘッド(HDl)2a−1お
よび(HD2 ) 2a−2−はそれぞれのキャリアジ
機横2b−1,2b−2により外周エリアlaおよび内
周エリアlbの範囲内のトラックを/−りする。各磁気
ヘッドに対して、図(b)のように、それぞれライトア
ンプ2cm1,2c2、リードアンプ2d−1,2d−
2、δき込み制御回路2 e−1+ 2 e−2、およ
びエラー検出回路2f−12f−2かそれぞれ接続され
ている。これらに対して、マイクロプロセッサ3により
制御されるテストコントローラ3aを設け、これに図后
しないインデックス検出センサよりの、ディスクの円周
の起点を示すインデックス(INDEX)信号が人力し
、各部に対して必要な制御信号か与えられて、図(c)
に示すシーケンスにより検査が行われる。図(C)にお
いて、磁気ヘッドHDl側とHD2側のシーケンスは処
理内容が同一で、かつ位相が一致したもので、両側とも
人力したINDEX信号の時点ごとに次の処理が行われ
る。まずトラックがシークされ、このトラックの1周に
対して書き込み制御回路2eによりテスト信号が書き込
まれる。
FIGS. 2(a), (b), and (c) illustrate the above-mentioned two-part type magnetic disk certifier.
In Figure (a), the recording medium of a magnetic disk 1 to be inspected is divided into two areas, an outer circumferential area 1a and an inner circumferential area ib, and a testing section 2-1, 2-2 is provided for each area. The magnetic heads (HDl) 2a-1 and (HD2) 2a-2- of each inspection section scan the tracks within the outer circumferential area la and inner circumferential area lb using their respective carrier machines lateral 2b-1 and 2b-2. - to do. For each magnetic head, write amplifiers 2cm1, 2c2, read amplifiers 2d-1, 2d-
2, δ input control circuit 2 e-1+2 e-2, and error detection circuit 2f-12f-2 are connected to each other. For these, a test controller 3a controlled by a microprocessor 3 is provided, and an index (INDEX) signal indicating the starting point of the disk circumference from an index detection sensor that does not return to the controller is manually inputted to each part. Given the necessary control signals, Figure (c)
The inspection is performed according to the sequence shown in . In the diagram (C), the sequences on the magnetic heads HDl side and HD2 side have the same processing content and the same phase, and the following processing is performed on both sides at each time of the manually input INDEX signal. First, a track is sought, and a test signal is written by the write control circuit 2e for one round of this track.

ついで、このトラックの1周に対してエラー検出回路2
fにより前記した検査項目が検査される。
Then, for one round of this track, the error detection circuit 2
The above-mentioned inspection items are inspected by f.

図のTAA/!If定においてはテスト信号の波高値を
検出してその平均値をマイクロプロセッサ3により算出
する。算出された平均値を基準としてMISエラーに対
するテスト、・およびテスト信号の波高値のMODテス
トが行われ、これらが終了すると次の1周でテスト信号
が消去されてEXTエラーがテストされる。なお、以上
の1トラックの検査はディスクの5回転で終Yし、次の
トラックか透次シークされて上記のテストシーケンスが
実行され、すべてのトラックが検査される。
Figure TAA/! In determining If, the peak value of the test signal is detected and the average value thereof is calculated by the microprocessor 3. A test for MIS errors and a MOD test for the peak value of the test signal are performed using the calculated average value as a reference, and when these are completed, the test signal is erased in the next round and an EXT error is tested. The above inspection of one track is completed after five revolutions of the disk, transparent seeking is performed to the next track, the above test sequence is executed, and all tracks are inspected.

[解決しようとする課題] 上記の検査においては、記録媒体のエリアを2分割して
行うので検査時間が短縮されることは非常に有効である
が、しかし各磁気ヘッドHDI。
[Problem to be Solved] In the above inspection, since the area of the recording medium is divided into two, it is very effective to shorten the inspection time.

HD2に対して、それぞれ2組のδき込み制御回路2 
e−1、2e−2と、エラー検出回路2f−1,2f−
2を設けられるので、回路数が増加することが欠点であ
る。そこで、これらを1組として共通使用し、装置を簡
易化することが望まれている。
Two sets of δ writing control circuits 2 are provided for each HD2.
e-1, 2e-2 and error detection circuits 2f-1, 2f-
2, the disadvantage is that the number of circuits increases. Therefore, it is desired to simplify the device by commonly using these as a set.

この発明は以上に鑑みてなされたもので、記録媒体のエ
リアを2分割する方式の磁気ディスクサーテイファイヤ
において、1組の書き込み制御回路とエラー検出回路を
共通使用して回路を簡易化する、テスト方式を提供する
ことを目的とするものである。
This invention has been made in view of the above, and it is possible to simplify the circuit by commonly using one set of a write control circuit and an error detection circuit in a magnetic disk certifier that divides the area of a recording medium into two. The purpose is to provide a test method.

「課題を解法するための1段」 この発明は、磁気ディスクの記録媒体の範囲を外周エリ
アと内周エリアに2分割し、各エリアに対して設けられ
た2個の磁気ヘッドにより、各エリアごとにトラックを
シークしてテスト信号をaき込み/読み出して記録媒体
を検査する磁気ディスクサーテイファイヤにおけるテス
ト方式であっテ、各エリアに対して共通する1組の古き
込み制御回路とエラー検出回路を設け、マイクロプロセ
、すにより制御されたテストコントローラにより、aき
込み制御回路およびエラー検出回路に対して各エリアの
磁気へノドを切り替える。また、各エリアに対するテス
ト7−ケンスの位相を互いに磁気ディスクの1回転分す
らし、磁気ディスクの1回転ごとに行われる連続したト
ラックの7−ク、テスト信号の書き込み、テスト信号の
読み出しテスト、テスト信号の消去、および消去された
トラックのエキストラエラーテストを交互に行うもので
ある。
"One step to solve the problem" This invention divides the range of a magnetic disk recording medium into two areas, an outer area and an inner area, and uses two magnetic heads provided for each area to This is a test method for magnetic disk certifiers that inspects the recording medium by seeking tracks and reading/reading test signals for each area.It uses a set of old control circuits and error detection common to each area. A circuit is provided, and a test controller controlled by a microprocessor switches the magnetic field of each area to the a write control circuit and the error detection circuit. In addition, the phases of the test blocks for each area are set by one revolution of the magnetic disk, and the tests of writing test signals, reading test signals, and writing test signals are performed on consecutive tracks for each rotation of the magnetic disk. Erasing the test signal and performing an extra error test on the erased track are performed alternately.

[作用コ 以上のテスト方式においては、記録媒体の範囲を2分割
された外周エリアと内周エリアに対する2個の磁気へノ
ドが、マイクロプロセンサにより制御すれたテストコン
トローラにより切り替えられで、共屈する1組のδき込
み制御回路とエラー検出回路に交互に接続される。各エ
リアに対するテストシーケンスの位相が磁気ディスクの
1回転分すらされて、トラックのシーク、テスト信号の
8き込み、テスト信号の読み出しテスト、テスト信号の
消去、および消去されたトラックに対するエキストラエ
ラーのテストが交互に行われる。
[Effect] In the above test method, the two magnetic nodes for the outer circumferential area and the inner circumferential area, which divide the range of the recording medium into two, are switched by a test controller controlled by a microprosensor and co-flex. They are alternately connected to one set of δ input control circuit and error detection circuit. The phase of the test sequence for each area is shifted by one revolution of the magnetic disk, and the track seek, 8-write test signal, test signal read test, test signal erase, and extra error test for erased tracks are performed. are performed alternately.

[実施例コ 第1 図(a)、(b)は、この発明による磁気ディス
クサーテイファイヤのテスト方式の実施例における、回
路構成とテストシーケンスを示す。図(a)において、
磁気ディスクの記録媒体が外周エリアと内周エリアに2
分割され、各エリアに対して磁気ヘッドHDt 、HD
2が対応して設けられ、それぞれはライトアンプ2 c
 −1+ 2 c −2およびリードアンプ2d−1,
2d−2に接続されていることは前記した第2図(b)
と同様である。これに対して1組のδき込み制御回路2
eとエラー検出回路2f。
[Embodiment 1] Figures (a) and (b) show the circuit configuration and test sequence in an embodiment of the magnetic disk certifier test method according to the present invention. In figure (a),
The recording medium of the magnetic disk is divided into two areas, one in the outer area and one in the inner area.
For each area, magnetic heads HDt, HD
2 are correspondingly provided, and each light amplifier 2 c
-1+2c-2 and lead amplifier 2d-1,
The connection to 2d-2 is shown in Figure 2(b) above.
It is similar to In contrast, one set of δ-input control circuit 2
e and error detection circuit 2f.

およびスイッチSWI  3b−1と5W23b−2を
設ける。マイクロプロセッサ3によりテストコントロー
ラ3aが制御され、これと入力したINDEX信号とに
より各スイッチsw、、SW、2が切り替えられて、各
磁気ヘッドHD l+ HD 2に対するテストシーケ
ンスが実行される。図(C)において、各テストシーケ
ンスの位相は互いに磁気ディスクの1回転分(各IND
EX信号間)ずらされている。まず外周エリアのトラッ
クがシークされ、これに対して書き込み制御回路2eよ
り出力されたテスト信号がHD、により書き込まれる。
and switches SWI 3b-1 and 5W23b-2 are provided. The test controller 3a is controlled by the microprocessor 3, and the switches sw, , SW, 2 are switched by this and the input INDEX signal, and a test sequence for each magnetic head HD1+HD2 is executed. In Figure (C), the phase of each test sequence is one rotation of the magnetic disk (each IND
EX signals) are shifted. First, a track in the outer peripheral area is sought, and a test signal outputted from the write control circuit 2e is written to the track by the HD.

ここで図中実線と点線はINDEX信号による各スイッ
チSWI 、SW2の切り替えタイミングを示し、この
切り替えにより、HDlにより読み出された外周エリア
のテスト信号がエラー検出回路2fに人力してTAA測
定(トラック1周分のピーク値の平均値の測定)、MI
SおよびMODテストがなされ、同時に内周エリアのト
ラックに対してHD2によりテスト信号が書き込まれる
。これが終rすると各スイッチが再び切り替えられ、外
周エリアのトラックのテスト信号かHDr により消去
されるとともに、内周エリアのトラックに対するTAA
測定とMISおよびMODテストが行われる。ついで各
スイッチが切り替えられ、外周エリアのトラックのEX
Tテストがなされて外周エリアのトラックのテストが1
巡する。同時に内周エリアのトラックのテスト信号か消
去され、さらに各スイッチの切り替えによりそのEXT
テストか行われてそのトラックに対するテストが1逸す
る。
Here, the solid line and dotted line in the figure indicate the switching timing of each switch SWI and SW2 by the INDEX signal. By this switching, the test signal of the outer peripheral area read by HDl is manually input to the error detection circuit 2f for TAA measurement (track Measurement of the average value of peak values for one round), MI
S and MOD tests are performed, and at the same time test signals are written to the tracks in the inner circumferential area by the HD 2. When this is finished, each switch is switched again, and the test signal for the track in the outer area or HDr is erased, and the TAA signal for the track in the inner area is erased.
Measurements and MIS and MOD tests are performed. Then each switch is changed and the EX of the track in the outer area is changed.
The T test was done and the test of the track in the outer area was 1
go around At the same time, the test signal of the track in the inner area is erased, and furthermore, by changing each switch, the EXT signal is erased.
A test is performed and one test is missed for that track.

各トラックに対してこのようなテストシーケンスが順次
に行われる。
Such a test sequence is performed for each track in turn.

[発明の効果コ 以りの説明により明らかなように、この発明によるテス
ト方式によれば、従来2組が必要とされた古き込み制御
回路とエラー検出回路か1組に節約されるとともに、従
来と同一の試験時間でテストかなされるもので、6ft
負(ディスクサーテイファイヤの簡易化に寄与する効果
には大きいものかある。
[Effects of the Invention] As is clear from the following explanation, according to the test method according to the present invention, the old control circuit and error detection circuit, which were required in the past, are reduced to one set, and the old control circuit and error detection circuit are reduced to one set. 6ft.
Negative (There are some significant effects that contribute to the simplification of the disk certifier.

4図而の而?F、な説明 第1図(a)および(b)は、この発明による磁気ディ
スクサーテイファイヤのテスト方式の実施例における、
回路構成とテストシーケンスを示す図、第2図(a)、
(b)および(c)は、磁気ディスクサーテイファイヤ
における記録媒体エリアの2分割方式と、従来の回路構
成およびテストシーケンスを示す図である。
4. What is the meaning of 4? F. Explanation FIGS. 1(a) and 1(b) show an embodiment of the magnetic disk certifier test method according to the present invention.
A diagram showing the circuit configuration and test sequence, FIG. 2(a),
(b) and (c) are diagrams showing a method of dividing a recording medium area into two in a magnetic disk certifier, a conventional circuit configuration, and a test sequence.

1・・・磁気ディスク、   la・・・外周エリア、
1b・・・内周エリア、  2・・・検査部、2a・・
・磁気へノド、   2b・・・キャリッジ機構、2C
・・・ライトアンプ、  2d・・・リードアンプ、2
e・・・書き込み制御回路、 2f・・・エラー検出回路、 3・・・マイクロプロセ、す、 3a・・・テストコントローラ、3b・・・スイッチ。
1...Magnetic disk, la...Outer area,
1b...Inner peripheral area, 2...Inspection section, 2a...
・Magnetic nod, 2b... Carriage mechanism, 2C
...Light amplifier, 2d...Read amplifier, 2
e...Write control circuit, 2f...Error detection circuit, 3...Microprocessor, 3a...Test controller, 3b...Switch.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)磁気ディスクの記録媒体の範囲を外周エリアと内
周エリアに2分割し、該各エリアに対して設けられた2
個の磁気ヘッドにより、該各エリアごとにテスト信号を
書き込み/読み出して上記記録媒体を検査する磁気ディ
スクサーティファイヤにおいて、上記各エリアに対して
共通する1組の書き込み制御回路とエラー検出回路を設
け、マイクロプロセッサにより制御されたテストコント
ローラにより、上記書き込み制御回路とエラー検出回路
に対して上記各エリアに対する磁気ヘッドを切り替え、
かつ、上記各エリアに対するテストシーケンスの位相を
互いに上記磁気ディスクの1回転分ずらして、上記磁気
ディスクの1回転ごとに順次に行われるトラックのシー
ク、上記テスト信号の書き込み、該書き込まれたテスト
信号の読み出しテスト、該テスト信号の消去、および該
消去されたトラックのエキストラエラーテストを交互に
行うことを特徴とする、磁気ディスクサーティファイヤ
の磁気ディスクテスト方式。
(1) The range of the recording medium of the magnetic disk is divided into two areas, an outer area and an inner area, and two areas are provided for each area.
In a magnetic disk certifier that tests the recording medium by writing/reading test signals in each area using two magnetic heads, a set of write control circuit and error detection circuit common to each area is provided. , a test controller controlled by a microprocessor switches the magnetic head for each area with respect to the write control circuit and error detection circuit;
and the phase of the test sequence for each area is shifted by one rotation of the magnetic disk, and track seeking is performed sequentially for each rotation of the magnetic disk, writing of the test signal, and writing of the written test signal. A magnetic disk test method for a magnetic disk certifier, characterized in that a reading test of the test signal, erasing of the test signal, and an extra error test of the erased track are performed alternately.
JP3518990A 1990-02-16 1990-02-16 Magnetic disk testing system for magnetic disk certifier Pending JPH03238621A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3518990A JPH03238621A (en) 1990-02-16 1990-02-16 Magnetic disk testing system for magnetic disk certifier

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3518990A JPH03238621A (en) 1990-02-16 1990-02-16 Magnetic disk testing system for magnetic disk certifier

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH03238621A true JPH03238621A (en) 1991-10-24

Family

ID=12434907

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3518990A Pending JPH03238621A (en) 1990-02-16 1990-02-16 Magnetic disk testing system for magnetic disk certifier

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH03238621A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5513166A (en) Optical recording and reproducing apparatus for controlling a laser driver current according to test data on the disc
RU97121497A (en) OPTICAL DISK DEVICE AND METHOD FOR REPLACING THE OPTICAL DISK
US7276900B2 (en) Magnetic characteristic inspecting apparatus and inspecting method using it
JPH10188463A (en) Disk shape storage device
JPH03238621A (en) Magnetic disk testing system for magnetic disk certifier
JP2588038B2 (en) Magnetic head abnormality check method of magnetic disk certifier
JPH056517A (en) Noise testing method for thin film head
JPS63106929A (en) Optical information recording carrier
JPH0287080A (en) Inspecting apparatus of defect of magnetic disk
JPH11312341A (en) Disk for inspection
KR100505639B1 (en) Apparatus and method for detecting the proper data of servo register
JPH03256211A (en) Deterioration deciding system for magnetic head
JPH03198236A (en) Optical disk inspection instrument
KR100716528B1 (en) Disk drive apparatus, servo control circuit, method of manufacturing recording medium, magnetic recording medium, and method of checking recording medium
JPH1064122A (en) Disk medium testing device
JP2006294132A (en) Method for evaluating overwrite of magnetic recording medium
JP2004288342A (en) Magnetic disk device and servo signal writing method
JPH1027319A (en) Method for detecting terminal asperity error of mr head and magnetic disk certifier
JPH07334933A (en) Disk storage device
JPH04362578A (en) Error checking method for head disk assembly
JPH0231182A (en) Apparatus for inspecting flaw of magnetic disk
JPH0963051A (en) Magnetic disk inspecting method and inspecting device
JPS62185201A (en) Quality inspecting method for magnetic recording medium
JPS62159067A (en) Inspection system for disk type recording medium
JPH05234042A (en) Method for measuring characteristic of magnetic head