JPH03227047A - Layout formation - Google Patents
Layout formationInfo
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- JPH03227047A JPH03227047A JP2023134A JP2313490A JPH03227047A JP H03227047 A JPH03227047 A JP H03227047A JP 2023134 A JP2023134 A JP 2023134A JP 2313490 A JP2313490 A JP 2313490A JP H03227047 A JPH03227047 A JP H03227047A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は半導体集積回路のレイアウトの入九修五 検証
などを行うレイアウト作成方法に関するものであム
従来の技術
従来のレイアウト作成方法について第4図と第5図を参
照しながら説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of Industrial Application The present invention relates to a method for creating a layout for inputting, modifying, and verifying the layout of a semiconductor integrated circuit. This will be explained with reference to FIG.
第4図に従来のレイアウト作成方法のフローチャートを
示す。まずミ ステップ41によりレイアウトを入力し
ステップ42によりそのレイアウトの検証を行う。ス
テップ43によりエラーがなければステップ45により
レイアウト作成を終了する。もしエラーがあればステッ
プ44によりレイアウトの修正を行吹 再びステップ4
2により検証を行なう。これをエラーがなくなるまで行
なう。FIG. 4 shows a flowchart of a conventional layout creation method. First, in step 41, a layout is input, and in step 42, the layout is verified. If there is no error in step 43, the layout creation is finished in step 45. If there is an error, proceed to step 44 to correct the layout. Step 4 again.
Verification is performed using 2. Do this until there are no more errors.
具体的には第5図に示すような作業になも 第5図(A
)に示すとおり、まずステップ41によりレイアウト入
力装置でレイアウト図形の入力を行う。第5図(A)に
おいてレイアウト全体21がレイアウト図形の入力可能
領域である。次に第5図(B)に示すとおりステップ4
2によりレイアウト全体21のレイアウトの検証を行い
エラー図形22を検出する。このエラー図形22は辺2
3と辺24が規則以上の間隔を持たないためにステップ
43によりエラーと判定される。そこで第5図(C)に
示すとおりステップ44によりレイアウト入力装置でエ
ラー図形22を修正し規則に適合した図形31を作成す
る。第5図(C)においてもレイアウト全体21がレイ
アウト図形の入力可能領域である。そして修正されたレ
イアウトは第5図(D)に示すとおりレイアウト全体2
1にわたってステップ42によりレイアウトの検証を行
いステップ43によりエラーと判定されなければステッ
プ45によりレイアウトの作成を終える。Specifically, the work shown in Fig. 5 (A
), first, in step 41, a layout figure is input using the layout input device. In FIG. 5A, the entire layout 21 is an area in which layout figures can be input. Next, step 4 as shown in Figure 5(B)
2, the entire layout 21 is verified and error graphics 22 are detected. This error figure 22 has side 2
3 and the side 24 do not have an interval greater than the rule, so an error is determined in step 43. Therefore, as shown in FIG. 5(C), in step 44, the error figure 22 is corrected using the layout input device to create a figure 31 that conforms to the rules. Also in FIG. 5(C), the entire layout 21 is an area in which layout figures can be input. The revised layout is the entire layout 2 as shown in Figure 5 (D).
1, the layout is verified in step 42, and if no error is determined in step 43, the layout creation is completed in step 45.
発明が解決しようとする課題
このように検出されたエラーを修正し 再び検証を行う
場合、エラーを修正した部分のみの検証ではなく、すべ
ての領域にわたって検証を行う必要があっk これはレ
イアウト修正時に エラ部分のレイアウトのみを変更し
たということが保証されておらず、その他の部分も誤っ
て変更する可能性があるためである。このた教 レイア
ウトの一部にでもエラーがあるとそのレイアウトの全領
域について検証を再度行う必要があり、扱わなければな
らないデータ量や処理時間の面で非常に効率が悪かっ九
この対策として階層化設計という考え方もある力丈
近年半導体集積回路の高集積化が進んでおり、最下層の
ブロックのレイアウトにおいてもデータ量が多く、処理
時間が長くなるという問題は同様に存在する。−大 階
層数を増やせば最下層のブロックのデータ量は減少でき
るがブロック数が多くなりデータ管理上の問題やブロッ
ク間配線が増大しチップ全体の面積に対する配線領域の
占める割合が高くなるという問題 ブロック間や階層間
での容量値の計算の複雑化などの問題がある。Problem to be Solved by the Invention When correcting errors detected in this way and performing verification again, it is necessary to perform verification over all areas, not just the part where the error was corrected. This is because it is not guaranteed that only the layout of the error part has been changed, and other parts may also be changed by mistake. If there is an error in even one part of the layout, it is necessary to re-verify the entire area of the layout, which is extremely inefficient in terms of the amount of data that must be handled and the processing time. Powerful and strong with the concept of design
In recent years, semiconductor integrated circuits have become more highly integrated, and the problem of a large amount of data and long processing time also exists in the layout of the lowest layer blocks. -Large If the number of layers is increased, the amount of data in the blocks at the bottom layer can be reduced, but the number of blocks increases, leading to data management problems and increased wiring between blocks, which increases the ratio of the wiring area to the overall chip area. There are problems such as complicate calculation of capacity values between blocks and between layers.
本発明(L レイアウト検証の効率化が図れるレイアウ
ト作成方法を提供することを目的とする。The present invention (L) An object of the present invention is to provide a layout creation method that can improve the efficiency of layout verification.
課題を解決するための手段
本発明は 集積回路のレイアウト図形の修正の暇 入力
可能な領域を規定し レイアウト検証の際には前記入力
可能な領域のみの検証を行なうものである。Means for Solving the Problems The present invention defines an area in which input can be made when modifying a layout figure of an integrated circuit, and when verifying the layout, only the area in which input is possible is verified.
作用
本発明は前記手段により、入力可能領域以外でIL、レ
イアウトが変更されていないことが保証され レイアウ
ト検証は入力可能な領域のみ行えばよいことになり検証
の効率化が図れる。Effects of the present invention By the means described above, it is guaranteed that the IL and layout have not been changed in areas other than the input-enabled area, and layout verification only needs to be performed in the input-enabled area, thereby increasing the efficiency of verification.
実施例
以下本発明の実施例について第1図〜第3図を参照しな
がら説明する。EXAMPLES Examples of the present invention will be described below with reference to FIGS. 1 to 3.
本発明のフローチャートを第1図に示す。まず、ステッ
プ1によりレイアウトを入力しステップ2によりそのレ
イアウトの検証を行う。ステップ3によりエラーがなけ
ればステップ6によりレイアウト作成を終了する。もし
エラーがあればステップ4によりレイアウトの入力可能
領域を指定してステップ5によりレイアウトの修正を行
1.X、再びステップ2により検証を行なう。本発明で
は検証は入力可能領域のみ行なう。これらをエラーがな
くなるまで行なう。な耘 レイアウトを新規に作成する
ときは入力可能領域はレイアウト全体とし検証はレイア
ウト全体について行われる。A flowchart of the present invention is shown in FIG. First, in step 1, a layout is input, and in step 2, the layout is verified. If there is no error in step 3, the layout creation is finished in step 6. If there is an error, specify the layout input area in step 4 and correct the layout in step 5. X. Verify again in step 2. In the present invention, verification is performed only in the input possible area. Repeat these steps until the error disappears. When creating a new layout, the input area is the entire layout, and verification is performed on the entire layout.
具体的な実施例について第2図と第3図を参照しながら
説明する。A specific example will be described with reference to FIGS. 2 and 3.
まず第2図(A)に示すとおり、ステップ1によりレイ
アウト入力装置でレイアウト入力を行う。First, as shown in FIG. 2(A), in step 1, a layout is input using a layout input device.
第2図(A)においてレイアウト全体21がレイアウト
図形の入力可能領域である。次に 第2図(B)に示す
とおりステップ2によりレイアウト全体21のレイアウ
トの検証を行いエラー図形22を検出する。このエラー
図形22は辺23と辺24が規則以上の間隔を持たない
ためにステ・ノブ3によりエラーと判定される。そこで
まず第2図(C)に示すとおりステップ4によりレイア
ウト入力装置のレイアウト図形の入力可能領域を領域2
5に指定する。領域25にはエラー図形がすべて含まれ
るようにしておく。すると第2図(D)に示すとおりレ
イアウト入力装置のレイアウト図形の入力可能領域25
が画面上で全画面に映し出され ステップ5により画面
内のデータ番こ対してだけ修正が可能となる。画面外の
データに対しては修正を行うことが不可能となり、画面
外のデータに変更がないことが保証される。この入力可
能領域25の座標情報はレイアウト検証2の際必要なの
でレイアウトデータにデータの一部として付は加えられ
る。次に第2図(E)に示すよう番こエラー図形22を
ステップ5によりエラー辺23と24の間隔を広げ規則
に適合した図形26を作成する。第2図(E)において
入力可能領域25がレイアウト図形の入力可能領域であ
る。そして修正されたレイアウトは第2図(F)に示す
とおり、レイアウトデータの一部として付は加えられた
レイアウト図形の入力可能領域の座標情報より、入力可
能領域25のレイアウトのみステップ2により検証を行
う。In FIG. 2(A), the entire layout 21 is an area in which layout figures can be input. Next, as shown in FIG. 2(B), in step 2, the entire layout 21 is verified and error graphics 22 are detected. This error figure 22 is determined to be an error by the steering knob 3 because the sides 23 and 24 do not have a distance greater than the rule. Therefore, first, as shown in FIG. 2(C), in step 4, the layout figure inputtable area of the layout input device is changed to area 2.
Specify 5. The area 25 is designed to include all error figures. Then, as shown in FIG. 2(D), the layout figure input possible area 25 of the layout input device
is displayed on the screen in full screen, and in step 5 it is possible to modify only the data number on the screen. It becomes impossible to modify data outside the screen, and it is guaranteed that the data outside the screen remains unchanged. Since the coordinate information of this input possible area 25 is necessary during layout verification 2, it is added to the layout data as part of the data. Next, as shown in FIG. 2(E), the error figure 22 is expanded in step 5 to form a figure 26 that complies with the rule by increasing the distance between the error sides 23 and 24. In FIG. 2(E), an input possible area 25 is an input possible area for layout figures. As shown in FIG. 2(F), the corrected layout is verified in step 2 based on the coordinate information of the inputtable area of the layout figure added as part of the layout data. conduct.
次に入力可能領域の検証は次のような方法で行う。第3
図(A)の入力可能領域25のレイアウトを検証するた
めに まず第3図(B)に示すように入力可能領域25
を拡大して検証領域31を形成する。これは入力可能領
域25の境界付近のデータを検証するためである。第3
図(C)に示すようにエラー辺23と24の間隔を広げ
ると共にエラー図形22の上辺を上方に広げて誤修正し
た図形33においてエラー32が検証される。また第3
図(D)に示すように検証領域31内には幅の狭い図形
34が検証され 第3図(E)に示すように拡大した領
域の境界上にエラー35が発生する。このエラー35は
レイアウト全体からみるとエラーではない(疑似エラー
)。そこで、第3図(F)に示すように拡大した領域を
縮小しこの縮小した領域36内にあるエラー32だけを
表示する。さらに検出されたエラー32に対してエラー
がなくなるまで修正 検証を繰り返しレイアウトを完成
する。Next, the input possible area is verified using the following method. Third
In order to verify the layout of the input possible area 25 in FIG. 3(A), first, as shown in FIG.
is enlarged to form a verification region 31. This is to verify data near the boundary of the input possible area 25. Third
As shown in Figure (C), the error 32 is verified in the incorrectly corrected figure 33 by widening the interval between the error sides 23 and 24 and expanding the upper side of the error figure 22 upward. Also the third
As shown in FIG. 3(D), a narrow figure 34 is verified within the verification area 31, and an error 35 occurs on the boundary of the enlarged area as shown in FIG. 3(E). This error 35 is not an error (pseudo error) when viewed from the layout as a whole. Therefore, as shown in FIG. 3(F), the enlarged area is reduced and only the error 32 within this reduced area 36 is displayed. Furthermore, the layout is completed by repeating correction and verification for the detected error 32 until the error disappears.
発明の効果
本発明の方法を適用することにより、 レイアウト図形
の修正の服 入力可能な領域を規定し レイアウト検証
の際には入力可能領域のみの検証を行うことが可能であ
る。入力可能領域を規定することにより入力可能領域以
外で(よ レイアウトが変更されていないことが保証さ
れ レイアウト検証は入力可能領域のみ行えばよいこと
になる。このように検証領域を減少させることにより、
検証時間の短線 被検証データのデータ量削減が図れる
。今後、LSIの大規模化が進へ レイアウト作成に要
する時間やディスク量が増大していくな力\ 検証の効
率化が図れる本方法は有効である。Effects of the Invention By applying the method of the present invention, it is possible to define an input-enabled area for modifying layout figures, and to verify only the input-enabled area during layout verification. By specifying the input possible area, it is guaranteed that the layout has not been changed outside the input possible area, and layout verification only needs to be performed in the input possible area.By reducing the verification area in this way,
Shorter verification time The amount of data to be verified can be reduced. In the future, the scale of LSI will continue to increase, and the time and disk space required to create a layout will increase. This method is effective because it improves the efficiency of verification.
第1図は本発明の実施例におけるフローチャート医 第
2図は本発明の実施例における概略説明は 第3図は本
発明の実施例における入方可能領である。
2・・・レイアウト検証手段、 4・・・久方可能領域
設定手段、 5・・・レイアウト修正手既 21・・・
レイアウト全&22・・・エラー図i 23,24・
・・エラー辺 25・・・入力可能領域 26・・・エ
ラー修正済み図形 31・・・検証範[32,35・・
・エラー、 33・・・誤修正した図形 34・・・幅
の狭い図ゑ 36・・・縮小した検証領筏FIG. 1 is a flowchart of an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a schematic explanation of an embodiment of the present invention. FIG. 3 is a flow chart of an embodiment of the present invention. 2... Layout verification means, 4... Long-term possible area setting means, 5... Layout correction already completed 21...
All layout &22...Error diagram i 23,24・
... Error side 25 ... Input possible area 26 ... Error corrected figure 31 ... Verification range [32, 35 ...
・Error, 33... Erroneously corrected figure 34... Narrow width figure 36... Reduced verification raft
Claims (1)
規定し、前記入力可能領域のレイアウトデータのみのレ
イアウト検証を行うことを特徴とするレイアウト作成方
法。1. A layout creation method, characterized in that, when modifying a layout figure of an integrated circuit, an input possible area is defined, and layout verification is performed only on layout data of the input possible area.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2023134A JPH03227047A (en) | 1990-01-31 | 1990-01-31 | Layout formation |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2023134A JPH03227047A (en) | 1990-01-31 | 1990-01-31 | Layout formation |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03227047A true JPH03227047A (en) | 1991-10-08 |
Family
ID=12102067
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2023134A Pending JPH03227047A (en) | 1990-01-31 | 1990-01-31 | Layout formation |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03227047A (en) |
-
1990
- 1990-01-31 JP JP2023134A patent/JPH03227047A/en active Pending
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