JPH03221188A - 水中のケイ酸を活性化する方法ならびに装置 - Google Patents
水中のケイ酸を活性化する方法ならびに装置Info
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- JPH03221188A JPH03221188A JP31672890A JP31672890A JPH03221188A JP H03221188 A JPH03221188 A JP H03221188A JP 31672890 A JP31672890 A JP 31672890A JP 31672890 A JP31672890 A JP 31672890A JP H03221188 A JPH03221188 A JP H03221188A
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Landscapes
- Physical Water Treatments (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技 術 沖 野
本発明は水中力ゲイ酸を活性１ヒする方法なあびに水Ｒ
埋装置に関する乙のである、 従 来 技 術 水力濃縮を併なう循環水路系、例えは冷却塔からの冷却
水をポンプ送って゛熱交換器に送り、さらに冷却塔へ循
環する諸環水路、軟水器から給水タンクそ経てポンプ送
りてｆ気ホイラーに給水するボイラー系統ライン、ある
いは水の濃縮を併なわない非循環水路系、例えば単に受
水漕から高置貯水漕に水をポンプ送りし、各階へ洪水す
る高層ヒｌし等て゛の飲料水給水ライン等て゛は、水を
送るライン内、又は熱交換器、ホｒラー、冷却塔、給水
管等の内部での錆および またはスゲールの発生か常に
問題とされ、従来これを防止するため各種の防錆剤、ス
ゲール分散刊、清缶剤等が提供されてきたが、その使用
管理か難して、ランニンクコストち大きく、また飲料水
セとては医健上の理由からも問題かあり、未ｆ薬刊使明
以外の有効な補、スケールの防止法か見出されていない
、本発明者は、近時＋Ｃ！！！Ｌ埋用に開発されてき／
′、：會階力Ｆｉｉ場７電子場装置か効果に疑問が、ｂ
ること４二鑑み、研究を続けた結東、有効ｌ水処理方性
と（て、処理水中のシリカ濃度の制御０・重要て゛ある
こと、即ち水の濃度を併をわない非循環水路系て゛Ｃ；
該水路・＼力洪給水あるいは貯水清水のシリカセ遷度を
２０〜５０ｍｇ Ｑに制御３１５、また水のｉａ縮そ併
そう水路（上記ボイラー力場合）、またに循環水路系て
′は循環水のシリカ濃度そ５０ｍ ｇＱ以上に制御した
う乙で、前記水路内あるいは虎環水路内に磁場、電子場
装置を位置させ、水に健場、電子場の作用そ及ぼせば、
確実に錆、スチールの発生を防止できることを見出し、
特許出願したく特願昭６３−２５５４９８号） 本発明は前記発明をさらに進展せヒめたちの＝あっ、ま
た冷却水等のイ虚縮管理状態そ別の視点てとらえ、より
良好な水質管理のための新規処理方法な４ひに処理装置
を提供しようとする乙のて′ある 発明が解決りようとする点 そこで、循環水あるいは水路供給水のシリカ濃度の制御
を行わずともより簡単な・方法で、水中のゲイ酸を活性
（ヒし確実往っ有効にｊｉｌｆｊりるいはスケールの発
生を防止しつる方法そらびに装置を提供することが本発
明目的の一つである。また飲料水のみならず、食品工業
、清涼飲料水その池各種分野て゛使用せられるに適した
良好で利用＠値の高い水質の水を容易に且つ有効に得る
二とのできる方性、装置を提供することも発明目的の一
つて゛ある。
埋装置に関する乙のである、 従 来 技 術 水力濃縮を併なう循環水路系、例えは冷却塔からの冷却
水をポンプ送って゛熱交換器に送り、さらに冷却塔へ循
環する諸環水路、軟水器から給水タンクそ経てポンプ送
りてｆ気ホイラーに給水するボイラー系統ライン、ある
いは水の濃縮を併なわない非循環水路系、例えば単に受
水漕から高置貯水漕に水をポンプ送りし、各階へ洪水す
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管等の内部での錆および またはスゲールの発生か常に
問題とされ、従来これを防止するため各種の防錆剤、ス
ゲール分散刊、清缶剤等が提供されてきたが、その使用
管理か難して、ランニンクコストち大きく、また飲料水
セとては医健上の理由からも問題かあり、未ｆ薬刊使明
以外の有効な補、スケールの防止法か見出されていない
、本発明者は、近時＋Ｃ！！！Ｌ埋用に開発されてき／
′、：會階力Ｆｉｉ場７電子場装置か効果に疑問が、ｂ
ること４二鑑み、研究を続けた結東、有効ｌ水処理方性
と（て、処理水中のシリカ濃度の制御０・重要て゛ある
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該水路・＼力洪給水あるいは貯水清水のシリカセ遷度を
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そう水路（上記ボイラー力場合）、またに循環水路系て
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う乙で、前記水路内あるいは虎環水路内に磁場、電子場
装置を位置させ、水に健場、電子場の作用そ及ぼせば、
確実に錆、スチールの発生を防止できることを見出し、
特許出願したく特願昭６３−２５５４９８号） 本発明は前記発明をさらに進展せヒめたちの＝あっ、ま
た冷却水等のイ虚縮管理状態そ別の視点てとらえ、より
良好な水質管理のための新規処理方法な４ひに処理装置
を提供しようとする乙のて′ある 発明が解決りようとする点 そこで、循環水あるいは水路供給水のシリカ濃度の制御
を行わずともより簡単な・方法で、水中のゲイ酸を活性
（ヒし確実往っ有効にｊｉｌｆｊりるいはスケールの発
生を防止しつる方法そらびに装置を提供することが本発
明目的の一つである。また飲料水のみならず、食品工業
、清涼飲料水その池各種分野て゛使用せられるに適した
良好で利用＠値の高い水質の水を容易に且つ有効に得る
二とのできる方性、装置を提供することも発明目的の一
つて゛ある。
問題点を解決するための手段
本発明に従えば、上記目的か、１５０−４５０’ＶＩ
Ｈ２の高周波電源に接続された１、 １．．２ｈるいは
１．、’４波長の線状アンテナにより発生せしめられる
振動磁界電界堝水路内を、０２〜２００ｍ・時の流量で
水を通過せしめることを特徴とする水中のグイ酸を活性
ｆヒする方法、および水の出入口のもらけ毛れた鋼管、
該鋼管内部に収容されているＩ、ｌ、２Ｒるいは１／４
波長線状アンテナおよび前記貞管、７′）％部（こ位置
せしめられ且つ線状アンテナに接続せられる１ ５１）
−４う０．好まｌ−＜は３００ Ｍ Ｈｚ高周波電源
からなる水中のティ酸そ活性（ヒする為に使用せられる
水処理装置により遠吠せられる、 デイ酸ζ；天然水中で単量体（モノマー）にもそるか、
時には重合ヒて二車体以上の多量体（ポリマー）と−４
，ｒ）、重き度が大となるに従いコロイド状ｆヒ仁、二
カ辷き水分子や、各種、ｙ′）無機、有機イオンと結き
あるいはこれ占を包みこみ可イ容性錯塩とそることか知
られている１本発明て゛使用せるケイ酸の活性１ヒなる
語は、水中のモノマーのゲイ酸をこの様ｆ、：作用力あ
るポリマーにすることを意味するも力て′ある。
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１．、’４波長の線状アンテナにより発生せしめられる
振動磁界電界堝水路内を、０２〜２００ｍ・時の流量で
水を通過せしめることを特徴とする水中のグイ酸を活性
ｆヒする方法、および水の出入口のもらけ毛れた鋼管、
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せしめられ且つ線状アンテナに接続せられる１ ５１）
−４う０．好まｌ−＜は３００ Ｍ Ｈｚ高周波電源
からなる水中のティ酸そ活性（ヒする為に使用せられる
水処理装置により遠吠せられる、 デイ酸ζ；天然水中で単量体（モノマー）にもそるか、
時には重合ヒて二車体以上の多量体（ポリマー）と−４
，ｒ）、重き度が大となるに従いコロイド状ｆヒ仁、二
カ辷き水分子や、各種、ｙ′）無機、有機イオンと結き
あるいはこれ占を包みこみ可イ容性錯塩とそることか知
られている１本発明て゛使用せるケイ酸の活性１ヒなる
語は、水中のモノマーのゲイ酸をこの様ｆ、：作用力あ
るポリマーにすることを意味するも力て′ある。
従来から冷却水力濃縮管理には導電率計が使用されてい
る、これは導電率の値が冷却水の濃縮の度きそ示す指標
の−ってあっ７′−η）らである、また塩素イオンの値
ら同様（こ濃縮の指標と１−て使用されていた、しかし
ζ−から実際の冷Ｍ１ネの濃縮パターン６；非常に複雑
で冷却水中の各種のイオン塩ｗＩ＊、７）溶質か有する
性質、相互作用、ｐＨ，温度等力影響下で理論的には解
明し尽されてそい微妙：Ｐ、：挙動を示す。二の様な場
合に最も合理的な科学的アプローチ拉統計７些理による
究明である、本発明者は永年の経験によりｐＨ，ａ離炭
酸、飽和指数の変ｆヒをみながら、補給水あるいは冷却
水の導電率、塩素イオン、硫酸イオン、■アルカリ度、
全硬度、グイ酸イオシ、蒸発残留物のｆヒ学分析で得ら
れるデータを冷却水データ・補給水データの濃縮倍数デ
ータに転換し、この濃縮倍数データを統計処理すること
により冷却水と循環冷却水系の管理状態が最も良好且つ
現実にそくした形でとらえ得ることを見出した。即ち上
記試験７項目の夫々の濃ｍ＠数そ求め、その平均濃縮倍
数を（Ｘ）としたとき、−１えば硫酸イオンの濃縮倍数
が（Ｘ）より高く、Ｍアルカリ度の倍数が（Ｘ＞より低
い堝き、冷却塔を通じてＳＯ２系の排カスの影響が考え
られ、また、夫りの倍数の時系列的又１ヒかｉ） Ｃａ
Ｓｏ ４ Ｌ硫酸カルシ巾ム）系又はＣａ５ｉ０２
（ティ酸カルンウム）系スチールの生成の可能性か示さ
れることとなり、これは単なる化字汁折データカ比較だ
けよりも定量的には把握り易い また各試験項目の濃縮倍数をそれぞれ導電率＼１ 、塩
素イオノ−Ｘ２．硫酸イオンーＸ３１Ｍアルカリ度−Ｉ
４．全硬度−Ｉ５．ゲイ酸イオシーＸ６．％発残留拘−
Ｘ７とし、下式により標準漏差（Ｓ）そ電力 １旦 −ｉ＝１． ２． ３． ４． ３．
６． ７まｆＳ（Ｓ Ｘ） １００により変動（
糸数（（−” ”ｏ ｌ’を求めると錆、スケールの発
生についてより的確を情報把握か可能とそる、 即ち一定の水質の水の濃縮を進めてゆくと、ある、虚縮
培数に達するまでは標準屑差値は小さいか、その濃縮倍
数をこえると急激に標準隔差直か大となり冷却水の管理
状態は＠（ヒし、スゲール、腐食、スライム障害そ招く
二ととなる２これは、例えは全硬度、ゲイ酸イオンの濃
縮倍数がＸより大きよ落ち二み、その落ちこん７′ｌ：
分たけＣａや５ｉ０２か冷却水から析出し、スチールを
形成したこととなる、そして、これは実際に熱交換器や
ボイラー（蒸気ボイラー）を開封した場合のスケール、
＃Ｘ食の所見とよく整合している。
る、これは導電率の値が冷却水の濃縮の度きそ示す指標
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ら同様（こ濃縮の指標と１−て使用されていた、しかし
ζ−から実際の冷Ｍ１ネの濃縮パターン６；非常に複雑
で冷却水中の各種のイオン塩ｗＩ＊、７）溶質か有する
性質、相互作用、ｐＨ，温度等力影響下で理論的には解
明し尽されてそい微妙：Ｐ、：挙動を示す。二の様な場
合に最も合理的な科学的アプローチ拉統計７些理による
究明である、本発明者は永年の経験によりｐＨ，ａ離炭
酸、飽和指数の変ｆヒをみながら、補給水あるいは冷却
水の導電率、塩素イオン、硫酸イオン、■アルカリ度、
全硬度、グイ酸イオシ、蒸発残留物のｆヒ学分析で得ら
れるデータを冷却水データ・補給水データの濃縮倍数デ
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により冷却水と循環冷却水系の管理状態が最も良好且つ
現実にそくした形でとらえ得ることを見出した。即ち上
記試験７項目の夫々の濃ｍ＠数そ求め、その平均濃縮倍
数を（Ｘ）としたとき、−１えば硫酸イオンの濃縮倍数
が（Ｘ）より高く、Ｍアルカリ度の倍数が（Ｘ＞より低
い堝き、冷却塔を通じてＳＯ２系の排カスの影響が考え
られ、また、夫りの倍数の時系列的又１ヒかｉ） Ｃａ
Ｓｏ ４ Ｌ硫酸カルシ巾ム）系又はＣａ５ｉ０２
（ティ酸カルンウム）系スチールの生成の可能性か示さ
れることとなり、これは単なる化字汁折データカ比較だ
けよりも定量的には把握り易い また各試験項目の濃縮倍数をそれぞれ導電率＼１ 、塩
素イオノ−Ｘ２．硫酸イオンーＸ３１Ｍアルカリ度−Ｉ
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培数に達するまでは標準屑差値は小さいか、その濃縮倍
数をこえると急激に標準隔差直か大となり冷却水の管理
状態は＠（ヒし、スゲール、腐食、スライム障害そ招く
二ととなる２これは、例えは全硬度、ゲイ酸イオンの濃
縮倍数がＸより大きよ落ち二み、その落ちこん７′ｌ：
分たけＣａや５ｉ０２か冷却水から析出し、スチールを
形成したこととなる、そして、これは実際に熱交換器や
ボイラー（蒸気ボイラー）を開封した場合のスケール、
＃Ｘ食の所見とよく整合している。
本発明者は多く実験例から、Ｓ′マく１００で表される
変動係数（ＣＶ ？６ ）か１０″３６以下のとき冷却
水の管理はベストの状態にあり、スケール。
変動係数（ＣＶ ？６ ）か１０″３６以下のとき冷却
水の管理はベストの状態にあり、スケール。
４１スライムの発生かないこと、２０９６以内であれば
許容されうろことを見出し、水質管理上の有力な基準に
なりうろことを見出した。尚通常のスチール抑制剤を用
いても、濃縮倍数が５をこえてくると、水質にもよるが
、（：、 Ｖ％を２０％以内に抑えこむことは極めて困
難であることも見出されている。
許容されうろことを見出し、水質管理上の有力な基準に
なりうろことを見出した。尚通常のスチール抑制剤を用
いても、濃縮倍数が５をこえてくると、水質にもよるが
、（：、 Ｖ％を２０％以内に抑えこむことは極めて困
難であることも見出されている。
さて錆、スチールの発生に関し、水中のゲイ酸か重要な
かかわｌ）を有することに関しては既に特願昭ｂ ３−
２５５４９８号（こ述へた通りである。即ちそカメカニ
スムは未た充汁解明されているわけて゛はむいか、天、
然水中に溶けているンリカの状態はＨ２Ｓ ｌ ０３と
考えら？Ｌイオシ１ヒ（）（Ｓ Ｉ （’） ３’ｒｐ
でいるか Ｉ’ｉｉＴらＩ））力手段により太き全エネ
ルギーを得てこれかｆヒ学的に活性（ヒされモノマー〃
）ポリマー化すると、その過程で水中の池の金属・イオ
ンと可溶性の錯塩を作り、解膠作用二安定ζ゛悲濁液を
作り、さらに金属表面に被膜を形成ヒ、結果として錆、
錆二ふ、スチールの発生を防止する効果を示すものと考
えられる。
かかわｌ）を有することに関しては既に特願昭ｂ ３−
２５５４９８号（こ述へた通りである。即ちそカメカニ
スムは未た充汁解明されているわけて゛はむいか、天、
然水中に溶けているンリカの状態はＨ２Ｓ ｌ ０３と
考えら？Ｌイオシ１ヒ（）（Ｓ Ｉ （’） ３’ｒｐ
でいるか Ｉ’ｉｉＴらＩ））力手段により太き全エネ
ルギーを得てこれかｆヒ学的に活性（ヒされモノマー〃
）ポリマー化すると、その過程で水中の池の金属・イオ
ンと可溶性の錯塩を作り、解膠作用二安定ζ゛悲濁液を
作り、さらに金属表面に被膜を形成ヒ、結果として錆、
錆二ふ、スチールの発生を防止する効果を示すものと考
えられる。
′ｔ′尾明者は、水中のケイ酸を活性ｆヒする古注につ
き種７検討を進め、極めて驚くへきことに、処理水カシ
リカＪ度を予め制御しておいてｌｉａ場電子場装置によ
り処理する方策によらず辷も、ある特定の高周波電源に
接続された線状アンテナにより与えられる振動磁界電界
場を４通せしめるだけて、ケイ酸の活性１ヒか有効（５
行な・われ、前述のＣｖｏｏを有効に２０１０以内に制
御することがて゛き、錆、スケールの発生防止か達成さ
れ、また水質改善目的の達成せられることを見出し、本
発明を完成させたものである。
き種７検討を進め、極めて驚くへきことに、処理水カシ
リカＪ度を予め制御しておいてｌｉａ場電子場装置によ
り処理する方策によらず辷も、ある特定の高周波電源に
接続された線状アンテナにより与えられる振動磁界電界
場を４通せしめるだけて、ケイ酸の活性１ヒか有効（５
行な・われ、前述のＣｖｏｏを有効に２０１０以内に制
御することがて゛き、錆、スケールの発生防止か達成さ
れ、また水質改善目的の達成せられることを見出し、本
発明を完成させたものである。
即ち本発明においては、披７些理水を、１５０４５０Ｍ
）Ｉ２の高周波電源に接続された１、１／２波長あるい
はｌ ／’ ４波長線状アンテナにより発生せしめられ
るシリカの固有振動数に合わせた振動磁界電界湯水路内
を通過せしめることを特徴とするものである。かかる振
動磁界電界場は、望ましくは ステンレス又は銅導線て
゛所定の長さ、即ち２３０叩あるいは５００叩及び１０
００關の線状アンテナ（１１を、鋼管内（２）に収納し
、これに約３００ＭＨ，（波長的１ｍ）の高周波電＃（
３）を接続し、電源の出力電力を０．５〜ＩＷとし、線
状アンテナ 電流を約１０ｍＡとすることにより与えら
れる 。被処理水は前記鋼管（′２Ｊにらうけられた出
入口 １４１（４’）を通じ一方向へ流される。
）Ｉ２の高周波電源に接続された１、１／２波長あるい
はｌ ／’ ４波長線状アンテナにより発生せしめられ
るシリカの固有振動数に合わせた振動磁界電界湯水路内
を通過せしめることを特徴とするものである。かかる振
動磁界電界場は、望ましくは ステンレス又は銅導線て
゛所定の長さ、即ち２３０叩あるいは５００叩及び１０
００關の線状アンテナ（１１を、鋼管内（２）に収納し
、これに約３００ＭＨ，（波長的１ｍ）の高周波電＃（
３）を接続し、電源の出力電力を０．５〜ＩＷとし、線
状アンテナ 電流を約１０ｍＡとすることにより与えら
れる 。被処理水は前記鋼管（′２Ｊにらうけられた出
入口 １４１（４’）を通じ一方向へ流される。
尚、水の誘電率（８０）や防水絶縁コート（例えばポリ
エチレン〉の誘電率（２，３＞により波長短縮率が与え
られ、実際のアンテナの長さは短くなる。
エチレン〉の誘電率（２，３＞により波長短縮率が与え
られ、実際のアンテナの長さは短くなる。
（添 １寸図第 １ 図参照 ）
彼処理水の導入流量は０．２〜２００ｒｔｉ・時の範囲
内に選択せられる５尚鋼管の直径は水の処理量、流量に
よるか通常５〜２０ｃｍ程度である、かくすることによ
り、線状アンテナから３ｍの距離に於て５００μＶ、ｍ
以下の電界強度が与えられ、有効な水処理が可能であり
、且つ電波法に抵触する二とのない最適な振動磁界電界
場か与えられる。
内に選択せられる５尚鋼管の直径は水の処理量、流量に
よるか通常５〜２０ｃｍ程度である、かくすることによ
り、線状アンテナから３ｍの距離に於て５００μＶ、ｍ
以下の電界強度が与えられ、有効な水処理が可能であり
、且つ電波法に抵触する二とのない最適な振動磁界電界
場か与えられる。
本発明方法は、水中のティ酸を活性１ヒし、既に述べた
如く、導電率、塩素イオン、硫酸イオン対アルカ９度、
全硬度、ケイ酸イオン、蒸発残留物の平均４縮倍数１標
４＠差から導かれる変動品数ＣＶ％を２０％以下に有効
にｆｉ制御することができ、各種水路系での錆、スケー
ル発生防止に極めて有効であり、飲料水、酒類、ショウ
ユその池各種食品工業の於ける用水においてら、ゲイ酸
に溶質として用水中に存在する各種の無機、有機イオン
を結合させることか出来、最適水質の水を与えることが
できる。
如く、導電率、塩素イオン、硫酸イオン対アルカ９度、
全硬度、ケイ酸イオン、蒸発残留物の平均４縮倍数１標
４＠差から導かれる変動品数ＣＶ％を２０％以下に有効
にｆｉ制御することができ、各種水路系での錆、スケー
ル発生防止に極めて有効であり、飲料水、酒類、ショウ
ユその池各種食品工業の於ける用水においてら、ゲイ酸
に溶質として用水中に存在する各種の無機、有機イオン
を結合させることか出来、最適水質の水を与えることが
できる。
本発明方法を実施する為に好ｉＬ ＜Ｗ困せられる装置
は第１図に関連し上述せる通っであるか、かかる装置は
例えは、循環冷却水系統ラインて゛は第２図に示される
如く、補給水か循環冷却水と共に冷却塔底部（５）かあ
ポンプ（６）により熱交換器（７）を経て冷却塔上部ｉ
８１へと送られ、散水せられる間に水の濃縮か行なわれ
、循環水濃度か順次高められていくので、本発明装置（
９）をこの水路のどこに設置しても良いか、好ましくは
冷却部（５）と熱交換器（７）との間に設置することに
より、熱交換器部及び水路内の錆、スチールの発生か有
効に防止せられろ。
は第１図に関連し上述せる通っであるか、かかる装置は
例えは、循環冷却水系統ラインて゛は第２図に示される
如く、補給水か循環冷却水と共に冷却塔底部（５）かあ
ポンプ（６）により熱交換器（７）を経て冷却塔上部ｉ
８１へと送られ、散水せられる間に水の濃縮か行なわれ
、循環水濃度か順次高められていくので、本発明装置（
９）をこの水路のどこに設置しても良いか、好ましくは
冷却部（５）と熱交換器（７）との間に設置することに
より、熱交換器部及び水路内の錆、スチールの発生か有
効に防止せられろ。
蒸気ボイラーの場合、第３図に示される如く軟水器αα
を通じ給水タンク（１１）へと供給された水が、同タン
ク（１１）からポンプ（１２）によりボイラー（１３）
へと送られる系において、給水タンク（１１）内の水を
処理するためポンプ（１４）により本発明装置（１５〉
を通り再びタンク（１１〉に戻るようにする二とにより
、給水管、ボイラー内のスｒ−ル、ＭＩ発生が有効に防
止せられる、本発明装置（１５）は給水タンク（１１）
とボイラー（１３＞ａ間に置ζ二とら可能である。
を通じ給水タンク（１１）へと供給された水が、同タン
ク（１１）からポンプ（１２）によりボイラー（１３）
へと送られる系において、給水タンク（１１）内の水を
処理するためポンプ（１４）により本発明装置（１５〉
を通り再びタンク（１１〉に戻るようにする二とにより
、給水管、ボイラー内のスｒ−ル、ＭＩ発生が有効に防
止せられる、本発明装置（１５）は給水タンク（１１）
とボイラー（１３＞ａ間に置ζ二とら可能である。
また高層ヒルの飲料水給水ラインにあっては、第４図に
示される如く受水漕（１６）からポンプ（１７）送りて
゛屋上など高位置に設置せられる貯水溝（１８）に供給
された水漕内の水を処理するため、ポンプ（２０）で同
水漕内の水か本発明装置（１９〉内を通り再び同水漕（
１８）へと戻されるようにし、このように処理された水
か各階の給水蛇口（２１）へと送られ、給水管内の錆、
スケールの発生防止をすることが実用的であり好ましい
。
示される如く受水漕（１６）からポンプ（１７）送りて
゛屋上など高位置に設置せられる貯水溝（１８）に供給
された水漕内の水を処理するため、ポンプ（２０）で同
水漕内の水か本発明装置（１９〉内を通り再び同水漕（
１８）へと戻されるようにし、このように処理された水
か各階の給水蛇口（２１）へと送られ、給水管内の錆、
スケールの発生防止をすることが実用的であり好ましい
。
しかしなから、本発明はこれら好ましい実施態様例に限
定せられることなく、各種食品工業、あるいは工業用水
の処理に使用可能であり、水質のそれぞれの用途に対し
て理、霊的な管理状態を現出せしめる二とが可能て゛あ
る。
定せられることなく、各種食品工業、あるいは工業用水
の処理に使用可能であり、水質のそれぞれの用途に対し
て理、霊的な管理状態を現出せしめる二とが可能て゛あ
る。
以下実施例により本発明を説明する。
実施例１及び比較ｆ！Ａｌ
添１寸図の第１図ＣＢ＞に図示されている振動磁界電界
Ｐ４発生装置（第３図の１３）（直径１０ｃｍ＋の鋼管
（２１内に、直径的３ ｍｍ 、長さ約５００ ｍｍ
、ステンレス線の１７・２波長線アンテナ（１）か収容
され、鋼管中央外側部に設けられた約３００ Ｍ ＨＺ
高周波電源（３１に接続され、鋼管（２１の両端！４１
（４°）か水の出入口となったもの）を、第３図に図示
されているようなボイラー給水系て゛軟水器（１す）を
通じ給水タンク（１１）’＼と供給された水か、ボイラ
ー（１３〉に給水せられる前に処理されるよう、給水タ
ンク（１１）に並置し、同タンク（１１）内力水をポン
プ送りでこの装置内を通過せしめた７供給水としては下
記組成の軟水を用い、また振動磁界電界場発生装置には
ＩＷの電力を出力せしめ、線状アンテナの電流を１０ｍ
Ａとし、同装置内の処理水の流量を１５ｒｒｉ／時とし
た。
Ｐ４発生装置（第３図の１３）（直径１０ｃｍ＋の鋼管
（２１内に、直径的３ ｍｍ 、長さ約５００ ｍｍ
、ステンレス線の１７・２波長線アンテナ（１）か収容
され、鋼管中央外側部に設けられた約３００ Ｍ ＨＺ
高周波電源（３１に接続され、鋼管（２１の両端！４１
（４°）か水の出入口となったもの）を、第３図に図示
されているようなボイラー給水系て゛軟水器（１す）を
通じ給水タンク（１１）’＼と供給された水か、ボイラ
ー（１３〉に給水せられる前に処理されるよう、給水タ
ンク（１１）に並置し、同タンク（１１）内力水をポン
プ送りでこの装置内を通過せしめた７供給水としては下
記組成の軟水を用い、また振動磁界電界場発生装置には
ＩＷの電力を出力せしめ、線状アンテナの電流を１０ｍ
Ａとし、同装置内の処理水の流量を１５ｒｒｉ／時とし
た。
当初１５０μＳ 、′Ｃｍて゛あった軟水の導電率が１
９６０μｓ・ｃｍとそるまて゛ボイラー給水運転を続け
、その時点で給水タンク内の水をサンプリングし分析し
た結果を第１表に示した。
９６０μｓ・ｃｍとそるまて゛ボイラー給水運転を続け
、その時点で給水タンク内の水をサンプリングし分析し
た結果を第１表に示した。
尚比較例として、実施例１と同様、阻し、振動磁界電界
場発生装置（１５）そ用いず、かわりに市販清五刑を用
い、４電率１７１０μＳ （〜ｍまでホイラー給水運転
＝Ｊけ、サンプリングＩ−た水の分析結果を同して第１
表に示した （以 下 余 白〉 Ｈ 供給軟水 ７．１／２０℃ 導電率 塩素イオン 硫酸イオン Ｍアルカリ度 Ｎａイオン ティ酸イオン 蒸発残留物 μ Ｓ 、’ ｅｌｌ ■７′１ ｍｇ／１ １１１ｇｚｌｌ Ｉ１ｇ／ｌ ■２．・ 名 ｌ１ｇ１’１ ５０ ８．５ ９ ００ ３ ４ １０ 平均濃縮培数尺 標準偏差 Ｓ 変動係数 ＣＶ％ １表 実施ｆ！Ｉ４１ 振動磁界電界場装置 １２゜０．／２４ ’Ｃ （濃縮倍数〉 １９６０１３．１） １１０１２．９） ３２１１１）） １２２０１２．２＞ ６３０１１．９） ８９０１２．０＞ ２７３０１３．０） 比較例１ 清缶剤 １１．９．＝’２０℃ （濃縮倍数） １７１０（１１，４＞ １５０（１７，７） ２．９（１，０） １１４０（１１，４） ４７０（８，９＞ ７３０（９，９） ２１１０（１０，０） １２．１８ １）、７６ １０．１）４ ４．９ ４９．０ 導電率を目安としてボイラー運転を続け、６ケ月後ボイ
ラー、配管内の錆、スチールの発生状態を調へたところ
、実施例（の場訃には殆と認むべき錆、スチールの発生
かなく、比較例１の堝きにはかなりの鋳およびスチール
か認力らｈ ｆＳ尚上記各パラメータ測定は、ＪＩＳＫ
ＯＩＯＩに４処し、ｐＨはガラス電極法、塩素イオンは
イオン電極法、硫酸イオン′はクロム酸７）り巾ム広Ｍ
アルカリ度は酸消費量法（１３，１）、Ｎａイオンはイ
オン電極法、ケイ酸イオンは全シリカ（４４，３＞、蒸
発残留物は重量法て′測定りた。
場発生装置（１５）そ用いず、かわりに市販清五刑を用
い、４電率１７１０μＳ （〜ｍまでホイラー給水運転
＝Ｊけ、サンプリングＩ−た水の分析結果を同して第１
表に示した （以 下 余 白〉 Ｈ 供給軟水 ７．１／２０℃ 導電率 塩素イオン 硫酸イオン Ｍアルカリ度 Ｎａイオン ティ酸イオン 蒸発残留物 μ Ｓ 、’ ｅｌｌ ■７′１ ｍｇ／１ １１１ｇｚｌｌ Ｉ１ｇ／ｌ ■２．・ 名 ｌ１ｇ１’１ ５０ ８．５ ９ ００ ３ ４ １０ 平均濃縮培数尺 標準偏差 Ｓ 変動係数 ＣＶ％ １表 実施ｆ！Ｉ４１ 振動磁界電界場装置 １２゜０．／２４ ’Ｃ （濃縮倍数〉 １９６０１３．１） １１０１２．９） ３２１１１）） １２２０１２．２＞ ６３０１１．９） ８９０１２．０＞ ２７３０１３．０） 比較例１ 清缶剤 １１．９．＝’２０℃ （濃縮倍数） １７１０（１１，４＞ １５０（１７，７） ２．９（１，０） １１４０（１１，４） ４７０（８，９＞ ７３０（９，９） ２１１０（１０，０） １２．１８ １）、７６ １０．１）４ ４．９ ４９．０ 導電率を目安としてボイラー運転を続け、６ケ月後ボイ
ラー、配管内の錆、スチールの発生状態を調へたところ
、実施例（の場訃には殆と認むべき錆、スチールの発生
かなく、比較例１の堝きにはかなりの鋳およびスチール
か認力らｈ ｆＳ尚上記各パラメータ測定は、ＪＩＳＫ
ＯＩＯＩに４処し、ｐＨはガラス電極法、塩素イオンは
イオン電極法、硫酸イオン′はクロム酸７）り巾ム広Ｍ
アルカリ度は酸消費量法（１３，１）、Ｎａイオンはイ
オン電極法、ケイ酸イオンは全シリカ（４４，３＞、蒸
発残留物は重量法て′測定りた。
実施例２および比較例２
実施例１で用いられたちのと同し線状アシテナによる振
動磁界電界場発生装置（出力電力ＩＷ線状アンテナ電流
１０ｍＡ、約３００ Ｍ Ｈ）を第２図の循環冷却水系
統ラインで（９）の位置、即ち熱交換器（７）と冷却塔
下部（５）の間に位置せしめた１Ｍ給水として下記組成
の工業用水を用い、導電率を目安に運転を行なった。尚
本発明装置（９）内の流量は５０ｒｔｉｙ時に設定され
た。ｆｍ方比較の為に、本免明装置を用いず、同様の運
転を並行的に実施りな、水の導電率が約８３０μｓ ７
Ｃｍ程度に達した段階で両者の循環水をサシプリン７
ヒ守折した結果を第２表に示した、 （以 下 余 白） 補給水 ｐＨ 導電率 塩素イオン 硫酸イオン Ｍアルカリ度 全硬度 ゲイ酸イオン 蒸発残留物 μ Ｓ ７／” １３ ■／ （ ｌａｇ ／”’ １ ｍｇ／ 々 ｆｆｉｇｙ＃ Ｉ１ｇ／ｌ ｌ１ｇ／ｇ ７．７／２４℃ ２０ ０ ２ １ ４ ７．６ ２ ８．１ ３１ ８ ２０ １０ ４０ ６ ８０ 平均濃縮倍数 標準偏差 変動係数 第２表 実施例２ 熱 交 換 器 冷 幾」圧ａｚｉ巴−（濃縮倍数） 比較例２ 却 循 環 水 不使用 （Ｊ＃ｉ賠数） ５ ／’ ２４ ’Ｃ ｂ ９６） ８．８） １０ 、１） ５．２１ ７、Ｏｂ ６．０５ ７４ ８．４．・２４°Ｃ ２５ ７ ３１ ５ ８０ ６ ５９（） （６，８８ ＜８．７０ （１０，９ （４，５２ ＜８．２４ （３，４２ （９，５２ ４１ １，６１ ２１，８ ７，１５ ２，６９ ３６，２ 上記の如く本発明装置を用いることにより変動係数の著
しい改善か認められた５尚本実施例の場き、空気中の排
カスの影響と管、われる硫酸イオン力濃縮培数が異常に
高く、この様セ場合変動ｆ糸数は２０ Ｇｏより幾升大
て゛あったか、錆、スゲール発生防止に対ヒかなり力効
果が認め毛れた。
動磁界電界場発生装置（出力電力ＩＷ線状アンテナ電流
１０ｍＡ、約３００ Ｍ Ｈ）を第２図の循環冷却水系
統ラインで（９）の位置、即ち熱交換器（７）と冷却塔
下部（５）の間に位置せしめた１Ｍ給水として下記組成
の工業用水を用い、導電率を目安に運転を行なった。尚
本発明装置（９）内の流量は５０ｒｔｉｙ時に設定され
た。ｆｍ方比較の為に、本免明装置を用いず、同様の運
転を並行的に実施りな、水の導電率が約８３０μｓ ７
Ｃｍ程度に達した段階で両者の循環水をサシプリン７
ヒ守折した結果を第２表に示した、 （以 下 余 白） 補給水 ｐＨ 導電率 塩素イオン 硫酸イオン Ｍアルカリ度 全硬度 ゲイ酸イオン 蒸発残留物 μ Ｓ ７／” １３ ■／ （ ｌａｇ ／”’ １ ｍｇ／ 々 ｆｆｉｇｙ＃ Ｉ１ｇ／ｌ ｌ１ｇ／ｇ ７．７／２４℃ ２０ ０ ２ １ ４ ７．６ ２ ８．１ ３１ ８ ２０ １０ ４０ ６ ８０ 平均濃縮倍数 標準偏差 変動係数 第２表 実施例２ 熱 交 換 器 冷 幾」圧ａｚｉ巴−（濃縮倍数） 比較例２ 却 循 環 水 不使用 （Ｊ＃ｉ賠数） ５ ／’ ２４ ’Ｃ ｂ ９６） ８．８） １０ 、１） ５．２１ ７、Ｏｂ ６．０５ ７４ ８．４．・２４°Ｃ ２５ ７ ３１ ５ ８０ ６ ５９（） （６，８８ ＜８．７０ （１０，９ （４，５２ ＜８．２４ （３，４２ （９，５２ ４１ １，６１ ２１，８ ７，１５ ２，６９ ３６，２ 上記の如く本発明装置を用いることにより変動係数の著
しい改善か認められた５尚本実施例の場き、空気中の排
カスの影響と管、われる硫酸イオン力濃縮培数が異常に
高く、この様セ場合変動ｆ糸数は２０ Ｇｏより幾升大
て゛あったか、錆、スゲール発生防止に対ヒかなり力効
果が認め毛れた。
同様の試験を、硫酸イオン濃度か平均値に近い通常の環
境下で実施した場合、同しような導電率を示した段階で
、本発明装置を用いた時の平均濃縮倍数は７０５．標準
＠差１１６．変動１系数は１６．４°らで、本発明効果
の著しいことが判明した。
境下で実施した場合、同しような導電率を示した段階で
、本発明装置を用いた時の平均濃縮倍数は７０５．標準
＠差１１６．変動１系数は１６．４°らで、本発明効果
の著しいことが判明した。
実施例３
第１図（Ｂ）と同様装置を同様条件（１〜Ｖ１０ｍＡ、
約３００Ｍ）Ｉ、）で自然水処理ニ使用した。尚同装置
内の流量を５Ｍ 時に設定した。
約３００Ｍ）Ｉ、）で自然水処理ニ使用した。尚同装置
内の流量を５Ｍ 時に設定した。
処理水をビンづめにし６ケ月間放置したが、濁り、腐敗
を全く示さなかった。比較の為、非処理水を同じ〈６ケ
月間ヒシづめにし放置した場合、水の腐敗、ヒン壁への
著しい１寸着物、濁りを生Ｌ
を全く示さなかった。比較の為、非処理水を同じ〈６ケ
月間ヒシづめにし放置した場合、水の腐敗、ヒン壁への
著しい１寸着物、濁りを生Ｌ
第１図は１本発明方広の実施に使用せられろ装置の断面
図で、（Ａ）は１，４波長アシテナを用いた装置、（Ｂ
）は１２波長アンテナを用いた装置（Ｃ）は１ 波長ア
ンテナを用いた装置第２図は、循環冷却水系統ライノに
本発明装置を使用した場合の水路経路図 第３図はボイラー給水系に本発明装置を使用した場合の
水路経路図。 第４図は高置水槽による飲料水供給系に本発明装置そ使
用した場合の水路経路図。 特許出願代理メ、
図で、（Ａ）は１，４波長アシテナを用いた装置、（Ｂ
）は１２波長アンテナを用いた装置（Ｃ）は１ 波長ア
ンテナを用いた装置第２図は、循環冷却水系統ライノに
本発明装置を使用した場合の水路経路図 第３図はボイラー給水系に本発明装置を使用した場合の
水路経路図。 第４図は高置水槽による飲料水供給系に本発明装置そ使
用した場合の水路経路図。 特許出願代理メ、
Claims (3)
- （１）１５０−４５０ＭＨｚ（メガヘルツ）の高周波電
源に接続された１、１／２あるいは１／４波長の線状ア
ンテナにより発生せしめられる振動磁界電界場水路内を
、０．２〜２００ｍ＾２／時の流量で水を通過せしめる
ことを特徴とする水中のケイ酸を活性化する方法 - （２）高周波電源の出力電力が０．５〜１Ｗで、線状ア
ンテナ電流が約１０ｍＡである請求項第１項記載の方法 - （３）水の出入口のもうけられた鋼管、該鋼管内部に収
容されている１、１２あるいは１４波長線状アンテナお
よび前記鋼管の外部に位置せしめられ、且つ線状アンテ
ナに接続せられる１５０−４５０ＭＨｚ高周波電源から
なる水中のケイ酸を活性化する為に使用せられる水処理
装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31672890A JPH0671588B2 (ja) | 1989-11-21 | 1990-11-20 | 水中のケイ酸を活性化する方法ならびに装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1-304482 | 1989-11-21 | ||
| JP30448289 | 1989-11-21 | ||
| JP31672890A JPH0671588B2 (ja) | 1989-11-21 | 1990-11-20 | 水中のケイ酸を活性化する方法ならびに装置 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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-
1990
- 1990-11-20 JP JP31672890A patent/JPH0671588B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5393421A (en) * | 1992-02-14 | 1995-02-28 | Nippon Zoki Pharmaceutical Co., Ltd. | Apparatus for activating silicic acid in water |
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|---|---|
| JPH0671588B2 (ja) | 1994-09-14 |
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