JPH0321866B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の分野〕 本発明は容器の側壁検査装置に関し、特に検査
装置を調整し、近接するイベントを用いて欠陥を
検出し、かつガラス壜のようなまばらな物体から
欠陥に関する重要なデータを取り出すための方法
および装置に関する。

〔従来技術の説明〕

容器の側壁を検査するために光学的走査装置を
使用することは良く知られている。多数の装置、
例えば米国特許第3708680号および同第3716136号
に開示された装置は、検査中の物体を通過しある
いはその物体に照射された光を受光して解釈する
ための手段を含む回路を有している。このような
装置は物体の可視表示あるいは比較のいずれかの
手段を組み込み、または照射された光の強さに比
例する抵抗を発生できる装置を用いている。この
ような装置の出力が視覚的なものであろうと電気
的なものであろうと、最終的にはモデルと比較さ
れ、検査中の物体が寸法および構造的に適当なも
のであるかまた傷、割れ、あるいは異物がないか
どうかを決定される。このような装置は、壜の可
動コラム、その可動コラム内の１つまたは複数の
物体を検査するための自動検査手段を提供するよ
う各々意図されている。

米国特許第3877821号明細書は、検査中の物体
を通過する光を表す振巾を持つパルスの列を発生
するよう逐次的に質問される走査アレイを持つ装
置を開示している。隣接するパルスはパルス振巾
の差を表す振巾を持つパルスを発生するよう比較
される。差パルスは検査中の物品の欠陥を表示す
るために利用することができる。米国特許第
3942001号明細書は透明な容器中の異物または割
れの存在を検出するための装置を開示している。
光のスポツトビームは容器を通つて照射され、受
容信号と比較される検査信号を発生する。受容信
号の振巾は容器に対するスポツトビームの位置に
従つて変化する。

米国特許第2798605号明細書は従来の検査回路
の典型的なものであり、検査中の物体を表示する
ために陰極線管を利用している。走査発生器のサ
ブアセンブリはモニタユニツト内に設けられた陰
極線表示管の走査素子のための垂直掃引回路およ
び水平掃引回路を提供する。走査中の壜の焦点合
せされた像を受信するためにアイコノスコープが
提供される。モニタは選ばれたカメラユニツトの
ビデオ出力を受信するために設けられ、選ばれた
カメラユニツトの偏向回路中に用いられる同じ掃
引電圧波によりその静電偏向回路中で制御され、
その結果アイコノスコープ上に焦点を結んだ画像
を再生する。

〔発明の概要及び目的〕

本発明はガラス壜のような物体の検査装置の組
立てを行いかつ検査装置の出力を表示するための
方法および装置に関するものである。検査点を表
すデイジタル化されたビデオ信号はホトダイオー
ドカメラにより発生される。デイジタル化された
ビデオ信号は、加算器およびラツチに対して発生
され、このラツチ内には前の検査点からのデイジ
タル化されたビデオ信号が記憶される。加算器か
らの現在のデイジタル信号とラツチからの以前の
デイジタル信号との間の差を表す信号は、現在の
検査点のために発生されかつ記憶されたスレツシ
ユホールドレベルと比較される。スレツシユホー
ルドレベルを超えた場合、差信号はイベント信号
として記憶される。

全体的な壜が走査された時には、記憶された情
報はビデオスクリーン上に記憶された信号を表示
するための手段に対して発生される。信号は、あ
たかも物体が一方の側を通つて切られかつ表示の
ために覆われていない（展開される）かのよう
に、検査された物体の表面の二次元的表示として
表示される。記憶された信号は各々の検出された
欠陥の位置を含み、したがつて表示手段が包装さ
れていない物体の表示に対してビデオスクリーン
上に欠陥を正しく位置決めすることを可能にす
る。このようにして装置を使用してかつスレツシ
ユホールドレベルを変えることにより、オペレー
タは特定の物体を検査するために適正なスレツシ
ユホールドレベルはどのようでなければならない
かということを決定することができる。

装置はまた検査装置の出力をモニタするために
利用することができる。ラツチがデイスエーブル
になると、スレツシユホールド信号は零にクリヤ
され、また単に１つの垂直検査スイープが物体に
対して行われる。データは次に、１つの軸線上に
信号の大きさを二次元的に表示しかつ他の軸線上
に点の位置を二次元的に表示するものとしての信
号を表示するための手段に送られる。装置をこの
ようにして使用することにより、オペレータはオ
シロスコープまたは他の外部装置を用いることな
く、カメラ信号に対する検査装置の感度を調整す
ることができる。

本発明はまた、ガラス壜のようなまばらな物体
の光学的検査から重要なデータのみを抽出するた
めの装置にも関するものである。検査点を表すデ
イジタル化されたビデオ信号はカメラおよび加算
器やラツチを含むインターフエイス回路への関連
する光源により発生され、ラツチ内には前の検査
点からのデイジタル化されたビデオ信号が記憶さ
れている。現在のデイジタル信号とラツチからの
記憶されたデイジタル信号との差を表す信号は加
算器により発生され、現在の検査点について記憶
されたスレツシユホールドレベルと比較される。
スレツシユホールドレベルを超えた場合、イベン
ト信号が発生され、インターフエイス回路内に記
憶される。

物体が走査された後、イベント信号のグループ
は欠陥が存在するかどうかを決定するために処理
される。マスタ制御ユニツト手段は、１対の制御
ユニツトをインターフエイスに交互に結合し、そ
れにより制御ユニツトの１つはイベント信号のグ
ループを受信し、一方その間に他の制御ユニツト
はイベント信号の前のグループを処理している。

本発明はさらにガラス容器の走査からデータを
抽出しかつ容器の受容可能性を確認するため物理
的な寸法および局部的な欠陥の大きさを決定する
ため、前記抽出されたデータを利用するための方
法および装置に関するものである。３個以上のホ
トダイオードからなるホトダイオードのアレイお
よび光源は容器上の点から受信した光の量を表す
信号を発生するために利用される。イベント信号
は、隣接するダイオード信号の大きさがスレツシ
ユホールドレベルを超える量だけ異なる時に発生
される。イベント信号の大きさおよび位置は検査
装置のインターフエイス中に記憶され、かつ第１
または第２の制御ユニツトのいずれかに伝送さ
れ、これらの制御ユニツトの両方は排除信号を発
生するかどうかを決定するためイベント信号に応
答する。

マスタ制御手段は第１および第２の制御ユニツ
トの１つをインターフエイスに交互に結合し、そ
れにより結合された制御ユニツトはイベント信号
をインターフエイスから受信し、一方他の制御ユ
ニツトは前の壜のイベント信号を処理することに
より排除信号を発生するかどうかを決定してい
る。この決定を行うに当たつて、垂直掃引に沿つ
た各イベントは、容器上の関連する点の間の使用
者が指定した分離を超えないことにより以前のイ
ベントにリンクすることができるかどうかを見る
ためにチエツクされる。２つまたはそれ以上のイ
ベントが互に近接している時には、ストリングが
形成される。装置は過剰なストリングの大きさを
壜の排除のための１つの基礎としてチエツクす
る。壜がストリングに基づいて排除されない場
合、ストリングはそれらがしみ（かたまり）を形
成するかどうかを見るためにチエツクされる。し
みは互に近接した多数のストリングである。しみ
による排除が行われない場合、しみを形成するイ
ベントの数が小さい欠陥のスレツシユホールドを
超えるのに十分なものであるかどうかを見るため
に最終的なチエツクが行われる。

〔実施例〕

以下、本発明を図面に示す実施例にしたがつて
さらに詳細に説明する。

ここで図面を見ると、第１図には本発明により
物体の欠陥を検出するための装置のブロツク図が
示されている。物体、例えばガラス壜（図示せ
ず）はカメラ１０により走査される。カメラ１０
はガラス壜から受光された光の量に比例する大き
さの複数の信号を発生する。本発明の好ましい実
施例においては、光源（図示せず）は検査中のガ
ラス壜を通つて光のビームをカメラ１０の中に照
射する。カメラ１０はホトダイオードのような感
光素子を３個以上含み、これらの素子は線形の列
をなして垂直方向に配列されている。256個のホ
トダイオードの線形の列は満足すべき結果を生み
出すことが判明している。ホトダイオードは照射
される光の量に比例して電圧を通過させる可変抵
抗素子である。各ホトダイオードは検査中の壜の
異なるセグメントすなわち部分を通過した光を受
光する。傷、割れ、あるいは異物が壜の中に含ま
れていたならば、壜のその部分を通過する光は部
分的に遮蔽または偏向され、対応するホトダイオ
ードは何らの欠陥も存在しない場合よりも弱い光
の強さを記憶するであろう。

カメラ１０のホトダイオードからの信号は多数
の線１２上のサンプラ１４に供給される。ホトダ
イオードの各々は逐次的な順番でサンプリングさ
れ、線１６の上に一連の画素（pixel）信号を発
生し、この信号はホトダイオードの１つの垂直方
向の逐次的な掃引に沿つて検査中の容器を通過す
る光の量を表している。サンプラ１４は当業界で
は良く知られた装置である。検査中の壜をカメラ
１０に対して回転させることにより、多数の異な
る掃引を行うことができ、各掃引は壜の異なる部
分を検査する。約375〜400回の掃引は平均的な壜
を十分にカバーしかつ精度の良い検査を保証する
であろうことが判明している。このようにして、
サンプラ１４は線１６の上に多数の画素信号の列
を発生し、この信号は全体的な壜の検査された部
分を経過する光の量を表している。

線１６上のサンプラ１４からの画素信号は検査
装置のインターフエイス１８の入力である。イン
ターフエイス１８はコンピユータの分析について
適当な方式で、例えばガラス壜のようなまばらな
物体から重要なデータを迅速に抽出する。壜が走
査される状態になつている時には、インターフエ
イス１８はその壜に関するデータを受信しかつ記
憶することができる。壜が走査できる状態になつ
ていない時には、インターフエイス１８は、新し
い壜が走査され得る状態となるまで、最後に走査
された壜に関するデータを記憶する。インターフ
エイス１８の作動は後でより詳細に説明する。

インターフエイス１８は検査中の壜の特性を表
す信号の信号群を発生するための手段である。イ
ンターフエイス１８の出力は、欠陥を持つ壜が検
出された時には排除信号を発生するための制御回
路に送られる。制御回路は第１の制御ユニツト手
段２０と第２の制御ユニツト手段２２を含んでお
り、これらの制御ユニツト手段はそれぞれ線２４
と２６を経てインターフエイス１８からの出力信
号を受け取る。第１の制御ユニツト２０と第２の
制御ユニツト２２は各々、排除信号を発生するか
どうかを決定するため検査中の壜の特性を表す信
号の群に応答する。

第１の制御ユニツト２０と第２の制御ユニツト
２２はそれぞれ線３０と３２によりマスタ制御ユ
ニツト手段すなわちプロセツサ２８に接続されて
いる。マスタプロセツサ２８はまた、多数の線３
４を経てインターフエイス１８に入力を提供し、
後でより詳細に説明するようにオペレータがある
特定の許容限界を設定することを可能にする。マ
スタプロセツサ２８は第１の制御ユニツト２０と
第２の制御ユニツト２２の１つをインターフエイ
ス１８に交互に結合し、壜の特性を表す信号の群
を受信し、一方第１の制御ユニツト２０と第２の
制御ユニツト２２の他方は、以前の壜の特性を表
す多数の信号に基づいて排除信号を発生するかど
うかを決定する。したがつて、第１の制御ユニツ
ト２０が走査されたばかりの壜に関する検査用イ
ンターフエイス１８からのデータを読んでいる間
に第２の制御ユニツト２２は以前の壜についての
排除信号を発生するかどうかを決定するため、以
前の走査に基づいて得られたデータを処理してい
る。

マスタプロセツサ２８、第１の制御ユニツト２
０および第２の制御ユニツト２２は全部マイクロ
プロセツサ、例えば従来から使用されかつ当業界
で良く知られたモトローラ（Motorola）により
製造されている6800型マイクロプロセツサである
ことができる。マスタプロセツサ２８は入力装置
３６を有し、この入力装置３６により、オペレー
タはシステムをプログラム化しかつ様々な許容公
差のパラメータを設定することができる。入力装
置３６は線３８によりマスタプロセツサ２８に接
続されている。マスタプロセツサ２８はまた線４
０により例えばビデオ表示装置のように出力装置
４２に結合され、オペレータがシステムをモニタ
あるいは校正することを許容する。別のやり方で
は、出力装置４２は欠陥を持つものと決定された
特定の壜を排除するためマスタプロセツサ２８に
より発生される排除信号に応答する手段であるこ
ともできる。マスタプロセツサ２８へのさらに他
の入力は、ゲージ４４である。ゲージ４４は壜の
走査されるべき適正な位置にある時には線４６の
上に信号を発生するために設けられている。

インターフエイス１８は、壜が適正な走査位置
にあるという信号をゲージ４４が与えている限り
データを受信することができる。例えば検査され
た壜が除去されかつ検査されていない壜が搬入さ
れた時のように、ゲージ４４がそのような信号を
発生することを停止した時には、集められた情報
はインターフエイス１８内に格納される。マスタ
プロセツサ２８はインターフエイス１８内に保持
されたデータを受信するためにユニツトの１つを
選ぶことにより第１の制御ユニツト２０と第２の
制御ユニツト２２との間の干渉を阻止する。デー
タの全部が例えば第１の制御ユニツト２０に送ら
れた時には、インターフエイス１８は、ゲージ４
４からの信号が再格納されるやいなや、次の壜に
関する新たなデータを受信することができる状態
となる。第１の制御ユニツト２０は排除信号を発
生するかどうかを決定するためにデータを処理す
る。次の壜について走査が完了しかつゲージ４４
がその信号の発生を停止した時には累積されたデ
ータはインターフエイス１８内に格納される。マ
スタプロセツサ２８は次にデータを受信するため
に第２の制御ユニツト２２を選び、一方第１の制
御ユニツト２０は元の情報の処理を継続する。こ
のようにして、制御ユニツト２０と２２の各々は
排除信号を発生するか否かを決定するため各壜に
対するデータを処理するようゲージ４４の２つの
全サイクルを有している。平行な処理パスを設け
ることにより、制御回路は検査装置の速度および
効率を向上させる。

ここで第２図を見ると、検査装置のインターフ
エイス１８の詳細のブロツク図が示されている。
インターフエイス１８はコンピユータ分析にとつ
て適当な方式で、例えばガラス壜のようなまばら
な物体から重要なデータを迅速に抽出するための
手段である。サンプラ１４は、カメラ１０により
受光された光の大きさを表すデイジタル信号ある
いはアナログ−デイジタル変換器へのアナログ信
号を発生することができる。線１６はデータラツ
チ５０および加算器５２を含むイベント検出器へ
の多数の信号を提供する。ラツチは多数の信号の
１つを格納するための手段である。図示した実施
例においては、先行する信号はラツチ５０内に格
納され、加算器５２の相補的出力に対して提供さ
れる。したがつて、加算器５２はラツチ５０中に
記憶された先行する信号の大きさと線１６の上に
存在する後続の信号の大きさとの間の差を表す信
号を発生するための手段である。加算器５２の出
力は隣接する信号の大きさの差を表す信号であ
る。差信号が加算器５２により発生されると、現
在の画素信号は次の画素信号と比較するようラツ
チ５０内に格納される。インターフエイス１８の
制御ロジツクユニツト５４はラツクネクスト画素
線８５を経て、ラツチ５０により線１６の上に得
られる現在の画素信号を格納させるための指令を
発生する。ラツチ５０の内容はクリアＬ線８７を
経てマスタプロセツサ２８から送られる命令によ
り零にクリヤすることができる。

加算器５２からの差信号は、現在およびその前
の画素信号の大きさに依存して、正または負のい
ずれであることもできる。隣接する画素信号間の
差の大きさのみが欠陥の検査に関与しているの
で、差信号の絶大的大きさを発生する手段に差信
号を供給するのが便利である。図示したように、
加算器５２からの出力はキヤリイ線８９を経て絶
対値回路５６に供給される。回路５６は当業界で
は良く知られているように、複数個の排他的OR
ゲートで構成することができる。加算器５２のキ
ヤリイ出力は絶対値回路５６を制御するので出力
は常に正である。差信号の整流はイベント検出器
４８における比較的読み取りの誤りを阻止する。

イベント検出器４８はスレツシユホールド信号
を記憶するための手段を含んでいる。好ましい実
施例においては、スレツシユホールドランダムア
クセスメモリ（RAM）５８は多数のスレツシユ
ホールド信号を記憶するために設けられている。
スレツシユホールドRAM５８内に記憶された各
スレツシユホールド信号は加算器５２により発生
される特定の画素差信号に対応している。現在の
差信号に対応するスレツシユホールドRAM５８
からの個々のスレツシユホールド信号を選ぶため
の手段はダイオードカウンタ６０である。ダイオ
ードカウンタ６０はクリアDC線９１を経て制御
ロジツク５４から送られる指令により零にクリヤ
することができ、またインクリメントDC線９３
を経て送られる指令によりインクリメントするこ
とができる。ダイオードカウンタ６０はスレツシ
ユホールドRAM５８に対して正しいスレツシユ
ホールド信号のメモリアドレスを提供する。所望
のスレツシユホールド信号はマスタプロセツサ２
８からロードデータ線９５を経てスレツシユホー
ルドRAM５８の中のローデイングすることがで
きる。ダイオードカウンタ６０の出力または内部
データバス６２にも接続されている。

スレツシユホールドRAM５８からの信号は加
算器６４の相補的入力に提供され、ここではその
信号は絶対値回路５６からの信号と結合される。
加算器６４は、絶対値回路５６から得られた差信
号がスレツシユホールドRAM５８から得られた
スレツシユホールド信号と異なる時にイベント信
号を発生するための手段である。イベント信号は
欠陥の検出を表すようイベント線９７を経て制御
ロジツク５４に対して発生され、また差信号がス
レツシユホールド信号からどれだけ異なるかどう
かを表すためマグニチユード線９９を経て内部デ
ータバスに対して発生される。

壜が走査される準備ができたということを示す
ゲージ４４からの信号を受信した時、マスタプロ
セツサ２８はゲージ線１０１を経て制御ロジツク
５４に対して信号を発生する。その信号に応答し
て、制御ロジツク５４はクリアSC線１０３を経
て掃引カウンタ６６に対して信号を発生する。こ
のようにして、掃引カウンタ６６の内容は各壜が
走査される前に零にクリアされる。掃引カウンタ
６６の出力は内部データバス６２に結合されてい
る。

掃引を始めるためには、マスタプロセツサ２８
はスタートスイープ線１０５を経て制御ロジツク
５４に信号を発生する。その信号に応答して、制
御ロジツク５４はインクリメントSC線１０７を
経て信号を発生することにより掃引カウンタ６６
をインクリメントする。制御ロジツク５４はまた
クリアDC線９１を経て信号を発生することによ
りダイオードカウンタの内容をクリアする。制御
ロジツク５４はさらにクリアEC線１０９を経て
信号を発生してイベントカウンタ６８をクリヤす
る。これらの３つの初期化機能はデータの受け取
りのためにインターフエイス１８の準備を整え
る。イベントカウンタ６８の出力は内部データバ
ス６２に出力される。イベントカウンタ６８は、
レジスタの内容がその限界を超える時にデータバ
ス６２へのオーバーフロー線１１１の上に信号を
発生する。イベントカウンタ６８は、イベント検
出器４８がイベントの起こつたことを知らせる信
号を発生させるたび毎に、インクリメントEC線
１１３を経て制御ロジツク５４によりインクリメ
ントされる。

インターフエイス１８はイベント信号を記憶す
るための手段を含んでいる。インターフエイスラ
ンダムアクセスメモリ（RAM）７０はデータバ
ス６２の上に得られる信号を読み取つて記憶する
ために設けられている。第１の制御ユニツト２０
と第２の制御ユニツト２２はそれぞれデータバス
６２および線２４と２６を経てインターフエイス
RAM７０から累積されたデータを交互に読み取
る。データは、制御ロジツク５４がライト線１１
５を経て信号を発生する時にインターフエイス
RAM７０内に記憶される。インターフエイス
RAM７０はまた、レジスタの内容がその限界を
超えた時にはデータバス６２へのオーバーフロー
線１１７の上に信号を発生する。RAMカウンタ
７２はインターフエイスRAM７０に対してメモ
リアドレスの位置を提供する。RAMカウンタ７
２はクリアRC線１１９を経て制御ロジツク５４
から送られる指令により零にクリヤすることがで
き、また、インクリメントRC線１２１を経て送
られる命令により制御ロジツク５４によりインク
リメントすることができる。

インターフエイス１８はまたデータを抽出する
ための範囲を画定するための手段を含んでいる。
図示した実施例では、窓発生器７４がその上を超
えてデータが抽出できる掃引の回数を制限するた
めに設けられている。下側の掃引限界は入力装置
３６を通じてオペレータによりマスタプロセツサ
２８に入力される。命令はローセツト線１２３を
経て低掃引比較器７６に送られる。掃引カウンタ
６６の出力はまた低掃引比較器７６への入力でも
ある。掃引カウンタ６６内の数がローセツト線１
２３を経て発生される数と等しいかあるいかその
数を超える場合、低掃引比較器７６はセツト線１
２５を経てフリツプフロツプ７８に対して信号を
発生する。フリツプフロツプ７８はイネーブル線
１２７を経て制御ロジツク５４に対して信号を発
生し、該制御ロジツクに対し入つて来るデータを
処理するよう命令する。下側の掃引限界の下方で
壜に対して行われた掃引に関するインターフエイ
ス１８により受信された信号は切期の掃引に関す
る誤つたデータが処理されることを阻止するため
に無視される。同様に、オペレータはインターフ
エイス１８がある特定数の掃引の後でデータを処
理することを停止するため、掃引の上限の値を入
力することができる。マスタプロセツサ２８はハ
イセツト線１２９を経て高掃引比較器８０に対し
て命令を送る。掃引カウンタ６６の出力はまた高
掃引比較器８０への入力でもある。掃引カウンタ
６６内の数がハイセツト線１２９を経て発生され
る数と等しいかあるいはその数を超える時には、
高掃引比較器８０はリセツト線１３１を経てフリ
ツプフロツプ７８に対して信号を発生する。フリ
ツプフロツプ７８はイネーブル線１２７を経て信
号を発生することを停止し、制御ロジツク５４が
後続のデータを全部無視するようにする。

装置を欠陥の検出のために利用するのに先立つ
て、オペレータはそのパラメータに基づいて機械
が入力装置３６を通じて作動するパラメータを入
力するであろう。パラメータは掃引の上限と下限
並びにスレツシユホールド信号の群を含んでい
る。掃引の上限および下限は、データがインター
フエイス１８により受容できる掃引の範囲である
掃引窓を画定する。スレツシユホールドRAM５
８の中にローデイングされるスレツシユホールド
信号の特定の組を選ぶことにより、オペレータは
イベントを検出させる光の偏差の受容可能な公差
を決定する。マスタプロセツサ２８は適当なデー
タをインターフエイス１８の中にローデインゲす
る。

壜が走査のために適当な位置に移動した時、ゲ
ージ４４はマスタプロセツサ２８に対して信号を
発生する。信号はゲージ線１３３に沿つて制御ロ
ジツク５４にリレーされ、該制御ロジツクは掃引
カウンタ６６およびRAMカウンタ７２の両方の
内容をクリヤするための信号を発生する。これら
の仕事は、新しい壜の検査の準備が整えられるた
び毎に行われる。インターフエイス１８は次にカ
メラ１０からのデータを受け取る準備が整えられ
る。

各掃引の始めには、マスタプロセツサ２８はス
タートスイープ線１０５を経て制御ロジツク５４
に対して信号を発生する。制御ロジツク５４はダ
イオードカウンタ６０の内容をクリヤし、イベン
トカウンタ６８の内容をクリヤし、かつ掃引カウ
ンタ６６の内容をインクリメントするために適当
な信号を発生する。これらの仕事はサンプラ１４
により行われる各掃引の始めに実行される。

入つて来る画素信号は加算器５２とラツチ５０
に送られる。ラツチ５０は以前の画素信号をその
出力に保持しており、この以前の信号は加算器５
２の相補的入力に送られる。したがつて、加算器
５２の出力は２つの隣接する画素信号の間の差を
表している。加算器５２の出力は絶対値回路５６
に送られ、この回路５６は加算器６４への入力が
常に正の信号であることを保証する。

スレツシユホールドRAM５８はプログラムさ
れた多数のスレツシユホールド信号を保持し、こ
れらの信号の各々は一対の画素を表す特定の差信
号に対応している。各画素信号はカメラ１０内の
サンプリングされたホトダイオードを表すので、
ダイオードカウンタ６０は各々の入つて来る画素
信号でインクリメントでき、スレツシユホールド
RAM５８内に記憶された適当なスレツシユホー
ルド信号のメモリアドレスを選ぶ。その特定のス
レツシユホールド信号は加算器６４の相補的入力
に送られ、加算器５２により発生された実際の差
信号と比較され、絶対値回路５６により整流され
る。加算器６４の出力は、差信号とスレツシユホ
ールド信号との間の比較を表す多数のイベント信
号である。差信号の大きさが所定の量を超えた時
には、加算器６４はイベント線９７を経て制御ロ
ジツク５４に対してイベント信号を発生する。イ
ベント信号並びにダイオードカウンタの出力の大
きさは、インターフエイスRAM７０内に記憶す
るためデータバス６２の中にゲーテイングされ
る。

窓発生器７４を使用してオペレータにより画定
された掃引窓の間にイベントが検出された時に
は、制御ロジツク５４は、イベントカウンタ６８
をインクリメントしかつRAMカウンタ７２をイ
ンクリメントする信号を発生する。制御ロジツク
５４はまたライト線１１５を経て、ダイオードカ
ウンタ６０の内容および出力加算器６４の大きさ
を読み取つて記憶するための信号をインターフエ
イスRAM７０に対して発生する。このプロセス
は掃引が完了するまで隣接する画素信号の各対に
ついて繰り返えされる。スタートスイープ線１０
５上の信号は各掃引の終わりに除去され、掃引カ
ウンタ６６およびイベントカウンタ６８の内容
が、もし１つまたはそれ以上のイベントがその特
定の掃引中に起こつたならば、インターフエイス
RAM７０の中に書き込まれるようにする。この
ようにして、イベントが検出される各掃引中にお
いては、集められたデータはダイオードの番号お
よびイベントの大きさにより表される一連のイベ
ントを含み、それに続いて、掃引の番号およびそ
の掃引中に起こつたイベントの数よりなる最終的
な１つの入力が行われる。同じ壜の次の掃引が始
まる時には、ダイオードカウンタ６０の内容は零
にクリヤされ、イベントカウンタ６８の内容は零
にクリヤされ、また掃引カウンタ６０は再びイン
クリメントされている。走査は、窓発生器７４が
掃引の上限に達した時にインターフエイス１８を
デイスエーブルにするまで継続される。

検査された壜の特性を表すインターフエイス
RAM７０内に記憶された信号の群は次にマスタ
プロセツサ２８により決定される第１の制御ユニ
ツト２０または第２の制御ユニツト２２のいずれ
かに供給される。インターフエイスRAM７０内
のデータは選ばれた制御ユニツトの中にダウンロ
ーデイングされ、その制御ユニツトがその特定の
壜について排除信号を発生するか否かを決定す
る。インターフエイス１８が異常に不良の壜のた
めにオーバーフローされないことを確保するた
め、処理が開始される以前に２つのチエツクが行
われる。これらのチエツクはイベントカウンタ６
８およびインターフエイスRAM７０上のステー
タスフラグにより表示される。いずれかのユニツ
トの内容がレジスタの容量を超える場合、それぞ
れのオーバーフロー線１１１あるいは１１７を経
て信号が発生される。いずれかのオーバーフロー
信号が存在する時には、壜は全体欠陥の故にただ
ちに排除される。

前記したように、選ばれた制御ユニツトにより
読み取られるデータの形式は一連のダイオード番
号および関連するイベントの大きさ、それに続い
て掃引の番号およびイベントの数を含んでいる。
壜のデータはインターフエイスRAM７０から特
定の制御ユニツトにダウンローデイングされる。
以前のイベントにリンクできるかどうかを見るた
め、掃引に沿つて各イベントをチエツクすること
により、制御ユニツト２０または２２はストリン
グを発生することができる。ストリングは互に近
接した１つまたはそれ以上のイベントの集まりと
して定義され、発生中に計算される４つの特性を
持つている。これらの特性は、最初のダイオード
番号であるストリングの始まり、最後のダイオー
ド番号であるストリングの終り、ストリングを構
成する各イベントの大きさの総和である各ストリ
ングの大きさ、およびストリングを形成するイベ
ントの数を含んでいる。過剰なストリングの大き
さのチエツクはストリングの形成中に行われ、ス
トリングの大きさが使用者の調整可能なスレツシ
ユホールドを超えた時には決定のプロセスは停止
されるであろう。言い換えれば、選ばれた制御ユ
ニツト２０または２２は、イベントの大きさの総
和が使用者の規定した許容公差を超えたかどうか
を決定するため１つの掃引中のイベントを一緒に
結合する。もしそうであれば、排除信号が発生さ
れ、特定の壜が除去されるであろう。

ストリングのチエツクが壜を排除しなかつたな
らば、他の１つの処理段階に入り、ここではスト
リングはそれらがしみ（かたまり）を形成するか
どうかを見るためにチエツクされる。しみは互い
に近接したストリングの集まつたものとして定義
される。ストリングダイオードの番号は、１つの
掃引についての１つのストリングの終りおよび異
なる掃引についての他の１つのストリングの始ま
りについて重ならなければならない。すなわちせ
いぜい使用者が規定した範囲内になければならな
い。しみは形成中に計算される３つの特性を有し
ている。これらの特性はしみの巾、しみの大き
さ、しみの中のイベントの数を含んでいる。しみ
の形成中において、しみの巾およびしみの大きさ
は使用者の規定した許容公差に対してチエツクさ
れ、いずれかのスレツシユホールドを超えている
場合には処理が停止される。しみの巾およびしみ
の大きさの故に壜が排除されなかつたならば、し
みの中に含まれるイベントの数は他の１つの使用
者が規定した数と比較される。イベントの数が規
定した許容公差を超える場合、壜はまた排除され
るであろう。壜が前記理由のいずれかにより排除
されなかつた場合、正常な壜と考えられ、何らの
排除信号も発生されない。

欠陥を検出するための装置はまた、検査中の物
体の画像を発生しかつ表示するためにも利用でき
る。壜は前記した通常の手続きで検査され、デー
タはインターフエイスRAM７０の中に記憶され
る。壜が完全に走査された時には、マスタプロセ
ツサ２８は第１の制御ユニツト２０または第２の
制御ユニツト２２のいずれかに対して検査用のイ
ンターフエイス１８からデータを受け取るよう命
令する。選ばれた制御ユニツト２０または２２は
受け取つた情報を処理しないが、そのデータを原
形式でマスタプロセツサ２８に送る。集められた
データはダイオードの番号、掃引の番号、インタ
ーフエイス１８により検出された各イベントにつ
いてのイベントの大きさを含んでいる。データは
次いで出力装置４２に提供され、この出力装置は
二次元のグラフモジユールおよびビデオスクリー
ンを含むことができる。グラフモジユールおよび
ビデオスクリーンは当業界では良く知られてい
る。データは各イベントの掃引番号を水平成分と
して利用しかつ各イベントのダイオード番号を垂
直成分として利用することにより二次元のグラフ
形式で表示することができる。ビデオスクリーン
はイベントが検出された各掃引およびダイオード
番号の位置における点として表示されるであろ
う。結果は検出された欠陥の全部を、あたかも壜
が一方の側を切断されかつ表示のために展開され
たかのように示す検査された壜の二次元表示であ
る。イベントの大きさは、異なるスレツシユホー
ルドレベルが持つ効果を示す新しい画像を発生す
るために変えることができる合成スレツシユホー
ルドレベルに関連して用いても良い。装置をこの
モードで使用することにより、オペレータは壜の
特定の形式について適当なスレツシユホールドレ
ベルはどのようなものであるべきかを決定する手
助けを受ける。本発明の好ましい実施例は検査中
の物体の二次元表示のみを提供するものである
が、付加的な回路を用いることにより三次元表示
をビデオスクリーン上に作り出すこともできるこ
とを認識すべきである。このような回路はまた当
業界では良く知られている。

欠陥を検出するための装置はまた、線走査カメ
ラのビデオ出力をモニタするためにも使用でき
る。このような使用により、オペレータがオシロ
スコープを使用することなく、インターフエイス
１８を校正または目盛定めすることを許容する。
装置がこのモードで作動される時には、マスタプ
ロセツサ２８はクリアＬ線８７を経て信号を発生
することにより、ラツチ５０の内容を零に継続的
にクリヤする。ラツチ５０がクリヤされると、サ
ンプラ１４からの線１６の上の複数の画素信号は
変更されていない加算器５２を通過する。マスタ
プロセツサ２８はまたスレツシユホールドRAM
５８に全部零をローデイングするためにロードデ
ータ線９５を利用している。このようにして、全
部の画素信号がイベントとして検出され、インタ
ーフエイスRAM７０の中に記憶される。インタ
ーフエイスRAM７０は寸法に制限があるので、
メモリのオーバーフローを阻止するため壜のただ
１つの掃引のみが行われる。マスタプロセツサ２
８はインターフエイスRAM７０からデータを受
け取るため第１の制御ユニツト２０または第２の
制御ユニツト２２のいずれかを選ぶ。

各イベントがインターフエイスRAM７０から
データを受け取るため第２の制御ユニツト２２の
中に記憶することができる。データはダイオード
の番号および掃引の各画素についてのイベントの
大きさを含んでいる。データは選ばれた制御ユニ
ツト２０または２２からマスタプロセツサ２８に
伝送される。マスタプロセツサ２８は情報を出力
装置４２に送り、この出力装置は再び二次元グラ
フモジユールおよびビデオスクリーンよりなるこ
とができる。グラフモジユールはダイオードの番
号を水平成分として利用し、またイベントの大き
さを垂直成分として利用することができる。この
ようにしてビデオスクリーンの上に表示されたグ
ラフは１回の掃引でホトダイオードにより受光さ
れた光の量を表している。手続きはオシロスコー
プをシユミレートするために継続的に繰り返すこ
とができる。しかしながら、オシロスコープとは
違つて、データは常に特定のダイオード番号また
はイベントの大きさに合わされているので、掃引
または利得の調整は不必要である。装置をこのモ
ードで作動することにより、オペレータはオシロ
スコープを使用する必要なく、イベントの電圧の
大きさに関する感度調整を行うことが可能とな
る。

以上、特許法の規定に従つて本発明の原理およ
び動作態様をその好ましい実施例について説明お
よび図示して来た。しかしながら、本発明はその
精神および範囲から逸脱することなく、前記した
もの以外の態様で実施することもできることを理
解すべきである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明にしたがう物体の欠陥検出装置
を示すブロツク図、第２図は第１図の欠陥検出装
置の検出装置インターフエイスのブロツク図であ
る。 １０……カメラ、１２……線、１４……サンプ
ラ、１６……線、１８……検査装置用インターフ
エイス、２０……第１の制御ユニツト、２２……
第２の制御ユニツト、２４，２６……線、２８…
…マスタプロセツサ、３０，３２，３４……線、
３６……入力装置、３８，４０……線、４２……
出力装置、４４……ゲージ、４６……線、４８…
…イベント検出器、５０……データラツチ、５２
……加算器、５４……制御ロジツク、５６……絶
対値回路、５８……スレツシユホールドランダム
アクセスメモリ（RAM）、６０……ダイオード
カウンタ、６２……内部データバス、６４……加
算器、６６……掃引カウンタ、６８……イベント
カウンタ、７０……インターフエイスランダムア
クセスメモリ（RAM）、７２……RAMカウン
タ、７４……窓発生器、７６……低掃引比較器、
７８……フリツプフロツプ、８０……高掃引比較
器。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ ガラス壜上の対応する点からの受光光度に相
   当する個々の画素信号よりなる、３個以上の画素
   信号を供給する装置によつて検査されているガラ
   ス壜の欠陥検出方法であつて、 ａ ある点の欠陥の存在を示しているガラス壜の
   該点に対応する位置に関連し、隣接する画素信
   号の大きさの差の絶対値が所定のスレツシユホ
   ールド値を超過する場合、加算器６４からイベ
   ント信号を発生する工程と、 ｂ 対応するガラス壜によつて発生されたイベン
   ト信号の全数を示す特性信号の読み得る群をラ
   ンダムアクセスメモリ７０に記憶する工程であ
   つて、各々の特性信号は対応するイベント信号
   の大きさを示す第１の信号及び該イベント信号
   が発生されるガラス壜の該点の位置を示す第２
   の信号を含んでおり、 ｃ 対応するガラス壜中の欠陥の存在を識別する
   ため、特性信号の群を制御ユニツト２０乃至２
   ２で処理する工程及び ｄ 排除し得る欠陥が識別された場合、該ガラス
   壜を放棄すべき排除信号を線４０において提供
   する工程を含むことを特徴とする前記ガラス壜
   の欠陥検出方法。 ２ 特許請求の範囲第１項記載の前記工程ｂ）は
   特性信号の各々の群に関する読み得る、大きさ加
   算信号もまたランダムアクセスメモリ７０内に記
   憶し、該大きさ加算信号は対応するガラス壜によ
   つて発生された、大きさ特性信号の和に等しく、
   且つ、特許請求の範囲第１項記載の前記工程ｃ）
   は該大きさ加算信号が所定の値を超過する場合
   に、欠陥の存在を識別することを特徴とする特許
   請求の範囲第１項記載の方法。 ３ 特許請求の範囲第１項記載の前記工程ｂ）は
   特性信号の各々の群の読み得る、イベント加算信
   号をイベントカウンタ６８に記憶し、該イベント
   加算信号は対応するガラス壜によつて発生された
   イベント信号の全数に等しく、且つ特許請求の範
   囲第１項記載の前記工程ｃ）は該イベント加算信
   号が所定の値を超過する場合に、欠陥の存在を識
   別することを特徴とする特許請求の範囲第１項記
   載の方法。 ４ 画素信号は３個以上のホトダイオードよりな
   るホトダイオード配列によつて供給され、各々の
   ホトダイオードは該画素信号の１個を供給し、且
   つ、特許請求の範囲第１項記載の前記工程ａ）は
   ホトダイオード配列に関する加算器６４における
   イベント信号のストリングを発生し、且つ、特許
   請求の範囲第１項記載の前記工程ｃ）は該ストリ
   ング中の大きさ特性信号のランダムアクセスメモ
   リ７０における合計が所定の値を超過する場合に
   欠陥の存在を識別することを特徴とする特許請求
   の範囲第１項記載の方法。 ５ 特許請求の範囲第１項記載の前記工程ａ）は
   ガラス壜に関するストリングの多数を発生し、且
   つ、特許請求の範囲第１項記載の前記工程ｃ）
   は、相互に近接のストリング間の大きさ特性信号
   のインタバス６２またはランダムアクセスメモリ
   ７０における合計が所定の値を超過する場合に、
   欠陥の存在を識別することを特徴とする特許請求
   の範囲第４項記載の方法。 ６ 特許請求の範囲第１項記載の前記工程ａ）は
   ガラス壜に関するストリングの多数を発生し、且
   つ、特許請求の範囲第１項記載の前記工程ｃ）
   は、相互に近接のストリング間の大きさ特性信号
   のインタバス６２またはランダムアクセスメモリ
   ７０における数が所定の値を超過する場合に欠陥
   の存在を識別することを特徴とする特許請求の範
   囲第４項記載の方法。 ７ ガラス壜上の対応する点からの受光光度に相
   当する個々の画素信号よりなる、３個以上の画素
   信号を供給する装置によつて検査されているガラ
   ス壜の欠陥検出方法であつて、 ａ ある点の欠陥の存在を示しているガラス壜の
   該点に対応する位置に関連し、隣接する画素信
   号の大きさの差の絶対値が所定のスレツシユホ
   ールド値を超過する場合、加算器６４からイベ
   ント信号を発生する工程と、 ｂ 対応するガラス壜によつて発生されたイベン
   ト信号の全数を示す特性信号の読み得る群をラ
   ンダムアクセスメモリ７０に記憶する工程であ
   つて、各々の特性信号は対応するイベント信号
   の大きさを示す第１の信号及び該イベント信号
   が発生されるガラス壜の該点の位置を示す第２
   の信号を含んでおり、 ｃ 対応するガラス壜中の欠陥の存在を識別する
   ため、特性信号の群を制御ユニツト２０乃至２
   ２で処理する工程及び ｄ 排除し得る欠陥が識別された場合、該ガラス
   壜を放棄すべき排除信号を線４０において提供
   する工程を含むことを特徴とする前記ガラス壜
   の欠陥検出方法において 先行するガラス壜に関する特性信号の群を、
   前記工程ｃ）が制御ユニツト２２内で処理して
   いる間、１個のガラス壜に関する特性信号の群
   を制御ユニツト２０内で読む工程を更に含む方
   法。 ８ 特許請求の範囲第７項記載の前記工程ｂ）は
   特性信号の各々の群に関する読み得る、大きさ加
   算信号もまたランダムアクセスメモリ７０内に記
   憶し、該大きさ加算信号は対応するガラス壜によ
   つて発生された、大きさ特性信号の和に等しく、
   且つ、特許請求の範囲第７項記載の前記工程ｃ）
   は該大きさ加算信号が所定の値を超過する場合
   に、欠陥の存在を識別することを特徴とする特許
   請求の範囲第７項記載の方法。 ９ 特許請求の範囲第７項記載の前記工程ｂ）は
   特性信号の各々の群の読み得る、イベント加算信
   号をイベントカウンタ６８に記憶し、該イベント
   加算信号は対応するガラス壜によつて発生された
   イベント信号の全数に等しく、且つ特許請求の範
   囲第７項記載の前記工程ｃ）は該イベント加算信
   号が所定の値を超過する場合に、欠陥の存在を識
   別することを特徴とする特許請求の範囲第７項記
   載の方法。 １０ 画素信号は３個以上のホトダイオードより
   なるホトダイオード配列によつて供給され、各々
   のホトダイオードは該画素信号の１個を供給し、
   且つ、特許請求の範囲第７項記載の前記工程ａ）
   はホトダイオード配列に関する加算器６４におけ
   るイベント信号のストリングを発生し、且つ、特
   許請求の範囲第７項記載の前記工程ｃ）は該スト
   リング中の大きさ特性信号のランダムアクセスメ
   モリ７０における合計が所定の値を超過する場合
   に欠陥の存在を識別することを特徴とする特許請
   求の範囲第７項記載の方法。 １１ 特許請求の範囲第７項記載の前記工程ａ）
   はガラス壜に関するストリングの多数を発生し、
   且つ、特許請求の範囲第７項記載の前記工程ｃ）
   は相互に近接のストリング間の大きさ特性信号の
   インタバス６２またはランダムアクセスメモリ７
   ０における合計が所定の値を超過する場合に、欠
   陥の存在を識別することを特徴とする特許請求の
   範囲第１０項記載の方法。 １２ 特許請求の範囲第７項記載の前記工程ａ）
   はガラス壜に関するストリングの多数を発生し、
   且つ、特許請求の範囲第７項記載の前記工程ｃ）
   は相互に近接のストリング間の、大きさ特性信号
   のインタバス６２またはランダムアクセスメモリ
   ７０における数が所定の値を超過する場合に欠陥
   の存在を識別することを特徴とする特許請求の範
   囲第１０項記載の方法。 １３ 引き続いて来るガラス壜の欠陥を検知し、
   且つ、ガラス壜上の対応する点からの受光光度に
   相当する個々の画素信号よりなる、３個以上の画
   素信号を供給する機構の検査装置であつて、 連続する隣接画素信号を比較し、且つ、前記比
   較が欠陥の存在を示す場合には加算器６４からイ
   ベント信号を発生してサンプラ１４の該画素から
   の信号に接続しそして対応するインターフエイス
   手段１８を含み、前記インターフエイス手段は、
   対応するガラス壜によつて発生されたイベント信
   号の全数を示す特性信号の読み得る群をイベント
   カウンタ６８に記憶し、各々の特性信号は対応す
   るイベント信号の大きさを示す第１の信号及びイ
   ベント信号が発生されたガラス壜上の点の位置を
   示す第２の信号を含み、 且つ、第１及び第２制御手段２０，２２を含
   み、線３０，３２における前記特性信号の処理及
   び排除すべき欠陥の存在を前記第１及び第２制御
   手段の中の１手段が示す場合には該対応するガラ
   ス壜を放棄する線４０における排除信号の供給を
   行い、連続して来るガラス壜の特性信号連続群に
   接続しそして対応する前記第１及び第２制御手段
   ２０，２２を含む前記検査装置。 １４ 前記インターフエイス手段は加算器５２に
   おいて連続せる隣接画素信号を比較し、且つ、隣
   接画素信号の大きさ間の差の絶対値が所定のスレ
   ツシユホールドの値を超過する場合に、ガラス壜
   の対応する点の位置に関連して、イベント線９７
   にてイベント信号を加算器６４で発生することを
   特徴とする特許請求の範囲第１３項記載の検査装
   置。 １５ 前記インターフエイス手段は回路５６にお
   ける前記絶対値とスレツシユホールドRAM５８
   における前記スレツシユホールド値間の差に等し
   い値を有する、大きさ特性信号を制御ロジツクユ
   ニツト５４にて記憶することを特徴とする特許請
   求の範囲第１４項記載の検査装置。 １６ 各々のホトダイオードが画素信号の１個を
   供給する３個以上のホトダイオードよりなるカメ
   ラ１０内のホトダイオード配列によつて、画素信
   号が供給され、且つ、加算器５２における前記イ
   ンターフエイス手段は該ホトダイオードの隣接す
   るホトダイオードからの連続せる画素信号を比較
   することを特徴とする特許請求の範囲第１３項ま
   たは第１５項記載の検査装置。 １７ 各々のホトダイオードが画素信号の１個を
   供給する３個以上のホトダイオードよりなるホト
   ダイオード配列によつて、画素信号が供給され、
   且つ、ダイオードカウンタ６０における位置特性
   信号の各々が、イベント信号の発生されるガラス
   壜上の点の位置に対するホトダイオード配列中の
   ホトダイオードの位置を示すことを特徴とする特
   許請求の範囲第１３項または第１５項記載の検査
   装置。 １８ 前記インターフエイス手段が前記特性信号
   群を記憶するためのランダムアクセスメモリ７０
   を含むことを特徴とする特許請求の範囲第１３項
   または第１５項記載の検査装置。 １９ 前記インターフエイス手段は、また特性信
   号の各々の群に関する読み得る大きさ加算信号を
   制御ロジツクユニツト５４に記憶し、前記大きさ
   加算信号は対応するガラス壜によつて発生された
   該大きさ特性信号の和に等しく、且つ、前記大き
   さ加算信号が所定の値を超過する場合に、前記第
   １及び第２制御手段２０，２２は、排除信号の供
   給を行い、該大きさ加算信号に対応することを特
   徴とする特許請求の範囲第１３項または第１５項
   記載の検査装置。 ２０ 前記インターフエイス手段は、また、特性
   信号の各々の群に関する読み得るイベント加算信
   号をイベントカウンタ６８に記憶し、前記イベン
   ト加算信号は対応するガラス壜によつて発生され
   るイベント信号の全体の数に等しく、且つ、前記
   イベント加算信号が所定の値を超過する場合に、
   前記第１及び第２制御手段２０，２２は排除信号
   の供給を行い前記イベント加算信号に対応するこ
   とを特徴とする特許請求の範囲第１３項または第
   １５項記載の検査装置。 ２１ 各々のホトダイオードが画素信号の１個を
   供給する３個以上のホトダイオードよりなるホト
   ダイオード配列によつて、画素信号が供給され、
   且つ、前記インターフエイス手段はイベント信号
   のストリングをランダムアクセスメモリ７０に発
   生するために前記ホトダイオードの隣接するホト
   ダイオードからの連続せる画素信号を加算器５２
   にて比較し、且つ、前記第１及び第２制御手段は
   前記ストリング中の該大きさ特性信号の和に等し
   いストリング大きさ信号を計算し、且つ、前記ス
   トリング大きさ信号が所定の値を超過する場合に
   は、排除信号の供給を行い、前に大きさ特性信号
   に対応することを特徴とする特許請求の範囲第１
   ３項または第１５項記載の検査装置。 ２２ 前記インターフエイス手段はガラス壜に関
   する前記ストリングの多数を発生し、且つ、前記
   第１及び第２制御手段２０，２２は前記ストリン
   グ間の該大きさ特性信号の和に等しいかたまり大
   きさ信号を計算し、且つ、前記かたまり大きさ信
   号が所定の値を超過する場合には、線４０におい
   て排除信号の供給を行い、お互いに近接状態のス
   トリング間の前記位置特性信号及び前記大きさ特
   性信号に対応することを特徴とする特許請求の範
   囲第２１項記載の検査装置。 ２３ 前記インターフエイス手段はガラス壜に関
   する前記ストリングの多数を発生し、且つ、前記
   第１及び第２制御手段２０，２２は前記ストリン
   グ間の大きさ特性信号の数に等しいかたまり巾信
   号を計算し、且つ、前記かたまり巾信号が所定の
   値を超過する場合には、排除信号の供給を行い、
   お互いに近接状態のストリング間のランダムアク
   セスメモリ７０における前記位置特性信号及び前
   記大きさ特性信号に対応することを特徴とする特
   許請求の範囲第２１項記載の検査装置。 ２４ 前記インターフエイス手段はガラス壜に関
   する前記ストリングの多数を発生し、且つ、前記
   第１及び第２制御手段２０，２２は前記ストリン
   グ間のイベント信号の全体の数に等しいかたまり
   範囲信号を計算し、且つ、前記かたまり範囲信号
   が所定の値を超過する場合には、排除信号の供給
   を行い、お互いに近接状態のストリング間の
   RAM７０からの前記位置特性信号及び前記大き
   さ特性信号に対応することを特徴とする特許請求
   の範囲第２１項記載の検査装置。 ２５ 該画素信号が直列的様式で供給され、且
   つ、前記インターフエイス手段は、前記画素信号
   の１個をラツチする手段５０と、前記画素信号の
   １個を前記ラツチ手段内の前記画素信号の先行す
   る１個と比較して前記画素信号の大きさ中の差に
   等しい差信号を供給し、前記ラツチ手段に対応す
   る第１の手段５２と、前記差信号の絶対値を供給
   し、前記第１比較手段に対応する手段５６と、ス
   レツシユホールド信号の多数を記憶する手段５８
   と、且つ、前記差信号の各々の絶対値を、対応し
   て記憶されたスレツシユホールド信号と比較し、
   前記差信号の大きさの絶対値が前記の対応するス
   レツシユホールド信号の大きさを超過するばあい
   には、前記イベント信号の１個を発生し、前記絶
   対値手段及び前記スレツシユホールド記憶手段に
   対応する第２の手段６４とを含むことを特徴とす
   る特許請求の範囲第２４項記載の検査装置。 ２６ 前記インターフエイス手段は、前記絶対値
   及び前記スレツシユホールド値の差に等しい値を
   有する大きさ特性信号を記憶し、前記第２の比較
   手段に対応する手段６４を更に含むことを特徴と
   する特許請求の範囲第２５項記載の検査装置。 ２７ 前記インターフエイス手段は、対応するガ
   ラス壜によつて発生された該大きさ特性信号の和
   に等しい大きさ加算信号を記憶し、前記第２比較
   手段に対応する手段６４を更に含むことを特徴と
   する特許請求の範囲第２５項または第２６項記載
   の検査装置。 ２８ 前記インターフエイス手段は、対応するガ
   ラス壜によつて発生されたイベント信号の全体の
   数に等しいイベント加算信号を記憶し、前記第２
   の比較手段に対応する手段６４を更に含むことを
   特徴とする特許請求の範囲第２５項記載の検査装
   置。 ２９ 各々のホトダイオードが画素信号の１個を
   供給する３個以上のホトダイオードよりなるホト
   ダイオード配列によつて画素信号が供給され、且
   つ、前記インターフエイス手段１８がイベント信
   号のストリングを発生し、該ホトダイオードの隣
   接するダイオードからの連続画素信号に対応する
   ことを特徴とする特許請求の範囲第２５項記載の
   検査装置。 ３０ 前記スレツシユホールド記憶手段が、隣接
   ホトダイオードによつて供給された隣接画素信号
   の大きさ間の差の絶対値を表現する絶対値信号の
   対応するストリングに対して比較用のスレツシユ
   ホールド値のストリングを記憶するランダムアク
   セスメモリ７０を含むことを特徴とする特許請求
   の範囲第２９項記載の検査装置。 ３１ 前記インターフエイス手段は、前記絶対値
   信号の対応する１個に関連した前記スレツシユホ
   ールド値の１個を選択する手段５４を更に含むこ
   とを特徴とする特許請求の範囲第３０項記載の検
   査装置。 ３２ 前記インターフエイス手段は、イベント信
   号の前記ストリングの数をカウントする手段６０
   を更に含み、且つ、前記スレツシユホールド選択
   手段及び前記ストリングカウント手段によつて決
   定された値を有する位置特性信号を記憶する手段
   ７２を含むことを特徴とする特許請求の範囲第３
   １項記載の検査装置。 ３３ 前記インターフエイス手段１８は、各々の
   ガラス壜に関するイベント信号のストリングの許
   容し得る数を制限し、前記ストリングカウント手
   段に対応する最大ストリング手段オーバフロー１
   １１を含むことを特徴とする特許請求の範囲第３
   ２項記載の検査装置。