JPH03218646A - Tape carrier, semiconductor integrated circuit device and aging method therefor - Google Patents

Tape carrier, semiconductor integrated circuit device and aging method therefor

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JPH03218646A
JPH03218646A JP1400390A JP1400390A JPH03218646A JP H03218646 A JPH03218646 A JP H03218646A JP 1400390 A JP1400390 A JP 1400390A JP 1400390 A JP1400390 A JP 1400390A JP H03218646 A JPH03218646 A JP H03218646A
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JP
Japan
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tape
pattern group
conductor pattern
tape carrier
jumper
Prior art date
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Pending
Application number
JP1400390A
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Japanese (ja)
Inventor
Shiyouji Kinoshita
木下 省児
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Hitachi Ltd
Renesas Eastern Japan Semiconductor Inc
Original Assignee
Hitachi Tokyo Electronics Co Ltd
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Tokyo Electronics Co Ltd, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Tokyo Electronics Co Ltd
Priority to JP1400390A priority Critical patent/JPH03218646A/en
Publication of JPH03218646A publication Critical patent/JPH03218646A/en
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Abstract

PURPOSE:To contrive the improvement of productivity in a tape assembly operation by a method wherein the title device is provided with a jumper pellet bonded on a tape carrier in such a way that it is individually connected with at least one of a first group of conductor patterns and a second group of conductor patterns. CONSTITUTION:Individual inner end parts 13a of a group of a plurality of conductor patterns 13 on a tape carrier 10 are bonded on bonding pads 20a, which correspond to the inner end parts 13, on a product pellet 20. At the same time as that, connection ends 131 to 133 of an individual group of conductor patterns 13 are brought into a state that they are respectively connected electrically in parallel to conductor patterns 15a to 15c of a group 15 of conductor patterns common to a plurality of product pellets 20 via a jumper pellet 30. Accordingly, operating power, an actuating signal and the like can be impressed en bloc on a plurality of the product pellets 20 from one end of the carrier 10, for example, via the group 15. Thereby, productivity in a tape assembly operation including an aging process, in which the carrier 10 is used, and an aging process is improved.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、テープキャリアおよび半導体集積回路装置な
らびにそのエージング技術に関し、特にテープキャリア
を用いたテープ・アセンブリ技術に適用して有効な技術
に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a tape carrier, a semiconductor integrated circuit device, and an aging technique thereof, and particularly to a technique effective when applied to a tape assembly technique using a tape carrier.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

たとえば、株式会社工業調査会、昭和59年11月20
日発行、[電子材料J 1984年11月号別冊P12
1〜P124、などの文献にも配載されているように、
半導体集積回路装置の組立工程においては、ワイヤレス
・ボンディングとテープキャリアによる連続組立とを組
み合わせた、いわゆるテープアセンブリ技術により量産
性の向上などを図ることが行われている。
For example, Kogyo Kenkyukai Co., Ltd., November 20, 1982.
Published by Japan, [Electronic Materials J November 1984 issue special issue P12
1 to P124, etc.,
In the assembly process of semiconductor integrated circuit devices, efforts are being made to improve mass productivity by using so-called tape assembly technology, which combines wireless bonding and continuous assembly using tape carriers.

すなわち、絶縁性の長尺テーブの穿孔部に、フィンガ状
の導体パターンを形成し、これにバンプを持った製品ペ
レッ} (ICペレット》の外部接続電極を一括して連
続的にボンディングするとともに、各組立工程の間の搬
送や出荷などにおいては、長尺テープをリールなどに巻
回した状態とすることにより、取り扱いや、自動組立あ
るいは自動実装装置などへの製品の装填を容易にして、
多数の半導体集積回路装置の組立や実装工程における量
産性を向上させるようにしたものである。
That is, a finger-shaped conductor pattern is formed in the perforated part of an insulating long tape, and external connection electrodes of a product pellet (IC pellet) with bumps are continuously bonded to this pattern all at once. During transportation and shipping during each assembly process, long tapes are wound around reels to facilitate handling and loading of products into automatic assembly or automatic mounting equipment.
This is intended to improve mass productivity in the assembly and mounting process of a large number of semiconductor integrated circuit devices.

一方、半導体集積回路装置の出荷や受け入れなどに際し
ては、製品の良・不良の判定やランク付けなどを行うた
tの特性選別が行われ、通常、この特性選別などに先立
って、製品の品質や特性の安定化などを図るため、製品
の高温保存や所定時間の連続動作などによるエージング
(枯らし処理)が行われている。
On the other hand, when shipping or receiving semiconductor integrated circuit devices, a number of characteristic screenings are carried out to determine whether the product is good or bad, and to rank it. In order to stabilize the characteristics, products are subjected to aging by storing them at high temperatures or operating them continuously for a predetermined period of time.

ところで、テープアセンブリ技術による半導体集積回路
装置の製造工程においてこのような工一ジングを実施す
る場合には、従来では、個々に製品ペレットに接続され
る導体パターン群の各々が個別に設けられているため、
長尺テーブをリールに巻回した状態での個々の製品ペレ
ットへの動作電力などの供給は不可能である。
By the way, when implementing such a process in the manufacturing process of a semiconductor integrated circuit device using tape assembly technology, conventionally, each conductor pattern group to be individually connected to a product pellet is individually provided. For,
It is impossible to supply operating power to individual product pellets while the long tape is wound on a reel.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

このため、たとえば、長尺テーブをリールから展開して
、一旦、比較的短い長さ毎に分断し、個々の分断単位に
属する製品ペレットを所定のソケットなどに装着するこ
とで、各々の分断単位毎の加熱炉への投入、および個々
の製品ペレットへの動作電力や動作信号などの印加によ
るエージングを行い、エージング完了後に、分断単位を
再びもとのように繋ぎ合わせて長尺テーブに復元するこ
とが考えられるが、長尺テーブの分断や復元などの余分
な作業が必要になるとともに、長尺テープのままで複数
の製品を一括して取り扱うというテープアセンブリ技術
本来の長所を生かすことができないという問題がある。
For this reason, for example, by unrolling a long tape from a reel, dividing it into relatively short lengths, and installing the product pellets belonging to each division unit into a predetermined socket, each division unit can be Aging is performed by charging each product pellet into a heating furnace and applying operating power and operating signals to each individual product pellet. After aging is completed, the divided units are reconnected as before and restored to a long table. However, this would require extra work such as dividing and restoring the long tape, and it would not be possible to take advantage of the tape assembly technology's inherent advantages of handling multiple products at once while still using the long tape. There is a problem.

そこで、本発明の目的は、テープアセンブリにおける生
産性を向上させることが可能なテープキャリアを提供す
ることにある。
SUMMARY OF THE INVENTION Therefore, an object of the present invention is to provide a tape carrier that can improve productivity in tape assembly.

本発明の他の目的は、製造原価を低減することが可能な
半導体集積回路装置を提供することにある。
Another object of the present invention is to provide a semiconductor integrated circuit device that can reduce manufacturing costs.

本発明のさらに他の目的は、テープアセンブリにおける
生産性を向上させることが可能なエージング方法を提供
することにある。
Still another object of the present invention is to provide an aging method that can improve productivity in tape assemblies.

本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本願において開示される発明のうち、代表的なものの概
要を簡単に説明すれば、下記のとおりである。
A brief overview of typical inventions disclosed in this application is as follows.

すなわち、本発明になるテープキャリアは、長尺の絶縁
性テープと、この絶縁性テープの長手力向に所望の間隔
で穿設された複数の第1の透孔と、この第1の透凡の各
々を取り囲むように配置され、当該第1の透孔の内部に
突設された一端に製品ペレットがボンディングされる複
数の第1の導体パターン群とからなるテープキャリアで
あって、絶縁性テープの長手力向に沿って複数の第1の
導体パターン群に共通に設けられた第2の導体パターン
群と、第2の導体パターン群と個々の第1の導体パター
ン群の少なくとも一部とを個別に接続する配線構造を有
し、第1の導体パターン群と第2の導体パターン群の少
なくとも一部とを個別に接続するようにボンディングさ
れたジャンバ・ペレットとを備えるようにしたものであ
る。
That is, the tape carrier according to the present invention includes a long insulating tape, a plurality of first through holes drilled at desired intervals in the longitudinal direction of the insulating tape, and the first through hole. A tape carrier comprising a plurality of first conductor patterns arranged to surround each of the insulating tapes and to which a product pellet is bonded to one end protruding inside the first through hole, the tape carrier comprising an insulating tape. a second conductor pattern group provided in common to the plurality of first conductor pattern groups along the longitudinal direction; and at least a portion of each of the second conductor pattern groups and the first conductor pattern groups. It has a wiring structure that connects individually, and includes jumper pellets that are bonded to connect at least a part of the first conductor pattern group and the second conductor pattern group individually. .

また、本発明になる半導体集積回路装置は、請求項1ま
たは2記載のテープキャリアを用いて製造されるもので
ある。
Further, a semiconductor integrated circuit device according to the present invention is manufactured using the tape carrier according to claim 1 or 2.

また、本発明になるエージング方法は、複数の製品ペレ
ットおよびジャンパ・ペレットのボンディング後に、リ
ールに巻回されたままのテープキャリアを所望の温度の
エージング炉に投入し、当該テープキャリアの端部の第
2の導体パターン群を通じて、複数の製品ペレットに対
して、一括して動作電力および動作信号の少なくとも一
方を印加することによりエージングを行うようにしたも
のである。
Furthermore, in the aging method of the present invention, after bonding a plurality of product pellets and jumper pellets, the tape carrier wound on a reel is put into an aging furnace at a desired temperature, and the ends of the tape carrier are Aging is performed by collectively applying at least one of an operating power and an operating signal to a plurality of product pellets through the second conductor pattern group.

〔作用〕[Effect]

上記した本発明のテープキャリアによれば、たとえば、
複数の製品ペレットの絶縁性テープに対するボンディン
グ時にジャンパ・ペレットのボンディングを行うことで
、テープキャリアを必要以上に複雑で高価な多層構造な
どにすることなく、絶縁性テープの長手方向に設けられ
た第2の導体パターン群に対して、個々の製品ペレット
がボンディングされる個々の第1の導体パターン群の少
なくとも一部を並列に接続することができる。
According to the tape carrier of the present invention described above, for example,
By bonding the jumper pellets when bonding multiple product pellets to the insulating tape, it is possible to avoid making the tape carrier an unnecessarily complex and expensive multi-layer structure. At least a portion of each first conductor pattern group to which individual product pellets are bonded can be connected in parallel to the second conductor pattern group.

このため、ボンデイング後の所望の時期に実施されるエ
ージングにおいては、長尺の絶縁性テープをリールなど
に巻回したままで所望の温度の加熱炉に投入するととも
に、長尺の絶縁性テープの一端の第2の導体パターン群
から、当該第2の導体パターン群にジャンパ・ペレット
を介して共通に接続された複数の製品ペレットの各々に
対する給電を一括して行うことができ、エージングに際
してのテープキャリアの分断や復元などの煩雑な作業が
全く不要になり、テープアセンブリにおける生産性を大
幅に向上させることができる。
Therefore, during aging, which is carried out at a desired time after bonding, the long insulating tape is placed into a heating furnace at the desired temperature while still being wound around a reel. Power can be collectively supplied from the second conductor pattern group at one end to each of a plurality of product pellets that are commonly connected to the second conductor pattern group via jumper pellets, and the tape can be Complicated work such as separating and restoring the carrier is completely unnecessary, and productivity in tape assembly can be greatly improved.

また、上記した本発明になる半導体集積回路装置によれ
ば、たとえば、複雑で高価な多層構造−のテープキャリ
アを用いることなく、エージングエ程が大幅に簡略化さ
れたテープアセンブリによる組立が行われるので、製造
原価を低減することができる。
Further, according to the semiconductor integrated circuit device of the present invention described above, for example, assembly can be performed using a tape assembly in which the aging process is greatly simplified without using a tape carrier with a complicated and expensive multilayer structure. Therefore, manufacturing costs can be reduced.

また、上記した本発明のエージング方法によれば、テー
プキャリアの分断や復元などの煩雑な作業を行う必要が
なく、テープアセンブリにおける生産性が向上する。
Further, according to the aging method of the present invention described above, there is no need to perform complicated operations such as dividing and restoring the tape carrier, and productivity in tape assembly is improved.

〔実施例〕〔Example〕

第1図は、本発明の一実施例であるテープキャリアおよ
びそれを用いて組み立てられる半導体集積回路装置の一
例を模式的に示す斜視図であり、第2図は、その一部を
取り出して模式的に示す斜視図、第3図は本発明の一実
施例であるエージング方法の一例を模式的に示す斜視図
である。
FIG. 1 is a perspective view schematically showing an example of a tape carrier according to an embodiment of the present invention and a semiconductor integrated circuit device assembled using the tape carrier, and FIG. 2 is a schematic perspective view of a part thereof. FIG. 3 is a perspective view schematically showing an example of an aging method according to an embodiment of the present invention.

テープキャリア10を構成する長尺の絶縁性テープ11
の中央部には、長手力向に所望のピッチで複数の透孔1
2(第1の透孔)が穿設されており、個々の透孔12を
とり囲む位置には、たとえば金属箔などにエッチングを
施すことによって、当該透孔12を中心としてほぼ放射
状に、導体パターン群13 (第1の導体パターン群)
が配置されている。
Long insulating tape 11 constituting tape carrier 10
A plurality of through holes 1 are formed at a desired pitch in the longitudinal direction in the center of the
2 (first through holes) are bored, and a conductor is formed in a position surrounding each through hole 12 almost radially around the through hole 12 by, for example, etching a metal foil or the like. Pattern group 13 (first conductor pattern group)
is located.

この導体パターン群13を構成する複数の導体パターン
の内端部13aは、透孔12の内部に所望の長さだけ突
設されており、たとえば、所望の機能の集積回路構造な
どが形成されている製品ペレット20の複数のボンディ
ングパッド20aの各々とボンディング時に一括して接
合される構造となっている。導体パターン群13を構成
する複数の導体パターンの各々の外端部は所望の幅に拡
幅されており、たとえば特性選別工程などにおいて探針
などが接触されるテストパッド13bをなしている。
The inner end portions 13a of the plurality of conductor patterns constituting the conductor pattern group 13 protrude by a desired length into the through hole 12, and are formed with, for example, an integrated circuit structure having a desired function. It has a structure in which it is collectively bonded to each of the plurality of bonding pads 20a of the product pellet 20 at the time of bonding. The outer end of each of the plurality of conductor patterns constituting the conductor pattern group 13 is widened to a desired width, and serves as a test pad 13b to which a probe or the like is contacted in, for example, a characteristic selection process.

絶縁性テーブ11の長手方向の外縁部には、所望のピッ
チでバーフォレーション14が穿設されており、必要に
応じて当該パーフォレーション14に図示しない送り爪
などを嵌合させることにより、テープキャリア10の長
手方向における送り動作が行われるようになっている。
Perforations 14 are perforated at a desired pitch on the outer edge of the insulating tape 11 in the longitudinal direction, and if necessary, by fitting a feeding claw or the like (not shown) into the perforations 14, the tape carrier Ten longitudinal feeding movements are performed.

そして、導体パターン群l3に対する製品ペレット20
のボンディング後、所望の封止工程や後述のようなエー
ジングおよび特性選別などを経た所望の時期に、たとえ
ば、個々の製品ペレット20を当該製品ペレット20に
接続された導体パターン群l3の必要な領域とともにテ
ープキャリア10から打ち抜くことにより、個々の半導
体集積回路装置10Aが形成されるものである。
Then, the product pellet 20 for the conductor pattern group l3
After bonding, for example, each product pellet 20 is bonded to a desired area of the conductor pattern group l3 connected to the product pellet 20 at a desired time after a desired sealing process, aging and characteristic selection as described below. Individual semiconductor integrated circuit devices 10A are formed by punching out the tape carrier 10.

この場合、テープキャリア10の長手方向の一方の外縁
部には、前とパーフォレーション14の内側近傍に沿っ
て、電気的に独立な複数の導体パターン15a,15b
,15cからなる導体パターン群15(第2の導体パタ
ーン群》が形成されている。
In this case, on one outer edge in the longitudinal direction of the tape carrier 10, a plurality of electrically independent conductor patterns 15a, 15b are provided along the front and near the inside of the perforation 14.
, 15c (second conductor pattern group) is formed.

また、導体パターン群15の経路における絶縁性テープ
11には、複数の透孔12の各々に隣り合う位置に複数
の透孔16 (第2の透孔)が穿設されている。
Further, a plurality of through holes 16 (second through holes) are bored in the insulating tape 11 along the path of the conductor pattern group 15 at positions adjacent to each of the plurality of through holes 12 .

導体パターン群15は透孔16の各々における通過部位
において切断された状態となっており、当該透孔16の
内部側に対向して突出した接続端150A.接続端15
0B.接続端150Cおよび接続端150a.接続端1
 5 0 b,接続端150Cを形成している。
The conductive pattern group 15 is cut at the passing portion in each of the through holes 16, and the connecting ends 150A. Connection end 15
0B. Connection end 150C and connection end 150a. Connection end 1
50b, forming a connecting end 150C.

また、複数の導体パターン群l3の各々は、当該導体パ
ターン群13に属する一部の導体パターンの外端部にお
けるテストパッド13bを、対応する透孔16の内部に
突出するように延長して形成された複数の接続#131
.接続端132,接続端133を備えている。
Each of the plurality of conductor pattern groups l3 is formed by extending the test pads 13b at the outer ends of some of the conductor patterns belonging to the conductor pattern group 13 so as to protrude into the corresponding through holes 16. Multiple connections made #131
.. A connecting end 132 and a connecting end 133 are provided.

そして、導体パターン群15の接続端150八〜150
Bおよび接続端150a 〜150cと、製品ペレット
20がボンディングされる導体パターン群13の対応す
る接続端131〜133とが、ジャンパ・ペレット30
のボンディングによってそれぞれ個別に電気的に接続さ
れるものである。
Then, connection ends 1508 to 150 of the conductor pattern group 15
The jumper pellets 30
They are individually electrically connected by bonding.

すなわち、このジャンパ・ペレット30には、導体パタ
ーン群15の接続端150A〜150Bおよび接続端1
50a〜1 5 0 c,導体パターン群13の接続端
131〜133にそれぞれ接合される複数のボンディン
グパッド300A.ボンディングパッド300B,  
ボンディングパッド300Cおよびボンディングパッド
3 0 0 a, ボンディングパッド3 0 0 b
. ボンディングパッド300Cおよびボンディングバ
ッド301.ボンディングパッド302,ボンディング
パッド303が設けられている。
That is, this jumper pellet 30 includes the connection ends 150A to 150B of the conductor pattern group 15 and the connection end 1.
50a to 150c, a plurality of bonding pads 300A. Bonding pad 300B,
Bonding pad 300C, bonding pad 300a, bonding pad 300b
.. Bonding pad 300C and bonding pad 301. A bonding pad 302 and a bonding pad 303 are provided.

これらのボンディングパッドは、当該ジャンパ・ペレッ
ト30の内部などに、たとえば周知の多層配線技術など
によって形成された回路パターンにより、第4図に示さ
れる回路図のように互いに電気的に接続されている。
These bonding pads are electrically connected to each other as shown in the circuit diagram shown in FIG. 4 by a circuit pattern formed inside the jumper pellet 30 by, for example, a well-known multilayer wiring technique. .

これにより、ジャンパ・ペレット30のボンディングに
よって、複数の導体パターン群13に共通な導体パター
ン群15の接続端150A〜150Cと、対応する接続
端150a〜150Cが相互に接続された状態になると
ともに、複数の製品ペレット20がそれぞれボンディン
グされる複数の導体パターン群13の各々の複数の接続
端131〜133が、導体パターン群15の対応する導
体ハターン15a〜導体パターン15cの各々に対して
個別に並列に接続された状態となる。
As a result, by bonding the jumper pellets 30, the connection ends 150A to 150C of the conductor pattern group 15 common to the plurality of conductor pattern groups 13 and the corresponding connection ends 150a to 150C are connected to each other, and The plurality of connection ends 131 to 133 of each of the plurality of conductor pattern groups 13 to which the plurality of product pellets 20 are respectively bonded are individually parallel to each of the corresponding conductor patterns 15a to 15c of the conductor pattern group 15. It will be connected to.

一方、本実施例におけるエージング方法が実施されるエ
ージング装置50は、たとえば、第3図に示されるよう
に、所望温度に内部を加熱することが可能な加熱炉51
と、テープキャリアIOにボンディングされる製品ペレ
ット20に対して印加される、所望の動作電力や動作信
号を発生する電源部52と、この電源部52と、リール
40に巻回されたテープキャリア10の一端とを接続す
るケーブル53とから構成されている。
On the other hand, the aging apparatus 50 in which the aging method of this embodiment is carried out includes, for example, a heating furnace 51 capable of heating the inside to a desired temperature, as shown in FIG.
, a power supply section 52 that generates desired operating power and operation signals to be applied to the product pellet 20 bonded to the tape carrier IO; this power supply section 52; and the tape carrier 10 wound around the reel 40. and a cable 53 connecting one end of the .

また、ケーブル53のテープキャリア10に対する接続
端には、ソケット54が設けられており、テープキャリ
ア10の長手方向に設けられ、前述のようなジャンパ・
ペレット30のボンディングによって複数の製品ペレッ
ト20に対して共通かつ並列に接続された導体パターン
群l5を、ケーブル53に電気的に接続させる役目をし
ている。
Further, a socket 54 is provided at the connection end of the cable 53 to the tape carrier 10, and is provided in the longitudinal direction of the tape carrier 10, and is provided with a jumper as described above.
It serves to electrically connect the conductor pattern group 15, which is commonly and parallelly connected to a plurality of product pellets 20 by bonding the pellets 30, to the cable 53.

以下、本実施例の作用の一例について説明する。An example of the operation of this embodiment will be described below.

まず、第1図に例示したような構造のテープヰャリア1
0に対して、複数の製品ペレット20およびジャンバ・
ペレット30のボンディングを行う。
First, a tape carrier 1 having a structure as illustrated in FIG.
0, multiple product pellets 20 and Jamba
Bonding of the pellets 30 is performed.

これにより、複数の導体パターン群13の各々の内端部
13aは、製品ペレット20に対応するボンディングパ
ッド20Hに接合されるとともに、個々の導体パターン
群13の接続端131〜133の各々は、ジャンパ・ペ
レット30を介して複数の製品ペレット20に共通な導
体パターン群15の導体パターン158〜15Cにそれ
ぞれ並列に電気的に接続された状態となる。
As a result, the inner end portions 13a of each of the plurality of conductor pattern groups 13 are bonded to the bonding pads 20H corresponding to the product pellets 20, and each of the connection ends 131 to 133 of the individual conductor pattern groups 13 is connected to the jumper. - They are electrically connected in parallel via the pellets 30 to the conductor patterns 158 to 15C of the conductor pattern group 15 common to the plurality of product pellets 20, respectively.

なお、特に図示しないが、上述のようなボンディングは
、通常、繰り出しリールから巻き取りリール側に順次送
り出されるテープキャリアlOをボンディング部位を通
過させることによって行われ、ボンディング完了後のテ
ープキャリア10は、巻き取り側のリール40に巻回さ
れた状態となる。
Although not particularly illustrated, the above-described bonding is usually performed by passing the tape carrier 10, which is sequentially fed out from the feed reel to the take-up reel side, through the bonding area, and after the bonding is completed, the tape carrier 10 is It is wound on the reel 40 on the take-up side.

そして、本実施例の場合には、前述のようなボンディン
グの後のエージング処理に際しては、たとえば、第3図
に示される加熱炉51の内部に、リール40に巻回され
たままのテープキャリア10を投入して所望のエージン
グ温度に加熱するとともに、テープキャリア10の一端
における導体パターン群15を、ソケット54およびケ
ーブル53を介して電源部52に接続し、テープキャリ
ア10に保持され、ジャンパ・ペレット30などを介し
て、導体パターン群15に並列に接続されている複数の
製品ペレット20の各々に対して、電源部52から同時
に動作電力や動作信号などを一括して印加しつつエージ
ングを行う。
In the case of this embodiment, during the aging treatment after bonding as described above, for example, the tape carrier 10 wound around the reel 40 is placed inside the heating furnace 51 shown in FIG. At the same time, the conductor pattern group 15 at one end of the tape carrier 10 is connected to the power supply unit 52 via the socket 54 and the cable 53, and the jumper pellets held by the tape carrier 10 are heated to a desired aging temperature. Aging is performed while simultaneously applying operating power, operating signals, etc. from the power supply unit 52 to each of the plurality of product pellets 20 connected in parallel to the conductor pattern group 15 via the conductor pattern group 15 via the conductor pattern group 15 .

そして、このようなエージング後の特性選別工程などに
おいては、ジャンバ・ペレット30を予め打ち抜いて除
去することにより、個々の製品ペレット20および当該
製品ペレット20に接合されている個々の導体パターン
群13を電気的に独立な状態にしたのち、個々の導体パ
ターン群13のテストバッド13bに探針などを接触さ
せ、個々の製品ペレット20に対する個別的な試験信号
などを印加して特性選別を円滑に行う。
In such a characteristic selection process after aging, the jumper pellets 30 are punched out and removed in advance to separate the individual product pellets 20 and the individual conductor pattern groups 13 bonded to the product pellets 20. After making them electrically independent, a probe or the like is brought into contact with the test pad 13b of each conductor pattern group 13, and an individual test signal is applied to each product pellet 20 to smoothly select the characteristics. .

このように、本実施例のテープキャリア10の場合には
、ジャンパ・ペレット30を用いることで、たとえば当
該テープキャリア10を高価な多層構造などにすること
なく、テープキャリア10にボンディングされている複
数の製品ペレット20が当該複数の製品ペレット20に
対して共通に設けられた導体パターン群15に並列に接
続されるので、たとえばテープキャリア10の一端から
、導体パターン群15を介して動作電力や動作信号など
を複数の製品ペレット20に一括して印加することがで
きる。
In this way, in the case of the tape carrier 10 of the present embodiment, by using the jumper pellets 30, the plurality of layers bonded to the tape carrier 10 can be removed without having to make the tape carrier 10 have an expensive multilayer structure. Since the product pellets 20 are connected in parallel to the conductor pattern group 15 provided in common to the plurality of product pellets 20, operating power and operation are transmitted from one end of the tape carrier 10 via the conductor pattern group 15. A signal or the like can be applied to a plurality of product pellets 20 at once.

このため、エージングに際しては、取り扱いの容易なリ
ール40にテープキャリア10が巻回されたままの状態
で、加熱炉51の内部に投入するとともに、テープキャ
リア10の一端の導体パターン群15から、複数の製品
ペレット20に対して一括して動作電力などを供給する
ことが可能となり、たとえば、従来のようにボンディン
グ後におけるエージングの前後に、テープキャリアを所
定の個数の製品ペレット毎に分断したり、再度つなぎ合
わせて復元するなどの煩雑な作業が全く不要になる結果
、本実施例のテープキャリア10を用いる二一ジング工
程および当該エージング工程を含むテープアセンブリに
おける生産性が大幅に向上する。
Therefore, during aging, the tape carrier 10 is placed into the heating furnace 51 while being wound around the reel 40, which is easy to handle. It is now possible to supply operating power and the like to all of the product pellets 20 at once, and for example, the tape carrier can be divided into a predetermined number of product pellets before and after aging after bonding, as in the conventional case. As a result, the complicated work of re-splicing and restoring is completely unnecessary, and as a result, the productivity in the tape assembly including the aging process and the aging process using the tape carrier 10 of this embodiment is greatly improved.

また、複数の導体パターン158〜15Cからなる導体
パターン群15と、これに交差するように並列に導体パ
ターン群13の複数の接続端131〜133とを接続す
る場合には、通常、個々の導体パターン158〜15C
などの相互の電気的な絶縁性を確保すべく、絶縁層と導
体層とを交互に積層した複雑で高価な多層構造とする必
要があるが、本実施例のテープキャリア10の場合には
、ジャンパ・ペレット30の内部に設けられた多層配線
構造により、当該ジャンバ・ペレット30の複数のボン
ディングパッド301〜303,300a 〜300c
.300,A〜300Cを相互に接続しており、周知の
フォトリングラフイ技術などによってこのような構造の
ジャンパ・ヘレット30を大量かつ安価に製作すること
は容易である。
Further, when connecting the conductor pattern group 15 consisting of the plurality of conductor patterns 158 to 15C and the plurality of connection ends 131 to 133 of the conductor pattern group 13 in parallel so as to intersect with the conductor pattern group 15, the individual conductor patterns Pattern 158~15C
In order to ensure mutual electrical insulation, it is necessary to have a complex and expensive multilayer structure in which insulating layers and conductive layers are alternately laminated. However, in the case of the tape carrier 10 of this embodiment, Due to the multilayer wiring structure provided inside the jumper pellet 30, a plurality of bonding pads 301 to 303, 300a to 300c of the jumper pellet 30 are connected to each other.
.. 300, A to 300C are interconnected, and it is easy to manufacture jumper helets 30 having such a structure in large quantities at low cost using well-known photolithography technology.

この結果、多層構造のテープキャリアを用いる場合など
に比較して、テープキャリア10に形成された導体パタ
ーン群13に製品ペレット20をボンディングした後、
製品ペレット20と対応する導体パターン群13の所望
の領域とを打ち抜くなどして構成される半導体集積回路
装置の製造原価を大幅に削減することができる。
As a result, after bonding the product pellets 20 to the conductor pattern group 13 formed on the tape carrier 10, compared to the case where a multilayered tape carrier is used,
The manufacturing cost of a semiconductor integrated circuit device constructed by punching out a desired region of the corresponding conductor pattern group 13 from the product pellet 20 can be significantly reduced.

以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
Although the invention made by the present inventor has been specifically explained above based on Examples, it goes without saying that the present invention is not limited to the Examples and can be modified in various ways without departing from the gist thereof. Nor.

たとえば、ジャンパ・ペレット30や、テープキャリア
およびそれに形成された導体パターン群l3および導体
パターン群15の構造および形状などは前記実施例に例
示したものに限定されない。
For example, the structures and shapes of the jumper pellet 30, the tape carrier, and the conductor pattern group 13 and conductor pattern group 15 formed thereon are not limited to those exemplified in the above embodiments.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本願において開示される発明のうち、代表的なものによ
って得られる効果を簡単に説明すれば、以下のとおりで
ある。
Among the inventions disclosed in this application, the effects obtained by typical inventions are briefly described below.

すなわち、本発明になるテープキャリアによれば、長尺
の絶縁性テープと、この絶縁性テープの長手力向に所望
の間隔で穿設された複数の第1の透孔と、この第1の透
孔の各々を取り囲むように配置され、当該第1の透孔の
内部に突設された一端に製品ペレットがボンディングさ
れる複数の第1の導体パターン群とからなるテープキャ
リアであって、前記絶縁性テープの長手方向に沿って複
数の前記第1の導体パターン群に共通に設けられた第2
の導体パターン群と、当該第2の導体パターン群と個々
の前記第1の導体パターン群の少なくとも一部とを個別
に接続する配線構造を有し、前記第1の導体パターン群
と前記第2の導体パターン群の少なくとも一部とを個別
に接続するようにボンディングされたジャンパ・ペレッ
トとからなる構造であるため、テープキャリアを必要以
上に複雑で高価な多層構造などにすることなく、絶縁性
テープの長手力向に設けられた第2の導体パターン群に
対して、個々の製品ペレットがボンディングされる個々
の第1の導体パターン群の少なくとも一部を並列に接続
することができる。
That is, according to the tape carrier of the present invention, a long insulating tape, a plurality of first through holes bored at desired intervals in the longitudinal direction of the insulating tape, and A tape carrier comprising a plurality of first conductor patterns arranged to surround each of the through holes and to which a product pellet is bonded to one end protruding inside the first through hole, the tape carrier comprising: A second conductor pattern commonly provided in the plurality of first conductor pattern groups along the longitudinal direction of the insulating tape.
a conductor pattern group, and a wiring structure that individually connects the second conductor pattern group and at least a part of each of the first conductor pattern groups; The structure consists of jumper pellets that are individually bonded to at least some of the conductor patterns of the tape carrier, so it is possible to maintain insulation properties without making the tape carrier an unnecessarily complex and expensive multilayer structure. At least a portion of each first conductor pattern group, to which individual product pellets are bonded, can be connected in parallel to a second conductor pattern group provided in the longitudinal direction of the tape.

このため、ボンディング後の所望の時期に実施されるエ
ージングにおいては、長尺の絶縁性テープをリールなど
に巻回したままで所望の温度の加熱炉に投入するととも
に、長尺の絶縁性テープの一端の第2の導体パターン群
から、当該第2の導体パターン群にジャンパ・ペレット
を介して共通に接続された複数の製品ペレットの各々に
対する給電を一括して行うことができ、エージングに際
してのテープキャリアの分断や復元などの煩雑な作業が
全く不要になり、テープアセンブリにおける生産性を大
幅に向上させることができる。
Therefore, during aging, which is carried out at a desired time after bonding, the long insulating tape is placed into a heating furnace at the desired temperature while still being wound around a reel. Power can be collectively supplied from the second conductor pattern group at one end to each of a plurality of product pellets that are commonly connected to the second conductor pattern group via jumper pellets, and the tape can be Complicated work such as separating and restoring the carrier is completely unnecessary, and productivity in tape assembly can be greatly improved.

また、本発明になる半導体集積回路装置によれば、請求
項1または2配載のテープキャリアを用いて製造される
ので、たとえば、複雑で高価な多層構造のテープキャリ
アを用いる必要がなく、二一ジング工程が大幅に簡略化
されたテープアセンブリによる組立が行われるので、製
造原価を低減することができる。
Further, since the semiconductor integrated circuit device of the present invention is manufactured using the tape carrier according to claim 1 or 2, it is not necessary to use, for example, a tape carrier with a complicated and expensive multilayer structure. Since assembly is performed using a tape assembly with a greatly simplified merging process, manufacturing costs can be reduced.

また、本発明のエニジング方法によれば、請求項3記載
の半導体集積回路装匿の製造工程において、複数の前記
製品ペレットおよび前記ジャンパ・ペレットのボンディ
ング後に、リールに巻回されたままの前記テープキャリ
アを所望の温度の工−ジング炉に投入し、当該テープキ
ャリアの端部の前記第2の導体パターン群を通じて、複
数の豹記製品ペレットに対して、一括して動作電力およ
び動作信号の少なくとも一方を供給することによりエー
ジングを行うので、テープキャリアの分断や復元などの
煩雑な作業を行う必要がなくなり、テープアセンブリに
おける生産性が向上する。
Further, according to the enging method of the present invention, in the manufacturing process for semiconductor integrated circuit packaging according to claim 3, after bonding the plurality of product pellets and the jumper pellets, the tape remains wound around a reel. The carrier is placed in a processing furnace at a desired temperature, and at least operating power and operating signals are applied to a plurality of Baoki product pellets at once through the second conductor pattern group at the end of the tape carrier. Since aging is performed by supplying one of the tape carriers, there is no need to perform complicated operations such as dividing and restoring the tape carrier, improving productivity in tape assembly.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、本発明の一実施例であるテープキャリアおよ
びそれを用いて組み立てられる半導体集積回路装置の一
例を模式的に示す斜視図、第2図は、その一部を取り出
して模式的に示す斜視図、 第3図は、本発明の一実施例であるエージング方法の一
例を模式的に示す斜視図、 第4図は、ジャンバ・ペレットにおける配線構造の接続
状態の一例を示す回路図である。 10・・・テープキャリア、IOA・・・半導体集積回
路装置、11・・・絶縁性テープ、l2・・・透孔(第
1の透孔)、13・・・導体パターン群(第1の導体パ
ターン群)、13a・・・内端部、13b・・・テスト
パッド、131〜133・・・1続m、l4・・・パー
フォレーション、15・・・導体パターン群(第2の導
体パターン群)、15a−15c−−−導体ハターン、
150A〜150C・・・接続端、150a〜150c
・・・接続端、16・・・透孔(第2の透孔)、20・
・・製品ペレット、20a・・・ボンティンクハッド、
30・・・ジャンパ・ベレッ}、300A〜300C・
・・ボンディンクハッド、300a〜300C・・・ボ
ンディングパッド、301〜303・・・ボンディング
パッド、40・・・リール、50・・・エージング装置
、51・・・加熱炉、52・・・電源部、53・・・ケ
ーブル、54・・・ソケット。
FIG. 1 is a perspective view schematically showing an example of a tape carrier according to an embodiment of the present invention and a semiconductor integrated circuit device assembled using the tape carrier, and FIG. 2 is a schematic perspective view of a part thereof. 3 is a perspective view schematically showing an example of an aging method according to an embodiment of the present invention; FIG. 4 is a circuit diagram showing an example of a connection state of a wiring structure in a jumper pellet. be. DESCRIPTION OF SYMBOLS 10... Tape carrier, IOA... Semiconductor integrated circuit device, 11... Insulating tape, l2... Through hole (first through hole), 13... Conductor pattern group (first conductor pattern group), 13a...inner end, 13b...test pad, 131-133...1 series m, l4...perforation, 15... conductor pattern group (second conductor pattern group) , 15a-15c---conductor pattern,
150A-150C...Connection end, 150a-150c
... Connection end, 16... Through hole (second through hole), 20.
...Product pellets, 20a...Bontinkuhad,
30...Jumper Beret}, 300A~300C・
. . . Bonding had, 300a to 300C . . . Bonding pad, 301 to 303 . . . Bonding pad, 40 . . Reel, 50 . , 53...cable, 54...socket.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、長尺の絶縁性テープと、この絶縁性テープの長手方
向に所望の間隔で穿設された複数の第1の透孔と、この
第1の透孔の各々を取り囲むように配置され、当該第1
の透孔の内部に突設された一端に製品ペレットがボンデ
ィングされる複数の第1の導体パターン群とからなるテ
ープキャリアであって、前記絶縁性テープの長手方向に
沿って複数の前記第1の導体パターン群に共通に設けら
れた第2の導体パターン群と、当該第2の導体パターン
群と個々の前記第1の導体パターン群の少なくとも一部
とを個別に接続する配線構造を有し、前記第1の導体パ
ターン群と前記第2の導体パターン群の少なくとも一部
とを個別に接続するようにボンディングされたジャンパ
・ペレットとからなることを特徴とするテープキャリア
。 2、前記絶縁性テープの、前記ジャンパ・ペレットのボ
ンディング部位には、第2の透孔が穿設され、当該第2
の透孔内に突出した前記第1の導体パターン群の少なく
とも一部と、前記第2の導体パターン群とに対する前記
ジャンパ・ペレットのボンディングを、前記製品ペレッ
トと同じボンディング装置を用いて行うようにした請求
項1記載のテープキャリア。 3、請求項1または2記載のテープキャリアを用いて製
造される半導体集積回路装置。 4、請求項3記載の半導体集積回路装置の製造工程にお
いて、複数の前記製品ペレットおよび前記ジャンパ・ペ
レットのボンディング後に、リールに巻回されたままの
前記テープキャリアを所望の温度のエージング炉に投入
し、当該テープキャリアの端部の前記第2の導体パター
ン群を通じて、複数の前記製品ペレットに対して、一括
して動作電力および動作信号の少なくとも一方を供給す
ることによりエージングを行うようにしたエージング方
法。
[Claims] 1. A long insulating tape, a plurality of first through holes drilled at desired intervals in the longitudinal direction of the insulating tape, and each of the first through holes arranged so as to surround the first
A tape carrier comprising a plurality of first conductor patterns to which product pellets are bonded to one end protruding inside a through hole of the insulating tape, the plurality of first conductor patterns extending along the longitudinal direction of the insulating tape. a second conductor pattern group provided in common to the conductor pattern groups, and a wiring structure that individually connects the second conductor pattern group and at least a part of each of the first conductor pattern groups. , a jumper pellet bonded to individually connect the first conductive pattern group and at least a part of the second conductive pattern group. 2. A second through hole is formed in the insulating tape at the bonding site of the jumper pellet, and
Bonding of the jumper pellet to at least a portion of the first conductive pattern group protruding into the through hole and the second conductive pattern group is performed using the same bonding device as the product pellet. The tape carrier according to claim 1. 3. A semiconductor integrated circuit device manufactured using the tape carrier according to claim 1 or 2. 4. In the manufacturing process of a semiconductor integrated circuit device according to claim 3, after bonding the plurality of product pellets and the jumper pellets, the tape carrier wound on a reel is placed in an aging furnace at a desired temperature. and aging is performed by collectively supplying at least one of an operating power and an operating signal to a plurality of the product pellets through the second conductor pattern group at the end of the tape carrier. Method.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0499542U (en) * 1991-01-25 1992-08-27

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