JPH03217282A - 粒状物の選別装置 - Google Patents

粒状物の選別装置

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JPH03217282A
JPH03217282A JP846790A JP846790A JPH03217282A JP H03217282 A JPH03217282 A JP H03217282A JP 846790 A JP846790 A JP 846790A JP 846790 A JP846790 A JP 846790A JP H03217282 A JPH03217282 A JP H03217282A
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JP
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light
particulate matter
signal
granular material
receiving element
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JP846790A
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English (en)
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Haruchika Hirano
治親 平野
Toru Kano
徹 加納
Koichi Asano
浩一 浅野
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Marumasu Kikai KK
Original Assignee
Marumasu Kikai KK
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、粒状物の色彩を検出して、良品と不良品を選
別する装置に関する。
〔従来の技術〕
従来、粒状物の色彩を検出して、良品と不良品を選別す
る装置においては、光源から発射された光線の背景によ
る反射光と、粒状物による反射光の光量の偏差に基づき
、粒状物の品質を判定する方式(バックグランド方式と
呼ぶ)が適用されていた。
又、不良粒状物を除去する手段としては、高圧空気をノ
ズルから吹き出し、不良粒状物を吹き飛ばすことにより
、除去する方法が採用されていた。
従来の方式による実施例として例えば第3図に示す装置
が知られている。
第3図において、粒状物の滑り落ちる傾斜基板1には、
発光素子14で発生し光ファイバ13により導かれた光
を矢印15の範囲に拡散する発光部12、該拡散された
光の中を通過する粒状物により反射された光を傾斜基板
1と面一になるように設置された透明な透明なガラス窓
10を通して受光する受光素子11が装備されている。
傾斜基板1の下流には、不良粒状物の落下方向を変更す
るた約に、例えば電磁弁7により噴出が制御される圧縮
空気を噴出するノズル5が設置され、更にその下流には
、選別された粒状物の受け箱3及び4が設けられる。
傾斜シュート2は、粒状物供給装置(図示せず)により
1粒づつ供給される粒状物の方向と速度を調整し傾斜基
板1の上に放射線状に落下させるために設置され、選別
すべき粒状物の基準となる色彩を受光面に施された基準
色板8が発光部12から拡散された光を受光素子11に
むけて反射するように設置される。
更に、発光素子14の発光時機、粒状物の良否に応じて
ノズル5より噴出される圧縮空気の噴出を制御するため
の電磁弁7に対する制御信号を出力し、受光素子11か
らの信号を入力する、マイクロプロセッサ20が設置さ
れている。
〔発明が解決しようとする課題〕
本装置のようなバックグランド方式を適用した粒状物の
色彩検出装置においては、基準色板8による反射光と、
粒状物による反射光の偏差を高感度で検出するために、
基準色板80色は、品質の良好な粒状物の色彩に近い色
彩を選択する。
即ち、基準色板8の色彩が大幅に異なる場合には、粒状
物からの反射光と、基準色板8からの反射光の偏差が大
きく、粒状物自体の色彩の変化が、該偏差の中に埋没し
てしまい、粒状物の良否を的確に検出できない。
又、光源12として直径0.2 mm程度に集光された
点光源を使用するため、粒状物を照射する範囲は小さく
、従って反射光の有する情報量も少なく、粒状物自体の
持つ外乱(ゴミの付着、傷、汚れ)及び光の拡散範囲に
存在するゴミにより光量が変化し、誤検出を生ずる場合
が多くあった。
さらに、不良粒状物を取り除くために、高圧空気をノズ
ル5から吹き出す方法を適用した場合には、圧縮機等の
高圧空気発生手段を装備する必要があるため、装置が大
型となるばかりでなく、モータ(図示せず)及び高圧空
気の噴出を制御する電磁弁7等から雑音が発生し、装置
内の電子機器の誤動作の原因となっていた。
本発明は、上記問題点に鑑み、ゴミ等による外乱の影響
を受けることが少なく優れた選別能力を有し、電子機器
に悪影響を与える雑音の発生の少ない不良粒状物選別手
段を備え、且つ装置の小型化を可変とした、粒状物選別
装置を提供することを目的としている。
〔課題を解決するための手段〕
第1図は、本発明に係る粒状物選別装置の主要部を示す
図であって、第1図において、粒状物の滑り落ちる傾斜
基板1は、発光素子14で発生し光ファイバ13により
導かれた光を矢印15の範囲に拡散する傾斜基板の横方
向に複数個配置された発光部12、該拡散された光の中
を通過する粒状物あるいは基準色板8により反射された
光を傾斜基板の表面と面一になるように設置された透明
なガラス窓10を通して受光する受光素子11、粒状物
の良否に応じて粒状物の落下方向を変更するために直流
モータ7によりストッパ6,,62の範囲で方向を変え
るダンパ5を装備している。
傾斜シュート2は、粒状物供給装置(図示せず)により
1粒づつ供給される粒状物の方向と速度を調整し傾斜基
板1の上に放物線状に落下させるために設置される。傾
斜基板1の下端には、選別された粒状物の受け箱3及び
4が設けられる。
又、選別すべき粒状物の基準となる色彩を受光面に施さ
れた基準色板8が発光部12から拡散された光を受光素
子11にむけて反射するように設置され、発光部12よ
り拡散された光が粒状物により遮断されたか否かを検出
するもう一つの受光素子16が設置される。
更に、発光素子14の発光時機、粒状物の良否に応じて
ダンバ5の方向を制御し、受光素子11及び16からの
信号を入力し、受光素子11及び16の経時的な変動を
補正増幅器31 . 35で補正するための補正信号を
出力する、マイクロプロセッサ20が設置される。
〔作 用〕
第2図に、本発明による装置の動作順序を表すフローチ
ャートを示す。以下本図にしたがって各動作を説明する
1.検出機構の較正工程 発光機構(発光素子14、光ファイバ13、発光部12
を言う)は傾斜基板1の横方向に複数個設置されるため
、各発光機構間には本質的にバラツキが存在するもので
あり、使用に先立って、このバラッキを含めて発光機構
を較正するためのデータを決定することが本工程の目的
である。
粒状物のない状態で、発光素子を順次発光し、基準色板
8による反射光を、受光素子11で受光、電気信号に変
換し、該信号をマイクロプロセッサ20に入力する。基
準色板8は、傾斜基板1と平行に設置されているため、
受光素子の出力は、本来同じであるべきであり、該出力
の相違は、発光機構のバラツキに起因するものと考えら
れる。
このためマイクロプロセッサ20の指令により複数個の
発光素子14を順次発光させた時の、第i番目の発光機
構に対応する受光素子11の出力をR1、基準の出力を
R。とすれば第1式により、各発光機構に対する補正係
数α1を求めることができる。
なお基準出力Rcは、予め設定することも、又各R、の
最大値を選択して用いることも可能である。
2.粒状物検出工程 粒状物が光の拡散領域に入ったか否かを受光素子16に
より検出するため、補正増幅器35で、受光素子16の
出力信号とマイクロプロセッサ20により決定される補
正信号との偏差を演算後、予め設定されたしきい値によ
り弁別し、2値化信号として出力する。該2値化出力信
号は、線路34よりマイクロプロセッサ20に入力され
、規定以上の幅の、光の遮断信号が一定時間継続したこ
とを検出、粒状物が光の拡散領域に入ったことを判定す
る。
3.走査工程 粒状物が、光の拡散領域に入ったことを示す信号を引き
金として、粒状物による反射光を受光素子11で測定し
、マイクロプロセッサ20により決定される補正信号と
の偏差信号を出力する。
4.検出信号量子化工程 該各偏差信号を前述した較正工程で得られた補正値α1
で補正後最大値を検出し、最大値を基準として全偏差信
号を量子化する。
即ち、例えば最大値の1/Nで量子化するとすれば、最
大値と最大値X (N−1)/Nの間にある検出された
偏差の数をn+、最大値x(N−1)/Nと最大値X 
(N−2)/Nの間にある検出された偏差の数をn2と
し、以下同様の処理を行い、数列nln2・・・n.を
決定する。
なお量子化の基準値として、偏差信号の最大値でなく、
予め外乱の影響を考慮して第M番目の大きさを有する偏
差を指定することも可能である。
?,代表値決定工程 量子化工程で得られた数列nln2・・・n.をアドレ
スとして、予めマイクロプロセッサの記憶装置の中にデ
ータとして設定された値にを読み出し、全偏差信号の中
から第k番目の信号を、偏差信号の代表値として出力す
る。
6、選別工程 該偏差信号の代表値と、予め設定された選別基準値を比
較し、対象の粒状物の良否判定信号を出力する。該良否
判定信号は、直流モータ7でダンパ5を左右に動かすこ
とにより、良質の粒状物と不良の粒状物を受け箱3及び
4に選別することが可能である。
直流モータ7は、ブラシ70, , 702と接触する
整流子711)、(712 , 711)、(712が
切り替わる時の火花の発生を防止するため、切り替わり
が発生しない回転角となるように、直流モータの極数お
よびストッパ61)、(62,62の位置が選択される
7.補正工程 粒状物が光の拡散領域から出た後に、発光素子14を順
次発光させ、受光素子11及び16で受光し、補正信号
を出力する工程である。
即ち受光信号11及び16の出力信号と各補正信号29
 . 33との偏差を補正増幅器31 . 35で演算
する。
この偏差をマイクロプロセッサに入力し補正係数αiで
補正した偏差は、本来零であるはずであるが、受光素子
14、受光素子11 . 16の経時的変動あるいは受
光面の汚れにより偏差が生じる場合がある。該偏差が累
積すると、マイクロプロセッサ20内に存在するアナロ
グ/ディジタル変換器(図示せず)の適正な変換範囲を
逸脱する可能性があるため、逆に該補正偏差が零となる
ような補正信号がマイクロプロセッサ20で演算され、
線路29 . 33を介して各補正増幅器31 . 3
5の一方の入力に供給される。
このフィードバック制御により、常に適正な変換範囲で
アナログ/ディジタル変換器が動作することになる。
〔実施例〕
第1図に示した、本発明を粒状物の選別に適用した場合
の実施例について説明する。
選別を開始する前に、前述したように発光部12から照
射される直接光と、基準色板8による反射光を使用して
較正が行われ補正係数α1が決定される。
較正方法の別の実施例として、基準色板8は、コーヒー
豆の通路より上方に設置されるため、基準値Rcの設定
に際しては、較正時と粒状物計測時の光路長の相違を考
慮する必要があるが、該考慮を不要とし、より正確な補
正係数を求めるために、較正工程の間、基準色板8を粒
状物の通路上の9の位置まで降下させる装置(図示せず
)を設けることも可能である。
コーヒー豆を選別する際の外乱要素としては下記のもの
を挙げることができる。
■コーヒー豆自体に付着した外皮 ■未成熟コーヒー豆 ■コーヒー豆の割れ、欠損 粒状物供給装置(図示せず)より供給されたコーヒー豆
は、傾斜シュート2のV字状の溝で一粒づつ縦に並べら
れ、方向を整えられた後、傾斜シュート2の下端から放
物線を描いて傾斜基板1上に落下する。
周期的に横方向に順次点滅をする複数個の発光機構(発
光素子l4、光ファイバ13、発光部12を言う)によ
る光に拡散領域15の中にコーヒー豆が入ると、光が遮
断され、該遮断は受光素子16により検出される。
第4図は検出の様子を示した図であり、第4図において
、横軸は発光機構の番号(本例においては8)を、縦軸
は周期Δtごとの時刻1,,1,・・・tloにおける
受光素子16の2値化された出力信号を示す。実際は光
が横方向に走査している間にも、コーヒー豆は落下する
ため、光はコーヒー豆を斜めに走査することになる。
該検出において、例えば横方向に3個以上の光の遮断が
、2回以上の光走査で連続して検出された場合にコーヒ
ー豆が光の拡散領域に入ったと判断する。
本発明の別の実施例として、コーヒー豆の有無の検出と
同時にコーヒー豆の外形を判断することも可能である。
即ち、全幅にわたって発光素子l1から発光される光が
遮断されていない状態から、コーヒー豆が光の拡散領域
に入り、ある幅で複数回の光走査の間(即ちある時間)
光が遮断され、コーヒー豆が光の拡散領域を通過し終え
れば、再び全幅にわたって発光素子から発光される光が
遮断されていない状態に戻る。従って、光が遮断された
幅を、遮断された時間に渡って積分した値は、コーヒー
豆の投影面積を表すこととなり、該積分値と予め設定さ
れた基準値とを比較することにより、コーヒー豆が規定
の外形を有しているか否か(即ちコーヒー豆が割れたり
、欠損したりしていないか否か)を判断することができ
る。
コーヒー豆が光の拡散領域に入ったことを示す信号によ
り、コーヒー豆からの反射光を受光する受光素子11の
出力信号28と、マイクロプロセッサ20により決定さ
れる補正信号29との偏差を、補正増幅器31で演算後
、マイクロプロセッサ20に取り込む。そして、偏差信
号30の最大値を検出し、最大値を基準として全偏差信
号を量子化する。
第5A図は、8個の偏差信号を最大値の1/4で量子化
する場合を示した図であり、縦軸には各偏差信号の補正
後の値を、横軸には受光素子の番号をとる。又第5B図
は、量子化処理の結果得られた数列を示す。即ち本例に
おいては、最大値と最大値×3/4の間にある偏差の数
は1、最大値×3/4と最大値×2/4の間にある検出
された偏差の数は3であり、以下同様の処理を行い、第
5B図下欄に示す数列を決定する。
なお量子化の基準値として、偏差信号の最大値でなく、
予め外乱の影響を除去するために第M番目の大きさを有
する偏差を基準として量子化を行うことも可能である。
次のこの数列(1.3,2.2)をアドレスとしてマイ
クロプロセッサ20の記憶装置(図示せず)内に収納さ
れているデータを読み出す。このデー夕は、検出対象で
ある粒状物の大きさ等により、予め設定されている。本
実施例において、読み出されたデータが2であるとすれ
ば、8個の偏差の中から第2番目の大きさを有する第5
受光素子の偏差信号を、代表色彩信号とする。
該代表色彩信号と予め設定された基準色彩信号を比較す
ることによりコーヒー豆の良否を判定し、良否判定信号
25を出力する。
本発明の別の実施例として、コーヒー豆が通過する間の
代表色彩信号を集合して、該集合の中から更に代表色彩
信号を選択することにより、良否判定精度を向上するこ
とができる。
又上述した判別方法の代わりに受光信号間の偏差をデー
タを検索するためのアドレスとして使用する方法を適用
することも可能である。
即ち、補正増幅器30の出力である受光信号と補正信号
の偏差を、マイクロプロセッサ20で降ぺきの順に並び
変え、隣接する偏差間の偏差を演算する。このようにし
て得られた偏差間偏差の数列を上述した、量子化工程で
得られた数列n + n 2・・・?9に代えてアドレ
スとしてデータを検索することも可能である。この方法
によれば、記憶装置は大容量を要することとなるが、偏
差間偏差の分布形状を考慮して記憶装置中のデータを設
定することができ、精度の高い色彩判断が可能となる。
さらに本発明の別の実施例として、発光機構の光走査の
間隔を短くすることにより、発光素子11の出力からコ
ーヒー豆が光の拡散領域に入ったことを判断することも
可能である。この方式を適用することにより受光素子1
6と補正増幅器35を含む電子回路を省略することが可
能となり装置の一層の小型化が可能となる。
マイクロプロセッサ20から出力された良否判定信号2
5は、電力増幅器23で増幅された後、直流モータ7に
入り、モータ7を正転又は逆転させ、ダンパ5を左右に
動かすことにより、コーヒー豆が落下する受け箱3ない
し4が選択される。
第6図は直流モータのブラシ70■,702と整流子7
11)、(712. 712の配置を示す図である。ブ
ラシ70.と整流子71.、ブラシ70■と整流子71
■が常に接触し?状態で動くように、ストッパ61,6
1)、(62の位置及び回転角βが選ばれる。
この結果ブラシに接触する整流子の切り替わりが無くな
り、切り替わりの際の火花の発生が抑制され、装置中の
マイクロプロセッサ20を含む電子回路の誤動作を防止
する。
コーヒー豆の選別が終わると、発光素子14が光走査を
開始し、受光素子11は基準色板8からの反射光を、受
光素子16は発光部12からの直接光を受光する。各受
光素子11及び16の出力信号は、較正工程の結果と比
較され、偏差が生じた場合には、発光機構又は受光素子
の経時的変動であると見なし、偏差を零とするように補
正信号29 . 33を修正し、補正増幅器31及び3
5の出力が、常にアナログ/ディジタル変換器の最大精
度が得られる範囲で動作することを可能とする。
なお本発明の他の応用例として、透過性を有する小型の
粒状物を大量に高速で選別するために使用することも可
能である。
即ち、受光素子16の、粒状物を透過してくる光を受光
したときの出力と、発光部12からの直接光を受光した
ときの出力の比pとする。又受光素子11の粒状物から
の反射光を受光したときの出力と、基準色板8からの反
射光を受光したときの出力の比をqとする。このように
して得られた数列pqをアドレスとしてマイクロプロセ
ッサ20内の記憶装置からデータを取り出すことにより
、粒状物の品質を判断することができる。
この方法によれば、複数の発光機構から発生する光の内
の少なくとも1つの光の拡散領域を通過すれば、品質の
判定が可能となる。
〔発明の効果〕
以上述べたように本発明によれば、光走査により得られ
た複数の検出信号を量子化したデータをアドレスとして
、データを検索し、そのデータに基づき代表色彩信号を
選択することにより、外乱の影響を排した高精度の品質
選別が可能となるばかりでなく、ブラシと接触する整流
子が切り替わらないように配置された直流モータでダン
パを駆動することにより、選別手段から電気的外乱が発
?することを抑制し装置内の電子回路の誤動作を防止で
きると共に、装置の小型化が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る粒状物選別装置の主要部を示す図
、 第2図は本発明に係る装置の動作順序を示すフローチャ
ート、 第3図は従来の方式による粒状物選別装置の主要部を示
す図、 第4図は粒状物の光走査の様子を示す図、第5図は検出
信号の量子化の方法を示す図、第6図はダンパを駆動す
る直流モータの整流子とブラシの関係を示す図である。 図において 1・・・傾斜基板、 2・・・傾斜シュート、 3,4・・・受け箱、 5■,52・・・ダンパ、 6,,62 ・・・ストッパ、 7・・・直流モータ、 ?.9・・・基準色板、 10・・・透明ガラス窓、 11・・・受光素子、 12・・・発光部、 13・・・光ファイバ、 14・・・発光素子、 15・・・光拡散範囲、 16・・・受光素子、 20・・・マイクロプロセッサ、 23・・・電力増幅器、 31 . 35・・・補正増幅器、 70,.  70■・・・ブラシ、 711)、(712, 712・・・整流子。 第 1 図 第 2 図 第 3 図 ○光透過状態 O光遮断状態 第 4 図 ] 2 3 4 5 6 7 8 第 5 図 第 6 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、光源から発射された光線の基準色板による反射光と
    、粒状物による反射光の光量の偏差に基づき、該粒状物
    の色彩を判定し、不良粒状物を選別する手段を有する粒
    状物の選別装置において、該粒状物の滑り落ちる傾斜基
    板(1)に、発光素子(14)で発生し光ファイバ(1
    3)により導かれた光を矢印(15)の範囲に拡散する
    該傾斜基板(1)の横方向に複数個配置された発光部(
    12)、該拡散された光の中を通過する該粒状物あるい
    は前記基準色板(8)により反射された光を該傾斜基板
    (1)に設置された透明なガラス窓(10)を通して受
    光する受光素子(11)、該粒状物の良否に応じて、該
    粒状物の流路を変更する粒状物排出装置を装備し、該傾
    斜基板(1)の上方に、選別すべき該粒状物の基準とな
    る色彩を受光面に施され前記発光部(12)から拡散さ
    れた光を前記受光素子(11)にむけて反射するように
    設置された前記基準色板(8)と、該発光部(12)よ
    り拡散された光が該粒状物により遮断されたか否かを検
    出するもう一つの受光素子(16)が設置され、更に前
    記発光素子(14)の発光時機、及び該粒状物の良否に
    応じて前記粒状物排出装置を制御し、前記受光素子(1
    1)及び(16)からの信号を入力し、該受光素子(1
    1)及び(16)の経時的な変動を補正増幅器(31)
    、(35)で補正するための補正信号を出力する、マイ
    クロプロセッサを使用した制御装置(20)を有するこ
    とを特徴とする粒状物の選別装置。 2、該粒状物のない状態で、発光素子(14)を順次発
    光し、前記基準色板(8)による反射光を前記受光素子
    (11)で受光したデータに基づいて、該発光素子(1
    1)のバラツキを補正する補正係数を求めることを特徴
    とする請求項1記載の粒状物の選別装置。 3、該粒状物が光の拡散領域に入ったか否かを前記受光
    素子(16)により検出するため、前記補正増幅器(3
    5)で、前記受光素子(16)の出力信号と前記マイク
    ロプロセッサ(20)により決定される補正信号との偏
    差を演算後、予め設定されたしきい値により弁別し、2
    値化信号とし、該マイクロプロセッサ(20)に入力し
    、規定以上の幅の、光の遮断信号が一定時間継続したこ
    とにより、該粒状物が光の拡散領域に入ったことを判定
    し、該判定信号を引き金として、該粒状物による反射光
    を前記受光素子(11)で測定し、該マイクロプロセッ
    サ(20)により決定される前記補正信号との偏差を出
    力し、該マイクロプロセッサ(20)で該偏差信号の最
    大値を検出し、該最大値を基準として全偏差信号を量子
    化し、各量子化レベルに属する該受光素子(11)の出
    力の数からなる、数列n_1n_2・・・n_Nをアド
    レスとして、予め該マイクロプロセッサ(20)の記憶
    装置の中にデータとして設定された値にを読み出し、全
    偏差信号の中から該第k番目の信号を、偏差信号の代表
    値として出力し、予め設定された選別基準値と比較する
    ことにより、対象の粒状物の良否判定信号を出力するこ
    とを特徴とする請求項1記載の粒状物の選別装置。 4、前記粒状物排出装置を直流モータ(7)により駆動
    され、ストッパ(6_1)、(6_2)の範囲内で方向
    の変更が可能なダンパ(5)とし、該良否判定信号によ
    り、ブラシ(70_1)、(70_2)と整流子(71
    _1)、(71_2)の切り替わりが発生しない回転角
    となるように設定された前記直流モータ(7)で前記ダ
    ンパ(5)を左右に動かすことにより、良質の前記粒状
    物と不良の該粒状物を受け箱(3)及び(4)に区分け
    することを特徴とする請求項1記載の粒状物の選別装置
    。 5、前記較正工程の間、前記基準色板(8)を粒状物の
    通路上の(9)の位置まで降下させ、基準値の設定の際
    の光路長の相違による影響を排し、より正確な補正係数
    を求めるために該基準色板(8)を該粒状物の通路(9
    )まで降下するための装置を設けることを特徴とする請
    求項2記載の粒状物の選別装置。 6、全幅にわたって前記発光素子(11)から発光され
    る光が遮断されていない状態から、再び全幅にわたって
    該発光素子(11)から発光される光が遮断されていな
    い状態に戻るまで、前記粒状物により光が遮断された幅
    を、遮断された時間に渡って積分することにより、該粒
    状物の投影面積を求め、該積分値と予め設定された基準
    値とを比較することにより、該粒状物が規定の外形を有
    しているか否か、即ち粒状物が割れたり、欠損したりし
    ていないか否かを判断することを特徴とする請求項3記
    載の粒状物の選別装置。 7、前記補正増幅器(30)の出力である受光信号と前
    記補正信号の偏差を、前記マイクロプロセッサ(20)
    で降ぺきの順に並び変え、隣接する偏差間の偏差を演算
    して得られた該偏差間偏差の数列をアドレスとして代表
    色彩信号を指すデータを検索することを特徴とする請求
    項3記載の粒状物の選別装置。 8、前記発光素子(14)の光走査の間隔を短くするこ
    とにより、前記受光素子(11)の出力から前記粒状物
    が光の拡散領域に入ったことを判断することを特徴とす
    る請求項3記載の粒状物の選別装置。 9、前記受光素子(16)の、前記粒状物を透過してく
    る光を受光したときの出力と、前記発光部(12)から
    の直接光を受光したときの出力の比pと該受光素子(1
    1)の該粒状物からの反射光を受光したときの出力と、
    前記基準色板(8)からの反射光を受光したときの出力
    の比qから得られた数列p、qをアドレスとして前記マ
    イクロプロセッサ(20)内の前記記憶装置から品質判
    別用データを取り出すことにより、小粒の粒状物の品質
    を判断することを特徴とする請求項3記載の粒状物の選
    別装置。 10、前記粒状物が通過する間の代表色彩信号を集合し
    て、該集合の中から更に代表色彩信号を選択し、予め設
    定された選別基準値と比較することにより、対象の粒状
    物の良否判定信号を出力することを特徴とする請求項5
    記載の粒状物の選別装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014119413A (ja) * 2012-12-19 2014-06-30 Satake Corp 粒状物の外観測定装置

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