JPH03212898A - 保持時間を増加させるためのフィードバック回路を持つ集積化サンプル・ホールド回路 - Google Patents
保持時間を増加させるためのフィードバック回路を持つ集積化サンプル・ホールド回路Info
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- JPH03212898A JPH03212898A JP2341208A JP34120890A JPH03212898A JP H03212898 A JPH03212898 A JP H03212898A JP 2341208 A JP2341208 A JP 2341208A JP 34120890 A JP34120890 A JP 34120890A JP H03212898 A JPH03212898 A JP H03212898A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C27/00—Electric analogue stores, e.g. for storing instantaneous values
- G11C27/02—Sample-and-hold arrangements
- G11C27/024—Sample-and-hold arrangements using a capacitive memory element
Landscapes
- Amplifiers (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の背景〕
本発明は、アナログ電圧レベルを保持するためのサンプ
ル・ホールド回路に関する。さらに詳しくは、本発明は
基板上に集積化されるサンプル・ホールド回路に関する
。
ル・ホールド回路に関する。さらに詳しくは、本発明は
基板上に集積化されるサンプル・ホールド回路に関する
。
スミスの米国出願第3.551.698号は、信号を、
容量エレメントに掛かる電圧によって示される、電荷の
形で保持するための、容量エレメントを用いるアナログ
メモリシステムを記載している。フォロワ回路は、キャ
パシタに掛かる電圧を受け、容量エレメントを充電する
ために用いられるスイッチの一方にその出力をフィード
バックする。このことは保持電荷の漏れを減じ、信号の
保持時間を延ばすことができる。第1図に関して示され
述べられているように、スミスのフォロワ回路はMOS
FETのような高インピーダンス結合回路、2階差動ア
ンプ、ゲインコントロール回路および出力回路を有する
。第3図に関して示され述へられているように、チュー
ブラ−タイプのキャパシタおよび分離したMOSFET
が基板に搭載されている。
容量エレメントに掛かる電圧によって示される、電荷の
形で保持するための、容量エレメントを用いるアナログ
メモリシステムを記載している。フォロワ回路は、キャ
パシタに掛かる電圧を受け、容量エレメントを充電する
ために用いられるスイッチの一方にその出力をフィード
バックする。このことは保持電荷の漏れを減じ、信号の
保持時間を延ばすことができる。第1図に関して示され
述べられているように、スミスのフォロワ回路はMOS
FETのような高インピーダンス結合回路、2階差動ア
ンプ、ゲインコントロール回路および出力回路を有する
。第3図に関して示され述へられているように、チュー
ブラ−タイプのキャパシタおよび分離したMOSFET
が基板に搭載されている。
ビスワナサン(Viswanathan)の米国出願第
4,783、602号には、第1図に関して示され述べ
られているように、サンプル・ホールド回路を用いた、
演算容量変換増幅器(operational tra
nsconduc−tive amplifier:
0TA)を含む集積回路が記載されている。OTAがサ
ンプル・ホールト回路に用いられたとき、第2図に関し
て示され述べられているように、OTAへまたはそこか
らの漏れ電流は本質的にはなく、したがって演算出力増
幅器の出力は変化しない。
4,783、602号には、第1図に関して示され述べ
られているように、サンプル・ホールド回路を用いた、
演算容量変換増幅器(operational tra
nsconduc−tive amplifier:
0TA)を含む集積回路が記載されている。OTAがサ
ンプル・ホールト回路に用いられたとき、第2図に関し
て示され述べられているように、OTAへまたはそこか
らの漏れ電流は本質的にはなく、したがって演算出力増
幅器の出力は変化しない。
本発明は、基板上に集積することかできるサンプル・ホ
ールド回路を提供するものであり、それは、容量エレメ
ント、その容量エレメントかそれを通して充電される入
力回路、そして入力回路を通しての漏れ電流を防止する
ことによって容量エレメントの保持時間を延ばすフィー
ドバック回路を含む。
ールド回路を提供するものであり、それは、容量エレメ
ント、その容量エレメントかそれを通して充電される入
力回路、そして入力回路を通しての漏れ電流を防止する
ことによって容量エレメントの保持時間を延ばすフィー
ドバック回路を含む。
本発明の一面は、電圧レベルを保持するための容量エレ
メントを持つサンプル・ホールド回路を集積化すること
における基本的問題を認識することに基づいている。そ
れを通して容量エレメントが充電される入力回路が、容
量エレメントに接続されているチャンネル出力リードと
入力電圧信号を受けるために接続されているチャンネル
入力リードを持つ入力トランジスタのチャンネルを含む
ものであれば、そのチャンネルはそれを通して保持電圧
レベルが充電できる漏れ通路を与える。この漏れ通路は
容量エレメントの実効保持時間を制限する。
メントを持つサンプル・ホールド回路を集積化すること
における基本的問題を認識することに基づいている。そ
れを通して容量エレメントが充電される入力回路が、容
量エレメントに接続されているチャンネル出力リードと
入力電圧信号を受けるために接続されているチャンネル
入力リードを持つ入力トランジスタのチャンネルを含む
ものであれば、そのチャンネルはそれを通して保持電圧
レベルが充電できる漏れ通路を与える。この漏れ通路は
容量エレメントの実効保持時間を制限する。
この問題は、入力トランジスタを通る漏れ電流を防止し
、容量エレメントへのまたはそこからの電流をそれ自身
は通さないフィードパ、り回路を提供することによって
軽減することができる。フィードバック回路は入力トラ
ンジスタのチャンネルリードに接続することができ、ま
た、チャンネルが高インピーダンス即ちオフ状態のとき
にチャンネルリード間の電圧差をほぼ零に維持するよう
に作動することができ、順次、入力トランジスタがオフ
の間容量エレメントへのまたはそれからのチャンネルを
通した漏れ電流をほぼ零に確保する。
、容量エレメントへのまたはそこからの電流をそれ自身
は通さないフィードパ、り回路を提供することによって
軽減することができる。フィードバック回路は入力トラ
ンジスタのチャンネルリードに接続することができ、ま
た、チャンネルが高インピーダンス即ちオフ状態のとき
にチャンネルリード間の電圧差をほぼ零に維持するよう
に作動することができ、順次、入力トランジスタがオフ
の間容量エレメントへのまたはそれからのチャンネルを
通した漏れ電流をほぼ零に確保する。
フィードバック回路および入力トランジスタは、アイソ
レーション回路によって入力電圧から隔離(isola
te)される。
レーション回路によって入力電圧から隔離(isola
te)される。
以下の説明、図面および特許請求の範囲は、本発明の目
的、特徴及び利点をさらに述べるものである。
的、特徴及び利点をさらに述べるものである。
第1図は本発明による集積回路の基本的構成要素を示す
概略図である。
概略図である。
第2図は第1図の構成要素を実施する回路の電気回路図
である。
である。
第3図は第2図のフィードバックバッファとして使用で
きるソースフォロワ回路の回路図である。
きるソースフォロワ回路の回路図である。
第4図は第2図のフィードバックバッファとして使用で
きる2段ソースフォロワ回路の回路図である。
きる2段ソースフォロワ回路の回路図である。
第5図は第2図のフィードバックバッファとして使用で
きる演算増幅器を有する回路の回路図である。
きる演算増幅器を有する回路の回路図である。
第6図は第3図のソースフォロワ回路を持つ第2図の回
路の実施のための集積回路レイアウト図である。
路の実施のための集積回路レイアウト図である。
A、定義
次の定義は本発明の広い範囲を理解することにおいて助
けとなるもので、下記に定義された用語は、特許請求の
範囲を含み、この出願全体を通して示される意味を持つ
。
けとなるもので、下記に定義された用語は、特許請求の
範囲を含み、この出願全体を通して示される意味を持つ
。
゛基板”とは、その上に回路が形成される材料である。
゛°集積回路”とは、エツチングや被覆(deposi
tion)のようなプロセスによって基板上に形成され
る回路である。
tion)のようなプロセスによって基板上に形成され
る回路である。
゛リード”とは、そこにおいて構成要素か他の構成要素
と電気的に接続される電気的構成要素である。
と電気的に接続される電気的構成要素である。
゛ライン”とは、2つのまたはそれ以上のリード間に延
び、それらを接続する単純な導電構成要素である。
び、それらを接続する単純な導電構成要素である。
リードおよびラインの組合せを通して構成要素間の導電
接続があるとき、ある構成要素のリードか他の構成要素
のリードと“接続”されているとする。ある集積回路に
おいて、画構成要素の一部である単数のリードとして形
成されることにより、2つの構成要素のリードは、また
、“接続”されているとする。
接続があるとき、ある構成要素のリードか他の構成要素
のリードと“接続”されているとする。ある集積回路に
おいて、画構成要素の一部である単数のリードとして形
成されることにより、2つの構成要素のリードは、また
、“接続”されているとする。
“容量エレメント”とは、電荷を保持することによって
電圧レベルを保持する構成要素である。
電圧レベルを保持する構成要素である。
一つの容量エレメントは2つのリードを持つ。
゛°トランジスタ”とは、2つのリードの間に延びてこ
れらを接続するチャンネルを持ち、またそのチャンネル
のインピーダンスを制御する第3のリートを持つ。この
第3のリードは゛°ゲート”と呼ばれ、またチャンネル
に接続されるリードは゛チャンネルリード”、ある場合
には゛ソース″′および゛ドレイン”と呼ばれる。
れらを接続するチャンネルを持ち、またそのチャンネル
のインピーダンスを制御する第3のリートを持つ。この
第3のリードは゛°ゲート”と呼ばれ、またチャンネル
に接続されるリードは゛チャンネルリード”、ある場合
には゛ソース″′および゛ドレイン”と呼ばれる。
“漏れ電流′とは、構成要素における非理想的な振る舞
いに起因して生じる電流である。
いに起因して生じる電流である。
回路におけるリードは、回路の動作中、固定電位にある
ものとして取り扱われる低インピーダンス構成要素に、
リードとラインの組合せを通して接続されるとき、“固
定電位にある”とする。たとえば集積回路は、一般的に
、零電位として取り扱われる外部の大地接続部を有し、
リートとラインの組合せによって外部の大地接続部に接
続されるリードは、固定電位、もっと詳しくは、大地電
位にある。
ものとして取り扱われる低インピーダンス構成要素に、
リードとラインの組合せを通して接続されるとき、“固
定電位にある”とする。たとえば集積回路は、一般的に
、零電位として取り扱われる外部の大地接続部を有し、
リートとラインの組合せによって外部の大地接続部に接
続されるリードは、固定電位、もっと詳しくは、大地電
位にある。
“薄膜構造”とは、基板表面上に膜の被覆により形成さ
れた構造である。
れた構造である。
B 概略的特徴
第1図および第2図は本発明の概略的特徴を示している
。第1図は本発明による集積回路の概略的な機能的構成
要素を示すブロック図である。第2図は第1図の構成要
素を実施する回路の電気回路図である。
。第1図は本発明による集積回路の概略的な機能的構成
要素を示すブロック図である。第2図は第1図の構成要
素を実施する回路の電気回路図である。
第1図の集積回路lOは、その上にそれぞれの構成要素
が形成される基板12を含んでいる。容量エレメント1
4は、それを通して充電される充電り一部16と、大地
電位にある大地リード18を持つ。パストランジスタ2
0は、充電リード16にその一つのチャンネルリードが
接続される出力リード22と、入力信号を受けるために
そのチャンネルリードの他方が接続された中間リード2
4と、そしてそのチャンネルのインピーダンスを制御す
る信号を受けるために接続されたゲートリード26を持
つ。アイソレーショントランジスタ28は、それに向か
って容量エレメント14が充電されるように電圧を受け
るために、そのチャンネルリードの一つが接続された入
力リード30と、パストランジスタ20の中間リート2
4に、またはそれと同様にそのチャンネルリードの他方
が接続された中間リード32と、そしてそのチャンネル
のインピーダンスを制御する信号を受けるために接続さ
れたゲートリード34を持つ。フィードバック回路36
は、パストランジスタ20の出力リード22と中間リー
ド24にそれぞれ接続されたり−ド38と40を持つ。
が形成される基板12を含んでいる。容量エレメント1
4は、それを通して充電される充電り一部16と、大地
電位にある大地リード18を持つ。パストランジスタ2
0は、充電リード16にその一つのチャンネルリードが
接続される出力リード22と、入力信号を受けるために
そのチャンネルリードの他方が接続された中間リード2
4と、そしてそのチャンネルのインピーダンスを制御す
る信号を受けるために接続されたゲートリード26を持
つ。アイソレーショントランジスタ28は、それに向か
って容量エレメント14が充電されるように電圧を受け
るために、そのチャンネルリードの一つが接続された入
力リード30と、パストランジスタ20の中間リート2
4に、またはそれと同様にそのチャンネルリードの他方
が接続された中間リード32と、そしてそのチャンネル
のインピーダンスを制御する信号を受けるために接続さ
れたゲートリード34を持つ。フィードバック回路36
は、パストランジスタ20の出力リード22と中間リー
ド24にそれぞれ接続されたり−ド38と40を持つ。
第1図から分かるように、もし、容量エレメント14へ
のおよびそれからの特定の漏れ通路がパストランジスタ
20のチャンネルに通じているだけとすれば、フィード
バック回路36は漏れを防止することによって容量エレ
メント14の保持時間を非常に長くすることができる。
のおよびそれからの特定の漏れ通路がパストランジスタ
20のチャンネルに通じているだけとすれば、フィード
バック回路36は漏れを防止することによって容量エレ
メント14の保持時間を非常に長くすることができる。
もし、基板12が、容量エレメント14、トランジスタ
20および28、そしてフィードバック回路36をたと
えば薄膜構造とするガラス、水晶、二酸化シリコン、窒
化シリコン、あるいはサファイアのような絶縁物である
ならば、他の漏れ通路を本質的に除去することかできる
。
20および28、そしてフィードバック回路36をたと
えば薄膜構造とするガラス、水晶、二酸化シリコン、窒
化シリコン、あるいはサファイアのような絶縁物である
ならば、他の漏れ通路を本質的に除去することかできる
。
第2図の回路50は電圧レベルを保持する容量エレメン
トとして機能するキャパシター52を含む。
トとして機能するキャパシター52を含む。
回路50における回路の残りの部分は各種の機能を果た
す。入力トランジスタ54および56はともに、保持さ
れた電圧レベルを修正するようにそれを通して電流を流
すことのできる外部の入力接続部へのチャンネルを有す
る。出力バッフ760は、保持されている電圧レベルを
示す出力信号を与える。
す。入力トランジスタ54および56はともに、保持さ
れた電圧レベルを修正するようにそれを通して電流を流
すことのできる外部の入力接続部へのチャンネルを有す
る。出力バッフ760は、保持されている電圧レベルを
示す出力信号を与える。
フィードバックバッファ60は、詳細は以下に示すよう
に、電圧レベルを持続することを助けるように、保持さ
れている電圧レベルの複製を作る。
に、電圧レベルを持続することを助けるように、保持さ
れている電圧レベルの複製を作る。
回路50において、キャパシター52への第1の電流通
路はトランジスタ54および56を通る。トランジスタ
54の入力チャンネルリードは入力信号Vを受けるよう
に接続されている。トランジスタ54の出力チャンネル
リードはトランジスタ56の入力チャンネルリードに接
続されている。トランジスタ56の出力チャンネルリー
ドは、それを通してキャパシター52か充電されるリー
ドに接続され、キャパシター52への第1の電流通路を
完成させる。
路はトランジスタ54および56を通る。トランジスタ
54の入力チャンネルリードは入力信号Vを受けるよう
に接続されている。トランジスタ54の出力チャンネル
リードはトランジスタ56の入力チャンネルリードに接
続されている。トランジスタ56の出力チャンネルリー
ドは、それを通してキャパシター52か充電されるリー
ドに接続され、キャパシター52への第1の電流通路を
完成させる。
この第1の電流通路のにおける電流の流れは、トランジ
スタ54および56のゲートリードに接続されているV
ST。、。によっである程度制御される。
スタ54および56のゲートリードに接続されているV
ST。、。によっである程度制御される。
V3ア。、。は、キャパシター52が保持されるべき電
圧レベルに充電されるまでの時間中、保持パルスを与え
る。この時間は、V INか、またはV、7゜。
圧レベルに充電されるまでの時間中、保持パルスを与え
る。この時間は、V INか、またはV、7゜。
からの保持パルス長さに依存する。保持パルスの間、ト
ランジスタ54および56はバストランジスタとして機
能し、それらのチャンネルを通る電流を許容する。パル
スが終わると、トランジスタ54および56は高インピ
ーダンスすなわちオフ状態になる。
ランジスタ54および56はバストランジスタとして機
能し、それらのチャンネルを通る電流を許容する。パル
スが終わると、トランジスタ54および56は高インピ
ーダンスすなわちオフ状態になる。
トランジスタ54および56がオフの間、キャパシター
52は電圧レベルVAを保持する。キャパシター52の
充電リードはまた出力バッファ58に接続され、保持電
圧レベルVAを示す出力信号V。Uアを与える。出力バ
ッファ58は、高インピーダンスかつ無視できる漏れを
持つ単一ゲインMO3電圧バッファとすることができる
。
52は電圧レベルVAを保持する。キャパシター52の
充電リードはまた出力バッファ58に接続され、保持電
圧レベルVAを示す出力信号V。Uアを与える。出力バ
ッファ58は、高インピーダンスかつ無視できる漏れを
持つ単一ゲインMO3電圧バッファとすることができる
。
トランジスタ54および56がその高インピーダンス即
ちオフ状態にあるとき、もしv16およびV9が等しく
ないとすると、いくらかの漏れ電流が流れ、キャパシタ
ー52の保持時間を短くする。トランジスタ56におけ
るある充電漏れ通路だけはそのチャンネルリード間にあ
る。ゲートリートおよび基板に体する局れ電流は、もし
トランジスタ56か絶縁基板上に形成されたMO3薄膜
トランジスタであれば無視てきる。フィードバックバッ
ファ60は、トランジスタ56のチャンネルを通る漏れ
電流を能動的に防止するよう働く。
ちオフ状態にあるとき、もしv16およびV9が等しく
ないとすると、いくらかの漏れ電流が流れ、キャパシタ
ー52の保持時間を短くする。トランジスタ56におけ
るある充電漏れ通路だけはそのチャンネルリード間にあ
る。ゲートリートおよび基板に体する局れ電流は、もし
トランジスタ56か絶縁基板上に形成されたMO3薄膜
トランジスタであれば無視てきる。フィードバックバッ
ファ60は、トランジスタ56のチャンネルを通る漏れ
電流を能動的に防止するよう働く。
フィードバックバッファ60は、はぼ零のオフセットを
もつ電圧フォロワとして機能する。適当なバイアスを与
えることにより、すなわちV、をVAにほぼ等しくする
ことにより、トランジスタ56のチャンネルリード間の
電位差はほぼ零になり、そのチャンネルを通しての漏れ
電流はほとんど零になる。もし保持パルスのMVINが
その値を変化させると、トランジスタ54のチャンネル
リード間にバイアスが現れ、漏れ電流かそを通して流れ
ることになるか、これらの電流はフィードバックバッフ
ァ60を通って他の接続部に流れるので、キャパシター
52における保持電圧レベルに影響を与えプよい。さら
に、トランジスタ54は隔離トランジスタとしてず動く
ので、トランジスタ54および56かオフ状態の間、フ
ィードバックバッファ60に体する電流要求が減じるよ
うに、そしてフィードバックバッファ60がV、をほぼ
一定に保つよう効果的に機能することかできろように、
■、を入71、の変動から隔離する。
もつ電圧フォロワとして機能する。適当なバイアスを与
えることにより、すなわちV、をVAにほぼ等しくする
ことにより、トランジスタ56のチャンネルリード間の
電位差はほぼ零になり、そのチャンネルを通しての漏れ
電流はほとんど零になる。もし保持パルスのMVINが
その値を変化させると、トランジスタ54のチャンネル
リード間にバイアスが現れ、漏れ電流かそを通して流れ
ることになるか、これらの電流はフィードバックバッフ
ァ60を通って他の接続部に流れるので、キャパシター
52における保持電圧レベルに影響を与えプよい。さら
に、トランジスタ54は隔離トランジスタとしてず動く
ので、トランジスタ54および56かオフ状態の間、フ
ィードバックバッファ60に体する電流要求が減じるよ
うに、そしてフィードバックバッファ60がV、をほぼ
一定に保つよう効果的に機能することかできろように、
■、を入71、の変動から隔離する。
Cフィードバックバッファ回路
第2図のフィードバックバッファ60は多くの手段で実
施することができる。第3図は零オフセントのソースフ
ォロワ回路を示している。第4図は2段ソースフォロワ
回路を示している。第5図は電圧フォロワとして構成さ
れた演算増幅器を含む回路を示している。
施することができる。第3図は零オフセントのソースフ
ォロワ回路を示している。第4図は2段ソースフォロワ
回路を示している。第5図は電圧フォロワとして構成さ
れた演算増幅器を含む回路を示している。
第3図のフォロワ回路70はトランジスタ72および7
4を含んている。トランジスタ72のソースとトランジ
スタ74のドレインは、トランジスタ56の入力リード
であるV、に接続され、トランジスタ72のゲートは、
トランジスタ56の出力リードであるVAに接続されて
いる。トランジスタ74のゲートとソースは両方とも、
大地であるV ssに接続されている。したがってトラ
ンジスタ74は、■、かV 83に等しくない間は電流
を引き込む負荷を形成する。
4を含んている。トランジスタ72のソースとトランジ
スタ74のドレインは、トランジスタ56の入力リード
であるV、に接続され、トランジスタ72のゲートは、
トランジスタ56の出力リードであるVAに接続されて
いる。トランジスタ74のゲートとソースは両方とも、
大地であるV ssに接続されている。したがってトラ
ンジスタ74は、■、かV 83に等しくない間は電流
を引き込む負荷を形成する。
フォロワ回路70を介しての容量エレメントへのまたは
そこからの電流か通らないことを確保するために、トラ
ンジスタ72は、そのゲートリードとそのチャンネルと
の間に電流の流れを許容しないデバイスである。トラン
ジスタ72は、たとえばMOSデバイスまたは他の絶縁
ゲートトランジスタとすることができる。
そこからの電流か通らないことを確保するために、トラ
ンジスタ72は、そのゲートリードとそのチャンネルと
の間に電流の流れを許容しないデバイスである。トラン
ジスタ72は、たとえばMOSデバイスまたは他の絶縁
ゲートトランジスタとすることができる。
トランジスタ72はソースフォロワのように接続され、
静止状態の下では、それはトランジスタ74と同じ電流
を通し、したがってゲート−ソース電位が零になるよう
に自己バイアスされている。したがって、トランジスタ
56に掛かる電圧オフセラh (Vs−Vn)は零に
非常に近い。飽和状態にあるトランジスタの有限の出力
インピーダンスは、丁(Voo Vss)とは異なっ
た小さなオフセットを出力電圧として発生するが、特に
長いチャンネルのトランジスタが用いられるならば、こ
の影響は小さいようである。
静止状態の下では、それはトランジスタ74と同じ電流
を通し、したがってゲート−ソース電位が零になるよう
に自己バイアスされている。したがって、トランジスタ
56に掛かる電圧オフセラh (Vs−Vn)は零に
非常に近い。飽和状態にあるトランジスタの有限の出力
インピーダンスは、丁(Voo Vss)とは異なっ
た小さなオフセットを出力電圧として発生するが、特に
長いチャンネルのトランジスタが用いられるならば、こ
の影響は小さいようである。
はぼ零のオフセットを得るために、トランジスタ72お
よび74は同一でなければならない。その上、VBをほ
ぼ一定に保つためには、トランジスタ72および74は
、それらの静止電流がトランジスタ54における漏れ電
流よりも非常に大きいというほとの充分なサイズを持つ
べきである。トランジスタ54に掛かる電圧が漏れ電流
になるとき、その電流は、その極性によって、トランジ
スタ72またはトランジスタ74のいずれがを通って流
れる。結果として、■、は、−度確立されると、はぼ一
定に保持される。
よび74は同一でなければならない。その上、VBをほ
ぼ一定に保つためには、トランジスタ72および74は
、それらの静止電流がトランジスタ54における漏れ電
流よりも非常に大きいというほとの充分なサイズを持つ
べきである。トランジスタ54に掛かる電圧が漏れ電流
になるとき、その電流は、その極性によって、トランジ
スタ72またはトランジスタ74のいずれがを通って流
れる。結果として、■、は、−度確立されると、はぼ一
定に保持される。
トランジスタ72および74はまた、トランジスタ54
および56が低インピーダンスすなわちオン状態にある
とき、それらの静止電流が、利用できる充t’を流より
も小さいように、構成されなければならない。充電中、
トランジスタ54を流れる電流のいくらかか、トランジ
スタ56を通してキャパシター56に流れるよりは電圧
フォロワに流れる。もしこの電流が大き過ぎるとすると
、要求される充電時間は増加する。vAがV、Hに近づ
くと、V■、は減少しなければならないか、しかし、ト
ランジスタ54から電圧フォロワに流れる電流が減少し
、ついには、キャパシター52の全充電条件であるVB
−VA−VINのときに零に近づく。
および56が低インピーダンスすなわちオン状態にある
とき、それらの静止電流が、利用できる充t’を流より
も小さいように、構成されなければならない。充電中、
トランジスタ54を流れる電流のいくらかか、トランジ
スタ56を通してキャパシター56に流れるよりは電圧
フォロワに流れる。もしこの電流が大き過ぎるとすると
、要求される充電時間は増加する。vAがV、Hに近づ
くと、V■、は減少しなければならないか、しかし、ト
ランジスタ54から電圧フォロワに流れる電流が減少し
、ついには、キャパシター52の全充電条件であるVB
−VA−VINのときに零に近づく。
第4図の2段ソースフォロワ回路8oにおいて、トラン
ジスタ82および84は同一である。トランジスタ86
および88は同一のpMOsMOSデバイス、そしてト
ランジスタ9oおよび92は同一の1MOsデバイスで
ある。
ジスタ82および84は同一である。トランジスタ86
および88は同一のpMOsMOSデバイス、そしてト
ランジスタ9oおよび92は同一の1MOsデバイスで
ある。
回路80は次のように動作する。トランジスタ82おび
84は同一の電流を通し、そして、それらが同一である
ために、等しいゲート−ソース電圧を持つ。結果的に、
トランジスタ86および9oは、等しいか反対のゲート
−ソース電圧を持ち、順次、トランジスタ88および9
2に、等しいが反対のゲート−ソース電圧を持たせるこ
とになる。したがって、正味のオフセットすなわちVA
−V−差はほぼ零になる。
84は同一の電流を通し、そして、それらが同一である
ために、等しいゲート−ソース電圧を持つ。結果的に、
トランジスタ86および9oは、等しいか反対のゲート
−ソース電圧を持ち、順次、トランジスタ88および9
2に、等しいが反対のゲート−ソース電圧を持たせるこ
とになる。したがって、正味のオフセットすなわちVA
−V−差はほぼ零になる。
第5図のフォロワ回路100は、vAに接続された正入
力リードと、負入力リードと、VA=V、となるように
VI+に接続された出力リードを持つ演算増幅器102
を有している。各種の演算増幅器回路か、この実m+二
用いることができる。
力リードと、負入力リードと、VA=V、となるように
VI+に接続された出力リードを持つ演算増幅器102
を有している。各種の演算増幅器回路か、この実m+二
用いることができる。
D、実施例
本発明は、第6図に示された回路レイアウトによって実
施された。第6図のレイアウトは、第2図の回路50に
おける第3図に示されたフォロワ回路70を実施してお
り、第6図の参照番号は第2図および第3図に示された
等価的な構成要素のそれと同じである。
施された。第6図のレイアウトは、第2図の回路50に
おける第3図に示されたフォロワ回路70を実施してお
り、第6図の参照番号は第2図および第3図に示された
等価的な構成要素のそれと同じである。
回路レイアウト120において、ライン122はトラン
ジスタ54および56の共存リードとトランジスタ72
および74の共有リードとを接続している。ライン12
4および126は、それを通してキャパシター52が充
電されるリード128を、トランジスタ56の一つのチ
ャンネルリードおよびトランジスタ72のゲートリード
にそれぞれ接続する。ライン+30はトランジスタ74
のゲートリードと一つのチャンネルリードを大地に接続
する。ライン132はトランジスタ54および56のゲ
ートリートをV、□。0に接続する。ライン134は、
トランジスタ72の一つのチャンネルリードをV、。に
接続する。図示のように、トランジスタ72および74
はトランジスタ54および56と同じ特性を有している
が、前者の方がもっと広い。
ジスタ54および56の共存リードとトランジスタ72
および74の共有リードとを接続している。ライン12
4および126は、それを通してキャパシター52が充
電されるリード128を、トランジスタ56の一つのチ
ャンネルリードおよびトランジスタ72のゲートリード
にそれぞれ接続する。ライン+30はトランジスタ74
のゲートリードと一つのチャンネルリードを大地に接続
する。ライン132はトランジスタ54および56のゲ
ートリートをV、□。0に接続する。ライン134は、
トランジスタ72の一つのチャンネルリードをV、。に
接続する。図示のように、トランジスタ72および74
はトランジスタ54および56と同じ特性を有している
が、前者の方がもっと広い。
上述した実施例は多くの手段で変形できる。たとえば、
トランジスタ72および74は、トランジスタ54およ
び56よりも広く作る必要性を避けるために消耗デバイ
ス(空乏デバイス)とすることかできる。薄膜構造は、
nまたはpチャンネルデバイスを形成するために用いる
ことができ、あるいはpまたはnチャンネルの単結晶シ
リコン−オンー絶縁物デバイス、たとえばシリコン−オ
ン−サファイアを用いることができる。
トランジスタ72および74は、トランジスタ54およ
び56よりも広く作る必要性を避けるために消耗デバイ
ス(空乏デバイス)とすることかできる。薄膜構造は、
nまたはpチャンネルデバイスを形成するために用いる
ことができ、あるいはpまたはnチャンネルの単結晶シ
リコン−オンー絶縁物デバイス、たとえばシリコン−オ
ン−サファイアを用いることができる。
第2図の出力バッファは、さらにキャパシター52から
電位漏れを減じるために他の電圧フォロワで実施でき、
あるいは出力をV、から取ることによって全て取り除く
ことができる。
電位漏れを減じるために他の電圧フォロワで実施でき、
あるいは出力をV、から取ることによって全て取り除く
ことができる。
E その他
本発明によるサンプル・ホールド回路は多くの使用方法
を育している。たとえば、走査アレイや印刷アレイにお
いて、従来技術で可能であったよりも長くアナログ値を
保持することに使用できる。
を育している。たとえば、走査アレイや印刷アレイにお
いて、従来技術で可能であったよりも長くアナログ値を
保持することに使用できる。
概略的には、本発明によるサンプル・ホールド回路は、
保持するためにアナログ信号をディノタルの形に変換す
ることを避けることに使用することができる。
保持するためにアナログ信号をディノタルの形に変換す
ることを避けることに使用することができる。
本発明は、変形例、バリエーション及びその拡張ととも
に各種の実施例に関連して述べたか、他の変形例、バリ
エーションおよび拡張は本発明の範囲内にある。したが
って本発明は、本明細書に含まれた説明や図面にによっ
て限定されるものではなく、特許請求の範囲にのみ限定
されるものである。
に各種の実施例に関連して述べたか、他の変形例、バリ
エーションおよび拡張は本発明の範囲内にある。したが
って本発明は、本明細書に含まれた説明や図面にによっ
て限定されるものではなく、特許請求の範囲にのみ限定
されるものである。
第1図は本発明による集積回路の基本的構成要素を示す
概略図である。 第2図は第1図の構成要素を実施する回路の電気回路図
である。 第3図は第2図のフィードバックバッファとして使用で
きるソースフォロワ回路の回路図である。 第4図は第2図のフィードバックバッファとして使用で
きる2段ソースフォロワ回路の回路図である。 第5図は第2図のフィードバックバッファとして使用で
きる演算増幅器を有する回路の回路図である。 第6図は第3図のソースフォロワ回路を持つ第2図の回
路の実施のための集積回路レイアウト図である。 IO・集積回路 12 基板14、容量エレ
メント 16.充電リード18二大地リード
20:パストランジスタ22:出力リード 24
:中間リード26:ゲートリード 28:アイソレーショントランジスタ 30・入力リード 32:中間リート34:ゲー
トリード 36:フィードバック回路 38.40:リード 50・回路 52:キャパシタ−54、5
6:入力トランジスタ 58:出力バッファ 60:フィードバックバッファ 70:フォロワ回路 72.74トランジスタ80
:2段ソースフォロワ回路 82.84.86.88 : トランジスタ90、92
・トランジスタ 100:フォロワ回路 120回路レイアウト 102:演算増幅器
概略図である。 第2図は第1図の構成要素を実施する回路の電気回路図
である。 第3図は第2図のフィードバックバッファとして使用で
きるソースフォロワ回路の回路図である。 第4図は第2図のフィードバックバッファとして使用で
きる2段ソースフォロワ回路の回路図である。 第5図は第2図のフィードバックバッファとして使用で
きる演算増幅器を有する回路の回路図である。 第6図は第3図のソースフォロワ回路を持つ第2図の回
路の実施のための集積回路レイアウト図である。 IO・集積回路 12 基板14、容量エレ
メント 16.充電リード18二大地リード
20:パストランジスタ22:出力リード 24
:中間リード26:ゲートリード 28:アイソレーショントランジスタ 30・入力リード 32:中間リート34:ゲー
トリード 36:フィードバック回路 38.40:リード 50・回路 52:キャパシタ−54、5
6:入力トランジスタ 58:出力バッファ 60:フィードバックバッファ 70:フォロワ回路 72.74トランジスタ80
:2段ソースフォロワ回路 82.84.86.88 : トランジスタ90、92
・トランジスタ 100:フォロワ回路 120回路レイアウト 102:演算増幅器
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、基板と同基板上の回路とを有する集積回路であって
、前記回路は次のものを有する: 充電リードと固定電位リードを有する容量エレメント、
この固定電位リードは固定電位に置かれる: 高インピーダンスと低インピーダンスとの間を切り換え
可能な第1チャンネルと、第1チャンネル入力リードと
、第1チャンネル出力リードとを有する入力回路;その
第1チャンネルは前記第1チャンネル入力リードと第1
チャンネル出力リードとの間に延びてそれらを接続する
第1チャンネル出力リードは容量エレメントの充電リー
ドに接続されている; 第1チャンネル入力リードに接続されているアイソレー
ション出力リード及び入力電圧信号を受けるために接続
されているアイソレーション入力リードを有するアイソ
レーション回路;このアイソレーション回路は、容量エ
レメントが、第1チャンネルとアイソレーション回路か
低インピーダンスのときにある電圧レベルに充電される
ことができ、また第1チャンネルとアイソレーション回
路が高インピーダンスのときにその電圧レベルを保持で
きるように、高インピーダンスと低インピーダンスとの
間を切り換え可能である:および 前記第1チャンネル出力リードに接続されている第1フ
ィードバックリードと第1チャンネル入力リードに接続
されている第2フィードバックリードを有しているフィ
ードバック回路、このフィードバック回路は前記容量エ
レメントにまたはそこから電流を通さず、同フィードバ
ック回路は、第1チャンネルおよびアイソレーション回
路が高インピーダンスのときに第1チャンネルを通る漏
れ電流がほぼ零であることを維持するように、第1およ
び第2フィードバックリードの間の電圧の差がほぼ零で
あることを維持する。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US459096 | 1989-12-29 | ||
US07/459,096 US5164616A (en) | 1989-12-29 | 1989-12-29 | Integrated sample and hold circuit with feedback circuit to increase storage time |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03212898A true JPH03212898A (ja) | 1991-09-18 |
Family
ID=23823388
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2341208A Pending JPH03212898A (ja) | 1989-12-29 | 1990-11-30 | 保持時間を増加させるためのフィードバック回路を持つ集積化サンプル・ホールド回路 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5164616A (ja) |
EP (1) | EP0435600A3 (ja) |
JP (1) | JPH03212898A (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB9218987D0 (en) * | 1992-09-08 | 1992-10-21 | Fujitsu Ltd | Voltage storage circuits |
GB2298979B (en) * | 1992-09-08 | 1997-03-26 | Fujitsu Ltd | Analog-to-digital converters |
US5841383A (en) * | 1997-06-12 | 1998-11-24 | National Instruments Corporation | Current mode track and hold circuit |
US6051895A (en) * | 1998-04-17 | 2000-04-18 | Milltronics Ltd. | Electronic switch relay |
US7049855B2 (en) * | 2001-06-28 | 2006-05-23 | Intel Corporation | Area efficient waveform evaluation and DC offset cancellation circuits |
DE10210289A1 (de) * | 2002-03-08 | 2003-09-25 | Megacom Edv Loesungen Gmbh | Abtast- und Halteschaltung mit zeitlicher Stabilisierung |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3516002A (en) * | 1967-05-02 | 1970-06-02 | Hughes Aircraft Co | Gain and drift compensated amplifier |
US3551698A (en) * | 1968-02-01 | 1970-12-29 | Motorola Inc | Analog memory system |
DE2309809C3 (de) * | 1973-02-23 | 1981-04-30 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Schaltungsanordnung zur Gewinnung eines oberwellenarmen Signals |
CH577761A5 (ja) * | 1974-10-01 | 1976-07-15 | Sprecher & Schuh Ag | |
FR2296246A1 (fr) * | 1974-12-27 | 1976-07-23 | Thomson Csf | Circuit memoire analogique et systeme comportant un tel circuit |
CA1086426A (en) * | 1975-10-13 | 1980-09-23 | Shunji Minami | Analog voltage memory device |
US4094007A (en) * | 1975-12-04 | 1978-06-06 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Temperature-compensated analog voltage memory device |
US4142117A (en) * | 1977-04-11 | 1979-02-27 | Precision Monolithics, Inc. | Voltage sensitive supercharger for a sample and hold integrated circuit |
US4389579A (en) * | 1979-02-13 | 1983-06-21 | Motorola, Inc. | Sample and hold circuit |
JPS55163694A (en) * | 1979-06-01 | 1980-12-19 | Fujitsu Ltd | Sample holding circuit |
US4302689A (en) * | 1979-08-02 | 1981-11-24 | John Fluke Mfg. Co., Inc. | Sample and hold circuit |
FR2483667A1 (fr) * | 1980-06-03 | 1981-12-04 | Thomson Csf | Dispositif d'echantillonnage et maintien a capacite mos |
US4585956A (en) * | 1982-09-29 | 1986-04-29 | At&T Bell Laboratories | Switched capacitor feedback sample-and-hold circuit |
US4862016A (en) * | 1984-12-24 | 1989-08-29 | Motorola, Inc. | High speed, low drift sample and hold circuit |
JPH0687503B2 (ja) * | 1987-03-11 | 1994-11-02 | 株式会社日立製作所 | 薄膜半導体装置 |
US4783602A (en) * | 1987-06-26 | 1988-11-08 | American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories | Operational transconductance amplifier for use in sample-and-hold circuits and the like |
JPH01138813A (ja) * | 1987-11-26 | 1989-05-31 | Toshiba Corp | Ecl―cmosレベル変換回路 |
-
1989
- 1989-12-29 US US07/459,096 patent/US5164616A/en not_active Expired - Fee Related
-
1990
- 1990-11-30 JP JP2341208A patent/JPH03212898A/ja active Pending
- 1990-12-21 EP EP19900314110 patent/EP0435600A3/en not_active Ceased
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0435600A3 (en) | 1991-12-11 |
EP0435600A2 (en) | 1991-07-03 |
US5164616A (en) | 1992-11-17 |
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